JPH09211048A - Examining apparatus for liquid crystal display panel - Google Patents

Examining apparatus for liquid crystal display panel

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JPH09211048A
JPH09211048A JP1454696A JP1454696A JPH09211048A JP H09211048 A JPH09211048 A JP H09211048A JP 1454696 A JP1454696 A JP 1454696A JP 1454696 A JP1454696 A JP 1454696A JP H09211048 A JPH09211048 A JP H09211048A
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JP
Japan
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probe
liquid crystal
crystal display
display panel
input terminal
Prior art date
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Application number
JP1454696A
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Japanese (ja)
Inventor
Mikio Kino
三喜男 木埜
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an examining apparatus which performs defective display inspection of a liquid crystal display panel correctly for stabilizing quality of the panel and also improves productivity. SOLUTION: A probe substrate 7 is fixed to a probe body 6 provided approximately vertically to an input terminal 8 of a liquid crystal display panel 2 so that it can retreat, and probe electrodes 9 (A9, B9) are arranged on the probe substrate 7 with a pitch interval equal to that of the input terminal 8 for joining a plurality of probe needles 10 to the respective probe electrodes 9. The probe electrode 9 comprises a conductor pattern etched on a printed board, and the plurality of probe needles 10 are wire-bonded to it.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示(LC
D:LiqudCrystalDisply)パネルの
表示欠陥検査に使用される液晶表示パネル検査装置に関
するものである。
The present invention relates to a liquid crystal display (LC).
D: Liquid Crystal Display) The present invention relates to a liquid crystal display panel inspection device used for display defect inspection of a panel.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、液晶表示パネルの製造工程におい
て、液晶表示パネルを製品に組み込む前に表示欠陥個所
を検査する表示欠陥検査が行われている。この表示欠陥
検査を行う装置が液晶表示パネル検査装置である。従
来、この装置においては、特開平6ー308034号公
報に開示されているように、液晶表示パネルに備わった
複数の入力端子に検査用の外部端子をコンタクトプルー
ブ針にて接触させ、ドライバ信号を印加して、液晶表示
パネルの表示画面を点灯させ、点灯した表示画面を検査
員が目視し判別するか、あるいはCCDカメラにて画像
認識し、自動的に欠陥個所を判別している。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a manufacturing process of a liquid crystal display panel, a display defect inspection for inspecting a display defect portion before incorporating the liquid crystal display panel into a product is performed. A device for performing this display defect inspection is a liquid crystal display panel inspection device. Conventionally, in this device, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 6-308034, a plurality of input terminals provided on a liquid crystal display panel are brought into contact with external terminals for inspection by contact probe needles to output a driver signal. By applying the voltage, the display screen of the liquid crystal display panel is turned on and the inspected person visually checks the turned-on display screen, or the image is recognized by the CCD camera to automatically determine the defective portion.

【0003】一般的には、液晶表示パネル検査装置にお
いて、被検査部品の液晶表示パネルにドライバ信号を供
給するためには、特開平6−308034号公報に開示
されているようにコンタクトプローブを用いて、コンタ
クトプルーブの各針先を液晶表示パネルの入力端子に接
触させ、ドライバ信号を供給している。一般的には、こ
のコンタクトプローブのように、コンタクトプローブの
各針先と液晶表示パネルの入力端子とは1:1の割合で
設けられている。
Generally, in a liquid crystal display panel inspection apparatus, in order to supply a driver signal to a liquid crystal display panel of a component to be inspected, a contact probe is used as disclosed in JP-A-6-308034. Then, each needle tip of the contact probe is brought into contact with the input terminal of the liquid crystal display panel to supply the driver signal. Generally, like this contact probe, each needle tip of the contact probe and the input terminal of the liquid crystal display panel are provided at a ratio of 1: 1.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来の液晶表示パネル
検査装置にあっては、液晶表示パネルの入力端子1ケ所
に対して、コンタクトプローブの各針先が1本しか設置
されていないので、液晶表示パネルを検査装置に載置す
る際、水平方向の位置ズレが生じた場合、あるいは、入
力端子にゴミやホコリ等が付着している場合には、コン
タクトプローブ1本の針先が導通不良になれば、液晶表
示パネルにドライバ信号が供給できなくなり、液晶表示
パネルが正常に動作しなくなる。このために、表示欠陥
検査に支障を来し、液晶表示パネルの品質を安定させる
ことができなくなり、生産性を下げる結果となる。
In the conventional liquid crystal display panel inspection apparatus, since only one needle of each contact probe is installed for one input terminal of the liquid crystal display panel, the liquid crystal When the display panel is placed on the inspection device, if there is a horizontal misalignment, or if there is dust or dirt on the input terminal, the needle tip of one contact probe may become defective. Then, the driver signal cannot be supplied to the liquid crystal display panel, and the liquid crystal display panel does not operate normally. Therefore, the display defect inspection is hindered, the quality of the liquid crystal display panel cannot be stabilized, and the productivity is reduced.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする手段】上記問題点を解決する
ために、本発明は、液晶表示パネルの入力端子に接触
し、本体よりドライバ信号を供給するプローブ針を、入
力端子と同ピッチ間隔で配列された夫々のプローブ電極
に対して複数本接合させている。そして、該プローブ針
を、プリント配線板上にエッチングされた導体パターン
よりなるプローブ電極にワイヤボンディングすることと
している。また、前記プローブ針は、1本の導電線を交
互にZ状にプローブ電極にワイヤボンディングしたもの
でもよいとしている。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above problems, the present invention provides a probe needle, which comes into contact with an input terminal of a liquid crystal display panel and supplies a driver signal from the main body, at the same pitch interval as the input terminal. A plurality of probes are joined to each of the arrayed probe electrodes. Then, the probe needle is wire-bonded to a probe electrode made of a conductor pattern etched on the printed wiring board. Further, the probe needle may be one in which one conductive wire is alternately wire-bonded to the probe electrode in a Z shape.

【0006】その結果、このようなプローブ針により、
液晶表示パネルの入力端子1ケ所に対し、複数のプロー
ブ針が接触するため、入力端子とプローブ電極が水平方
向に位置ズレを起こしても、位置ずれを吸収することで
きると共に、入力端子にゴミ等が付着しても、プローブ
電極に複数本のプローブ針が接合されているため、ゴミ
を介していない他のプローブ針にて導通を維持すること
ができる。
As a result, with such a probe needle,
Since a plurality of probe needles come into contact with one input terminal of the liquid crystal display panel, even if the input terminal and the probe electrode are misaligned in the horizontal direction, the positional deviation can be absorbed, and the input terminal is dusted. Even if adheres, since a plurality of probe needles are joined to the probe electrode, it is possible to maintain conduction with another probe needle that does not pass through dust.

【0007】このため、安定した表示欠陥検査を行うこ
とができ、液晶表示パネルの品質を安定させると共に、
生産性を向上させることができる。
Therefore, a stable display defect inspection can be performed, the quality of the liquid crystal display panel is stabilized, and
Productivity can be improved.

【0008】また、プローブ針は、プリント配線板に直
接複数本のプローブ針、あるいは、1本の導電線を交互
にZ状に複数ケ所ワイヤボンディングすることにより、
プローブ針間を狭ピッチで配設することが可能となる。
Further, the probe needle is formed by directly bonding a plurality of probe needles to a printed wiring board or alternately wire-bonding one conductive wire at a plurality of Z-shaped positions.
It is possible to arrange the probe needles at a narrow pitch.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】本発明は、液晶表示パネル検査装
置において、プローブ手段は、液晶表示パネルの入力端
子に対して昇降自在に取り付けられたプローブ本体と、
該プローブ本体に固定されたプローブ基板よりなる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention is a liquid crystal display panel inspection apparatus, wherein the probe means is a probe main body attached to an input terminal of the liquid crystal display panel so as to be able to move up and down.
The probe substrate is fixed to the probe body.

【0010】そして、プローブ基板は、プローブ本体に
固定された状態において基板下面側に、液晶表示パネル
の入力端子と同ピッチ間隔でプローブ電極が配列され、
該プローブ電極の夫々に複数個のプローブ針が接合され
たものである。そして、プローブ本体が降下すると、前
記入力端子1ケ所に対して、プローブ針の全て、若しく
はいずれかが必ず接触するものである。
The probe substrate is fixed to the probe body, and the probe electrodes are arranged on the lower surface of the substrate at the same pitch as the input terminals of the liquid crystal display panel.
A plurality of probe needles are joined to each of the probe electrodes. When the probe body descends, one or all of the probe needles will surely come into contact with the one input terminal.

【0011】また、上記プローブ電極は、プリント配線
板にエッチングされた導体パターンよりなり、該導体パ
ターンに複数本のプローブ針をワイヤボンディングした
ものである。
Further, the probe electrode is composed of a conductor pattern etched on a printed wiring board, and a plurality of probe needles are wire-bonded to the conductor pattern.

【0012】また、前記プローブ針は、1本の導電線を
交互にZ状にワイヤボンディングすることにより、複数
本のプローブ針としたものでもよい。
Further, the probe needle may be a plurality of probe needles by alternately wire-bonding one conductive wire in a Z shape.

【0013】[0013]

【実施例】実施例について図面を参照にして説明する
と、図1及び図2において、液晶表示パネルの表示欠陥
個所を検査する液晶表示パネル検査装置1は、液晶表示
パネル2を載置するステージ3があり、液晶表示パネル
2の入力端子8にドライバ信号を供給するプローブ手段
4を昇降させる昇降ステージ5が装着している。プロー
ブ手段4は、昇降ステージ5に昇降自在に取り付けられ
たプローブ本体6と、プローブ本体6の下部に固定され
たプローブ基板7よりなる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment will be described with reference to the drawings. In FIGS. 1 and 2, a liquid crystal display panel inspection apparatus 1 for inspecting a display defect portion of a liquid crystal display panel includes a stage 3 on which a liquid crystal display panel 2 is mounted. There is an elevating stage 5 for elevating the probe means 4 for supplying a driver signal to the input terminal 8 of the liquid crystal display panel 2. The probe means 4 is composed of a probe main body 6 which is attached to an elevating stage 5 so as to be movable up and down, and a probe substrate 7 which is fixed to a lower portion of the probe main body 6.

【0014】プローブ基板7はプリント配線板で、基板
下面には、図3に示すように、液晶表示パネル2の入力
端子8のピッチ間隔で銅箔面がエッチングされたプロー
ブ電極9が配列されている。プローブ電極9には、夫々
複数のプローブ針10がドライバーIC11と共に、ワ
イヤーボンディングされている。
The probe board 7 is a printed wiring board. On the bottom surface of the board, probe electrodes 9 having copper foil surfaces etched are arranged at the pitch intervals of the input terminals 8 of the liquid crystal display panel 2, as shown in FIG. There is. A plurality of probe needles 10 are wire-bonded to the probe electrodes 9 together with a driver IC 11.

【0015】プローブ針10は、図4に示すように、プ
ローブ手段4が昇降ステージ5上を所定距離降下する
と、液晶表示パネル2の入力端子8に接触し、前記ドラ
イバIC11から出力されるドライバ信号を入力端子8
に供給する。また、プローブ針10は、タングステン線
等のような弾力性、強度及び導電性に優れたもので形成
されている。
As shown in FIG. 4, the probe needle 10 comes into contact with the input terminal 8 of the liquid crystal display panel 2 when the probe means 4 descends on the elevating stage 5 by a predetermined distance, and the driver signal output from the driver IC 11 is output. Input terminal 8
To supply. The probe needle 10 is formed of a material such as a tungsten wire having excellent elasticity, strength and conductivity.

【0016】プローブ電極9の一端には、図3に示すよ
うに、ドライバIC11の端子12がワイヤボンディン
グされ、その他端には、複数の凹凸パターンがエッチン
グされ、その凹凸パターン(パターンAと称する)に所
定距離を隔てて、相対する位置に、前記パターンAと対
称に、孤立した凹凸パターン(パターンBと称する)が
エッチングされている。
As shown in FIG. 3, the terminal 12 of the driver IC 11 is wire-bonded to one end of the probe electrode 9, and a plurality of uneven patterns are etched at the other end, and the uneven pattern (referred to as pattern A) is formed. An isolated concavo-convex pattern (referred to as a pattern B) is etched symmetrically to the pattern A at a position opposed to each other by a predetermined distance.

【0017】そして、この相対するパターンA、Bの間
に、略直方体のシリコン導電ゴム13が接着され、この
シリコン導電ゴム13に円弧状に曲げ加工したプローブ
針10を枕状に沿わせ、パターンA、Bの凸部先端に円
弧状に曲げ加工したプローブ針10の両端がワイヤボン
ディングされている。
A substantially rectangular parallelepiped silicon conductive rubber 13 is adhered between the opposing patterns A and B, and the probe needle 10 bent in an arc shape is made to line the silicon conductive rubber 13 in a pillow shape. Both ends of the probe needle 10 bent into an arc shape are wire-bonded to the tips of the convex portions of A and B.

【0018】また、プローブ針10は、図5に示すによ
うに、半円弧状にカットしたものをシリコン導電ゴム1
3に沿わせ、片側端のみをパターンAにワイヤボンディ
ングしたものでもよいし、図6に示すように、1本の導
電線14をシリコン導電ゴム13に沿わせ、交互にZ状
にパターンA、Bの凸部先端にワイヤボンディングした
ものでもよい。
Further, as shown in FIG. 5, the probe needle 10 is cut into a semi-circular arc shape and the silicon conductive rubber 1 is used.
3 may be used, and only one end is wire-bonded to the pattern A. Alternatively, as shown in FIG. 6, one conductive line 14 may be arranged along the silicon conductive rubber 13 to alternately form the pattern A in the Z shape. What was wire-bonded to the tip of the convex portion of B may be used.

【0019】また、プローブ針10を直接プリント配線
板にワイヤボンディングすることにより、図9に示すよ
うに、従来のプローブ針10のスプリング15、コネク
タ16等の補助部品が不必要となるため、その分、プロ
ーブ針間を狭ピッチで配設することができる。
By wire-bonding the probe needle 10 directly to the printed wiring board, auxiliary components such as the spring 15 and the connector 16 of the conventional probe needle 10 are unnecessary as shown in FIG. Therefore, the probe needles can be arranged at a narrow pitch.

【0020】また、プローブ針10を直接プリント配線
板にワイヤボンディングすることにより、プローブ針1
0は、ドライバIC11と共に、表面実装機で自動的に
実装することができ、そのことにより、プローブ針10
を高精度、狭ピッチで実装することが可能となる。
Further, by directly bonding the probe needle 10 to the printed wiring board, the probe needle 1
0 can be automatically mounted by the surface mounter together with the driver IC 11, which allows the probe needle 10 to be mounted.
Can be mounted with high precision and narrow pitch.

【0021】そして、液晶表示パネルの入力端子8にプ
ローブ針10が接触する場合、図7に示すように、入力
端子1ケ所に対し、複数のプローブ針が接触するため、
入力端子8とプローブ電極9が水平方向に位置ずれを起
こしたとしても、複数のプローブ針10の両端が入力端
子8からはずれるまでは(図7において、C〜D位置ま
での水平方向の位置ズレX=約0.2ミリメートル)導
通が可能で、双方の位置ずれを吸収することができる。
When the probe needle 10 comes into contact with the input terminal 8 of the liquid crystal display panel, a plurality of probe needles come into contact with one input terminal, as shown in FIG.
Even if the input terminal 8 and the probe electrode 9 are displaced in the horizontal direction, until the both ends of the plurality of probe needles 10 are disengaged from the input terminal 8 (in FIG. (X = about 0.2 mm) It is possible to conduct electricity, and it is possible to absorb the displacement between both.

【0022】また、図8に示すように、入力端子8に数
μm〜数十μm程度のゴミ、ホコリ等dが付着したとし
ても、プローブ電極9に複数のポローブ針10が接合さ
れているため、ゴミ、ホコリ等を介していないプローブ
針にて導通を維持することができる。
Further, as shown in FIG. 8, even if dust or dust of several μm to several tens of μm is attached to the input terminal 8, since the plurality of probe needles 10 are joined to the probe electrode 9. It is possible to maintain continuity with the probe needle that does not pass through dust, dust, and the like.

【0023】また、図示されていないが、本実施例にお
けるプローブ手段4は、検査時、プローブ手段4が所定
距離降下し、プローブ針10が入力端子8に接触する
と、適度な圧力で接触するように圧力制御機構を有し、
プローブ針10に過度な圧力が加わり、プローブ針10
が破壊することを防止している。
Although not shown in the figure, the probe means 4 in this embodiment is contacted with an appropriate pressure when the probe means 4 descends for a predetermined distance during inspection and the probe needle 10 contacts the input terminal 8. Has a pressure control mechanism,
Excessive pressure is applied to the probe needle 10,
To prevent destruction.

【0024】[0024]

【発明の効果】本発明の液晶表示パネル検査装置は、プ
ローブ電極に複数個のプローブ針がワイヤボンディング
されているため、液晶表示パネルの入力端子とプローブ
電極の位置ズレや、入力端子にゴミ、ホコリ等が付着し
た場合においても、安定して液晶表示パネルにドライバ
信号を供給することができる。そのことにより、液晶表
示パネルの表示欠陥検査を正確に行うことができ、液晶
表示パネルの品質を安定させるとともに、生産性を向上
させることができる。
In the liquid crystal display panel inspection apparatus of the present invention, since a plurality of probe needles are wire-bonded to the probe electrode, the input terminal and the probe electrode of the liquid crystal display panel are misaligned, and the input terminal is dusted. Even if dust or the like adheres, the driver signal can be stably supplied to the liquid crystal display panel. As a result, the display defect inspection of the liquid crystal display panel can be accurately performed, the quality of the liquid crystal display panel can be stabilized, and the productivity can be improved.

【0025】また、従来のように、プローブ針に余分な
補助部品が付かないため、その分、狭ピッチのプローブ
針が得られ、プローブ針も安価にできる。
Further, unlike the conventional case, since the probe needle does not have an extra auxiliary component, the probe needle having a narrow pitch can be obtained and the probe needle can be made inexpensive.

【0026】また、プローブ針を表面実装機で自動的に
高精度、狭ピッチで実装することができると共に、基板
実装を機械化することにより、プローブ基板を安価にで
きる。
Further, the probe needle can be automatically mounted with high precision and narrow pitch by the surface mounting machine, and the probe board can be made inexpensive by mechanizing the board mounting.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】液晶表示パネル検査装置の斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of a liquid crystal display panel inspection device.

【図2】同じく、側面図である。FIG. 2 is likewise a side view.

【図3】プローブ電極にプローブ針(円弧状)をワイヤ
ボンディングした実施例を示す要部平面図である。
FIG. 3 is a plan view of a principal part showing an embodiment in which a probe needle (arc shape) is wire-bonded to a probe electrode.

【図4】同じく、要部側面図である。FIG. 4 is likewise a side view of an essential part.

【図5】プローブ電極にプローブ針(半円弧状)をワイ
ヤボンディングした実施例を示す要部側面図である。
FIG. 5 is a side view of essential parts showing an embodiment in which a probe needle (semi-arcuate shape) is wire-bonded to a probe electrode.

【図6】プローブ針に1本の導電線を交互にZ状にボン
ディングした実施例を示す要部平面図である。
FIG. 6 is a plan view of a principal portion showing an embodiment in which one conductive wire is alternately bonded to the probe needle in a Z shape.

【図7】プローブ電極と液晶表示パネルの入力端子が水
平方向に位置ズレを起こした場合の説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram in the case where the probe electrode and the input terminal of the liquid crystal display panel are displaced in the horizontal direction.

【図8】プローブ針と液晶表示パネルの入力端子がゴ
ミ、ホコり等を介して接触した状態を示す説明図であ
る。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing a state in which a probe needle and an input terminal of a liquid crystal display panel are in contact with each other through dust, dust, or the like.

【図9】プローブ針の従来例を示す断面図である。FIG. 9 is a cross-sectional view showing a conventional example of a probe needle.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 液晶表示パネル 8 入力端子 4 プローブ手段 1 液晶表示パネル検査装置 6 プローブ本体 9 プローブ電極 10 プローブ針 14 プローブ針 7 プローブ基板 A パターン(導体パターン) B パターン(導体パターン) 2 liquid crystal display panel 8 input terminal 4 probe means 1 liquid crystal display panel inspection device 6 probe body 9 probe electrode 10 probe needle 14 probe needle 7 probe substrate A pattern (conductor pattern) B pattern (conductor pattern)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G02F 1/1345 G02F 1/1345 G09F 9/00 352 G09F 9/00 352 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI Technical display location G02F 1/1345 G02F 1/1345 G09F 9/00 352 G09F 9/00 352

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 液晶表示パネルの入力端子に接触し、本
体よりドライバ信号を供給するプローブ手段を有する液
晶表示パネル検査装置において、該プローブ手段は、前
記入力端子に対して、略垂直に進退可能に設けられたプ
ローブ本体と、該プローブ本体に固定されたプローブ基
板と、該プローブ基板に、前記入力端子と同ピッチ間隔
で配列されたプローブ電極と、該プローブ電極の夫々に
複数本接合されたプローブ針を備え、検査時、前記プロ
ーブ本体が降下し、前記プローブ針が前記入力端子に接
触することを特徴とする液晶表示パネル検査装置。
1. A liquid crystal display panel inspection apparatus having probe means for contacting an input terminal of a liquid crystal display panel and supplying a driver signal from a main body, the probe means being capable of advancing and retracting substantially perpendicularly to the input terminal. A probe main body provided on the probe main body, a probe substrate fixed to the probe main body, probe electrodes arranged at the same pitch interval as the input terminals on the probe main body, and a plurality of probe electrodes are bonded to each of the probe electrodes. A liquid crystal display panel inspection device comprising a probe needle, wherein the probe main body is lowered during inspection so that the probe needle comes into contact with the input terminal.
【請求項2】 前記プローブ電極は、プリント配線板上
にエッチングされた導体パターンよりなり、各導体パタ
ーンに複数本のプローブ針をワイヤボンディングしたこ
とを特徴とする請求項1記載の液晶表示パネル検査装
置。
2. The liquid crystal display panel inspection according to claim 1, wherein the probe electrode comprises a conductor pattern etched on a printed wiring board, and a plurality of probe needles are wire-bonded to each conductor pattern. apparatus.
【請求項3】 前記プローブ針は、1本の導電線をZ状
にワイヤボンディングすることにより、複数本としたこ
とを特徴とする請求項2記載の液晶表示パネル検査装
置。
3. The liquid crystal display panel inspecting device according to claim 2, wherein the probe needles are plural in number by wire-bonding one conductive wire in a Z shape.
JP1454696A 1996-01-30 1996-01-30 Examining apparatus for liquid crystal display panel Pending JPH09211048A (en)

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