JPH09209159A - 線状体のコーティング装置 - Google Patents
線状体のコーティング装置Info
- Publication number
- JPH09209159A JPH09209159A JP1779596A JP1779596A JPH09209159A JP H09209159 A JPH09209159 A JP H09209159A JP 1779596 A JP1779596 A JP 1779596A JP 1779596 A JP1779596 A JP 1779596A JP H09209159 A JPH09209159 A JP H09209159A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plasma
- reaction vessel
- microwave
- discharge tube
- mesh electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
プラズマCVD装置であって、線状体に良質の皮膜を生
成可能な線状体のコーティング装置を提供すること。 【解決手段】 反応容器3に放電管2を直列に接続し、
この放電管2を導波管4のマイクロ波導入部4aの中心
に配置し、マイクロ波を放電管2の周囲に導入して放電
管2の内部に円筒状プラズマPを生成する。反応容器3
内にメッシュ電極6を設けてその内部で反応させ、メッ
シュ電極の中心部に配置された被加工物7に成膜を形成
するようにした。
Description
ング装置に関し、詳しくは表面波モードマイクロ波プラ
ズマを利用したプラズマ化学蒸着(CVD)により線状
体の表面に成膜を形成する装置に関するものである。
体等の電子部品の分野で広く採用されている。
からなる放電管10に誘導コイル11を巻いたRF誘導
型プラズマ装置で、被加工物12の表面処理を行うもの
がある。
を導入し、反応室13内の長尺体14の表面に気相成長
法によって被覆層を形成するプラズマCVD装置である
(特開平5−195230号公報参照)。
誘導型プラズマ装置では、プラズマが放電管10全体に
広がり、プラズマのコントロールが困難である。したが
って、このような装置は、平面的な被加工物12には採
用できても、線状体のコーティングには適さない。
プラズマCVD装置であるが、プラズマ発生用電極15
を使用する形式のもので、プラズマ密度の高い円筒状プ
ラズマを得られないばかりでなく、プラズマに被加工物
14が直接接触するため、イオンの影響でエッチングが
発生し、堆積が妨げられ、良質の成膜が得られないとい
う問題がある。
D装置が知られているが、大面積加工用が多く、電線等
の線状体のコーティングには適さない。
で、表面波モードマイクロ波プラズマを利用したプラズ
マCVD装置であって、線状体に良質の皮膜を生成可能
な線状体のコーティング装置を提供することを目的とす
る。
め、請求項1記載の発明は、マイクロ波プラズマによる
プラズマCVD装置であって、反応容器内に円筒状のプ
ラズマを生成するプラズマ生成手段と、前記反応容器内
に設けられた円筒状のトラップ用のメッシュ電極とを備
え、該メッシュ電極の中心に線状の被加工物を配置した
ことを特徴とするものである。
管の内部に生成されたプラズマは、その密度が高くなる
とマイクロ波が内部へ進入できず、プラズマにぶっつか
ったマイクロ波はプラズマの表面を伝搬し、プラズマ表
面で生成し続け、プラズマ密度の高い円筒状プラズマが
生成される。メッシュ電極でプラズマのイオンが内部へ
進入するのを阻止する。
載の線状体のコーティング装置であって、前記プラズマ
生成手段は、前記反応容器の途中に直列に接続された放
電管の周囲に導波管を介してマイクロ波を導入するよう
に構成したことを特徴とするものである。
クロ波発生装置で発生したマイクロ波は、放電管の外周
に導入され、放電管内部および反応容器内部に円筒状の
プラズマを生成することができる。
波プラズマ装置1は、円筒状の反応容器3を備えてい
る。この反応容器3は、両側がステンレス(SUS)製
の本体部3a、3aであり、この本体部3a、3aの中
間に石英ガラスの放電管2を直列に接続したものであ
る。反応容器3の一端にはガス導入口3bが設けられ、
他端にはガス吸入口3cが設けられている。
aの中心に配置されている。導波管4はマイクロ波発生
装置5に接続され、マイクロ波発生装置5で発生された
マイクロ波は放電管2の周囲に導入されるようになって
いる。導波管4は、スロットアンテナ等任意のものが使
用できる。
ップ(捕集)するための円筒状のメッシュ電極6が反応
容器3と同心円状に配置されている。このメッシュ電極
6は、直流電源8に接続され、放電管2の内壁との間に
電界を印加するようにしている。このメッシュ電極6の
中心部に銅線等の線状体である被加工物7が配置されて
いる。
ロ波は導波管4を介して放電管2に導入され、放電管2
の内部に、プラズマPが生成する。マイクロ波によって
生成されたプラズマは、その密度が高くなるとマイクロ
波が内部へ進入できず(プラズマ空間は気体が電離した
状態の良導体空間であるため)、プラズマにぶっつかっ
たマイクロ波はプラズマの表面を伝搬し、プラズマ表面
で生成し続ける。したがって、放電管2の外側から均一
なマイクロ波を印加すると、プラズマ密度の高い円筒状
プラズマPが生成される。
方向に拡散しようとする。プラズマCVDでは、プラズ
マに直接接触するとイオンの影響でエッチングが発生
し、堆積が妨げられる。メッシュ電極6はこのプラズマ
のイオンの進入を妨げ、被加工物7にイオンが接触する
のを防止する。
し、放電管2との間に電界を印加することにより、被加
工物7に接触してプラズマCVD反応に寄与するプラズ
マパラメータをコントロールすると共に、被加工物7へ
のイオンの進入を阻止する。
を導入し、メッシュ電極6の内部で反応させることによ
り、被加工物7にCVD加工が施され、被加工物7の表
面に成膜が形成される。反応ガスとしては、水素
(H2 )とヘキサメチルジシラン(HMDS)の混合ガ
スが好適に使用される。
で加熱し、被加工物7の温度を調整することも可能であ
る。
ルを入れ、被加工物7を連続処理するようにすることも
可能であり、また、複数本を同時に加工することも可能
である。
装置は、表面波モードマイクロ波プラズマ装置1を用い
ることにより、密度の高い円筒状のプラズマPを生成で
きるため、線状体のCVD加工が可能になり、かつ、反
応容器3内にメッシュ電極6を設けてその内部で反応さ
せるようにしたことにより、CVD加工に悪影響を及ぼ
すイオンがメッシュ電極6で除去され、被加工物7に絶
縁性に優れた良質の成膜を形成することができる。
で、放電管2の内壁に濃度の高いプラズマが接触しない
ため、装置の長寿命化が可能であり、かつ装置の構造が
簡単でメンテナンスが容易である。
下の条件で実験を行った。
cm3 、電子温度は3.9eVであった。1時間後に得
られた銅線の成膜は約5μmであり緻密で良質な絶縁成
膜であることが確かめられた。
験した。
密度は8.2×1010/cm3 、電子温度は4.8eV
であった。
も微細なピンホールがあり、絶縁性が悪いことが確かめ
られた。
れば、表面波モードマイクロ波プラズマを利用したプラ
ズマCVD装置で、放電管の内部に高密度の円筒状のプ
ラズマを生成するようにしているので、この円筒状プラ
ズマの内部で線状体のCVD加工が可能となり、また、
トラップ用のメッシュ電極を設けることにより、プラズ
マをコントロールし、イオンの進入を阻止しているの
で、成膜に悪影響を及ぼすイオンが除去され、線状体に
絶縁性に優れた良質の成膜が得られる。
で、放電管の内壁に濃度の高いプラズマが接触しないた
め、装置の長寿命化が達成できる。
容器の途中に直列に接続された放電管2の周囲に導波管
を介してマイクロ波を導入するようにしたので、マイク
ロ波発生装置で発生したマイクロ波が放電管の外周に導
入され、放電管内部および反応容器に円筒状のプラズマ
を生成することができると共に、装置の構造が簡単でメ
ンテナンスが容易である。
る表面波モードマイクロ波プラズマ装置の実施の形態を
示す概略側面図である。
ング装置の概略図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 マイクロ波プラズマによるプラズマCV
D装置であって、反応容器内に円筒状のプラズマを生成
するプラズマ生成手段と、前記反応容器内に設けられた
円筒状のトラップ用のメッシュ電極とを備え、該メッシ
ュ電極の中心に線状の被加工物を配置したことを特徴と
する線状体のコーティング装置。 - 【請求項2】 前記プラズマ生成手段は、前記反応容器
の途中に直列に接続された放電管の周囲に導波管を介し
てマイクロ波を導入するように構成したことを特徴とす
る請求項1記載の線状体のコーティング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP01779596A JP3244624B2 (ja) | 1996-02-02 | 1996-02-02 | 線状体のコーティング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP01779596A JP3244624B2 (ja) | 1996-02-02 | 1996-02-02 | 線状体のコーティング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09209159A true JPH09209159A (ja) | 1997-08-12 |
JP3244624B2 JP3244624B2 (ja) | 2002-01-07 |
Family
ID=11953657
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP01779596A Expired - Fee Related JP3244624B2 (ja) | 1996-02-02 | 1996-02-02 | 線状体のコーティング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3244624B2 (ja) |
-
1996
- 1996-02-02 JP JP01779596A patent/JP3244624B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3244624B2 (ja) | 2002-01-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100458779B1 (ko) | 금속막의 제작방법 및 그 제작장치 | |
JP3224529B2 (ja) | プラズマ処理システム | |
KR101016147B1 (ko) | 플라즈마 처리 장치, 안테나, 플라즈마 처리 장치의 사용방법, 및 플라즈마 처리 장치의 클리닝 방법 | |
US6439154B2 (en) | Plasma processing apparatus for semiconductors | |
KR0145302B1 (ko) | 얇은 막의 형성방법 | |
JPH10140358A (ja) | 大表面基板の被覆用または処理用のリモートプラズマcvd方法およびそれを実施する装置 | |
EP2208221A1 (en) | Apparatus for surface-treating wafer using high-frequency inductively-coupled plasma | |
JPH07101685B2 (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置 | |
EP1515362B1 (en) | Plasma processing system, plasma processing method, plasma film deposition system, and plasma film deposition method | |
US20040163595A1 (en) | Plasma processing apparatus | |
JP3244624B2 (ja) | 線状体のコーティング装置 | |
JPH1140544A (ja) | 反応性イオンエッチング装置 | |
KR20170139759A (ko) | 균일한 가스 분배를 위한 가스 분배 플레이트를 포함하는 플라즈마 챔버 | |
JP3164188B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
JPH02151021A (ja) | プラズマ加工堆積装置 | |
JPH09169595A (ja) | 薄膜形成方法 | |
JPH10330970A (ja) | 反応性イオンエッチング装置 | |
JPH0732076B2 (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置およびその処理方法 | |
JP2000144422A (ja) | シリコン製膜方法及びシリコン製膜装置 | |
JPH03130369A (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置および処理方法 | |
JPH08246146A (ja) | プラズマ処理方法及びその装置 | |
JP2921302B2 (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置 | |
KR20230100990A (ko) | 플라즈마 처리 장치 및 이를 이용한 반도체 장치의 제조 방법 | |
JP3099801B2 (ja) | 成膜処理方法及び装置 | |
JPS62180078A (ja) | 管内面の被覆方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071026 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081026 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081026 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091026 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091026 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101026 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111026 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121026 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131026 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |