JPH09223391A - Forced refresh device - Google Patents

Forced refresh device

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JPH09223391A
JPH09223391A JP8031815A JP3181596A JPH09223391A JP H09223391 A JPH09223391 A JP H09223391A JP 8031815 A JP8031815 A JP 8031815A JP 3181596 A JP3181596 A JP 3181596A JP H09223391 A JPH09223391 A JP H09223391A
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refresh
circuit
memory
signal
state
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Yoko Isobe
洋子 磯部
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NEC Computertechno Ltd
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NEC Computertechno Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable exact performance measurement by issuing a refresh instruction at arbitrary timing and suppressing the memory access instruction in a CPU. SOLUTION: When the refresh instruction 4 is issued, a request conversion circuit 5 delivers the same to a refresh control circuit 7 and delivers the same to a refresh state instructing circuit 6. This refresh state instructing circuit 6 sends a DRAM state instruction signal 15 to the CPU and suppresses the memory access instruction. On the other hand, the refresh control circuit 7 refreshes a DRAM 3 by the force refresh signal 11 from the request conversion circuit 5 or the refresh request 13 from a time measurement circuit 8. The DRAM 3 sends signals to the refresh control circuit 7 and the refresh state instructing circuit 6 to release the memory access instruction suppression when the refresh ends. As a result, the refresh instruction is issued at the arbitrary timing and the exact performance measurement is made possible.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は強制リフレッシュ装
置に関し、特にダイナミックランダムアクセスメモリ
(以下、DRAMという。)を任意のタイミングでリフ
レッシュする強制リフレッシュ装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a forced refresh device, and more particularly to a forced refresh device for refreshing a dynamic random access memory (hereinafter referred to as DRAM) at an arbitrary timing.

【0002】[0002]

【従来の技術】DRAMは、記憶内容の保持の為に、メ
モリセルに対してリフレッシュ動作を行う必要がある。
素子によって、一定時間(仮に、N秒とする)内に必要
なリフレッシュサイクル数(仮に、Mサイクルとする)
が規定されている。
2. Description of the Related Art In a DRAM, it is necessary to perform a refresh operation on a memory cell in order to retain the stored content.
Depending on the device, the number of refresh cycles required (provisionally N seconds) within a fixed time (provisionally N seconds)
Is stipulated.

【0003】リフレッシュ方式としては、分散リフレッ
シュ方式や集中リフレッシュ方式などがある。分散リフ
レッシュ方式は、MサイクルをN秒の間に均等に割り付
け、N/M秒に1回ずつリフレッシュを行う方式であ
る。集中リフレッシュ方式は、N秒毎にM回連続してリ
フレッシュを行う方式である。
As a refresh method, there are a distributed refresh method, a concentrated refresh method, and the like. The distributed refresh method is a method in which M cycles are evenly allocated during N seconds and refresh is performed once every N / M seconds. The centralized refresh method is a method of continuously refreshing M times every N seconds.

【0004】従来は、リフレッシュ要求部が前記リフレ
ッシュ規定を満たすようにリフレッシュ要求信号を送出
してリフレッシュ動作を開始していた。すなわち、リフ
レッシュ要求信号の送出タイミングは中央処理装置(C
PU)とは非同期であり、更に、メモリのリフレッシュ
動作中はCPUからのメモリアクセス要求はホールドさ
れ、リフレッシュが終了するまでメモリアクセス命令を
処理できなかった。
Conventionally, the refresh request section sends a refresh request signal so as to satisfy the refresh regulation, and starts the refresh operation. That is, the timing of sending the refresh request signal is determined by the central processing unit (C
(PU) is asynchronous, and further, the memory access request from the CPU is held during the memory refresh operation, and the memory access instruction cannot be processed until the refresh is completed.

【0005】したがって、CPUは、いつメモリのリフ
レッシュ要求が発生するか、また、CPUでの処理中に
何回リフレッシュが発生したのかわからなかったので、
CPUの処理に対するリフレッシュ時間の影響を知るこ
とができなかった。
Therefore, the CPU does not know when the memory refresh request is generated, or how many times the refresh is generated during the processing by the CPU.
It was not possible to know the effect of the refresh time on the processing of the CPU.

【0006】特に、CPUにおいて、性能測定処理を行
っている最中にリフレッシュ要求信号が発生する場合も
あり、この場合、性能測定箇所の実行時間にリフレッシ
ュ時間が加わることになり、測定箇所の性能を正確に測
定できなかった。性能測定箇所の実行時間が短時間であ
ればあるほど、このリフレッシュ時間の影響は大きくな
ってくる。
In particular, in the CPU, a refresh request signal may be generated during the performance measurement process. In this case, the refresh time is added to the execution time of the performance measurement point, and the performance of the measurement point is increased. Could not be measured accurately. The shorter the execution time of the performance measurement point, the greater the influence of this refresh time.

【0007】前述した従来のリフレッシュ方式のうち、
分散リフレッシュ方式では1回のリフレッシュ時間は短
いが、リフレッシュ間隔が短い為に性能測定中に複数回
リフレッシュ動作をする可能性があり、CPUからメモ
リへのアクセス要求と競合しやすくなる。また、集中リ
フレッシュ方式ではリフレッシュ間隔が分散リフレッシ
ュ方式に比べて長いので、性能測定中にリフレッシュ要
求が発生する確率は低いが、リフレッシュ時間が長いの
で、性能測定中にリフレッシュ要求が発生すると性能へ
の影響は大きくなる。
Among the conventional refresh methods described above,
In the distributed refresh method, one refresh time is short, but since the refresh interval is short, there is a possibility that the refresh operation may be performed multiple times during performance measurement, and it is likely to compete with the access request from the CPU to the memory. In addition, since the refresh interval in the centralized refresh method is longer than that in the distributed refresh method, the probability of a refresh request occurring during performance measurement is low, but the refresh time is long, so if a refresh request occurs during performance measurement, the performance will be affected. The impact will be greater.

【0008】図3は、従来技術による性能測定中にメモ
リのリフレッシュが発生した場合のタミングチャートで
ある。同図において、タイミングR1はリフレッシュ要
求が発生しメモリのリフレッシュを開始するタイミング
であり、タイミングR2はメモリのリフレッシュを終了
するタイミングである。タイミングR1から次のタイミ
ングR1までの時間をn秒とすると、分散リフレッシュ
方式ではn=N/M,集中リフレッシュ方式ではn=N
になる。
FIG. 3 is a timing chart when a memory refresh occurs during performance measurement according to the prior art. In the figure, a timing R1 is a timing at which a refresh request is generated and the memory refresh is started, and a timing R2 is a timing at which the memory refresh is ended. When the time from the timing R1 to the next timing R1 is n seconds, n = N / M in the distributed refresh method and n = N in the concentrated refresh method.
become.

【0009】タイミング3Aは、性能測定開始タイミン
グである。タイミング3Aから性能測定を開始し、タイ
ミング3Bでメモリのリフレッシュ要求が発生して(タ
イミングR1)性能測定処理を中断する。そしてタイミ
ング3BからTr秒間メモリのリフレッシュを行い、タ
イミング3C(タイイングR2)で中断していた性能測
定処理を再開し、タイミング3Dで性能測定処理を終了
するものとする。
Timing 3A is a performance measurement start timing. The performance measurement is started from the timing 3A, the memory refresh request is generated at the timing 3B (timing R1), and the performance measurement process is interrupted. Then, it is assumed that the memory is refreshed for Tr seconds from timing 3B, the performance measurement processing suspended at timing 3C (timing R2) is restarted, and the performance measurement processing is terminated at timing 3D.

【0010】このとき、タイミング3Aからタイミング
3Bまでの性能測定時間をT1秒,タイミング3Cから
タイミング3Dまでの性能測定時間をT2秒とすると、
本来の性能測定箇所の実行時間は(T1+T2)秒であ
るが、タイミング3Bでリフレッシュが発生することに
よって、実際の実行時間は(T1+T2+Tr)秒にな
る。すなわち、(T1+T2=T)の時間が短ければ短
いほど、リフレッシュ時間Trの影響は大きくなる。
At this time, assuming that the performance measurement time from timing 3A to timing 3B is T1 seconds and the performance measurement time from timing 3C to timing 3D is T2 seconds,
The actual execution time of the performance measurement location is (T1 + T2) seconds, but the actual execution time becomes (T1 + T2 + Tr) seconds due to the occurrence of refresh at timing 3B. That is, the shorter the time (T1 + T2 = T), the greater the influence of the refresh time Tr.

【0011】特開平3−104083号公報では、必要
に応じてリフレッシュ制御方式を分散リフレッシュ方式
または集中リフレッシュ方式のいずれかを選択すること
ができるが、どちらの方式も、性能測定中、特に短時間
での性能測定中にリフレッシュの影響を100%なくす
ことはできない。
According to Japanese Patent Laid-Open No. 3-104083, the refresh control method can be selected from the distributed refresh method and the centralized refresh method as needed. In both methods, particularly during a performance measurement, a short time is required. It is not possible to eliminate 100% of the influence of refresh during performance measurement at.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
リフレッシュ方式では、短時間での性能測定時にリフレ
ッシュ要求が発生すると性能測定箇所の実行時間にリフ
レッシュ時間が加わる為に性能測定を正確に行えない場
合がある。リフレッシュ方式には一般的には2つある
が、分散リフレッシュ方式においては、リフレッシュ間
隔が短い為にCPUのメモリアクセス要求と競合を起こ
しやすくなり、集中リフレッシュ方式においては、リフ
レッシュ時間が長い為にCPUのメモリアクセス要求と
競合した場合にCPUのメモリアクセス要求が長い間ホ
ールドされる。すなわち、両者ともCPUでの短時間の
性能測定中にリフレッシュが発生する可能性は皆無では
ない。
As described above, in the conventional refresh method, when a refresh request is made during performance measurement in a short time, the refresh time is added to the execution time of the performance measurement point, and therefore the performance measurement is accurately performed. It may not be possible. Generally, there are two refresh methods. In the distributed refresh method, the refresh interval is short, so that it is likely to cause a conflict with the memory access request of the CPU. In the centralized refresh method, the refresh time is long and the CPU is long. Memory access request of the CPU is held for a long time when it conflicts with the memory access request of. That is, in both cases, there is a possibility that refresh may occur during performance measurement in the CPU for a short time.

【0013】上記のような状況は、中央処理装置とメモ
リのリフレッシュが非同期に実行され、リフレッシュ要
求部は単にリフレッシュ規定を満たすようにリフレッシ
ュ要求を発生するに過ぎないからである。
The above situation is because the central processing unit and the memory are refreshed asynchronously, and the refresh request unit merely issues the refresh request so as to satisfy the refresh regulation.

【0014】ところで、近年、大型コンピュータのメモ
リ素子として安価なDRAMが使われる場合が多い。特
に、スパーコンピュータのような高速計算機のメモリ素
子としてDRAMを使用した場合、短時間の性能測定の
際にメモリのリフレッシュが発生すると数ミリ秒の実行
時間に対してリフレッシュに数ミリ秒程度の時間がかか
る可能性があり、性能測定を正確に行なうことができな
い。
By the way, in recent years, an inexpensive DRAM is often used as a memory element of a large computer. Especially when a DRAM is used as a memory element of a high-speed computer such as a super computer, if a memory refresh occurs during a short-time performance measurement, the execution time of a few milliseconds is compared with the refresh time of a few milliseconds. However, the performance may not be accurately measured.

【0015】本発明の目的は、性能測定の直前に強制的
にメモリのリフレッシュを行う機能を備えることによっ
て、短時間の性能測定時にはメモリのリフレッシュ要求
が発生しないようにする強制リフレッシュ装置を提供す
ることにある。
An object of the present invention is to provide a forced refresh device which has a function of forcibly refreshing the memory immediately before the performance measurement so that the memory refresh request is not generated during the performance measurement in a short time. Especially.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】本発明の強制リフレッシ
ュ装置は、周期的に再書き込みを行なうリフレッシュ手
段を具備したメモリ装置において、リフレッシュ動作を
指示するリフレッシュ命令を入力し前記リフレッシュ手
段を強制的に起動する強制リフレッシュ信号を送出する
リクエスト変換回路と、前記リクエスト変換回路に指示
されて前記メモリ装置のリフレッシュ状態を表示し前記
リフレッシュ手段からのリフレッシュ終了信号に従って
前記メモリ装置の非リフレッシュ状態を表示するリフレ
ッシュ状態指示回路とを有して構成される。
A forced refresh device of the present invention is a memory device having refresh means for periodically rewriting, and a refresh command for instructing a refresh operation is input to force the refresh means. A request conversion circuit for sending a forced refresh signal to be activated, and a refresh for instructing the request conversion circuit to display a refresh state of the memory device and displaying a non-refresh state of the memory device according to a refresh end signal from the refresh means. And a state indicating circuit.

【0017】また、本発明の強制リフレッシュ装置は、
周期的に再書き込みを行なうリフレッシュ手段を具備し
たメモリ装置において、リフレッシュ動作を指示するリ
フレッシュ命令に従って前記リフレッシュ手段の動作周
期を無視して強制的にリフレッシュ動作を実行させ、前
記リフレッシュ動作を実行している間は前記リフレッシ
ュ命令に後続する処理を停止し、前記リフレッシュ動作
が終了したとき前記リフレッシュ命令に後続する処理を
継続させるようにして構成される。
Further, the forced refresh device of the present invention is
In a memory device having refresh means for periodically rewriting, in accordance with a refresh command for instructing a refresh operation, the operation cycle of the refresh means is ignored and the refresh operation is forcibly executed, and the refresh operation is executed. The processing subsequent to the refresh instruction is stopped while the refresh instruction is completed, and the processing subsequent to the refresh instruction is continued when the refresh operation is completed.

【0018】さらに、本発明の強制リフレッシュ装置
は、周期的にリフレッシュを必要とするメモリと、外部
からの信号によって起動し前記メモリをリフレッシュす
ると共にリフレッシュ終了時にはリフレッシュ終了信号
を送出するリフレッシュ制御回路と、前記メモリをリフ
レッシュする周期を計測し前記リフレッシュ制御回路を
起動させる時間計測回路と、リフレッシュ命令に従って
強制リフレッシュ信号を送出し前記リフレッシュ制御回
路を非周期のタイミングで起動させるリクエスト変換回
路と、前記強制リフレッシュ信号に従って前記メモリの
リフレッシュ状態を表示し前記リフレッシュ終了信号に
従って前記メモリの非リフレッシュ状態を表示するリフ
レッシュ状態指示回路とを備えて構成される。
Further, the forced refresh device of the present invention includes a memory which needs to be refreshed periodically, and a refresh control circuit which is activated by an external signal to refresh the memory and sends a refresh end signal at the end of refresh. A time measurement circuit for measuring the cycle of refreshing the memory and activating the refresh control circuit; a request conversion circuit for sending a forced refresh signal according to a refresh command to activate the refresh control circuit at non-periodic timing; And a refresh state instruction circuit for displaying a refresh state of the memory according to a refresh signal and displaying a non-refresh state of the memory according to the refresh end signal.

【0019】すなわち、メモリ素子のリフレッシュを強
制的に要求する命令を用意し、性能測定処理の直前にそ
の命令を発行し、リフレッシュ要求命令を強制リフレッ
シュ信号に変換し、メモリのリフレッシュを行うことに
より、短時間の性能測定の際にリフレッシュによる測定
誤差をなくすことができる。
That is, by preparing an instruction forcibly requesting the refresh of the memory element, issuing the instruction immediately before the performance measurement processing, converting the refresh request instruction into a forced refresh signal, and refreshing the memory. Therefore, it is possible to eliminate the measurement error due to the refresh when the performance is measured in a short time.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
しながら説明する。
Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

【0021】図1は本発明の実施の一形態を示すブロッ
ク図である。同図において、本発明による強制リフレッ
シュ装置は、周期的にリフレッシュを必要とするDRA
M3と、外部からの信号によって起動し前記DRAMを
リフレッシュすると共にリフレッシュ終了時にはリフレ
ッシュ終了信号12を送出するリフレッシュ制御回路7
と、前記DRAMをリフレッシュする周期を計測し前記
リフレッシュ制御回路7を起動させる時間計測回路8と
を含む主記憶部2と、リフレッシュ命令4に従って強制
リフレッシュ信号11を送出し前記リフレッシュ制御回
路7を非同期のタイミングで起動させるリクエスト変換
回路5と、前記強制リフレッシュ信号11に従って前記
DRAMのリフレッシュ状態を表示し前記リフレッシュ
終了信号12に従って前記DRAMの非リフレッシュ状
態を表示するリフレッシュ状態指示回路6とを含む強制
リフレッシュ部1とを備えている。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. In the figure, the forced refresh device according to the present invention is a DRA that requires periodic refreshing.
A refresh control circuit 7 which is activated by M3 and a signal from the outside to refresh the DRAM and sends a refresh end signal 12 at the end of refresh.
And a main memory unit 2 including a time measuring circuit 8 for measuring the period for refreshing the DRAM and activating the refresh control circuit 7, and a forced refresh signal 11 according to a refresh command 4 to send out the refresh control circuit 7 asynchronously. Forced refresh including a request conversion circuit 5 activated at a timing of 5 and a refresh state instruction circuit 6 for displaying a refresh state of the DRAM according to the forced refresh signal 11 and displaying a non-refresh state of the DRAM according to the refresh end signal 12. And part 1.

【0022】ここで、DRAM3はN秒にMサイクルの
リフレッシュ動作が必要であるとする。
Here, it is assumed that the DRAM 3 needs a refresh operation of M cycles in N seconds.

【0023】リフレッシュ命令(以下、RFL命令とい
う。)4は、性能測定開始の直前にソフトウェアによっ
て発生させる。RFL命令4が発行されると、リクエス
ト変換回路5はそれを強制リフレッシュ信号11に変換
し、主記憶部2内のリフレッシュ制御回路7にそれを送
出するとともに、リフレッシュ状態指示回路6にも送出
する。
The refresh command (hereinafter referred to as RFL command) 4 is generated by software immediately before the start of performance measurement. When the RFL instruction 4 is issued, the request conversion circuit 5 converts it into a forced refresh signal 11 and sends it to the refresh control circuit 7 in the main memory 2 and also to the refresh state instruction circuit 6. .

【0024】リフレッシュ状態指示回路6はリクエスト
変換回路5からの強制リフレッシュ信号を受けた時に状
態をONにし、リフレッシュ制御回路7からリフレッシ
ュ終了信号12を受け付けると状態をOFFにするDR
AM状態指示信号15を送出する。そして、CPUはこ
のDRAM状態指示信号15によって、リフレッシュ状
態指示回路6をチェックし、状態がONの場合はRFL
命令の後続のメモリアクセス命令の発行を抑止し、状態
がOFFの場合は後続のメモリアクセス命令の発行を行
う。
The refresh state instruction circuit 6 turns the state ON when it receives the forced refresh signal from the request conversion circuit 5, and turns it OFF when it receives the refresh end signal 12 from the refresh control circuit 7.
The AM state instruction signal 15 is transmitted. Then, the CPU checks the refresh state instruction circuit 6 with the DRAM state instruction signal 15, and if the state is ON, the RFL
Issuance of the memory access instruction subsequent to the instruction is suppressed, and if the state is OFF, the subsequent memory access instruction is issued.

【0025】リフレッシュ制御回路7は、リクエスト変
換回路5より強制リフレッシュ信号11を受け付けた場
合、あるいは時間計測回路8よりリフレッシュ要求13
を受けた場合にDRAM3のリフレッシュ動作を開始す
る。なお、リフレッシュ制御回路7は強制リフレッシュ
信号11を受けてDRAM3をリフレッシュする場合に
は時間計測回路8にリセット信号14を送出する。
The refresh control circuit 7 receives the forced refresh signal 11 from the request conversion circuit 5, or the refresh request 13 from the time measuring circuit 8.
In response to this, the refresh operation of the DRAM 3 is started. The refresh control circuit 7 sends a reset signal 14 to the time measuring circuit 8 when the DRAM 3 is refreshed by receiving the forced refresh signal 11.

【0026】時間計測回路8はリフレッシュ要求信号1
3を送出す時、及びリセット信号14を受けた時に初期
状態(仮に、0とする。)にリセットした後カウントア
ップを開始し、カウント値がL(メモリ素子によって規
定されている。)になった時点でリフレッシュ要求信号
13をリフレッシュ制御回路7に送出する。
The time measuring circuit 8 uses the refresh request signal 1
When 3 is sent and when the reset signal 14 is received, the counter is reset to the initial state (probably set to 0) and then counting up is started, and the count value becomes L (defined by the memory element). At that time, the refresh request signal 13 is sent to the refresh control circuit 7.

【0027】ここでは、時間計測回路8は0を初期状態
としカウントアップすると説明したが、初期状態をLと
しカウントダウンを行い0になった時点でリフレッシュ
要求信号13を送出するようにしてもよい。
Although it has been described here that the time measuring circuit 8 counts up with 0 as the initial state, it may be possible to send the refresh request signal 13 when the initial state is set to L and the countdown is performed to reach 0.

【0028】DRAM3はリフレッシュが終了するとリ
フレッシュ制御回路7に終了信号を送り、更に、リフレ
ッシュ制御回路7はリフレッシュ状態指示回路6にリフ
レッシュ終了信号12を送出する。そしてリフレッシュ
状態指示回路6はリフレッシュ終了信号12を受け取る
と、状態をOFFにする。
When the DRAM 3 finishes refreshing, it sends an end signal to the refresh control circuit 7, and the refresh control circuit 7 sends a refresh end signal 12 to the refresh state instruction circuit 6. When the refresh state instruction circuit 6 receives the refresh end signal 12, it turns the state OFF.

【0029】図2は上記の強制リフレッシュ装置の動作
を示すタイミングチャートである。同図において、タイ
ミングR1はリフレッシュ要求が発生しメモリのリフレ
ッシュを開始するタイミングであり、タイミングR2は
メモリのリフレッシュが終了するタイミングである。こ
こで、タイミングR11は時間計測回路8が規定値にな
り、リフレッシュ要求信号14をリフレッシュ制御回路
7に送出してDRAM3のリフレッシュを開始するタイ
ミングである。タイミングR21はDRAM3のリフレ
ッシュが終了し、終了信号をリフレッシュ制御回路7へ
送出するタイミングである。
FIG. 2 is a timing chart showing the operation of the above-mentioned forced refresh device. In the figure, timing R1 is a timing at which a refresh request is generated and the memory refresh is started, and timing R2 is a timing at which the memory refresh is finished. Here, the timing R11 is the timing at which the time measuring circuit 8 reaches the specified value and the refresh request signal 14 is sent to the refresh control circuit 7 to start refreshing the DRAM 3. Timing R21 is the timing when the refresh of the DRAM 3 is completed and the completion signal is sent to the refresh control circuit 7.

【0030】なお、RFL命令4が発行されない場合
は、n秒後に次のリフレッシュ要求信号13が発生し、
リフレッシュを開始する(タイミングR1)。nは、分
散リフレッシュ方式ではn=N/M,集中リフレッシュ
方式ではn=Nになる。
If the RFL command 4 is not issued, the next refresh request signal 13 is generated after n seconds,
Refreshing is started (timing R1). In the distributed refresh method, n = N / M, and in the concentrated refresh method, n = N.

【0031】性能測定開始の直前にソフトウェアによっ
てRFL命令4を発生させ、タイミング2Bでリクエス
ト変換回路5が強制リフレッシュ信号11を送出する
と、リフレッシュ制御回路7によってDRAM3がリフ
レッシュ動作を開始する(タイミングR12)。この
時、リフレッシュ状態指示回路6の状態がONになり、
性能測定処理を開始する際にリフレッシュ状態指示回路
6の状態をチェックすると、状態がONであるので性能
測定処理は抑止される。そして、タイミング2BのTr
秒後にDRAM3のリフレッシュ動作が終了し(タイミ
ングR22)、DRAM3はリフレッシュ終了信号12
をリフレッシュ制御回路7を介してリフレッシュ状態指
示回路6に送出し、リフレッシュ状態指示回路6はリフ
レッシュ終了信号12を受け取ると、状態をOFFにす
る。
The RFL instruction 4 is generated by software immediately before the performance measurement is started, and the request conversion circuit 5 sends out the forced refresh signal 11 at the timing 2B. Then, the refresh control circuit 7 causes the DRAM 3 to start the refresh operation (timing R12). . At this time, the state of the refresh state instruction circuit 6 is turned on,
If the state of the refresh state instruction circuit 6 is checked when starting the performance measurement process, the state is ON, so the performance measurement process is suppressed. Then, Tr of timing 2B
After 2 seconds, the refresh operation of the DRAM 3 ends (timing R22), and the DRAM 3 causes the refresh end signal 12
To the refresh state instruction circuit 6 via the refresh control circuit 7, and when the refresh state instruction circuit 6 receives the refresh end signal 12, the state is turned off.

【0032】抑止されていた性能測定処理は、リフレッ
シュ状態指示回路6がOFFになると性能測定処理を開
始し(タイミング2A)、T秒後のタイミング2Dで測
定を終了する。RFL命令の発行によるリフレッシュ開
始(タイミングR12)の際に、リフレッシュ制御回路
7は時間計測回路8にリセット信号14を送り、時間計
測回路8を初期値(0)にセットしカウントアップを行
なう。そして、カウント値がnになったらリフレッシュ
制御回路にリフレッシュ要求信号13を送出し、DRA
M3のリフレッシュを開始する。(タイミングR13)
性能測定個所の実行時間Tが(n−Tr)秒よりも短い
場合は、性能測定処理中にはリフレッシュ要求が発生し
ないので、性能測定箇所の実行時間(Tp)はT秒のま
まであり、正確な性能値を得ることができる。
The performance measurement processing that has been suppressed starts the performance measurement processing when the refresh state instruction circuit 6 is turned off (timing 2A), and ends the measurement at timing 2D after T seconds. At the start of refresh (timing R12) by issuing the RFL command, the refresh control circuit 7 sends a reset signal 14 to the time measuring circuit 8 to set the time measuring circuit 8 to an initial value (0) and count up. When the count value reaches n, the refresh request signal 13 is sent to the refresh control circuit,
Start refreshing M3. (Timing R13)
When the execution time T of the performance measurement point is shorter than (n-Tr) seconds, no refresh request is generated during the performance measurement process, so the execution time (Tp) of the performance measurement point remains T seconds. An accurate performance value can be obtained.

【0033】また、性能測定箇所の実行時間が(n−T
r)秒よりも大きい場合は、性能測定中にDRAM3の
リフレッシュ要求が発生するが、実行時間Tがリフレッ
シュ時間Trより相対的に大きいので、リフレッシュ時
間は全体の実行時間Tからしてみると誤差程度になり、
性能への影響はほとんどないに等しくなる。
Further, the execution time of the performance measurement point is (n-T
If it is larger than r) seconds, a refresh request for the DRAM 3 is generated during performance measurement, but since the execution time T is relatively longer than the refresh time Tr, the refresh time is an error when viewed from the overall execution time T. To the extent
The performance impact is negligible.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明の
強制リフレッシュ装置は、周期的に再書き込みを行なう
リフレッシュ手段を具備したメモリ装置において、リフ
レッシュ動作を指示するリフレッシュ命令に従って前記
リフレッシュ手段の動作周期を無視して強制的にリフレ
ッシュ動作を実行させ、前記リフレッシュ動作を実行し
ている間は前記リフレッシュ命令に後続する処理を停止
し、前記リフレッシュ動作が終了したとき前記リフレッ
シュ命令に後続する処理を継続させるようにしている。
したがって、任意のタイミングでリフレッシュ命令を発
行して性能測定を行なうことにより、常に正確な性能を
測定することができるという効果がある。すなわち、極
く短時間にかかわる性能測定では、リフレッシュ時間を
含まずにリフレッシュ周期の間に処理時間を計測するこ
とができる。
As described in detail above, the forced refresh device of the present invention is a memory device having a refresh means for periodically rewriting, and the refresh means of the refresh means is operated in accordance with a refresh command instructing a refresh operation. Ignoring the operation cycle, forcibly executing the refresh operation, stopping the processing following the refresh instruction while the refresh operation is being executed, and processing following the refresh instruction when the refresh operation is completed I am trying to continue.
Therefore, by issuing a refresh command at an arbitrary timing and measuring the performance, it is possible to always measure the accurate performance. That is, in the performance measurement involving a very short time, the processing time can be measured during the refresh cycle without including the refresh time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の一形態を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

【図2】本発明の動作の例を示すタイミングチャート。FIG. 2 is a timing chart showing an example of the operation of the present invention.

【図3】従来例の動作を示すタイミングチャート。FIG. 3 is a timing chart showing an operation of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 強制リフレッシュ部 2 主記憶部 3 DRAM 4 リフレッシュ命令 5 リクエスト変換回路 6 リフレッシュ状態指示回路 7 リフレッシュ制御回路 8 時間計測回路 11 強制リフレッシュ信号 12 リフレッシュ終了信号 1 forced refresh section 2 main memory section 3 DRAM 4 refresh command 5 request conversion circuit 6 refresh state instruction circuit 7 refresh control circuit 8 time measurement circuit 11 forced refresh signal 12 refresh end signal

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 周期的に再書き込みを行なうリフレッシ
ュ手段を具備したメモリ装置において、リフレッシュ動
作を指示するリフレッシュ命令を入力し前記リフレッシ
ュ手段を強制的に起動する強制リフレッシュ信号を送出
するリクエスト変換回路と、前記リクエスト変換回路に
指示されて前記メモリ装置のリフレッシュ状態を表示し
前記リフレッシュ手段からのリフレッシュ終了信号に従
って前記メモリ装置の非リフレッシュ状態を表示するリ
フレッシュ状態指示回路とを有することを特徴とする強
制リフレッシュ装置。
1. A request conversion circuit in a memory device comprising refresh means for periodically rewriting, for transmitting a forced refresh signal for inputting a refresh command instructing a refresh operation and forcibly starting the refresh means. And a refresh state instruction circuit for displaying a refresh state of the memory device instructed by the request conversion circuit and displaying a non-refresh state of the memory device according to a refresh end signal from the refresh means. Refresh device.
【請求項2】 周期的に再書き込みを行なうリフレッシ
ュ手段を具備したメモリ装置において、リフレッシュ動
作を指示するリフレッシュ命令に従って前記リフレッシ
ュ手段の動作周期を無視して強制的にリフレッシュ動作
を実行させ、前記リフレッシュ動作を実行している間は
前記リフレッシュ命令に後続する処理を停止し、前記リ
フレッシュ動作が終了したとき前記リフレッシュ命令に
後続する処理を継続させることを特徴とする強制リフレ
ッシュ装置。
2. A memory device comprising refresh means for periodically rewriting, ignoring an operation cycle of the refresh means in accordance with a refresh command for instructing a refresh operation, forcibly executing the refresh operation, and performing the refresh operation. A forced refresh apparatus, wherein the process following the refresh command is stopped while the operation is being executed, and the process following the refresh command is continued when the refresh operation is completed.
【請求項3】 周期的にリフレッシュを必要とするメモ
リと、外部からの信号によって起動し前記メモリをリフ
レッシュすると共にリフレッシュ終了時にはリフレッシ
ュ終了信号を送出するリフレッシュ制御回路と、前記メ
モリをリフレッシュする周期を計測し前記リフレッシュ
制御回路を起動させる時間計測回路と、リフレッシュ命
令に従って強制リフレッシュ信号を送出し前記リフレッ
シュ制御回路を非周期のタイミングで起動させるリクエ
スト変換回路と、前記強制リフレッシュ信号に従って前
記メモリのリフレッシュ状態を表示し前記リフレッシュ
終了信号に従って前記メモリの非リフレッシュ状態を表
示するリフレッシュ状態指示回路とを備えることを特徴
とする強制リフレッシュ装置。
3. A memory which needs to be refreshed periodically, a refresh control circuit which is activated by an external signal to refresh the memory and sends a refresh end signal at the end of refresh, and a cycle for refreshing the memory. A time measuring circuit for measuring and activating the refresh control circuit, a request conversion circuit for sending a forced refresh signal according to a refresh command and activating the refresh control circuit at non-periodic timing, and a refresh state of the memory according to the forced refresh signal And a refresh state instruction circuit for displaying the non-refresh state of the memory according to the refresh end signal.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2002047091A1 (en) * 2000-12-08 2004-04-08 富士通株式会社 Memory circuit test system, semiconductor device, and memory test method
JPWO2007007599A1 (en) * 2005-07-11 2009-01-29 パナソニック株式会社 Memory control device

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