JPH09241838A - スパッタリング装置用シャッタ - Google Patents

スパッタリング装置用シャッタ

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JPH09241838A
JPH09241838A JP4931796A JP4931796A JPH09241838A JP H09241838 A JPH09241838 A JP H09241838A JP 4931796 A JP4931796 A JP 4931796A JP 4931796 A JP4931796 A JP 4931796A JP H09241838 A JPH09241838 A JP H09241838A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
shutter
substrate
magnet
film
Prior art date
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Pending
Application number
JP4931796A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Igarashi
浩一 五十嵐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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Publication of JPH09241838A publication Critical patent/JPH09241838A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板への成膜の品質を向上させるようにター
ゲットのクリーニング作用を向上させること。 【解決手段】 基板2とターゲット3との間を開閉する
シャッタ1の基板2と対向する面に永久磁石Mを固定さ
せる。これによりシャッタ1を閉として、スパッタクリ
ーニングするときにはターゲット3の中央部に対向する
部分のプラズマ領域を拡大する。よって成膜時には被エ
ロージョン領域となっていた部分を優先的に侵食してタ
ーゲット3を有効に利用し、かつ不純物を取り除いて基
板2への成膜を良質なものとすることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はスパッタリング装置
用シャッタに関する。
【0002】
【従来の技術】図2は従来例のスパッタリング装置の要
部を示すものであるが、シャッタ1を間にして基板2及
びターゲット3が真空処理室7内に配設され、また図3
に明示されるようにターゲット3はターゲットホルダH
により真空室7の壁部に支持されているが、このホルダ
H内に磁石6(電磁石又は永久磁石)が配設されてお
り、これは、オイルシールBで軸受された回転軸15に
より矢印で示す方向に外方に配設された図示しない電動
機により回転されるのであるが、この一端部はシャッタ
1の端部に固定されており、この軸5の軸心の周りにシ
ャッタ1が一点鎖線及び実線で示す位置に回動されるよ
うに構成されている。なお、磁石6又はターゲットホル
ダHにはカソード電位が印加されている。
【0003】公知のように、ターゲット3の材質のター
ゲット材の原子又は分子がシャッタ1を図2から解放し
た状態(一点鎖線で示す状態)に回動させて、対向する
基板2上に薄膜として形成されるのであるが、磁石もし
くはマグネット6の磁界と電界との相互作用(これらは
相直交した成分を有する)により、図示せずとも真空処
理室7の導入口から導入されたプラズマ用のガス、例え
ばアルゴンガスがプラズマ化され、このイオンがターゲ
ット3に衝突して、このターゲット3を構成する材質の
原子又は分子を跳ね飛ばし、これが対向する基板2上に
薄膜として成膜される。マグネット6は軸15の軸心の
周りに回転するのであるが、またこの磁石の構造にもよ
るが、仮に中央の磁極に両側方の磁極から磁束が流入
し、電界がターゲット3の面に対しほゞ垂直に働いてい
る場合には、ターゲット3の表面近傍における磁界の水
平部分(ターゲット3の面に平行な部分)にプラズマ8
が集中的に形成される。すなわち正面から見てターゲッ
ト3の表面近くにはリング状のプラズマ8が図示するよ
うな拡がりをもって高密度で形成されるのであるが、こ
れによりこれが対向する部分のターゲット3がエロード
される(侵食される)。すなわちこの部分のターゲット
材が対向する基板2に薄膜として形成されるのである
が、このターゲット3の中央部3aはスパッタされるこ
となく、図示するように非スパッタ領域、あるいは非エ
ロージョン領域として他部分から隆起した部分3aとな
り、これと同心的にプラズマ8に対応してリング状のエ
ロージョン領域としての凹部3bが形成されることにな
る。
【0004】一般のスパッタリング装置で行われるよう
に、基板にスパッタ成膜する前にシャッタ1を閉じた状
態、すなわちターゲット3と基板2との間を遮断した状
態でスパッタクリーニングが行われる。これによりター
ゲット材の表面の不純物が取り除かれ、純粋のターゲッ
ト材が露出されるようにしているのであるが、この場合
にも図3に示すようなプラズマ8の分布状態となり、や
はりその中央部3aは隆起したままで、いわゆる非エロ
ージョン領域のままである。これでは単にエロージョン
されないばかりでなく、その周囲のエロージョン領域3
bからのターゲット材がここに付着するものもある。従
って、これらはスパッタ時の熱サイクルによって容易に
剥離、飛散しパーティクルとなって基板2に対し不純物
となるので除去しなければならないのであるが、成膜時
と同様なプラズマ状態のために依然として不純物の多い
領域ともなっている。よって基板2上に付着して製品歩
溜りを低下させている。
【0005】これではターゲット3を有効に利用できな
いばかりではなく、中央部3aに堆積した不純物が基板
2へのスパッタリング時に飛散してその膜質を劣化させ
ることになる。
【0006】他方、基板の膜質を向上させるためのスパ
ッタリング方法として、特開平6−172992号公報
に開示されるものはシャッタを駆動させる機構を改良し
て、これら駆動装置から発生する油などの汚染物が少な
くなるようにしているが、上述のようにターゲット材の
表面のプラズマの発生状況はそのままであり、やはり同
様な問題をそのまま生じているはずである。
【0007】更に、特開昭63−230863号公報に
記載のスパッタ装置のシャッタ機構によれば、基板とタ
ーゲット材との間を開閉するシャッタの位置を基板側か
ターゲット材側が移動可能とさせるようにするか、また
はターゲット材及び基板に近接して二つのシャッタを設
けて、クリーニング時のターゲット材から発生する原子
な分子またはこれらの不純物の基板側への回り込みを防
止するようにしているが、やはり上述のようなターゲッ
ト材の近傍のプラズマの発生状況はそのままであり、同
様な問題を生ずるものである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述の問題に
鑑みてなされ、ターゲット材を有効に利用し、かつ基板
への成膜の品質を向上させることのできるスパッタリン
グ装置用シャッタを提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】以上の課題は、ターゲッ
トと該ターゲットに対向して配設される基板との間を開
閉するスパッタリング装置用シャッタにおいて、前記シ
ャッタに磁石を固定させていることを特徴とするスパッ
タリング装置用シャッタ、によって達成される。
【0010】スパッタに固定された磁石の磁気により、
ターゲットの近傍のスパッタリングクリーニング時のプ
ラズマの発生状況を全ターゲット材が均一にエロージョ
ンされるように発生させることができ、よってターゲッ
ト材を有効に利用することができ、またクリーニング時
にターゲット材上の不純物が除かれてシャッタを開放し
て通常の基板への成膜時にこの不純物が付着することが
防止される。よって基板上への膜質を向上させることが
できる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態による
スパッタリング装置用シャッタに関して、図1を参照し
て説明する。なお図において、従来例に対応する部分に
ついては同一の符号を付し、その詳細な説明は省略す
る。
【0012】すなわち本発明によればシャッタ1の裏
面、すなわち基板2と対向する面上に永久磁石Mが取り
付けられている。これにより図1に示すように、カソー
ドマグネット6(カソード側であるので、このように命
名するが、これは永久磁石であってもよく、電磁石であ
ってもよく、またこれにカソード電位が印加されてもよ
く、またホルダHに印加するようにしてもよい)からの
磁束と永久磁石Mからの磁束との合成磁束により、図1
に示すようなプラズマが形成される。すなわちシャッタ
1を閉じている場合には、ターゲット3の近傍のプラズ
マ10は従来と同様なリング状であるが、その領域はよ
り小さくなり、代わりにその中央部3dに対向してより
大きいプラズマ11が発生する。これによりスパッタク
リーニング時のターゲット3のスパッタ作用はターゲッ
ト3の中央部3dにおいて最も強くなり、先の基板2へ
の成膜時にはこの中央部3dが非エロージョン領域とな
っていたのが、この部分がクリーニング時には優先的に
スパッタされることになり、従ってターゲット3は一様
にエロージョンされることになる。また基板2への成膜
時には不純物が従来はこの中央部に堆積していたのが、
このクリーニング時にクリーニングされることになる。
よって成膜時にこの中央部からの不純物が混入されるこ
とはない。
【0013】なお、通常の基板2への成膜時にはシャッ
タ1が外方に配設された電動機4の回転により、図2に
おいて一点鎖線で示す位置を取り、通常の成膜作用が行
われる。以上述べたように、本発明の実施形態によれば
スパッタクリーニング時にはターゲット材の中央部に面
する領域のプラズマ範囲を大として形成し、これにより
ターゲット材を均一にエロージョン、すなわち均一に利
用することができ、また基板への成膜は従来より良質な
ものとすることができる。
【0014】以上、本発明の実施の形態について説明し
たが、勿論、本発明はこれに限定されることなく、本発
明の技術的思想に基づいて種々の変形が可能である。
【0015】例えば、以上の本発明の実施の形態では、
カソードマグネット6は回転するとしたが、これは静止
させておいてもよい。また図示したように永久磁石Mは
基板2に対向する面に取り付けた方が、この永久磁石M
がターゲット材で汚染されることがないので好ましい
が、ターゲット3に対向する面上に取り付けても同様な
作用が得られることは明らかである。
【0016】また、以上の本発明の実施の形態において
は、永久磁石Mをシャッタ1に取り付けるとしたが、勿
論、これは電磁石であってもよく、ターゲット材のスパ
ッタ方法によっては、そのエロージョンされる領域が上
述のようにリング状ではなく、更に不定な形となる場合
も考えられるが、この場合には非エロージョン領域に対
向する部分に優先的にプラズマ領域を形成するように電
磁石の磁極及び巻線を施すようにして、選択的にこのコ
イルを励磁するようにしてもよい。また磁力に対する熱
の悪影響を減らすためにシャッタ1又は磁石Mを水冷す
るようにしてもよい。
【0017】また、以上の本発明の実施の形態において
は、いわゆるマグネトロンスパッタ装置について説明し
たが、これに限定されることなく、ターゲットをスパッ
タする全ての装置において本発明は適用可能である。ま
た場合によってはシャッタ1にDC電圧を印加させても
よい。
【0018】
【発明の効果】以上述べたように、本発明のスパッタリ
ング装置用シャッタによれば、スパッタクリーニング
を、従来より均一に行なうことができ、また基板への成
膜の品質を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態によるスパッタリング装置
の要部拡大側面図である。
【図2】従来例のスパッタリング装置の要部の斜視図で
ある。
【図3】同側断面図である。
【符号の説明】
1……シャッタ、2……基板、3……ターゲット、M…
…永久磁石。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ターゲットと該ターゲットに対向して配
    設される基板との間を開閉するスパッタリング装置用シ
    ャッタにおいて、前記シャッタに磁石を固定させている
    ことを特徴とするスパッタリング装置用シャッタ。
  2. 【請求項2】 前記シャッタの前記基板と対向する面に
    前記磁石を固定させている請求項1に記載のスパッタリ
    ング装置用シャッタ。
  3. 【請求項3】 前記ターゲットの前記基板と対向する面
    とは反対側に磁石が配設されている請求項1又は2に記
    載のスパッタリング装置用シャッタ。
JP4931796A 1996-03-06 1996-03-06 スパッタリング装置用シャッタ Pending JPH09241838A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014181376A (ja) * 2013-03-19 2014-09-29 Ulvac Japan Ltd スパッタリング装置及びスパッタリング方法
US20170110301A1 (en) * 2015-10-16 2017-04-20 JoonMyoung LEE Sputtering Apparatuses and Methods of Manufacturing a Magnetic Memory Device Using the Same

Cited By (3)

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