JPH09190461A - Simulator for verification of polyphase clock input logic circuit - Google Patents

Simulator for verification of polyphase clock input logic circuit

Info

Publication number
JPH09190461A
JPH09190461A JP8002811A JP281196A JPH09190461A JP H09190461 A JPH09190461 A JP H09190461A JP 8002811 A JP8002811 A JP 8002811A JP 281196 A JP281196 A JP 281196A JP H09190461 A JPH09190461 A JP H09190461A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
simulation
logic circuit
simulator
clock
model
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP8002811A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Minoru Kawaguchi
実 川口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Engineering Ltd filed Critical NEC Engineering Ltd
Priority to JP8002811A priority Critical patent/JPH09190461A/en
Publication of JPH09190461A publication Critical patent/JPH09190461A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the time of test pattern correction and simulation without considering delay with a data signal at the time of generating a test pattern. SOLUTION: A compile means 2 compiles an inputted logic circuit model 1 and generates a simulation model 3 and a dividing means 4 divides the simulation model 3 generated by the compile means 2 into modules 5 and 6 by clock. A simulation means 7 executes the simulation of the modules 5 and 6 in parallel through the use of the test pattern 8 and an analyzing means 9 analizes the simulation result of the simulation means.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は多相クロック入力論
理回路検証用シミュレータに関し、特にLSI(大規模
集積回路)やPKG(パッケージ)等からなるコンピュ
ータシステムにおいて多相クロックを入力する論理回路
の論理検証に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a simulator for verifying a multi-phase clock input logic circuit, and more particularly to a logic circuit for inputting a multi-phase clock in a computer system including an LSI (Large Scale Integrated Circuit), a PKG (package) and the like. Regarding verification.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の論理検出においては、図
6に示すようなシミュレーション時のモデル構成が用い
られている。すなわち、シミュレーション時のモデルは
シミュレーションを実行するシミュレータ(シミュレー
ションエンジンを含む)50と、論理情報が記述された
シミュレーションモデル60とから構成されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in this type of logic detection, a model configuration at the time of simulation as shown in FIG. 6 has been used. That is, the model at the time of simulation is composed of a simulator (including a simulation engine) 50 for executing the simulation and a simulation model 60 in which logic information is described.

【0003】多相クロックが入力されるシミュレーショ
ンモデル60のクロックピンはクロック周波数αを入力
するための信号線110と、クロック周波数βを入力す
るための信号線120とに夫々接続されている。また、
シミュレーションモデル60の入出力ピンは信号線11
1,121に夫々接続され、シミュレータ50によって
制御されている。
The clock pins of the simulation model 60 to which the multi-phase clock is input are respectively connected to the signal line 110 for inputting the clock frequency α and the signal line 120 for inputting the clock frequency β. Also,
The input / output pin of the simulation model 60 is the signal line 11
1, 121 are respectively connected and controlled by the simulator 50.

【0004】上記のモデルでのシミュレーションは、図
5に示すように、シミュレータ50に入力される論理回
路41のモデルをコンパイル手段42でコンパイルし、
シミュレーションモデル43(図5のシミュレーション
モデル60)を作成する。
In the simulation using the above model, as shown in FIG. 5, the model of the logic circuit 41 input to the simulator 50 is compiled by the compiling means 42,
The simulation model 43 (simulation model 60 in FIG. 5) is created.

【0005】シミュレーション手段44では作成したシ
ミュレーションモデル43を検証するためのテストパタ
ーン45を与えてシミュレーションを実行し、解析手段
46でシミュレーション手段44のシミュレーション結
果を解析する。すなわち、解析手段46はシミュレーシ
ョンモデル43内の各フリップフロップの出力に基づい
たタイミング検証や出力ピンでの論理検証を行ってい
る。
The simulation means 44 gives a test pattern 45 for verifying the created simulation model 43 to execute a simulation, and the analysis means 46 analyzes the simulation result of the simulation means 44. That is, the analysis means 46 performs timing verification based on the output of each flip-flop in the simulation model 43 and logic verification at the output pin.

【0006】また、多相クロックを使用したシミュレー
ションモデルに対して単一周波数のクロック信号を発生
するシミュレータでシミュレーションを行う場合、単一
周波数のクロック信号から多相のクロック周波数を発生
させる回路をシミュレータとシミュレーションモデルと
の間に挿入することで、シミュレーションができる構成
とする方法もある。この方法については、特開昭62−
233848号公報に詳述されている。
When a simulator for generating a clock signal of a single frequency is used for a simulation model using a polyphase clock, a simulator for generating a clock signal of the multiphase from the clock signal of the single frequency is used. There is also a method of arranging for simulation by inserting it between the and the simulation model. This method is disclosed in JP-A-62-1
It is described in detail in Japanese Patent No. 233848.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のシミュ
レータでは、論理回路に入力するクロック数が一つの1
相同期回路を対象としており、1クロックのタイミング
に合わせてフリップフロップを動作させ、その論理回路
の回路情報をサンプリングしている。
In the above-mentioned conventional simulator, the number of clocks input to the logic circuit is one.
The target is a phase-locked loop circuit, and a flip-flop is operated at the timing of one clock to sample the circuit information of the logic circuit.

【0008】多相クロックの場合には、クロック周波数
やサンプリング時間値を1つしか設定できないため、設
定した以外のクロック周波数で動作する論理回路の検証
を、周波数及びサンプリング時間値を別に設定し直して
シミュレーションしなければならない。
In the case of a multi-phase clock, since only one clock frequency and sampling time value can be set, verification of a logic circuit operating at a clock frequency other than the set clock frequency and sampling time value are reset separately. Have to simulate.

【0009】そのため、現在シミュレーションしている
周波数以外のクロックを考慮してテストパターンを作成
しなければならないので、パターン数及びテストパター
ンの作成工数が増大してしまう。
Therefore, the test pattern must be created in consideration of a clock other than the frequency currently being simulated, which increases the number of patterns and the number of test pattern creation steps.

【0010】また、単一周波数のクロック信号から多相
のクロック周波数を発生させる回路をシミュレータとシ
ミュレーションモデルとの間に挿入する方法の場合、シ
ミュレータで発生する単一のクロック信号から多相のク
ロック信号をシミュレータとシミュレーションモデルと
の間に挿入した回路で作成しているため、シミュレータ
からシミュレーションモデルのクロックピンまでの遅延
でデータ信号との間に遅延差が生じ、スパイク等の不必
要なパルスを作成してしまう恐れがある。そのため、論
理回路の回路情報を正確に測定するためにはテストパタ
ーン作成時にその遅延を考慮しなければならない。
Further, in the case of a method of inserting a circuit for generating a multi-phase clock frequency from a clock signal of a single frequency between a simulator and a simulation model, a multi-phase clock signal from a single clock signal generated by the simulator is used. Since the signal is created by the circuit inserted between the simulator and the simulation model, the delay from the simulator to the clock pin of the simulation model causes a delay difference with the data signal, and unnecessary pulses such as spikes are generated. There is a risk of creating it. Therefore, in order to accurately measure the circuit information of the logic circuit, its delay must be taken into consideration when creating the test pattern.

【0011】そこで、本発明の目的は上記の問題点を解
消し、テストパターン作成時にデータ信号との間の遅延
を考慮することなく、テストパターン修正及びシミュレ
ーションの回数を削減することができる多相クロック入
力論理回路検証用シミュレータを提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to solve the above problems, and to reduce the number of times of test pattern modification and simulation without considering the delay between the test pattern and the data signal. It is to provide a simulator for verifying a clock input logic circuit.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明による多相クロッ
ク入力論理回路検証用シミュレータは、多相クロックを
入力とする論理回路の論理検証を行う多相クロック入力
論理回路検証用シミュレータであって、前記論理回路を
前記多相クロック各々に対応する複数のモジュールに分
割する分割手段と、前記複数のモジュール毎に各々対応
するクロックを用いて互いに並行してシミュレーション
を行う手段とを備えている。
A multi-phase clock input logic circuit verification simulator according to the present invention is a multi-phase clock input logic circuit verification simulator for performing logic verification of a logic circuit having a multi-phase clock as an input. The logic circuit is provided with a dividing means for dividing the logic circuit into a plurality of modules corresponding to the respective multi-phase clocks, and a means for performing simulations in parallel with each other using the clocks corresponding to the plurality of modules.

【0013】本発明による他の多相クロック入力論理回
路検証用シミュレータは、上記の構成のほかに、前記複
数のモジュール間における信号の入出力時に出力元のモ
ジュールからの信号のタイミングを出力先のモジュール
に対応するクロックで調整制御する手段を具備してい
る。
In addition to the above-mentioned configuration, another simulator for verifying a multi-phase clock input logic circuit according to the present invention is arranged such that when inputting / outputting a signal between the plurality of modules, the timing of the signal from the output source module is output to the output destination module. It is provided with means for adjusting and controlling with a clock corresponding to the module.

【0014】本発明による別の多相クロック入力論理回
路検証用シミュレータは、上記の構成において、前記分
割手段を、前記論理回路を前記多相クロック各々を入力
するフリップフロップを含む部分論理回路を同一クロッ
ク毎に個別のモジュールに分割するよう構成している。
In another simulator for verifying a multi-phase clock input logic circuit according to the present invention, in the above structure, the dividing means is the same partial logic circuit including a flip-flop for inputting each of the multi-phase clocks to the logic circuit. It is configured to be divided into individual modules for each clock.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】まず、本発明の作用について以下
に述べる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, the operation of the present invention will be described below.

【0016】多相クロックを使用した論理回路をシミュ
レーションする場合、論理回路モデルをコンパイル手段
でコンパイルして作成されたシミュレーションモデルを
分割手段でクロック周波数毎にモジュール分割し、夫々
のモジュールに対するシミュレーションをシミュレーシ
ョン手段で並行して実行する。
When simulating a logic circuit using a multi-phase clock, the simulation model created by compiling the logic circuit model by the compiling means is divided into modules for each clock frequency by the dividing means, and the simulation for each module is simulated. By means of parallel execution.

【0017】これによって、テストパターンの作成時に
データ信号との間の遅延を考慮することなく、テストパ
ターン修正及びシミュレーションの回数を削減すること
が可能となる。
This makes it possible to reduce the number of times of test pattern modification and simulation without considering the delay between the test pattern and the data signal.

【0018】次に、本発明の一実施例について図面を参
照して説明する。図1は本発明の一実施例を示す構成図
である。図において、本発明の一実施例による多相クロ
ック入力論理回路検証用シミュレータはコンパイル手段
2と、分割手段4と、シミュレーション手段7と、解析
手段9とから構成されている。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram showing one embodiment of the present invention. In the figure, a simulator for verifying a multi-phase clock input logic circuit according to an embodiment of the present invention comprises a compiling means 2, a dividing means 4, a simulating means 7, and an analyzing means 9.

【0019】コンパイル手段2は入力された論理回路モ
デル1をコンパイルしてシミュレーションモデル3を作
成し、分割手段4はコンパイル手段2で作成されたシミ
ュレーションモデル3をクロック別のモジュール5,6
に分割する。
The compiling means 2 compiles the input logic circuit model 1 to create a simulation model 3, and the dividing means 4 composes the simulation model 3 created by the compiling means 2 into modules 5 and 6 for each clock.
Divided into

【0020】シミュレーション手段7はこれらモジュー
ル5,6のシミュレーションをテストパターン8を用い
て並行して行い、解析手段9はシミュレーション手段7
のシミュレーション結果を解析する。
The simulation means 7 performs the simulation of these modules 5 and 6 in parallel using the test pattern 8, and the analysis means 9 performs the simulation means 7.
Analyze the simulation results of.

【0021】図2は本発明の一実施例によるシミュレー
ション時のモデル構成を示す図である。図において、本
発明の一実施例では異なる周波数のクロック信号線数と
同じ数のシミュレーションエンジン12,13を使用し
ており、以下、異なる周波数のクロック信号が2つある
2相クロックを使用したシミュレーションモデルについ
て説明する。
FIG. 2 is a diagram showing a model configuration during simulation according to an embodiment of the present invention. In the figure, one embodiment of the present invention uses the same number of simulation engines 12 and 13 as the number of clock signal lines of different frequencies, and hereinafter, a simulation using a two-phase clock having two clock signals of different frequencies. Describe the model.

【0022】本発明の一実施例によるシミュレーション
時のモデルは、シミュレータ1と、2つのシミュレーシ
ョンエンジン12,13と、モジュール間の信号制御部
14と、2つのシミュレーションモデル15,16とか
ら構成されている。
The simulation model according to one embodiment of the present invention comprises a simulator 1, two simulation engines 12 and 13, a signal controller 14 between modules, and two simulation models 15 and 16. There is.

【0023】シミュレータ1はシミュレーションエンジ
ン12,13及び信号制御部14を夫々制御し、シミュ
レーションエンジン12,13は入力クロック周波数別
に分割された2つのシミュレーションモデル15,16
を夫々検証する。信号制御部14はシミュレーション中
のシミュレーションモデル15,16間の信号伝搬及び
信号伝搬のタイミングを制御する。尚、信号制御部14
はバッファメモリで構成され、そのバッファメモリに対
する書込みクロック及び読出しクロックを出力元及び出
力先に夫々対応させることで実現される。
The simulator 1 controls the simulation engines 12 and 13 and the signal controller 14, respectively, and the simulation engines 12 and 13 are divided into two simulation models 15 and 16 for each input clock frequency.
Verify each. The signal control unit 14 controls the signal propagation between the simulation models 15 and 16 during the simulation and the timing of the signal propagation. The signal control unit 14
Is composed of a buffer memory, and is realized by associating a write clock and a read clock for the buffer memory with an output source and an output destination, respectively.

【0024】シミュレーションモデル15,16は検証
対象のシミュレーションモデルを入力クロック周波数別
に分割したものである。シミュレーションモデル15は
クロック周波数αを入力するフリップフロップ(以下、
F/Fとする)とそのF/Fの出力信号を入力する組み
合わせ回路とを含んでいる。
The simulation models 15 and 16 are obtained by dividing the simulation model to be verified by the input clock frequency. The simulation model 15 is a flip-flop (hereinafter,
F / F) and a combinational circuit for inputting the output signal of the F / F.

【0025】また、シミュレーションモデル16はクロ
ック周波数αとは異なるクロック周波数βを入力するF
/FとそのF/Fの出力信号を入力する組み合わせ回路
とを含んでいる。
In addition, the simulation model 16 receives an input of a clock frequency β different from the clock frequency α.
/ F and a combinational circuit for inputting the output signal of the F / F.

【0026】ここで、シミュレーションモデル15には
クロック信号線101を介してクロック周波数αのクロ
ック信号が入力され、シミュレーションモデル16には
クロック信号線102を介してクロック周波数βのクロ
ック信号が入力される。
Here, a clock signal of clock frequency α is input to the simulation model 15 via the clock signal line 101, and a clock signal of clock frequency β is input to the simulation model 16 via the clock signal line 102. .

【0027】上記のモデルでのシミュレーションは、シ
ミュレータ11に入力される論理回路モデル1をコンパ
イル手段2でコンパイルし、シミュレーションモデル3
を作成する。
In the simulation using the above model, the logic circuit model 1 input to the simulator 11 is compiled by the compiling means 2 and the simulation model 3 is obtained.
Create

【0028】分割手段4はコンパイル手段2で作成され
たシミュレーションモデル3をクロック周波数αのクロ
ック信号が入力されるシミュレーションモデル15(モ
ジュール5)と、クロック周波数βのクロック信号が入
力されるシミュレーションモデル16(モジュール6)
とに分割する。
The dividing means 4 uses the simulation model 3 created by the compiling means 2 as a simulation model 15 (module 5) to which a clock signal having a clock frequency α is input, and a simulation model 16 to which a clock signal having a clock frequency β is input. (Module 6)
And split into

【0029】シミュレーション手段7は作成したシミュ
レーションモデル15,16を検証するためのテストパ
ターン8を与えてシミュレーションを実行する。つま
り、シミュレーションエンジン12,13は夫々のクロ
ック周波数α,βに合わせて同時刻にシミュレーション
モデル15,16に対するシミュレーションを実行し、
シミュレーションモデル15,16各々のF/Fでタイ
ミング検証及び周波数に合わせたサンプリング時間で論
理検証を行う。
The simulation means 7 gives a test pattern 8 for verifying the created simulation models 15 and 16 and executes the simulation. That is, the simulation engines 12 and 13 execute simulations on the simulation models 15 and 16 at the same time according to the clock frequencies α and β,
Timing verification is performed by the F / F of each of the simulation models 15 and 16, and logic verification is performed at a sampling time that matches the frequency.

【0030】シミュレーションエンジン12,13は互
いに同期してシミュレーションを実行し、シミュレーシ
ョンモデル15,16間の信号値は信号制御部14で双
方のクロックタイミングに合わせて操作される。この
間、シミュレーションエンジン12,13及び信号制御
部14はシミュレータ11によって制御される。
The simulation engines 12 and 13 execute the simulation in synchronization with each other, and the signal value between the simulation models 15 and 16 is manipulated by the signal control unit 14 in accordance with both clock timings. During this period, the simulation engines 12, 13 and the signal control unit 14 are controlled by the simulator 11.

【0031】解析手段9はシミュレーション手段7のシ
ミュレーション結果、つまりシミュレーションエンジン
12,13のシミュレーション結果を解析する。すなわ
ち、解析手段9はシミュレーションモデル15,16内
の各フリップフロップの出力に基づいたタイミング検証
や出力ピンでの論理検証を行っている。
The analysis means 9 analyzes the simulation result of the simulation means 7, that is, the simulation results of the simulation engines 12 and 13. That is, the analysis means 9 performs timing verification based on the output of each flip-flop in the simulation models 15 and 16 and logic verification at the output pin.

【0032】図3は本発明の一実施例によるシミュレー
ション時のモデル構成の具体例を示す図であり、図4は
図3のモデル構成における出力信号の観測波形の一例を
示す図である。これらの図において、シミュレーション
モデル20aはF/F21及び組み合わせ回路22から
構成され、シミュレーションモデル20bはF/F23
から構成されている。また、シミュレーションモデル3
0はF/F31,34及び組み合わせ回路32,33か
ら構成されている。
FIG. 3 is a diagram showing a specific example of a model configuration during simulation according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a diagram showing an example of an observed waveform of an output signal in the model configuration of FIG. In these figures, the simulation model 20a is composed of an F / F 21 and a combinational circuit 22, and the simulation model 20b is an F / F 23.
It is composed of In addition, simulation model 3
0 is composed of F / Fs 31, 34 and combinational circuits 32, 33.

【0033】これらシミュレーションモデル20a,2
0b及びシミュレーションモデル30を上記のシミュレ
ーションエンジン12,13でクロック周波数及びサン
プリング時間を指定してシミュレーションすることで、
図4に示す観測波形のように、各モジュールの周波数に
合わせたサンプリングポイントを指定することができ
る。
These simulation models 20a, 2
0b and the simulation model 30 are simulated by designating the clock frequency and the sampling time with the simulation engines 12 and 13 described above.
As with the observed waveform shown in FIG. 4, sampling points can be specified according to the frequency of each module.

【0034】尚、図示していないが、シミュレーション
モデル20aとシミュレーションモデル30との間に
は、シミュレーションモデル20aに入力された信号1
03がクロック信号101に同期してシミュレーション
モデル20aから出力された信号104をクロック信号
102に同期してシミュレーションモデル30に出力す
る信号制御部14が配設されている。
Although not shown, the signal 1 input to the simulation model 20a is provided between the simulation model 20a and the simulation model 30.
A signal control unit 14 is provided which outputs the signal 104, which is output from the simulation model 20 a in synchronization with the clock signal 101, to the simulation model 30 in synchronization with the clock signal 102.

【0035】また、シミュレーションモデル30とシミ
ュレーションモデル20bとの間には、クロック信号1
02に同期してシミュレーションモデル30から出力さ
れた信号105をクロック信号101に同期してシミュ
レーションモデル20bに出力する信号制御部14が配
設されている。
The clock signal 1 is placed between the simulation model 30 and the simulation model 20b.
The signal control unit 14 that outputs the signal 105 output from the simulation model 30 in synchronization with 02 to the simulation model 20b in synchronization with the clock signal 101 is provided.

【0036】よって、シミュレーションモデル20bか
らはクロック信号101に同期した信号106が出力さ
れ、シミュレーションモデル30からはクロック信号1
02に同期した信号107が出力される。
Therefore, the simulation model 20b outputs the signal 106 synchronized with the clock signal 101, and the simulation model 30 outputs the clock signal 1
A signal 107 synchronized with 02 is output.

【0037】このように、多相クロックを使用した論理
回路をシミュレーションする場合、論理回路モデル1を
コンパイル手段2でコンパイルして作成されたシミュレ
ーションモデル3を分割手段4でクロック周波数毎にモ
ジュール分割し、夫々のモジュール5,6に対するシミ
ュレーションをシミュレーション手段7で並行して実行
することによって、テストパターン8の作成時にデータ
信号との間の遅延を考慮することなく、テストパターン
修正及びシミュレーションの回数を削減することができ
る。
As described above, when simulating a logic circuit using a multiphase clock, the simulation model 3 created by compiling the logic circuit model 1 by the compiling means 2 is divided by the dividing means 4 into modules for each clock frequency. By executing the simulations for the respective modules 5 and 6 in parallel by the simulation means 7, the number of times of test pattern modification and simulation is reduced without considering the delay between the test pattern 8 and the data signal. can do.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、多
相クロックを入力とする論理回路の論理検証を行う多相
クロック入力論理回路検証用シミュレータにおいて、論
理回路を多相クロック各々に対応する複数のモジュール
に分割し、これら複数のモジュール毎に各々対応するク
ロックを用いて互いに並行してシミュレーションを行う
ことによって、テストパターン作成時にデータ信号との
間の遅延を考慮することなく、テストパターン修正及び
シミュレーションの回数を削減することができるという
効果がある。
As described above, according to the present invention, in a multi-phase clock input logic circuit verification simulator for performing logic verification of a logic circuit having a multi-phase clock as an input, the logic circuit corresponds to each multi-phase clock. The test pattern is divided into a plurality of modules, and simulations are performed in parallel with each other using the clocks corresponding to each of the modules, so that the test pattern can be created without considering the delay between the test signal and the data signal. The number of corrections and simulations can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing one embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例によるシミュレーション時の
モデル構成を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a model configuration during simulation according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例によるシミュレーション時の
モデル構成の具体例を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a specific example of a model configuration during simulation according to an embodiment of the present invention.

【図4】図3のモデル構成における出力信号の観測波形
の一例を示す図である。
4 is a diagram showing an example of an observed waveform of an output signal in the model configuration of FIG.

【図5】従来例を示す構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram showing a conventional example.

【図6】従来例によるシミュレーション時のモデル構成
を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a model configuration during simulation according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 論理回路モデル 2 コンパイル手段 3 シミュレーションモデル 4 分割手段 5,6 モジュール 7 シミュレーション手段 8 テストパターン 9 解析手段 11 シミュレータ 12,13 シミュレーションエンジン 14 信号制御部 15,16 シミュレーションモデル 1 Logic Circuit Model 2 Compile Means 3 Simulation Model 4 Dividing Means 5, 6 Modules 7 Simulation Means 8 Test Patterns 9 Analyzing Means 11 Simulators 12, 13 Simulation Engines 14 Signal Controllers 15, 16 Simulation Models

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 多相クロックを入力とする論理回路の論
理検証を行う多相クロック入力論理回路検証用シミュレ
ータであって、前記論理回路を前記多相クロック各々に
対応する複数のモジュールに分割する分割手段と、前記
複数のモジュール毎に各々対応するクロックを用いて互
いに並行してシミュレーションを行う手段とを有するこ
とを特徴とする多相クロック入力論理回路検証用シミュ
レータ。
1. A multi-phase clock input logic circuit verification simulator for performing logic verification of a logic circuit having a multi-phase clock as an input, wherein the logic circuit is divided into a plurality of modules corresponding to each of the multi-phase clocks. A simulator for verifying a multi-phase clock input logic circuit, comprising: dividing means and means for performing simulation in parallel with each other using clocks corresponding to each of the plurality of modules.
【請求項2】 前記複数のモジュール間における信号の
入出力時に出力元のモジュールからの信号のタイミング
を出力先のモジュールに対応するクロックで調整制御す
る手段を含むことを特徴とする請求項1記載の多相クロ
ック入力論理回路検証用シミュレータ。
2. The device according to claim 1, further comprising means for adjusting and controlling the timing of the signal from the output source module at the time of inputting / outputting the signal between the plurality of modules with a clock corresponding to the output destination module. Simulator for multi-phase clock input logic circuit verification.
【請求項3】 前記分割手段は、前記論理回路を前記多
相クロック各々を入力するフリップフロップを含む部分
論理回路を同一クロック毎に個別のモジュールに分割す
るよう構成したことを特徴とする請求項1または請求項
2記載の多相クロック入力論理回路検証用シミュレー
タ。
3. The dividing means is configured to divide the logic circuit into a partial logic circuit including a flip-flop for inputting each of the multiphase clocks into individual modules for each same clock. The simulator for verifying a multi-phase clock input logic circuit according to claim 1 or 2.
JP8002811A 1996-01-11 1996-01-11 Simulator for verification of polyphase clock input logic circuit Withdrawn JPH09190461A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8002811A JPH09190461A (en) 1996-01-11 1996-01-11 Simulator for verification of polyphase clock input logic circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8002811A JPH09190461A (en) 1996-01-11 1996-01-11 Simulator for verification of polyphase clock input logic circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09190461A true JPH09190461A (en) 1997-07-22

Family

ID=11539785

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8002811A Withdrawn JPH09190461A (en) 1996-01-11 1996-01-11 Simulator for verification of polyphase clock input logic circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09190461A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007305137A (en) * 2006-05-12 2007-11-22 Samsung Electronics Co Ltd Distributed simultaneous simulation
CN111814415A (en) * 2020-07-09 2020-10-23 长沙海格北斗信息技术有限公司 Efficient regression testing method for chip verification

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007305137A (en) * 2006-05-12 2007-11-22 Samsung Electronics Co Ltd Distributed simultaneous simulation
CN111814415A (en) * 2020-07-09 2020-10-23 长沙海格北斗信息技术有限公司 Efficient regression testing method for chip verification

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2218458C (en) Method and apparatus for design verification using emulation and simulation
US6061283A (en) Semiconductor integrated circuit evaluation system
US6678643B1 (en) Event based semiconductor test system
EP2145272B1 (en) Multiplexing of inputs and delayed inputs of a circuit emulation
KR100483876B1 (en) Semiconductor integrated circuit design and evaluation system
US20050216247A1 (en) Method and program for verifying logic circuit having asynchronous interface
KR20010082313A (en) System for testing real and simulated versions of an integrated circuit
US5974241A (en) Test bench interface generator for tester compatible simulations
EP1093619A1 (en) System and method for identifying finite state machines and verifying circuit designs
US20070294580A1 (en) Virtual tester architecture
WO2002073474A1 (en) Method and apparatus for design validation of complex ic without using logic simulation
JP2003279628A (en) Flow for vector capture
JP2000075005A (en) High speed test pattern-verifying apparatus
JPH09190461A (en) Simulator for verification of polyphase clock input logic circuit
WO2003009184A2 (en) Multi-clock system simulation
KR20060066634A (en) Dynamic-verification-based verification apparatus achieving high verification performance and verification efficiency, and the verification methodology using the same
JP2003330983A (en) Test facilitation design system, test facilitation design method, program and recording media
JPH1173440A (en) Emulation device
US20230409788A1 (en) Synchronizing distributed simulations of a circuit design
JPH06148293A (en) Test circuit for logical circuit
JPH10319090A (en) Converting method and converting device of test bench
JP2972499B2 (en) Logic circuit delay simulator
CN117436375A (en) Waveform capture using multi-cycle path characteristics
JP2000250953A (en) Simulation device for circuit verification and simulation method for circuit verification
JPH09160943A (en) Method for preparing test vector in logic simulator and system therefor

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20030401