JPH09218798A - Method for diagnosing intermittent fault and electronic device - Google Patents

Method for diagnosing intermittent fault and electronic device

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JPH09218798A
JPH09218798A JP8022908A JP2290896A JPH09218798A JP H09218798 A JPH09218798 A JP H09218798A JP 8022908 A JP8022908 A JP 8022908A JP 2290896 A JP2290896 A JP 2290896A JP H09218798 A JPH09218798 A JP H09218798A
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JP
Japan
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range
failure
diagnosis
diagnostic
execution
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JP8022908A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroyoshi Yamane
浩善 山根
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily detect an intermittent fault and to specify a fault cause by designating the diagnosing range and the execution times of a diagnosis program so as to execute diagnosing when a fault occurs in an electronic device. SOLUTION: The starting and calling of a truck, the monitoring of disconnection and the transmission-reception of a dialling numeral, etc., in a D70-type automatic exchange are executed. In this case, truck line signal processing processors 100A and 100B have the same configuration and are constituted of a central controller 111, a bus coupler 112, a bus intersecting circuit 113, an emergency control circuit 114, a main storage device 115 and a call path system (SP system) driving part 116. Then, a range to be suspected in a diagnosis object device is estimated from fault conditions, the range of the diagnosis program to be executed is set by the estimated range to be suspected, the execution times of the diagnosis program in the set range is set, the diagnosis program is executed by the set range and times and the execution result of the diagnosis program is outputted in a prescribed data form.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子装置の間欠障
害の診断方法に関する。近年のプロセッサ技術の進展に
より情報処理装置、通信装置(以下情報処理装置、通信
装置を電子装置と総称する)はマイクロプロセッサを搭
載し、ソフトウェアで制御を行なう領域が増大してい
る。かかるソフトウェア制御は各種装置の制御をソフト
ウェアで行なうのみではなく、障害が発生した場合の診
断も、ソフトウェアの1つである診断プログラムを走行
させることにより行なっている。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of diagnosing an intermittent failure of an electronic device. 2. Description of the Related Art With the recent progress of processor technology, an information processing device and a communication device (hereinafter, the information processing device and the communication device are collectively referred to as an electronic device) are equipped with a microprocessor, and the area for controlling by software is increasing. Such software control not only controls various devices by software, but also diagnoses when a failure occurs by running a diagnostic program, which is one of the software.

【0002】ところが、電子装置の障害は、環境条件や
使用条件により間欠的に発生するものもあり、かかる間
欠障害については、1回の診断プログラムの実行のみで
は障害検出、障害箇所の特定ができない場合がある。そ
こで、間欠障害を確実に検出し、障害箇所を特定するこ
とのできる間欠障害の診断方法が要求されている。
However, some electronic device failures occur intermittently depending on environmental conditions and usage conditions. With respect to such intermittent failures, failure detection and failure location identification are not possible by executing the diagnostic program only once. There are cases. Therefore, there is a demand for an intermittent failure diagnostic method that can reliably detect an intermittent failure and identify the location of the failure.

【0003】[0003]

【従来の技術】図10は二重化構成の電子交換機を説明
する図示し、10は0系システムの電子交換機、11は
1系システムの電子交換機を示し、中央制御装置10
0、101、主記憶装置200、201、および、スイ
ッチ部300、301から構成されており、それぞれが
交絡接続されている。
2. Description of the Related Art FIG. 10 is a diagram for explaining an electronic exchange having a duplex configuration, 10 is an electronic exchange of a 0-system, 11 is an electronic exchange of a 1-system, and a central control unit 10 is shown.
0, 101, main storage devices 200, 201, and switch units 300, 301, which are interlaced and connected.

【0004】また、主記憶装置200、201の中に
は、交換接続処理を制御する交換処理プログラム200
A、201A、局データ、200B、201B、およ
び、障害が発生した場合に診断を行なうための診断プロ
グラム210、211が格納されている。
Further, in the main storage devices 200 and 201, the exchange processing program 200 for controlling the exchange connection processing is provided.
It stores A, 201A, station data, 200B, 201B, and diagnostic programs 210, 211 for making a diagnosis when a failure occurs.

【0005】かかる構成において、例えば、0系システ
ム(以下0系システムを0系、1系システムを1系と称
する)を現用系として運用中に、0系の主記憶装置20
0に障害が発生した場合、主記憶装置200を主記憶装
置201に切り替えて運用を継続する。
In such a configuration, for example, while the 0 system (hereinafter, the 0 system is referred to as the 0 system and the 1 system is referred to as the 1 system) is operated as the active system, the 0 system main storage device 20 is used.
When a failure occurs in 0, the main storage device 200 is switched to the main storage device 201 and the operation is continued.

【0006】そして、障害となった主記憶装置200を
予備系として切り離した後、主記憶装置201の診断プ
ログラム211を走行させることにより障害を検出し、
障害箇所を特定する。
Then, after the faulty main memory device 200 is separated as a standby system, the fault is detected by running the diagnostic program 211 of the main memory device 201,
Identify the point of failure.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】図10の診断プログラ
ム210、211は電子交換機10、11の各種機能を
試験するためのプログラムが記述されたものであり、1
つの機能に対して1回の機能確認を実行する構成となっ
ている。
The diagnostic programs 210 and 211 shown in FIG. 10 describe programs for testing various functions of the electronic exchanges 10 and 11.
The function check is performed once for each function.

【0008】したがって、発生した障害が間欠障害の場
合は、診断プログラムの1回の走行では障害を検出する
ことができず、診断プログラムを複数回走行ないとその
障害を検出できない場合がある。
Therefore, when the generated fault is an intermittent fault, the fault cannot be detected by running the diagnostic program once, and the fault may not be detected unless the diagnostic program is run a plurality of times.

【0009】また、このようにして複数回の診断プログ
ラム210、211の実行により障害を検出し、障害箇
所を特定し、被疑プリント板パッケージを交換しても、
交換後何回診断プログラムを走行させて確認すれば良い
かが判断できない。このような場合には、被疑プリント
板パッケージを交換して、その装置を現用系に組み込
み、実際に運用して様子をみることとしている場合が多
いが、再度システム障害を惹き起こす可能性も大であ
る。
Further, even if the fault is detected by executing the diagnostic programs 210 and 211 a plurality of times in this way, the fault location is specified, and the suspected printed board package is replaced,
I cannot determine how many times the diagnostic program should be run and checked after replacement. In such a case, it is often the case that the suspected printed circuit board package is replaced, the device is installed in the active system, and it is actually operated to see the situation, but there is a high possibility of causing a system failure again. Is.

【0010】また、被疑プリント板パッケージを特定で
きない場合には、被疑装置の全てのプリント板パッケー
ジを交換することになるが、このような場合に備えて、
保守用に大量の予備のプリント板パッケージを準備して
おくことが必要になる。
If the suspected printed circuit board package cannot be identified, all the printed circuit board packages of the suspected device will be replaced. In preparation for such a case,
It is necessary to prepare a large number of spare printed circuit board packages for maintenance.

【0011】本発明は、電子装置に障害が発生したと
き、診断プログラムの診断範囲、および、実行回数を指
定して実行させることにより、間欠障害を確実に検出で
きる間欠障害の診断方法を実現しようとする。
The present invention intends to realize an intermittent failure diagnosing method capable of surely detecting an intermittent failure by designating and executing a diagnostic range of a diagnostic program and the number of executions when a failure occurs in an electronic device. And

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】 図1は本発明の原理を説明する図である。図は電子
装置において、障害が発生した場合の診断フローチャー
トを示す。
FIG. 1 is a diagram for explaining the principle of the present invention. The figure shows a diagnosis flowchart when a failure occurs in the electronic device.

【0013】STEP1では、障害状況より診断対象装
置の被疑範囲を推定し、STEP2は、推定した被疑範
囲より実行する診断プログラムの範囲を設定し、STE
P3は、設定した範囲の診断プログラムの実行回数を設
定し、STEP4は、設定した範囲、および、回数で診
断プログラムを実行させ、STEP5は、診断プログラ
ムの実行結果を所定のデータ形式により出力する。
In STEP 1, the suspicious range of the device to be diagnosed is estimated from the fault condition, and in STEP 2, the range of the diagnostic program to be executed is set from the estimated suspicious range, and STE is set.
P3 sets the number of times the diagnostic program is executed within the set range, STEP 4 executes the diagnostic program within the set range and number of times, and STEP 5 outputs the execution result of the diagnostic program in a predetermined data format.

【0014】かかる診断方法により、診断を行なう範囲
を絞りこみ、その範囲を繰り返し実行することにより、
短時間で容易に間欠障害を検出することが可能となる。
したがって、従来例で必要であった、被疑パッケージを
現用系に組み込み運用を行なう必要が無くなる。(請求
項1) 障害発生状況を走行回数対応に主記憶装置に蓄積し
ておき、診断結果を出力するとき、所定の走行回数毎、
例えば、50回ごとの障害発生頻度に編集して出力す
る。かかる出力データにより、障害の発生傾向の分析が
可能となり、障害が収束するまで、必要とする走行回数
を容易に推定できる。(請求項2) また、本発明では電子装置に、推定した被疑範囲よ
り実行する診断プログラムの範囲を設定する診断範囲設
定部と、設定した範囲の診断プログラムの走行回数を設
定する走行回数設定部と、設定した範囲、および、回数
で診断プログラムを走行させた回数をカウントし、実行
回数設定部に設定した実行回数と比較し、一致した場
合、診断プログラムの実行を停止させる実行回数制御部
と、診断プログラムの実行により発生した障害情報を蓄
積する障害情報蓄積部と、障害情報蓄積部に蓄積した障
害情報を編集して出力する編集処理部を設けることによ
り、間欠障害を容易に検出することができる電子装置を
実現できる。(請求項3)
According to such a diagnosis method, the range to be diagnosed is narrowed down, and the range is repeatedly executed.
It becomes possible to easily detect the intermittent failure in a short time.
Therefore, it is not necessary to incorporate the suspected package into the active system, which is required in the conventional example. (Claim 1) When the failure occurrence status is stored in the main storage device in correspondence with the number of times of travel and the diagnosis result is output, every predetermined number of times of travel,
For example, it is edited and output to the frequency of failure occurrence every 50 times. With such output data, the tendency of occurrence of a failure can be analyzed, and the required number of times of travel can be easily estimated until the failure is resolved. (Claim 2) In the present invention, a diagnostic range setting unit that sets a range of the diagnostic program to be executed from the estimated suspicious range and a running number setting unit that sets the number of times of running the diagnostic program in the set range in the electronic device. And the number of times the diagnostic program has been run within the set range and number of times, and compares it with the number of times of execution set in the number of times of execution setting section. Detecting intermittent failures easily by providing a failure information storage section that stores failure information generated by execution of diagnostic programs and an edit processing section that edits and outputs failure information stored in the failure information storage section. It is possible to realize an electronic device capable of (Claim 3)

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】図2は本発明の実施の形態を説明
する図を示す。図はD70形自動交換機のトランクの起
呼、切断の監視、ダイヤル数字の送受信等を行なう中継
線信号処理プロセッサ100A、100Bを示す。中継
線信号処理プロセッサ100A、100Bは同じ構成を
とっており、中央制御装置111、バスカプラ112、
バス交差回路113、緊急制御回路114、主記憶装置
115、通話路系(図中SP系と示す)駆動部116か
ら構成される。さらに主記憶装置115は診断プログラ
ムTP、交換処理プログラム(図示省略)等が格納され
る主記憶部115A、主記憶装置(図中主記憶と示す)
制御部115B、主記憶装置交絡部115Cから構成さ
れている。図に示すように0系と1系は、バス交差回路
113、緊急制御回路114、および、主記憶装置交絡
部115Cにより交絡接続されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 2 shows a diagram for explaining an embodiment of the present invention. The figure shows trunk line signal processors 100A and 100B which perform call origination, disconnection monitoring, transmission / reception of dialed digits, etc. of the trunk of the D70 type automatic exchange. The trunk line signal processors 100A and 100B have the same configuration and include a central control unit 111, a bus coupler 112,
It is composed of a bus crossing circuit 113, an emergency control circuit 114, a main memory 115, and a communication path system (indicated as SP system in the figure) drive section 116. Further, the main storage device 115 has a main storage unit 115A in which a diagnostic program TP, an exchange processing program (not shown), etc. are stored, and a main storage device (shown as main storage in the drawing).
The control unit 115B and the main storage device confounding unit 115C are included. As shown in the figure, the 0-system and the 1-system are entangled and connected by a bus crossing circuit 113, an emergency control circuit 114, and a main storage device entanglement unit 115C.

【0016】また、主記憶部115A内のTPは、障害
が発生した場合、障害診断を行なうための診断プログラ
ムである。図3は本発明の障害診断フローチャートを示
す。
The TP in the main storage unit 115A is a diagnostic program for diagnosing a fault when a fault occurs. FIG. 3 shows a fault diagnosis flowchart of the present invention.

【0017】図は図2で説明した中継線信号処理プロセ
ッサ100A、100Bで障害が発生した場合の、障害
診断の例である。以下フローチャートのステップ(以下
Sと略称する)にしたがって、その動作を説明する。
The figure is an example of fault diagnosis when a fault occurs in the trunk line signal processors 100A and 100B described in FIG. The operation will be described below in accordance with the steps of the flowchart (hereinafter abbreviated as S).

【0018】S1;0系の中継線信号処理プロセッサ
(図中TSP00と示す)100Aの主記憶装置115
に障害が発生したものとする。 S2;障害が発生した0系の中継線信号処理プロセッサ
100AをOUS (Out Of Service) 状態に設定する。
S1; 0 system trunk line signal processor (shown as TSP00 in the figure) 100A main memory unit 115
It is assumed that there is a failure. S2: The 0-system trunk line signal processor 100A in which the failure has occurred is set to the OUS (Out Of Service) state.

【0019】S3;診断プログラムTPを実行すること
により0系の中継線信号処理プロセッサ100Aの診断
を行なう。 S4;診断結果がNG (No Good)か否かを判定する。
S3: The diagnosis program TP is executed to diagnose the 0-system trunk line signal processor 100A. S4: It is determined whether the diagnosis result is NG (No Good).

【0020】S5;診断結果がNGでない場合、すなわ
ち、障害が検出されなかった場合は間歇障害と判定し、
本発明の間欠障害の診断処理を実行する。 S6;間欠障害の診断処理がNGか否かを判定する。
S5: If the diagnosis result is not NG, that is, if no failure is detected, it is judged as an intermittent failure,
The intermittent failure diagnosis processing of the present invention is executed. S6: It is determined whether the diagnostic process for the intermittent failure is NG.

【0021】S7;間欠障害の診断処理がNGでない場
合は、間歇障害も発生していないものと判定して中継線
信号処理プロセッサ100Aを現用系に復帰させる。 S8;S4で診断結果がNGの場合は固定障害として障
害プリント板パッケージを検出でき、S6で診断結果が
NGの場合は間欠障害として障害プリント板パッケージ
を検出できたので、障害となったプリント板パッケージ
を交換し、再度、S3に戻り、障害の診断を実行し、さ
らに、間欠障害の診断を実行により、複数回の診断プロ
グラムが実行され、障害が回復したことを確認する。
S7: If the intermittent failure diagnosis process is not NG, it is determined that no intermittent failure has occurred, and the trunk line signal processor 100A is returned to the active system. S8; If the diagnostic result is NG in S4, the faulty printed circuit board package can be detected as a fixed fault, and if the diagnostic result is NG in S6, the faulty printed circuit board package can be detected as an intermittent fault. The package is replaced, the process returns to S3 again, the failure diagnosis is executed, and further, the intermittent failure diagnosis is executed, whereby the diagnosis program is executed a plurality of times to confirm that the failure is recovered.

【0022】図4、5は本発明の間欠障害診断のフロー
チャート(1)、(2)を示す。間欠障害の診断は診断
プログラムの1つの項目のみを繰り返し診断する場合
と、診断プログラムの範囲を指定して繰り返し診断する
場合とがある。これらの診断項目の指定は図示省略の保
守コンソール等から行なう。
4 and 5 show flowcharts (1) and (2) of the intermittent failure diagnosis of the present invention. Diagnosis of an intermittent failure may be performed by repeatedly diagnosing only one item of the diagnostic program or by repeatedly designating a range of the diagnostic program. Designation of these diagnostic items is performed from a maintenance console (not shown).

【0023】S11;保守コンソールから入力されたコ
マンド(コマンドの内容は図7で説明する)の解析を行
なう。 S12;間欠障害の診断が否かを判定する。
S11: The command input from the maintenance console (the content of the command is described in FIG. 7) is analyzed. S12: It is determined whether the intermittent failure is diagnosed.

【0024】S13;間欠障害の診断の場合、さらに個
別項目の診断が否かを判定する。 S14;個別項目の診断の場合、指定の診断項目を実行
するための、バス設定等の診断前処理を実行する。
S13: In the case of the diagnosis of the intermittent failure, it is further determined whether or not the diagnosis of the individual item is made. S14: In the case of diagnosis of individual items, pre-diagnosis processing such as bus setting for executing specified diagnosis items is executed.

【0025】S15;診断項目で指定されるテストデー
タを設定する。 S16;テストを実行する。 S17;指定回数のテストが終了したか否かを判定し、
指定回数に達していない場合は、S15に戻り、テスト
を継続する。
S15: The test data designated by the diagnostic item is set. S16: The test is executed. S17: It is determined whether or not the test for the specified number of times has been completed,
If the specified number of times has not been reached, the process returns to S15 and the test is continued.

【0026】S18;S17で指定回数のテストが終了
した場合は、テストのために設定したバスを元の状態に
戻す等の診断後処理を実行する。 S19;指定の出力データ形式により出力メッセージを
編集する。
S18: When the designated number of tests are completed in S17, post-diagnosis processing such as returning the bus set for the test to the original state is executed. S19: Edit the output message in the designated output data format.

【0027】S19′;編集したメッセージを出力す
る。 S21;複数項目の診断の場合、指定の複数の診断項目
を実行するための、バス設定等の診断前処理を実行す
る。
S19 ': The edited message is output. S21: In the case of diagnosis of a plurality of items, pre-diagnosis processing such as bus setting for executing a plurality of designated diagnosis items is executed.

【0028】S22;診断項目1で指定されるテストデ
ータ1を設定する。 S23;テスト1を実行する。 以下、同様にして指定された範囲の診断項目2〜に対応
するテストデータ2〜を設定しテスト2〜を実行する。
S22: The test data 1 designated by the diagnostic item 1 is set. S23: Test 1 is executed. Hereinafter, similarly, the test data 2 corresponding to the diagnostic items 2 within the designated range are set and the tests 2 are executed.

【0029】S24;診断項目Nで指定されるテストデ
ータNを設定する。 S25;テストNを実行する。 S26;指定回数のテストが終了したか否かを判定し、
指定回数に達していない場合は、S22に戻り、テスト
を継続する。
S24: The test data N designated by the diagnostic item N is set. S25: The test N is executed. S26: It is determined whether or not the test for the specified number of times has been completed,
If the specified number of times has not been reached, the process returns to S22 and the test is continued.

【0030】S27;S26で指定回数のテストが終了
した場合は、テストのために設定したバスを元の状態に
戻す等の診断後処理を実行する。 S28;指定の出力データ形式により出力メッセージを
編集する。
S27: When the designated number of tests are completed in S26, post-diagnosis processing such as returning the bus set for the test to the original state is executed. S28: Edit the output message according to the specified output data format.

【0031】S29;編集したメッセージを出力する。 S31;S12で間欠障害の診断でない場合は通常の診
断を実行する。 図6は本発明の主記憶装置診断プログラムの診断範囲指
定の例を示す。
S29: The edited message is output. S31: If the intermittent failure is not diagnosed in S12, a normal diagnosis is executed. FIG. 6 shows an example of the diagnosis range designation of the main storage device diagnosis program of the present invention.

【0032】図は、主記憶装置の診断プログラムを示
し、テスト番号00000〜テスト番号FFFFFから
構成されており、それぞれのテスト内容は、主記憶装置
の00000番地リードからFFFFF番地リードであ
る。
The figure shows a diagnostic program for the main memory, which is composed of test numbers 00000 to FFFFF, and the contents of each test are from 00000 address read to FFFFF address read of the main memory.

【0033】また、それぞれの確認項目としては主記憶
装置の00000番地リード〜FFFFF番地からリー
ドしたデータが、00000000〜000FFFFF
であることを確認して主記憶装置の各アドレスが記憶内
容が正常であるか否かをチェックする。
The data read from addresses 00000 to FFFFF in the main memory is 00000000 to 000FFFFF as the respective confirmation items.
Then, it is checked whether the storage contents of each address of the main storage device are normal.

【0034】従来は、主記憶装置の診断を行なう場合に
は、テスト番号00000〜テスト番号FFFFFから
構成されている診断プログラムを最初から最後まで通し
て実行している。したがって、間欠障害を検出するため
に、このような診断を繰り返し実行することは、長い時
間がかかり、実行することが不可能である。
Conventionally, when diagnosing a main storage device, a diagnostic program composed of test numbers 00000 to FFFFF is executed from the beginning to the end. Therefore, repeatedly performing such diagnostics to detect intermittent failures is time consuming and impossible to perform.

【0035】ところが、障害発生状況から主記憶装置の
障害であっても、その障害範囲があるアドレスの範囲に
あることが推定できる場合が多い。このような場合に
は、テスト番号あるいはテスト番号の範囲を指定して、
且つ、診断プログラムの実行回数を指定することによ
り、繰り返し診断を短時間が実行することが可能とな
り、間歇障害の検出が容易となる。
However, in many cases, it can be estimated from the failure occurrence state that the failure range of the main storage device is within the address range. In such a case, specify the test number or range of test numbers,
In addition, by designating the number of times the diagnostic program is executed, repeated diagnosis can be executed in a short time, making it easier to detect intermittent failures.

【0036】図中のはテスト番号10035の単独項
目のテストを指定した例であり、はテスト番号100
35からテスト番号10535を範囲指定した例であ
る。図6においては、主記憶装置の診断を行なう例で説
明したが、本発明の対象は、主記憶装置に限定されるも
のではなく、電子装置を構成するすべての装置の診断に
適用することが可能である。
In the figure, is an example in which the test of the single item of the test number 10035 is designated, and is the test number 100.
In this example, the range from 35 to the test number 10535 is designated. In FIG. 6, the example of diagnosing the main storage device has been described, but the object of the present invention is not limited to the main storage device, and may be applied to the diagnosis of all devices constituting an electronic device. It is possible.

【0037】図7は本発明の診断コマンドの例を示す。
診断コマンドの中にパラメータとして、診断対象装置、
診断フェーズ番号、診断範囲の指定、出力フォーマッ
ト、診断回数を設定することができる。
FIG. 7 shows an example of the diagnostic command of the present invention.
As a parameter in the diagnostic command, the diagnosis target device,
It is possible to set the diagnostic phase number, the diagnostic range, the output format, and the diagnostic count.

【0038】図は中継線信号処理プロセッサ100Aを
診断対象として、診断フェーズ番号5、テスト項目とし
てテスト番号10035〜テスト番号10535を30
0回実行し、その結果を障害発生頻度で指定した例であ
る。
In the figure, the trunk line signal processor 100A is used as a diagnosis target, and the diagnosis phase number is 5, and the test items are test number 10035 to test number 10535.
In this example, the operation is executed 0 times and the result is designated by the failure occurrence frequency.

【0039】図8は本発明の診断結果の出力フォーマッ
トの例を示す。(A)はデータの出力モードとしてNG
データを指定したものであり、300回の診断を行な
い、3回のNGが発生し、その内容はテスト番号100
35でNGが発生し、発生したビットが最下位のビット
であることを示す。
FIG. 8 shows an example of the output format of the diagnosis result of the present invention. (A) is NG as a data output mode
The data is specified, the diagnosis is performed 300 times, the NG occurs 3 times, and the content is the test number 100.
NG is generated at 35, and the generated bit is the least significant bit.

【0040】(B)はデータの出力モードとしてNGの
発生頻度を指定したものであり、150回の診断を行な
い、テスト番号10035で51回のNGが発生し、テ
スト番号10249で103回のNGが発生した例を示
す。
(B) designates the frequency of NG occurrences as the data output mode. Diagnosis is performed 150 times, 51 NGs occur in test number 10035, and 103 NGs occur in test number 10249. The following is an example of occurrence of.

【0041】(C)はデータの出力モードとしてNGの
発生傾向を指定したものであり、50回の診断を行な
い、診断回数を10ごとに区切り、その中で発生した障
害頻度を出力したものである。このような障害発生傾向
を出力させることにより、障害発生にある傾向がある場
合、障害発生が収束するまでに必要な実行回数を容易に
推定することが可能となる。
(C) designates the tendency of NG occurrence as a data output mode. Diagnosis is performed 50 times, the number of diagnoses is divided into 10, and the failure frequency occurring therein is output. is there. By outputting such a failure occurrence tendency, when there is a tendency for a failure occurrence, it becomes possible to easily estimate the number of execution times required until the failure occurrence converges.

【0042】図9は本発明の電子交換機における実施の
形態を説明する図である。電子交換機10Aは中央制御
装置100、主記憶装置200、スイッチ部300から
構成されており、主記憶装置200の中には交換処理を
制御する交換処理プログラム(図中交換プログラムと示
す)200A、収容する端末の番号、収容位置等を定義
する局データ200B、障害が発生したとき診断を行な
うための診断プログラム210、および、診断を実行し
たときの障害発生情報を蓄積する障害情報蓄積部220
を備えており、中央制御装置100には、診断プログラ
ム210の診断範囲を設定する診断範囲設定部110
と、指定された範囲の診断プログラム210の実行回数
を設定する実行回数設定部120と、診断プログラムを
実行した回数を計数し実行回数設定部120に設定した
実行回数と比較し、指定の回数になったとき診断を停止
させる実行回数制御部130と、診断結果を保守コンソ
ール20に出力するとき、障害情報蓄積部220に蓄積
した障害情報を指定のデータ形式に編集する編集処理部
140を備えている。
FIG. 9 is a diagram for explaining an embodiment of the electronic exchange of the present invention. The electronic exchange 10A is composed of a central control unit 100, a main storage unit 200, and a switch unit 300. Inside the main storage unit 200, an exchange processing program (shown as an exchange program in the figure) 200A for controlling the exchange processing Station data 200B defining the number of the terminal to be operated, the accommodation position, etc., a diagnostic program 210 for diagnosing when a failure occurs, and a failure information storage unit 220 for storing failure occurrence information when the diagnosis is executed.
The central control unit 100 includes a diagnostic range setting unit 110 that sets a diagnostic range of the diagnostic program 210.
And an execution count setting unit 120 that sets the execution count of the diagnostic program 210 in the specified range, and the number of times the diagnostic program has been executed is counted and compared with the execution count set in the execution count setting unit 120 to obtain the specified count. And an edit processing unit 140 for editing the failure information stored in the failure information storage unit 220 into a specified data format when outputting the diagnosis result to the maintenance console 20. There is.

【0043】かかる構成により、障害が発生したとき、
診断プログラム210の診断範囲、実行回数を指定して
診断を行なうことにより容易に間欠障害を検出できる電
子交換機を実現できる。
With this configuration, when a failure occurs,
An electronic exchange capable of easily detecting an intermittent failure can be realized by performing a diagnosis by designating the diagnosis range and the number of executions of the diagnosis program 210.

【0044】図9においては、電子交換機10Aの例で
説明したが、電子交換機に限定されるものではなく、診
断プログラムを内蔵している電子装置にはすべて適用す
ることが可能である。
In FIG. 9, the example of the electronic exchange 10A has been described, but the present invention is not limited to the electronic exchange, and it can be applied to all electronic devices having a diagnostic program.

【0045】[0045]

【発明の効果】本発明によれば、電子装置において障害
が発生したとき、診断プログラムの診断範囲と実行回数
を指定して診断を行なうことにより、容易に間欠障害を
検出し、障害原因を特定することができる。
According to the present invention, when a failure occurs in an electronic device, an intermittent failure can be easily detected and a cause of failure can be identified by designating a diagnosis range and a number of times of execution of a diagnostic program. can do.

【0046】また、繰り返し診断を行なった場合、出力
形式を指定して障害情報を出力することにより、障害発
生状況の把握が容易となり効率的に障害対策をとること
が可能となる。
Further, when the repeated diagnosis is performed, by specifying the output format and outputting the failure information, it is possible to easily grasp the failure occurrence status and efficiently take the failure countermeasure.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の原理を説明する図FIG. 1 illustrates the principle of the present invention.

【図2】 本発明の実施の形態を説明する図FIG. 2 illustrates an embodiment of the present invention.

【図3】 本発明の障害診断フローチャートFIG. 3 is a fault diagnosis flowchart of the present invention.

【図4】 本発明の間欠障害診断のフローチャート
(1)
FIG. 4 is a flowchart (1) of the intermittent failure diagnosis of the present invention.

【図5】 本発明の間欠障害診断のフローチャート
(2)
FIG. 5 is a flowchart (2) of the intermittent failure diagnosis of the present invention.

【図6】 本発明の主記憶装置診断プログラムの診断範
囲指定の例
FIG. 6 is an example of specifying a diagnosis range of a main storage device diagnosis program of the present invention.

【図7】 本発明の診断コマンドの例FIG. 7: Example of diagnostic command of the present invention

【図8】 本発明の診断結果の出力フォーマットの例FIG. 8 is an example of an output format of diagnostic results of the present invention.

【図9】 本発明の電子交換機における実施の形態を説
明する図
FIG. 9 is a diagram illustrating an embodiment of an electronic exchange according to the present invention.

【図10】 二重化構成の電子交換機を説明する図FIG. 10 is a diagram illustrating an electronic exchange having a duplex configuration.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、11、10A 電子交換機 20 保守コンソール 100、101 中央制御装置 100A、100B 中継線信号処理プロセッサ 110 診断範囲設定部 111 中央制御装置 112 バスカプラ 113 バス交差装置 114 緊急制御回路 115、200、201 主記憶装置 115A 主記憶部 115B 主記憶装置制御部 115C 主記憶装置交絡部 116 SP系駆動部 120 実行回数設定部 130 実行回数制御部 140 編集処理部 200A、201A 交換処理プログラム 200B、201B 局データ 210、211、TP 診断プログラム 220 障害情報蓄積部 300、301 スイッチ部 10, 11, 10A Electronic exchange 20 Maintenance console 100, 101 Central control unit 100A, 100B Trunk line signal processor 110 Diagnostic range setting unit 111 Central control unit 112 Bus coupler 113 Bus crossing device 114 Emergency control circuit 115, 200, 201 Main memory Device 115A Main storage unit 115B Main storage device control unit 115C Main storage device confounding unit 116 SP system drive unit 120 Execution count setting unit 130 Execution count control unit 140 Editing processing unit 200A, 201A Exchange processing program 200B, 201B Station data 210, 211 , TP diagnostic program 220 Fault information storage unit 300, 301 Switch unit

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子装置の間欠障害の診断方法におい
て、 障害状況より診断対象装置の被疑範囲を推定し(STE
P1)、 推定した被疑範囲より診断を実行する診断プログラムの
範囲を設定し(STEP2)、 設定した範囲の診断プログラムの実行回数を設定し(S
TEP3)、 設定した範囲、および、回数で診断プログラムを実行さ
せ(STEP4)、 診断プログラムによる実行結果を所定のデータ形式によ
り出力する(STEP5)ことを特徴とする間欠障害の
診断方法。
1. A method of diagnosing an intermittent failure of an electronic device, wherein a suspected range of a device to be diagnosed is estimated from a failure condition (STE).
P1), the range of the diagnostic program that executes the diagnosis is set from the estimated suspected range (STEP2), and the number of times the diagnostic program is executed within the set range is set (S1).
TEP3), the diagnostic method of the intermittent failure characterized by running a diagnostic program in the set range and the number of times (STEP4), and outputting the execution result by the diagnostic program in a predetermined data format (STEP5).
【請求項2】 前項記載の間欠障害の診断方法におい
て、 障害発生頻度を走行回数対応に出力することを特徴とす
る請求項1記載の間欠障害の診断方法。
2. The intermittent failure diagnosis method according to claim 1, wherein the failure occurrence frequency is output in correspondence with the number of running times.
【請求項3】 自己診断機能を備える電子装置におい
て、 推定した被疑範囲より走行させる診断プログラムの範囲
を設定する診断範囲設定部と、 設定した範囲の診断プログラムの実行回数を設定する実
行回数設定部と、 設定した範囲、および、回数で診断プログラムを実行し
た回数をカウントし、前記実行回数設定部に設定した実
行回数と比較し、一致した場合、診断プログラムの実行
を停止させる実行回数制御部と、 診断プログラムの実行により発生した障害情報を蓄積す
る障害情報蓄積部と、 前記障害情報蓄積部に蓄積した障害情報を編集して出力
する編集処理部を備えたことを特徴とする電子装置。
3. An electronic device having a self-diagnosis function, a diagnostic range setting section for setting a range of a diagnostic program to be run from an estimated suspicious range, and an execution count setting section for setting the number of times of execution of the diagnostic program in the set range. And the number of times the diagnostic program has been executed within the set range and number of times, and compares the number of times of execution with the number of times of execution set in the number of times of execution setting section. An electronic device comprising: a failure information storage unit that stores failure information generated by execution of a diagnostic program; and an edit processing unit that edits and outputs the failure information stored in the failure information storage unit.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013037631A (en) * 2011-08-10 2013-02-21 Nec Computertechno Ltd Diagnosis device, diagnosis method and diagnostic program diagnosis method
CN110501152A (en) * 2019-08-27 2019-11-26 中国航空综合技术研究所 A kind of test method and test fixture of the reproduction of connecting-type construction package intermittent defect

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