JPH09251316A - プロセス入出力信号の試験装置及び試験方法 - Google Patents
プロセス入出力信号の試験装置及び試験方法Info
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- JPH09251316A JPH09251316A JP6060396A JP6060396A JPH09251316A JP H09251316 A JPH09251316 A JP H09251316A JP 6060396 A JP6060396 A JP 6060396A JP 6060396 A JP6060396 A JP 6060396A JP H09251316 A JPH09251316 A JP H09251316A
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- JP
- Japan
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- signal
- test
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】マイコン内蔵のＣＰＵを実装した供試盤のプロ
セス入出力信号の妥当性を自動試験する試験装置及び試
験方法を提供する。 【解決手段】プラントを制御するために圧力、流量、温
度等を電気信号へ変換したプロセス信号を入出力する供
試盤６のプロセス入出力信号に対応して基準値信号を入
出力する基準盤５と、基準値信号とプロセス入出力信号
を比較することによりプロセス入出力信号の妥当性を判
定し、該判定結果を登録し編集する制御装置１５とで構
成することにより自動試験が可能となる。
セス入出力信号の妥当性を自動試験する試験装置及び試
験方法を提供する。 【解決手段】プラントを制御するために圧力、流量、温
度等を電気信号へ変換したプロセス信号を入出力する供
試盤６のプロセス入出力信号に対応して基準値信号を入
出力する基準盤５と、基準値信号とプロセス入出力信号
を比較することによりプロセス入出力信号の妥当性を判
定し、該判定結果を登録し編集する制御装置１５とで構
成することにより自動試験が可能となる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイコン内蔵のデ
ジタルコントローラ（以下、ＣＰＵと略す）を実装した
供試盤を試験する試験装置及び試験方法に係り、特にプ
ロセス入出力信号の妥当性を自動試験する試験装置及び
試験方法に関するものである。
ジタルコントローラ（以下、ＣＰＵと略す）を実装した
供試盤を試験する試験装置及び試験方法に係り、特にプ
ロセス入出力信号の妥当性を自動試験する試験装置及び
試験方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＣＰＵを実装した供試盤の従来の試験方
法を、図１０を用いて説明する。図１０に示すように、
プロセス入出力モジュール（Process Input Output Mod
ule のことで以下、ＰＩ／Ｏモジュールと略す）には、
アナログ信号（電流、電圧信号）を扱うアナログ信号入
力（以下、ＡＩモジュールと略す）７０と、アナログ信
号出力モジュール（以下、ＡＯモジュールと略す）７１
と、デジタル信号（接点信号）を扱うデジタル信号入力
モジュール（以下、ＤＩモジュールと略す）７２と、デ
ジタル信号出力モジュール（以下、ＤＯモジュールと略
す）７３とがあり、入出力仕様により各種型式に分類さ
れる。そして、これらのＰＩ／Ｏモジュールを各モジュ
ールの仕様に合った試験方法で試験されていた。
法を、図１０を用いて説明する。図１０に示すように、
プロセス入出力モジュール（Process Input Output Mod
ule のことで以下、ＰＩ／Ｏモジュールと略す）には、
アナログ信号（電流、電圧信号）を扱うアナログ信号入
力（以下、ＡＩモジュールと略す）７０と、アナログ信
号出力モジュール（以下、ＡＯモジュールと略す）７１
と、デジタル信号（接点信号）を扱うデジタル信号入力
モジュール（以下、ＤＩモジュールと略す）７２と、デ
ジタル信号出力モジュール（以下、ＤＯモジュールと略
す）７３とがあり、入出力仕様により各種型式に分類さ
れる。そして、これらのＰＩ／Ｏモジュールを各モジュ
ールの仕様に合った試験方法で試験されていた。
【０００３】ＡＩモジュール７０及びＡＯモジュール７
１の特性試験は、アナログ入出力信号に対するモジュー
ルの動作値と、各モジュールごとに定められた動作値に
対する判定基準値との比較を行い、誤差範囲内であるこ
との確認を試験者が行っていた。また、ＤＩモジュール
７２及びＤＯモジュール７３の特性試験は、デジタルの
入出力信号に対して緩衝器３（以下、バッファモジュー
ルと略す）の中の継電器の動作を試験者が目視にて確認
していた。
１の特性試験は、アナログ入出力信号に対するモジュー
ルの動作値と、各モジュールごとに定められた動作値に
対する判定基準値との比較を行い、誤差範囲内であるこ
との確認を試験者が行っていた。また、ＤＩモジュール
７２及びＤＯモジュール７３の特性試験は、デジタルの
入出力信号に対して緩衝器３（以下、バッファモジュー
ルと略す）の中の継電器の動作を試験者が目視にて確認
していた。
【０００４】ここでは、代表例として、ＡＩモジュール
７０及びＤＯモジュール７３の特性試験について説明す
る。
７０及びＤＯモジュール７３の特性試験について説明す
る。
【０００５】ＡＩモジュール７０の特性試験は、使用レ
ンジにおける最少（ａｍin)、中間（ａmid)、最大（ａm
ax）の３点についてデータを取り、そのすべてが所定の
判定基準値以内であることを確認することである。
ンジにおける最少（ａｍin)、中間（ａmid)、最大（ａm
ax）の３点についてデータを取り、そのすべてが所定の
判定基準値以内であることを確認することである。
【０００６】試験手順は、始めに、ＡＩモジュール７０
に信号を入力するための信号発生器７５を準備し、供試
盤６の信号入力部に接続する。次に信号発生器７５より
ａminに値する信号を出力し、ＡＩモジュール７０に取
り込ませ、取り込んだデータをＣＰＵ７６を介して、伝
送にてパーソナルコンピュータ１（以下、パソコンと略
す）に送信する。
に信号を入力するための信号発生器７５を準備し、供試
盤６の信号入力部に接続する。次に信号発生器７５より
ａminに値する信号を出力し、ＡＩモジュール７０に取
り込ませ、取り込んだデータをＣＰＵ７６を介して、伝
送にてパーソナルコンピュータ１（以下、パソコンと略
す）に送信する。
【０００７】受信したデータをパソコン１の画面上で確
認し、このデータを試験者が成績書に記入する。同様に
ａmid、ａmaxについても行い、採取したデータが判定基
準値内であるか試験者が検討し、３点のデータすべてが
判定基準値を満足していれば判定「良」とし、次の入力
点に進み、繰り返し同様の試験を最終点まで行う。
認し、このデータを試験者が成績書に記入する。同様に
ａmid、ａmaxについても行い、採取したデータが判定基
準値内であるか試験者が検討し、３点のデータすべてが
判定基準値を満足していれば判定「良」とし、次の入力
点に進み、繰り返し同様の試験を最終点まで行う。
【０００８】ＤＯモジュール７３の特性試験は、パソコ
ン１から信号出力命令を伝送を介してＣＰＵ７６に送信
し、ＤＯモジュール７３から信号を出力させ、接続され
たバッファモジュール３の動作を目視にて確認し、信号
出力が正常に行われたことを確認する。動作が正常であ
れば判定「良」とし、次の出力点へ進み、繰り返し同様
の試験を最終点まで行う。
ン１から信号出力命令を伝送を介してＣＰＵ７６に送信
し、ＤＯモジュール７３から信号を出力させ、接続され
たバッファモジュール３の動作を目視にて確認し、信号
出力が正常に行われたことを確認する。動作が正常であ
れば判定「良」とし、次の出力点へ進み、繰り返し同様
の試験を最終点まで行う。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術は、信号発生器による信号出力、判定基準値に対
する採取データの判定、機器動作の目視確認、試験成績
書の編集等すべての作業を人間が行っていた。このた
め、ヒューマンエラーによる作業時間の無駄及び供試盤
の品質が安定しないという問題があった。
来技術は、信号発生器による信号出力、判定基準値に対
する採取データの判定、機器動作の目視確認、試験成績
書の編集等すべての作業を人間が行っていた。このた
め、ヒューマンエラーによる作業時間の無駄及び供試盤
の品質が安定しないという問題があった。
【００１０】本発明の目的は、マイコン内蔵のＣＰＵを
実装した供試盤のプロセス入出力信号の妥当性を自動試
験する試験装置及び試験方法を提供することにある。
実装した供試盤のプロセス入出力信号の妥当性を自動試
験する試験装置及び試験方法を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、プラントを制御するために圧力、流量、
温度等を電気信号へ変換したプロセス信号を入出力する
供試盤の前記プロセス入出力信号の妥当性を自動試験す
るプロセス入出力信号の試験装置において、前記供試盤
に入出力する前記プロセス入出力信号に対応して基準値
信号を入出力する基準盤と、前記基準値信号と前記プロ
セス入出力信号を比較することにより前記プロセス入出
力信号の妥当性を判定し、該判定結果を登録し編集する
制御装置とを有することを特徴とする。
に、本発明は、プラントを制御するために圧力、流量、
温度等を電気信号へ変換したプロセス信号を入出力する
供試盤の前記プロセス入出力信号の妥当性を自動試験す
るプロセス入出力信号の試験装置において、前記供試盤
に入出力する前記プロセス入出力信号に対応して基準値
信号を入出力する基準盤と、前記基準値信号と前記プロ
セス入出力信号を比較することにより前記プロセス入出
力信号の妥当性を判定し、該判定結果を登録し編集する
制御装置とを有することを特徴とする。
【００１２】また、本発明の他の特徴は、プラントを制
御するために圧力、流量、温度等を電気信号へ変換した
プロセス信号を入出力する供試盤の前記プロセス入出力
信号の妥当性を自動試験するプロセス入出力信号の試験
方法において、前記供試盤に入出力する前記プロセス入
出力信号と前記プロセス入出力信号に対応して基準盤に
入出力する基準信号とを比較することにより前記プロセ
ス入出力信号の妥当性を判定し、該判定結果を登録し編
集する制御ステップを有することにある。
御するために圧力、流量、温度等を電気信号へ変換した
プロセス信号を入出力する供試盤の前記プロセス入出力
信号の妥当性を自動試験するプロセス入出力信号の試験
方法において、前記供試盤に入出力する前記プロセス入
出力信号と前記プロセス入出力信号に対応して基準盤に
入出力する基準信号とを比較することにより前記プロセ
ス入出力信号の妥当性を判定し、該判定結果を登録し編
集する制御ステップを有することにある。
【００１３】本発明によれば、基準盤は、供試盤に入出
力する前記プロセス入出力信号に対応して基準値信号を
入出力する。制御装置は、基準値信号とプロセス入出力
信号を比較することによりプロセス入出力信号の妥当性
を判定し、該判定結果を登録し編集する。
力する前記プロセス入出力信号に対応して基準値信号を
入出力する。制御装置は、基準値信号とプロセス入出力
信号を比較することによりプロセス入出力信号の妥当性
を判定し、該判定結果を登録し編集する。
【００１４】このように、供試盤のプロセス入出力信号
の妥当性を自動試験することにより、供試盤操作のヒュ
ーマンエラーが排除され、無駄な試験時間が減ることに
より試験効率が向上し、また供試盤の品質を維持するこ
とができる。
の妥当性を自動試験することにより、供試盤操作のヒュ
ーマンエラーが排除され、無駄な試験時間が減ることに
より試験効率が向上し、また供試盤の品質を維持するこ
とができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例に係るプ
ロセス入出力信号の試験装置を、図を用いて説明する。
ロセス入出力信号の試験装置を、図を用いて説明する。
【００１６】図１は、本発明の一実施例に係るプロセス
入出力信号の試験装置を用いるシステム全体の構成を示
す。図１に示すように、パソコン１にて試験モードを選
択すると、信号出力指令がアダプタ２を経由し、伝送ケ
ーブル７にて接続された供試盤６のＣＰＵ７６及び基準
盤５のＣＰＵ３６をアクセスする。
入出力信号の試験装置を用いるシステム全体の構成を示
す。図１に示すように、パソコン１にて試験モードを選
択すると、信号出力指令がアダプタ２を経由し、伝送ケ
ーブル７にて接続された供試盤６のＣＰＵ７６及び基準
盤５のＣＰＵ３６をアクセスする。
【００１７】ＣＰＵ７６，３６の指令により、供試盤６
のＡＩモジュール７０，ＡＯモジュール７１，ＤＩモジ
ュール７２，ＤＯモジュール７３及び基準盤５のＡＩモ
ジュール３０，ＡＯモジュール３１，ＤＩモジュール３
２，ＤＯモジュール３３がそれぞれ信号の出力及び入力
処理を実行し、信号出力指令に対するアンサバック信号
が、パソコン１へ戻る。
のＡＩモジュール７０，ＡＯモジュール７１，ＤＩモジ
ュール７２，ＤＯモジュール７３及び基準盤５のＡＩモ
ジュール３０，ＡＯモジュール３１，ＤＩモジュール３
２，ＤＯモジュール３３がそれぞれ信号の出力及び入力
処理を実行し、信号出力指令に対するアンサバック信号
が、パソコン１へ戻る。
【００１８】例えば、供試盤６のＡＩモジュール７０の
試験は、パソコン１よりＡＩモジュール７０の試験を選
択するとアダプタ２から伝送ケーブル７を経由して基準
盤５のＣＰＵ３６に基準値信号出力指令が出される。
試験は、パソコン１よりＡＩモジュール７０の試験を選
択するとアダプタ２から伝送ケーブル７を経由して基準
盤５のＣＰＵ３６に基準値信号出力指令が出される。
【００１９】ＣＰＵ３６は、ＡＯモジュール３１より基
準値のアナログ信号を出力させる。このアナログ信号は
バッファモジュール４を経由し、外部ケーブル継き込み
端子台（以下、ＴＢと略す）１１からハードワイヤード
ケーブル８を通して供試盤６のＴＢ１０で受ける。さら
にバッファモジュールを通してＡＩモジュール７０に取
り込み、ＣＰＵ７６からアンサバック信号として伝送ケ
ーブル７を経由してアダプタ２よりパソコン１へ戻る。
準値のアナログ信号を出力させる。このアナログ信号は
バッファモジュール４を経由し、外部ケーブル継き込み
端子台（以下、ＴＢと略す）１１からハードワイヤード
ケーブル８を通して供試盤６のＴＢ１０で受ける。さら
にバッファモジュールを通してＡＩモジュール７０に取
り込み、ＣＰＵ７６からアンサバック信号として伝送ケ
ーブル７を経由してアダプタ２よりパソコン１へ戻る。
【００２０】パソコン１では、基準値信号出力指令とア
ンサバック信号の偏差を求め、偏差が基準値以内かチェ
ックする。次に判定結果は、基準値以内であれば妥当性
は良とし、基準値を越えていれば不良として、プリンタ
９へ試験結果を試験成績書のフォーマットで印刷する。
尚、詳細は図４〜９で説明する。
ンサバック信号の偏差を求め、偏差が基準値以内かチェ
ックする。次に判定結果は、基準値以内であれば妥当性
は良とし、基準値を越えていれば不良として、プリンタ
９へ試験結果を試験成績書のフォーマットで印刷する。
尚、詳細は図４〜９で説明する。
【００２１】図２は、図１の試験装置で自動試験を制御
する制御装置、すなわちパソコン１の機能構成を示す。
制御装置１５は、入力装置１２からの指示により各種モ
ジュールの中から試験種別の選定を行う試験種別選定手
段１５１と、選定された試験種別の基準値信号を出力す
る基準値信号出力手段１５２と、出力された信号を基準
盤側５及び供試盤６へ伝送するための処理を行う通信処
理手段１５３と、伝送された信号は基準盤側５及び供試
盤６で演算処理され、処理された信号をアンサバック信
号として取り込むアンサバック信号入力手段１５４と、
アンサバック信号と基準値信号との時間的な同期を合わ
せる同期合わせ手段１５５と、同期を合わせたアンサバ
ック信号と基準値信号との比較を行う基準値比較手段１
５６と、予め登録された判定基準値を設定する判定値設
定手段１５７と、設定された判定基準値を基にアンサバ
ック信号の妥当性の合否判定を行う判定手段１５８と、
妥当性判定結果を登録しデータとして編集する登録デー
タ編集手段１５９と、判定手段１５８で否と判定された
時、アンサバック信号の不良分析を行う不良分析手段１
６０とで構成されている。編集された登録データは、プ
リンタ９で試験成績書へ印刷される試験種別選定手段１
５１は、ＡＩモジュール試験，ＡＯモジュール試験，Ｄ
Ｉモジュール試験，ＤＯモジュール試験の内どの試験を
行うかを選定する。基準値信号出力手段１５２は、選定
された試験の基準値信号、すなわちアナログ信号は信号
レンジの最小、中間、最大値を出力し、デジタル信号は
０と１の２信号を出力する。通信処理手段１５３は、こ
れら信号を基準盤側５，供試盤６へ伝送するためにＲＳ
−２３２Ｃインタフェース用に通信処理を行う。
する制御装置、すなわちパソコン１の機能構成を示す。
制御装置１５は、入力装置１２からの指示により各種モ
ジュールの中から試験種別の選定を行う試験種別選定手
段１５１と、選定された試験種別の基準値信号を出力す
る基準値信号出力手段１５２と、出力された信号を基準
盤側５及び供試盤６へ伝送するための処理を行う通信処
理手段１５３と、伝送された信号は基準盤側５及び供試
盤６で演算処理され、処理された信号をアンサバック信
号として取り込むアンサバック信号入力手段１５４と、
アンサバック信号と基準値信号との時間的な同期を合わ
せる同期合わせ手段１５５と、同期を合わせたアンサバ
ック信号と基準値信号との比較を行う基準値比較手段１
５６と、予め登録された判定基準値を設定する判定値設
定手段１５７と、設定された判定基準値を基にアンサバ
ック信号の妥当性の合否判定を行う判定手段１５８と、
妥当性判定結果を登録しデータとして編集する登録デー
タ編集手段１５９と、判定手段１５８で否と判定された
時、アンサバック信号の不良分析を行う不良分析手段１
６０とで構成されている。編集された登録データは、プ
リンタ９で試験成績書へ印刷される試験種別選定手段１
５１は、ＡＩモジュール試験，ＡＯモジュール試験，Ｄ
Ｉモジュール試験，ＤＯモジュール試験の内どの試験を
行うかを選定する。基準値信号出力手段１５２は、選定
された試験の基準値信号、すなわちアナログ信号は信号
レンジの最小、中間、最大値を出力し、デジタル信号は
０と１の２信号を出力する。通信処理手段１５３は、こ
れら信号を基準盤側５，供試盤６へ伝送するためにＲＳ
−２３２Ｃインタフェース用に通信処理を行う。
【００２２】アンサバック信号入力手段１５４は、基準
盤側５，供試盤６で演算処理された信号をアンサバック
信号として取り込み、制御装置１５内で処理できるよう
に変換する。同期合わせ手段１５５は、アンサバック信
号と基準値信号出力手段１５２で出力された基準値信号
との同期合わせ、すなわち基準値信号出力手段１５２が
出力指令を出してからアンサバック信号が戻るまでの時
間遅れの設定を行う。
盤側５，供試盤６で演算処理された信号をアンサバック
信号として取り込み、制御装置１５内で処理できるよう
に変換する。同期合わせ手段１５５は、アンサバック信
号と基準値信号出力手段１５２で出力された基準値信号
との同期合わせ、すなわち基準値信号出力手段１５２が
出力指令を出してからアンサバック信号が戻るまでの時
間遅れの設定を行う。
【００２３】基準値比較手段１５６は、同期合わせされ
た基準値信号とアンサバック信号との偏差を求め、基準
値と比較する。判定値設定手段１５７は、予め試験定数
として登録された判定基準値を設定する。判定手段１５
８は、基準値信号とアンサバック信号との偏差が判定基
準値内か否かを判定し、基準値内ならば妥当性は
「良」、基準外ならば「不良」と合否判定を行う。不良
分析手段１６０は、判定手段１５８で「不良」と判定さ
れた時、過去の不良事例に基づき学習機能によりアンサ
バック信号の不良分析を行い、解決策を次の試験に反映
させる。
た基準値信号とアンサバック信号との偏差を求め、基準
値と比較する。判定値設定手段１５７は、予め試験定数
として登録された判定基準値を設定する。判定手段１５
８は、基準値信号とアンサバック信号との偏差が判定基
準値内か否かを判定し、基準値内ならば妥当性は
「良」、基準外ならば「不良」と合否判定を行う。不良
分析手段１６０は、判定手段１５８で「不良」と判定さ
れた時、過去の不良事例に基づき学習機能によりアンサ
バック信号の不良分析を行い、解決策を次の試験に反映
させる。
【００２４】図３は、図２の制御装置、すなわちパソコ
ン１の動作処理のフローチャートを示す。試験準備完了
後、始めにステップ２１でシステムを起動し、次に試験
種別（ＡＩモジュール試験，ＡＯモジュール試験，ＤＩ
モジュール試験，ＤＯモジュール試験）を選択する（２
２）。次に、入出力信号レンジ調整用パラメータや入出
力信号を指定する点ＮＯ．等を入力する（２３）。
ン１の動作処理のフローチャートを示す。試験準備完了
後、始めにステップ２１でシステムを起動し、次に試験
種別（ＡＩモジュール試験，ＡＯモジュール試験，ＤＩ
モジュール試験，ＤＯモジュール試験）を選択する（２
２）。次に、入出力信号レンジ調整用パラメータや入出
力信号を指定する点ＮＯ．等を入力する（２３）。
【００２５】次に、入出力信号試験を開始し（２４）、
基準値信号出力指令を出す（２４１）。これに基づき、
基準盤側での演算処理を行い（２４２）、また供試盤側
での演算処理を行い（２４３）、基準値信号とパソコン
１へ戻ってきたアンサバック信号とを比較し（２４
４）、パソコン１で妥当性の合否判定の「良」、「不
良」を行う（２５）。
基準値信号出力指令を出す（２４１）。これに基づき、
基準盤側での演算処理を行い（２４２）、また供試盤側
での演算処理を行い（２４３）、基準値信号とパソコン
１へ戻ってきたアンサバック信号とを比較し（２４
４）、パソコン１で妥当性の合否判定の「良」、「不
良」を行う（２５）。
【００２６】なお、ステップ２８では、「不良」と判定
した場合、過去の不良事例より不良分析を行い、解決策
を次の試験に反映させる。次にＰＩ／Ｏモジュールの試
験終了判定としてＰＩ／Ｏモジュールの入出力点数（以
下、チャンネルと略す）が最終チャンネルかを確認する
（２６）。最終チャンネルでなければ次チャンネルへ移
行し（２７）、ステップ２４の試験開始から実行する。
した場合、過去の不良事例より不良分析を行い、解決策
を次の試験に反映させる。次にＰＩ／Ｏモジュールの試
験終了判定としてＰＩ／Ｏモジュールの入出力点数（以
下、チャンネルと略す）が最終チャンネルかを確認する
（２６）。最終チャンネルでなければ次チャンネルへ移
行し（２７）、ステップ２４の試験開始から実行する。
【００２７】ステップ２６で最終チャンネルと判定され
たら、試験結果を試験成績書のフォーマットにて印刷し
（６２）、そしてシステムを停止し、試験を終了する
（２９）。
たら、試験結果を試験成績書のフォーマットにて印刷し
（６２）、そしてシステムを停止し、試験を終了する
（２９）。
【００２８】図４、５は、ＡＩモジュールの特性試験を
行う時の、パソコン１の動作処理のフローチャートを示
す。図４、５に示すように、試験前の準備として、供試
盤６のＴＢ１０と基準盤５のＴＢ１１をハードワイヤー
ドケーブル８で、供試盤６のＣＰＵ７６と基準盤５のＣ
ＰＵ３６を伝送ケーブル７で接続する。
行う時の、パソコン１の動作処理のフローチャートを示
す。図４、５に示すように、試験前の準備として、供試
盤６のＴＢ１０と基準盤５のＴＢ１１をハードワイヤー
ドケーブル８で、供試盤６のＣＰＵ７６と基準盤５のＣ
ＰＵ３６を伝送ケーブル７で接続する。
【００２９】始めに、ステップ２３で成績書に必要とな
るパラメータ（信号レンジ、点ＮＯ等）を入力し、アナ
ログ信号出力初期値ａ1、アナログ信号出力増分ａ2、判
定基準値ａ3の試験定数を登録する（５３）。以上の作
業はパソコン上で実施し、登録が終了後、自動試験をス
タートする（５４）。
るパラメータ（信号レンジ、点ＮＯ等）を入力し、アナ
ログ信号出力初期値ａ1、アナログ信号出力増分ａ2、判
定基準値ａ3の試験定数を登録する（５３）。以上の作
業はパソコン上で実施し、登録が終了後、自動試験をス
タートする（５４）。
【００３０】次に、パソコンからアナログ信号出力初期
値ａ1の信号出力命令が基準盤５に送信される（５
５）。アナログ信号出力初期値ａ1の信号は、基準盤５
のＣＰＵ３６にて受信されＡＯモジュール３１で電気信
号へ変換後バッファモジュール４を経由し、ＴＢ１１か
らＴＢ１０へハードワイヤードケーブル８を通して、供
試盤６のバッファモジュール３を経由してＡＩモジュー
ル７０に取り込まれる。
値ａ1の信号出力命令が基準盤５に送信される（５
５）。アナログ信号出力初期値ａ1の信号は、基準盤５
のＣＰＵ３６にて受信されＡＯモジュール３１で電気信
号へ変換後バッファモジュール４を経由し、ＴＢ１１か
らＴＢ１０へハードワイヤードケーブル８を通して、供
試盤６のバッファモジュール３を経由してＡＩモジュー
ル７０に取り込まれる。
【００３１】取り込んだデータはＣＰＵ７６よりパソコ
ンへ送信し、受信したデータとアナログ信号出力初期値
ａ1との偏差を求め（５６）、この偏差が判定基準値ａ3
以内であるかどうかを良・不良判定する（５７）。ま
た、ステップ５７で「不良」と判定した場合、過去の不
良事例より不良分析を行い（２８）、解決策を次の試験
に反映させる。
ンへ送信し、受信したデータとアナログ信号出力初期値
ａ1との偏差を求め（５６）、この偏差が判定基準値ａ3
以内であるかどうかを良・不良判定する（５７）。ま
た、ステップ５７で「不良」と判定した場合、過去の不
良事例より不良分析を行い（２８）、解決策を次の試験
に反映させる。
【００３２】同様に、アナログ信号出力初期値ａ1＋ア
ナログ信号出力増分ａ2の信号についてステップ５８を
行う。次にアナログ信号出力初期値ａ1＋２アナログ信
号出力増分ａ2の信号についても、ステップ５９を行
い、以後、最終チャンネルまで自動的に繰り返す（５
１）。試験結果はリアルタイムでパソコン１の画面上に
て確認可能であり、全チャンネル試験終了後、試験成績
書印刷を実行することにより（６０）、結果及び登録デ
ータが自動編集され（６１）、印刷し試験終了となる
（６２）。
ナログ信号出力増分ａ2の信号についてステップ５８を
行う。次にアナログ信号出力初期値ａ1＋２アナログ信
号出力増分ａ2の信号についても、ステップ５９を行
い、以後、最終チャンネルまで自動的に繰り返す（５
１）。試験結果はリアルタイムでパソコン１の画面上に
て確認可能であり、全チャンネル試験終了後、試験成績
書印刷を実行することにより（６０）、結果及び登録デ
ータが自動編集され（６１）、印刷し試験終了となる
（６２）。
【００３３】図６、７は、ＡＯモジュールの特性試験を
行う時の、パソコン１の動作処理のフローチャートを示
す。
行う時の、パソコン１の動作処理のフローチャートを示
す。
【００３４】始めに、ステップ２３で成績書に必要とな
るパラメータ（信号レンジ、点ＮＯ等）を入力し、アナ
ログ信号出力初期値ａ1、アナログ信号出力増分ａ2、判
定基準値ａ3の試験定数を登録する（５３）。以上の作
業はパソコン上で実施し、登録が終了後、自動試験をス
タートする（５４）。
るパラメータ（信号レンジ、点ＮＯ等）を入力し、アナ
ログ信号出力初期値ａ1、アナログ信号出力増分ａ2、判
定基準値ａ3の試験定数を登録する（５３）。以上の作
業はパソコン上で実施し、登録が終了後、自動試験をス
タートする（５４）。
【００３５】次に、パソコンからアナログ信号出力初期
値ａ1の信号出力命令が供試盤６に送信される（５
５）。アナログ信号出力初期値ａ1の信号は、供試盤６
のＣＰＵ７６にて受信されＡＯモジュール７１で電気信
号へ変換後バッファモジュール４を経由し、ＴＢ１０か
らＴＢ１１へハードワイヤードケーブル８を通して、基
準盤５のバッファモジュール４を経由してＡＩモジュー
ル３０に取り込まれる。
値ａ1の信号出力命令が供試盤６に送信される（５
５）。アナログ信号出力初期値ａ1の信号は、供試盤６
のＣＰＵ７６にて受信されＡＯモジュール７１で電気信
号へ変換後バッファモジュール４を経由し、ＴＢ１０か
らＴＢ１１へハードワイヤードケーブル８を通して、基
準盤５のバッファモジュール４を経由してＡＩモジュー
ル３０に取り込まれる。
【００３６】取り込んだデータはＣＰＵ３６よりパソコ
ンへ送信し、受信したデータとアナログ信号出力初期値
ａ1との偏差を求め（５６）、この偏差が判定基準値ａ3
以内であるかどうかを良・不良判定する（５７）。ま
た、ステップ５７で「不良」と判定した場合、過去の不
良事例より不良分析を行い（２８）、解決策を次の試験
に反映させる。
ンへ送信し、受信したデータとアナログ信号出力初期値
ａ1との偏差を求め（５６）、この偏差が判定基準値ａ3
以内であるかどうかを良・不良判定する（５７）。ま
た、ステップ５７で「不良」と判定した場合、過去の不
良事例より不良分析を行い（２８）、解決策を次の試験
に反映させる。
【００３７】同様に、アナログ信号出力初期値ａ1＋ア
ナログ信号出力増分ａ2の信号についてステップ５８を
行う。次にアナログ信号出力初期値ａ1＋２アナログ信
号出力増分ａ2の信号についても、ステップ５９を行
い、以後、最終チャンネルまで自動的に繰り返す（５
１）。試験結果はリアルタイムでパソコン１の画面上に
て確認可能であり、全チャンネル試験終了後、試験成績
書印刷実行することにより（６０）、結果及び登録デー
タが自動編集され（６１）、印刷し試験終了となる（６
２）。
ナログ信号出力増分ａ2の信号についてステップ５８を
行う。次にアナログ信号出力初期値ａ1＋２アナログ信
号出力増分ａ2の信号についても、ステップ５９を行
い、以後、最終チャンネルまで自動的に繰り返す（５
１）。試験結果はリアルタイムでパソコン１の画面上に
て確認可能であり、全チャンネル試験終了後、試験成績
書印刷実行することにより（６０）、結果及び登録デー
タが自動編集され（６１）、印刷し試験終了となる（６
２）。
【００３８】図８は、ＤＩモジュールの特性試験を行う
時の、パソコン１の動作処理のフローチャートを示す。
時の、パソコン１の動作処理のフローチャートを示す。
【００３９】始めに、ステップ２３で成績書に必要とな
るデータ（信号レンジ、点ＮＯ等）を登録後、出力開始
キーイン後待ち時間ｔ1等試験定数を設定する（６
４）。以上の作業はパソコン上で実施し、登録が終了
後、自動試験をスタートする（６５）。
るデータ（信号レンジ、点ＮＯ等）を登録後、出力開始
キーイン後待ち時間ｔ1等試験定数を設定する（６
４）。以上の作業はパソコン上で実施し、登録が終了
後、自動試験をスタートする（６５）。
【００４０】次にパソコンから基準盤５にデジタル信号
出力命令が送信される（６６）。デジタル出力信号は、
基準盤５のＣＰＵ３６にて受信され、ＤＯモジュール３
３で電気信号へ変換後、バッファモジュール４を経由し
てＴＢ１１からＴＢ１０をハードワイヤードケーブル８
にて接続し、供試盤６のバッファモジュール３を経由し
て、ＤＩモジュール７２に取り込まれる。
出力命令が送信される（６６）。デジタル出力信号は、
基準盤５のＣＰＵ３６にて受信され、ＤＯモジュール３
３で電気信号へ変換後、バッファモジュール４を経由し
てＴＢ１１からＴＢ１０をハードワイヤードケーブル８
にて接続し、供試盤６のバッファモジュール３を経由し
て、ＤＩモジュール７２に取り込まれる。
【００４１】取り込んだデータはＣＰＵ７６よりパソコ
ンへ送信し、信号が入力されたかどうかによりパソコン
内部で良・不良判定を行う（６８）。また、ステップ６
８で「不良」と判定した場合、過去の不良事例により不
良分析を行い（２８）、解決策を次の試験に反映させ
る。以上を最終チャンネルまで繰り返す（５１）。これ
以降のステップは、前述したＡＩモジュール特性試験と
同様なので省略する図９は、ＤＯモジュールの特性試験
を行う時の、パソコン１の動作処理のフローチャートを
示す。
ンへ送信し、信号が入力されたかどうかによりパソコン
内部で良・不良判定を行う（６８）。また、ステップ６
８で「不良」と判定した場合、過去の不良事例により不
良分析を行い（２８）、解決策を次の試験に反映させ
る。以上を最終チャンネルまで繰り返す（５１）。これ
以降のステップは、前述したＡＩモジュール特性試験と
同様なので省略する図９は、ＤＯモジュールの特性試験
を行う時の、パソコン１の動作処理のフローチャートを
示す。
【００４２】始めに、ステップ２３で成績書に必要とな
るデータ（信号レンジ、点ＮＯ等）を登録後、出力開始
キーイン後待ち時間ｔ1等試験定数を設定する（６
４）。以上の作業はパソコン上で実施し、登録が終了
後、自動試験をスタートする（６５）。
るデータ（信号レンジ、点ＮＯ等）を登録後、出力開始
キーイン後待ち時間ｔ1等試験定数を設定する（６
４）。以上の作業はパソコン上で実施し、登録が終了
後、自動試験をスタートする（６５）。
【００４３】次にパソコンから供試盤６にデジタル信号
出力命令が送信される（６６）。デジタル出力信号は、
供試盤６のＣＰＵ７６にて受信され、ＤＯモジュール７
３で電気信号へ変換後、バッファモジュール３を経由し
てＴＢ１０からＴＢ１１をハードワイヤードケーブル８
にて接続し、基準盤５のバッファモジュール４を経由し
て、ＤＩモジュール３２に取り込まれる。
出力命令が送信される（６６）。デジタル出力信号は、
供試盤６のＣＰＵ７６にて受信され、ＤＯモジュール７
３で電気信号へ変換後、バッファモジュール３を経由し
てＴＢ１０からＴＢ１１をハードワイヤードケーブル８
にて接続し、基準盤５のバッファモジュール４を経由し
て、ＤＩモジュール３２に取り込まれる。
【００４４】取り込んだデータはＣＰＵ３６よりパソコ
ンへ送信し、信号が入力されたかどうかによりパソコン
内部で良・不良判定を行う（６８）。また、ステップ６
８で「不良」と判定した場合、過去の不良事例により不
良分析を行い（２８）、解決策を次の試験に反映させ
る。以上を最終チャンネルまで繰り返す（５１）。これ
以降のステップは、前述したＡＩモジュール特性試験と
同様なので省略する。
ンへ送信し、信号が入力されたかどうかによりパソコン
内部で良・不良判定を行う（６８）。また、ステップ６
８で「不良」と判定した場合、過去の不良事例により不
良分析を行い（２８）、解決策を次の試験に反映させ
る。以上を最終チャンネルまで繰り返す（５１）。これ
以降のステップは、前述したＡＩモジュール特性試験と
同様なので省略する。
【００４５】
【発明の効果】本発明によれば、供試盤のプロセス入出
力モジュールの入出力信号試験を自動化することによ
り、供試盤操作のヒューマンエラーが防止できる。ま
た、供試盤の品質安定化が図れ、合わせて試験効率向上
を図ることができる。
力モジュールの入出力信号試験を自動化することによ
り、供試盤操作のヒューマンエラーが防止できる。ま
た、供試盤の品質安定化が図れ、合わせて試験効率向上
を図ることができる。
【図１】本発明の一実施例に係るプロセス入出力信号の
試験装置を用いるシステム全体の構成図である。
試験装置を用いるシステム全体の構成図である。
【図２】図１の試験装置で自動試験を制御するパソコン
の機能構成ブロック図である。
の機能構成ブロック図である。
【図３】図２のパソコンの動作処理のフローチャート図
である。
である。
【図４】ＡＩモジュールの特性試験時の、パソコンの動
作処理のフローチャート図である。
作処理のフローチャート図である。
【図５】ＡＩモジュールの特性試験時の、パソコンの動
作処理のフローチャート図である。
作処理のフローチャート図である。
【図６】ＡＯモジュールの特性試験時の、パソコンの動
作処理のフローチャート図である。
作処理のフローチャート図である。
【図７】ＡＯモジュールの特性試験時の、パソコンの動
作処理のフローチャート図である。
作処理のフローチャート図である。
【図８】ＤＩモジュールの特性試験時の、パソコンの動
作処理のフローチャート図である
作処理のフローチャート図である
【図９】ＤＯモジュールの特性試験時の、パソコンの動
作処理のフローチャート図である。
作処理のフローチャート図である。
【図１０】従来の技術によるＰＩ／Ｏモジュール特性試
験の構成図である。
験の構成図である。
１…パソコン、５…基準盤、６…供試盤、７伝送ケーブ
ル、８ハードワイヤードケーブル、９…プリンタ、１５
制御装置、１５１試験種別選定手段、１５２基準値信号
出力手段、１５３通信処理手段、１５４アンサバック信
号入力手段、１５５同期合わせ手段、１５６基準値比較
手段、１５７判定値設定手段、１５８判定手段、１５９
登録データ編集手段、１６０不良分析手段
ル、８ハードワイヤードケーブル、９…プリンタ、１５
制御装置、１５１試験種別選定手段、１５２基準値信号
出力手段、１５３通信処理手段、１５４アンサバック信
号入力手段、１５５同期合わせ手段、１５６基準値比較
手段、１５７判定値設定手段、１５８判定手段、１５９
登録データ編集手段、１６０不良分析手段
Claims (9)
- 【請求項１】プラントを制御するために圧力、流量、温
度等を電気信号へ変換したプロセス信号を入出力する供
試盤の前記プロセス入出力信号の妥当性を自動試験する
プロセス入出力信号の試験装置において、 前記供試盤に入出力する前記プロセス入出力信号に対応
して基準値信号を入出力する基準盤と、前記基準値信号
と前記プロセス入出力信号を比較することにより前記プ
ロセス入出力信号の妥当性を判定し、該判定結果を登録
し編集する制御装置とを有することを特徴とするプロセ
ス入出力信号の試験装置。 - 【請求項２】請求項１において、前記制御装置は、前記
自動試験の種別の選定を行う試験種別選定手段と、前記
選定された種別の基準値信号を出力する基準値信号出力
手段と、前記基準値信号を前記基準盤及び前記供試盤へ
伝送するための通信処理を行う通信処理手段と、前記伝
送された基準値信号は前記基準盤側及び前記供試盤で演
算処理され、前記演算処理された信号を前記通信処理手
段を介してアンサバック信号として取り込むアンサバッ
ク信号入力手段と、前記アンサバック信号と前記基準値
信号との時間的な同期を合わせる同期合わせ手段と、前
記同期を合わせた前記アンサバック信号と前記基準値信
号との比較を行う基準値比較手段と、予め登録された判
定基準値を設定する判定値設定手段と、前記判定基準値
を基に前記アンサバック信号の妥当性の合否判定を行う
判定手段と、前記妥当性判定結果を登録しデータとして
編集する登録データ編集手段を有することを特徴とする
プロセス入出力信号の試験装置。 - 【請求項３】請求項１において、前記制御装置は伝送ケ
ーブルで前記供試盤と前記基準盤に接続され、前記供試
盤はハードワイヤードケーブルで前記基準盤に接続され
ており、前記伝送ケーブルでは、前記基準盤及び前記供
試盤に組み込まれているマイコン内蔵のデジタルコント
ローラ間の伝送信号を伝送し、前記ハードワイヤードケ
ーブルでは、前記基準盤及び前記供試盤に組み込まれて
いるプロセス入出力モジュールと緩衝器間の電気的信号
を伝送することを特徴とするプロセス入出力信号の試験
装置。 - 【請求項４】請求項１または請求項２において、前記制
御装置は、前記判定手段で前記アンサバック信号の妥当
性を否と判定された時、前記アンサバック信号の不良分
析を行う不良分析手段を有することを特徴とするプロセ
ス入出力信号の試験装置。 - 【請求項５】請求項１または請求項２において、前記登
録データ編集手段は、前記定結果を試験成績書の様式で
前記プリンタへ出力させる機能を持っていることを特徴
とするプロセス入出力信号の試験装置。 - 【請求項６】プラントを制御するために圧力、流量、温
度等を電気信号へ変換したプロセス信号を入出力する供
試盤の前記プロセス入出力信号の妥当性を自動試験する
プロセス入出力信号の試験方法において、 前記供試盤に入出力する前記プロセス入出力信号と前記
プロセス入出力信号に対応して基準盤に入出力する基準
信号とを比較することにより前記プロセス入出力信号の
妥当性を判定し、該判定結果を登録し編集する制御ステ
ップを有することを特徴とするプロセス入出力信号の試
験方法。 - 【請求項７】請求項６において、前記制御ステップは、
前記自動試験の種別の選定を行う試験種別選定ステップ
と、前記選定された種別の基準値信号を出力する基準値
信号出力ステップと、前記基準値信号を前記基準盤及び
前記供試盤へ伝送するための通信処理を行う通信処理ス
テップと、前記伝送された基準値信号は前記基準盤側及
び前記供試盤で演算処理され、前記演算処理された信号
を通信処理ステップを介してアンサバック信号として取
り込むアンサバック信号入力ステップと、前記アンサバ
ック信号と前記基準値信号との時間的な同期を合わせる
同期合わせステップと、前記同期を合わせた前記アンサ
バック信号と前記基準値信号との比較を行う基準値比較
ステップと、予め登録された判定基準値を設定する判定
値設定ステップと、前記判定基準値を基に前記アンサバ
ック信号の妥当性の合否判定を行う判定ステップと、前
記妥当性判定結果を登録しデータとして編集する登録デ
ータ編集ステップを有することを特徴とするプロセス入
出力信号の試験方法。 - 【請求項８】請求項６または請求項７において、前記制
御ステップは、前記判定ステップで前記アンサバック信
号の妥当性を否と判定された時、前記アンサバック信号
の不良分析を行う不良分析ステップを有することを特徴
とするプロセス入出力信号の試験方法。 - 【請求項９】請求項６または請求項７において、前記登
録データ編集ステップは、前記判定結果を試験成績書の
様式で前記プリンタへ出力させることを特徴とするプロ
セス入出力信号の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6060396A JPH09251316A (ja) | 1996-03-18 | 1996-03-18 | プロセス入出力信号の試験装置及び試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6060396A JPH09251316A (ja) | 1996-03-18 | 1996-03-18 | プロセス入出力信号の試験装置及び試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09251316A true JPH09251316A (ja) | 1997-09-22 |
Family
ID=13146999
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6060396A Pending JPH09251316A (ja) | 1996-03-18 | 1996-03-18 | プロセス入出力信号の試験装置及び試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09251316A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11353014A (ja) * | 1998-06-08 | 1999-12-24 | Mitsubishi Electric Corp | 保守支援システム |
| CN109459678A (zh) * | 2018-10-10 | 2019-03-12 | 北京艾博唯科技有限公司 | 一种板卡测试系统、板卡测试机 |
-
1996
- 1996-03-18 JP JP6060396A patent/JPH09251316A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11353014A (ja) * | 1998-06-08 | 1999-12-24 | Mitsubishi Electric Corp | 保守支援システム |
| CN109459678A (zh) * | 2018-10-10 | 2019-03-12 | 北京艾博唯科技有限公司 | 一种板卡测试系统、板卡测试机 |
| CN109459678B (zh) * | 2018-10-10 | 2024-04-12 | 朝阳晋慧智能科技有限公司 | 一种板卡测试系统、板卡测试机 |
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