JPH09184889A - エリアセンサ - Google Patents
エリアセンサInfo
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- JPH09184889A JPH09184889A JP7352507A JP35250795A JPH09184889A JP H09184889 A JPH09184889 A JP H09184889A JP 7352507 A JP7352507 A JP 7352507A JP 35250795 A JP35250795 A JP 35250795A JP H09184889 A JPH09184889 A JP H09184889A
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- Japan
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- light
- reflecting
- area sensor
- light emitting
- optical scanning
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- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Burglar Alarm Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単な構成によりエリアセンサの光走査ビー
ムが反射手段に対してずれているか否かを確認するエリ
アセンサを提供する。 【解決手段】 反射手段３の走査方向の両側近傍に確認
用パターン反射部１５、１６と、確認用パターン無反射
部１８、１９を設け、これらによる受光信号に基づいて
エリアセンサ１が正常に作動するか否かを確認する。
ムが反射手段に対してずれているか否かを確認するエリ
アセンサを提供する。 【解決手段】 反射手段３の走査方向の両側近傍に確認
用パターン反射部１５、１６と、確認用パターン無反射
部１８、１９を設け、これらによる受光信号に基づいて
エリアセンサ１が正常に作動するか否かを確認する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、危険防止や防犯のため
にある領域（エリア）内に侵入した障害物、または侵入
者を検知するエリアセンサに関し、特には、光走査ビー
ムが反射手段に対して正常に作動しているかどうかを確
認する光軸調整手段を含むエリアセンサに関する。
にある領域（エリア）内に侵入した障害物、または侵入
者を検知するエリアセンサに関し、特には、光走査ビー
ムが反射手段に対して正常に作動しているかどうかを確
認する光軸調整手段を含むエリアセンサに関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に知られるエリアセンサの構造は、
光ビーム走査手段から走査される光ビームを検知領域を
横切って対向配置した反射手段により反射させ、この反
射した反射ビームを光ビーム走査手段側に設けた受光セ
ンサにより受けて検知領域内に何らかの物体が侵入した
ことを検知する。
光ビーム走査手段から走査される光ビームを検知領域を
横切って対向配置した反射手段により反射させ、この反
射した反射ビームを光ビーム走査手段側に設けた受光セ
ンサにより受けて検知領域内に何らかの物体が侵入した
ことを検知する。
【０００３】上記したエリアセンサの一例を図６に示
す。エリアセンサ１は、投受光手段２ａと反射手段３ａ
とを含む第１のエリアセンサ１ａと、投受光手段２ｂと
反射手段３ｂとを含む第２のエリアセンサ１ｂを対向配
置させて光ビームをそれぞれ扇状に走査して略矩形の領
域をカバーしている。このような構成のエリアセンサ１
は、光ビームの走査可能な範囲を有効に利用して広範囲
の検知領域をカバーすることができる。また、反射手段
３ａ、３ｂは入射する光線に対して同一の方向に反射す
る性質を有するリフレクターなどが使用される。
す。エリアセンサ１は、投受光手段２ａと反射手段３ａ
とを含む第１のエリアセンサ１ａと、投受光手段２ｂと
反射手段３ｂとを含む第２のエリアセンサ１ｂを対向配
置させて光ビームをそれぞれ扇状に走査して略矩形の領
域をカバーしている。このような構成のエリアセンサ１
は、光ビームの走査可能な範囲を有効に利用して広範囲
の検知領域をカバーすることができる。また、反射手段
３ａ、３ｂは入射する光線に対して同一の方向に反射す
る性質を有するリフレクターなどが使用される。
【０００４】
【発明が解決使用とする課題】しかしながら、上記した
エリアセンサを使用するためには、光走査ビームが反射
手段に対して所定の走査範囲になるようにエリアセンサ
１ａとエリアセンサ１ｂの位置合わせを行なわなくては
ならない。光走査ビームが可視光線であったとしても目
視で位置合わせを行う場合、反射手段は入射する光走査
ビームに対して同一方向に反射され、また、光走査ビー
ムが高速で走査されているため、ほとんど目視すること
ができずに極めて調節作業が煩雑となる。図５に示すよ
うに光走査ビームが反射手段に対して斜めに走査してい
る場合、上記した理由により目視で位置調節することは
更に困難となる。
エリアセンサを使用するためには、光走査ビームが反射
手段に対して所定の走査範囲になるようにエリアセンサ
１ａとエリアセンサ１ｂの位置合わせを行なわなくては
ならない。光走査ビームが可視光線であったとしても目
視で位置合わせを行う場合、反射手段は入射する光走査
ビームに対して同一方向に反射され、また、光走査ビー
ムが高速で走査されているため、ほとんど目視すること
ができずに極めて調節作業が煩雑となる。図５に示すよ
うに光走査ビームが反射手段に対して斜めに走査してい
る場合、上記した理由により目視で位置調節することは
更に困難となる。
【０００５】本発明は、上記した問題点に鑑みてなされ
たものであり、簡単な構成によりエリアセンサの光走査
ビームが反射手段に対してずれているか否かを確認する
ことが可能なエリアセンサを提供することを課題とす
る。
たものであり、簡単な構成によりエリアセンサの光走査
ビームが反射手段に対してずれているか否かを確認する
ことが可能なエリアセンサを提供することを課題とす
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、検知領域の一方の側に投受光手段を、他方
の側に反射手段を配し、前記投受光手段が反射手段に対
して光走査ビームを走査し、反射手段により反射される
反射ビームを投受光手段が受光し、投受光手段による受
光信号の変化に基づき物体が検知領域内へ侵入したこと
を検知するエリアセンサにおいて、前記反射手段の端部
近傍に所定の長さの無反射部を設けたことを特徴とす
る。
に本発明は、検知領域の一方の側に投受光手段を、他方
の側に反射手段を配し、前記投受光手段が反射手段に対
して光走査ビームを走査し、反射手段により反射される
反射ビームを投受光手段が受光し、投受光手段による受
光信号の変化に基づき物体が検知領域内へ侵入したこと
を検知するエリアセンサにおいて、前記反射手段の端部
近傍に所定の長さの無反射部を設けたことを特徴とす
る。
【０００７】また、検知領域の一方の側に投受光手段
を、他方の側に反射手段を配し、前記投受光手段が反射
手段に対して光走査ビームを走査し、反射手段により反
射される反射ビームを投受光手段が受光し、投受光手段
による受光信号の変化に基づき物体が検知領域内へ侵入
したことを検知するエリアセンサにおいて、前記エリア
センサの検知領域の確認手段として光走査ビームが走査
される方向に且つ前記反射手段の両側に無反射部および
反射部とからなる確認用パターンを設けたことを特徴と
する。
を、他方の側に反射手段を配し、前記投受光手段が反射
手段に対して光走査ビームを走査し、反射手段により反
射される反射ビームを投受光手段が受光し、投受光手段
による受光信号の変化に基づき物体が検知領域内へ侵入
したことを検知するエリアセンサにおいて、前記エリア
センサの検知領域の確認手段として光走査ビームが走査
される方向に且つ前記反射手段の両側に無反射部および
反射部とからなる確認用パターンを設けたことを特徴と
する。
【０００８】更に、前記確認用パターンおよび前記反射
手段のパターンに対応する信号を前記投受光手段が認識
し、前記信号に基づいて光走査ビームの光軸がずれてい
るか否かを確認する光軸調整手段を有することを特徴と
する。
手段のパターンに対応する信号を前記投受光手段が認識
し、前記信号に基づいて光走査ビームの光軸がずれてい
るか否かを確認する光軸調整手段を有することを特徴と
する。
【０００９】
【作用】光源から射出される光ビームはスキャナミラー
に反射して扇状の光走査ビームを形成する。光走査ビー
ムは反射手段および反射部分によって入射した方向に対
して同一の方向に反射され、スキャナミラーおよび集光
レンズを介して受光センサに集光される。反射手段には
反射部分および無反射部分からなる確認用パターンが設
けられており、このパターンによる信号を受光センサが
受光し、この信号のパターンに基づいて光軸調節手段が
光軸を反射手段に沿って走査しているか否かを確認す
る。
に反射して扇状の光走査ビームを形成する。光走査ビー
ムは反射手段および反射部分によって入射した方向に対
して同一の方向に反射され、スキャナミラーおよび集光
レンズを介して受光センサに集光される。反射手段には
反射部分および無反射部分からなる確認用パターンが設
けられており、このパターンによる信号を受光センサが
受光し、この信号のパターンに基づいて光軸調節手段が
光軸を反射手段に沿って走査しているか否かを確認す
る。
【００１０】
【実施例】本発明の好適な実施例を図面に基づいて説明
する。尚、２組のエリアセンサを組み合わせて一つの装
置とするが、それぞれの構成は同一のため、一方のエリ
アセンサについて説明する。図１は本発明によるエリア
センサの一例を示すブロック図である。エリアセンサ１
は、ＯＮ／ＯＦＦ制御が可能な光源１２から射出される
光ビーム２３をスキャナミラー９によって扇状の平面内
を移動するように走査させる光ビーム走査手段３０と、
光ビーム走査手段３０によって形成される光走査ビーム
１４を入射した方向と同一の方向に反射させる反射手段
３と、反射手段３によって反射された反射ビーム１３を
受光する受光回路５を含む受光手段３１と、受光手段３
１から出力される受光信号２１を演算処理して所定の範
囲の検知領域を形成するように制御する制御手段７と、
反射手段３に対して光走査ビームが正確に走査している
か否かを検知する光軸調整手段８とを有する。符号４は
スキャナミラー９を一定周期で振幅させるスキャナ制御
部であり、符号６は外部に制御結果を出力する出力手段
を示す。図示例では、エリアセンサ１が正常に作動する
か否かを確認するため、反射手段３の両端近傍に確認用
無反射部１８、１９を設け、反射手段３の端部を確認用
反射部１５、１６としている。
する。尚、２組のエリアセンサを組み合わせて一つの装
置とするが、それぞれの構成は同一のため、一方のエリ
アセンサについて説明する。図１は本発明によるエリア
センサの一例を示すブロック図である。エリアセンサ１
は、ＯＮ／ＯＦＦ制御が可能な光源１２から射出される
光ビーム２３をスキャナミラー９によって扇状の平面内
を移動するように走査させる光ビーム走査手段３０と、
光ビーム走査手段３０によって形成される光走査ビーム
１４を入射した方向と同一の方向に反射させる反射手段
３と、反射手段３によって反射された反射ビーム１３を
受光する受光回路５を含む受光手段３１と、受光手段３
１から出力される受光信号２１を演算処理して所定の範
囲の検知領域を形成するように制御する制御手段７と、
反射手段３に対して光走査ビームが正確に走査している
か否かを検知する光軸調整手段８とを有する。符号４は
スキャナミラー９を一定周期で振幅させるスキャナ制御
部であり、符号６は外部に制御結果を出力する出力手段
を示す。図示例では、エリアセンサ１が正常に作動する
か否かを確認するため、反射手段３の両端近傍に確認用
無反射部１８、１９を設け、反射手段３の端部を確認用
反射部１５、１６としている。
【００１１】また、光ビーム走査手段３０と受光手段３
１と制御手段７は、エリアセンサ１の装置本体の小型化
を達成させるため、投受光手段２として一つの筺体内に
一体的に設けられている。実施例では投光手段と受光手
段とを一体的に設けたがそれぞれ別々に設けても良い。
１と制御手段７は、エリアセンサ１の装置本体の小型化
を達成させるため、投受光手段２として一つの筺体内に
一体的に設けられている。実施例では投光手段と受光手
段とを一体的に設けたがそれぞれ別々に設けても良い。
【００１２】別の実施例として図２に示すように前記反
射手段３の走査方向の両側近傍に確認用パターン反射部
１５、１６と、確認用パターン無反射部１８、１９とを
それぞれ設けて、エリアセンサ１が正常に作動するか否
かを確認しても良い。図１、図２いずれの場合であって
もすくなくとも確認用パターン反射部の幅Ｘは反射手段
の幅Ｙより狭く設けられており、光走査ビームがなるべ
く斜めに走査されないように防止している。
射手段３の走査方向の両側近傍に確認用パターン反射部
１５、１６と、確認用パターン無反射部１８、１９とを
それぞれ設けて、エリアセンサ１が正常に作動するか否
かを確認しても良い。図１、図２いずれの場合であって
もすくなくとも確認用パターン反射部の幅Ｘは反射手段
の幅Ｙより狭く設けられており、光走査ビームがなるべ
く斜めに走査されないように防止している。
【００１３】上記した構成により本発明によるエリアセ
ンサ１の動作を説明する。光源１２から射出される光ビ
ーム２３をスキャナミラー９によって光走査ビーム１４
に変換して走査させ、光走査ビーム１４は反射手段３お
よび確認用反射部１５、１６に対して入射角度と同じ方
向に反射され、再びスキャナミラー９に反射ビーム１３
として戻る。反射ビーム１３は光源１２とスキャナミラ
ー９との間に位置するハーフミラー１１によって方向転
換され、集光レンズ１０によって集光されて受光回路５
に到達する。スキャナ制御回路４はスキャナミラーの振
幅を検出し、この検出信号２０を同期信号として制御手
段７に出力する。
ンサ１の動作を説明する。光源１２から射出される光ビ
ーム２３をスキャナミラー９によって光走査ビーム１４
に変換して走査させ、光走査ビーム１４は反射手段３お
よび確認用反射部１５、１６に対して入射角度と同じ方
向に反射され、再びスキャナミラー９に反射ビーム１３
として戻る。反射ビーム１３は光源１２とスキャナミラ
ー９との間に位置するハーフミラー１１によって方向転
換され、集光レンズ１０によって集光されて受光回路５
に到達する。スキャナ制御回路４はスキャナミラーの振
幅を検出し、この検出信号２０を同期信号として制御手
段７に出力する。
【００１４】制御手段７は、所定の範囲の検知領域とな
るように制御信号２２によって光源１２および受光回路
５を制御している。即ち、光走査ビームが所定の走査領
域となるように演算し、この結果により制御手段７が光
ビームの射出時間を制御し、光走査ビーム１３が所定の
走査範囲の検知領域になるように反射手段３に向かって
走査する。また、検知領域の設定は制御手段７に設けら
れたキースイッチ入力により指示される。
るように制御信号２２によって光源１２および受光回路
５を制御している。即ち、光走査ビームが所定の走査領
域となるように演算し、この結果により制御手段７が光
ビームの射出時間を制御し、光走査ビーム１３が所定の
走査範囲の検知領域になるように反射手段３に向かって
走査する。また、検知領域の設定は制御手段７に設けら
れたキースイッチ入力により指示される。
【００１５】制御手段７は、検出信号２０を基準として
受光信号２１を測定し、光軸調整手段８に出力してい
る。光軸調整手段８に入力されたデータに基づいて後述
する受光信号２１のパターンの認識を行って光走査ビー
ムの１４の光軸が反射手段３に対してずれているか否か
を出力手段を介して外部のモニターにモニター出力す
る。
受光信号２１を測定し、光軸調整手段８に出力してい
る。光軸調整手段８に入力されたデータに基づいて後述
する受光信号２１のパターンの認識を行って光走査ビー
ムの１４の光軸が反射手段３に対してずれているか否か
を出力手段を介して外部のモニターにモニター出力す
る。
【００１６】図３に受光信号２１によるパターン認識の
各種パターンを示す。図１に示すように光走査ビーム１
４は、Ａ−Ｂ間を走査している。光走査ビーム１４が反
射手段３、確認用パターン反射部１５、１６、確認用パ
ターン無反射部１８、１９に対して走査されているか否
かにより各種パターンの受光信号２１が得られる。
各種パターンを示す。図１に示すように光走査ビーム１
４は、Ａ−Ｂ間を走査している。光走査ビーム１４が反
射手段３、確認用パターン反射部１５、１６、確認用パ
ターン無反射部１８、１９に対して走査されているか否
かにより各種パターンの受光信号２１が得られる。
【００１７】図３における（ａ）は、光走査ビーム１４
が反射手段３から完全にはずれている状態を示す。
（ｂ）は、光走査ビーム１４がＡの位置で確認用パター
ン反射部１６を通過して走査し、Ｂの位置で反射手段３
まで走査している状態を示す。（ｃ）は、光走査ビーム
１４がＡの位置で確認用パターン反射部１６まで走査
し、Ｂの位置で反射手段３まで走査している状態を示
す。（ｄ）は、光走査ビーム１４がＡの位置で確認用パ
ターン無反射部１９まで走査し、Ｂの位置で反射手段３
まで走査している状態を示す。（ｅ）は、光走査ビーム
１４がＡ、Ｂともに反射手段３上を走査している状態を
示す。（ｆ）は、光走査ビーム１４がＡの位置で確認用
パターン反射部１６を通過して走査し、Ｂの位置で確認
用パターン無反射部１８まで走査している状態を示す。
（ｇ）は、光走査ビーム１４がＡの位置で確認用パター
ン反射部１６まで走査し、Ｂの位置で確認用パターン無
反射部１８まで走査している状態を示す。（ｈ）は、光
走査ビーム１４がＡの位置で確認用無反射部１９まで走
査し、Ｂの位置で確認用パターン無反射部１８まで走査
している状態を示す。（ｉ）は、光走査ビーム１４がＡ
の位置で反射手段３まで走査し、Ｂの位置で確認用パタ
ーン無反射部１８まで走査している状態を示す。（ｊ）
は、光走査ビーム１４がＡの位置で確認用パターン反射
部１６を通過して走査し、Ｂの位置で確認用反射部１５
まで走査している状態を示す。（ｋ）は、光走査ビーム
１４がＡの位置で確認用パターン反射部１６まで走査
し、Ｂの位置で確認用反射部１５まで走査している状態
を示す。（ｌ）は、光走査ビーム１４がＡの位置で確認
用パターン無反射部１９まで走査し、Ｂの位置で確認用
パターン反射部１５まで走査している状態を示す。
（ｍ）は、光走査ビーム１４がＡの位置で反射手段３ま
で走査し、Ｂの位置で確認用パターン反射部１５まで走
査している状態を示す。（ｎ）は、光走査ビーム１４が
Ａの位置で確認用パターン反射部１６を通過して走査
し、Ｂの位置で確認用パターン反射部１５を通過して走
査している状態を示す。（ｏ）は、光走査ビーム１４が
Ａの位置で確認用反射部１６まで走査し、Ｂの位置で確
認用パターン反射部１５を通過して走査している状態を
示す。（ｐ）は、光走査ビームがＡの位置で確認用パタ
ーン無反射部１９まで走査し、Ｂの位置で確認用反射部
１５を通過して走査している状態を示す。（ｑ）は、光
走査ビーム１４がＡの位置で反射手段３まで走査し、Ｂ
の位置で確認用パターン反射部１５を通過して走査して
いる状態を示す。
が反射手段３から完全にはずれている状態を示す。
（ｂ）は、光走査ビーム１４がＡの位置で確認用パター
ン反射部１６を通過して走査し、Ｂの位置で反射手段３
まで走査している状態を示す。（ｃ）は、光走査ビーム
１４がＡの位置で確認用パターン反射部１６まで走査
し、Ｂの位置で反射手段３まで走査している状態を示
す。（ｄ）は、光走査ビーム１４がＡの位置で確認用パ
ターン無反射部１９まで走査し、Ｂの位置で反射手段３
まで走査している状態を示す。（ｅ）は、光走査ビーム
１４がＡ、Ｂともに反射手段３上を走査している状態を
示す。（ｆ）は、光走査ビーム１４がＡの位置で確認用
パターン反射部１６を通過して走査し、Ｂの位置で確認
用パターン無反射部１８まで走査している状態を示す。
（ｇ）は、光走査ビーム１４がＡの位置で確認用パター
ン反射部１６まで走査し、Ｂの位置で確認用パターン無
反射部１８まで走査している状態を示す。（ｈ）は、光
走査ビーム１４がＡの位置で確認用無反射部１９まで走
査し、Ｂの位置で確認用パターン無反射部１８まで走査
している状態を示す。（ｉ）は、光走査ビーム１４がＡ
の位置で反射手段３まで走査し、Ｂの位置で確認用パタ
ーン無反射部１８まで走査している状態を示す。（ｊ）
は、光走査ビーム１４がＡの位置で確認用パターン反射
部１６を通過して走査し、Ｂの位置で確認用反射部１５
まで走査している状態を示す。（ｋ）は、光走査ビーム
１４がＡの位置で確認用パターン反射部１６まで走査
し、Ｂの位置で確認用反射部１５まで走査している状態
を示す。（ｌ）は、光走査ビーム１４がＡの位置で確認
用パターン無反射部１９まで走査し、Ｂの位置で確認用
パターン反射部１５まで走査している状態を示す。
（ｍ）は、光走査ビーム１４がＡの位置で反射手段３ま
で走査し、Ｂの位置で確認用パターン反射部１５まで走
査している状態を示す。（ｎ）は、光走査ビーム１４が
Ａの位置で確認用パターン反射部１６を通過して走査
し、Ｂの位置で確認用パターン反射部１５を通過して走
査している状態を示す。（ｏ）は、光走査ビーム１４が
Ａの位置で確認用反射部１６まで走査し、Ｂの位置で確
認用パターン反射部１５を通過して走査している状態を
示す。（ｐ）は、光走査ビームがＡの位置で確認用パタ
ーン無反射部１９まで走査し、Ｂの位置で確認用反射部
１５を通過して走査している状態を示す。（ｑ）は、光
走査ビーム１４がＡの位置で反射手段３まで走査し、Ｂ
の位置で確認用パターン反射部１５を通過して走査して
いる状態を示す。
【００１８】上記した各種パターンに基づいて反射手段
３に対して正常に光走査ビーム１４が走査されているか
否かを検知する検知方法の一例として図４のフローチャ
ートを示す。図１で示したように光走査ビーム１４はＢ
の位置でほぼ反射手段３に対して直角に走査され、Ａに
向かって扇状に走査され、スキャナ制御回路４によって
一定の周期および振幅で走査されているので、検出信号
２０によりＡおよびＢの位置を特定することができる。
また、反射手段３の長さよりも、確認用パターン反射部
１５、１６の長さは十分の短く設定されており、受光信
２１の入光時間を測定することにより、確認用パターン
と検出用パターンとの区別が可能となる。このため、Ｂ
側の確認用パターン無反射部１８が存在することと、Ａ
側に確認用パターン無反射部１９、確認用パターン反射
部１６が存在することを認識すれば光軸調整の状態を知
ることができる。
３に対して正常に光走査ビーム１４が走査されているか
否かを検知する検知方法の一例として図４のフローチャ
ートを示す。図１で示したように光走査ビーム１４はＢ
の位置でほぼ反射手段３に対して直角に走査され、Ａに
向かって扇状に走査され、スキャナ制御回路４によって
一定の周期および振幅で走査されているので、検出信号
２０によりＡおよびＢの位置を特定することができる。
また、反射手段３の長さよりも、確認用パターン反射部
１５、１６の長さは十分の短く設定されており、受光信
２１の入光時間を測定することにより、確認用パターン
と検出用パターンとの区別が可能となる。このため、Ｂ
側の確認用パターン無反射部１８が存在することと、Ａ
側に確認用パターン無反射部１９、確認用パターン反射
部１６が存在することを認識すれば光軸調整の状態を知
ることができる。
【００１９】ステップ１でＡからＢまでのスキャンによ
って入光を開始したデータ数Ｎを測定する。Ｎが２以上
であるならばすくなくともＡ、Ｂいずれかが合格とな
る。ステップ２でＡからＢまでのスキャンによってＢの
直前に入光を開始したデータの入光時間Ｐ１を測定し、
ステップ３でＡからＢまでのスキャンによってＰ１デー
タの直前に入光を開始したデータの入光時間Ｐ２を測定
する。ステップ４でＰ１とＰ２を比較してＰ２がＰ１よ
り大きい場合、Ｂ側が合格となる。次いでステップ５で
Ｍを３としてＮが同じ３であればＡ側も合格となる。
って入光を開始したデータ数Ｎを測定する。Ｎが２以上
であるならばすくなくともＡ、Ｂいずれかが合格とな
る。ステップ２でＡからＢまでのスキャンによってＢの
直前に入光を開始したデータの入光時間Ｐ１を測定し、
ステップ３でＡからＢまでのスキャンによってＰ１デー
タの直前に入光を開始したデータの入光時間Ｐ２を測定
する。ステップ４でＰ１とＰ２を比較してＰ２がＰ１よ
り大きい場合、Ｂ側が合格となる。次いでステップ５で
Ｍを３としてＮが同じ３であればＡ側も合格となる。
【００２０】このようにＢ側の合否とＡ側の合否に連動
してモニター出力する。モニター出力は、例えばＬＥＤ
表示器等、容易に確認することができる手段により構成
されている。また、光走査ビーム１４がＡからＢにスキ
ャンされる間に入光を開始したデータの数が３を越えた
かをチェックすることにより検知領域内に物体が存在し
ていることを確認することができる。
してモニター出力する。モニター出力は、例えばＬＥＤ
表示器等、容易に確認することができる手段により構成
されている。また、光走査ビーム１４がＡからＢにスキ
ャンされる間に入光を開始したデータの数が３を越えた
かをチェックすることにより検知領域内に物体が存在し
ていることを確認することができる。
【００２１】
【発明の効果】検知領域の設定時に、光軸調整手段によ
りエリアセンサの投受光手段と反射手段との位置関係を
確認することができるため、エリアセンサの設置が不適
切な状態で設定することがない。また、物体の存在を検
知領域の設定時においても確認することができるため、
物体が検知領域に溜まった状態で検知領域を設定するこ
とが避けられ、不適切な状態で設定することがない。
りエリアセンサの投受光手段と反射手段との位置関係を
確認することができるため、エリアセンサの設置が不適
切な状態で設定することがない。また、物体の存在を検
知領域の設定時においても確認することができるため、
物体が検知領域に溜まった状態で検知領域を設定するこ
とが避けられ、不適切な状態で設定することがない。
【００２１】
【図１】 本発明によるエリアセンサの実施例の一例を
示すブロック図。
示すブロック図。
【図２】 本発明によるエリアセンサの反射手段を示す
ブロック図。
ブロック図。
【図３】 本発明によるエリアセンサの受光信号の各種
パターンの波形を示す図。
パターンの波形を示す図。
【図４】 本発明によるエリアセンサの確認用パターン
の確認の手順を示すフローチャート図。
の確認の手順を示すフローチャート図。
【図５】 光走査ビームが反射手段に走査している状態
の一例を示す図。
の一例を示す図。
【図６】 従来例の一例を示す図。
１ エリアセンサ １ａ、１ｂ センサ ２、２ａ、２ｂ 投受光手段 ３、３ａ、３ｂ 反射手段 ４ スキャナ制御回路 ５ 受光回路 ６ 出力手段 ７ 制御手段 ８ 光軸調整手段 ９ スキャナミラー １０ 集光レンズ １１ ハーフミラー １２ 光源 １３ 反射ビーム １４ 光走査ビーム １５、１６ 確認用パターン反射部 １８、１９ 確認用パターン無反射部 ２０ 検出信号 ２１ 受光信号 ２２ 制御信号 ２３ 光ビーム ３０ 光ビーム走査手段 ３１ 受光手段
Claims (3)
- 【請求項１】 検知領域の一方の側に投受光手段を、他
方の側に反射手段を配し、前記投受光手段が反射手段に
対して光走査ビームを走査し、反射手段により反射され
る反射ビームを投受光手段が受光し、投受光手段による
受光信号の変化に基づき物体が検知領域内へ侵入したこ
とを検知するエリアセンサにおいて、前記反射手段の端
部近傍に所定の長さの確認用パターン無反射部を設けた
ことを特徴とするエリアセンサ。 - 【請求項２】 検知領域の一方の側に投受光手段を、他
方の側に反射手段を配し、前記投受光手段が反射手段に
対して光走査ビームを走査し、反射手段により反射され
る反射ビームを投受光手段が受光し、投受光手段による
受光信号の変化に基づき物体が検知領域内へ侵入したこ
とを検知するエリアセンサにおいて、前記エリアセンサ
の検知領域の確認手段として光走査ビームが走査される
方向に且つ前記反射手段の両側に無反射部および反射部
とからなる確認用パターンを設けたことを特徴とするエ
リアセンサ。 - 【請求項３】 前記確認用パターンおよび前記反射手段
に対応する前記投受光手段への受光信号に基づき前記光
走査ビームの光軸がずれているか否かを検知する光軸調
整手段を有することを特徴とする請求項１または２いず
れか記載のエリアセンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7352507A JPH09184889A (ja) | 1995-12-29 | 1995-12-29 | エリアセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7352507A JPH09184889A (ja) | 1995-12-29 | 1995-12-29 | エリアセンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09184889A true JPH09184889A (ja) | 1997-07-15 |
Family
ID=18424545
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7352507A Pending JPH09184889A (ja) | 1995-12-29 | 1995-12-29 | エリアセンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09184889A (ja) |
-
1995
- 1995-12-29 JP JP7352507A patent/JPH09184889A/ja active Pending
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