JPH09212541A - Timing verifying device - Google Patents

Timing verifying device

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JPH09212541A
JPH09212541A JP8019720A JP1972096A JPH09212541A JP H09212541 A JPH09212541 A JP H09212541A JP 8019720 A JP8019720 A JP 8019720A JP 1972096 A JP1972096 A JP 1972096A JP H09212541 A JPH09212541 A JP H09212541A
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clocks
timing verification
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Hiroyuki Takeno
弘幸 嶽ノ
Noriko Ikeda
則子 池田
Teru Yoshida
輝 吉田
Yumi Omote
由美 表
Takamitsu Fujiwara
隆充 藤原
Hiroyuki Hamano
博之 浜野
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To execute the timing verification of the circuit to which plural clocks in the relation of non-frequency-multiplication are inputted. SOLUTION: A minimum rising edge section calculation part 5 calculates a time section where the times of changing the clocks mutually in the relation of non-frequency-multiplication from one level to the other level are the closest within the range of being unmatched with each other as a minimum zone 6. A static timing verification part 8 executes the verification of timing between a clock inputted to a data receiving side element and a data signal by supposing that the changing times of a pair of clocks in the relation of non-frequency- multiplication which are respectively inputted to a data transferring side element and the data receiving side element are in the relation of the minimum section. Namely, the timing verification of the circuit to which a clock in the relation of non-frequency-multiplication is executed without improving the high speed operation of static timing.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、タイミング検証
装置に関し、特に、互いに倍周の関係にない複数のクロ
ックが入力される対象回路のタイミング検証を可能にす
るための改良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a timing verification device, and more particularly, to an improvement for enabling timing verification of a target circuit to which a plurality of clocks that are not in a frequency-doubled relationship are input.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、LSI(大規模集積回路)に代表
される大規模回路のタイミング検証を行うための有力な
方法として、静的タイミング検証方法が知られている。
静的タイミング検証方法は、同期回路を対象としたパス
解析手法による検証方法であり、検証用パターンを用い
ることなしに、網羅的かつ高速に処理できるという利点
を有している。
2. Description of the Related Art Conventionally, a static timing verification method has been known as an effective method for verifying the timing of a large scale circuit represented by an LSI (Large Scale Integrated Circuit).
The static timing verification method is a verification method using a path analysis method for a synchronous circuit, and has an advantage that it can be comprehensively processed at high speed without using a verification pattern.

【0003】図25は、静的タイミング検証を行う従来
のタイミング検証装置を示すブロック図である。この従
来装置150には、もっとも主要な装置部として静的タ
イミング検証部120が備わっている。そして、静的タ
イミング検証部120には、対象回路すなわちタイミン
グ検証の対象とされる回路の構成に関する情報である回
路接続情報7、および、対象回路に入力される外部入力
データのタイミングを記述したデータ入力タイミング情
報9が入力される。また、バックアノテーション検証を
行う場合、配線容量および配線抵抗に関する情報を有し
た配線遅延情報23が入力される。
FIG. 25 is a block diagram showing a conventional timing verification device for performing static timing verification. The conventional device 150 is provided with a static timing verification unit 120 as the most main device unit. Then, the static timing verification unit 120 stores data describing the circuit connection information 7, which is information regarding the configuration of the target circuit, that is, the circuit that is the target of the timing verification, and the timing of external input data input to the target circuit. Input timing information 9 is input. Further, when the back annotation verification is performed, the wiring delay information 23 having the information about the wiring capacitance and the wiring resistance is input.

【0004】さらに、静的タイミング検証部120は複
数のクロックで動作する対象回路の検証が可能なように
構成されている。検証回路に入力される全てのクロック
のタイミングに関する情報、すなわちクロック情報12
1が準備される。そして、静的タイミング検証部120
にて、検証動作の進行にともなって、クロック情報12
1の中から、必要なクロック情報が適宜使用される。
Further, the static timing verification section 120 is constructed so as to be able to verify a target circuit operating with a plurality of clocks. Information regarding the timing of all clocks input to the verification circuit, that is, clock information 12
1 is prepared. Then, the static timing verification unit 120
Then, as the verification operation progresses, the clock information 12
Necessary clock information out of 1 is used appropriately.

【0005】静的タイミング検証部120は、これらの
情報にもとづいて、対象回路の静的タイミング検証を実
行する。
The static timing verification unit 120 executes static timing verification of the target circuit based on these pieces of information.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来装
置150では、複数のクロックで動作する回路を検証対
象とすることができるとはいえ、これらの複数のクロッ
クは、互いに倍周の関係である必要があった。すなわ
ち、図26のタイミングチャートに例示するように、各
組に属する転送側のクロックT21と受信側のクロック
T22との間で、周期が自然数倍の関係にある必要があ
るという問題点があった。
However, although the conventional device 150 can verify a circuit that operates with a plurality of clocks, these plurality of clocks need to have a frequency-doubling relationship with each other. was there. That is, as illustrated in the timing chart of FIG. 26, there is a problem that the period between the transfer-side clock T21 and the reception-side clock T22 belonging to each set needs to be a natural multiple. It was

【0007】この発明は、従来の装置における上記した
問題点を解消するためになされたもので、静的タイミン
グ検証の利点を生かしつつ、互いに倍周の関係にない複
数のクロックが入力される対象回路に対しても、タイミ
ング検証を実行することができるタイミング検証装置を
提供することを目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems in the conventional device, and is an object to which a plurality of clocks which are not in a frequency-division relationship with each other are input while making the most of the advantage of the static timing verification. It is an object of the present invention to provide a timing verification device capable of performing timing verification on a circuit.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】第1の発明の装置は、複
数のクロックに同期して動作する複数の素子を含む対象
回路のタイミング検証を行うタイミング検証装置におい
て、前記複数のクロックを規定したクロック情報にもと
づいて、前記複数のクロックの中で互いに非倍周の関係
にあるクロックに対して、一方レベルから他方レベルへ
変化する時刻が、互いに一致しない範囲で最も近接した
時間区間すなわち最小区間を算出する最小区間算出手段
と、非倍周の関係にある一対のクロックがそれぞれ入力
されるとともに、データ転送側素子とデータ受信側素子
の関係にある前記複数の素子の中の一対と、それらの間
のデータ信号の経路と、を含む回路部分に対して、前記
対象回路を規定した回路接続情報を参照し、しかも、前
記一対のクロックの変化時刻が前記最小区間の関係にあ
ることを条件として、前記データ受信側素子へ入力され
るクロックと前記データ信号との間のタイミングの検証
を実行するタイミング評価手段と、を備えることを特徴
とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a timing verification device for verifying the timing of a target circuit including a plurality of elements operating in synchronization with a plurality of clocks, wherein the plurality of clocks are specified. Based on the clock information, with respect to the clocks that are in a non-double frequency relationship among the plurality of clocks, the time intervals at which the levels change from one level to the other level are closest to each other in a range where they do not match each other, that is, the minimum interval. A minimum interval calculating means for calculating, a pair of clocks having a non-double frequency relationship are respectively input, and a pair of the plurality of elements having a relationship of a data transfer side element and a data reception side element, and those And a circuit portion including a data signal path between the two, the circuit connection information defining the target circuit is referred to, and the pair of clocks is used. A timing evaluation unit that executes timing verification between a clock input to the data receiving side element and the data signal on condition that the change time is in the relationship of the minimum interval. To do.

【0009】第2の発明の装置は、複数のクロックに同
期して動作する複数の素子を含む対象回路のタイミング
検証を行うタイミング検証装置において、前記複数のク
ロックを規定したクロック情報にもとづいて、前記複数
のクロックの中で互いに非倍周の関係にあるクロックに
対して、一方レベルから他方レベルへ変化する時刻が、
互いに一致しない範囲で最も近接した時間区間すなわち
最小区間を算出する最小区間算出手段と、前記対象回路
を規定した回路接続情報にもとづいて、前記複数の素子
の中から順次一つずつ対象素子として選び出す対象素子
検索手段と、前記対象素子検索手段で選び出された前記
対象素子をデータ受信側素子とし、これに対応するデー
タ転送側素子を、前記回路接続情報にもとづいて、前記
複数の素子の中から探し出すパスサーチ手段と、前記ク
ロック情報にもとづいて、前記データ転送側素子と前記
データ受信側素子とにそれぞれ入力される一対のクロッ
クの関係が、倍周と非倍周のいずれであるかについて判
定を行うクロック判定手段と、前記データ転送側素子、
前記データ受信側素子、およびそれらの間のデータ信号
の経路を含む回路部分に対して、前記回路接続情報を参
照するとともに、前記判定の結果が倍周であるときに
は、前記クロック情報を参照し、前記判定の結果が非倍
周であるときには、前記一対のクロックの変化時刻が前
記最小区間の関係にあることを条件とすることによっ
て、前記データ受信側素子へ入力されるクロックと前記
データ信号との間のタイミングの検証を実行するタイミ
ング評価手段と、を備えることを特徴とする。
The apparatus of the second invention is a timing verification apparatus for verifying the timing of a target circuit including a plurality of elements operating in synchronization with a plurality of clocks, based on clock information defining the plurality of clocks. Among the plurality of clocks, the time at which one level changes to the other level with respect to the clocks that are in a non-doubled relationship with each other,
Based on the minimum interval calculation means for calculating the closest time interval, that is, the minimum interval, in a range that does not coincide with each other, and the circuit connection information defining the target circuit, one by one is selected from the plurality of elements as a target element in sequence. Among the plurality of elements, the target element search means and the target element selected by the target element search means are data receiving side elements, and the corresponding data transfer side element is based on the circuit connection information. Whether the relation between the pair of clocks respectively input to the data transfer side element and the data reception side element based on the clock information and the path search means that is searched from A clock determination means for performing determination, the data transfer side element,
For the circuit portion including the data receiving side element, and the path of the data signal between them, while referring to the circuit connection information, when the result of the determination is a frequency double, refer to the clock information, When the result of the determination is a non-double frequency, the clock input to the data receiving side element and the data signal are provided on condition that the change times of the pair of clocks have the relationship of the minimum interval. Timing evaluation means for performing timing verification between the two.

【0010】第3の発明の装置は、第2の発明のタイミ
ング検証装置において、前記タイミング評価手段は、さ
らに、前記パスサーチ手段が前記データ転送側素子を探
し出せなかったときには、前記対象素子と当該対象素子
へ入力される外部入力データ信号の経路とを含む回路部
分に対して、前記回路接続情報を参照するとともに、前
記外部入力データ信号を規定するデータ入力タイミング
情報と、前記クロック情報とにもとづいて、前記対象素
子へ入力されるクロックと前記外部入力データ信号との
間のタイミングの検証を実行することを特徴とする。
A third aspect of the invention is the timing verification apparatus of the second aspect, wherein the timing evaluation means further includes the target element and the target element when the path search means cannot find the element on the data transfer side. The circuit connection information is referred to for a circuit portion including the path of the external input data signal input to the target element, and based on the data input timing information defining the external input data signal and the clock information. And verifying the timing between the clock input to the target element and the external input data signal.

【0011】第4の発明の装置は、第1ないし第3のい
ずれかの発明のタイミング検証装置において、前記対象
回路の配線の信号遅延時間を規定する配線遅延情報と、
前記回路接続情報とにもとづいて、前記複数の素子へク
ロックを伝達する複数のクロック配線の遅延時間を個別
に算出するクロックディレイ算出手段と、前記複数の素
子ごとに、当該素子に入力されるクロックに関して前記
クロック情報が規定するタイミングに前記遅延時間を加
算することによって、ディレイ付きクロック情報を作成
するクロックディレイ加算手段と、をさらに備え、前記
最小区間算出手段は、前記クロック情報の代わりに前記
ディレイ付きクロック情報を参照することによって、前
記最小区間を算出することを特徴とする。
According to a fourth aspect of the invention, in the timing verification apparatus according to any of the first to third aspects of the invention, wiring delay information defining a signal delay time of the wiring of the target circuit,
Clock delay calculation means for individually calculating delay times of a plurality of clock wirings for transmitting a clock to the plurality of elements based on the circuit connection information; and a clock input to the element for each of the plurality of elements. With respect to the clock information, the clock delay adding means for creating the clock information with delay by adding the delay time to the timing defined by the clock information, the minimum interval calculating means is provided with the delay information instead of the clock information. The minimum interval is calculated by referring to the attached clock information.

【0012】第5の発明の装置は、第4の発明のタイミ
ング検証装置において、前記対象回路のレイアウトを規
定するレイアウト情報から、前記回路接続情報と前記配
線遅延時間とを抽出するバックアノテーション手段を、
さらに備えることを特徴とする。
An apparatus according to a fifth aspect of the present invention is the timing verification apparatus according to the fourth aspect, further comprising back annotation means for extracting the circuit connection information and the wiring delay time from layout information defining a layout of the target circuit. ,
It is further characterized by being provided.

【0013】第6の発明の装置は、第1ないし第3のい
ずれかの発明のタイミング検証装置において、前記最小
区間算出手段は、算出した前記最小区間に、データ転送
サイクル情報に規定されるデータ転送サイクルを加算
し、前記タイミング評価手段は、前記データ転送サイク
ルが加算された値を前記最小区間として参照することを
特徴とする。
According to a sixth aspect of the invention, in the timing verification apparatus according to any one of the first to third aspects, the minimum section calculating means sets the calculated minimum section to data specified by data transfer cycle information. The transfer cycle is added, and the timing evaluation means refers to the value obtained by adding the data transfer cycle as the minimum section.

【0014】第7の発明の装置は、第1ないし第6のい
ずれかの発明のタイミング検証装置において、前記最小
区間算出手段は、非倍周の関係にあるクロックに対し
て、双方の周期の最小公倍数に相当する期間の中で、前
記最小区間を探索することを特徴とする。
A seventh aspect of the invention is the timing verification apparatus according to any one of the first to sixth aspects of the invention, wherein the minimum interval calculating means has a cycle of both non-multiplied clocks. It is characterized in that the minimum section is searched in a period corresponding to the least common multiple.

【0015】第8の発明の装置は、第1ないし第7のい
ずれかの発明のタイミング検証装置において、前記最小
区間算出手段は、前記複数のクロックの中で互いに非倍
周の関係にあるクロックのすべての組合わせに対して、
前記最小区間を算出することを特徴とする。
According to an eighth aspect of the present invention, in the timing verification apparatus according to any one of the first to seventh aspects, the minimum interval calculating means is a clock that is in a non-double frequency relationship among the plurality of clocks. For all combinations of
It is characterized in that the minimum section is calculated.

【0016】第9の発明の装置は、複数のクロックに同
期して動作する複数の素子を含む対象回路のタイミング
検証を行うタイミング検証装置において、前記対象回路
を規定した回路接続情報にもとづいて、単一クロックに
同期して動作する第1種ブロックと、異なる2つのクロ
ックに同期して動作する第2種ブロックとによって、前
記対象回路を分割し、前記回路接続情報から、前記第1
種ブロックに関する第1種ブロック接続情報と、前記第
2種ブロックに関する第2種ブロック接続情報とを抽出
するブロック分割手段と、前記第1種ブロックに対し
て、静的タイミング検証を実行する静的タイミング検証
手段と、前記第2種ブロックに対する動的タイミング検
証を行うための入力テストパターンを生成するテストパ
ターン生成手段と、前記入力テストパターンと前記第2
種ブロック接続情報とにもとづいて、前記第2種ブロッ
クに対する動的タイミング検証を実行するとともに、動
的タイミング検証の対象とされた第2種ブロックの出力
側に別の第2種ブロックが接続されるときには、この動
的タイミング検証の結果を前記テストパターン生成部へ
供給する動的タイミング検証手段と、前記動的タイミン
グ検証の対象とされた第2種ブロックの出力側に第1種
ブロックが接続されるときには、前記動的タイミング検
証の結果から、この第1種ブロックへ入力されるデータ
信号のタイミングを規定するデータ入力タイミング情報
を抽出して、前記静的タイミング検証手段へ供給するデ
ータ入力タイミング抽出手段と、を備え、前記静的タイ
ミング検証部は、前記第1種ブロック接続情報と前記複
数のクロックを規定するクロック情報とを参照するとと
もに、前記対象回路の外部から入力される外部入力デー
タ信号を規定するデータ入力タイミング情報と、データ
入力タイミング抽出手段から供給されるデータ入力タイ
ミング情報とのいずれかを、さらに選択的に参照するこ
とによって、前記静的タイミング検証を実行し、前記テ
ストパターン生成手段は、前記クロック情報を参照する
とともに、前記静的タイミング検証の結果と、前記動的
タイミング検証の結果とのいずれかを、さらに選択的に
参照することによって、前記入力テストパターンを生成
することを特徴とする。
According to a ninth aspect of the present invention, in a timing verification device for verifying the timing of a target circuit including a plurality of elements that operate in synchronization with a plurality of clocks, based on circuit connection information defining the target circuit, The target circuit is divided by a first type block that operates in synchronization with a single clock and a second type block that operates in synchronization with two different clocks, and the first circuit is divided from the circuit connection information by the first type block.
Block dividing means for extracting type 1 block connection information regarding the seed block and type 2 block connection information regarding the type 2 block, and static for performing static timing verification on the type 1 block. Timing verification means, test pattern generation means for generating an input test pattern for performing dynamic timing verification on the second type block, the input test pattern, and the second
Dynamic timing verification is performed on the second type block based on the seed block connection information, and another second type block is connected to the output side of the second type block subjected to the dynamic timing verification. In this case, the type 1 block is connected to the output side of the type 2 block which is the target of the dynamic timing verification, and the dynamic timing verification means which supplies the result of this dynamic timing verification to the test pattern generator. At this time, the data input timing information that defines the timing of the data signal input to the first type block is extracted from the result of the dynamic timing verification, and is supplied to the static timing verification means. Extraction means, and the static timing verification unit defines the first type block connection information and the plurality of clocks. With reference to the clock information, the data input timing information defining the external input data signal input from the outside of the target circuit, and the data input timing information supplied from the data input timing extraction means, Further, by selectively referring to the static timing verification, the test pattern generation means refers to the clock information, and outputs the static timing verification result and the dynamic timing verification result. The input test pattern is generated by further selectively referring to any of the above.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

<1.実施の形態1>はじめに、実施の形態1のタイミ
ング検証装置について説明する。
<1. First Preferred Embodiment> First, a timing verification device according to a first preferred embodiment will be described.

【0018】<1-1.装置全体の構成と動作>図1は、こ
の実施の形態のタイミング検証装置101の構成を示す
ブロック図である。図1において、1は対象回路に入力
されるクロックの中で周期の異なるクロック同士による
データ転送が行われるブロックで使用されるデータ転送
側のクロックの立ち上がり時期、周期等に関する情報、
すなわちデータ転送側クロック情報であり、2はデータ
転送側クロック情報1と同じブロックで使用されるデー
タ受信側クロック情報である。これらのクロック情報
1,2は、外部から付与される。
<1-1. Configuration and Operation of Entire Device> FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the timing verification device 101 of this embodiment. In FIG. 1, reference numeral 1 is information regarding the rising timing, cycle, etc. of the clock on the data transfer side used in a block in which data is transferred by clocks having different cycles among the clocks input to the target circuit,
That is, the data transfer side clock information, and 2 is the data reception side clock information used in the same block as the data transfer side clock information 1. These clock information 1 and 2 are given from the outside.

【0019】また、3はデータ転送側クロック情報とデ
ータ受信側クロック情報とが同時に立ち上がる時刻(同
期時刻)を算出する同期時刻算出部、4は同期時刻算出
部3で算出された数値情報である同期時刻、5はデータ
転送側クロック情報とデータ受信側クロック情報と同期
時刻とにもとづいて、立ち上がりエッジ最小区間を算出
する立ち上がりエッジ最小区間算出部、そして、6は立
ち上がりエッジ最小区間算出部5で算出された数値情報
である立ち上がりエッジ最小区間である。
Reference numeral 3 is a synchronization time calculation unit for calculating the time (synchronization time) at which the clock information on the data transfer side and the clock information on the data reception side simultaneously rise, and 4 is numerical information calculated by the synchronization time calculation unit 3. The synchronization time, 5 is a rising edge minimum section calculation unit that calculates the rising edge minimum section based on the data transfer side clock information, the data reception side clock information, and the synchronization time, and 6 is the rising edge minimum section calculation unit 5. It is a rising edge minimum section that is calculated numerical information.

【0020】さらに、7は対象回路の構成に関して外部
から付与される情報である回路接続情報、そして、9は
データ入力タイミング情報である。回路接続情報7は、
対象回路の回路図に相当する情報、すなわち対象回路を
構成する素子の種類およびそれらの素子の接続等に関す
る情報であり、外部から付与される。データ入力タイミ
ング情報9は、対象回路に入力される外部入力データの
変化する時期に関する情報であり、特にクロックの立ち
上がり時期との相対関係が明確となるように記述されて
いる。このデータ入力タイミング情報9も、外部から付
与される。
Further, 7 is circuit connection information which is information provided from the outside regarding the configuration of the target circuit, and 9 is data input timing information. Circuit connection information 7 is
It is information corresponding to the circuit diagram of the target circuit, that is, information on the types of elements that form the target circuit and the connection of these elements, and is provided from the outside. The data input timing information 9 is information regarding the time when the external input data input to the target circuit changes, and is described so that the relative relationship with the rising time of the clock becomes clear. This data input timing information 9 is also given from the outside.

【0021】最後に、8はクロック情報1,2、立ち上
がりエッジ最小区間6、回路接続情報7、およびデータ
入力タイミング情報9にもとづいて、静的タイミング検
証を実行する静的タイミング検証部である。
Finally, reference numeral 8 is a static timing verification unit for executing static timing verification based on the clock information 1 and 2, the rising edge minimum section 6, the circuit connection information 7, and the data input timing information 9.

【0022】図2は、装置101が検証の対象とする対
象回路の一例を示す回路図である。この対象回路Y1に
は、周期の異なる3個のクロックT1〜T3、および2
個の外部入力データData1,Data2が、外部から入力
端子(図中に白三角で示す)を通じて入力される。そし
て、対象回路Y1は、これらの信号にもとづいて所定の
論理演算を実行し、出力信号Outを出力端子(図中に
白三角で示す)を通じて外部へと出力するように構成さ
れている。
FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a target circuit to be verified by the device 101. The target circuit Y1 has three clocks T1 to T3 and 2 having different cycles.
Pieces of external input data Data1 and Data2 are input from the outside through input terminals (shown by white triangles in the figure). Then, the target circuit Y1 is configured to execute a predetermined logical operation based on these signals and output the output signal Out to the outside through an output terminal (shown by a white triangle in the drawing).

【0023】クロックT1〜T3の中で、クロックT
1,T3は互いに倍周の関係にあり、クロックT2は他
のクロックT1,T3と非倍周の関係にある。すなわ
ち、対象回路Y1には、互いに非倍周の関係にあるクロ
ックを含む複数のクロックが入力されている。
Of the clocks T1 to T3, the clock T
1 and T3 have a frequency-doubled relationship with each other, and the clock T2 has a non-frequency-doubled relationship with other clocks T1 and T3. That is, the target circuit Y1 is input with a plurality of clocks including clocks that are in a non-doubled relationship with each other.

【0024】対象回路Y1が備える6個の素子U1〜U
6は、クロック端子Tへ入力されるクロックの立ち上が
りエッジ、すなわちノーマルレベルからアクティブレベ
ルへの遷移に同期して、データ入力端子Dへ入力された
データ信号を、クロックのつぎの立ち上がりエッジまで
保持して出力端子Qへと出力し続けるフリップフロップ
である。素子S1〜S3は、信号の伝搬に遅延をもらた
らす任意の素子、あるいは素子の組み合わせである。ま
た、素子S4は、NAND素子である。
Six elements U1 to U included in the target circuit Y1
Reference numeral 6 holds the data signal input to the data input terminal D until the next rising edge of the clock in synchronization with the rising edge of the clock input to the clock terminal T, that is, the transition from the normal level to the active level. Is a flip-flop that continues to output to the output terminal Q. The elements S1 to S3 are arbitrary elements or a combination of elements that delay the propagation of signals. The element S4 is a NAND element.

【0025】以下において、この対象回路Y1を例とし
て、装置101の動作について説明する。装置101は
図3のフローチャートに沿って動作する。すなわち、装
置101が動作を開始すると、まずステップS11にお
いて、同期時刻算出部3へデータ転送側クロック情報1
およびデータ受信側クロック情報2が付与される。この
ようなクロック情報1,2は、外部から手作業で、ある
いは外部の入力装置を用いて付与される。
The operation of the device 101 will be described below by taking the target circuit Y1 as an example. The device 101 operates according to the flowchart of FIG. That is, when the device 101 starts operating, first in step S11, the clock information 1 on the data transfer side is sent to the synchronization time calculation unit 3.
And the clock information 2 on the data receiving side is added. Such clock information 1 and 2 is added manually from the outside or using an external input device.

【0026】図4に、対象回路Y1に対するクロック情
報1,2の内容を例示する。クロック情報1,2は、対
象回路Y1のクロックT1〜T3を転送側と受信側とに
振り分けることによって得られる。振り分けは、対象回
路Y1の回路構成とは無関係に、考え得るすべての組み
合わせに対して行われるのが望ましい。この場合には、
クロック情報1,2は、図4に示すように、6通りの組
合わせN=1〜6に対応して準備される。
FIG. 4 illustrates the contents of the clock information 1 and 2 for the target circuit Y1. The clock information 1 and 2 are obtained by distributing the clocks T1 to T3 of the target circuit Y1 to the transfer side and the receiving side. The distribution is preferably performed for all possible combinations, regardless of the circuit configuration of the target circuit Y1. In this case,
As shown in FIG. 4, the clock information 1 and 2 are prepared corresponding to 6 combinations N = 1 to 6.

【0027】つぎに、処理はステップS12へと移行
し、クロック情報1,2にもとづいて、同期時刻算出部
3で同期時刻の算出が行われる。この算出は、データ転
送側クロックとデータ受信側クロックとが、非倍周の関
係にある組合わせに対して行われる。すなわち、図4に
示す組合わせN=1,3,4,6に対して、それぞれ実
行され、算出された数値の組は同期時刻4として、立ち
上がりエッジ最小区間算出部5へと送出される。
Next, the processing shifts to step S12, and the synchronization time calculation unit 3 calculates the synchronization time based on the clock information 1 and 2. This calculation is performed for a combination in which the clock on the data transfer side and the clock on the data reception side have a non-double frequency relationship. That is, the set of numerical values executed and calculated for each of the combinations N = 1, 3, 4, 6 shown in FIG. 4 is sent to the rising edge minimum section calculation unit 5 as the synchronization time 4.

【0028】同期時刻Syn1は、クロック情報1,2
に属する一組のクロックの周期Cyc1,Cyc2の最
小公倍数として算出される。すなわち、同期時刻Syn
1は、数式(1):{Syn1=周期Cyc1,Cyc
2の最小公倍数}で与えられる。例えば、組合わせN=
1に対しては、同期時刻Syn1は、クロックT1の周
期Cyc1とクロックT2の周期Cyc2の最小公倍数
として与えられる。
The synchronization time Syn1 is the clock information 1 and 2.
Is calculated as the least common multiple of the cycles Cyc1 and Cyc2 of the set of clocks belonging to. That is, the synchronization time Syn
1 is Equation (1): {Syn1 = cycles Cyc1, Cyc
The least common multiple of 2}. For example, the combination N =
For 1, the synchronization time Syn1 is given as the least common multiple of the cycle Cyc1 of the clock T1 and the cycle Cyc2 of the clock T2.

【0029】つぎに、処理はステップS13へと移行
し、クロック情報1,2および同期時刻4にもとづい
て、立ち上がりエッジ最小区間算出部5によって、立ち
上がりエッジ最小区間の算出が行われる。この算出も、
図4における組合わせN=1,3,4,6のそれぞれに
ついて行われる。以下に、クロックT1,T2の組合わ
せ(N=1)の例について、計算手順を説明する。
Next, the process proceeds to step S13, and the rising edge minimum section calculating unit 5 calculates the rising edge minimum section based on the clock information 1 and 2 and the synchronization time 4. This calculation also
This is performed for each of the combinations N = 1, 3, 4, 6 in FIG. The calculation procedure will be described below for an example of the combination of clocks T1 and T2 (N = 1).

【0030】まず、同期時刻Syn1のつぎの同期時刻
Syn2を、数式(2):{Syn2=Syn1×2}
にしたがって算出する。つづいて、データ転送側クロッ
ク立ち上がり時刻T1rise_timeが、数式(3):{T
1rise_time=Cyc1×m}で定義される。同様に、
データ受信側クロック立ち上がり時刻T2rise_time
が、数式(4):{T2rise_time=Cyc2×n}で
定義される。ここで、変数m,nは、いずれも自然数で
ある。
First, the synchronization time Syn2 next to the synchronization time Syn1 is calculated by the following equation (2): {Syn2 = Syn1 × 2}.
Calculate according to. Subsequently, the clock rising time T1rise_time of the data transfer side is expressed by the mathematical expression (3): {T
1 rise_time = Cyc1 × m}. Similarly,
Data receiving clock rising time T2rise_time
Is defined by Expression (4): {T2rise_time = Cyc2 × n}. Here, the variables m and n are both natural numbers.

【0031】つづいて、数式(5):{T1rise_time
<T2rise_time}、数式(6):{Syn1≦T1ris
e_time<Syn2}、および、数式(7):{Syn1
<T2rise_time≦Syn2}で与えられる3通りの条
件をすべて満たす範囲で、T2rise_timeとT1rise_ti
meの差における最小値が、立ち上がりエッジ最小区間T
riseとして算出される。すなわち、立ち上がりエッジ最
小区間Triseは、数式(5)〜(7)を満たすすべての
自然数m,nに対する最小値を、数式(8):{Trise
=MIN(T2rise_time−T1rise_time)}にもとづ
いて算出することによって得られる。
Next, the mathematical expression (5): {T1rise_time
<T2rise_time}, Expression (6): {Syn1 ≦ T1ris
e_time <Syn2} and Expression (7): {Syn1
T2rise_time and T1rise_ti within a range that satisfies all three conditions given by <T2rise_time ≦ Syn2}.
The minimum value in the difference of me is the rising edge minimum section T
Calculated as rise. That is, for the rising edge minimum section Trise, the minimum value for all natural numbers m and n satisfying Equations (5) to (7) is calculated by Equation (8): {Trise.
= MIN (T2rise_time-T1rise_time)}.

【0032】その結果、図5のタイミングチャートに例
示するように、立ち上がりエッジ最小区間Triseは、ク
ロックT1の立ち上がり時刻から、それ以後のクロック
T2の立ち上がり時刻までの時間間隔の最小値として与
えられる。言い替えると、立ち上がりエッジ最小区間T
riseは、クロックT1,T2の間で、立ち上がり時刻が
互いに一致しない範囲で最も近接した時間間隔として付
与される。したがって、クロックT2が入力される受信
側の素子が正常な動作を行う上で、最も厳しい条件が抽
出される。
As a result, as illustrated in the timing chart of FIG. 5, the rising edge minimum section Trise is given as the minimum value of the time interval from the rising time of the clock T1 to the subsequent rising time of the clock T2. In other words, the minimum rising edge section T
The rise is given as the closest time interval between the clocks T1 and T2 in the range where the rising times do not coincide with each other. Therefore, the most severe condition is extracted for the receiving-side element to which the clock T2 is input to operate normally.

【0033】<1-2.静的タイミング検証部8の構成と動
作>つぎに、処理はステップS14へと移行する。この
段階では、静的タイミング検証部8によって静的タイミ
ング検証が実行される。図6は静的タイミング検証部8
の内部構成を示すブロック図である。また、図7は静的
タイミング検証部8における処理手順を示すフローチャ
ートである。以下に、図6および図7に沿って、静的タ
イミング検証部8の内部構成と動作について説明する。
<1-2. Configuration and Operation of Static Timing Verification Unit 8> Next, the process proceeds to step S14. At this stage, the static timing verification unit 8 executes the static timing verification. FIG. 6 shows the static timing verification unit 8
FIG. 2 is a block diagram showing an internal configuration of the device. Further, FIG. 7 is a flowchart showing a processing procedure in the static timing verification unit 8. The internal configuration and operation of the static timing verification section 8 will be described below with reference to FIGS. 6 and 7.

【0034】ステップS14の処理が開始されると、ま
ず、ステップS141において、対象回路Y1の中の当
面の検証対象とされる対象素子が検索される。この処理
は、対象素子検索部81によって遂行される。すなわ
ち、対象素子検索部81は、回路接続情報7にもとづい
て、対象回路Y1の中で、当面の検証対象とすべき素子
を検索する。
When the process of step S14 is started, first, in step S141, a target element to be verified at present in the target circuit Y1 is searched. This process is performed by the target element search unit 81. That is, the target element search unit 81 searches the target circuit Y1 for an element to be verified for the time being, based on the circuit connection information 7.

【0035】つぎに、処理はステップS142へと移行
し、パスサーチが実行される。すなわち対象素子に入力
されるクロック、さらに受信側の素子とそのクロックが
サーチされる。この処理は、対象素子検索部81で選択
された対象素子に関する情報と、回路接続情報7とにも
とづいて、パスサーチ部82で実行される。
Next, the process proceeds to step S142, and the path search is executed. That is, the clock input to the target element, the element on the receiving side and the clock thereof are searched. This processing is executed by the path search unit 82 based on the information regarding the target element selected by the target element search unit 81 and the circuit connection information 7.

【0036】仮に、対象素子として素子U2が選択され
たとすると、パスサーチによって、素子U2に入力され
るクロックT2が、まず探し出される。つづいて、素子
U2に入力される信号を辿って、素子S1および素子U
1、さらに素子U1に入力されるクロックT1が探し出
される。そして、クロックT1はデータ転送側クロック
として認識され、クロックT2はデータ受信側クロック
として認識される。その結果、以後の処理では、図2の
対象回路Y1の中で、素子U1,U2およびそれらの間
に介在する素子S1を含む回路ブロックX1のみが取扱
いの対象となる。
If the element U2 is selected as the target element, the clock T2 input to the element U2 is first searched for by the path search. Subsequently, by tracing the signal input to the element U2, the elements S1 and U
1. Further, the clock T1 input to the element U1 is searched for. The clock T1 is recognized as the data transfer side clock, and the clock T2 is recognized as the data reception side clock. As a result, in the subsequent processing, only the circuit block X1 including the elements U1 and U2 and the element S1 interposed therebetween is to be handled in the target circuit Y1 of FIG.

【0037】つぎに、処理はステップS143へと移行
する。ここでは、クロック判定部83によって、クロッ
クに関する第1の判定が行われる。すなわち、選択され
た対象素子への入力データが外部入力データData1,
2であるか否かが判定される。判定結果が「Yes」で
あれば、処理はステップS145へと移行し、「No」
であれば、ステップS144へと移行する。
Next, the processing shifts to step S143. Here, the clock determination unit 83 makes a first determination regarding the clock. That is, the input data to the selected target element is the external input data Data1,
It is determined whether it is 2. If the determination result is “Yes”, the process proceeds to step S145, and “No”.
If so, the process proceeds to step S144.

【0038】ステップS144では、引き続きクロック
判定部83において、第2の判定が行われる。すなわ
ち、データ転送側クロックとデータ受信側クロックとの
間の関係が、倍周の関係であるか否かが判定される。こ
の判定は、クロック情報1,2にもとづいて行われる。
そして、判定の結果が、「Yes」であれば、処理はス
テップS136へと移行し、「No」であれば、ステッ
プS147へと移行する。
In step S144, the clock determination unit 83 continues to make a second determination. That is, it is determined whether or not the relationship between the data transfer side clock and the data reception side clock is a double frequency relationship. This determination is made based on the clock information 1 and 2.
Then, if the determination result is "Yes", the process proceeds to step S136, and if "No", the process proceeds to step S147.

【0039】対象素子が素子U2である例では、入力デ
ータは外部入力データData1,Data2のいずれでもな
いので、処理は、ステップS143からステップS14
4へと移る。そして、図4に示すように、クロックT
1,T2に関しては、互いに非倍周の関係にあるので、
処理はさらに、ステップS147へと移る。
In the example in which the target element is the element U2, since the input data is neither the external input data Data1 nor Data2, the process proceeds from step S143 to step S14.
Go to 4. Then, as shown in FIG.
Since 1 and T2 have a non-doubled relationship with each other,
The process further moves to step S147.

【0040】対象素子が、例えば素子U3である場合に
は、入力データは外部入力データData1であるので、
処理はステップS143からステップS145へと移行
する。
When the target element is, for example, the element U3, the input data is the external input data Data1.
The process proceeds from step S143 to step S145.

【0041】また、対象素子が、例えばU6である場合
には、クロックT1がデータ転送側クロックとなり、ク
ロックT3がデータ受信側クロックとなる。そして、入
力データは外部入力データData1,Data2のいずれで
もないので、処理は、ステップS143からステップS
144へと移る。さらに、クロックT1,T3の関係
は、図4に示すように、倍周の関係にあるので、処理は
ステップS144からステップS146へと移行する。
If the target element is U6, for example, the clock T1 becomes the data transfer side clock and the clock T3 becomes the data reception side clock. Then, since the input data is neither external input data Data1 nor Data2, the process proceeds from step S143 to step S143.
Move on to 144. Furthermore, as shown in FIG. 4, the clocks T1 and T3 have a frequency-doubling relationship, and therefore the process proceeds from step S144 to step S146.

【0042】ステップS145〜S147の処理は、タ
イミング評価部84によって実行される。これらの中
で、ステップS145,S146の処理は、従来装置1
50の静的タイミング検証部120でも行われる周知の
処理である。
The processing of steps S145 to S147 is executed by the timing evaluation section 84. Among them, the processes of steps S145 and S146 are performed by the conventional device 1
This is a well-known process that is also performed by the static timing verification unit 120 of 50.

【0043】ステップS145では、例えば対象素子U
3に関して、クロック情報1,2のいずれかが供給する
クロックT1と、データ入力タイミング情報9が供給す
る外部入力データData1との間のタイミングが、回路
接続情報7で規定される素子U3の正常動作に必要な、
セットアップ時間、ホールド時間等の条件を満たしてい
るか否かの判定が行われる。また、外部入力データDat
a1の経路に素子が介在する場合には、回路接続情報7
を参照することによって、この素子による遅延時間が考
慮される。
In step S145, for example, the target element U
3, the timing between the clock T1 supplied by either the clock information 1 or 2 and the external input data Data1 supplied by the data input timing information 9 is the normal operation of the element U3 defined by the circuit connection information 7. required for,
It is determined whether or not conditions such as setup time and hold time are satisfied. In addition, external input data Dat
If there is an element in the path of a1, the circuit connection information 7
By referring to, the delay time due to this element is considered.

【0044】また、ステップS146では、例えば対象
素子U6に関して、クロック情報1,2で供給されるク
ロックT1,T2が、回路接続情報7で規定される素子
U6の正常動作に必要な、セットアップ時間、ホールド
時間等の条件を満たしているか否かの判定が行われる。
このとき、回路接続情報7にもとづいて、素子U5と素
子U6の間に介在する素子S3による信号遅延時間をも
考慮して判定が行われる。
In step S146, for example, regarding the target device U6, the clocks T1 and T2 supplied by the clock information 1 and 2 are set up for the normal operation of the device U6 defined by the circuit connection information 7. It is determined whether or not the conditions such as the hold time are satisfied.
At this time, the determination is performed based on the circuit connection information 7 in consideration of the signal delay time due to the element S3 interposed between the element U5 and the element U6.

【0045】ステップS147では、クロック情報1,
2、および回路接続情報7に加えて、さらに、立ち上が
りエッジ最小区間6が参照される。そして、例えば対象
素子が素子U2である場合には、図8のタイミングチャ
ートに示すように、クロックT1が立ち上がった後に、
立ち上がりエッジ最小区間Triseを経た時点でクロック
T2が立ち上がるという最も厳しい条件に対して、タイ
ミング検証が行われる。
In step S147, the clock information 1,
In addition to 2 and the circuit connection information 7, the rising edge minimum section 6 is further referred to. Then, for example, when the target element is the element U2, as shown in the timing chart of FIG. 8, after the clock T1 rises,
Timing verification is performed under the most severe condition that the clock T2 rises at the time when the rising edge minimum section Trise has passed.

【0046】すなわち、データ転送側クロック情報1が
供給するクロックT1の立ち上がり時期と、回路接続情
報7が供給する素子U1の機能とにもとづいて、素子U
1の出力端子Qに出力データが現れる時期が算出され
る。さらに、回路接続情報7が供給する素子S1の機能
にもとづいて、素子S1による信号遅延時間を考慮した
上で、素子U2のデータ入力端子Dへ入力データが到達
する時期が算出される。
That is, the element U is based on the rising timing of the clock T1 supplied by the data transfer side clock information 1 and the function of the element U1 supplied by the circuit connection information 7.
The time when the output data appears at the output terminal Q of 1 is calculated. Further, based on the function of the element S1 supplied by the circuit connection information 7, the time when the input data arrives at the data input terminal D of the element U2 is calculated in consideration of the signal delay time due to the element S1.

【0047】そして、クロックT1の立ち上がり時期か
ら立ち上がりエッジ最小区間Trise後に立ち上がるクロ
ックT2と、素子U2へ到達する入力データとが、例え
ばセットアップ時間Setupおよびホールド時間Holdに
関する条件を満たしているか否かが判定される。例え
ば、素子U2へ入力データが到達する時期が、クロック
T2の立ち上がり時期よりも、セットアップ時間Setup
以上先行しており、しかも、素子U2への入力データが
つぎに変化する時期が、クロックT2の立ち上がり時期
よりも、ホールド時間Hold以上遅れておれば、タイミ
ングエラーなしと判定される。
Then, it is determined whether or not the clock T2 rising after the rising edge minimum section Trise from the rising timing of the clock T1 and the input data reaching the element U2 satisfy, for example, the conditions regarding the setup time Setup and the hold time Hold. To be done. For example, when the input data arrives at the element U2, the setup time Setup
If the preceding timing is reached and the timing at which the input data to the element U2 changes next is later than the rising timing of the clock T2 by the hold time Hold or more, it is determined that there is no timing error.

【0048】逆に、これらの条件の中のいずれか一つが
満たされていないときは、タイミングエラー有りと判定
される。このように、立ち上がりエッジ最小区間6を用
いて、もっとも厳しい条件に対するタイミング検証が行
われる。しかも、素子S1による信号遅延時間も考慮し
た検証が行われる。
On the contrary, when any one of these conditions is not satisfied, it is determined that there is a timing error. As described above, the rising edge minimum section 6 is used to perform the timing verification for the most severe conditions. Moreover, the verification is performed in consideration of the signal delay time due to the element S1.

【0049】なお、ステップS145〜S147では、
タイミング評価部84によって、検証すべき信号間でタ
イミングの比較が行われるために、タイミングエラーの
有無だけではなく、例えばマージンの大きさ、エラーの
程度などの定量的な評価も容易に得られる。
In steps S145-S147,
Since the timing evaluation unit 84 compares the timings of the signals to be verified, it is possible to easily obtain not only the presence or absence of the timing error but also a quantitative evaluation of, for example, the size of the margin and the degree of the error.

【0050】ステップS145〜ステップS147のい
ずれかの処理が完了すると、処理はステップS148へ
と移行する。ステップS148では、対象回路Y1の中
に、未検証の対象素子が残っているか否かが判定され
る。残っておれば、処理はステップS141へと戻り、
新たな対象素子が検索される。残っていなければ、ステ
ップS14の処理を終了し、それにともなって装置10
1の処理全体が終了する(図3)。
When any one of steps S145 to S147 is completed, the process proceeds to step S148. In step S148, it is determined whether or not an unverified target element remains in the target circuit Y1. If so, the process returns to step S141,
A new target element is searched. If not, the process of step S14 ends, and the device 10
The entire process of 1 ends (FIG. 3).

【0051】このように、ステップS141〜S148
のサイクルを反復することによって、対象回路Y1にお
けるタイミング検証を要する素子U1〜U6のすべてに
対して、タイミング検証が順次行われる。上記において
例を挙げなかった素子U4,U5,U1を対象素子とす
るサイクルでは、つぎのように処理が行われる。
In this way, steps S141 to S148
By repeating the above cycle, the timing verification is sequentially performed on all of the elements U1 to U6 that require the timing verification in the target circuit Y1. In the cycle in which the elements U4, U5, and U1 which are not given as examples above are the target elements, the following processing is performed.

【0052】素子U4を対象素子とするサイクルでは、
図4に示すように、クロックT1がデータ転送側クロッ
ク、クロックT2がデータ受信側クロックとして扱われ
る。したがって、ステップS147が実行される。ま
た、素子U5を対象素子とするサイクルでは、素子U3
を対象素子とするサイクルと同様に、ステップS143
が実行され、クロックT1と外部入力データData2と
が比較される。
In the cycle in which the element U4 is the target element,
As shown in FIG. 4, the clock T1 is treated as a data transfer side clock and the clock T2 is treated as a data reception side clock. Therefore, step S147 is executed. In the cycle in which the element U5 is the target element, the element U3 is
Similarly to the cycle in which the target element is
Is executed and the clock T1 is compared with the external input data Data2.

【0053】さらに、素子U1を対象素子とする場合に
は、図4に示すように、クロックT2をデータ転送側ク
ロック、クロックT1をデータ受信側クロックとして扱
うサイクルと、クロックT3をデータ転送側クロック、
クロックT1をデータ受信側クロックとして扱うサイク
ルとの、2通りのサイクルの双方が実行される。前者は
素子U4を転送側素子とするものであり、後者は素子U
6を転送側素子とするものである。前者では、ステップ
S147が実行され、後者では、ステップS146が実
行される。
Further, when the element U1 is the target element, as shown in FIG. 4, a cycle in which the clock T2 is used as the data transfer side clock and the clock T1 is used as the data reception side clock, and the clock T3 is used as the data transfer side clock. ,
Both a cycle in which the clock T1 is used as a data reception side clock and two cycles are executed. The former uses the element U4 as the transfer side element, and the latter uses the element U4.
6 is a transfer side element. In the former case, step S147 is executed, and in the latter case, step S146 is executed.

【0054】以上に説明したように、非倍周の関係を有
する複数のクロックが入力されるために従来装置150
では検証不可能であった対象回路に対しても、装置10
1を用いることによって、静的タイミングの手法にもと
づいた能率のよい検証が可能となる。
As described above, since a plurality of clocks having a non-double frequency relationship are input, the conventional device 150
Even for a target circuit that could not be verified by
By using 1, it is possible to perform efficient verification based on the static timing method.

【0055】なお、図4に示すように、ステップS11
において、6通りの組合わせN=1〜6のすべてに対し
て、クロック情報1,2を準備する好ましい例を示した
が、対象回路Y1の構成を考慮して、例えば、N=1〜
3,5の組み合わせについてのみ、クロック情報1,2
を準備することも可能である。
As shown in FIG. 4, step S11
In the above, a preferable example in which the clock information 1 and 2 are prepared for all six combinations N = 1 to 6 has been shown. However, in consideration of the configuration of the target circuit Y1, for example, N = 1 to
Clock information 1 and 2 only for combinations of 3 and 5
It is also possible to prepare.

【0056】また、ステップS11において、クロック
情報1,2を外部から同期時刻算出部3へと直接に入力
する例を示したが、装置101に記憶媒体を設けておい
て、この記憶媒体にあらかじめクロック情報1,2を記
憶させておいてもよい。この場合には、ステップS11
では、記憶媒体からクロック情報1,2を同期時刻算出
部3へと読み出す処理が行われる。
Further, in the step S11, the example in which the clock information 1 and 2 is directly input to the synchronization time calculation unit 3 from the outside has been described. However, a storage medium is provided in the device 101, and this storage medium is previously stored. The clock information 1 and 2 may be stored. In this case, step S11
Then, the process of reading the clock information 1 and 2 from the storage medium to the synchronization time calculation unit 3 is performed.

【0057】さらに、回路接続情報7、データ入力タイ
ミング情報9などについても、これらを記憶媒体に一旦
記憶させておいて、静的タイミング検証部8の動作にと
もなって、記憶媒体から適宜読み出すように、装置10
1を構成してもよい。
Further, the circuit connection information 7, the data input timing information 9 and the like are also temporarily stored in the storage medium, and can be read out from the storage medium as needed in accordance with the operation of the static timing verification section 8. , Device 10
1 may be configured.

【0058】<2.実施の形態2>図9は、実施の形態
2のタイミング検証装置102の構成を示すブロック図
である。なお、以下の図において、図1および図6に示
した装置101と同一部分については、同一符号を付し
てその詳細な説明を略する。
<2. Second Preferred Embodiment> FIG. 9 is a block diagram showing a configuration of a timing verification device 102 according to a second preferred embodiment. In the following drawings, the same parts as those of the device 101 shown in FIGS. 1 and 6 are designated by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted.

【0059】図9において、20は対象回路のレイアウ
ト情報、21はレイアウト情報20から回路接続情報お
よび配線遅延情報を抽出するバックアノテーション装
置、22はバックアノテーション装置21により抽出さ
れた対象回路の回路接続情報、そして、23はバックア
ノテーション装置21によって算出された配線遅延情報
である。レイアウト情報20は、外部から付与される。
In FIG. 9, 20 is layout information of the target circuit, 21 is a back annotation device for extracting circuit connection information and wiring delay information from the layout information 20, and 22 is circuit connection of the target circuit extracted by the back annotation device 21. Information 23 is wiring delay information calculated by the back annotation device 21. The layout information 20 is given from the outside.

【0060】また、24は回路接続情報22と配線遅延
情報23にもとづいて、クロック配線の遅延時間、すな
わちクロック配線を伝搬するクロックの遅延時間(クロ
ックディレイ)を算出し、データ転送側クロックとデー
タ受信側クロックのそれぞれに分けてクロックディレイ
を出力するクロックディレイ算出部、25はクロックデ
ィレイ算出部24により算出されたデータ転送側クロッ
クディレイ、そして、26はクロックディレイ算出部2
4により算出されたデータ受信側クロックディレイであ
る。
Further, reference numeral 24 is a delay time of the clock wiring, that is, a delay time of the clock propagating through the clock wiring (clock delay) is calculated based on the circuit connection information 22 and the wiring delay information 23, and the data transfer side clock and the data are transmitted. A clock delay calculation unit that outputs a clock delay separately for each of the reception side clocks, 25 is a data transfer side clock delay calculated by the clock delay calculation unit 24, and 26 is a clock delay calculation unit 2
4 is a clock delay on the data reception side calculated by 4.

【0061】さらに、27はデータ転送側クロック情報
1にデータ転送側クロックディレイ25を加算し、デー
タ受信側クロック情報2にデータ受信側クロックディレ
イ26を加算するクロックディレイ加算部、28はデー
タ転送側クロック情報1にデータ転送側クロックディレ
イ25が加算されたデータ転送側ディレイ付きクロック
情報、そして、29はデータ受信側クロック情報2にデ
ータ受信側クロックディレイ26が加算されたデータ受
信側ディレイ付きクロック情報である。
Further, 27 is a clock delay adding section for adding the data transfer side clock delay 25 to the data transfer side clock information 1 and adding the data reception side clock delay 26 to the data reception side clock information 2, and 28 is the data transfer side. Clock information with data transfer side delay, which is obtained by adding the data transfer side clock delay 25 to the clock information 1, and 29, Clock information with data reception side delay, which is obtained by adding the data reception side clock delay 26 to the data reception side clock information 2. Is.

【0062】以下において、図2に示した対象回路Y1
を例として、装置102の動作について説明する。装置
102は図10のフローチャートに沿って動作する。す
なわち、装置102が動作を開始すると、まずステップ
S20において、回路接続情報と配線遅延情報の抽出が
行われる。この処理は、外部から入力された対象回路Y
1に関するレイアウト情報20にもとづいて、バックア
ノテーション装置21によって実行される。
In the following, the target circuit Y1 shown in FIG.
The operation of the device 102 will be described with reference to FIG. The device 102 operates according to the flowchart of FIG. That is, when the device 102 starts operating, first, in step S20, circuit connection information and wiring delay information are extracted. This process is performed by the target circuit Y input from the outside.
It is executed by the back annotation device 21 based on the layout information 20 about 1.

【0063】レイアウト情報20は、対象回路Y1のレ
イアウト設計に付随して作成されるものである。装置1
02では、このレイアウト情報20を付与することによ
ってタイミング検証が行われる。すなわち、装置102
では、タイミング検証を行うために、新規にデータを作
成する必要がないという利点がある。
The layout information 20 is created in association with the layout design of the target circuit Y1. Apparatus 1
In 02, the timing verification is performed by adding the layout information 20. That is, the device 102
Then, there is an advantage that it is not necessary to create new data in order to perform the timing verification.

【0064】バックアノテーション装置21によって抽
出された回路接続情報22は、装置101に供給される
回路接続情報7に相当する。すなわち、回路接続情報2
2は、対象回路Y1を構成する各種の素子とそれらの接
続に関する情報を有している。バックアノテーション装
置21は、配線遅延情報23を算出する際に、まずレイ
アウト情報20から配線容量および配線抵抗を抽出す
る。
The circuit connection information 22 extracted by the back annotation device 21 corresponds to the circuit connection information 7 supplied to the device 101. That is, the circuit connection information 2
2 has information on various elements forming the target circuit Y1 and their connections. When calculating the wiring delay information 23, the back annotation device 21 first extracts wiring capacitance and wiring resistance from the layout information 20.

【0065】つぎに、処理はステップS21へと移行
し、クロックディレイ算出部24によるクロックディレ
イの算出が行われる。すなわち、図2において、クロッ
クT1〜T3が伝送されるクロック配線の遅延時間が算
出される。すなわち、各クロックT1〜T3を外部から
受信するための対象回路Y1の入力端子(図2において
白三角で示している)から、各素子U1〜U6のクロッ
ク端子Tまでの配線の遅延時間が算出される。
Next, the process proceeds to step S21, and the clock delay calculation section 24 calculates the clock delay. That is, in FIG. 2, the delay time of the clock wiring for transmitting the clocks T1 to T3 is calculated. That is, the delay time of the wiring from the input terminal (indicated by a white triangle in FIG. 2) of the target circuit Y1 for receiving each clock T1 to T3 from the outside to the clock terminal T of each element U1 to U6 is calculated. To be done.

【0066】クロックディレイ算出部24ではさらに、
図4に示したようなデータ転送側クロックとデータ受信
側クロックの組合わせN=1〜6毎に、データ転送側ク
ロックディレイ25とデータ受信側クロックディレイ2
6とが作成され出力される。例えば、図4における組合
わせN=1に対しては、図11の回路図に示すように、
クロックT1の配線の遅延時間Delay1がデータ転送側
クロックディレイ25として出力され、クロックT2の
配線の遅延時間Delay2がデータ受信側クロックディレ
イ26として出力される。
The clock delay calculating section 24 further includes
For each combination N = 1 to 6 of the data transfer side clock and the data reception side clock as shown in FIG. 4, the data transfer side clock delay 25 and the data reception side clock delay 2
6 and 6 are created and output. For example, for the combination N = 1 in FIG. 4, as shown in the circuit diagram of FIG.
The wiring delay time Delay1 of the clock T1 is output as the data transfer side clock delay 25, and the wiring delay time Delay2 of the clock T2 is output as the data reception side clock delay 26.

【0067】つぎに、処理はステップS22へと移行
し、データ転送側クロック情報1およびデータ受信側ク
ロック情報2が、外部からクロックディレイ加算部27
へと入力される。このステップS22は、つぎのステッ
プS23に先立って実行されればよく、ステップS20
〜S22との前後関係は任意でよい。
Next, the process proceeds to step S22, and the data transfer side clock information 1 and the data reception side clock information 2 are externally supplied to the clock delay adding section 27.
Is entered. This step S22 may be executed prior to the next step S23.
The front-rear relationship with S22 may be arbitrary.

【0068】つぎに、ステップS23において、クロッ
クディレイ加算部27によるクロックディレイの加算処
理が行われる。すなわち、データ転送側クロック情報1
にデータ転送側クロックディレイ25を加算してデータ
転送側ディレイ付きクロック情報28として出力し、デ
ータ受信側クロック情報2にデータ受信側クロックディ
レイ26を加算してデータ受信側ディレイ付きクロック
情報29として出力する。
Next, in step S23, the clock delay addition unit 27 performs the clock delay addition processing. That is, data transfer side clock information 1
To the data transfer side clock delay 25 and output as the data transfer side delay clock information 28, and the data reception side clock information 2 to the data reception side clock delay 26 and output as the data reception side delay clock information 29. To do.

【0069】以下のステップS24〜S26では、実施
の形態1の装置101におけるステップS13〜S14
において、クロック情報1,2をディレイ付きクロック
情報28,29に置き換えた処理が行われる。したがっ
て、ステップS25の処理では、例えば図4における組
合わせN=1に対しては、数式(9):{U1rise_tim
e=T1rise_time+Delay1}で与えられる、ディレイ
付きデータ転送側クロック立ち上がり時刻U1rise_tim
eが、ステップS13におけるデータ転送側クロック立
ち上がり時刻T1rise_timeの代わりに用いられる。
In the following steps S24 to S26, steps S13 to S14 in the device 101 according to the first embodiment are performed.
In, processing is performed by replacing the clock information 1 and 2 with the clock information with delay 28 and 29. Therefore, in the process of step S25, for example, for the combination N = 1 in FIG. 4, Formula (9): {U1rise_tim
e = T1rise_time + Delay1}, the clock rise time U1rise_tim of the data transfer side with delay, which is given by
e is used instead of the data transfer side clock rising time T1rise_time in step S13.

【0070】また、数式(10):{U2rise_time=
T2rise_time+Delay2}で与えられる、ディレイ付
きデータ受信側クロック立ち上がり時刻U2rise_time
が、ステップS13におけるデータ受信側クロック立ち
上がり時刻T2rise_timeの代わりに用いられる。すな
わち、数式(5)〜(8)において、立ち上がり時刻T
1rise_time,T2rise_timeを、ディレイ付き立ち上が
り時刻U1rise_time,U2rise_timeに置き換えること
によって、立ち上がりエッジ最小区間Triseが算出され
る。
Mathematical expression (10): {U2rise_time =
T2rise_time + Delay2} given clock rising time U2rise_time of the data reception side clock with delay
Is used instead of the data reception side clock rising time T2rise_time in step S13. That is, in equations (5) to (8), the rising time T
The rising edge minimum section Trise is calculated by replacing 1rise_time and T2rise_time with rising times with delay U1rise_time and U2rise_time.

【0071】図12のタイミングチャートに示すよう
に、ディレイ付き立ち上がり時刻U1rise_time,U2r
ise_timeは、対象回路Y1の入力端子に入力されたクロ
ックT1,T2の立ち上がり時刻T1rise_time,T2r
ise_timeに、クロック配線の遅延時間Delay1,Delay
2をそれぞれ加算した値に相当する。すなわち、立ち上
がり時刻U1rise_time,U2rise_timeは、素子U1,
U2のクロック端子Tへ到達するクロックT1,T2の
立ち上がり時間に相当する。
As shown in the timing chart of FIG. 12, rising times with delay U1rise_time, U2r
ise_time is the rising time T1rise_time, T2r of the clocks T1, T2 input to the input terminal of the target circuit Y1.
The delay time Delay1 and Delay of the clock wiring is set to ise_time.
This corresponds to a value obtained by adding 2 to each. That is, the rising times U1rise_time and U2rise_time are the elements U1,
This corresponds to the rising time of the clocks T1 and T2 that reach the clock terminal T of U2.

【0072】また、ステップS26では、図7と同様
に、ステップS141〜S148のサイクルが実行され
る。つまり、ステップS145,S146,S147
で、クロック情報1,2、および配線遅延情報23にも
とづいて、クロック配線の遅延を考慮したタイミング検
証が行われる。
Further, in step S26, the cycle of steps S141 to S148 is executed as in FIG. That is, steps S145, S146, S147
Then, based on the clock information 1 and 2 and the wiring delay information 23, the timing verification considering the delay of the clock wiring is performed.

【0073】またステップS26を実行する静的タイミ
ング検証部8の内部構成および各種情報との関係は、図
13のブロック図で示される。すなわち、静的タイミン
グ検証部8の内部構成は、実施の形態1の装置101の
静的タイミング検証部8(図6)と同一である。配線遅
延情報23がタイミング評価部84に供給されている点
が、装置101の静的タイミング検証部8とは異なって
いる。
Further, the internal configuration of the static timing verification unit 8 which executes step S26 and the relationship with various information are shown in the block diagram of FIG. That is, the internal configuration of the static timing verification unit 8 is the same as that of the static timing verification unit 8 (FIG. 6) of the device 101 according to the first embodiment. The point that the wiring delay information 23 is supplied to the timing evaluation unit 84 is different from the static timing verification unit 8 of the device 101.

【0074】例えばステップS141で素子U2が対象
素子として選択されたサイクルでは、ステップS147
の処理が実行される。このとき、図14のタイミングチ
ャートに示すように、素子U1のクロック端子Tへ入力
されるクロックT1が立ち上がった後に、立ち上がりエ
ッジ最小区間Triseを経た時点で、素子U2のクロック
端子Tへ入力されるクロックT2が立ち上がるという最
も厳しい条件に対して、タイミング検証が行われる。
For example, in the cycle in which the element U2 is selected as the target element in step S141, step S147
Is performed. At this time, as shown in the timing chart of FIG. 14, the clock T1 input to the clock terminal T of the element U1 is input to the clock terminal T of the element U2 at a time point after the rising edge minimum section Trise has risen. Timing verification is performed under the most severe condition that the clock T2 rises.

【0075】すなわち、データ転送側クロック情報1が
供給するクロックT1の立ち上がり時期と、回路接続情
報22が供給する素子U1の機能と、配線遅延情報23
とにもとづいて、素子U1の出力端子Qに出力データが
現れる時期が算出される。さらに、回路接続情報22が
供給する素子S1の機能にもとづいて、素子S1による
信号遅延時間と、配線遅延情報23とにもとづいた配線
遅延時間Delay3を考慮した上で、素子U2のデータ入力
端子Dへ入力データが到達する時期が算出される。
That is, the rising timing of the clock T1 supplied by the data transfer side clock information 1, the function of the element U1 supplied by the circuit connection information 22, and the wiring delay information 23.
Based on the above, the time when the output data appears at the output terminal Q of the element U1 is calculated. Further, based on the function of the element S1 supplied by the circuit connection information 22, considering the signal delay time by the element S1 and the wiring delay time Delay3 based on the wiring delay information 23, the data input terminal D of the element U2 is considered. The time when the input data arrives at is calculated.

【0076】そして、クロックT1の立ち上がり時期か
ら立ち上がりエッジ最小区間Trise後に立ち上がる
クロックT2と、素子U2へ到達する入力データとが、
例えばセットアップ時間Setupおよびホールド時間
Holdに関する条件を満たしているか否かが判定され
る。
Then, the clock T2 rising after the rising edge minimum section Trise from the rising timing of the clock T1 and the input data reaching the element U2 are
For example, it is determined whether or not the conditions regarding the setup time Setup and the hold time Hold are satisfied.

【0077】以上のように、装置102を用いることに
よって、非倍周の関係を有する複数のクロックが入力さ
れる対象回路に対して、クロック配線の遅延時間をも考
慮したタイミング検証を、静的タイミングの手法にもと
づいて能率よく実行することが可能である。
As described above, by using the device 102, the timing verification in which the delay time of the clock wiring is also taken into consideration for the target circuit to which a plurality of clocks having a non-double frequency relation is input is It can be executed efficiently based on the timing method.

【0078】なお、クロック情報1,2、データ入力タ
イミング情報9、およびレイアウト情報20などを、外
部から直接に入力する代わりに、記憶媒体を設けておい
て、この記憶媒体にあらかじめこれらの情報を記憶させ
ておき、装置が動作するのにともなって、装置の各部が
記憶媒体から適宜必要な情報を読み出すように、装置1
02を構成してもよい。
Instead of directly inputting the clock information 1 and 2, the data input timing information 9, the layout information 20 and the like from the outside, a storage medium is provided, and this information is stored in advance in this storage medium. The device 1 is stored so that each unit of the device can read necessary information from the storage medium as the device operates.
02 may be configured.

【0079】<3.実施の形態3>実施の形態1,2で
は、いずれもクロックの立ち上がりエッジで動作する素
子を有する対象回路を例として、その動作を説明した。
しかしながら、立ち下がりエッジで動作する素子を有す
る回路、あるいはさらに、クロックのレベルで動作する
いわゆるレベルセンシティブ素子を有する回路をも、対
象回路とすることが可能である。この実施の形態では、
データ転送サイクル数を外部から設定可能とした特徴あ
るタイミング検証装置について説明するとともに、特に
レベルセンシティブ素子を有する回路を対象回路した動
作例を示す。
<3. Third Preferred Embodiment> In the first and second preferred embodiments, the operation has been described by exemplifying the target circuit having the element that operates at the rising edge of the clock.
However, a circuit having an element that operates at the falling edge or a circuit that has a so-called level sensitive element that operates at the level of a clock can also be the target circuit. In this embodiment,
A characteristic timing verification device in which the number of data transfer cycles can be set from the outside will be described, and an operation example in which a circuit having a level sensitive element is a target circuit will be shown.

【0080】図15は、この実施の形態のタイミング検
証装置の動作説明に用いる対象回路の一例を示す回路図
である。この対象回路Y2は、図2に示した対象回路Y
1において、クロックのエッジで動作するフリップフロ
ップとしての素子U1〜U6を、クロックのレベルで動
作するラッチに置き換えた構造を有している。
FIG. 15 is a circuit diagram showing an example of a target circuit used for explaining the operation of the timing verification device of this embodiment. The target circuit Y2 is the target circuit Y shown in FIG.
1 has a structure in which the elements U1 to U6 as flip-flops that operate at the clock edge are replaced with latches that operate at the clock level.

【0081】すなわち、対象回路Y2に備わる素子U1
〜U6は、クロック端子Gへ入力されるクロックの立ち
下がりエッジ、すなわちノーマルレベルからアクティブ
レベルへの遷移において、データ入力端子Dへ入力され
たデータ信号を、クロックがロウレベル(アクティブレ
ベル)である期間にわたって保持して出力端子Qへと出
力し続けるラッチである。クロックがハイレベル(ノー
マルレベル)である期間には、データ入力端子Dへ入力
されたデータ信号は、出力端子Qへとそのまま出力され
る。
That is, the element U1 provided in the target circuit Y2
U6 is a falling edge of the clock input to the clock terminal G, that is, a period in which the clock is at a low level (active level) for the data signal input to the data input terminal D at the transition from the normal level to the active level. It is a latch that holds the output for a while and continues to output to the output terminal Q. While the clock is at the high level (normal level), the data signal input to the data input terminal D is output to the output terminal Q as it is.

【0082】対象回路Y2に入力されるクロックT1〜
T3は、対象回路Y1に入力されるクロックT1〜T3
と同一であるとする。したがって、図4に示した内容
は、対象回路Y2のクロックT1〜T3に対しても、そ
のまま妥当している。
Clocks T1 to T1 input to the target circuit Y2
T3 is a clock T1 to T3 input to the target circuit Y1.
Is the same as. Therefore, the contents shown in FIG. 4 are valid as they are for the clocks T1 to T3 of the target circuit Y2.

【0083】図16は、この実施の形態のタイミング検
証装置103の構成を示すブロック図である。図16に
おいて、30は外部より入力されるデータ転送サイク
ル、31はデータ転送側クロック情報1、データ受信側
クロック情報2、同期時刻4、およびデータスルーラッ
チ段数30にもとづいて、立ち下がりエッジ最小区間を
算出する立ち下がりエッジ最小区間算出部、そして、3
2は立ち下がりエッジ最小区間算出部31で算出された
立ち下がりエッジ最小区間である。
FIG. 16 is a block diagram showing the configuration of the timing verification device 103 of this embodiment. In FIG. 16, 30 is a data transfer cycle input from the outside, 31 is a data transfer side clock information 1, data reception side clock information 2, synchronization time 4, and the number of data through latch stages 30, and the minimum falling edge period Falling edge minimum section calculation unit for calculating
Reference numeral 2 denotes the minimum falling edge section calculated by the minimum falling edge section calculation unit 31.

【0084】以下において、図15に示した対象回路Y
2を例として、装置103の動作について説明する。装
置103は図17のフローチャートに沿って動作する。
すなわち、装置103が動作を開始すると、まずステッ
プS31〜S32の処理が実行される。これらの処理
は、装置101におけるステップS11〜S12の処理
と同一である。
In the following, the target circuit Y shown in FIG.
The operation of the device 103 will be described with reference to No. 2 as an example. The device 103 operates according to the flowchart of FIG.
That is, when the device 103 starts operating, the processes of steps S31 to S32 are first executed. These processes are the same as the processes of steps S11 to S12 in the apparatus 101.

【0085】その後、処理はステップS33へと移行
し、立ち下がりエッジ最小区間算出部31による立ち下
がりエッジ最小区間の算出が行われる。この算出は、ス
テップS32と同様に、図4における組合わせN=1,
3,4,6のそれぞれについて行われる。以下に、クロ
ックT1,T2の組合わせ(N=1)の例について、計
算手順を説明する。
After that, the process proceeds to step S33, and the falling edge minimum section calculating unit 31 calculates the falling edge minimum section. This calculation is performed by the combination N = 1, 1 in FIG.
This is performed for each of 3, 4, and 6. The calculation procedure will be described below for an example of the combination of clocks T1 and T2 (N = 1).

【0086】まず、同期時刻Syn1のつぎの同期時刻
Syn2を、先述の数式(2)にしたがって算出する。
つづいて、データ転送側クロック立ち下がり時刻T1fa
ll_timeが、数式(11):{T1fall_time=Cyc1
×m}で定義される。同様に、データ受信側クロック立
ち下がり時刻T2fall_timeが、数式(12):{T2f
all_time=Cyc2×n}で定義される。ここで、変数
m,nは、いずれも自然数である。
First, the synchronization time Syn2 next to the synchronization time Syn1 is calculated according to the above-mentioned mathematical expression (2).
Next, the data transfer side clock falling time T1fa
ll_time is represented by Formula (11): {T1fall_time = Cyc1
Xm} is defined. Similarly, the data reception side clock fall time T2fall_time is calculated by the following equation (12): {T2f
All_time = Cyc2 × n} is defined. Here, the variables m and n are both natural numbers.

【0087】つづいて、数式(13):{T1fall_tim
e+(データ転送サイクル)<T2fall_time}、数式
(14):{Syn1≦T1fall_time<Syn2}、
および、数式(15):{Syn1<T2fall_time≦
Syn2}で与えられる3通りの条件をすべて満たす範
囲で、T2fall_timeとT1fall_timeの差における最小
値が、立ち下がりエッジ最小区間Tfallとして算出され
る。
Then, the equation (13): {T1fall_tim
e + (data transfer cycle) <T2fall_time}, Formula (14): {Syn1 ≦ T1fall_time <Syn2},
And Expression (15): {Syn1 <T2fall_time ≦
The minimum value of the difference between T2fall_time and T1fall_time is calculated as the falling edge minimum section Tfall in a range that satisfies all three conditions given by Syn2}.

【0088】すなわち、立ち下がりエッジ最小区間Tfa
llは、数式(13)〜(15)を満たす全ての自然数
m,nに対する最小値を、数式(16):{Tfall=M
IN(T2fall_time−T1fall_time)}にもとづいて
算出することによって得られる。なお、数式(13)で
用いられる「データ転送サイクル」は、データ転送サイ
クル30として外部から入力される値である。
That is, the minimum falling edge section Tfa
ll is the minimum value for all natural numbers m and n that satisfy the expressions (13) to (15), and is defined by the expression (16): {Tfall = M
It is obtained by calculating based on IN (T2fall_time-T1fall_time)}. The “data transfer cycle” used in the equation (13) is a value input from the outside as the data transfer cycle 30.

【0089】その結果、データ転送サイクルとして「ゼ
ロ」が入力された場合には、図18のタイミングチャー
トに示すように、立ち下がりエッジ最小区間Tfallは、
クロックT1の立ち下がり時刻から、それ以後のクロッ
クT2の立ち下がり時刻までの時間間隔の最小値として
与えられる。一方、データ転送サイクルとして「1」が
入力された場合には、図19のタイミングチャートに示
すように、立ち下がりエッジ最小区間Tfallは、クロッ
クT1の立ち下がり時刻から、それ以後のクロックT2
の立ち下がり時刻までの時間間隔の最小値に、クロック
T2の1サイクル分を付加した値として与えられる。
As a result, when "zero" is input as the data transfer cycle, as shown in the timing chart of FIG.
It is given as the minimum value of the time interval from the falling time of the clock T1 to the subsequent falling time of the clock T2. On the other hand, when "1" is input as the data transfer cycle, as shown in the timing chart of FIG. 19, the minimum falling edge period Tfall is from the falling time of the clock T1 to the clock T2 after that.
It is given as a value obtained by adding one cycle of the clock T2 to the minimum value of the time interval until the falling time of.

【0090】つぎに、処理はステップS34へと移行す
る。ステップS34では、図7と同様に、ステップS1
41〜S148のサイクルが実行される。例えばステッ
プS141で素子U2が対象素子として選択されたサイ
クルでは、ステップS147の処理が実行される。この
とき、図18または図19のタイミングチャートに示す
ように、クロックT1が立ち下がった後に、立ち下がり
エッジ最小区間Tfallを経た時点で、クロックT2が立
ち下がるという最も厳しい条件に対して、タイミング検
証が行われる。
Then, the process proceeds to step S34. In step S34, as in FIG. 7, step S1
The cycles of 41 to S148 are executed. For example, in the cycle in which the element U2 is selected as the target element in step S141, the process of step S147 is executed. At this time, as shown in the timing chart of FIG. 18 or FIG. 19, the timing verification is performed against the most severe condition that the clock T2 falls at the time when the falling edge minimum section Tfall has passed after the clock T1 fell. Is done.

【0091】すなわち、データ転送側クロック情報1が
供給するクロックT1の立ち下がり時期と、回路接続情
報7が供給する素子U1の機能とにもとづいて、素子U
1の出力端子Qに出力データが現れる時期が算出され
る。さらに、回路接続情報7が供給する素子S1の機能
にもとづいて、素子S1による信号遅延時間Delayを考
慮した上で、素子U2のデータ入力端子Dへ入力データ
が到達する時期が算出される。
That is, based on the falling timing of the clock T1 supplied by the data transfer side clock information 1 and the function of the element U1 supplied by the circuit connection information 7, the element U
The time when the output data appears at the output terminal Q of 1 is calculated. Further, based on the function of the element S1 supplied by the circuit connection information 7, the time at which the input data arrives at the data input terminal D of the element U2 is calculated in consideration of the signal delay time Delay of the element S1.

【0092】そして、クロックT1の立ち下がり時期か
ら立ち下がりエッジ最小区間Tfall後に立ち下がるクロ
ックT2と、素子U2へ到達する入力データとが、例え
ばセットアップ時間Setupおよびホールド時間Holdに
関する条件を満たしているか否かが判定される。データ
転送サイクル30の値は、図18および図19に例示す
るように、素子U1の出力端子Qから素子U2のデータ
入力端子Dまでの信号の遅延時間を考慮して適切に定め
られる。
Whether or not the clock T2 falling after the falling edge minimum section Tfall from the falling timing of the clock T1 and the input data reaching the element U2 satisfy the conditions regarding the setup time Setup and the hold time Hold, for example. Is determined. The value of the data transfer cycle 30 is appropriately determined in consideration of the delay time of the signal from the output terminal Q of the element U1 to the data input terminal D of the element U2, as illustrated in FIGS.

【0093】以上のように、装置103を用いることに
よって、非倍周の関係を有する複数のクロックが入力さ
れる対象回路に対して、データ転送サイクルを考慮した
タイミング検証を、静的タイミングの手法にもとづいて
能率よく実行することが可能である。また、この実施の
形態で例示したように、装置101〜103は、クロッ
クに対してレベルセンシティブな素子を有する対象回路
に対しても、利用が可能である。
As described above, by using the device 103, the timing verification in consideration of the data transfer cycle is performed for the target circuit to which a plurality of clocks having a non-double frequency relationship are input, by the static timing method. It is possible to execute efficiently based on this. Further, as exemplified in this embodiment, the devices 101 to 103 can also be used for a target circuit having a level-sensitive element with respect to a clock.

【0094】なお、クロック情報1,2、回路接続情報
7、データ入力タイミング情報9、およびデータ転送サ
イクル30などを、外部から直接に入力する代わりに、
記憶媒体を設けておいて、この記憶媒体にあらかじめこ
れらの情報を記憶させておき、装置が動作するのにとも
なって、装置の各部が記憶媒体から適宜必要な情報を読
み出すように、装置102を構成してもよい。
Instead of directly inputting the clock information 1 and 2, the circuit connection information 7, the data input timing information 9, the data transfer cycle 30, etc. from the outside,
A storage medium is provided, and these pieces of information are stored in the storage medium in advance, and the device 102 is configured so that each unit of the device appropriately reads necessary information from the storage medium as the device operates. You may comprise.

【0095】<4.実施の形態4>図20は、実施の形
態4のタイミング検証装置104の構成を示すブロック
図である。図20において、41は外部より入力される
回路接続情報7にもとづいて、対象回路を単一クロック
動作論理回路ブロック(以下、「第1種ブロック」と略
称する)と異なる2つのクロック周期で動作する論理回
路ブロック(以下、「第2種ブロック」と略称する)と
に分割する論理回路ブロック分割部、42は論理回路ブ
ロック分割部41によって分割された第1種ブロックに
関する接続情報(以下、「第1種ブロック接続情報」と
略称する)、そして、43は論理回路ブロック分割部4
1によって分割された第2種ブロックに関する情報(以
下、「第2種ブロック接続情報」と略称する)である。
<4. Fourth Preferred Embodiment> FIG. 20 is a block diagram showing a configuration of a timing verification device 104 according to a fourth preferred embodiment. In FIG. 20, reference numeral 41 indicates that the target circuit operates in two clock cycles different from a single-clock operation logic circuit block (hereinafter abbreviated as “first type block”) based on the circuit connection information 7 input from the outside. A logical circuit block dividing unit that divides the logical circuit block (hereinafter abbreviated as “second type block”) into a logical circuit block, and 42 represents connection information regarding the first type block divided by the logical circuit block dividing unit 41 (hereinafter, “second type block”). (Abbreviated as "type 1 block connection information"), and 43 is the logic circuit block dividing unit 4
It is information regarding a type 2 block divided by 1 (hereinafter abbreviated as "type 2 block connection information").

【0096】また、61は対象回路に入力されるクロッ
クの立ち上がり時期、周期等に関する情報、すなわちク
ロック情報である。このクロック情報61は、外部から
付与される。
Reference numeral 61 is information about the rising timing, the cycle, etc. of the clock input to the target circuit, that is, clock information. This clock information 61 is given from the outside.

【0097】さらに、62は第1種ブロックについて、
第1種ブロック接続情報42、クロック情報61、およ
びデータ入力タイミング情報9を参照しつつ、従来周知
の手法で静的タイミング検証を実行する静的タイミング
検証部、45は静的タイミング検証部62によるタイミ
ング検証の結果、46は静的タイミング検証結果45と
クロック情報1とにもとづいて、第2種ブロックに対す
る動的タイミング検証を行うための入力テストパターン
を生成するテストパターン生成部、そして、47はテス
トパターン生成部46によって生成された入力テストパ
ターンである。
Further, reference numeral 62 is for the type 1 block,
A static timing verification unit 62 executes static timing verification by a conventionally known method while referring to the first type block connection information 42, clock information 61, and data input timing information 9, and 45 is a static timing verification unit 62. As a result of the timing verification, 46 is a test pattern generation unit that generates an input test pattern for performing the dynamic timing verification for the second type block based on the static timing verification result 45 and the clock information 1, and 47 is It is an input test pattern generated by the test pattern generation unit 46.

【0098】また、48は第2種ブロックについて、入
力テストパターン47にもとづいて、動的タイミング検
証を行う動的タイミング検証部、49は動的タイミング
検証部48によって得られた動的タイミング検証結果、
50は動的タイミング検証結果49から、第1種ブロッ
クへ入力すべきデータ信号の入力タイミングに関する情
報を抽出するデータ入力タイミング抽出部、そして、5
1はデータ入力タイミング抽出部50で抽出されたデー
タ入力タイミングである。
Further, 48 is a dynamic timing verification unit for performing dynamic timing verification on the second type block based on the input test pattern 47, and 49 is a dynamic timing verification result obtained by the dynamic timing verification unit 48. ,
Reference numeral 50 denotes a data input timing extraction unit that extracts information on the input timing of the data signal to be input to the first type block from the dynamic timing verification result 49, and 5
Reference numeral 1 is a data input timing extracted by the data input timing extraction unit 50.

【0099】動的タイミング検証結果49はテストパタ
ーン生成部46へも入力される。そして、テストパター
ン生成部46は、静的タイミング検証結果45または動
的タイミング検証結果49のいずれかを選択的に参照す
る。また、データ入力タイミング51は、静的タイミン
グ検証部62へも入力される。そして、静的タイミング
検証部62は、データ入力タイミング情報9とデータ入
力タイミング51のいずれかを選択的に参照する。
The dynamic timing verification result 49 is also input to the test pattern generator 46. Then, the test pattern generation unit 46 selectively refers to either the static timing verification result 45 or the dynamic timing verification result 49. The data input timing 51 is also input to the static timing verification unit 62. Then, the static timing verification unit 62 selectively refers to either the data input timing information 9 or the data input timing 51.

【0100】図21は、装置104が検証の対象とする
対象回路の一例を示す回路図である。この対象回路Y3
には、周期が必ずしも同一でない6個のクロックT11
〜T16、および外部入力データData11が、外部か
ら入力端子(図中に白三角で示す)を通じて入力され
る。そして、対象回路Y3は、これらの信号にもとづい
て所定の論理演算を実行し、出力信号Out11,Ou
t12を出力端子(図中に白三角で示す)を通じて外部
へと出力するように構成されている。
FIG. 21 is a circuit diagram showing an example of a target circuit to be verified by the device 104. This target circuit Y3
Includes six clocks T11 whose cycles are not necessarily the same.
To T16 and external input data Data11 are input from the outside through an input terminal (shown by a white triangle in the drawing). Then, the target circuit Y3 executes a predetermined logical operation based on these signals and outputs the output signals Out11, Ou.
It is configured to output t12 to the outside through an output terminal (shown by a white triangle in the figure).

【0101】対象回路Y1が備える7個の素子U10〜
U16は、クロック端子Tへ入力されるクロックの立ち
上がりエッジ、すなわちノーマルレベルからアクティブ
レベルへの遷移に同期して、データ入力端子Dへ入力さ
れたデータ信号を、クロックのつぎの立ち上がりエッジ
まで保持して出力端子Qへと出力し続けるフリップフロ
ップである。素子S101〜S105は、信号の伝搬に
遅延をもらたらす任意の素子、あるいは素子の組み合わ
せである。また、素子S106は、NAND素子であ
る。
Seven elements U10 to 10 provided in the target circuit Y1.
U16 holds the data signal input to the data input terminal D until the next rising edge of the clock in synchronization with the rising edge of the clock input to the clock terminal T, that is, the transition from the normal level to the active level. Is a flip-flop that continues to output to the output terminal Q. The elements S101 to S105 are arbitrary elements or a combination of elements that delay the propagation of signals. The element S106 is a NAND element.

【0102】以下において、この対象回路Y3を例とし
て、装置104の動作について説明する。装置104は
図22のフローチャートに沿って動作する。すなわち、
装置104が動作を開始すると、まずステップS41に
おいて、外部より回路接続情報7が論理回路ブロック分
割部41へ入力され、クロック情報61が静的タイミン
グ検証部62、およびテストパターン生成部46へと入
力される。
The operation of the device 104 will be described below by taking the target circuit Y3 as an example. The device 104 operates according to the flowchart of FIG. That is,
When the device 104 starts operating, first, in step S41, the circuit connection information 7 is input from the outside to the logic circuit block division unit 41, and the clock information 61 is input to the static timing verification unit 62 and the test pattern generation unit 46. To be done.

【0103】これらの回路接続情報7およびクロック情
報61は、外部から手作業で、あるいは外部の入力装置
を用いて付与される。また、これらの情報を論理回路ブ
ロック分割部41あるいは静的タイミング検証部62等
へ直接入力する代わりに、装置104に記憶媒体を設け
ておき、この記憶媒体へ記憶させてもよい。そうして、
静的タイミング検証部62等では、処理が進行する中で
必要に応じて記憶媒体から情報の必要部分を読み出すよ
うにしてもよい。
The circuit connection information 7 and the clock information 61 are provided manually from the outside or by using an external input device. Further, instead of directly inputting such information to the logic circuit block dividing unit 41 or the static timing verification unit 62, a storage medium may be provided in the device 104 and stored in this storage medium. And then
The static timing verification unit 62 or the like may read out a necessary portion of information from the storage medium as needed while the processing is proceeding.

【0104】つぎに、ステップS42において、論理回
路ブロック分割部41による論理回路ブロックへの分割
が行われる。すなわち、対象回路Y3が、第1種ブロッ
クと、第2種ブロックとに分割される。図21に示すよ
うに、対象回路Y3はブロックBL1〜BL9に分割さ
れる。そして、ブロックBL1,BL4,BL9は、そ
れぞれクロックT11,T14,T16のみで動作する
ブロックであり、いずれも第1種ブロックに属する。ブ
ロックBL2,BL3,BL5〜BL8は、いずれも2
個のクロックで動作するブロックであり、第2種ブロッ
クに属する。
Next, in step S42, division into logic circuit blocks is performed by the logic circuit block division unit 41. That is, the target circuit Y3 is divided into a first type block and a second type block. As shown in FIG. 21, the target circuit Y3 is divided into blocks BL1 to BL9. The blocks BL1, BL4, and BL9 are blocks that operate only with the clocks T11, T14, and T16, respectively, and all belong to the type 1 block. Blocks BL2, BL3, BL5-BL8 are all 2
It is a block that operates with individual clocks and belongs to the second type block.

【0105】回路接続情報7の中から第1種ブロックに
属するブロックBL1,BL4,BL9の各々に関する
部分を抽出することによって、第1種ブロック接続情報
42が得られる。同様に、第2種ブロックに属するブロ
ックBL2,BL3,BL5〜BL8の各々に関する部
分を抽出することによって、第2種ブロック接続情報4
3が得られる。
The first type block connection information 42 is obtained by extracting the portions of the blocks BL1, BL4, BL9 belonging to the first type block from the circuit connection information 7. Similarly, the second type block connection information 4 is obtained by extracting the portions related to each of the blocks BL2, BL3, BL5 to BL8 belonging to the second type block.
3 is obtained.

【0106】つぎに、処理はステップS43へと移行
し、静的タイミング検証部62によって、第1種ブロッ
クに分類されたブロックBL1,BL4,BL9の中
の、最も入力側に位置するブロックBL1に対する静的
タイミング検証が行われる。ブロックBL1には、ただ
一つのクロックT11が入力されているために、ブロッ
クBL1の静的タイミング検証、すなわち素子U10,
U11に対する静的タイミング検証は、単一クロックで
動作する対象回路に対する従来周知の手法で行われる。
Next, the process proceeds to step S43, and the block BL1 located closest to the input side among the blocks BL1, BL4, BL9 classified as the first type block by the static timing verification unit 62 is performed. Static timing verification is done. Since only one clock T11 is input to the block BL1, the static timing verification of the block BL1, that is, the element U10,
The static timing verification for U11 is performed by a conventionally known method for a target circuit that operates with a single clock.

【0107】このとき、第1種ブロック接続情報42に
もとづいて、素子U10,U11の動作、セットアップ
時間Setup,ホールド時間Hold等の特性、および素子
S101による遅延時間DelayAが把握される。また、
データ入力タイミング情報9にもとづいて外部入力デー
タData11のタイミングが把握され、クロック情報6
1にもとづいてクロックT11のタイミングが把握され
る。タイミング検証の結果は、静的タイミング検証結果
45として出力される。
At this time, the operation of the elements U10 and U11, the characteristics such as the setup time Setup and the hold time Hold, and the delay time DelayA due to the element S101 are ascertained based on the first type block connection information 42. Also,
The timing of the external input data Data11 is grasped based on the data input timing information 9, and the clock information 6
Based on 1, the timing of the clock T11 is grasped. The result of the timing verification is output as the static timing verification result 45.

【0108】つぎに、ステップS44で出力側にブロッ
クが存在するか否かが判定される。ブロックBL1の出
力側には、第2種ブロックであるブロックBL2が存在
するので、判定結果は「Yes」であり、処理はステッ
プS46へと移行す。ステップS46では、ブロックB
L2に対する動的タイミング検証を実行するための入力
テストパターンが、ブロックBL1に対する静的タイミ
ング検証結果45にもとづいて作成される。すなわち、
テストパターン生成部46によって、ブロックBL2へ
の2つの入力信号のパターン、すなわち素子U11のデ
ータ入力端子Dへ入力されるデータ信号とクロック端子
Tへ入力されるクロック信号のパターンが生成される。
Next, in step S44, it is determined whether or not a block exists on the output side. Since the block BL2, which is the second type block, exists on the output side of the block BL1, the determination result is “Yes”, and the process proceeds to step S46. In step S46, block B
An input test pattern for performing dynamic timing verification for L2 is created based on the static timing verification result 45 for block BL1. That is,
The test pattern generation unit 46 generates patterns of two input signals to the block BL2, that is, patterns of a data signal input to the data input terminal D and a clock signal input to the clock terminal T of the element U11.

【0109】図23は、テストパターン生成部46で作
成されるブロックBL2の入力テストパターンの例を示
すタイミングチャートである。図23に示すように、素
子U11のデータ入力端子Dへ入力されるデータ信号U
11/Dは、クロック端子Tへ入力されるクロック信号
T11が2度立ち上がる毎に変化し、しかも、遅延時間
DelayAだけ遅延している。
FIG. 23 is a timing chart showing an example of the input test pattern of the block BL2 created by the test pattern generator 46. As shown in FIG. 23, the data signal U input to the data input terminal D of the element U11.
11 / D changes every time the clock signal T11 input to the clock terminal T rises twice, and is delayed by the delay time DelayA.

【0110】つぎに、処理はステップS47へ移行し、
動的タイミング検証部48によって、ブロックBL2に
対する動的タイミング検証が行われる。動的タイミング
検証は、論理シミュレーションを用いてタイミング検証
を行うものであり、従来周知の手法である。動的タイミ
ング検証部48は、第2種ブロック接続情報43にもと
づいて、ブロックBL2を構成する各素子U11,U1
2,S102の種類と接続状態を把握し、入力テストパ
ターン47が入力されたときの、各素子の挙動をシミュ
レートする。
Then, the process proceeds to step S47,
The dynamic timing verification unit 48 performs dynamic timing verification on the block BL2. The dynamic timing verification is a conventionally well-known method for performing timing verification by using a logic simulation. The dynamic timing verification unit 48, based on the second type block connection information 43, each of the elements U11 and U1 that form the block BL2.
2, the type and connection state of S102 are grasped, and the behavior of each element when the input test pattern 47 is input is simulated.

【0111】そして、シミュレーションの結果にもとづ
いて、セットアップ時間Setup、ホールド時間Hold等
の条件を満たしているか否かが判定される。したがっ
て、素子S102による遅延時間DelayBをも考慮した
検証が行われる。検証の結果は、動的タイミング検証結
果49として出力される。
Then, based on the result of the simulation, it is judged whether or not the conditions such as the setup time Setup and the hold time Hold are satisfied. Therefore, the verification is performed in consideration of the delay time DelayB due to the element S102. The verification result is output as the dynamic timing verification result 49.

【0112】つぎに、ステップS48において、出力側
に第1種ブロックが接続されているか否かが判定され
る。ブロックBL2の出力側には第2種ブロックである
ブロックBL3が接続されているので、判定の結果は
「No」であり、処理はステップS46へと戻る。ステ
ップS46では、ブロックBL3に対する動的タイミン
グ検証を実行するための入力テストパターンが、ブロッ
クBL2に対する動的タイミング検証結果49にもとづ
いて作成される。
Next, in step S48, it is determined whether or not the first type block is connected to the output side. Since the block BL3, which is the second type block, is connected to the output side of the block BL2, the determination result is “No”, and the process returns to step S46. In step S46, an input test pattern for executing the dynamic timing verification for the block BL3 is created based on the dynamic timing verification result 49 for the block BL2.

【0113】その後、処理はステップS47へ移行し、
新たに作成された入力テストパターン47にもとづい
て、ブロックBL3に対する動的タイミング検証が、動
的タイミング検証部48によって実行される。
Thereafter, the processing shifts to step S47,
Based on the newly created input test pattern 47, the dynamic timing verification for the block BL3 is executed by the dynamic timing verification unit 48.

【0114】ブロックBL3の出力側には第1種ブロッ
クであるブロックBL4が接続されているので、つづく
ステップS48では、「Yes」と判定される。したが
って、処理はステップS49へと移行する。ステップS
49では、ブロックBL3に対する動的タイミング検証
結果49から、ブロックBL4のデータ入力タイミン
グ、すなわち素子U14のデータ入力端子Dへ入力され
るデータの入力タイミングが抽出される。この処理は、
データ入力タイミング抽出部50によって行われ、得ら
れたデータは、データ入力タイミング51として出力さ
れる。
Since the block BL4, which is the first type block, is connected to the output side of the block BL3, it is determined "Yes" at the subsequent step S48. Therefore, the process proceeds to step S49. Step S
In 49, the data input timing of the block BL4, that is, the input timing of the data input to the data input terminal D of the element U14 is extracted from the dynamic timing verification result 49 for the block BL3. This process
The data obtained by the data input timing extraction unit 50 is output as the data input timing 51.

【0115】データ入力タイミング抽出部50による抽
出は、図24のタイミングチャートに例示するように、
例えば、素子U12のデータ入力端子Dに入力されるデ
ータが変化する時刻と、クロック端子Tへ入力されるク
ロックT12が変化する時刻との間の時間差が、最小と
なる4種類のタイミングを抽出することによって遂行さ
れる。図24に示すsetup(rise),setup(fall),hold(r
ise),およびhold(fall)が、これらの4種類のタイミン
グにおける最小時間差である。
The extraction by the data input timing extraction section 50 is performed as shown in the timing chart of FIG.
For example, four types of timing are extracted that minimize the time difference between the time when the data input to the data input terminal D of the element U12 changes and the time when the clock T12 input to the clock terminal T changes. Carried out by. Setup (rise), setup (fall), hold (r
ise) and hold (fall) are the minimum time differences at these four types of timings.

【0116】これらの中で、括弧中に「rise」、および
「fall」と記された時間差は、それぞれ、入力データが
立ち上がるとき、および立ち下がるときの時間差であ
る。また、「setup」、および「hold」と記された時間
差は、それぞれ、セットアップ時間Setup、およびホー
ルド時間Holdを指す。
Of these, the time differences marked with "rise" and "fall" in parentheses are the time differences when the input data rises and when the input data falls, respectively. Moreover, the time differences described as “setup” and “hold” refer to setup time Setup and hold time Hold, respectively.

【0117】つぎに、処理はステップS43へ移り、静
的タイミング検証部62によって、ブロックBL4に対
する静的タイミング検証が実行される。このとき、デー
タ入力タイミング情報9は参照されず、代わりに、デー
タ入力タイミング51が参照される。
Then, the process proceeds to step S43, and the static timing verification unit 62 executes the static timing verification for the block BL4. At this time, the data input timing information 9 is not referred to, but the data input timing 51 is referred to instead.

【0118】ブロックBL4の出力側には、もはやブロ
ックは存在しないので、つづくステップS44では、
「No」と判定される。その結果、処理はステップS4
5へ移行する。ステップS45では、未検証のブロック
が対象回路Y3の中に存在するか否かが判定される。ブ
ロックBL5をはじめとするブロックが、未検証のまま
残されているので、「Yes」と判定され、処理はステ
ップS43へと移行する。
Since the block no longer exists on the output side of the block BL4, in the subsequent step S44,
It is determined to be “No”. As a result, the process is step S4.
Go to 5. In step S45, it is determined whether or not an unverified block exists in the target circuit Y3. Since the blocks including the block BL5 are left unverified, it is determined to be “Yes”, and the process proceeds to step S43.

【0119】以上の処理によって、ブロックBL1,B
L2,BL3,BL4の系列に沿ったタイミング検証が
完了する。同様の処理を反復することによって、ブロッ
クBL1,BL5,BL6,BL4の系列、および、ブ
ロックBL1,BL7,BL8,BL9の系列のタイミ
ング検証が行われる。これらすべての検証が完了する
と、ステップS45において、はじめて「No」との判
定が得られ、すべての処理が完了する。
Through the above processing, the blocks BL1 and B
The timing verification along the sequence of L2, BL3, BL4 is completed. By repeating the same process, timing verification of the series of blocks BL1, BL5, BL6, BL4 and the series of blocks BL1, BL7, BL8, BL9 is performed. When all of these verifications are completed, the determination of “No” is obtained for the first time in step S45, and all the processing is completed.

【0120】対象回路Y3では、いずれの系列において
も、第1種ブロックと第1種ブロックの間には、第2種
ブロックのみが存在したが、例えば、ブロックBL1,
BL2,BL3,BL4の系列において、第2種ブロッ
クであるBL2,BL3の間に、第1種ブロック(仮
に、ブロックBL10とする)が存在する対象回路に対
しても、装置104を用いて検証を行うことが可能であ
る。
In the target circuit Y3, only the second type block exists between the first type block and the first type block in any of the series, but for example, the block BL1,
In the series of BL2, BL3, BL4, the device 104 is also used to verify the target circuit in which the first type block (provisionally referred to as block BL10) exists between the second type blocks BL2 and BL3. It is possible to

【0121】以上のように、装置104は、静的タイミ
ングの手法と動的タイミングの手法を回路ブロック毎に
適宜使い分けることによって、周期が同一でない複数の
クロックが入力される対象回路に対するタイミング検証
を可能としている。
As described above, the device 104 appropriately uses the static timing method and the dynamic timing method for each circuit block, thereby performing timing verification on the target circuit to which a plurality of clocks having different periods are input. It is possible.

【0122】なお、対象回路Y3に入力される複数のク
ロックは、周期が異なるだけでなく、互いに独立で同期
しないクロックであってもよい。これらのいずれであっ
ても、装置104は、対象回路の検証を全く同様に実行
する。
The plurality of clocks input to the target circuit Y3 may be clocks having different periods but also independent of each other and not synchronized. With any of these, the device 104 performs the verification of the target circuit in the same manner.

【0123】<5.変形例>上記各実施の形態の装置1
01〜104は、それぞれにおいて例示した形態に限ら
ず、クロックの立ち上がり、立ち下がりのいずれに同期
して動作する回路をも検証対象とすることができる。す
なわち、対象回路は、一般に各クロックのノーマルレベ
ルからアクティブレベルへの変化時刻に同期して動作す
るものであればよい。
<5. Modifications> Device 1 of each of the above embodiments
01 to 104 are not limited to the forms illustrated in each of them, and a circuit that operates in synchronization with either the rising or the falling of the clock can be the verification target. That is, the target circuit may generally operate in synchronization with the change time of each clock from the normal level to the active level.

【0124】さらに、実施の形態3で例示したように、
クロックのレベルで動作するレベルセンシティブな回路
をも検証対象とすることが可能である。実施の形態3で
は、ロウレベルがアクティブレベルである例を示した
が、いうまでもなくアクティブレベルがハイレベルであ
ってもよい。
Furthermore, as illustrated in the third embodiment,
A level-sensitive circuit that operates at the clock level can also be the verification target. Although the third embodiment has shown the example in which the low level is the active level, it goes without saying that the active level may be the high level.

【0125】[0125]

【発明の効果】第1の発明の装置では、非倍周の関係に
ある一対のクロックがそれぞれ入力されるとともに、デ
ータ転送側素子とデータ受信側素子の関係にある素子の
中のデータ受信側素子について、入力されるデータ信号
とクロック信号の間のタイミング検証が行われる。検証
は一対のクロックが変化する時期が最小区間の関係にあ
るという最も厳しい条件に対して行われるので、検証の
目的は達成される。しかも、この検証の手法は静的タイ
ミングの手法に属する。すなわち、静的タイミングの高
速性を損なうことなく、非倍周の関係にあるクロックが
入力される対象回路のタイミング検証が行われる。
In the device of the first aspect of the present invention, a pair of clocks having a non-double frequency relationship are respectively input, and at the data receiving side among the elements having the relationship between the data transfer side element and the data receiving side element. Timing verification between the input data signal and the clock signal is performed on the element. Since the verification is performed under the strictest condition that the timing at which the pair of clocks changes is in the relationship of the minimum interval, the verification purpose is achieved. Moreover, this verification method belongs to the static timing method. That is, the timing verification of the target circuit to which the clocks in the non-multiplied relationship are input is performed without impairing the high speed of the static timing.

【0126】第2の発明の装置では、対象素子検索手
段、パスサーチ手段、およびクロック判定手段が備わ
り、しかも、タイミング評価手段は、クロック判定手段
の判定に応じて、一対のクロックにおける倍周、非倍周
の関係に適応した静的タイミングの手法を選択して実行
する。このため、複数のクロックが入力される対象回路
において、クロック間の関係が倍周、非倍周のいずれで
あっても、あるいは双方の関係を含んでいても、データ
転送側素子とデータ受信側素子の関係を有するすべての
データ受信側素子に対して、静的タイミング検証の手法
で網羅的にタイミング検証が行われる。
The apparatus of the second invention is provided with a target element searching means, a path searching means, and a clock judging means, and further, the timing evaluating means, in accordance with the judgment of the clock judging means, divides the frequency of a pair of clocks, A static timing method adapted to the non-doubled relation is selected and executed. Therefore, in the target circuit to which a plurality of clocks are input, whether the relationship between the clocks is doubled or non-doubled, or includes both relationships, the data transfer side element and the data receiving side Timing verification is comprehensively performed by a static timing verification method for all data reception side elements having a relationship of elements.

【0127】第3の発明の装置では、パスサーチ手段が
データ転送側素子を探し出せなかったとき、すなわちク
ロックに同期して動作するデータ転送側素子を介するこ
となく、データ信号が外部から対象素子へと入力される
場合には、データ入力タイミング情報を参照して、対象
素子のタイミング検証が行われる。したがって、複数の
クロックが入力される対象回路において、クロック間の
関係が倍周、非倍周のいずれであっても、あるいは双方
の関係を含んでいても、対象回路に含まれるすべての素
子に対して、静的タイミング検証の手法で網羅的にタイ
ミング検証が行われる。
In the device of the third invention, when the path search means cannot find the data transfer side element, that is, without passing through the data transfer side element which operates in synchronization with the clock, the data signal is transmitted from the outside to the target element. , The timing verification of the target element is performed with reference to the data input timing information. Therefore, in a target circuit to which a plurality of clocks are input, no matter whether the relationship between the clocks is doubled or non-doubled, or both relationships are included, all elements included in the target circuit are On the other hand, the timing verification is comprehensively performed by the static timing verification method.

【0128】第4の発明の装置では、最小区間の算出に
クロック配線の遅延時間が反映されているので、非倍周
の関係を有する複数のクロックが入力される対象回路に
対して、クロック配線の遅延時間をも考慮したタイミン
グ検証が、静的タイミングの手法にもとづいて高速に実
行される。
In the device of the fourth invention, since the delay time of the clock wiring is reflected in the calculation of the minimum section, the clock wiring is input to the target circuit to which a plurality of clocks having a non-double frequency relationship are input. The timing verification that considers the delay time is also executed at high speed based on the static timing method.

【0129】第5の発明の装置では、バックアノテーシ
ョン手段が備わるので、対象回路のレイアウト設計に付
随して作成されるレイアウト情報を利用することがで
き、回路接続情報、および配線遅延時間に関する情報を
別途準備する必要がない。すなわち、タイミング検証を
行うのに必要な労力、時間が節減される。
Since the apparatus of the fifth invention is provided with the back annotation means, it is possible to use the layout information created in association with the layout design of the target circuit, and to obtain the circuit connection information and the information regarding the wiring delay time. No need to prepare separately. That is, the labor and time required to perform the timing verification are saved.

【0130】第6の発明の装置では、外部から適宜設定
されるデータ転送サイクルが、最小区間に加算されるの
で、非倍周の関係を有する複数のクロックが入力される
対象回路に対して、データ転送サイクルを考慮したタイ
ミング検証が、静的タイミングの手法にもとづいて能率
よく行われる。
In the device of the sixth aspect of the present invention, the data transfer cycle which is appropriately set from the outside is added to the minimum section, so that the target circuit to which a plurality of clocks having a non-double frequency relationship are input, Timing verification considering the data transfer cycle is efficiently performed based on the static timing method.

【0131】第7の発明の装置では、非倍周の関係にあ
るクロックに対して、双方の周期の最小公倍数に相当す
る期間の中で、最小区間の探索が行われるので、能率が
良くしかも探索漏れがない。
In the device of the seventh aspect of the present invention, since the minimum interval is searched for in the period corresponding to the least common multiple of both cycles with respect to the clocks having the non-multiplication frequency, the efficiency is high and There is no omission in search.

【0132】第8の発明の装置では、最小区間算出手段
が、対象回路に入力される複数のクロックの中で互いに
非倍周の関係にあるクロックのすべての組合わせに対し
て、前記最小区間を算出するので、最小区間の算出を必
要とする組合わせを、回路接続情報を参照して選択する
必要がない。すなわち、処理の能率が高められる。
In the apparatus of the eighth aspect of the invention, the minimum interval calculating means sets the minimum interval for all combinations of clocks which are in a non-doubled relationship among a plurality of clocks input to the target circuit. Is calculated, it is not necessary to refer to the circuit connection information and select a combination that requires the calculation of the minimum section. That is, the processing efficiency is improved.

【0133】第9の発明の装置は、静的タイミングの手
法と動的タイミングの手法を、回路ブロックの種別に応
じて適宜使い分け、しかも一つの回路ブロックの検証が
終了すると、この回路ブロックの出力側に接続される回
路ブロックの種別に応じて、必要な入力データを作成す
る。このため、周期が同一でない複数のクロックが入力
される対象回路に対するタイミング検証が網羅的に行わ
れる。また、動的タイミング検証が必要な第2種ブロッ
クに限って動的タイミング検証が行われ、静的タイミン
グ検証が可能な第1種ブロックに対しては、静的タイミ
ングが実行されるので、能率よく検証が行われる。
In the device of the ninth invention, the static timing method and the dynamic timing method are properly used according to the type of circuit block, and when the verification of one circuit block is completed, the output of this circuit block is output. Necessary input data is created according to the type of circuit block connected to the side. Therefore, the timing verification is comprehensively performed on the target circuit to which a plurality of clocks having different periods are input. In addition, the dynamic timing verification is performed only for the type 2 blocks that require the dynamic timing verification, and the static timing is executed for the type 1 blocks that can be subjected to the static timing verification. Well verified.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 実施の形態1の装置のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of an apparatus according to a first embodiment.

【図2】 対象回路の一例を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing an example of a target circuit.

【図3】 実施の形態1の装置の動作を示すフローチャ
ートである。
FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the device according to the first embodiment.

【図4】 クロック情報の例を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of clock information.

【図5】 実施の形態1の装置の動作を説明するタイミ
ングチャートである。
FIG. 5 is a timing chart illustrating the operation of the device according to the first embodiment.

【図6】 実施の形態1の静的タイミング検証部のブロ
ック図である。
FIG. 6 is a block diagram of a static timing verification unit according to the first embodiment.

【図7】 実施の形態1の静的タイミング検証部のフロ
ーチャートである。
FIG. 7 is a flowchart of a static timing verification unit according to the first embodiment.

【図8】 実施の形態1の装置の動作を説明するタイミ
ングチャートである。
FIG. 8 is a timing chart illustrating the operation of the device according to the first embodiment.

【図9】 実施の形態2の装置のブロック図である。FIG. 9 is a block diagram of an apparatus according to a second embodiment.

【図10】 実施の形態2の装置の動作を示すフローチ
ャートである。
FIG. 10 is a flowchart showing an operation of the device according to the second embodiment.

【図11】 対象回路の一部を示すブロック図である。FIG. 11 is a block diagram showing a part of a target circuit.

【図12】 実施の形態2の装置の動作を示すタイミン
グチャートである。
FIG. 12 is a timing chart showing the operation of the device according to the second embodiment.

【図13】 実施の形態1の静的タイミング検証部のブ
ロック図である。
FIG. 13 is a block diagram of a static timing verification unit according to the first embodiment.

【図14】 実施の形態2の装置の動作を示すタイミン
グチャートである。
FIG. 14 is a timing chart showing the operation of the device according to the second embodiment.

【図15】 対象回路の別の例を示すブロック図であ
る。
FIG. 15 is a block diagram showing another example of the target circuit.

【図16】 実施の形態3の装置のブロック図である。FIG. 16 is a block diagram of an apparatus according to a third embodiment.

【図17】 実施の形態3の装置の動作を示すフローチ
ャートである。
FIG. 17 is a flowchart showing the operation of the apparatus according to the third embodiment.

【図18】 実施の形態3の装置の動作を示すタイミン
グチャートである。
FIG. 18 is a timing chart showing the operation of the device according to the third embodiment.

【図19】 実施の形態3の装置の動作を示すタイミン
グチャートである。
FIG. 19 is a timing chart showing the operation of the device according to the third embodiment.

【図20】 実施の形態4の装置のブロック図である。FIG. 20 is a block diagram of an apparatus according to the fourth embodiment.

【図21】 対象回路のさらに別の例を示すブロック図
である。
FIG. 21 is a block diagram showing still another example of the target circuit.

【図22】 実施の形態4の装置の動作を示すフローチ
ャートである。
FIG. 22 is a flowchart showing an operation of the apparatus according to the fourth embodiment.

【図23】 実施の形態4の装置の動作を示すタイミン
グチャートである。
FIG. 23 is a timing chart showing the operation of the device according to the fourth embodiment.

【図24】 実施の形態4の装置の動作を示すタイミン
グチャートである。
FIG. 24 is a timing chart showing the operation of the device according to the fourth embodiment.

【図25】 従来の装置のブロック図である。FIG. 25 is a block diagram of a conventional device.

【図26】 従来の装置の動作を示すタイミングチャー
トである。
FIG. 26 is a timing chart showing the operation of the conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 データ転送側クロック情報(クロック情報)、2
データ受信側クロック情報(クロック情報)、5 立ち
上がりエッジ最小区間算出部(最小区間算出手段)、7
回路接続情報、9 データ入力タイミング情報、20
レイアウト情報、21 バックアノテーション装置
(バックアノテーション手段)、23 配線遅延情報、
24 クロックディレイ算出部(クロックディレイ算出
手段)、27 クロックディレイ加算部(クロックディ
レイ加算手段)、30 データ転送サイクル(データ転
送サイクル情報)、41 論理回路ブロック分割部(ブ
ロック分割手段)、42 第1種ブロック接続情報、4
3 第2種ブロック接続情報、46 テストパターン生
成部(テストパターン生成手段)、48 動的タイミン
グ検証部(動的タイミング検証手段)、50 データ入
力タイミング抽出部(データ入力タイミング抽出手
段)、62 静的タイミング検証部(静的タイミング検
証手段)、81 対象素子検索部(対象素子検索手
段)、82 パスサーチ部(パスサーチ手段)、83
クロック判定部(クロック判定手段)、84 タイミン
グ評価部(タイミング評価手段)、Trise 立ち上がり
エッジ最小区間(最小区間)、Tfall 立ち下がりエッ
ジ最小区間(最小区間)。
1 data transfer side clock information (clock information), 2
Data receiving side clock information (clock information), 5 rising edge minimum section calculation unit (minimum section calculation means), 7
Circuit connection information, 9 Data input timing information, 20
Layout information, 21 back annotation device (back annotation means), 23 wiring delay information,
24 clock delay calculating unit (clock delay calculating unit), 27 clock delay adding unit (clock delay adding unit), 30 data transfer cycle (data transfer cycle information), 41 logic circuit block dividing unit (block dividing unit), 42 first Seed block connection information, 4
3 type 2 block connection information, 46 test pattern generation unit (test pattern generation means), 48 dynamic timing verification unit (dynamic timing verification means), 50 data input timing extraction unit (data input timing extraction means), 62 static Timing verification section (static timing verification means), 81 target element search section (target element search means), 82 path search section (path search means), 83
Clock determination unit (clock determination unit), 84 Timing evaluation unit (timing evaluation unit), Trise rising edge minimum section (minimum section), Tfall falling edge minimum section (minimum section).

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 表 由美 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 藤原 隆充 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 浜野 博之 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor table Yumi Marunouchi 2-3-3 Chiyoda-ku, Tokyo Sanryo Electric Co., Ltd. (72) Inventor Takamitsu Fujiwara 2-3-3 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Ryodenki Co., Ltd. (72) Inventor Hiroyuki Hamano 2-3-3 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Sanryo Denki Co., Ltd.

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数のクロックに同期して動作する複数
の素子を含む対象回路のタイミング検証を行うタイミン
グ検証装置において、 前記複数のクロックを規定したクロック情報にもとづい
て、前記複数のクロックの中で互いに非倍周の関係にあ
るクロックに対して、一方レベルから他方レベルへ変化
する時刻が、互いに一致しない範囲で最も近接した時間
区間すなわち最小区間を算出する最小区間算出手段と、 非倍周の関係にある一対のクロックがそれぞれ入力され
るとともに、データ転送側素子とデータ受信側素子の関
係にある前記複数の素子の中の一対と、それらの間のデ
ータ信号の経路と、を含む回路部分に対して、前記対象
回路を規定した回路接続情報を参照し、しかも、前記一
対のクロックの変化時刻が前記最小区間の関係にあるこ
とを条件として、前記データ受信側素子へ入力されるク
ロックと前記データ信号との間のタイミングの検証を実
行するタイミング評価手段と、 を備えることを特徴とするタイミング検証装置。
1. A timing verification device for verifying the timing of a target circuit including a plurality of elements that operate in synchronization with a plurality of clocks, wherein the clocks among the plurality of clocks are based on clock information defining the plurality of clocks. With respect to the clocks that are in a non-double frequency relationship with each other, the minimum interval calculating means that calculates the closest time interval, that is, the minimum interval, in the range in which the times when one level changes to the other level do not match each other, and the non-double frequency A circuit including a pair of the plurality of elements having a relationship of a data transfer side element and a data receiving side element and a path of a data signal between them while a pair of clocks having the relationship of For the part, the circuit connection information defining the target circuit is referred to, and the change time of the pair of clocks is related to the minimum interval. On condition that, timing verification apparatus characterized by comprising: a timing evaluation means, a to perform validation of the timing between the clock and the data signal input to the data receiver elements.
【請求項2】 複数のクロックに同期して動作する複数
の素子を含む対象回路のタイミング検証を行うタイミン
グ検証装置において、 前記複数のクロックを規定したクロック情報にもとづい
て、前記複数のクロックの中で互いに非倍周の関係にあ
るクロックに対して、一方レベルから他方レベルへ変化
する時刻が、互いに一致しない範囲で最も近接した時間
区間すなわち最小区間を算出する最小区間算出手段と、 前記対象回路を規定した回路接続情報にもとづいて、前
記複数の素子の中から順次一つずつ対象素子として選び
出す対象素子検索手段と、 前記対象素子検索手段で選び出された前記対象素子をデ
ータ受信側素子とし、これに対応するデータ転送側素子
を、前記回路接続情報にもとづいて、前記複数の素子の
中から探し出すパスサーチ手段と、 前記クロック情報にもとづいて、前記データ転送側素子
と前記データ受信側素子とにそれぞれ入力される一対の
クロックの関係が、倍周と非倍周のいずれであるかにつ
いて判定を行うクロック判定手段と、 前記データ転送側素子、前記データ受信側素子、および
それらの間のデータ信号の経路を含む回路部分に対し
て、前記回路接続情報を参照するとともに、前記判定の
結果が倍周であるときには、前記クロック情報を参照
し、前記判定の結果が非倍周であるときには、前記一対
のクロックの変化時刻が前記最小区間の関係にあること
を条件とすることによって、前記データ受信側素子へ入
力されるクロックと前記データ信号との間のタイミング
の検証を実行するタイミング評価手段と、 を備えることを特徴とするタイミング検証装置。
2. A timing verification device for verifying the timing of a target circuit including a plurality of elements that operate in synchronization with a plurality of clocks, wherein the plurality of clocks among the plurality of clocks are defined based on clock information defining the plurality of clocks. A minimum interval calculating means for calculating the closest time interval, that is, the minimum interval, in a range in which the times at which the levels change from one level to the other level do not coincide with each other with respect to the clocks having a non-double frequency relationship with each other; On the basis of the circuit connection information that defines the target element search means for sequentially selecting one as a target element from the plurality of elements, and the target element selected by the target element search means as a data receiving side element. , A data transfer-side element corresponding to this is searched for from the plurality of elements based on the circuit connection information. And a means for determining, based on the clock information, whether the relation between the pair of clocks respectively input to the data transfer side element and the data reception side element is doubled or non-doubled. The circuit connection information is referred to for a circuit portion including a clock determination means, the data transfer side element, the data reception side element, and a data signal path between them, and the determination result is doubled. Is referred to, the clock information is referred to, and when the result of the determination is a non-doubled frequency, the data reception side is controlled by the condition that the change times of the pair of clocks are in the relationship of the minimum interval. Timing evaluation means for executing timing verification between a clock input to the device and the data signal; Apparatus.
【請求項3】 請求項2に記載のタイミング検証装置に
おいて、 前記タイミング評価手段は、さらに、前記パスサーチ手
段が前記データ転送側素子を探し出せなかったときに
は、前記対象素子と当該対象素子へ入力される外部入力
データ信号の経路とを含む回路部分に対して、前記回路
接続情報を参照するとともに、前記外部入力データ信号
を規定するデータ入力タイミング情報と、前記クロック
情報とにもとづいて、前記対象素子へ入力されるクロッ
クと前記外部入力データ信号との間のタイミングの検証
を実行することを特徴とするタイミング検証装置。
3. The timing verification apparatus according to claim 2, wherein the timing evaluation unit further inputs the target element and the target element when the path search unit cannot find the data transfer side element. The target element based on the data input timing information that defines the external input data signal and the clock information while referring to the circuit connection information with respect to the circuit portion including the path of the external input data signal. A timing verification device, characterized in that it verifies the timing between a clock input to the external input data signal and the external input data signal.
【請求項4】 請求項1ないし請求項3のいずれかに記
載のタイミング検証装置において、 前記対象回路の配線の信号遅延時間を規定する配線遅延
情報と、前記回路接続情報とにもとづいて、前記複数の
素子へクロックを伝達する複数のクロック配線の遅延時
間を個別に算出するクロックディレイ算出手段と、 前記複数の素子ごとに、当該素子に入力されるクロック
に関して前記クロック情報が規定するタイミングに前記
遅延時間を加算することによって、ディレイ付きクロッ
ク情報を作成するクロックディレイ加算手段と、 をさらに備え、 前記最小区間算出手段は、前記クロック情報の代わりに
前記ディレイ付きクロック情報を参照することによっ
て、前記最小区間を算出することを特徴とするタイミン
グ検証装置。
4. The timing verifying device according to claim 1, wherein the wiring delay information that defines a signal delay time of the wiring of the target circuit and the circuit connection information are used for the above-mentioned wiring. Clock delay calculating means for individually calculating delay times of a plurality of clock wirings for transmitting a clock to a plurality of elements; and, for each of the plurality of elements, at a timing specified by the clock information with respect to a clock input to the element. Clock delay adding means for creating delay-added clock information by adding a delay time; and the minimum interval calculating means, by referring to the delay-added clock information instead of the clock information, A timing verification device characterized by calculating a minimum interval.
【請求項5】 請求項4に記載のタイミング検証装置に
おいて、 前記対象回路のレイアウトを規定するレイアウト情報か
ら、前記回路接続情報と前記配線遅延時間とを抽出する
バックアノテーション手段を、 さらに備えることを特徴とするタイミング検証装置。
5. The timing verification apparatus according to claim 4, further comprising back annotation means for extracting the circuit connection information and the wiring delay time from layout information that defines a layout of the target circuit. A characteristic timing verification device.
【請求項6】 請求項1ないし請求項3のいずれかに記
載のタイミング検証装置において、 前記最小区間算出手段は、算出した前記最小区間に、デ
ータ転送サイクル情報に規定されるデータ転送サイクル
を加算し、 前記タイミング評価手段は、前記データ転送サイクルが
加算された値を前記最小区間として参照することを特徴
とするタイミング検証装置。
6. The timing verification apparatus according to claim 1, wherein the minimum interval calculation means adds a data transfer cycle specified by data transfer cycle information to the calculated minimum interval. The timing verification means refers to the value obtained by adding the data transfer cycles as the minimum section.
【請求項7】 請求項1ないし請求項6のいずれかに記
載のタイミング検証装置において、 前記最小区間算出手段は、非倍周の関係にあるクロック
に対して、双方の周期の最小公倍数に相当する期間の中
で、前記最小区間を探索することを特徴とするタイミン
グ検証装置。
7. The timing verification device according to claim 1, wherein the minimum interval calculation means corresponds to a least common multiple of both cycles with respect to a clock having a non-double frequency relationship. The timing verification apparatus is characterized in that the minimum section is searched for in the period.
【請求項8】 請求項1ないし請求項7のいずれかに記
載のタイミング検証装置において、 前記最小区間算出手段は、前記複数のクロックの中で互
いに非倍周の関係にあるクロックのすべての組合わせに
対して、前記最小区間を算出することを特徴とするタイ
ミング検証装置。
8. The timing verification apparatus according to claim 1, wherein the minimum interval calculation means includes all sets of clocks that are in a non-double frequency relationship among the plurality of clocks. A timing verification apparatus, characterized in that the minimum section is calculated for the matching.
【請求項9】 複数のクロックに同期して動作する複数
の素子を含む対象回路のタイミング検証を行うタイミン
グ検証装置において、 前記対象回路を規定した回路接続情報にもとづいて、単
一クロックに同期して動作する第1種ブロックと、異な
る2つのクロックに同期して動作する第2種ブロックと
によって、前記対象回路を分割し、前記回路接続情報か
ら、前記第1種ブロックに関する第1種ブロック接続情
報と、前記第2種ブロックに関する第2種ブロック接続
情報とを抽出するブロック分割手段と、 前記第1種ブロックに対して、静的タイミング検証を実
行する静的タイミング検証手段と、 前記第2種ブロックに対する動的タイミング検証を行う
ための入力テストパターンを生成するテストパターン生
成手段と、 前記入力テストパターンと前記第2種ブロック接続情報
とにもとづいて、前記第2種ブロックに対する動的タイ
ミング検証を実行するとともに、動的タイミング検証の
対象とされた第2種ブロックの出力側に別の第2種ブロ
ックが接続されるときには、この動的タイミング検証の
結果を前記テストパターン生成部へ供給する動的タイミ
ング検証手段と、 前記動的タイミング検証の対象とされた第2種ブロック
の出力側に第1種ブロックが接続されるときには、前記
動的タイミング検証の結果から、この第1種ブロックへ
入力されるデータ信号のタイミングを規定するデータ入
力タイミング情報を抽出して、前記静的タイミング検証
手段へ供給するデータ入力タイミング抽出手段と、を備
え、 前記静的タイミング検証部は、前記第1種ブロック接続
情報と前記複数のクロックを規定するクロック情報とを
参照するとともに、前記対象回路の外部から入力される
外部入力データ信号を規定するデータ入力タイミング情
報と、データ入力タイミング抽出手段から供給されるデ
ータ入力タイミング情報とのいずれかを、さらに選択的
に参照することによって、前記静的タイミング検証を実
行し、 前記テストパターン生成手段は、前記クロック情報を参
照するとともに、前記静的タイミング検証の結果と、前
記動的タイミング検証の結果とのいずれかを、さらに選
択的に参照することによって、前記入力テストパターン
を生成することを特徴とするタイミング検証装置。
9. A timing verification device for verifying the timing of a target circuit including a plurality of elements that operate in synchronization with a plurality of clocks, wherein the target circuit is synchronized with a single clock based on circuit connection information defining the target circuit. The target circuit is divided into a first type block that operates in accordance with two different clocks, and a second type block that operates in synchronization with two different clocks, and the first type block connection relating to the first type block from the circuit connection information. Block dividing means for extracting information and second type block connection information relating to the second type block; static timing verifying means for performing static timing verification on the first type block; Test pattern generation means for generating an input test pattern for performing dynamic timing verification on the seed block; The dynamic timing verification for the second type block on the basis of the second type block connection information and the second type block on the output side of the second type block subjected to the dynamic timing verification. When two kinds of blocks are connected, a dynamic timing verification means for supplying a result of the dynamic timing verification to the test pattern generation unit and an output side of the second kind block targeted for the dynamic timing verification. When the type 1 block is connected, data input timing information that defines the timing of the data signal input to the type 1 block is extracted from the result of the dynamic timing verification, and the static timing verification means. Data input timing extracting means for supplying the data to the first type block connection information. Of the data input timing information that specifies the external input data signal input from the outside of the target circuit and the data input timing information that is supplied from the data input timing extraction means. By selectively referring to any one of them, the static timing verification is executed, the test pattern generation means refers to the clock information, and the static timing verification result and the dynamic timing. A timing verification device, wherein the input test pattern is generated by further selectively referring to one of verification results.
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