JPH09197437A - Liquid crystal display device and its production - Google Patents

Liquid crystal display device and its production

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JPH09197437A
JPH09197437A JP987296A JP987296A JPH09197437A JP H09197437 A JPH09197437 A JP H09197437A JP 987296 A JP987296 A JP 987296A JP 987296 A JP987296 A JP 987296A JP H09197437 A JPH09197437 A JP H09197437A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
film
liquid crystal
display device
crystal display
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP987296A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mitsuaki Suzuki
光明 鈴木
Mitsuo Nakajima
充雄 中島
Toshisuke Seto
俊祐 瀬戸
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH09197437A publication Critical patent/JPH09197437A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress an irregular etching state during etching and to obtain a liquid crystal display device having uniform characteristics all over the substrate even for a large screen by depositing a conductive film on an array substrate to be formed. SOLUTION: The array substrate 101 is produced by forming a transparent conductive film 105 comprising an ITO thin film having 200nm thickness on a glass substrate 104, forming a transparent insulating film 106 comprising a silicon oxide film having 500nm thickness on the ITO film 105, and further forming a thin film transistor 107, an auxiliary capacitor 108, a pixel electrode 109 and a driving circuit for a liquid crystal thereon. In this method, since the conductive film 105 is formed on the substrate and is used to control the voltage for etching, the ohmic joint part in the contact area 111 of the semiconductor film with a source electrode 116 and a drain electrode 117 can be uniformly formed all over the substrate, and thereby, a liquid crystal display device having high display quality can be obtd. Moreover, decrease in the production yield due to irregular etching can be decreased and the productivity can be increased.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示装置及びそ
の製造方法に関する。
The present invention relates to a liquid crystal display device and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】アクティブマトリクス方式の液晶表示装
置では、液晶を狭持している二つの電極板のうち、少な
くとも一方の電極板には薄膜トランジスタなどの半導体
素子、画素電極、補助容量、導体配線等が形成されてい
る。これらを形成するためには半導体層、絶縁膜層、電
極膜層などを順次堆積し、所定の形状にパタ−ニングす
る必要がある。
2. Description of the Related Art In an active matrix type liquid crystal display device, a semiconductor element such as a thin film transistor, a pixel electrode, an auxiliary capacitor, a conductor wiring, etc. are provided on at least one of two electrode plates holding a liquid crystal. Are formed. In order to form these, it is necessary to sequentially deposit a semiconductor layer, an insulating film layer, an electrode film layer and the like, and pattern them into a predetermined shape.

【0003】パタ−ニングの際にはマスクパターンを光
リソグラフィー(フォトリソグラフィー)で被パターニ
ング膜上に堆積したレジスト等にパターン転写した後
に、ドライエッチング方式、ウェットエッチング方式な
どにより被パターニング膜の不要部分をエッチング除去
することで所定形状にパタ−ニングする。
In patterning, a mask pattern is transferred by photolithography to a resist or the like deposited on a film to be patterned, and then an unnecessary portion of the film to be patterned is dry-etched or wet-etched. Is removed by etching to pattern into a predetermined shape.

【0004】ドライエッチング方式にはプラズマエッチ
ング法、スパッタエッチング法、反応性イオンエッチン
グ法(RIE法)など幾つか種類があるが、例えば反応
性イオンエッチング法では、エッチングガスを放電励起
によりプラズマ状態にして、被パターニング膜を堆積し
た基板をその雰囲気中に晒し、また所定の電位を加える
ことで被パターニング膜の所定の部分を除去している。
There are several types of dry etching methods such as a plasma etching method, a sputter etching method, and a reactive ion etching method (RIE method). For example, in the reactive ion etching method, an etching gas is turned into a plasma state by discharge excitation. Then, the substrate on which the film to be patterned is deposited is exposed to the atmosphere and a predetermined potential is applied to remove a predetermined portion of the film to be patterned.

【0005】このエッチングの際、基板が絶縁性である
ために、エッチング中に電荷が基板に不均一に蓄積され
るため、基板の各部分でエッチングが均一に進まないと
いう問題があった。
In this etching, since the substrate is insulative, electric charges are nonuniformly accumulated on the substrate during the etching, so that there is a problem that the etching does not proceed uniformly in each portion of the substrate.

【0006】また、エッチング対象膜の下層に存在する
予めパターニングされた薄膜の影響によりエッチングが
均一に進まない、あるいはエッチング装置の形状の不均
一、特に当該絶縁性基板の裏面(エッチング対象膜の反
対面)と接触している部分の形状の不均一の影響でエッ
チングが均一に進まないといった問題があった。
In addition, the etching does not proceed uniformly due to the influence of the thin film that has been patterned in advance under the film to be etched, or the shape of the etching apparatus is not uniform, especially the back surface of the insulating substrate (opposite to the film to be etched). There is a problem that the etching does not proceed uniformly due to the non-uniformity of the shape of the portion in contact with the surface.

【0007】このような不均一なエッチングにより、全
体にわたって特性の均一なアレイ基板、特に特性の均一
な薄膜トランジスタを形成することができず、表示品質
を低下させたり表示欠陥を生ずるという問題があった。
Due to such non-uniform etching, it is impossible to form an array substrate having uniform characteristics, especially a thin film transistor having uniform characteristics, and there is a problem that display quality is deteriorated or display defects occur. .

【0008】また、液晶表示装置の製造に際しても、歩
留まりを低下させ、コストを上昇させるといった問題が
あった。
Further, in manufacturing the liquid crystal display device, there are problems that the yield is reduced and the cost is increased.

【0009】例えば、スペーサー散布の際にも同様の問
題があった。すなわち、特にスペーサーの静電散布時
に、基板に形成されたパターン、基板を載置するステー
ジあるいは散布装置のチャンバーなどとの静電的な影響
により、高度の均一性が要求されるスペーサー散布が、
均一に行えないという問題があった。
[0009] For example, there is a similar problem when spraying spacers. That is, particularly when electrostatically spraying spacers, spacer spraying that requires a high degree of uniformity due to electrostatic effects on the pattern formed on the substrate, the stage on which the substrate is placed, or the chamber of the spraying device, etc.
There was a problem that it could not be performed uniformly.

【0010】一方、液晶表示装置は近年幅広い用途に用
いられており、厳しい温度条件や湿度条件の下で使用さ
れている。例えば車載用表示装置など、悪条件下におい
ては液晶表示装置に結露が生じ、動作不良を生じるなど
の問題もあった。
On the other hand, liquid crystal display devices have been used for a wide range of applications in recent years, and are used under severe temperature and humidity conditions. For example, under a bad condition such as a vehicle-mounted display device, dew condensation occurs on the liquid crystal display device, resulting in a malfunction.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような問
題を解決するためになされたものである。すなわち本発
明の目的は、特性が均一で表示品質の高い液晶表示装置
を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem. That is, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device having uniform characteristics and high display quality.

【0012】また、歩留まりが高く、生産性の高い液晶
表示装置を提供することを目的とする。
Another object of the present invention is to provide a liquid crystal display device having a high yield and high productivity.

【0013】本発明の別の目的は、エッチングを均一に
することにより特性の優れた液晶表示装置の製造方法を
提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a liquid crystal display device having excellent characteristics by making etching uniform.

【0014】また、歩留まりが高く生産性の高い液晶表
示装置の製造方法を提供することを目的とする。
It is another object of the present invention to provide a method for manufacturing a liquid crystal display device having a high yield and high productivity.

【0015】また、スペーサーがより均一に散布された
表示品質の高い液晶表示装置を提供することを目的とす
る。
It is another object of the present invention to provide a liquid crystal display device in which spacers are more evenly distributed and which has a high display quality.

【0016】本発明のさらに別の目的は、結露防止用の
ヒーターを内部に整合的に備えた、厳しい温度・湿度条
件で使用できる液晶表示装置を提供することにある。
Still another object of the present invention is to provide a liquid crystal display device which is provided with a heater for preventing dew condensation in a consistent manner and which can be used under severe temperature and humidity conditions.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示装置
は、絶縁性基板と、この絶縁性基板上に形成された導電
性膜と、この導電性膜上に形成した絶縁膜と、この絶縁
膜上に形成した画素電極及びこの画素電極を選択駆動す
る薄膜トランジスタアレイとを有するアレイ基板と、透
明電極を形成した対向基板と、アレイ基板と対向基板と
の間に挟持された液晶層とを具備したことを特徴とす
る。
A liquid crystal display device according to the present invention includes an insulating substrate, a conductive film formed on the insulating substrate, an insulating film formed on the conductive film, and an insulating film formed on the insulating film. An array substrate having a pixel electrode formed on the film and a thin film transistor array for selectively driving the pixel electrode, a counter substrate having a transparent electrode, and a liquid crystal layer sandwiched between the array substrate and the counter substrate are provided. It is characterized by having done.

【0018】本発明の液晶表示装置は、絶縁性基板と、
この絶縁性基板上に形成された導電性膜と、この導電性
膜上に形成した絶縁膜と、この絶縁膜上に形成した画素
電極及びこの画素電極を選択駆動する薄膜トランジスタ
アレイとを有するアレイ基板と、透明電極を形成した対
向基板と、アレイ基板と対向基板との間に挟持された液
晶層と、導電性膜に電圧を印加して加熱するヒータ手段
とを具備したことを特徴とする。
The liquid crystal display device of the present invention comprises an insulating substrate,
Array substrate having a conductive film formed on the insulating substrate, an insulating film formed on the conductive film, a pixel electrode formed on the insulating film, and a thin film transistor array for selectively driving the pixel electrode And a liquid crystal layer sandwiched between the array substrate and the counter substrate, and a heater means for applying a voltage to the conductive film to heat the conductive film.

【0019】絶縁性基板としては例えばガラス基板のよ
うな透明絶縁性基板を用いるようにしてもよい。
As the insulating substrate, a transparent insulating substrate such as a glass substrate may be used.

【0020】導電性膜は例えばITO(Indium
Tin Oxide)薄膜などの透明導電性膜を形成す
るようにしてもよい。
The conductive film is, for example, ITO (Indium).
A transparent conductive film such as a Tin Oxide) thin film may be formed.

【0021】この導電性膜上に形成する絶縁膜は、例え
ばシリコン酸化膜を形成するようにしてもよい。
The insulating film formed on the conductive film may be a silicon oxide film, for example.

【0022】本発明の液晶表示装置の製造方法は、絶縁
性基板上に導電性膜と絶縁膜とを順次形成する工程と、
絶縁膜上に堆積した薄膜の所定部分を、前記導電性膜の
電位を制御しながらエッチング除去してパターニングす
る工程とを具備したことを特徴とする。
A method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention comprises a step of sequentially forming a conductive film and an insulating film on an insulating substrate,
And a step of patterning by removing a predetermined portion of the thin film deposited on the insulating film by etching while controlling the potential of the conductive film.

【0023】すなわち、本発明の液晶表示装置は、透明
絶縁性基板上に形成された導電性膜を備えており、この
導電性膜上には絶縁膜が形成され、この絶縁膜上に薄膜
トランジスタ、画素電極及びその周辺回路が形成された
ものである。
That is, the liquid crystal display device of the present invention comprises a conductive film formed on a transparent insulating substrate, an insulating film is formed on the conductive film, and a thin film transistor is formed on the insulating film. A pixel electrode and its peripheral circuit are formed.

【0024】導電性膜は、例えばMoW合金薄膜を堆積
するようにしてもよいし、ITO(Indium Ti
n Oxide)薄膜を堆積するようにしてもよい。
As the conductive film, for example, a MoW alloy thin film may be deposited, or ITO (Indium Ti) may be deposited.
n Oxide) thin films may be deposited.

【0025】導電性膜は、MoW合金薄膜、ITO薄膜
の他にも約5Ω・cm〜約10000Ω・cm程度の抵
抗率を有する薄膜を形成するようにしてもよい。
The conductive film may be a MoW alloy thin film, an ITO thin film, or a thin film having a resistivity of about 5 Ω · cm to about 10000 Ω · cm.

【0026】導電性膜は、ガラスなどの絶縁性基板の全
面を覆うように形成してもよいし、また、堆積した導電
性薄膜を所定形状にパターニングするようにしてもよ
い。この場合でも、少なくとも基板面積の10%程度を
被覆するようにパターニングすることが好ましい。
The conductive film may be formed so as to cover the entire surface of an insulating substrate such as glass, or the deposited conductive thin film may be patterned into a predetermined shape. Even in this case, it is preferable to perform patterning so as to cover at least about 10% of the substrate area.

【0027】例えば導電性膜を所定形状にパターニング
し、ブラック・マトリクスとして用いるようにしてもよ
い。すなわち、画素電極間の隙間を埋めるように、また
薄膜トランジスタ領域を遮光するように導電性膜を形成
するようにしてもよい。
For example, the conductive film may be patterned into a predetermined shape and used as a black matrix. That is, the conductive film may be formed so as to fill the gap between the pixel electrodes and shield the thin film transistor region.

【0028】このような導電性膜を絶縁性基板上に形成
し、透明絶縁膜等による緩衝層を介した後に薄膜半導体
層を堆積させた上で、薄膜半導体層、並びに続いて堆積
させた膜のうち、パタ−ニングが必要な膜、例えばゲー
ト絶縁膜、層間絶縁膜、各種電極膜等なとのエッチング
プロセスを行う。
Such a conductive film is formed on an insulating substrate, a thin film semiconductor layer is deposited after a buffer layer of a transparent insulating film or the like is interposed, and then the thin film semiconductor layer and the subsequently deposited film are deposited. Of these, an etching process is performed on a film that requires patterning, such as a gate insulating film, an interlayer insulating film, various electrode films, and the like.

【0029】本発明においては、このエッチング工程に
際して、予め基板に形成した所定形状の導電性膜によ
り、被パターニング基板の電位を制御しながらエッチン
グを行う。例えば、被パターニング基板の導電性膜と、
エッチング装置の被パターニング基板を載置する電極を
電気的に接続するようにしてもよい。
In the present invention, during this etching step, etching is performed while controlling the potential of the substrate to be patterned by a conductive film having a predetermined shape formed on the substrate in advance. For example, a conductive film on the patterned substrate,
The electrodes on which the substrate to be patterned of the etching apparatus is placed may be electrically connected.

【0030】エッチング工程はプラズマエッチング法で
も、スパッタエッチング法でも、反応性イオンエッチン
グ法(RIE法)でもよい。
The etching process may be a plasma etching method, a sputter etching method, or a reactive ion etching method (RIE method).

【0031】このエッチングの際、基板上にエッチング
装置の電極と電気的に接続された導電性膜が存在するた
めに、エッチング中に電荷が基板に不均一に蓄積される
ことはなく、基板の各部分でエッチングが均一に進むこ
とになる。
During this etching, since the conductive film electrically connected to the electrodes of the etching apparatus is present on the substrate, the charge is not unevenly accumulated on the substrate during the etching, and the substrate Etching proceeds uniformly in each part.

【0032】また、導電性膜の存在により、エッチング
対象膜の下層に存在する予めパターニングされた薄膜が
形成されている場合でもその影響を大きく低減でき、ま
た、エッチング装置の形状の不均一、特に当該絶縁性基
板の裏面(エッチング対象膜の反対面)と接触している
部分の形状の不均一の影響を低減しエッチングを均一に
行うことができる。
Further, due to the presence of the conductive film, even if a pre-patterned thin film existing under the film to be etched is formed, its influence can be greatly reduced, and the shape of the etching apparatus is not uniform, especially. It is possible to reduce the influence of the nonuniformity of the shape of the portion in contact with the back surface (the surface opposite to the film to be etched) of the insulating substrate and perform the etching uniformly.

【0033】また、本発明の液晶表示装置は前述のアレ
イ基板を構成する導電性膜に電圧を印加することによ
り、アレイ基板乃至は液晶表示装置が加熱され、結露が
防止、または除去される。例えば、厚さ約200nmの
MoW合金薄膜を導電性膜として形成し、約30V程度
の電圧を印加することにより、液晶表示装置を約60℃
程度に加熱することができる。
Further, in the liquid crystal display device of the present invention, the array substrate or the liquid crystal display device is heated by applying a voltage to the above-mentioned conductive film forming the array substrate to prevent or remove dew condensation. For example, by forming a MoW alloy thin film having a thickness of about 200 nm as a conductive film and applying a voltage of about 30 V, the liquid crystal display device is heated to about 60 ° C.
Can be heated to a degree.

【0034】以上説明したように本発明の液晶表示装置
は、エッチングレートを基板全体にわたって均一にし、
半導体膜のコンタクト領域とソース電極・ドレイン電極
とのオーミック接合部が基板全体にわたり均一であり、
表示品質が高く、生産性も高い。また導電性膜により外
部電磁場による擾乱が低減される。
As described above, in the liquid crystal display device of the present invention, the etching rate is made uniform over the entire substrate,
The ohmic junction between the contact region of the semiconductor film and the source / drain electrode is uniform over the entire substrate,
High display quality and high productivity. Further, the conductive film reduces disturbance caused by an external electromagnetic field.

【0035】本発明の液晶表示装置においては、形成す
るアレイ基板に導電性膜を堆積することにより、引き続
いて行われるエッチング工程において、エッチング時の
エッチングむらの発生を抑制し、大画面でも基板全体に
わたり特性の均一な液晶表示装置が製造される。
In the liquid crystal display device of the present invention, by depositing a conductive film on the array substrate to be formed, it is possible to suppress the occurrence of etching unevenness during etching in the subsequent etching step, and to prevent the entire substrate from appearing even on a large screen. A liquid crystal display device having uniform characteristics is manufactured.

【0036】[0036]

【発明の実施の形態】図1は本発明の液晶表示装置の1
画素部分を概略的に示す断面図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows a liquid crystal display device 1 according to the present invention.
It is sectional drawing which shows a pixel part schematically.

【0037】この液晶表示装置100は、アレイ基板1
01と対向基板102との間に液晶層103が挟持され
たものである。
The liquid crystal display device 100 includes an array substrate 1
The liquid crystal layer 103 is sandwiched between 01 and the counter substrate 102.

【0038】アレイ基板101は、ガラス基板104上
に透明導電性膜105として厚さ200nmのITO薄
膜が形成され、このITO薄膜105上に透明絶縁膜1
06として厚さ500nmのシリコン酸化膜が形成され
ており、このような基板部上に薄膜トランジスタ10
7、補助容量108、画素電極109及び図示しない液
晶駆動回路が形成されている。
In the array substrate 101, an ITO thin film having a thickness of 200 nm is formed as a transparent conductive film 105 on a glass substrate 104, and the transparent insulating film 1 is formed on the ITO thin film 105.
A silicon oxide film having a thickness of 500 nm is formed as 06, and the thin film transistor 10 is formed on such a substrate portion.
7, an auxiliary capacitance 108, a pixel electrode 109, and a liquid crystal drive circuit (not shown) are formed.

【0039】一方、対向基板102には、液晶を挟持す
る側の面に例えばITOなどにより透明電極が形成され
ている。
On the other hand, on the opposite substrate 102, a transparent electrode is formed of, for example, ITO on the surface on the liquid crystal sandwiching side.

【0040】ガラス基板104としては、アルカリ金属
を含有した高融点ガラスを用いるようにしてもよい。導
電性膜によりガラス基板中のアルカリ金属の拡散を防止
することができるので、安価なガラス基板を用いること
ができる。
As the glass substrate 104, high melting point glass containing an alkali metal may be used. Since the conductive film can prevent the diffusion of the alkali metal in the glass substrate, an inexpensive glass substrate can be used.

【0041】ITO薄膜は、例えば、マグネトロンDC
スパッタ法によりIn2 3 とSnO2 が90:10の
割合(モル分率)に形成するようにしてもよい。
The ITO thin film is, for example, magnetron DC.
In 2 O 3 and SnO 2 may be formed in a ratio of 90:10 (molar fraction) by a sputtering method.

【0042】また、シリコン酸化膜は例えば常圧CVD
法で形成するようにしてもよい。
The silicon oxide film is, for example, atmospheric pressure CVD.
It may be formed by a method.

【0043】図1ではコプラナ型の薄膜トランジスタを
例示しているが、例えば正スタガ型の薄膜トランジスタ
や、逆スタガ型の薄膜トランジスタなど他のタイプの薄
膜トランジスタを用いるようにしてもよい。
Although FIG. 1 illustrates a coplanar type thin film transistor, other types of thin film transistors such as a positive stagger type thin film transistor and an inverted stagger type thin film transistor may be used.

【0044】透明絶縁膜106上には、チャネル領域1
10とコンタクト領域111とからなる半導体膜が形成
されている。この半導体膜はプラズマCVD法で非晶質
シリコン膜を成膜し、エキシマレーザでアニーリングし
て、非単結晶の結晶シリコン膜を形成した。この工程
は、例えば真空中で波長308nmのエキシマレーザ光
を、光強度分布を改善させるための光学系を通すことで
長さ300mm、幅0.4mmのビーム形状にビーム整
形した後に、光学フィルタで所望のレーザ強度に設定し
た上で、基板に形成した非晶質シリコン膜の所定領域に
ビームを走査して照射し、この領域を結晶化させ非単結
晶の結晶シリコン膜を形成するようにしてもよい。ま
た、半導体膜の損傷を防ぐために光強度を段階的に大き
くして3回にわたって照射を行うようにしてもよい。
The channel region 1 is formed on the transparent insulating film 106.
A semiconductor film including 10 and the contact region 111 is formed. As this semiconductor film, an amorphous silicon film was formed by a plasma CVD method and annealed by an excimer laser to form a non-single crystal silicon film. In this step, for example, an excimer laser beam having a wavelength of 308 nm is shaped in a beam having a length of 300 mm and a width of 0.4 mm by passing through an optical system for improving a light intensity distribution in a vacuum, and then an optical filter is used. After setting the desired laser intensity, a predetermined region of the amorphous silicon film formed on the substrate is scanned and irradiated with a beam, and this region is crystallized to form a non-single-crystal crystalline silicon film. Good. Further, in order to prevent damage to the semiconductor film, the light intensity may be increased stepwise and irradiation may be performed three times.

【0045】半導体膜も非単結晶の結晶シリコン膜にか
ぎらず、非晶質シリコン膜、あるいは、Te、CdSe
などシリコン以外の半導体膜を用いるようにしてもよ
い。
The semiconductor film is not limited to a non-single crystal silicon film, but an amorphous silicon film, or Te, CdSe.
Alternatively, a semiconductor film other than silicon may be used.

【0046】半導体膜のコンタクト領域はイオンドーピ
ングにより不純物イオンを注入し、レーザで活性化して
形成した。この時も前述の結晶化時と同様に3回にわた
ってレーザを照射した。
The contact region of the semiconductor film was formed by implanting impurity ions by ion doping and activating with laser. Also at this time, laser irradiation was performed three times as in the case of crystallization described above.

【0047】半導体膜の上側には所定形状にパターニン
グされたゲート絶縁膜112、ゲート電極113、Cs
電極114、第1の層間絶縁膜115、ソース電極11
6、ドレイン電極117、第2の層間絶縁膜118、画
素電極109が形成されている。
On the upper side of the semiconductor film, a gate insulating film 112, a gate electrode 113, Cs patterned into a predetermined shape are formed.
Electrode 114, first interlayer insulating film 115, source electrode 11
6, the drain electrode 117, the second interlayer insulating film 118, and the pixel electrode 109 are formed.

【0048】図1に例示した液晶表示装置100は基板
部に導電性膜105を備えており、この導電性により電
位を制御しながらエッチングを行っているので、半導体
膜のコンタクト領域111と、ソース電極116、ドレ
イン電極117とのオーミック接合部が基板全体にわた
って均一に形成された、表示品質の高い液晶表示装置で
ある。
The liquid crystal display device 100 illustrated in FIG. 1 is provided with a conductive film 105 on the substrate portion, and etching is performed while controlling the potential by this conductivity. Therefore, the contact region 111 of the semiconductor film and the source are formed. This is a liquid crystal display device with high display quality in which an ohmic junction between the electrode 116 and the drain electrode 117 is formed uniformly over the entire substrate.

【0049】また、エッチングの不均一による歩留まり
の低下を低減できる生産性の高い液晶表示装置である。
Further, the liquid crystal display device is highly productive, which can reduce the reduction in yield due to nonuniform etching.

【0050】図2は、図1に例示した液晶表示装置を製
造する際のパターニング工程の1例を示したものであ
る。
FIG. 2 shows an example of a patterning process in manufacturing the liquid crystal display device illustrated in FIG.

【0051】図2では、半導体膜のコンタクト領域11
1とソース電極・ドレイン電極とをオーミック接合させ
るために、反応性イオンエッチング法によりゲート絶縁
膜112および第1の層間絶縁膜115のソース電極・
ドレイン電極に対応する領域204をエッチング除去し
ている。
In FIG. 2, the contact region 11 of the semiconductor film is shown.
1 and the source electrode / drain electrode in ohmic contact, the source electrode of the gate insulating film 112 and the first interlayer insulating film 115 are formed by reactive ion etching.
The region 204 corresponding to the drain electrode is removed by etching.

【0052】エッチング装置の電極201上に基板20
2を載置してエッチングを行うが、導電性膜105の露
出部が基板202の端面に形成されており、エッチング
装置の電極201と、基板保持端子203により保持さ
れると同時に電気的に接続されている。
The substrate 20 is placed on the electrode 201 of the etching apparatus.
2 is placed and etching is performed, but the exposed portion of the conductive film 105 is formed on the end surface of the substrate 202, and the electrode 201 of the etching apparatus is held by the substrate holding terminal 203 and at the same time electrically connected. Has been done.

【0053】したがって、予め形成した導電性膜105
によりエッチング時に基板202表面の電位分布がほぼ
一定に保たれるため、基板の各部分、各画素のエッチン
グ量もほぼ均一に保たれる。またチャージアップも防止
される。
Therefore, the conductive film 105 formed in advance is formed.
As a result, the potential distribution on the surface of the substrate 202 is kept substantially constant during etching, so that the etching amount of each portion of the substrate and each pixel is also kept substantially uniform. Also, charge-up is prevented.

【0054】このため、基板全体にわたってエッチング
レートが均一化され、半導体膜のコンタクト領域とソー
ス電極・ドレイン電極との接合状態が一定になり、特性
の均一な液晶表示装置を形成することができる。
Therefore, the etching rate is made uniform over the entire substrate, the bonding state between the contact region of the semiconductor film and the source / drain electrodes becomes constant, and a liquid crystal display device having uniform characteristics can be formed.

【0055】ここではパターニング工程の1例をとって
説明したが、他のパターニング工程でも同様である。
Although an example of the patterning step has been described here, the same applies to other patterning steps.

【0056】なお、ここでは反応性イオンエッチング法
を例にとって説明したが、例えばプラズマエッチング
法、スパッタエッチング法など、他のエッチング法を適
用するようにしてもよい。
Although the reactive ion etching method has been described as an example here, another etching method such as a plasma etching method or a sputter etching method may be applied.

【0057】このように、基板に形成した導電性膜によ
り、基板の電位を均一に制御しながらエッチングを行う
ことにより、全体にわたって特性の均一なアレイ基板を
製造することができる。また、不均一なエッチングによ
る不良品率を低減し、生産性を向上することができる。
As described above, by performing etching while controlling the potential of the substrate uniformly by the conductive film formed on the substrate, it is possible to manufacture an array substrate having uniform properties throughout. Further, it is possible to reduce the defective product rate due to uneven etching and improve the productivity.

【0058】すなわち、上述のような基板電位を制御し
たエッチング工程を採用したことにより、設計どおりの
表示性能が得られない特性不良の画素は全画素総数中の
0.12パーセントから0.001パーセントと大幅に
減少させることができた。
That is, by adopting the above-described etching process in which the substrate potential is controlled, the defective pixels that cannot obtain the designed display performance are 0.12% to 0.001% in the total number of pixels. And was able to be greatly reduced.

【0059】また、図1に例示した液晶表示装置におい
ては、当該透明導電性膜を基板上全面に堆積させたた
め、ガラス基板か薄膜半導体層やゲート絶縁膜へナトリ
ウム、カリウム、カルシウム或いはホウ素等が拡散する
のを防止する効果もある。
Further, in the liquid crystal display device illustrated in FIG. 1, since the transparent conductive film is deposited on the entire surface of the substrate, sodium, potassium, calcium, boron or the like is not deposited on the glass substrate or the thin film semiconductor layer or the gate insulating film. It also has the effect of preventing diffusion.

【0060】なお、本実施例においては、画素部分のみ
ならず、画素駆動回路も同一基板上に形成したが、この
回路部分の下地にも、当該透明導電性膜が堆積されてい
る。図3は本発明の液晶表示装置の別の1例を概略的に
示す断面図である。図では1画素部分を示している。
In this embodiment, not only the pixel portion but also the pixel drive circuit is formed on the same substrate, but the transparent conductive film is deposited on the base of this circuit portion. FIG. 3 is a sectional view schematically showing another example of the liquid crystal display device of the present invention. The figure shows one pixel portion.

【0061】この液晶表示装置300は、アレイ基板3
01と例えばITOなどにより透明電極が形成された対
向基板302との間に液晶層303を挟持したものであ
る。アレイ基板301は、ガラス基板304上に導電性
膜305として厚さ200nmのMo(モリブデン)W
(タングステン)合金薄膜が形成されている。導電性膜
は例えばマグネトロンDCスパッタ法により基板の全面
にわたり堆積するようにしてもよい。また、導電性膜は
MoW合金膜の他にも、他の金属や不純物イオンをドー
プしたSi膜等を用いて形成するようにしてもよい。
The liquid crystal display device 300 includes the array substrate 3
01 and a counter substrate 302 having a transparent electrode formed of, for example, ITO, a liquid crystal layer 303 is sandwiched. The array substrate 301 includes a glass substrate 304 and a conductive film 305 on which Mo (molybdenum) W having a thickness of 200 nm is formed.
A (tungsten) alloy thin film is formed. The conductive film may be deposited on the entire surface of the substrate by, for example, magnetron DC sputtering method. In addition to the MoW alloy film, the conductive film may be formed using a Si film doped with another metal or impurity ions.

【0062】この導電性膜305はフォトエッチング工
程などにより所定形状に形成するようにしてもよい。。
The conductive film 305 may be formed into a predetermined shape by a photo etching process or the like. .

【0063】このMoW合金薄膜305上に透明絶縁膜
306として厚さ500nmのシリコン酸化膜が形成さ
れており、このような基板部上に薄膜トランジスタ30
7、画素電極309及び図示しない補助容量、駆動回路
が形成されている。
A 500 nm-thickness silicon oxide film is formed as a transparent insulating film 306 on the MoW alloy thin film 305, and the thin film transistor 30 is formed on such a substrate portion.
7, a pixel electrode 309, an auxiliary capacitance (not shown), and a drive circuit are formed.

【0064】シリコン酸化膜306は例えば常圧CVD
法を用いて堆積するようにしてもよい。
The silicon oxide film 306 is formed by atmospheric pressure CVD, for example.
A method may be used for the deposition.

【0065】また、薄膜トランジスタの半導体膜の形成
は、プラズマCVD法により厚さ約70nmの非晶質シ
リコン膜を堆積させ、これを約500℃に加熱した炉に
約3時間放置して、非晶質シリコン膜中の水素濃度を低
減するようにしてもよい。
For forming a semiconductor film of a thin film transistor, an amorphous silicon film having a thickness of about 70 nm is deposited by a plasma CVD method, and this is left in a furnace heated to about 500 ° C. for about 3 hours to make it amorphous. The hydrogen concentration in the high-quality silicon film may be reduced.

【0066】また、アニーリングは5×10-3Pa以下
の真空中で、波長308nmのエキシマレーザ光を、光
強度分布を改善させるための光学系を通すことで長さ3
00mm、幅0.4mmのビーム形状にビーム整形した
後に、光学フィルタで所望のレーザ強度に設定した上
で、基板に形成した非晶質シリコン膜の所定領域にビー
ムを走査して照射し、この領域を結晶化させ非単結晶の
結晶シリコン膜を形成するようにしてもよい。
The annealing is performed in a vacuum of 5 × 10 −3 Pa or less by passing an excimer laser beam having a wavelength of 308 nm through an optical system for improving the light intensity distribution.
After beam shaping into a beam shape of 00 mm and a width of 0.4 mm, the laser intensity is set to a desired value with an optical filter, and then a predetermined region of the amorphous silicon film formed on the substrate is scanned and irradiated with the beam. The region may be crystallized to form a non-single crystal silicon film.

【0067】半導体膜、ゲート絶縁膜、ゲート電極、C
s電極、第1の層間絶縁膜、ソース電極、ドレイン電
極、第2の層間絶縁膜、画素電極等の堆積し、パターニ
ングについては、図2で説明したように、基板部に堆積
した導電性膜により基板電位を制御しエッチングレート
を均一にして行うようにすればよい。
Semiconductor film, gate insulating film, gate electrode, C
For the deposition and patterning of the s electrode, the first interlayer insulating film, the source electrode, the drain electrode, the second interlayer insulating film, the pixel electrode, etc., as described in FIG. 2, the conductive film deposited on the substrate portion. Therefore, the substrate potential may be controlled to make the etching rate uniform.

【0068】また、半導体膜をパターニングして、半導
体膜のチャネル領域、コンタクト領域を形成する際に、
これらの部分が所定形状に形成した導電性膜の直上に配
置されるように設計した。これにより所定形状の導電性
膜による開口率の低下が生じることはない(図4参
照)。
When patterning the semiconductor film to form a channel region and a contact region of the semiconductor film,
It was designed such that these portions were arranged directly above the conductive film formed in a predetermined shape. As a result, there is no reduction in the aperture ratio due to the conductive film having a predetermined shape (see FIG. 4).

【0069】さらに、形成した所定形状のMoW合金薄
膜を、ブラック・マトリクスとして用いるようにしても
よい。このようにすれば、画面のコントラストが向上
し、さらに薄膜トランジスタのリーク電流も低減する。
Further, the formed MoW alloy thin film having a predetermined shape may be used as a black matrix. By doing so, the contrast of the screen is improved and the leak current of the thin film transistor is also reduced.

【0070】図3に例示した液晶表示装置においては、
アレイ基板に形成し、所定形状に成形したMoW合金薄
膜を、結露防止用のヒータ手段としても用いるため、外
部からこの導電性膜305へ電圧を印加するための図示
しない電圧印加手段を備えている。
In the liquid crystal display device illustrated in FIG. 3,
Since the MoW alloy thin film formed on the array substrate and formed into a predetermined shape is also used as a heater for preventing dew condensation, a voltage applying unit (not shown) for externally applying a voltage to the conductive film 305 is provided. .

【0071】例えば、導電性膜305に約30V程度の
電圧を印加することにより、液晶表示装置を約60℃程
度に加熱することができる。このように導電性膜305
に電圧を印加して加熱するヒータ手段を備えることによ
り、厳しい温度・湿度条件での使用にも対応することが
できる。
For example, by applying a voltage of about 30 V to the conductive film 305, the liquid crystal display device can be heated to about 60 ° C. Thus, the conductive film 305
By providing a heater means for applying a voltage to and heating it, it can be used even under severe temperature and humidity conditions.

【0072】図4は、図3に例示した液晶表示装置のア
レイ基板を概略的に示す平面図である。導電性膜305
の形状はヒーターとしても機能するように形成されてい
る。すなわち、導電性膜305はゲート線および薄膜ト
ランジスタ307の部分を覆いかつ表示部とはできるだ
け重ならないように、またヒータとして効率がよいよう
に細く長くパターニングするようにすればよい。図中3
08は補助容量部である。
FIG. 4 is a plan view schematically showing an array substrate of the liquid crystal display device illustrated in FIG. Conductive film 305
Is shaped so that it also functions as a heater. That is, the conductive film 305 may be patterned so as to cover the gate line and the thin film transistor 307 and not overlap the display portion as much as possible, and to be thin and long so as to be efficient as a heater. 3 in the figure
Reference numeral 08 is an auxiliary capacitance section.

【0073】図4に例示した導電性膜305のパターン
は、エッチング時には基板全体の電位を均一に制御でき
るように、基板の表示部の外側に接続部を有している。
この接続部305bは、エッチング時にエッチング装置
の電極と接続するようになっており、例えば、図2の基
板保持端子203と対応する部分である。この接続部3
05bは、後の工程で図4のAB方向に沿って切断すれ
ば、ブラック・マトリクスとして機能するだけでなく、
結露防止ヒータとしても効率のよいジグザグパターンが
形成される。
The pattern of the conductive film 305 illustrated in FIG. 4 has a connection portion outside the display portion of the substrate so that the potential of the entire substrate can be uniformly controlled during etching.
The connection portion 305b is adapted to be connected to the electrode of the etching apparatus during etching, and is, for example, a portion corresponding to the substrate holding terminal 203 of FIG. This connection 3
05b not only functions as a black matrix if it is cut along the AB direction in FIG. 4 in a later step,
A zigzag pattern that is efficient as a dew condensation preventing heater is also formed.

【0074】また、スペーサー散布時にも基板全体の電
位を均一に保ち、スペーサーのより均一な散布を行うこ
とができる。特にスペーサーの静電散布時には、基板を
載置する散布ステージやチャンバーのよる影響を防ぐこ
とができる。したがって、接続部305bの切断はスペ
ーサーの散布後に行うようにしてもよい。
Further, even when the spacers are sprayed, the potential of the entire substrate can be kept uniform and the spacers can be sprayed more uniformly. In particular, when electrostatically spraying the spacers, it is possible to prevent the effects of the spraying stage and the chamber on which the substrate is placed. Therefore, the connection portion 305b may be cut after the spacers are sprayed.

【0075】なお、導電性膜305のパターンは、図4
に例示したパターンに限ることはなく、アレイ基板製造
プロセスおよびスペーサー散布プロセス中に、アレイ基
板全体の電位を均一にすることができ、液晶表示装置と
して組み立てられた後はヒーターとして機能するような
パターンであればよい。
The pattern of the conductive film 305 is shown in FIG.
The pattern is not limited to the pattern illustrated in FIG. 2, and the pattern can make the potential of the entire array substrate uniform during the array substrate manufacturing process and the spacer spraying process, and functions as a heater after being assembled as a liquid crystal display device. If

【0076】本発明は液晶表示装置は透過型の液晶表示
装置だけでなく、反射型液晶表示装置にも全く同様に適
用できる。
The present invention can be applied to not only a transmission type liquid crystal display device but also a reflection type liquid crystal display device.

【0077】[0077]

【発明の効果】以上説明したように本発明の液晶表示装
置は、基板全体にわたって特性が均一で、表示品質が高
く、生産性の高い液晶表示装置である。また外部電磁場
による擾乱を低減することもできる。
As described above, the liquid crystal display device of the present invention is a liquid crystal display device having uniform characteristics over the entire substrate, high display quality, and high productivity. It is also possible to reduce the disturbance due to the external electromagnetic field.

【0078】また、本発明の液晶表示装置においては、
基板に形成した導電性膜に電圧を印加してヒータ手段と
することにより、結露を防止することができ、厳しい温
度・湿度条件下でも使用することができる。
Further, in the liquid crystal display device of the present invention,
By applying a voltage to the conductive film formed on the substrate to form a heater means, dew condensation can be prevented, and the heater can be used even under severe temperature and humidity conditions.

【0079】本発明の液晶表示装置においては、アレイ
基板に導電性膜を堆積することにより、引き続いて行わ
れるエッチング工程において、エッチング時のエッチン
グむらの発生を抑制し、基板全体にわたり特性の均一な
液晶表示装置を製造することができる。
In the liquid crystal display device of the present invention, by depositing a conductive film on the array substrate, it is possible to suppress the occurrence of etching unevenness during etching in a subsequent etching process and to make the characteristics uniform over the entire substrate. A liquid crystal display device can be manufactured.

【0080】また、基板サイズの大きい大画面の液晶表
示装置においても基板全体にわたり特性の均一な液晶表
示装置を製造することができる。
Further, even in a large-screen liquid crystal display device having a large substrate size, a liquid crystal display device having uniform characteristics over the entire substrate can be manufactured.

【0081】さらに、スペーサー散布時にもスペーサー
の被散布体である基板の電位を全体にわたり均一に保
ち、スペーサーをより均一に散布することができる。し
たがって、液晶層の厚さをより均一に形成することがで
き、表示品質の高い液晶表示装置となる。
Further, even when the spacers are sprayed, the potential of the substrate, which is the material to be sprayed by the spacers, can be kept uniform throughout, and the spacers can be sprayed more uniformly. Therefore, the thickness of the liquid crystal layer can be formed more uniformly, and the liquid crystal display device has high display quality.

【0082】また、不均一なエッチング工程による不良
の発生を大幅に低減でき、液晶表示装置製造の生産性を
向上し、製造コストを低減することができる。
Further, the occurrence of defects due to the non-uniform etching process can be significantly reduced, the productivity of liquid crystal display device manufacturing can be improved, and the manufacturing cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の液晶表示装置を概略的に示す断面図。FIG. 1 is a sectional view schematically showing a liquid crystal display device of the present invention.

【図2】本発明の液晶表示装置の製造方法の1工程を概
略的にに示す図。
FIG. 2 is a diagram schematically showing one step of a method for manufacturing a liquid crystal display device of the present invention.

【図3】本発明の液晶表示装置を概略的に示す断面図。FIG. 3 is a sectional view schematically showing a liquid crystal display device of the present invention.

【図4】本発明の液晶表示装置の導電性膜パターンの1
例を示す図。
FIG. 4 is one of the conductive film patterns of the liquid crystal display device of the present invention.
The figure which shows an example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100……液晶表示装置、101……アレイ基板、10
2……対向基板 103……液晶層、104……ガラス基板、105……
ITO薄膜 106……透明絶縁膜、107……薄膜トランジスタ、
108……補助容量 109……画素電極、110……チャネル領域、111
……コンタクト領域 112……ゲート絶縁膜、113……ゲート電極、11
4……Cs電極 115……第1の層間絶縁膜、116……ソース電極、
117……ドレイン電極 118……第2の層間絶縁膜 201……電極、202……基板、203……基板保持
端子 300……液晶表示装置、301……アレイ基板、30
2……対向基板 303……液晶層、304……ガラス基板、305……
導電性膜 305b……接続パターン、306……透明絶縁膜 307……薄膜トランジスタ、308……補助容量、3
09……画素電極
100 ... Liquid crystal display device, 101 ... Array substrate, 10
2 ... Counter substrate 103 ... Liquid crystal layer, 104 ... Glass substrate, 105 ...
ITO thin film 106: transparent insulating film 107: thin film transistor,
108 ... Auxiliary capacitance 109 ... Pixel electrode, 110 ... Channel region, 111
...... Contact area 112 ...... Gate insulating film, 113 ...... Gate electrode, 11
4 ... Cs electrode 115 ... first interlayer insulating film, 116 ... source electrode,
117 ... Drain electrode 118 ... Second interlayer insulating film 201 ... Electrode, 202 ... Substrate, 203 ... Substrate holding terminal 300 ... Liquid crystal display device, 301 ... Array substrate, 30
2 ... Counter substrate 303 ... Liquid crystal layer, 304 ... Glass substrate, 305 ...
Conductive film 305b ... Connection pattern, 306 ... Transparent insulating film 307 ... Thin film transistor, 308 ... Auxiliary capacitor, 3
09 ... Pixel electrode

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁性基板と、この絶縁性基板上に形成
された導電性膜と、この導電性膜上に形成した絶縁膜
と、この絶縁膜上に形成した画素電極及びこの画素電極
を選択駆動する薄膜トランジスタアレイとを有するアレ
イ基板と、 透明電極を形成した対向基板と、 前記アレイ基板と前記対向基板との間に挟持された液晶
層とを具備したことを特徴とする液晶表示装置。
1. An insulating substrate, a conductive film formed on the insulating substrate, an insulating film formed on the conductive film, a pixel electrode formed on the insulating film, and a pixel electrode formed on the insulating film. A liquid crystal display device comprising: an array substrate having a thin film transistor array that is selectively driven; a counter substrate on which a transparent electrode is formed; and a liquid crystal layer sandwiched between the array substrate and the counter substrate.
【請求項2】 絶縁性基板と、この絶縁性基板上に形成
された導電性膜と、この導電性膜上に形成した絶縁膜
と、この絶縁膜上に形成した画素電極及びこの画素電極
を選択駆動する薄膜トランジスタアレイとを有するアレ
イ基板と、 透明電極を形成した対向基板と、 前記アレイ基板と前記対向基板との間に挟持された液晶
層と前記導電性膜に電圧を印加して加熱するヒータ手段
とを具備したことを特徴とする液晶表示装置。
2. An insulating substrate, a conductive film formed on the insulating substrate, an insulating film formed on the conductive film, a pixel electrode formed on the insulating film, and a pixel electrode formed on the insulating film. An array substrate having a thin film transistor array that is selectively driven, a counter substrate on which a transparent electrode is formed, a liquid crystal layer sandwiched between the array substrate and the counter substrate, and the conductive film are heated by applying a voltage. A liquid crystal display device comprising a heater means.
【請求項3】前記導電性膜は透明導電性膜であることを
特徴とする請求項1乃至2のいずれかに記載の液晶表示
装置。
3. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the conductive film is a transparent conductive film.
【請求項4】 絶縁性基板上に導電性膜と絶縁膜とを順
次形成する工程と、 前記絶縁膜上に堆積した薄膜の所定部分を、前記導電性
膜の電位を制御しながらエッチング除去してパターニン
グする工程とを具備したことを特徴とする液晶表示装置
の製造方法。
4. A step of sequentially forming a conductive film and an insulating film on an insulating substrate, and a predetermined portion of the thin film deposited on the insulating film is removed by etching while controlling the potential of the conductive film. And a step of patterning the liquid crystal display device.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2002189429A (en) * 2000-09-06 2002-07-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and its manufacturing method
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