JPH09200869A - テレメータ子局装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 短期かつ不規則に発生する不良信号を早期に
発見して測定データの品質と信頼性を高めることができ
るテレメータ子局装置を提供する。 【解決手段】 測定対象機器２ａ〜２ｎから取得した測
定データに基づいて測定対象機器２ａ〜２ｎの動作状態
を監視する監視手段とを備える。この監視手段は、取得
した測定データから測定対象機器２ａ〜２ｎの不良動作
時に発生する不良信号の有無を判定する不良信号判定部
１２と、その判定結果を蓄積する判定結果蓄積部１５
と、一定期間蓄積された判定結果から不良発生種別の推
移、不良信号の累積数、および前記測定対象機器の入力
信号と不良発生要因との相関関係を含む不良統計情報を
生成する統計処理手段（エラー率算出部）１６と、生成
された不良統計情報（エラー率情報）を所定形式に編集
して出力する編集出力手段１８、１９とを有し、この不
良統計情報により異常の有無が判るようにした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、遠隔監視制御技術
に係り、特に、測定対象機器の異常動作の有無を監視す
る監視手段を備えたテレメータ子局装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、測定対象機器の動作状態を表
す測定データを取得するセンサ手段と、センサ手段で取
得した測定データに基づいてその機器の異常動作の有無
を監視する監視手段とが、遠隔地のテレメータ子局装置
に設けられている。従来の監視手段は、アナログ信号入
力、パルス信号入力、ＢＣＤ（バイナリコードデータ）
信号入力、通信入力等の正常／不良を判定する不良信号
判定部を有し、この不良信号判定部で不良と判定した場
合に、そのときのパッケージ番号、エラー発生箇所、エ
ラーの種類、エラー状態等の情報を出力している。

【０００３】また、測定データがパルス信号を含むと
き、入力フィルタとして正常時のデータ用の設定パルス
幅を用意し、この設定パルス幅以下のパルス信号はノイ
ズ信号であるとして測定データから除外している。ま
た、測定データがアナログ信号を含むとき、サンプリン
グ周期単位でアナログ信号をサンプリングデータに変換
するとともに、信号断が発生した場合は、データ欠測等
の処理を行っている。さらに、ＯＮ／ＯＦＦ信号でデー
タを入力するＢＣＤ信号入力、通信データ入力の場合の
不良信号判定方法として、従来は、ＢＣＤ入力、ＲＳ２
３２Ｃ通信入力等の回線入力時のＢＣＤエラー等のソフ
トウェアエラーと、パリティエラー等のハードウェアエ
ラーの発生を認知して不良信号と判定し、データ欠測等
のデータ加工を行っている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来の
テレメータ子局装置には、測定対象機器の動作状態を監
視するための監視手段が設けられているが、短期的に発
見しにくい入力信号の接点不良、チャタリングやパリテ
ィエラー等の各入力信号の不良が原因となる測定データ
の異常は、その原因の特性上、不規則に発生するため、
発見までに多くの時間がかかる。そのため、その間の測
定データの品質が悪化して信頼性が低下する問題があっ
た。しかし、従来のテレメータ子局装置には有効な対策
が講じられていなかった。

【０００５】そこで本発明の課題は、短期かつ不規則に
生じる不良信号を早期に発見して測定データの品質と信
頼性を高めることができるテレメータ子局装置を提供す
ることにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、測定対象機器から測定データを取得する
センサ手段と、このセンサ手段が取得した測定データか
ら測定データに基づいて前記測定対象機器の動作状態を
監視する監視手段とを備えたテレメータ子局装置におい
て、前記監視手段を、前記測定データから前記測定対象
機器の不良動作時に発生する不良信号の有無を判定する
不良信号判定部と、この不良信号判定部で判定した判定
結果を蓄積する判定結果蓄積部と、一定期間蓄積された
前記判定結果から不良発生種別の推移、不良信号の累積
数、および前記測定対象機器の入力信号と不良発生要因
との相関関係を含む不良統計情報を生成する統計処理部
と、この統計処理部で生成された不良統計情報を所定形
式に編集して出力する編集出力部と、を有する構成した
ことを特徴とする。

【０００７】なお、前記測定データは、電流信号または
電圧信号でデータ入力するアナログ信号入力、パルス信
号でデータ入力するパルス信号入力、幾つかのＯＮ／Ｏ
ＦＦ信号でデータを入力するＢＣＤ信号入力、通信で入
力する通信入力の少なくとも一つを採用する。測定デー
タがパルス信号を含むとき、前記不良判定部は、前記測
定対象機器の正常動作時のパルス幅を有する第１設定信
号、およびこの第１設定信号よりも小さくノイズ信号よ
り大きいパルス幅を有する第２設定信号を設定する手段
と、これら第１および第２設定信号と前記パルス信号と
を比較するパルス幅比較手段とを含んで構成され、第２
設定信号より大きく第１設定信号より小さいパルス幅を
有するパルス信号を不良信号と判定する。

【０００８】また、測定データがアナログ信号を含むと
き、前記不良判定部は、所定のサンプリング周期でアナ
ログ信号を取得してサンプリングデータに変換する手段
と、前記測定対象機器の正常動作時の基準データ変位量
を保持する手段とを含んで構成され、設定時間内に前回
サンプリングデータと今回サンプリングデータの差が前
記基準データ変位量以上のアナログ信号が入力された場
合に、そのアナログ信号を不良信号と判定する。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を詳細に説明する。図１は、本発明の一実施形態
となるテレメータ子局装置のブロック構成図である。こ
のテレメータ子局装置１は、入力不良を常時監視するた
め、各種測定対象機器２ａ〜２ｎから送られる測定デー
タを入力する信号入力部１１を、その前段に備えてい
る。

【００１０】信号入力部１１の後段には不良信号判定部
１２が設けられる。この不良信号判定部１２は、アナロ
グ信号入力、パルス信号入力、ＢＣＤ信号入力、通信入
力等の正常／不良を判定するもので、不良か否かの判定
基準となるパラメータは、パラメータテーブル１３に更
新自在に格納されている。パラメータテーブル１３には
パラメータを設定する設定値入力部１４が接続されてい
る。

【００１１】判定対象となる測定データは、その種類に
応じて以下のようにして振り分けられる。まず、パルス
信号の場合、従来は、入力フィルタとして正常時のデー
タ用の設定パルス幅を設けて設定パルス幅以下のパルス
をノイズ信号として判断し、観測データから除外してい
たが、本実施形態では、不安定なパルス信号を検知する
ため、正常データ用の設定パルス幅（第１設定信号）の
ほかに、その設定パルス幅より小さいパルス幅をノイズ
最大パルス幅（第２設定信号）としてパラメータテーブ
ル１３に設定し、ノイズ最大パルス幅より大きく、正常
データ用設定パルス幅より小さいパルス信号を検出した
ときにそれを不良信号とする。

【００１２】アナログ信号の場合、従来は、サンプリン
グ周期単位で測定データを入力し、入力断が発生した場
合は、電流／電圧値の変化によりそれを認知してデータ
欠測等の処理を行っていたが、本実施形態では、入力断
と入力断以外の異常なデータ変位を認知して不良信号と
判定する。すなわち正常時のデータ変位量をパラメータ
テーブル１３に設定しておき、設定時間内に前回サンプ
リングデータと今回サンプリングデータの差が正常時の
データ変位量を超えたデータが入力された場合に、その
データを不良信号として判定する。

【００１３】ＢＣＤ信号入力、通信データ入力の場合
は、従来、ＢＣＤ入力、ＲＳ２３２Ｃ通信入力等の回線
入力時のＢＣＤエラー等のソフトエラーと、パリティエ
ラー等のハードエラーの発生を認知し、不良信号と判定
してデータ欠測等のデータ加工を行っていたが、本実施
形態では、データ加工のみならず、不良信号の発生原因
の発見のために、判定結果蓄積部１５へ判定結果を渡す
ことをも目的とする。不良信号と判定した場合は、その
ときのパッケージ番号等、エラー発生箇所の情報とエラ
ーの種類や、エラー状態の情報を認識する。

【００１４】上記不良信号判定部１２による判定結果
は、判定結果蓄積部１５に分類して蓄積される。分類内
容として、例えば測定対象機器２ａ〜２ｎにおけるエラ
ー発生箇所や、エラー種類毎のエラー内容、エラー発生
回数が挙げられる。この蓄積した判定結果から、エラー
率情報算出部１６で不良信号の内容分析のためのエラー
内容を集計し、不良統計情報、例えば統計的なエラー率
情報を算出ないし生成する。本実施形態によるエラー率
情報の一例を下記（１）〜（６）に示す。

【００１５】（１）測定対象機器２ａ〜２ｎにおけるパ
ッケージ毎のエラー発生回数およびエラー種別毎の欠測
と、測定時刻の相関関係。 （２）パッケージとエラー種別毎の欠測の相関関係。 （３）指定期間毎の平均エラー発生回数。 （４）一定期間内のエラー種別毎のエラー発生回数。 （５）パッケージへの入力信号毎のエラー発生回数。 （６）ハードウェアとしてのパッケージ単位のエラー発
生回数。

【００１６】エラー率算出部１６で算出ないし生成され
たエラー率情報は、エラー率情報格納部１７に格納され
る。エラー率情報格納部１７に格納されたエラー率情報
は、編集部１８で所定の形式に編集され、必要に応じて
出力部１９から外部出力装置等へ出力される。これによ
り操作者がエラー率情報を認識し、不規則に発生する入
力エラーに起因するエラーの認知とエラー原因の究明お
よびエラーの処置を発見することが容易になる。

【００１７】このように本実施形態では、統計的なエラ
ー率情報をタイムリーに参照ないし出力できるようにし
たので、入力信号の接点不良、チャタリングやパリティ
エラー等の各入力信号の不良が原因となる測定データの
異常を認知することが容易となる。これにより部品の早
期交換や接点不良の除去等の保守の指針を与えることが
でき、測定データの品質と信頼性を高めることができ
る。また、エラー率情報を確認することで、収集した測
定データの品質を確認することができる。

【００１８】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のテレメータ子局装置によれば、不良統計情報を参照す
ることにより、短期かつ不規則に生じる不良信号を早期
に発見して測定データの品質と信頼性を高めることがで
きるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態となるテレメータ子局装置
のブロック構成図。

【符号の説明】 １ テレメータ子局装置 １１ 信号入力部 １２ 不良信号判定部 １３ パラメータテーブル １４ 設定値入力部 １５ 判定結果蓄積部 １６ エラー率算出部 １７ エラー率情報格納部 １８ 編集部 １９ 出力部

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 測定対象機器から測定データを取得する
   センサ手段と、このセンサ手段が取得した測定データに
   基づいて前記測定対象機器の動作状態を監視する監視手
   段とを備えたテレメータ子局装置において、 前記監視手段は、 前記測定データから前記測定対象機器の不良動作時に発
   生する不良信号の有無を判定する不良信号判定部と、 この不良判定部で判定した判定結果を蓄積する判定結果
   蓄積部と、 一定期間蓄積された前記判定結果から不良発生種別の推
   移、不良信号の累積数、および前記測定対象機器の入力
   信号と不良発生要因との相関関係を含む不良統計情報を
   生成する統計処理手段と、 この統計処理手段で生成された不良統計情報を所定形式
   に編集して出力する編集出力手段と、 を有することを特徴とするテレメータ子局装置。
2. 【請求項２】 前記測定データがパルス信号を含むと
   き、前記不良判定部は、前記測定対象機器の正常動作時
   のパルス幅を有する第１設定信号、およびこの第１設定
   信号よりも小さくノイズ信号より大きいパルス幅を有す
   る第２設定信号を設定する手段と、これら第１および第
   ２設定信号と前記パルス信号とを比較するパルス幅比較
   手段とを含んで構成され、第２設定信号より大きく第１
   設定信号より小さいパルス幅を有するパルス信号を不良
   信号とすることを特徴とする請求項１記載のテレメータ
   子局装置。
3. 【請求項３】 前記測定データがアナログ信号を含むと
   き、前記不良判定部は、所定のサンプリング周期でアナ
   ログ信号を取得してサンプリングデータに変換する手段
   と、前記測定対象機器の正常動作時の基準データ変位量
   を保持する手段とを含んで構成され、設定時間内に前回
   サンプリングデータと今回サンプリングデータの差が前
   記基準データ変位量以上のアナログ信号が入力された場
   合に、そのアナログ信号を不良信号と判定することを特
   徴とする請求項１記載のテレメータ子局装置。