JPH09199654A - Machining method of lead frame and lead frame - Google Patents

Machining method of lead frame and lead frame

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JPH09199654A
JPH09199654A JP8020655A JP2065596A JPH09199654A JP H09199654 A JPH09199654 A JP H09199654A JP 8020655 A JP8020655 A JP 8020655A JP 2065596 A JP2065596 A JP 2065596A JP H09199654 A JPH09199654 A JP H09199654A
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JP
Japan
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lead frame
plating
processing
die pad
resist
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JP8020655A
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Japanese (ja)
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Masami Matsumoto
真佐美 松本
Teruhisa Momose
輝寿 百瀬
Nobuhiro Sakihama
信宏 崎浜
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Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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    • H01L2924/181Encapsulation

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To perform precious metal plating to an inner led part with a photosensitive resist as a plating mask and to improve down set machining. SOLUTION: A method for machining a lead frame where precious metal plating is made, at least, to an inner lead part and a die pad part is subjected to down set machining has a process (A) for covering the surface of a lead frame 110 which is subjected to outer shape machining with a photosensitive resist and performing exposure and development treatment for exposing only a specific region, a process (B) for performing precious metal plating treatment to the exposed specific region, and a process (C) for performing the down set machining to the die pad part. Also, at least no down set machining part of a tab suspension bar part for supporting the die pad part is allowed to enter a specific exposed region where the above precious metal plating treatment is performed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は,インナーリード部に感
光性のレジストをめっきマスクとして貴金属めっきが施
され、且つ、ダウンセット加工が施されたリードフレー
ムの加工方法と、その加工方法により作製されたリード
フレームに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for processing a lead frame in which the inner lead portion is plated with a noble metal using a photosensitive resist as a plating mask and is downset, and a method for manufacturing the same. Related lead frame.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、樹脂封止型の半導体装置の組
立部材として用いられる(単層)リードフレームは、プ
レス法もしくはエッチング法により形成され、一般には
図6(a)に示すように、半導体素子を搭載するための
ダイパッド612と、ダイパッド612の周囲に設けら
れた半導体素子と結線するためのインナーリード613
と、該インナーリード613に連続して外部回路との結
線を行うためのアウターリード614、樹脂封止する際
のダムとなるダムバー615、リードフレーム610全
体を支持するフレーム(枠)部616等を備えている。
そして、リードフレーム(単層リードフレーム)610
は、通常、コバール、42合金(42%ニッケル−鉄合
金)、銅系合金のような導電性に優れた金属から成り、
図6(b)に示すように、ダイパッド612に半導体素
子620を搭載し、半導体素子620の端子(パッド)
621とインナーリード613の先端部とを金などのワ
イヤ630で結線を行った後に、樹脂640にて封止し
て、半導体装置600を作製していた。このように、半
導体素子620の端子(パッド)621とインナーリー
ド613の先端部とを金などのワイヤ630で結線を行
うために、導電性に優れ、ワイヤとの強い結合力をもつ
銀めっきをインナーリードの半導体素子搭載側先端部に
施す、部分銀めっき処理が一般には採られていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, a (single-layer) lead frame used as an assembly member of a resin-encapsulated semiconductor device is formed by a pressing method or an etching method. Generally, as shown in FIG. A die pad 612 for mounting a semiconductor element, and an inner lead 613 for connecting to a semiconductor element provided around the die pad 612
And an outer lead 614 for connecting the inner lead 613 to an external circuit, a dam bar 615 serving as a dam for resin sealing, a frame (frame) portion 616 for supporting the entire lead frame 610, and the like. Have.
Then, a lead frame (single-layer lead frame) 610
Is usually made of a metal having excellent conductivity such as Kovar, 42 alloy (42% nickel-iron alloy), and copper alloy.
As shown in FIG. 6B, the semiconductor element 620 is mounted on the die pad 612, and terminals (pads) of the semiconductor element 620 are provided.
The semiconductor device 600 is manufactured by connecting the wire 621 and the tip of the inner lead 613 with a wire 630 such as gold and then sealing with a resin 640. As described above, since the terminal (pad) 621 of the semiconductor element 620 and the tip of the inner lead 613 are connected with the wire 630 such as gold, silver plating having excellent conductivity and strong bonding force with the wire is applied. In general, partial silver plating is applied to the tip of the inner lead on the semiconductor element mounting side.

【0003】この部分銀めっき処理は、従来は、図7に
示すようなめっき装置700を用い、リードフレーム7
10の被めっき領域以外をマスキング治具720で覆い
ながら押さえ、被めっき領域へノズル740から噴出さ
れためっき液780をあてながらめっきを行うスパージ
ャー式の治具めっき方法が主に行われていた。この治具
めっき方法では、リードフレームの品種毎に治具を必要
とし、且つ、治具の製作には長期間を要し、使用するに
つれ摩耗や疲労を生じるため交換が必要であり、生産性
の面やコスト面でも問題となっていた。また、めっきの
品質を考慮した場合、位置決めピンによって位置合わせ
を行い上下の治具により1連リードフレームを挾み押さ
えた後めっきを行うため、めっき位置精度、めっき厚均
一性などのめっき品質が作製された治具の精度や取り付
けの精度に影響を受け易い。そして、本来めっきが不要
であるリードフレームの側面や裏面にめっきが析出し易
く、調整には高度な経験的技術を要する等問題があっ
た。更に、半導体プロセスの進歩による半導体素子の入
出力端子数の増大化、パッケージサイズの小型化による
インナーリード部の狭小化により、めっき部の寸法精度
が一層厳しくなってきており、寸法精度的にも対応が難
しくなってきた。
Conventionally, this partial silver plating treatment uses a plating apparatus 700 as shown in FIG.
A sparger-type jig plating method has been mainly performed in which the area other than the area 10 to be plated is covered with a masking jig 720 and pressed, and the plating solution 780 sprayed from the nozzle 740 is applied to the area to be plated. . In this jig plating method, a jig is required for each type of lead frame, and it takes a long time to manufacture the jig, and wear and fatigue occur as it is used, so replacement is necessary, and productivity is improved. It was also a problem in terms of cost and cost. In addition, when considering the quality of plating, the positioning is performed by the positioning pins, and the plating is performed after holding the single lead frame between the upper and lower jigs, so that the plating quality such as plating position accuracy and plating thickness uniformity can be improved. It is easily affected by the accuracy of the manufactured jig and the accuracy of mounting. Further, there is a problem that plating is likely to be deposited on the side surface and the back surface of the lead frame, which originally does not require plating, and requires a highly empirical technique for adjustment. Furthermore, the dimensional accuracy of the plated part has become more severe due to the increase in the number of input / output terminals of the semiconductor element due to the progress of the semiconductor process and the narrowing of the inner lead part due to the miniaturization of the package size. The response has become difficult.

【0004】この為、治具を必要とせず、半導体素子の
多端子化やインナーリード部の狭小化にも対応できるも
のとして、近年、上記治具によるマスキングによる部分
銀めっきに換え、図4に示すような、めっき液への耐性
を備えた感光性の電着レジストを用い、リードフレーム
の所定の領域のみをめっき液に露出した状態にマスキン
グしてめっきを施すリードフレームの銀めっき方法が採
られるようになってきた。この部分銀めっき方法を、図
4を用いて簡単に説明する。尚、図4は上記の電着レジ
ストを用いた部分銀めっき方法を分かり易く説明するた
めに、リードフレームの一部(特徴部)の断面、即ち、
図2(a)に示すA1−A2における断面に相当する部
分を示したものである。先ず、リードフレーム410全
体を電解脱脂し、酸洗して、化学研磨した後(図4
(a))、リードフレーム410表面全体に下地めっき
としての銅ストライクめっき420を施し(図4
(b))、その後に全面に電着レジスト430を形成す
る。(図4(c)) 次いで、所定のフオトマスク440を用いて所定の部分
(ダイパッド412とインナーリード413の先端部)
を紫外線(露光光)450で露光して、露光部のみを硬
化させ(図4(d))、次いで、現像処理を行い、未露
光部の電着レジスト430を除去し、めっき部460を
露出させる(図4(e))。尚、現像され電着レジスト
430が除去される領域はタブ吊りバー412Aの一
部、ダイパッド412の全体とインナーリード413の
先端部である。また、めっき部460はレジスト残渣が
ある状態にはこれを除去する処理を行う。次に、露出さ
れためっき部460へ酸洗浄を行った後、銀めっき液中
にリードフレーム全体を漬して、攪拌しながら所定の電
流密度と時間でめっきを行い、めっき部460へ所望の
膜厚の銀めっき(皮膜)470を得る。(図4(f))
この後、電着レジスト430を剥離液で剥離し(図4
(g))、ダウンセット加工を行い、所定の領域のみに
銀めっき(皮膜)470を有するリードフレーム410
Aを得る。(図4(f)) 図5(a)に、図4に示す加工方法により加工されたリ
ードフレーム410Aの平面図を示す。尚、図5(b)
は、図5(a)のB1−B2における断面を示したもの
である。但し、5(a)においては、分かり易くする
為、銅ストライクめっき部は図に示していない。尚、め
っき処理の前処理としては、酸洗浄の他には、アルカリ
洗浄等が、必要に応じて、電着レジストが損傷されない
程度に施される。また、銅ストライクめっきは、リード
フレーム素材が銅系合金である場合には、Sn、Ni等
の不純物が含まれるため、銀めっきの下地金属として薄
く銅めっきするものであるが、必ずしも必要とはしな
い。リードフレーム素材の上に、直接、銀めっきを施す
場合もある。この場合は銀めっきの下地金属はリードフ
レーム素材となる。
For this reason, a jig is not required, and it is possible to cope with an increase in the number of terminals of a semiconductor element and a reduction in an inner lead portion. As shown in the figure, a silver plating method for a lead frame is used in which a photosensitive electrodeposition resist having a resistance to a plating solution is used, and only a predetermined area of the lead frame is masked and plated so as to be exposed to the plating solution. It has come to be. This partial silver plating method will be briefly described with reference to FIG. FIG. 4 is a sectional view of a part (characteristic part) of the lead frame, that is, in order to easily understand the partial silver plating method using the above electrodeposition resist.
3 shows a portion corresponding to a cross section taken along line A1-A2 shown in FIG. First, the entire lead frame 410 is electrolytically degreased, pickled and chemically polished (see FIG. 4).
(A)), copper strike plating 420 as base plating is applied to the entire surface of the lead frame 410 (see FIG. 4).
(B)) After that, the electrodeposition resist 430 is formed on the entire surface. (FIG. 4C) Next, using a predetermined photomask 440, predetermined portions (tip portions of the die pad 412 and the inner leads 413).
Is exposed to ultraviolet rays (exposure light) 450 to cure only the exposed portion (FIG. 4D), and then development processing is performed to remove the electrodeposition resist 430 in the unexposed portion and expose the plated portion 460. (Fig. 4 (e)). The region where the electrodeposition resist 430 is developed and removed is a part of the tab suspension bar 412A, the entire die pad 412 and the tip of the inner lead 413. In addition, the plating unit 460 performs a process of removing the resist residue when it is present. Next, after the exposed plating part 460 is subjected to acid cleaning, the entire lead frame is immersed in a silver plating solution, and plating is performed at a predetermined current density and time while stirring, and the plating part 460 is subjected to the desired plating. A silver plating (film) 470 having a film thickness is obtained. (Fig. 4 (f))
After that, the electrodeposition resist 430 is stripped with a stripping solution (see FIG.
(G)), down-set processing is performed, and lead frame 410 having silver plating (coating) 470 only in a predetermined region.
Get A. (FIG. 4 (f)) FIG. 5 (a) shows a plan view of the lead frame 410A processed by the processing method shown in FIG. Incidentally, FIG. 5 (b)
Shows a cross section taken along line B1-B2 of FIG. However, in 5 (a), the copper strike plated portion is not shown in the figure for the sake of clarity. As a pretreatment for the plating treatment, in addition to acid cleaning, alkali cleaning or the like is performed as necessary to the extent that the electrodeposition resist is not damaged. Further, when the lead frame material is a copper alloy, copper strike plating is a thin copper plating as a base metal for silver plating because it contains impurities such as Sn and Ni, but it is not always necessary. do not do. In some cases, the lead frame material is directly plated with silver. In this case, the silver plating base metal is a lead frame material.

【0005】最近は、銀めっきに代えて、貴金属として
パラジウム、もしくはパラジウム系合金をリードフレー
ムにめっき法で形成するようになってきたが、この場合
にも、リードフレーム全面にめっきを施すことが割高と
なることから、部分的に必要な領域のみにめっきを施す
ようになり、銀めっきの場合と同じように、治具を用い
たマスキング方法の他に、めっき液への耐性を備えた感
光性の電着レジストを用いたマスキング方法が採られよ
うになってきた。
Recently, instead of silver plating, palladium or a palladium-based alloy as a noble metal has been formed on the lead frame by a plating method. In this case as well, the entire surface of the lead frame can be plated. Since it is relatively expensive, plating is applied only to the necessary areas, and as in the case of silver plating, in addition to the masking method using a jig, a photosensitive material that is resistant to the plating solution is used. A masking method using a positive electrodeposition resist has come to be adopted.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記、図4に示す感光
性の電着レジストを用いたマスキング方法においては、
インナーリード先端部とダイパッド部を貴金属めっき処
理する場合には、フオトマスク440を用いたリードフ
レームへの露光の際の位置精度を、比較的粗くとれる
為、フオトマスク440のパターンとしては、図3
(b)に示すようなダイパッド部、インナーリード部を
含む四角状の遮光パターン440Aを設け、一括して感
光性の電着レジストを露光し、この部分を露出させるよ
うにしていた。尚、図3(b)中、440Bは露光光
(紫外線)透過領域である。しかしながら、このような
パターンを用いた感光性の電着レジストによるマスキン
グめっき方法においては、ダイパッド部を支持するタブ
吊りバー部にも貴金属めっきが施されてしまうが、ダイ
パッド部を支持する全てのタブ吊りバー部のめっき付着
量を均一に制御することは難しく、タブ吊りバー部間で
めっき付着量が異なってしまう。このため、貴金属めっ
き後のダウンセット加工の際、ダウンセット精度を向上
させるための機械精度を高くしても、タブ吊りバー間で
のめっき付着量が異なることが、ダウンセット精度の低
下の原因となりその対応が求められていた。本発明は、
このような状況のもと、インナーリード部に感光性のレ
ジストをめっきマスクとして貴金属めっきが施され、且
つ、ダウンセット加工が施されたリードフレームの加工
方法において、ダウンセット加工の精度を改善できる方
法を提供しようとするものである。同時に、ダウンセッ
ト加工の精度が向上されたリードフレームを提供しよう
とするものである。
In the masking method using the photosensitive electrodeposition resist shown in FIG. 4, as described above,
When the inner lead tip and the die pad are plated with a noble metal, the positional accuracy during exposure of the lead frame using the photomask 440 can be relatively rough. Therefore, the pattern of the photomask 440 is as shown in FIG.
A square light-shielding pattern 440A including a die pad portion and an inner lead portion as shown in (b) is provided, and the photosensitive electrodeposition resist is collectively exposed to expose this portion. In FIG. 3B, 440B is an exposure light (ultraviolet) transmitting region. However, in the masking plating method using a photosensitive electrodeposition resist using such a pattern, the tab suspension bar portion supporting the die pad portion is also plated with noble metal, but all the tabs supporting the die pad portion It is difficult to uniformly control the amount of plating applied to the hanging bar portion, and the amount of applied plating varies between the tab hanging bar portions. For this reason, when performing downset processing after precious metal plating, even if the machine accuracy for improving downset accuracy is increased, the amount of plating adhered between the tab suspension bars is different, which causes the decrease in downset accuracy. Next, the correspondence was demanded. The present invention
Under these circumstances, the accuracy of downset processing can be improved in the lead frame processing method in which the inner lead portion is plated with a noble metal using a photosensitive resist as a plating mask and the downset processing is performed. It is intended to provide a method. At the same time, it is intended to provide a lead frame with improved downset processing accuracy.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明のリードフレーム
の加工方法は、少なくともインナーリード部に貴金属め
っきが施され、且つ、ダイパッド部がダウンセット加工
されたリードフレームの加工方法であって、少なくと
も、順に、(A)インナーリード部ないしダイパッド部
に貴金属めっきを施すため、外形加工されたリードフレ
ームの表面にめっき液への耐性を備えた感光性のレジス
トを被膜し、露光、現像処理を行い、所定の領域のみを
露出させる工程と、(B)露出された所定の領域に貴金
属めっき処理を施す工程と、(C)ダイパッド部をダウ
ンセット加工する工程とを有し、且つ、前記貴金属めっ
き処理を施す露出された所定の領域には、ダイパッド部
を支持するタブ吊りバー部の少なくともダウンセット加
工部は入らないことを特徴とするものである。そして、
上記感光性のレジストが電着レジストであることを特徴
とするものである。そしてまた、上記の貴金属めっき処
理が、銀めっき処理、パラジウムめっき処理、パラジウ
ム系合金の少なくとも1つの処理を含むことを特徴とす
るものである。
A method of processing a lead frame according to the present invention is a method of processing a lead frame in which at least an inner lead portion is plated with a noble metal and a die pad portion is downset. , (A) In order to perform plating of the noble metal on the inner lead portion or die pad portion, the outer surface of the lead frame is coated with a photosensitive resist having resistance to the plating solution, and exposed and developed. And (B) performing a noble metal plating process on the exposed predetermined region, and (C) downsetting the die pad portion, and the noble metal plating At least the downset processing part of the tab suspension bar part that supports the die pad part should not enter the exposed predetermined area where the processing is performed. It is an feature. And
The above-mentioned photosensitive resist is an electrodeposition resist. Further, the above noble metal plating treatment is characterized by including at least one treatment of silver plating treatment, palladium plating treatment, and palladium alloy.

【0008】尚、本発明のリードフレームの加工方法に
おいては、リードフレーム材としては、42合金(42
%ニッケル−鉄合金)、コバール、各種銅合金が使用可
能であり、リードフレームの外形加工としては、エッチ
ング法あるいはスタンピング法が採られる。感光性レジ
ストとしては、めっき耐性があるもので、ポジ型、ネガ
型、どちらでも良く、電着レジストが好ましい。電着レ
ジストとしては、アニオン析出型、カチオン析出型のど
ちらでも良く、所定の電圧、電流を印加して、電着レジ
ストを析出させ、熱処理することによって、ピンホール
等の無い絶縁膜にすることができる。感光性レジストの
パターンニングは、所定の形状を有する露光用のパター
ンを用いて、露光、現像を行い、被めっき領域の金属部
分(下地金属部分)を露出させる。尚、露光は、使用す
るレジストのタイプに合わせて使用し、レジスト膜の露
光感度域に発光スペクトルを持つ紫外線ランプを用いて
行う。また、現像は、レジストに適した現像液、現像条
件で行い、被めっき領域のレジスト膜を溶解除去させ
る。貴金属めっきとしては、銀めっき、パラジウムめっ
き、パラジウム系合金めっきもしくはパラジウム系複合
めっきが使用可能である。各めっき液は一般的に市販さ
れているものを用いることが可能で、めっき方法、めっ
き条件は各々めっき液に適した方法、条件を用いる。め
っき皮膜形成後にレジストを剥離するが、用いたレジス
トに適した剥離液、剥離条件で除去し、必要があれば更
に脱脂洗浄する。
In the lead frame processing method of the present invention, as the lead frame material, 42 alloy (42
% Nickel-iron alloy), Kovar, and various copper alloys can be used, and an etching method or a stamping method is adopted as the external processing of the lead frame. The photosensitive resist has resistance to plating and may be either a positive type or a negative type, and an electrodeposition resist is preferable. The electrodeposition resist may be either anion precipitation type or cation precipitation type, and the electrodeposition resist is deposited by applying a predetermined voltage and current, and heat treated to form an insulating film without pinholes or the like. You can The patterning of the photosensitive resist is performed by exposing and developing using a pattern for exposure having a predetermined shape to expose the metal part (base metal part) of the plated region. The exposure is performed according to the type of resist used, and is performed using an ultraviolet lamp having an emission spectrum in the exposure sensitivity region of the resist film. Further, the development is performed under a developing solution and developing conditions suitable for the resist to dissolve and remove the resist film in the plated region. As the noble metal plating, silver plating, palladium plating, palladium alloy plating or palladium composite plating can be used. As each plating solution, a commercially available one can be used, and the plating method and plating conditions are the methods and conditions suitable for the plating solution. Although the resist is peeled off after the plating film is formed, it is removed under a peeling solution and peeling conditions suitable for the resist used, and further degreased and washed if necessary.

【0009】本発明のリードフレームは、上記本発明の
リードフレームの加工方法により加工されたことを特徴
とするものである。
The lead frame of the present invention is characterized by being processed by the method of processing a lead frame of the present invention.

【0010】[0010]

【作用】本発明のリードフレームの加工方法は、このよ
うな構成にすることにより、貴金属めっき処理後に行わ
れるダウンセット加工の精度が改善を可能とするもので
ある。そして、感光性のレジストをめっきマスクとして
用いているため、リードフレームの側面、裏面への貴金
属の不要な析出がなく、低コスト、高い信頼性のリード
フレームの加工を可能としている。詳しくは、少なくと
も、順に、(A)インナーリード部ないしダイパッド部
に貴金属めっきを施すため、外形加工されたリードフレ
ームの表面にめっき液への耐性を備えた感光性のレジス
トを被膜し、露光、現像処理を行い、所定の領域のみを
露出させる工程と、(B)露出された所定の領域に貴金
属めっき処理を施す工程と、(C)ダイパッド部をダウ
ンセット加工する工程とを有し、且つ、前記貴金属めっ
き処理を施す露出された所定の領域には、ダイパッド部
を支持するタブ吊りバー部の少なくともダウンセット加
工部は入らないことにより、タブ吊りバー部が貴金属め
っき処理されずにダウンセット加工される。この為、従
来貴金属めっき処理がタブ吊りバーまで施されていた場
合に生じた、タブ吊りバー間のめっき付着量の違いに起
因するダウンセット加工の精度低下を防止できるものと
している。また、レジストが電着レジストであることに
より、リードフレームの表面に比較的均一にレジストを
皮膜することが簡単にでき、且つ、リードフレーム微細
化にも対応できるものとしている。本発明のリードフレ
ームは、上記リードフレームの加工方法により作製され
たもので、不要な側面や裏面へのめっき付着がなく、且
つ、ダウンセット加工の精度が改善されたリードフレー
ムの提供を可能としている。
The method of processing a lead frame according to the present invention is capable of improving the accuracy of downset processing performed after the noble metal plating processing by adopting such a configuration. Further, since the photosensitive resist is used as the plating mask, there is no unnecessary deposition of the noble metal on the side surface and the back surface of the lead frame, and it is possible to process the lead frame with low cost and high reliability. More specifically, at least in order (A) to apply noble metal plating to the inner lead portion or the die pad portion, a photosensitive resist having resistance to the plating solution is coated on the surface of the lead frame that has been externally processed, and exposure, A developing process to expose only a predetermined region; (B) a noble metal plating process to the exposed predetermined region; and (C) a downset process of the die pad portion, and The tab suspension bar portion is down-set without being subjected to the precious metal plating treatment because at least the down-set processing portion of the tab suspension bar portion supporting the die pad portion does not enter the exposed predetermined area where the precious metal plating treatment is performed. Is processed. Therefore, it is possible to prevent a decrease in precision of downset processing due to a difference in the amount of plating adhered between the tab suspension bars, which occurs when the tab suspension bars are conventionally subjected to the noble metal plating process. Further, since the resist is an electrodeposition resist, the surface of the lead frame can be easily coated with the resist relatively uniformly, and the lead frame can be miniaturized. The lead frame of the present invention is manufactured by the above-described lead frame processing method, and it is possible to provide a lead frame in which unnecessary side surface and back surface plating is not adhered and down-set processing accuracy is improved. There is.

【0011】[0011]

【実施例】本発明のリードフレームの加工方法を実施例
に基づいて説明する。図1は実施例のリードフレームの
加工方法を説明するための工程図で、図2に示す本実施
例の加工方法により作製される本発明のリードフレーム
のA1−A2における断面を示してたものである。尚、
図1(a)においては、分かり易くする為、銅ストライ
クめっき部は図に示していない。図1中、110は外形
加工後のリードフレームで、112はダイパッド、11
3はインナーリード、120は銅ストライクメッキ、1
30は電着レジスト、140はフオトマスク、150は
紫外線(露光光)、160はめっき部、170は銀めっ
き(皮膜)、110Aはダウンセット加工後のリードフ
レームである。本実施例は、エッチング加工方法により
外形加工された0.15mm厚の銅系合金からなるQF
P(Quad Flat Package)タイプのリ
ードフレーム110のインナーリード部、ダイパッド部
に銀めっき処理を行い、次いでダウンセット加工を施し
たものである。先ず、エッチング加工にて得られたリー
ドフレーム110を電解脱脂して、酸洗後に化学研磨を
行い(図1(a))、このリードフレームの表面全体に
下地めっきとしての銅ストライクめっき120を施して
(図1(b))から、リードフレーム110を電着レジ
スト槽に浸漬し通電することによって、レジストを析出
させ、熱風乾燥することによって、電着レジスト130
の被膜を形成した。(図1(c)) 次いで、めっき部のみを遮光するフオトマスク140を
用いて紫外線(露光光)150を密着露光して、露光部
のみを硬化させた。(図1(d)) フォトマスク140としては、図3(a)に示す形状の
遮光パターン140Aを持つもので、このフォトマスク
を用い露光する際、タブ吊りバーは露光され、ダイパッ
ド112とインナーリード113の先端部のみが遮光さ
れ、現像後、ダイパッド112全体とインナーリード4
13の先端のみ、電着レジスト130が除去される。
尚、図3(a)中140Bは露光光(紫外線)透過領域
である。電着レジストとしては、陰極析出型のネガ型の
電着レジスト(シプレイ社製品番2100)を用いた。
レジスト膜厚は約20μmである。次いで、現像処理を
行い、未露光部の電着レジスト130を除去し、めっき
部を露出させた。(図1(e)) 現像液としては、品番2005(シプレイ社製)を用い
た。尚、この段階で、めっき部160にはレジスト残渣
(有機薄膜)が残存している場合には、低圧水銀灯を用
いて空気中で紫外線をめっき部へ照射し、レジスト残渣
(有機薄膜)を分解除去する等の処理を行う。この後、
銀めっき液中にリードフレーム全体を漬して、攪拌しな
がら所定の電流密度と時間でめっきを行い、所望の膜厚
の銀めっき(皮膜)170を得た。(図1(f)) めっき液は、シアン化カリウムにリン酸系あるいはホウ
酸系のPH緩衝剤とセレン、硫黄等を含有した化合物ま
たは有機系化合物の光沢剤を添加したもので、基本的に
は、マスク治具を用いめっき液を吹き付けるスパージヤ
ー方式(高速ジェット方式とも言う)の場合に用いるメ
ッキ液と基本組成は変わらないが、銀濃度50g/l、
CN- 濃度1.0g/l、液温40°C、pH8.0〜
8.3のものをここでは使用した。尚、スパージヤー方
式では電着レジストが部分的に破壊され、その部分に銀
の不要析出が生じるため、上記のように攪拌を行ってい
るめっき槽中にリードフレーム全体を浸漬し、通電して
めっきを行った。次いで、電着レジスト130を剥離液
品番2007(シプレイ社製)で剥離し、(図1
(g))、ダウンセット加工を施し、所定の領域のみに
銀めっき(皮膜)160を有するリードフレーム110
Aを得た。(図1(h)
EXAMPLES A method for processing a lead frame of the present invention will be described based on examples. FIG. 1 is a process diagram for explaining a method for processing a lead frame of an embodiment, showing a cross section taken along line A1-A2 of a lead frame of the present invention produced by the processing method of this embodiment shown in FIG. Is. still,
In FIG. 1A, the copper strike plated portion is not shown for the sake of clarity. In FIG. 1, 110 is a lead frame after external processing, 112 is a die pad, 11
3 is inner lead, 120 is copper strike plating, 1
30 is an electrodeposition resist, 140 is a photomask, 150 is ultraviolet rays (exposure light), 160 is a plated portion, 170 is silver plating (coating), and 110A is a lead frame after downset processing. This example is a QF made of a copper-based alloy having a thickness of 0.15 mm, which has been externally processed by an etching method.
An inner lead portion and a die pad portion of a P (Quad Flat Package) type lead frame 110 are silver-plated and then downset. First, the lead frame 110 obtained by etching is electrolytically degreased, pickled and chemically polished (FIG. 1 (a)), and copper strike plating 120 as an undercoat is applied to the entire surface of the lead frame. (FIG. 1 (b)), the lead frame 110 is immersed in an electrodeposition resist bath and current is applied to deposit the resist, followed by hot-air drying to deposit the electrodeposition resist 130.
Was formed. (FIG. 1C) Next, ultraviolet light (exposure light) 150 was contact-exposed using a photomask 140 that shields only the plated portion to cure only the exposed portion. (FIG. 1D) The photomask 140 has a light-shielding pattern 140A having the shape shown in FIG. 3A. When exposure is performed using this photomask, the tab suspension bar is exposed, and the die pad 112 and the inner layer are exposed. Only the tip portions of the leads 113 are shielded from light, and after development, the entire die pad 112 and the inner leads 4
The electrodeposition resist 130 is removed only on the tip of 13.
In addition, 140B in FIG. 3A is an exposure light (ultraviolet) transmitting region. As the electrodeposition resist, a negative electrodeposition type negative electrodeposition resist (Product No. 2100, Shipley Co.) was used.
The resist film thickness is about 20 μm. Then, a development process was performed to remove the electrodeposition resist 130 in the unexposed portion and expose the plated portion. (FIG. 1 (e)) As the developing solution, product number 2005 (manufactured by Shipley) was used. At this stage, if the resist residue (organic thin film) remains in the plating part 160, ultraviolet rays are irradiated to the plating part in the air using a low pressure mercury lamp to decompose the resist residue (organic thin film). Perform processing such as removal. After this,
The entire lead frame was immersed in a silver plating solution and plated at a predetermined current density and for a period of time with stirring to obtain a silver plating (coating) 170 having a desired film thickness. (FIG. 1 (f)) The plating solution is potassium cyanide to which is added a phosphoric acid-based or boric acid-based PH buffer and a brightening agent of a compound containing selenium, sulfur, etc. or an organic compound. , The basic composition is the same as the plating solution used in the case of the sparger method (also called high-speed jet method) of spraying the plating solution using a mask jig, but the silver concentration is 50 g / l,
CN - concentration 1.0 g / l, liquid temperature 40 ° C, pH 8.0
The one of 8.3 was used here. In the sparger method, the electrodeposition resist is partially destroyed, and unnecessary deposition of silver occurs in that area. Therefore, the entire lead frame is immersed in the plating tank that is being stirred as described above, and the current is applied to perform plating. I went. Then, the electrodeposition resist 130 is peeled off with a peeling liquid product number 2007 (manufactured by Shipley Co., Ltd.) (see FIG.
(G)), lead frame 110 that has been subjected to downset processing and has silver plating (film) 160 only in a predetermined area
A was obtained. (Fig. 1 (h)

【0012】上記実施例において、電着レジスト130
の膜厚を30μm以上とした場合には、めっき液の吹き
付けによる物理的破壊にも耐えることができ、スパージ
ヤー方式によるめっきを採用することも可能である。
In the above embodiment, the electrodeposition resist 130 is used.
When the film thickness is 30 μm or more, it is possible to withstand physical damage due to spraying of a plating solution, and it is also possible to employ plating by a sparger system.

【0013】次いで、本発明のリードフレームの実施例
を図2に挙げて説明する。図2(a)は本実施例のリー
ドフレームの平面図で、図2(b)は、図2(a)のA
1−A2におけるタブ吊りバー部を含む断面図である。
図2中、110Aはリードフレームで、112はダイパ
ッド、112Aはタブ吊りバー、113はインナーリー
ド、114はアウターリード、115はダムバー、11
6は枠(フレーム)、170は銀めっき(皮膜)であ
る。本実施例のリードフレームは、上記実施例のリード
フレームの加工方法により作製されたもので、0.15
mm厚の銅合金を素材としたもので、ワイヤボンディン
グのための銀めっきをインナーリード113の先端部
に、ダイボンディングのための銀めっきをダイパッド部
に施したものである。そして、図2(a)に示すよう
に、本実施例リードフレーム110Aは、タブ吊りバー
112Aには銀めっきが施されていないものであり、且
つ、図2(b)に示すように、タブ吊りバー112Aに
おいてダウンセット加工が施されている。
Next, an embodiment of the lead frame of the present invention will be described with reference to FIG. 2A is a plan view of the lead frame of this embodiment, and FIG. 2B is a plan view of FIG.
It is sectional drawing containing the tab suspension bar part in 1-A2.
In FIG. 2, 110A is a lead frame, 112 is a die pad, 112A is a tab suspension bar, 113 is an inner lead, 114 is an outer lead, 115 is a dam bar, 11
6 is a frame, and 170 is silver plating (coating). The lead frame of this example was manufactured by the method for processing the lead frame of the above example, and was 0.15
A copper alloy having a thickness of mm is used as a material, and silver plating for wire bonding is applied to the tips of the inner leads 113, and silver plating for die bonding is applied to the die pad portion. Then, as shown in FIG. 2A, in the lead frame 110A of this embodiment, the tab suspension bar 112A is not silver-plated, and as shown in FIG. The hanging bar 112A is downset.

【0014】本実施例リードフレームと、図4に示す、
従来のリードフレームとについて、ダウンセット加工の
精度を比較した結果は以下のようになった。尚、ダウン
セット加工を行うプレス機は油圧式の門型5トンプレス
を用い、金型は加工精度±50μmの仕様で作製してあ
る4本柱ダイセットを使用した。従来品のタブロケーシ
ョン寸法のバラツキ±100μmであったのが、本実施
例においては、タブロケーション寸法のバラツキ±50
μmとなり大幅に改善された。このように、本実施例の
リードフレームは、図4に示す従来のリードフレームに
対し、ダウンセット加工精度が大きく改善されたもので
ある。
The lead frame of this embodiment and the one shown in FIG.
The results of comparing the accuracy of downset processing with the conventional lead frame are as follows. In addition, a hydraulic press type 5 ton press was used as a press machine for down set processing, and a 4-pillar die set manufactured with a specification of processing accuracy of ± 50 μm was used as a die. The variation in the tab location dimension of the conventional product was ± 100 μm, but in the present embodiment, the variation in the tab location dimension ± 50.
It became μm, which was significantly improved. As described above, the lead frame of this embodiment has greatly improved downset processing accuracy as compared with the conventional lead frame shown in FIG.

【0015】[0015]

【発明の効果】本発明のリードフレームの加工方法は、
上記のように、貴金属めっき処理後に行われるダウンセ
ット加工の精度が改善できる加工方法の提供を可能とし
ている。そして、同時に、ダウンセット加工の精度が改
善されたリードフレームの提供を可能としている。ま
た、本発明のリードフレームの加工方法は、感光性のレ
ジストをめっきマスクとして用いているため、リードフ
レームの側面、裏面への貴金属の不要な析出がないもの
としている。この結果、貴金属、特に、高価な銀、パラ
ジウム、パラジウム系合金等の不要な析出を防止でき低
コスト化を可能にしている。本発明のリードフレーム
は、本発明のリードフレームの加工方法により作製され
るもので、ダウンセット加工精度が改善されたリードフ
レームの提供を可能にしている。
The processing method of the lead frame of the present invention is
As described above, it is possible to provide a processing method capable of improving the accuracy of downset processing performed after the precious metal plating processing. At the same time, it is possible to provide a lead frame with improved downset processing accuracy. Further, in the lead frame processing method of the present invention, since the photosensitive resist is used as the plating mask, it is assumed that no noble metal is unnecessarily deposited on the side surface and the back surface of the lead frame. As a result, it is possible to prevent unnecessary precipitation of precious metals, particularly expensive silver, palladium, palladium-based alloys, etc., thereby enabling cost reduction. The lead frame of the present invention is manufactured by the lead frame processing method of the present invention, and it is possible to provide a lead frame with improved downset processing accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のリードフレームの加工方法の実施例の
工程概略図
FIG. 1 is a process schematic diagram of an embodiment of a method for processing a lead frame of the present invention.

【図2】本発明のリードフレームの実施例の概略図FIG. 2 is a schematic view of an embodiment of a lead frame of the present invention.

【図3】フォトマスクのパターン形状を説明するための
FIG. 3 is a diagram for explaining a pattern shape of a photomask.

【図4】従来の感光性レジストをマスクとしためっき方
法を説明するための図
FIG. 4 is a diagram for explaining a conventional plating method using a photosensitive resist as a mask.

【図5】従来のリードフレームの図FIG. 5 is a diagram of a conventional lead frame.

【図6】リードフレーム(単層リードフレーム)の平面
図および半導体装置の断面図
FIG. 6 is a plan view of a lead frame (single layer lead frame) and a sectional view of a semiconductor device.

【図7】めっき方法を説明するための概略図FIG. 7 is a schematic diagram for explaining a plating method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

110、410 (外形加工後の)リードフレ
ーム 110A、410A (ダウンセット加工後の)リ
ードフレーム 112、412 ダイパッド 112A、412A タブ吊りバー 113、413 インナーリード 114、414 アウターリード 115 ダムバー 116 枠(フレーム) 120、420 銅ストライクメッキ 130、430 電着レジスト 140、440 フオトマスク 140A、440A 遮光パターン 140B、440B 露光光透過領域 150、450 紫外線(露光光) 160、460 めっき部 170、470 銀めっき(皮膜) 600 半導体装置 610 リードフレーム 612 ダイパッド 613 インナーリード 614 アウターリード 615 ダムバー 616 フレーム(枠)部 620 半導体素子 621 端子(パッド) 630 ワイヤ 640 樹脂 700 めっき装置 710 リードフレーム 720 マスキング治具 730 プレス用治具 730A プレス材 730B 弾性材 740 ノズル 750 定電流源 760 陽極電極 770 陰極電極
110, 410 Lead frame 110A, 410A (after external processing) Lead frame 112, 412 Die pad 112A, 412A Tab suspension bar 113, 413 Inner lead 114, 414 Outer lead 115 Dam bar 116 Frame (frame) 120, 420 Copper strike plating 130, 430 Electrodeposition resist 140, 440 Photo mask 140A, 440A Light-shielding pattern 140B, 440B Exposure light transmission region 150, 450 Ultraviolet (exposure light) 160, 460 Plating part 170, 470 Silver plating (film) 600 Semiconductor device 610 Lead frame 612 Die pad 613 Inner lead 614 Outer lead 615 Dam bar 616 Frame part 620 Semiconductor element 621 Terminal (pad) ) 630 wire 640 resin 700 plating device 710 lead frame 720 masking jig 730 press jig 730A press material 730B elastic material 740 nozzle 750 constant current source 760 anode electrode 770 cathode electrode

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくともインナーリード部に貴金属め
っきが施され、且つ、ダイパッド部がダウンセット加工
されたリードフレームの加工方法であって、少なくと
も、順に、(A)インナーリード部ないしダイパッド部
に貴金属めっきを施すため、外形加工されたリードフレ
ームの表面にめっき液への耐性を備えた感光性のレジス
トを被膜し、露光、現像処理を行い、所定の領域のみを
露出させる工程と、(B)露出された所定の領域に貴金
属めっき処理を施す工程と、(C)ダイパッド部をダウ
ンセット加工する工程とを有し、且つ、前記貴金属めっ
き処理を施す露出された所定の領域には、ダイパッド部
を支持するタブ吊りバー部の少なくともダウンセット加
工部は入らないことを特徴とするリードフレームの加工
方法。
1. A method of processing a lead frame in which at least an inner lead portion is plated with a noble metal, and a die pad portion is down-set, wherein (A) the inner lead portion or the die pad portion is at least in order. In order to perform plating, a step of coating a photosensitive resist having resistance to a plating solution on the surface of the lead frame subjected to the outer shape processing, performing exposure and development processing, and exposing only a predetermined region, (B) The method has a step of subjecting the exposed predetermined region to a precious metal plating treatment, and (C) a step of down-setting the die pad portion, and the exposed predetermined region to be subjected to the precious metal plating treatment has a die pad portion. A method of processing a lead frame, characterized in that at least the downset processing portion of the tab suspension bar portion supporting the lead frame is not inserted.
【請求項2】 請求項1記載の感光性のレジストが電着
レジストであることを特徴とするリードフレームの加工
方法。
2. A method of processing a lead frame, wherein the photosensitive resist according to claim 1 is an electrodeposition resist.
【請求項3】 請求項1ないし2記載の貴金属めっき処
理が、銀めっき処理、パラジウムめっき処理、パラジウ
ム系合金の少なくとも1つの処理を含むことを特徴とす
るリードフレームの加工方法。
3. A method for processing a lead frame, wherein the noble metal plating treatment according to claim 1 or 2 includes at least one treatment of silver plating treatment, palladium plating treatment, and palladium alloy.
【請求項4】 請求項1ないし3のリードフレームの加
工方法により加工されたことを特徴とするリードフレー
ム。
4. A lead frame processed by the method for processing a lead frame according to claim 1.
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