JPH09241003A - 酸素分離装置および酸素分離装置の制御方法 - Google Patents

酸素分離装置および酸素分離装置の制御方法

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JPH09241003A
JPH09241003A JP8049920A JP4992096A JPH09241003A JP H09241003 A JPH09241003 A JP H09241003A JP 8049920 A JP8049920 A JP 8049920A JP 4992096 A JP4992096 A JP 4992096A JP H09241003 A JPH09241003 A JP H09241003A
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JP
Japan
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solid electrolyte
thin film
oxygen
porous electrode
porous
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Pending
Application number
JP8049920A
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English (en)
Inventor
Yuji Mukai
裕二 向井
Yasuhito Takahashi
康仁 高橋
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 固体電解質薄膜を用いた酸素分離装置におい
て、酸素の分離性能を改善するとともに、固体電解質を
加熱する手段を容易に形成し、さらには、食品等を脱酸
素雰囲気下で保存するために酸素分離装置を用いる際
に、脱酸素速度を高くすることを目的とする。 【解決手段】 多孔質基板3の片面に、第1の多孔質電
極4、酸素イオン伝導性を有する固体電解質薄膜6及び
第2の多孔質電極5を積層し、さらに、第1の多孔質電
極4と第2の多孔質電極5の間に相対的に正電圧と負電
圧を印加する手段及び固体電解質薄膜6を加熱する手段
を有し、多孔質基板3に積層した面を低酸素濃度側に配
置する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は気体中の酸素濃度の
富化または減少を行う酸素分離技術に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来の酸素の分離に関する技術として
は、酸素富化膜で代表される膜分離技術や液体空気の沸
点差を利用して酸素を分離する深冷分離技術が一般的で
ある。
【0003】一方、これらの技術とは異なり、固体電解
質の酸素ポンプ作用を利用した技術として燃焼装置など
に酸素センサが利用されている。これは酸素イオン伝導
性を有する固体電解質の両面に白金等の多孔質電極を設
けて直流電圧を印加することにより、固体電解質内を負
極側から正極側へ酸素がイオンとなって流れる現象を利
用したものである。この技術を使えば固体電解質で隔離
された一方から他方への酸素ガスの移動を行うことがで
きる。
【0004】上記の酸素ポンプ作用を利用した技術を用
いた例としては、例えば特開昭62−144063号公
報に記載されたものがある。これは多孔質基板上に、2
枚の多孔質な電極に挟持された固体電解質薄膜を形成し
たものであり、固体電解質膜を通過する酸素の量を多孔
質基板内の拡散によって制限することによって限界電流
方式の酸素センサを実現している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記固体電解質薄膜を
用いることにより、簡単な構成で酸素を分離することが
できる。
【0006】しかしながら、上記従来の技術では上述し
たように酸素ガスの移動を多孔質板によって制限してい
るため、酸素の分離移動速度が遅いという課題があっ
た。
【0007】また、固体電解質が酸素イオン伝導性を発
現させるには数百度程度に加熱する必要があるため、こ
の加熱のためのヒータを別途設ける必要があり構成的に
複雑になるという課題があった。
【0008】更に、食品等を脱酸素雰囲気下で保存する
目的で固体電解質薄膜を用いて保存容器内を脱酸素化す
る際には、容器内の酸素濃度の減少にともなって分離速
度すなわち脱酸素速度が低下してしまうため、脱酸素に
長時間を要してしまうという課題があった。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
本発明では、多孔質基板の片面に、第1の多孔質電極
と、酸素イオン伝導性を有する固体電解質薄膜と、第2
の多孔質電極を積層し、前記第1電極と第2電極の間に
各々相対的に正電圧と負電圧を印加する手段と前記固体
電解質を加熱する手段を有し、前記多孔質基板に積層し
た面を低酸素濃度側に配置する。
【0010】また、多孔質基板として、一方の面の空隙
率を他方の面の空隙率に比べて小としたものを用いる。
【0011】更に、第1電極と第2電極を入力端子と出
力端子を有する略同一の線状パターンで重ねて形成し、
前記第1電極と第2電極に互いに逆方向に電圧を印加す
ることにより固体電解質を加熱する。
【0012】一方、第1電極と第2電極の間に印加する
電圧を酸素分離の動作初期に大とする制御を行う。
【0013】または、固体電解質の温度を酸素分離の動
作初期に高く設定する制御を行う。
【0014】
【発明の実施の形態】
(実施の形態1)以下では本発明実施の形態1における
酸素分離装置について、図1を参照しながら説明する。
【0015】図1は本発明の酸素分離装置を脱酸素雰囲
気保存庫に応用した場合の一実施の形態の概略構成図で
ある。脱酸素保存庫は食品等の酸化を防ぐためのもので
あり、このような目的の保存庫は、従来は窒素ガスや炭
酸ガス等の不活性ガスで庫内の空気を置換することによ
って脱酸素雰囲気を実現していたものであるが、本発明
の技術によって不活性ガスを用いることなく同様の効果
(食品喉の酸化を防止)を得ることができる。
【0016】図1において、1は脱酸素雰囲気保存庫の
壁面であり、図中の下方向が庫内雰囲気側、上方向が大
気雰囲気側である。2は本発明の酸素分離装置であり、
分離部と加熱部とを有している。
【0017】分離部は、アルミナからなる多孔質基板
3、白金薄膜からなる第1電極薄膜4と第2電極薄膜
5、酸素イオン電導性を有する固体電解質であるジルコ
ニア薄膜6、第1電極薄膜4と第2電極薄膜5に各々正
電圧と負電圧を印加する駆動電源7とを有している。こ
こで、第1電極薄膜4、固体電解質薄膜6、および第2
電極薄膜5はスパッタリング法を用いて多孔質基板2の
片面に積層して構成したものである。また両電極薄膜4
と5はスパッタリング条件を調整することによって、白
金微粒子が集合した厚さ200nmの多孔質状の電極と
している。また、固体電解質薄膜6もスパッタリング法
で形成し、その膜厚を例えば2μmとしている。
【0018】一方、加熱部はヒータ8と加熱電源9とを
有しており、部分的に配置したスペーサ10を介して多
孔質基板3と狭持することによって固体電解質薄膜6を
所定の温度に加熱している。
【0019】このように構成された本発明の酸素分離装
置の動作を次に説明する。先ず、加熱電源9によりヒー
タ8を加熱させ、発生した熱によって固体電解質薄膜6
を約800℃に加熱する。これはジルコニアから構成さ
れた固体電解質薄膜6はこの程度の温度に加熱しないと
酸素イオン伝導度が低いためである。
【0020】次に、動作電源7により第1電極薄膜4に
正電圧、第2電極薄膜5に負電圧を印加して固体電解質
薄膜6を動作させる。上記のように分離部が作動する
と、庫内雰囲気内の酸素ガスは第2電極薄膜5で電子を
与えられ負の酸素イオンとなる。この酸素イオンが動作
電源によって誘導された電界によって固体電解質薄膜6
内を第2電極薄膜5側へ移動する。そして第1電極薄膜
4へ到達した負イオンは電子を放出して酸素ガスとな
り、多孔質基板3内を拡散して大気雰囲気側へ放出され
る。ジルコニアからなる固体電解質薄膜6は酸素イオン
のみしか通さないので、上記の動作によって庫内の酸素
のみを矢印11の方向へ排出し、庫内酸素濃度を下げる
ことができる。
【0021】前述した従来の技術でも酸素ガスの除去は
可能であるが、本発明は従来技術とは逆に多孔質基板の
方向へ酸素を放出している点に特徴がある。従来の技術
では固体電界質内を移動する酸素量は僅かであるが、本
実施例のように脱酸素保存庫に応用する場合は、脱酸素
速度を大きくすることが望まれる。そのため、固体電解
質薄膜6表面への酸素の供給は速やかに行われなければ
ならない。従来技術では酸素ガスが固体電解質薄膜に接
触するまでには、多孔質基板内と多孔質電極薄膜内を拡
散移動なければならない。なお、多孔質電極薄膜に比べ
て多孔質基板は厚さが遥かに厚いため、実質的には多孔
質基板によって酸素の移動速度が大幅に制限されてい
る。しかも多孔質基板内を固体電解質の方向へ拡散する
ものは酸素ガスだけではなく、例えば窒素ガスなどの雰
囲気ガスも同時に拡散し、しかもこれら酸素以外のガス
は逆方向に戻らなければならず、酸素の拡散移動の妨げ
となっている。
【0022】それに対し、本発明では第2の多孔質電極
薄膜5に酸素が直接接するため移動速度が多孔質基板3
によって制限されることがほとんどなく、酸素移動速度
を大幅に向上することができる。なお、本発明の構成で
は固体電解質薄膜6と第1電極薄膜4を通過した酸素ガ
スが多孔質基板3内を拡散移動して排出される必要があ
るが、この場合は固体電解質薄膜6から次々に放出され
るため、多孔質電極薄膜3とそれに接する多孔質基板3
の表面は酸素ガスによって大気圧よりも高い圧力となっ
ている。従って酸素は多孔質基板3内を単に拡散するだ
けではなく、その圧力と大気圧の差で移動するために速
やかに排出され、酸素の移動速度を制限することがな
い。
【0023】すなわち、本発明により酸素分離装置は酸
素の分離移動速度を大幅に向上することができ、本技術
によって固体電解質を用いた酸素分離装置の実現が可能
となるものである。
【0024】(実施の形態2)次に、本発明実施の形態
2における酸素分離装置について、図2を参照しながら
説明する。本実施の形態では基本的な構成は上記の図1
に示される実施の形態1における酸素分離装置と同様で
あるが、分離部の構成が図1とは異なる。そして図2は
その分離部のみを拡大したものである。
【0025】本実施の形態は多孔質基板3を粒子の大き
さの異なるアルミナ粒子を2層にして焼結し形成したも
のを用いることにより空隙率の異なる2層構造とし、空
隙率の小さな面の上に第1電極薄膜4、固体電解質薄膜
6、第2電極薄膜5を積層したものである。
【0026】本発明では前述したように第1電極薄膜
4、固体電解質薄膜6、第2電極薄膜5を薄膜で形成し
ているためにその基板となる多孔質基板3の表面は平滑
である必要がある。また、酸素ガスの分離速度を更に向
上するためには固体電解質薄膜6の酸素イオン電導量を
多くする必要がある。そのためには固体電解質薄膜6の
厚さを更に薄くする必要があり、そのためには多孔質基
板3の表面をより一層平滑にする必要がある。
【0027】そこで本実施の形態では多孔質基板の表面
を平滑にするために、上記2層構造とし、第1電極薄膜
4に接する領域のアルミナ粒子を小さくし、その他の領
域のアルミナ粒子を上記の領域よりも大きくして酸素イ
オンが通過しやすいようにしていたものである。このよ
うに、第1電極薄膜4と接する多孔質基板3表面の空隙
率を小さくして構成することにより、固体電解質薄膜6
の厚さを1μm程度あるいはそれ以下にすることがで
き、酸素分離性能を大幅に向上することができる。な
お、本実施の形態では多孔質基板を2層構造としたが、
多孔質基板3の強度等の面から3層以上の構成としても
かまわない。
【0028】(実施の形態3)次に、本発明実施の形態
3における酸素分離装置について、図3及び図4を参照
しながら説明する。図3は酸素分離装置単体の平面図で
あり、図4はその断面図である。
【0029】前述したように固体電解質薄膜6を動作さ
せるには、固体電解質薄膜6を所定の温度まで加熱する
必要がありそのためにヒータからなる加熱部が必要であ
った。本実施の形態は固体電解質薄膜6を挟む多孔質電
極をヒータとしても利用することを特徴とする。
【0030】図3において、12と13は同じ膜厚を有
する第1と第2の多孔質な電極薄膜であり、図示したよ
うにパターニングすることによってそれぞれの電極薄膜
が入力と出力の2つの端子を形成している。14と15
は各々電極薄膜12と13の加熱電源を示し、互いに逆
方向に同電圧を印加するように接続している。このよう
に逆方向に電圧を印加することにより、固体電解質薄膜
6の各部分にかかる電界強度を動作電源7で印加する電
圧のみで一定に制御することができる。
【0031】このように多孔質電極12、13そのもの
をヒータとすることによって加熱部を別途用意する必要
が無く、装置の構成を簡単にすることができるととも
に、固体電解質薄膜6を効率よく加熱することができ
る。
【0032】(実施の形態4)次に、本発明実施の形態
4における酸素分離装置について、図5を参照しながら
説明する。
【0033】図5は酸素分離装置を動作させた場合の脱
酸素雰囲気保存庫内の酸素濃度の変化を示したものであ
る。図中Aは大気中の酸素濃度である21%の点を、B
と破線は目的とする保存時の酸素濃度を示している。
【0034】酸素分離装置を一定温度、一定動作電圧で
動作した場合、庫内の酸素濃度は曲線1のように減少
し、Bの濃度に達するには比較的長いT1の所用時間が
必要になる。所用時間を短縮するには、固体電解質薄膜
6の温度を上げるか、あるいは固体電解質薄膜6に印加
する動作電圧を上げる必要がある。しかし、いづれの場
合も動作に必要な所用電力が増えてしまうため望ましい
方法ではない。
【0035】そこで、本実施の形態では酸素分離動作の
初期に固体電解質薄膜6の温度を高めに設定したり、初
期に固体電解質に印加する電圧を通常より大きくしてや
る。あるいは、酸素分離動作の初期に固体電はなく、酸
素富化装置や大気からの純粋な酸素ガスの分離発生装置
等、幅広い応用に利用し得るものである。
【0036】
【発明の効果】本発明を用いることにより、低消費電力
で極めて高い性能を有する酸素分離装置を得ることがで
き、また装置の構成を簡単にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明実施の形態1における酸素分離装置の概
略断面図
【図2】本発明実施の形態2における酸素分離装置の分
離部の断面図
【図3】本発明実施の形態3における酸素分離装置の概
略平面図
【図4】本発明実施の形態3における酸素分離装置の概
略断面図
【図5】本発明実施の形態4における酸素分離装置を用
いた酸素濃度の変化を示す図
【符号の説明】
3 多孔質基板 4 第1電極薄膜 5 第2電極薄膜 6 固体電解質薄膜 7 動作電源 8 ヒータ 9 ヒータ電源

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】多孔質基板の一面に形成された第1の多孔
    質電極と、前記第1の多孔質電極上に形成された酸素イ
    オン伝導性を有する固体電解質薄膜と、前記固体電解質
    薄膜上に形成された第2の多孔質電極と、前記第1の多
    孔質電極と前記第2の多孔質電極に各々相対的に正電圧
    と負電圧を印加する手段と、前記固体電解質を加熱する
    手段とを有し、前記第2の多孔質電極側を低酸素濃度側
    に配置したことを特徴とする酸素分離装置。
  2. 【請求項2】多孔質基板の厚さ方向において、第1の多
    孔質電極と接する領域の空隙率をその他の領域の空隙率
    よりも小さくしたことを特徴とする請求項1に記載の酸
    素分離装置。
  3. 【請求項3】第1の多孔質電極及び第2の多孔質電極に
    互いに逆方向に電圧を印加する手段を付加し、前記電圧
    を印加する手段により固体電解質を加熱することを特徴
    とする請求項1に記載の酸素分離装置。
  4. 【請求項4】多孔質基板の一面に形成された第1の多孔
    質電極と、前記第1の多孔質電極上に形成された酸素イ
    オン伝導性を有する固体電解質薄膜と、前記固体電解質
    薄膜上に形成された第2の多孔質電極と、前記第1の多
    孔質電極と前記第2の多孔質電極に各々相対的に正電圧
    と負電圧を印加する手段と、前記固体電解質を加熱する
    手段とを有し、前記第2の多孔質電極側を低酸素濃度側
    に配置した酸素分離装置の制御方法であって、前記酸素
    分離装置の動作初期において、前記第1の多孔質電極と
    第2の多孔質電極の間に印加する電圧を通常より大きく
    するか、または前記固体電解質の温度を通常より高く設
    定することを特徴とする酸素分離装置の制御方法。
JP8049920A 1996-03-07 1996-03-07 酸素分離装置および酸素分離装置の制御方法 Pending JPH09241003A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7306965B2 (en) * 2004-02-25 2007-12-11 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Oxygen ion conductor device, method for fabricating oxygen ion conductor device, and oxygen concentration control system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7306965B2 (en) * 2004-02-25 2007-12-11 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Oxygen ion conductor device, method for fabricating oxygen ion conductor device, and oxygen concentration control system

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