JPH09162241A - 電子部品及び電子部品の実装方法 - Google Patents

電子部品及び電子部品の実装方法

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JPH09162241A
JPH09162241A JP7344487A JP34448795A JPH09162241A JP H09162241 A JPH09162241 A JP H09162241A JP 7344487 A JP7344487 A JP 7344487A JP 34448795 A JP34448795 A JP 34448795A JP H09162241 A JPH09162241 A JP H09162241A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の突起電極の電気的な接合を確保などが
できる電子部品及び電子部品の実装方法を提供するこ
と。 【解決手段】 基板の配線部に電気的に接続するための
複数の突起電極11を備える電子部品20であり、この
電子部品20には突起電極11と基板の配線部の電気的
な接続状態を補強するための補強用の突起40が設けら
れている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の突起電極を
備える電子部品及び電子部品の実装方法の改良に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】電子部品には、たとえば所謂ボールグリ
ッドアレイ(BGA)の構造を有するものや、バンプ付
の抵抗あるいはコンデンサ等がある。この種のボールグ
リッドアレイの半導体パッケージあるいはバンプ付の抵
抗やコンデンサの裏面の突起電極が、回路基板のランド
に対して半田付けにより接続されるようになっている。
図13は、従来用いられているボールグリッドアレイ構
造の電子部品1を示している。この電子部品1は、その
裏面側に複数のボール状の突起電極11が格子状に配列
されている。これらのボール状の突起電極11は、IC
チップ1aから多数の信号を取り出すために、回路基板
に対して電気的に接続する部分である。図13のボール
グリッドアレイ構造の半導体パッケージの突起電極11
は、たとえば0.5mmピッチで、200個程度形成さ
れている。また図14は、バンプ付の抵抗チップ2を示
している。この抵抗チップ2は、たとえばバンプとして
2つの突起電極11,11を有している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述したよ
うなボールグリッドアレイ状の半導体パッケージを有す
る子部品では、次のような問題がある。図15は、図1
3の電子部品1と回路基板3が、複数の突起電極11に
より電気的に接続されている状態を示している。このよ
うな構造を持つ電子部品1と回路基板3の間では、突起
電極11付近に応力がかかることが知られており、上述
したような0.5mmピッチで、200個の突起電極1
1を有する場合には、その電気的な接続寿命が約5年で
ある。また図15において、最も大きな応力のかかる突
起電極11は、最外部の電極と最内部の電極であること
が本発明者の試験により判明している。従って、これら
の最外部の突起電極11や最内部の突起電極11にマイ
クロクラックが入った場合には、この電子部品1と回路
基板3の電気的な接続に不都合が生じてしまうことにな
る。
【0004】また図16に示すように従来の電子部品1
の各突起電極11は、同一の大きさで同一の形状を有し
ている。従って、図17に示すようにして、カメラで電
子部品1の裏面側を認識する場合には次のような問題が
生じる。すなわち、カメラの認識領域により、たとえば
図17の(a)で示すようにカメラが全部の突起電極1
1を認識できる全体領域ARを認識する場合には問題が
ないが、図17の(b)のようにカメラが領域ARの一
部領域AR1しか認識できない場合には、図18に示す
ように、カメラの位置が突起電極11の1つ分あるいは
その整数倍分ずれた場合にも同じ大きさで同じ形状の突
起電極11を認識してしまう。このためカメラが、電子
部品1の裏面側の正しい位置を認識することができない
という問題がある。つまり、図18の(a)で示すよう
に領域AR1が正しい認識位置だとしても、カメラが突
起電極11の1ピッチ分ずれて位置していた場合には、
隣の領域AR2の同じ形状で同じ大きさの突起電極11
を認識してしまうので、誤認識が生じることになる。
【0005】そこで本発明は上記課題を解消するために
なされたものであり、複数の突起電極の電気的な接続状
態を確保し、しかも電子部品の向きを判別したり電子部
品の位置決め合わせを容易に行うことができる電子部品
及び電子部品の実装方法を提供することを目的としてい
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明にあ
っては、基板の配線部に電気的に接続するための複数の
突起電極を備える電子部品において、突起電極と基板の
配線部の電気的な接続状態を補強するための補強用の突
起が設けられている電子部品により、達成される。
【0007】本発明によれば、電子部品の複数の突起電
極と、基板の配線部の接続状態を補強するために、補強
用の突起が用いられる。この補強用の突起は、突起電極
と基板の配線部の電気的な補強を行って、接続寿命を伸
ばすことができる。また補強用の突起は、たとえば複数
の突起電極と異なる形状にすることにより、電気的な接
続用の複数の突起電極と、補強用の突起の区別を確実に
行うことができる。そして補強用の突起の少なくとも1
つが、複数の突起電極と異なる大きさであれば、電子部
品の向きを確実に認識することができる。補強用の突起
の少なくとも1つが、電子部品の外径部分より側方に突
出していると、電子部品を基板に対して実装する場合
に、電子部品の向きおよび実装用の位置合わせのマーカ
として使用することができる。
【0008】補強用の突起が、電子部品において複数の
突起電極よりも外側に位置していることにより、電子部
品の突起電極と基板の配線部が電気的に接続された状態
で、補強用の突起が、発生する応力に対して耐えること
ができる。従って、突起電極と基板の配線部の電気的な
接続状態を長期間確保することができる。同様にして補
強用の突起が電子部品において複数の突起電極よりも内
側に位置していることで、突起電極と基板の配線部が電
気的な接続状態にある場合に、補強用の突起が発生する
応力に耐えることができる。更に補強用の突起が、電子
部品において複数の突起電極よりも外側に位置しかつ別
の補強用の突起が電子部品において複数の突起電極より
も内側に位置していると、突起電極と基板の配線部が電
気的な接続状態になっている場合に、外側の補強用の突
起と内側の補強用の突起が、発生する応力に耐え得る。
これにより突起電極と基板の配線部の電気的な接続状態
を長期間確保することができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であるから、
技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明
の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨
の記載がない限り、これらの形態に限られるものではな
い。
【0010】図1は、本発明の電子部品の一例をおよび
この電子部品20が搭載されている回路基板30を示し
ている。図2は、この電子部品20の裏面21側を示し
ている。電子部品の裏面21には、多数の突起電極11
が所定のパターンで配列されている。これらの突起電極
11は、所定のピッチを有するように格子状に配置され
ている電極端子であり、好ましくはボール形状を有して
いる。従って、電子部品20は、所謂ボールグリッドア
レイ(BGA)型の半導体パッケージである。図1の電
子部品20のサブストレート23の上には、所定の半導
体素子24が、たとえばエポキシ樹脂のような封止部材
25によりオーバーコートすることでパッケージングさ
れている。半導体素子24の各信号線は、サブストレー
ト23のスルーホールを介して、図2の各突起電極11
に電気的に接続されている。
【0011】図2において、電子部品20の裏面21に
おいては、多数の突起電極11の外側に、たとえば4つ
の補強用の突起(補強ランドともいう)40が設けられ
ている。この補強用の突起40は、たとえば裏面21の
四隅に配置されている。補強用の突起40は、突起電極
11と同様に半田バンプであるが、球状もしくは半球状
であり、その直径L1は、突起電極11の直径L2より
も大きく設定されている。これにより、使用者は補強用
の突起40と、突起電極11の区別を確実に行うことが
できる。図2の実施の形態では、このように4つの補強
用の突起40が、裏面21の四隅において、つまり突起
電極11のよりも外側において設定されている。
【0012】図3は、この電子部品20の突起電極11
と補強用の突起40が、回路基板30に対して電気的に
接続されている状態を示す図である。補強用の突起40
は、電子部品20と回路基板30の電気的接続には関係
なく、各突起電極11が、電子部品20と回路基板30
の配線部の間での電気的な接続の役割を果たしている。
補強用の突起40が裏面21の四隅にあるので、各突起
電極11にかかる応力は、最も外側に位置する突起にか
かることから、この補強用の突起40が応力に耐える役
割を果たす。従って、電気的接続に関与する突起電極1
1には応力がかかりにくくなり、突起電極11にマイク
ロクラック等の発生がなくなる。従って、電子部品20
の突起電極11と回路基板30の配線部の電気的接続を
長期間確保することができる。
【0013】図4は、図2と異なり、補強用の突起40
が、突起電極11が存在する領域よりも最も内側に4つ
配置されている。すなわち電子部品120と回路基板3
0の配線部が突起電極11により電気的に接続されてい
る状態では、最も内側の領域の補強用の突起40に対し
て応力が最もかかるので、この補強用の突起40が応力
を受け持つことから、他の突起電極11にはマイクロク
ラック等が発生しない。従って、電子部品120、突起
電極11と回路基板30の配線部の電気的な接続を長期
間確保することができる。
【0014】図6は、補強用の突起40が電気的接続用
の突起電極11の配列パターン部の最も外側と最も内側
の両方に4つずつ配置された例を示している。このよう
にすることで、図7に示すように、電子部品220が、
多数の突起電極11を介して回路基板30の配線部に対
して電気的に接続している状態において、補強用の突起
40は最も外側と最も内側にかかる応力を受け持つこと
になる。従って、電気的接続を行うための多数の突起電
極11には応力によるマイクロクラックが生じないの
で、電子部品220の突起電極11と回路基板30の配
線部による電気的な接続を長期間確保することができ
る。
【0015】このように、電子部品20,120,22
0で示すように、突起電極11の形成されているパター
ン部の最も外側の位置、あるいは最も内側の位置、ある
いは最も外側の位置と最も内側の位置の両方に対して、
補強用の突起40を設けることにより、補強用の突起4
0が、応力を受け持つことができるために、電気的接続
に必要な多数の突起電極11にマイクロクラックが入ら
ず、回路基板30と電子部品20,120,220の電
気的な接続に不都合がない。しかもこの補強用の突起4
0の大きさが大きい程、その応力を支える強度が上が
り、電子部品と回路基板の電気的な接続状態をさらに長
期間確保することができる。
【0016】たとえば、補強用の突起を設けることによ
り、電子部品と回路基板の電気的な接続の寿命が約2.
5倍程度伸びる。この電子部品20,120,220
は、たとえば0.5mmピッチで200個の突起電極1
1を有するボールグリッドアレイタイプのものである。
この場合、その電気的接続を確保できる年数、いわゆる
接続寿命は12年と長期間確保することができる。な
お、補強用の突起を最外周または最内周に設けるか、あ
るいは最外周および最内周の両方ともに設けるかの判断
は、その電子部品の必要寿命等を考えて適切に選択す
る。
【0017】次に図8と図9を参照する。図8と図9
は、本発明の電子部品320の裏面321側を示してい
る。この電子部品320の裏面321には、複数の突起
電極11が所定のピッチをおいて所定のパターンで形成
されている。そして裏面321の四隅には、上述したよ
うな2種類の補強用の突起40,41が形成されてい
る。図8において、補強用の突起41は、正方形状にな
っているが、他の補強用の突起40は円形状になってい
る。このように補強用の突起41と40の形を変えるこ
とにより、使用者は電子部品320の向きを確実に知る
ことができる。この場合には、1つの補強用の突起41
の形状が他の補強用の突起40の形状と比べて変えてあ
るので、この電子部品320がたとえば1つのピンタイ
プの電子部品320であると判断できる。
【0018】図9の電子部品420は、4つの補強用の
突起41を備えている。これらの補強用の突起41は、
電子部品420の裏面421の四隅に配置されている。
補強用の突起41は、正方形状に作られており、接続用
の突起電極11が円形状であるのと異なっている。この
ようにすることで、たとえばカメラを用いてこの電子部
品420の裏面421を画像認識する場合に、カメラの
倍率によっては、1つの補強用の突起41あるいは1つ
の接続用の突起電極11しか認識できない場合(図9
(a)又は図9(b)参照)があるが、この場合であっ
ても、補強用の突起41と接続用の突起電極11の形状
が異なるので、補強用の突起41と接続用の突起電極1
1を誤認識してしまうという恐れがない。
【0019】つまり図8(a)においては、カメラが領
域AR3を認識すれば、正しく画像認識できたと判断
し、カメラが領域AR4を認識すれば、ピッチずれした
画像認識をしたと判断することができる。
【0020】図10と図11は、更に別の本発明の実施
の形態を示しており、電子部品520の上面522を示
している。裏面521の四隅に対応する位置には、回路
基板30側に位置決め用の突起91が配置されている。
この4つの位置決め用の突起91は、電子部品520を
位置決めするために、電子部品520のパッケージ53
0よりも外側に飛び出すように突出部分91aを有して
いる。これにより、電子部品520の突起電極11は、
4つの位置決め用の突起91により位置決めすることが
できる。従って、電子部品520の接続用の各突起電極
11が、回路基板30側の配線部30aの所定の位置に
確実に位置決めして接続できる。
【0021】ところで上述した実施の形態では、所謂ボ
ールグリッドアレイ型の電子部品を例に挙げて説明して
いるが、これに限らず図14で示すようなバンプ付の抵
抗あるいはコンデンサのような電子部品に対しても本発
明を適用することができる。また半導体パッケージIC
型の電子部品に限らず、フリップチップ等の他の形式の
電子部品についても、本発明は全く同様の効果を発揮す
ることができる。本発明の実施の形態では、電子部品の
各コーナ部分に補強用の突起(補強ランド)を設けてい
るが、補強用の突起は、この部分に限らず、電子部品の
各辺の中央部に設けたりあるいはコーナ部と中央部の両
方あるいはその一方に設けた場合であっても、電子部品
の突起電極と回路基板の配線部との電気的な接続の寿命
を伸ばすことができる。
【0022】図12は、電子部品の裏面に突起電極およ
び補強用の突起が設けられている場合に、電子部品を回
路基板の配線部に対して搭載する際の手順を示してい
る。回路基板30は、その回路基板30における電子部
品20(120,220,320,420,520)を
位置決めする位置をまず認識する。そして電子部品20
(120,220,320,420,520)の裏面の
認識をして、この電子部品がどのような接続用の突起電
極11のパターンを有し、どのような補強用の突起を有
しているかを認識する。そして電子部品は、回路基板3
0の所定の位置にマウントして、各接続用の突起電極
は、回路基板30の所定の配線部に対して半田により適
切に電気的に接続される。この場合に、補強用の突起は
電子部品と回路基板の電気的接続用には用いず、回路基
板と電子部品の間に発生する応力を負担することにな
る。
【0023】本発明の実施の形態では、補強用の突起
は、突起電極と基板の配線部の電気的な補強を行って、
接続寿命を伸ばすことができる。また補強用の突起は、
たとえば複数の突起電極と異なる形状にすることによ
り、電気的な接続用の複数の突起電極と、補強用の突起
の区別を確実に行うことができる。そして補強用の突起
の少なくとも1つが、複数の突起電極と異なる大きさで
あれば、電子部品の向きを確実に認識することができ
る。補強用の突起の少なくとも1つが、電子部品の外径
部分より側方に突出していると、電子部品を基板に対し
て実装する場合に、電子部品の向きおよび実装用の位置
合わせのマーカとして使用することができる。
【0024】補強用の突起が、電子部品において複数の
突起電極よりも外側に位置していることにより、電子部
品の突起電極と基板の配線部が電気的に接続された状態
で、補強用の突起が、発生する応力に対して耐えること
ができる。従って、突起電極と基板の配線部の電気的な
接続状態を長期間確保することができる。同様にして補
強用の突起が電子部品において複数の突起電極よりも内
側に位置していることで、突起電極と基板の配線部が電
気的な接続状態にある場合に、補強用の突起が発生する
応力に耐えることができる。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
複数の突起電極の電気的な接続状態を確保し、しかも電
子部品の向きを判別したり電子部品の位置決め合わせを
容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の電子部品が回路基板に対
して搭載されている状態を示す斜視図。
【図2】図1の電子部品の裏面側に設けられた突起電極
と補強用の突起の配置例を示す図。
【図3】図2の突起電極と補強用の突起を用いて電子部
品と回路基板が接続されている状態を示す図。
【図4】電子部品の裏面側における突起電極と補強用の
突起の別の配列例を示す図。
【図5】図4における電子部品と回路基板との接続を示
す図。
【図6】本発明の電子部品における接続用の突起電極と
補強用の突起の別の配列パターンを示す図。
【図7】図6の電子部品と回路基板の接続例を示す図。
【図8】本発明の電子部品の補強用の突起と接続用の突
起電極の別の配列パターンを示す図。
【図9】本発明の電子部品の更に別の補強用の突起およ
び接続用の突起電極の配列パターンを示す図。
【図10】本発明の電子部品が回路基板に位置決めして
搭載されている状態を示す斜視図。
【図11】図10の電子部品と回路基板の平面図。
【図12】本発明における電子部品の裏面に接続用の突
起電極を有する場合に、この電子部品を回路基板に対し
てマウントする際の手順例を示す図。
【図13】従来のボールグリッドアレイ構造の電子部品
の一例を示す側面図。
【図14】通常のバンプ付抵抗を示す斜視図。
【図15】従来の電子部品を回路基板に対して接続用の
突起電極を介して接続している状態を示す図。
【図16】従来の電子部品の突起電極の配列パターンを
示す図。
【図17】従来の電子部品の接続用の突起電極をカメラ
で認識する様子を示す図。
【図18】図17におけるカメラによる電子部品の裏面
の認識操作例を示す図。
【符号の説明】
11 接続用の突起電極 20 電子部品 30 回路基板(基板) 40 補強用の突起

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板の配線部に電気的に接続するための
    複数の突起電極を備える電子部品において、 突起電極と基板の配線部の電気的な接続状態を補強する
    ための補強用の突起が設けられていることを特徴とする
    電子部品。
  2. 【請求項2】 補強用の突起は、半田で作られている請
    求項1に記載の電子部品。
  3. 【請求項3】 補強用の突起は、複数の突起電極と異な
    る形状を有する請求項1に記載の電子部品。
  4. 【請求項4】 補強用の突起の少なくとも1つは、複数
    の突起電極と異なる大きさを有する請求項1に記載の電
    子部品。
  5. 【請求項5】 基板の補強用の突起は、電子部品の外形
    部分よりも側方に突出するように位置決め用の突起であ
    る請求項1に記載の電子部品。
  6. 【請求項6】 補強用の突起は、電子部品において複数
    の突起電極よりも外側に位置している請求項1に記載の
    電子部品。
  7. 【請求項7】 補強用の突起は、電子部品において複数
    の突起電極よりも内側に位置している請求項1に記載の
    電子部品。
  8. 【請求項8】 補強用の突起は、電子部品において複数
    の突起電極よりも外側に位置し、別の補強用の突起が、
    電子部品において複数の突起電極よりも内側に位置して
    いる請求項1に記載の電子部品。
  9. 【請求項9】 突起電極はボールグリッドアレイ構造を
    有している請求項1に記載の電子部品。
  10. 【請求項10】 基板の配線部に電気的に接続するため
    の複数の突起電極を備える電子部品に対して、突起電極
    と基板の配線部の接続状態を補強するための補強用の突
    起を設けて、 この補強用の突起を基板の配線部を有する基板の面に配
    置することを特徴とする電子部品の実装方法。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003008186A (ja) * 2001-06-21 2003-01-10 Sony Corp 半導体装置
US7247945B2 (en) 2004-12-13 2007-07-24 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor apparatus
JP2008258380A (ja) * 2007-04-04 2008-10-23 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置およびそれに用いる配線基板
JP2009212474A (ja) * 2008-03-06 2009-09-17 Elpida Memory Inc 半導体装置及びその製造方法
JP2009246166A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Fujitsu Ltd 電子部品パッケージおよび基板ユニット並びにプリント配線板およびその製造方法
CN109069843A (zh) * 2016-04-18 2018-12-21 心脏起搏器股份公司 具有芯部电路系统支撑结构的可植入医疗装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003008186A (ja) * 2001-06-21 2003-01-10 Sony Corp 半導体装置
US7247945B2 (en) 2004-12-13 2007-07-24 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor apparatus
JP2008258380A (ja) * 2007-04-04 2008-10-23 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置およびそれに用いる配線基板
JP2009212474A (ja) * 2008-03-06 2009-09-17 Elpida Memory Inc 半導体装置及びその製造方法
JP2009246166A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Fujitsu Ltd 電子部品パッケージおよび基板ユニット並びにプリント配線板およびその製造方法
CN109069843A (zh) * 2016-04-18 2018-12-21 心脏起搏器股份公司 具有芯部电路系统支撑结构的可植入医疗装置
JP2019513488A (ja) * 2016-04-18 2019-05-30 カーディアック ペースメイカーズ, インコーポレイテッド コア回路支持構造体を備えた埋込型医療装置
US11357125B2 (en) 2016-04-18 2022-06-07 Cardiac Pacemakers, Inc. IMD having a core circuitry support structure
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