JPH0916955A - Manufacture of magnetic recording medium - Google Patents

Manufacture of magnetic recording medium

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Publication number
JPH0916955A
JPH0916955A JP16398395A JP16398395A JPH0916955A JP H0916955 A JPH0916955 A JP H0916955A JP 16398395 A JP16398395 A JP 16398395A JP 16398395 A JP16398395 A JP 16398395A JP H0916955 A JPH0916955 A JP H0916955A
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JP
Japan
Prior art keywords
recording medium
substrate
magnetic recording
cleaning
layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP16398395A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tsutomu Isobe
勤 磯部
Hidekazu Ito
英和 伊藤
Masayuki Nakamura
雅幸 中村
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Kao Corp
Original Assignee
Kao Corp
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Publication date
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

PURPOSE: To manufacture a magnetic recording medium such as a magnetic disk in excellent appearance yield and to improve head flotation characteristics and error characteristics of the manufactured magnetic recording medium. CONSTITUTION: This manufacture of the magnetic recording medium includes a process wherein the texture of a substrate is processed concentrically and isotropically, a process wherein a base layer, a magnetic layer, and a protection layer are formed on the texture-processed substrate, and a varnishing process after the film forming process, and cleaning is performed between the film forming process and varnishing process. The cleaning is carried out by dipping the magnetic recording medium or employing scrubbing.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は磁気記録媒体、特に磁気
ディスクの製造方法に関し、より詳しくは、ヘッド浮上
特性やエラー特性の良好な磁気ディスクを高い収率で製
造することができる方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a magnetic recording medium, particularly a magnetic disk, and more particularly to a method capable of manufacturing a magnetic disk having good head flying characteristics and error characteristics at a high yield. Is.

【0002】[0002]

【従来の技術】ハードディスクのような磁気ディスクは
一般に、次のような方法によって製造されている。まず
アルミニウムやガラス、カーボンのような基板をテクス
チャー処理して粗面化する。この処理は、磁気ディスク
表面を適度な粗さとすることにより、磁気ヘッドが磁気
ディスク表面に貼り付いて、磁気ヘッドや磁気ディスク
を損傷するのを回避するために行われるものであり、例
えばアルミニウム基板を研磨テープを用いて機械的に研
磨し洗浄するテープテクスチャー法や、ガラス基板を化
学的にエッチングしたり微粒子を含有する塗料を塗布す
る方法、カーボン基板を熱酸化する方法、或いは基板表
面に低融点金属を真空蒸着やスパッタリングにより付着
させる方法などがある。
2. Description of the Related Art A magnetic disk such as a hard disk is generally manufactured by the following method. First, a substrate such as aluminum, glass or carbon is textured to roughen it. This treatment is performed to prevent the magnetic head from sticking to the surface of the magnetic disk and damaging the magnetic head or the magnetic disk by making the surface of the magnetic disk to have an appropriate roughness. For example, an aluminum substrate The tape texture method of mechanically polishing and cleaning the glass substrate with a polishing tape, the method of chemically etching the glass substrate or applying the coating material containing fine particles, the method of thermally oxidizing the carbon substrate, or the substrate surface There is a method of attaching a melting point metal by vacuum vapor deposition or sputtering.

【0003】粗面化された基板表面には、下地層、磁性
層、保護層などが、種々の材料を用いてスパッタリング
等の物理的手段により成膜される。これら各層の成膜は
通常、スパッタリング装置に基板を装填してから真空中
で連続的に行われるものであり、装置からは各層が成膜
された基板が大気中へと取り出される。取り出された基
板にはバーニッシュが行われるが、これは基板表面に存
在する異常突起を除去して表面を仕上げるためのもので
あり、例えば研磨テープを基板表面に対して与圧下に接
触させることによって実行される。その後、パーフルオ
ロポリエーテル系等の液体潤滑剤をディップコート法や
スピンコート法によって塗布して、基板の最上層に潤滑
層が形成され、磁気ディスクが得られる。得られた磁気
ディスクに対しては、グライドハイトテスト(ヘッド浮
上特性)、サーティファイ収率検査(エラー特性)、C
SS耐久性テスト、外観検査などが行なわれる。
On the roughened substrate surface, an underlayer, a magnetic layer, a protective layer and the like are formed by a physical means such as sputtering using various materials. The film formation of each of these layers is usually performed continuously in a vacuum after the substrate is loaded in the sputtering apparatus, and the substrate on which each layer is formed is taken out into the atmosphere from the apparatus. Burnishing is performed on the taken-out substrate, which is for removing abnormal protrusions existing on the substrate surface to finish the surface, for example, to bring the polishing tape into contact with the substrate surface under pressure. Executed by Then, a liquid lubricant such as perfluoropolyether is applied by a dip coating method or a spin coating method to form a lubricating layer on the uppermost layer of the substrate, and a magnetic disk is obtained. For the obtained magnetic disk, glide height test (head flying characteristic), certify yield test (error characteristic), C
SS durability test, visual inspection, etc. are performed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】磁気記録の高密度化等
に伴って、グライドハイトは益々減少する傾向にあり、
要求される特性を満足する磁気ディスクを高収率で製造
することは容易でない。また磁気ディスク表面における
外観上の損傷も、可能な限り回避しなければならない。
本発明者らは、これらの条件を満たす製造方法を模索し
て種々検討した結果、成膜後の基板表面には、スパッタ
リング工程中に付着した微小な異物や、バーニッシュ工
程前に環境中から付着した異物が付着しており、これら
が磁気ディスクの特性や外観を悪化させる一因であるこ
とを見出した。
The glide height tends to decrease with increasing density of magnetic recording.
It is not easy to manufacture magnetic disks satisfying the required characteristics in high yield. In addition, external damage on the surface of the magnetic disk must be avoided as much as possible.
As a result of various investigations in search of a manufacturing method satisfying these conditions, the present inventors found that the substrate surface after film formation has small foreign matter adhered during the sputtering step and from the environment before the burnishing step. It has been found that the adhered foreign matter is adhered, which is one of the factors that deteriorate the characteristics and appearance of the magnetic disk.

【0005】即ち、基板表面にこうした微小な異物が付
着していると、バーニッシュ工程においてそれらが基板
表面に対して機械的に押圧され、表面の損傷や形成され
た膜の局部的な剥がれ等を引き起こす。その結果、特に
外観検査に基づく収率が低下し、またグライドハイト特
性やエラー特性を悪化させるものである。また、基板の
テクスチャー処理が例えばテープテクスチャーのように
円周方向に一様に行われる場合には、バーニッシュ工程
により外観上の傷が生じたとしても顕在化しにくいが、
テクスチャー処理がスパッタリングやパウダービームな
どにより基板表面に対して等方的に行われる場合には、
微小異物に起因してバーニッシュ工程で円周方向に生じ
た傷は明確になりやすく、外観収率の低下を招きやすい
といった問題がある。本発明は、これらの問題点を解決
することのできる製造方法を提供することを目的とする
ものである。
That is, when such minute foreign matter adheres to the substrate surface, they are mechanically pressed against the substrate surface in the burnishing process, resulting in surface damage or local peeling of the formed film. cause. As a result, in particular, the yield based on the appearance inspection is lowered, and the glide height characteristic and the error characteristic are deteriorated. Further, in the case where the texture treatment of the substrate is performed uniformly in the circumferential direction like tape texture, for example, it is difficult for the burnishing process to cause a scratch even on the appearance,
When the texture treatment is isotropically performed on the substrate surface by sputtering or powder beam,
There is a problem that the scratches generated in the circumferential direction in the burnishing process due to the minute foreign matter are likely to be clear and the appearance yield is apt to be lowered. It is an object of the present invention to provide a manufacturing method capable of solving these problems.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、基板を
テクスチャー処理する工程と、テクスチャー処理された
基板上に磁性層を成膜する工程と、磁性層成膜後のバー
ニッシュ工程とを含んでなる磁気記録媒体の製造方法に
おいて、磁性層の成膜工程とバーニッシュ工程の間に洗
浄を行い、バーニッシュ工程前に成膜された層の表面上
に付着した微小異物を除去することが提案される。
According to the present invention, there are provided a step of texturing a substrate, a step of forming a magnetic layer on the textured substrate, and a burnishing step after forming the magnetic layer. In a method of manufacturing a magnetic recording medium comprising: cleaning between a film forming step of a magnetic layer and a burnishing step to remove fine foreign matters adhering to the surface of the layer formed before the burnishing step. Is proposed.

【0007】従来はこうした洗浄は行われていないが、
バーニッシュ工程の前に洗浄工程を付加することによ
り、グライドハイト特性、エラー特性、外観収率を向上
させることができる。微小異物を除去するためには、バ
ーニッシュ工程の後、潤滑層を形成する前に洗浄を行う
ことも一案ではあるが、上述したように本発明者らは、
成膜された基板表面に存在する微小異物がバーニッシュ
工程と相俟って不具合を生じさせていることを見出し、
バーニッシュ工程の前に洗浄を行うという解決策を提供
するものである。
Conventionally, such cleaning has not been performed,
By adding a washing step before the burnishing step, glide height characteristics, error characteristics, and appearance yield can be improved. In order to remove the minute foreign matter, it is an idea to perform cleaning after the burnishing step and before forming the lubricating layer, but as described above, the present inventors
It was found that the microscopic foreign matter existing on the surface of the substrate on which the film was formed causes a problem in combination with the burnishing process,
It provides a solution of cleaning before the burnishing step.

【0008】(1)基板 本発明においては、磁性基板または非磁性基板のいずれ
を用いることもできるが、一般的には非磁性基板が用い
られる。こうした非磁性基板としては、例えばガラス状
カーボン材料等のカーボン、強化ガラス、結晶化ガラ
ス、アルミニウム及びアルミニウム合金、チタン及びチ
タン合金、セラミックス、樹脂、あるいはこれらの複合
材料からなる基板が用いられる。これらの中でも、ガラ
ス状カーボン材料製の基板は、耐熱性、軽量性等の点に
おいて特に優れており、かつ洗浄後の乾燥工程において
乾燥性に優れるため、しみができにくく外観不良が少な
いので、本発明において特に好ましく用いることができ
る。なお「ガラス状カーボン材料」とは、ガラス状カー
ボン単体だけではなく、ガラス状カーボンを母材とする
複合材料をも含む。
(1) Substrate In the present invention, either a magnetic substrate or a non-magnetic substrate can be used, but a non-magnetic substrate is generally used. As such a non-magnetic substrate, for example, a substrate made of carbon such as a glassy carbon material, tempered glass, crystallized glass, aluminum and aluminum alloys, titanium and titanium alloys, ceramics, resin, or a composite material thereof is used. Among these, the glassy carbon material substrate is particularly excellent in terms of heat resistance, lightness, etc., and since it is excellent in dryness in the drying step after washing, it is difficult to cause stains and poor appearance, It can be used particularly preferably in the present invention. The "glassy carbon material" includes not only glassy carbon alone but also a composite material containing glassy carbon as a base material.

【0009】(2)テクスチャー処理 テクスチャー処理は、機械的研磨、化学的エッチング、
微粒子含有塗料の塗布、熱酸化、蒸着やスパッタリング
による凹凸形成など、使用される基板に応じて種々の処
理方法を採用することができる。それぞれの処理方法に
ついては既に公知であるのでここで詳しく述べることは
しないが、テクスチャー処理は大まかに言って、テープ
テクスチャーのように基板の円周方向に一様に粗面形成
が行われるものと、蒸着やスパッタリングによるテクス
チャーのように、基板面上で等方的に突起が形成される
ものとに分けることができる。前述したように、テクス
チャーが基板の円周方向に一様に行われる場合には、バ
ーニッシュで微小異物に起因して生じた傷は外観上目立
ちにくいが、等方的テクスチャーの場合にはより顕在化
しやすい。従って本発明は、外観収率の向上という見地
からは、特にテクスチャー処理が等方的に行われる場合
についてより好ましいものである。
(2) Texture treatment Texture treatment includes mechanical polishing, chemical etching,
Various treatment methods can be adopted depending on the substrate to be used, such as application of fine particle-containing paint, thermal oxidation, and formation of irregularities by vapor deposition or sputtering. Since each processing method is already known, it will not be described in detail here, but the rough description of the texture processing is that a rough surface is uniformly formed in the circumferential direction of the substrate like tape texture. , Textures formed by vapor deposition or sputtering, and projections that are isotropically formed on the surface of the substrate. As described above, when the texture is evenly distributed in the circumferential direction of the substrate, the scratches caused by the minute foreign matter in the burnish are hardly noticeable in appearance, but in the case of the isotropic texture, the scratches are more noticeable. It is easy to become apparent. Therefore, the present invention is more preferable from the standpoint of improving the appearance yield, particularly when the texture treatment is isotropic.

【0010】基板としてガラス状カーボンを採用し、ま
たテクスチャー処理としてスパッタリング、真空蒸着、
イオンプレーティングのようなPVDが用いられる場合
には、例えば次のようにしてテクスチャー処理を行うこ
とができる。即ち基板上に、Si,Cr,Ta,Ti,Zr,Y,
Mo,W及びVから選ばれる一種以上からなる金属層をP
VDにより、5〜200nmの厚みで設け、次いでAl−M1
合金材料(M1はSi,Cr,Ta,Ti,Zr,Y,Mo,W及びV
から選ばれる一種以上)からなるAl−M1層をPVDによ
り5〜100nmの厚みで形成し、さらにその上に非金属の
アモルファス層、例えばアモルファスカーボン層を5〜
50nmの厚みでPVD手段により設ける。このようなテク
スチャー処理は、等方的な凹凸をRa=10〜50Å程度、好
ましくは10〜30Å程度、Rp=20〜300Å程度、好ましく
は30〜80Å程度で形成することができると共に、基板と
の馴染みも良好で耐久性にも優れ、さらにその後成膜さ
れる磁性層と相俟って、優れた電磁変換特性をもたらす
ことができるものである。
Glass-like carbon is used as a substrate, and sputtering, vacuum deposition, and
When PVD such as ion plating is used, texture processing can be performed as follows, for example. That is, on the substrate, Si, Cr, Ta, Ti, Zr, Y,
P is a metal layer composed of one or more selected from Mo, W and V
It is provided with a thickness of 5 to 200 nm by VD, and then Al-M 1 based alloy material (M 1 is Si, Cr, Ta, Ti, Zr, Y, Mo, W and V
Al-M 1 layer consisting of one or more selected from (1) or more) is formed by PVD to a thickness of 5 to 100 nm, and a non-metal amorphous layer, for example, an amorphous carbon layer is further formed thereon.
It is provided by PVD means with a thickness of 50 nm. Such a texture treatment can form isotropic unevenness with Ra = 10 to 50Å, preferably 10 to 30Å, Rp = 20 to 300Å, preferably 30 to 80Å and at the same time as the substrate. It has good familiarity and excellent durability and, in combination with the magnetic layer formed thereafter, can provide excellent electromagnetic conversion characteristics.

【0011】(3)磁性層の成膜 磁性層は一般に、下地層を成膜した後に成膜されるもの
であり、また磁性層上にはさらに保護層が成膜されるの
が通例である。下地層としては、Cr,Ti,Al又はこれら
の合金等を、上に設けられる磁性層の配向性を向上させ
る等の目的で、スパッタリング等のPVD手段により設
けることができる。下地層の膜厚は10〜100nmとするの
が好ましい。なお上述したようにPVDによりアモルフ
ァス層を先に成膜している場合、下地層としてCrを用
い、アモルファス層との間にTiあるいはTi合金からなる
別の下地層をさらに設けることが好ましい。その厚みは
10〜150nm程度であり、これによって磁気記録媒体のノ
イズ低減が図られる。
(3) Film Formation of Magnetic Layer Generally, the magnetic layer is formed after forming the underlayer, and it is customary to further form a protective layer on the magnetic layer. . As the underlayer, Cr, Ti, Al, or an alloy thereof can be provided by PVD means such as sputtering for the purpose of improving the orientation of the magnetic layer provided thereon. The thickness of the underlayer is preferably 10 to 100 nm. When the amorphous layer is first formed by PVD as described above, it is preferable to use Cr as the underlayer and further provide another underlayer made of Ti or Ti alloy between the amorphous layer and the amorphous layer. Its thickness is
It is about 10 to 150 nm, which can reduce noise in the magnetic recording medium.

【0012】本発明において下地層上に設けられる磁性
層としては、例えばPVD手段により形成される金属薄
膜型の磁性層を挙げることができる。金属薄膜型の磁性
層を形成する材料としては、例えば、CoCr,CoNi,CoCr
X,CoCrPtX,CoNiX,CoWX,CoSm,CoSmX(XはT
a,Pt,Au,Ti,V,Cr,Ni,W,La,Ce,Pr,Nd,P
m,Sm,Eu,Li,Si,B,Ca,As,Y,Zr,Nb,Mo,R
u,Rh,Ag,Sb及びHfからなる群より選ばれる一種又は
二種以上)等のCoを主成分とするCo系磁性合金を挙げる
ことができる。これらの中でも、CoCrやCoCrPt系が好ま
しく用いられる。磁性層の膜厚は300〜1000Å程度であ
る。
In the present invention, examples of the magnetic layer provided on the underlayer include a metal thin film type magnetic layer formed by PVD means. Examples of materials for forming the metal thin film type magnetic layer include CoCr, CoNi, and CoCr.
X, CoCrPtX, CoNiX, CoWX, CoSm, CoSmX (X is T
a, Pt, Au, Ti, V, Cr, Ni, W, La, Ce, Pr, Nd, P
m, Sm, Eu, Li, Si, B, Ca, As, Y, Zr, Nb, Mo, R
Examples thereof include Co-based magnetic alloys containing Co as a main component, such as one or more selected from the group consisting of u, Rh, Ag, Sb, and Hf. Among these, CoCr and CoCrPt type are preferably used. The film thickness of the magnetic layer is about 300 to 1000Å.

【0013】磁性層上に保護層が設けられる場合、こう
した保護層としては、耐磨耗性の観点から硬度の高いも
のが好ましい。例えば、Al,Si,Ti,Cr,Zr,Nb,Mo,
Ta,W等の金属の酸化物、窒化物、炭化物、あるいはカ
ーボンやボロンナイトライド等が挙げられる。中でも好
ましいものは炭素、炭化ケイ素、炭化タングステン、酸
化ケイ素、酸化ジルコニウム、窒化ホウ素、あるいはこ
れらの材料の複合されたものである。特に好ましいもの
はカーボン、特にダイヤモンドライクカーボンである。
この保護層は、厚さが5〜25nmが好ましい。保護層もP
VD手段により形成できる。
When a protective layer is provided on the magnetic layer, such a protective layer preferably has high hardness from the viewpoint of abrasion resistance. For example, Al, Si, Ti, Cr, Zr, Nb, Mo,
Examples thereof include oxides, nitrides, and carbides of metals such as Ta and W, carbon, boron nitride, and the like. Among them, preferred are carbon, silicon carbide, tungsten carbide, silicon oxide, zirconium oxide, boron nitride, and composites of these materials. Particularly preferred is carbon, especially diamond-like carbon.
The protective layer preferably has a thickness of 5 to 25 nm. The protective layer is also P
It can be formed by VD means.

【0014】(4)洗浄 本発明によれば、磁性層の成膜後、即ち下地層や保護層
が設けられる場合にはこれらを含めて記録媒体構成層を
成膜した後に、バーニッシュ工程の前に洗浄が行われ
る。これにより、磁性層の成膜に際して付着した微小異
物や、成膜後に大気開放した際に環境中から付着した微
小異物が除去され、これらがバーニッシュ工程と相俟っ
て不具合を引き起こす欠点が排除される。洗浄は、純水
中への浸漬によって行うことができ、好ましくは60〜80
℃程度の温純水に10〜60秒程度浸漬することを適宜繰り
返すことによって行う。この際20kHz〜1MHzの超音波を
併用するとさらに好ましい。NiP/Al基板では強い超音
波をかけるとディンプルが発生して問題となるが、カー
ボン基板では硬質基板故、このような問題は起こらず、
洗浄が強化されるので好ましい。より好ましくはスクラ
ブ洗浄、即ち洗浄液の存在下に機械的に擦ることによっ
て洗浄を行う。洗浄液は界面活性剤水溶液であると洗浄
力が向上するので好ましく、非イオン性界面活性剤の水
溶液であるとより好ましい。更に、界面活性剤の温純水
溶液などを用いるとより好ましい。洗浄後、ディスク基
板はスピン乾燥などによって乾燥される。
(4) Cleaning According to the present invention, after the magnetic layer is formed, that is, when the underlayer and the protective layer are provided, after forming the recording medium constituting layer including them, the burnishing step is performed. Cleaning is done before. As a result, the minute foreign matter that adheres during the film formation of the magnetic layer and the minute foreign matter that adheres from the environment when exposed to the atmosphere after the film formation is eliminated. To be done. Washing can be performed by immersion in pure water, preferably 60-80
It is carried out by appropriately repeating immersion for 10 to 60 seconds in warm pure water at about ℃. At this time, it is more preferable to use ultrasonic waves of 20 kHz to 1 MHz together. When a strong ultrasonic wave is applied to the NiP / Al substrate, dimples are generated, which causes a problem, but since the carbon substrate is a hard substrate, such a problem does not occur.
It is preferable because the cleaning is enhanced. More preferably, scrub cleaning, that is, cleaning is performed by mechanically rubbing in the presence of a cleaning liquid. The cleaning liquid is preferably an aqueous surfactant solution because the cleaning power is improved, and is more preferably an aqueous solution of a nonionic surfactant. Furthermore, it is more preferable to use a warm pure aqueous solution of a surfactant or the like. After cleaning, the disk substrate is dried by spin drying or the like.

【0015】なお、テクスチャー処理が上述したように
スパッタリングや真空蒸着などによって行われる場合
は、テクスチャー処理と磁性層の成膜を同一の真空ライ
ンで連続的に行うことができるが、何らかの理由でこう
したテクスチャー処理と磁性層成膜の間に大気開放が行
われる場合には、テクスチャー処理の後、磁性層(下地
層)成膜の前に洗浄を行うことが好ましい。この洗浄
も、今説明したのと同様の洗浄方法によって実行するこ
とができる。
When the texture treatment is performed by sputtering or vacuum deposition as described above, the texture treatment and the film formation of the magnetic layer can be continuously performed on the same vacuum line, but for some reason, When the atmosphere is opened between the texture treatment and the magnetic layer formation, it is preferable to perform washing after the texture treatment and before the formation of the magnetic layer (underlayer). This cleaning can also be performed by the same cleaning method as just described.

【0016】(5)バーニッシュ工程 バーニッシュ工程は、成膜後のディスク表面に存在する
異常突起を除去し、表面を仕上げるために行われる。研
磨テープによるバーニッシュ工程は、アルミナ、ダイヤ
モンド等の砥粒を有機バインダーにより可撓性の支持体
上に設けてなる研磨テープを、ディスク表面に適当な圧
力をかけて当接させ、ディスクと研磨テープを走行させ
ることによって行われる。このようなバーニッシュ工程
として、例えば特開昭59−148134号公報において開示さ
れたものがある。
(5) Burnishing Process The burnishing process is performed to remove abnormal protrusions existing on the disk surface after film formation and finish the surface. In the burnishing process using a polishing tape, the polishing tape, which is made by placing abrasive grains such as alumina and diamond on a flexible support with an organic binder, is brought into contact with the surface of the disk by applying an appropriate pressure, and the disk is polished. This is done by running the tape. As such a burnishing process, for example, there is one disclosed in JP-A-59-148134.

【0017】走行性を向上させるために、バーニッシュ
工程の後に潤滑層を成膜することができる。潤滑層は厚
みが5〜40Å程度のものであり、潤滑剤としては、極性
基を有する潤滑剤や極性基を有しない潤滑剤を単独又は
併用したものが用いられる。例えば極性基を有する潤滑
剤の溶液を塗布した後、末端に極性基を有しない潤滑剤
の溶液を塗布したり、極性基を有する潤滑剤と極性基を
有しない潤滑剤の混合溶液を塗布し、下層側に極性基を
持つ潤滑剤を存在させ上層側に極性基を持たない潤滑剤
を存在させることができる。極性基を有する潤滑剤とし
ては、分子量が2000〜4000のパーフルオロポリエーテル
系のものがあり、特に末端に芳香族環を有するものが好
ましい。極性基を持たない潤滑剤としては、分子量が20
00〜10000のパーフルオロポリエーテル系のものが好ま
しい。
A lubricating layer may be formed after the burnishing step in order to improve runnability. The lubricating layer has a thickness of about 5 to 40 liters, and as the lubricant, a lubricant having a polar group or a lubricant having no polar group is used alone or in combination. For example, after applying a solution of a lubricant having a polar group, a solution of a lubricant having no polar group at the end is applied, or a mixed solution of a lubricant having a polar group and a lubricant having no polar group is applied. A lubricant having a polar group can be present on the lower layer side and a lubricant having no polar group can be present on the upper layer side. As the lubricant having a polar group, there are perfluoropolyether type lubricants having a molecular weight of 2000 to 4000, and those having an aromatic ring at the terminal are particularly preferable. As a lubricant without polar groups, the molecular weight is 20
A perfluoropolyether type of 100 to 10,000 is preferable.

【0018】以下実施例により本発明をさらに説明する
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではな
い。
The present invention will be further described with reference to the following examples, but the present invention is not limited to these examples.

【0019】[0019]

【実施例】【Example】

実施例1〜3 直径1.8インチ、厚み25ミル、比重1.5g/cm3のガラス状
カーボン基板を作成した。このカーボン基板上に、Arガ
ス圧2mTorr、基板温度250℃の条件で、DCマグネト
ロンスパッタリングにより厚さ100nmのTi層を形成し
た。次いでArガス圧2mTorr、基板温度260℃の条件
で、DCマグネトロンスパッタリングによりTi層上に厚
さ20nmのAl−Si合金層(Al:Si=10:90/重量%)を形
成した。この後、Arガス圧2mTorr、基板温度260℃の
条件で、DCマグネトロンスパッタリングにより、Al−
Si合金層上に厚さ25nmのアモルファスカーボン(ダイヤ
モンドライクカーボン)層を形成した。
Examples 1 to 3 glassy carbon substrates having a diameter of 1.8 inches, a thickness of 25 mils and a specific gravity of 1.5 g / cm 3 were prepared. A Ti layer having a thickness of 100 nm was formed on this carbon substrate by DC magnetron sputtering under the conditions of Ar gas pressure of 2 mTorr and substrate temperature of 250 ° C. Then, under the conditions of Ar gas pressure of 2 mTorr and substrate temperature of 260 ° C., an Al—Si alloy layer (Al: Si = 10: 90 / wt%) having a thickness of 20 nm was formed on the Ti layer by DC magnetron sputtering. After that, under the conditions of Ar gas pressure of 2 mTorr and substrate temperature of 260 ° C., Al− was formed by DC magnetron sputtering.
A 25 nm thick amorphous carbon (diamond-like carbon) layer was formed on the Si alloy layer.

【0020】このようにしてテクスチャー処理を施した
後、同一の真空ライン内において、Arガス圧2mTorr、
基板温度200℃の条件下で、DCマグネトロンスパッタ
リング装置を用いて、アモルファスカーボン層上に、厚
さ100nmのTi層を設け、その後このTi層上に厚さ40nmのC
r層を設けた。更に、Arガス圧2mTorr、基板温度260℃
の条件で、DCマグネトロンスパッタリングにより、Cr
層上に厚さ400nmのCoCrPt系合金磁性層を設けた。続い
て、ガラス状カーボン製ターゲットを装着した対向ター
ゲット型のスパッタリング装置を用い、Arガス圧2mTo
rrの条件下で、磁性層上に20nm厚のアモルファスカーボ
ン(ダイヤモンドライクカーボン)からなる保護層を設
けた。
After performing the texture treatment in this way, Ar gas pressure of 2 mTorr, in the same vacuum line,
Under the condition of the substrate temperature of 200 ° C., a Ti layer with a thickness of 100 nm is formed on the amorphous carbon layer by using a DC magnetron sputtering device, and then a C layer with a thickness of 40 nm is formed on this Ti layer.
The r layer is provided. Furthermore, Ar gas pressure 2mTorr, substrate temperature 260 ℃
Under the conditions of DC magnetron sputtering, Cr
A 400 nm-thick CoCrPt-based alloy magnetic layer was provided on the layer. Then, using a facing target type sputtering apparatus equipped with a glassy carbon target, Ar gas pressure 2 mTo
Under the condition of rr, a protective layer made of amorphous carbon (diamond-like carbon) having a thickness of 20 nm was provided on the magnetic layer.

【0021】このようにして成膜を行った後、次に示す
ようにして基板の洗浄を行った。 実施例1:60℃の純水中に15秒間浸漬する操作を3回繰
り返して行い、さらに60℃の純水中に15秒間浸漬した
後、70mm/sの速度で引き上げた(方法1)。 実施例2:実施例1において、950kHzの超音波を併用し
た以外は同様に行った。 実施例3:60℃の純水をかけながら、ポリビニルアルコ
ール製のスクラブパッドを接触圧力0.5kg/cm2で15秒間
擦り付ける操作を3回繰り返して行い、次いで60℃の純
水をかけながらディスクを50rpmで5秒間回転させ、そ
の後純水なしでディスクを5000rpmで10秒間回転させた
(方法2)。 実施例4:常温のTriton X(Rohm & Haas Co.製)の10
%水溶液をかけながら、ポリビニルアルコール製のスク
ラブパッドを接触圧力0.5kg/cm2で15秒間擦り付ける操
作を3回繰り返して行い、次いで60℃の純水をかけなが
らディスクを50rpmで5秒間回転させ、その後純水なし
でディスクを5000rpmで10秒間回転させた(方法3)。
After forming the film in this way, the substrate was washed as follows. Example 1: The operation of immersing in pure water at 60 ° C. for 15 seconds was repeated 3 times, further immersing in pure water at 60 ° C. for 15 seconds, and then pulled up at a speed of 70 mm / s (method 1). Example 2: The same procedure as in Example 1 was carried out except that ultrasonic waves of 950 kHz were used together. Example 3: The operation of rubbing a polyvinyl alcohol scrub pad at a contact pressure of 0.5 kg / cm 2 for 15 seconds while applying pure water at 60 ° C. was repeated 3 times, and then the disk was applied while applying pure water at 60 ° C. It was spun at 50 rpm for 5 seconds and then the disk was spun at 5000 rpm for 10 seconds without pure water (method 2). Example 4: 10 of normal temperature Triton X (manufactured by Rohm & Haas Co.)
% Aqueous solution, rubbing a polyvinyl alcohol scrub pad at a contact pressure of 0.5 kg / cm 2 for 15 seconds is repeated 3 times, and then the disk is rotated at 50 rpm for 5 seconds while applying pure water at 60 ° C. The disk was then spun at 5000 rpm for 10 seconds without pure water (method 3).

【0022】洗浄工程終了後、回転するディスクに対し
てWA#10000の研磨テープを相対速度100m/秒で1秒
間、ゴムロールで押しつけることによりバーニッシュを
行った。ロール硬度はショア硬度25、ロール押し付け圧
は0.8kgfであった。
After the washing step was completed, burnishing was performed by pressing a polishing tape of WA # 10000 against the rotating disk at a relative speed of 100 m / sec for 1 second with a rubber roll. The roll hardness was a Shore hardness of 25, and the roll pressing pressure was 0.8 kgf.

【0023】その後、パーフルオロポリエーテル系潤滑
剤(モンテカチーニ社製のFomblinAM2001)溶液を、乾
燥後の厚さが17Åとなるように塗布して、保護層上に潤
滑剤層を形成し、磁気ディスクを得た。
After that, a solution of a perfluoropolyether lubricant (Fomblin AM2001 manufactured by Montecatini Co., Ltd.) was applied so that the thickness after drying was 17Å to form a lubricant layer on the protective layer to form a magnetic disk. Got

【0024】実施例5 実施例4の基板をNiPメッキしたアルミニウム基板にし
た以外は、実施例4と同様に操作して磁気ディスクを得
た。
Example 5 A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 4, except that the NiP-plated aluminum substrate was used as the substrate of Example 4.

【0025】実施例6 実施例4の基板をガラス基板にした以外は、実施例4と
同様に操作して磁気ディスクを得た。
Example 6 A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 4, except that the glass substrate was used as the substrate in Example 4.

【0026】実施例7 実施例4において、テクスチャー処理の後にディスクを
真空ラインから取り出して大気中に暴露し、上記の方法
3によって洗浄を行ってから再び真空ライン内に移し、
下地層、磁性層、保護層を実施例4に準じて成膜した。
その後は実施例4と同様に操作して磁気ディスクを得
た。
Example 7 In Example 4, after the texturing, the disk was taken out of the vacuum line, exposed to the atmosphere, cleaned by the above-mentioned method 3 and again transferred into the vacuum line.
An underlayer, a magnetic layer, and a protective layer were formed according to Example 4.
After that, the same operation as in Example 4 was carried out to obtain a magnetic disk.

【0027】実施例8 実施例1〜4と同じガラス状カーボン基板に対し、大気
中でテープテクスチャー処理を施した。このテープテク
スチャー処理の条件は、日本ミクロコーテング社製#600
0の研磨テープを用い、加工圧1.5kg/cm2、テープ振動3
00往復/分、ワーク回転数50rpm、加工時間20秒であっ
た。テクスチャー処理後、上記の方法3に従って洗浄を
行った。その後は実施例4と同様に操作して成膜等を行
い、磁気ディスクを得た。
Example 8 The same glassy carbon substrate as in Examples 1 to 4 was subjected to tape texture treatment in the atmosphere. The conditions for this tape texture processing are # 600 manufactured by Japan Micro Coating Co., Ltd.
Using 0 polishing tape, processing pressure 1.5kg / cm 2 , tape vibration 3
It was 00 reciprocations / minute, the number of revolutions of the workpiece was 50 rpm, and the processing time was 20 seconds. After the texture treatment, washing was performed according to the above method 3. Thereafter, the same operations as in Example 4 were carried out to form a film and the like to obtain a magnetic disk.

【0028】比較例1 実施例4と同様に操作して磁気ディスクを得たが、方法
3による洗浄をバーニッシュ工程の前ではなく、バーニ
ッシュ工程の後、潤滑層の形成前に行った。
Comparative Example 1 A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 4, but the cleaning by Method 3 was carried out not after the burnishing step but after the burnishing step and before the formation of the lubricating layer.

【0029】比較例2 実施例4と同様に操作して磁気ディスクを得たが、方法
3による洗浄を行わなかった。
Comparative Example 2 A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 4, but the cleaning according to Method 3 was not performed.

【0030】実施例及び比較例で得られた磁気ディスク
について、以下の特性評価を行った。結果を表1に示
す。 (1)外観検査 ハロゲン光の下で目視観察を行ってスクラッチ傷等をチ
ェックし、実用上問題ない程度の外観を有するものを合
格とした。 (2)GHT Proquip社製MG150T装置を用い、50%スライダヘッドを
用いて行った。1.5μインチの浮上高さにより合否を判
定した。 (3)MCF(エラー特性) エラー特性はProquip社製MG150T装置を用い、70%スラ
イダヘッドを使用し、記録密度5kBPIの条件で評価し
た。MP75%、EP20%でエラー16個以上を不合格とした。
The following characteristic evaluations were conducted on the magnetic disks obtained in the examples and comparative examples. Table 1 shows the results. (1) Appearance inspection Visual inspection under a halogen light was performed to check for scratches and the like, and a product having an appearance of a degree that practically caused no problems was passed. (2) It was carried out by using a MG150T device manufactured by GHT Proquip and using a 50% slider head. The pass / fail was judged by the flying height of 1.5 μ inch. (3) MCF (Error Characteristic) The error characteristic was evaluated by using MG150T device manufactured by Proquip, 70% slider head, and recording density of 5 kBPI. 16 or more errors were rejected with MP75% and EP20%.

【0031】[0031]

【表1】 [Table 1]

【0032】これらの結果から理解される通り、本発明
の製造方法による磁気記録媒体は、成膜時や環境内から
微小異物が洗浄によって除去されたことにより、外観収
率に優れ、またヘッド浮上特性やエラー特性も良好であ
る。
As can be understood from these results, the magnetic recording medium according to the manufacturing method of the present invention is excellent in the appearance yield because the fine foreign matters are removed by washing during film formation and from the environment, and the head flying height is increased. The characteristics and error characteristics are also good.

【0033】[0033]

【発明の効果】本発明の製造方法によれば、磁気記録媒
体の製造プロセス中に基体表面に付着する微小異物を効
果的に除去することができ、特にテクスチャー処理が等
方的に行われる場合について外観不良が顕著に減少する
と共に、サーティファイ(エラー)収率、グライドハイ
ト収率も向上する。
According to the manufacturing method of the present invention, it is possible to effectively remove minute foreign substances adhering to the surface of the substrate during the manufacturing process of the magnetic recording medium, and particularly when the texture treatment is isotropic. In addition, the defective appearance is remarkably reduced, and the certify (error) yield and the glide height yield are also improved.

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板をテクスチャー処理する工程と、テ
クスチャー処理された基板上に磁性層を成膜する工程
と、磁性層成膜後のバーニッシュ工程とを含んでなる磁
気記録媒体の製造方法において、磁性層の成膜工程とバ
ーニッシュ工程の間に洗浄を行うことを特徴とする磁気
記録媒体の製造方法。
1. A method of manufacturing a magnetic recording medium, comprising: a step of texturing a substrate; a step of forming a magnetic layer on the textured substrate; and a burnishing step after forming the magnetic layer. A method of manufacturing a magnetic recording medium, comprising: performing cleaning between a film forming step of a magnetic layer and a burnishing step.
【請求項2】 前記洗浄がスクラブ洗浄によって行わ
れ、洗浄液が純水又は界面活性剤水溶液である、請求項
1記載の磁気記録媒体の製造方法。
2. The method for manufacturing a magnetic recording medium according to claim 1, wherein the cleaning is performed by scrub cleaning, and the cleaning liquid is pure water or a surfactant aqueous solution.
【請求項3】 前記洗浄が温純水中への浸漬によって行
われる、請求項2記載の磁気記録媒体の製造方法。
3. The method for manufacturing a magnetic recording medium according to claim 2, wherein the cleaning is performed by immersion in warm pure water.
【請求項4】 前記テクスチャー処理が基板表面に対し
て等方的に行われる、請求項1から3の何れか1項記載
の磁気記録媒体の製造方法。
4. The method for manufacturing a magnetic recording medium according to claim 1, wherein the texture treatment is isotropically performed on the substrate surface.
【請求項5】 前記テクスチャー処理がスパッタリング
により行われる、請求項4記載の磁気記録媒体の製造方
法。
5. The method for manufacturing a magnetic recording medium according to claim 4, wherein the texture treatment is performed by sputtering.
【請求項6】 前記テクスチャー処理工程と前記磁性層
の成膜工程の間に洗浄工程を含む、請求項4又は5記載
の磁気記録媒体の製造方法。
6. The method of manufacturing a magnetic recording medium according to claim 4, further comprising a cleaning step between the texture processing step and the magnetic layer forming step.
【請求項7】 前記洗浄工程がスクラブ洗浄によって行
われ、洗浄液が純水又は界面活性剤水溶液である、請求
項6記載の磁気記録媒体の製造方法。
7. The method of manufacturing a magnetic recording medium according to claim 6, wherein the cleaning step is performed by scrub cleaning, and the cleaning liquid is pure water or a surfactant aqueous solution.
【請求項8】 前記洗浄工程が温純水中への浸漬によっ
て行われる、請求項6記載の磁気記録媒体の製造方法。
8. The method for manufacturing a magnetic recording medium according to claim 6, wherein the cleaning step is performed by immersion in warm pure water.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002117532A (en) * 2000-10-11 2002-04-19 Nippon Sheet Glass Co Ltd Glass substrate for information recording medium and its manufacturing method
JP2002352422A (en) * 2001-05-25 2002-12-06 Nippon Sheet Glass Co Ltd Glass substrate for information recording medium and method for manufacturing the same
WO2004059619A3 (en) * 2002-12-26 2004-09-23 Hoya Corp Glass substrate for information recording media and its fabricating method

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