JPH09155578A - 高出力レーザ伝送方法及び装置 - Google Patents

高出力レーザ伝送方法及び装置

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JPH09155578A
JPH09155578A JP7318417A JP31841795A JPH09155578A JP H09155578 A JPH09155578 A JP H09155578A JP 7318417 A JP7318417 A JP 7318417A JP 31841795 A JP31841795 A JP 31841795A JP H09155578 A JPH09155578 A JP H09155578A
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勝宏 南田
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基 城戸
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高出力レーザ伝送経路が正規の経路から外れ
ても、これを検知し、修正することが可能な高出力レー
ザ伝送方法を提供する。 【解決手段】 ミラー11〜16によって高出力レーザ
を伝送する方法において、ビーム断面が円環状で光軸G
が高出力レーザと同一であるガイドレーザを高出力レー
ザと同時に伝送し、ガイドレーザの光路に生じたずれを
センサ51により検出して、当該ずれを修正するように
ミラー11の角度及び位置の少なくとも一つを調整す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、切断、溶接等のレーザ
加工において利用される高出力レーザ伝送方法及びその
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】高出力レーザを用いるレーザ加工装置の
構成として、レーザ発振器を固定して加工ヘッドを移動
させる形式がある。このような形式のレーザ加工装置で
は、加工に用いるレーザ(以下、「加工レーザ」と称す
る)を発振器からヘッドまで伝送する必要がある。しか
し、高出力の加工レーザは光ファイバでは伝送不能であ
り、ミラー等を組合わせた光学系によって伝送しなけれ
ばならない。
【0003】このレーザ伝送光学系において、レーザビ
ームが正確に伝送されるように、ミラー等の位置を調整
することは極めて重要である。しかし、加工レーザは出
力が数kW〜数10kWと大きく、被加工物に集光される前
の比較的出力密度の小さい状態であっても、検出用セン
サを破壊することなくビームの位置を検出することは不
可能である。そのため、加工レーザを低出力・可視光レ
ーザであるHeNeレーザに切り替えて、目視によりH
eNeレーザの光路を確認しつつ、ミラー等の位置を調
整していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この従来の方
法には、加工レーザ照射中の加工レーザ伝送経路を測定
していないため、加工レーザ照射中にミラーの位置・角
度が振動等によって変動して伝送経路が正規の経路から
外れても、これを検知し、修正することができないとい
う欠点があった。
【0005】例えば、10枚の伝送ミラーを用いた光学
系でレーザを伝送し、これを焦点距離300mmである集
光光学系により集光してレーザ加工を行う装置では、一
枚のミラーによりビームの角度に最大0.1mradのずれ
を生じるとすると、光学系全体では最大10×0.1mr
ad=1mradのずれが生じる。このビームを集光光学系に
より集光すると、ビームの集光位置は最大300mm×1
mrad=300μm ずれることになる。一般にレーザ加工
ではレーザビームを数100μm のスポットに集光する
ため、このようなビーム集光位置のずれが加工結果に与
える影響は極めて強く、加工に欠陥が生じる原因とな
る。
【0006】さらに、加工レーザの伝送距離が数10m
と長距離である場合、ビームの角度に最大1mradのずれ
が生じたとすると、伝送後のビームスポットのずれの最
大値は数10mmにも達する。このため加工レーザを伝送
する光学系に用いるミラー等のサイズを大型化しなけれ
ばならず、レーザ加工装置全体の大型化・コストアップ
等の要因となる。また、平面ミラーの大型化であれば製
作は容易であるが、集光光学系に用いるのは曲率を有す
る曲面ミラーであり、その大型化には製作技術上及び設
備コスト上の困難を伴う。
【0007】本発明は、加工レーザ照射中に加工レーザ
の伝送経路が正規の経路から外れても、これを検知し、
修正することが可能な高出力レーザ伝送方法を提供する
ことを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明の高出力レーザ
伝送方法は、ミラーによって高出力レーザを伝送する方
法において、ビーム断面が円環状で光軸が高出力レーザ
と同一であるガイドレーザを高出力レーザと同時に伝送
し、ガイドレーザの光路に生じたずれをセンサにより検
出して、当該ずれを修正するようにミラーの角度及び位
置の少なくとも一つを調整することを特徴とする。
【0009】また、この発明の高出力レーザ伝送装置
は、高出力レーザ発振器と、ガイドレーザ発振器と、ガ
イドレーザのビーム断面を円環状にするガイドレーザ変
換器と、角度及び位置の少なくとも一つが調整可能なレ
ーザ伝送可動ミラーと、レーザ伝送可動ミラーの出射側
にあって高出力レーザと光軸を同一にして伝送されるガ
イドレーザの位置を検出するセンサと、センサからの位
置信号に応じてレーザ伝送可動ミラーの角度及び位置の
少なくとも一つを調整するミラー調整手段とを備えてい
る。
【0010】
【発明の実施の形態】この発明の高出力レーザ伝送方法
及び装置は、主としてレーザ加工装置において用いられ
る。ここで、レーザ加工装置とは、高出力レーザビーム
を被加工物に集光照射して、溶接、切断等のレーザ加工
を行う装置をいう。レーザ加工はオンラインで移動する
被加工物に行うようにしても、オフラインで被加工物を
固定して行ってもよい。
【0011】加工に用いる高出力レーザ(加工レーザ)
は、レーザ発振器から加工ヘッドまでミラー、レンズ等
からなる光学系によって伝送され、加工ヘッドに設けら
れた集光光学素子によって被加工物上に集光される。加
工点を移動させながら加工を行う場合には、レーザ発振
器は固定して、加工ヘッドを移動させて行う。
【0012】この発明では、光学系に加工レーザと同時
にガイドレーザを伝送させる。ガイドレーザは、ビーム
断面を円環状に変換した後、加工レーザと光軸が同一に
なるように、加工レーザと同時にレーザ伝送装置の上流
側から入射させる。ここで、ガイドレーザの外周径は加
工レーザの径よりも大きくし、加工レーザビームがガイ
ドレーザビームによって覆われるようにする。
【0013】加工レーザとガイドレーザはその光軸を同
一とするので、両レーザは光学系に入射した状態のまま
レーザ伝送装置の内部を伝送される。すなわち、加工レ
ーザビームがガイドレーザビームによって覆われた状態
で装置内部を伝送されるので、加工レーザを覆ったガイ
ドレーザの位置を検出すれば、加工レーザの位置を知る
ことが可能である。そこで、本発明ではガイドレーザ伝
送経路上にガイドレーザの位置を検出するセンサを設け
て、ガイドレーザ及び加工レーザの位置を検出するよう
にした。
【0014】高出力の加工レーザとしては、例えば出力
15〜45kWのCO2 レーザを用いる。このようなレー
ザは、レーザ発振器から直径100mm程度のビームとし
て出力され、若干の発散角はあるものの、ほぼそのまま
の直径で伝送される。また、ガイドレーザとしては、出
力が5〜10mW程度のレーザが好ましい。過度に高出力
のガイドレーザを用いるとガイドレーザがセンサを破壊
し、低出力のものではセンサで正確に検出できないから
である。例えば、出力10mWのHeNeレーザを用いると
よい。
【0015】ガイドレーザは、レンズ、ミラー等からな
るビーム変換器によって、ビーム断面を円環状に変換す
る。ビーム断面の円環形状は、内径110〜130mm、
外径140〜220mm程度がよい。このようにビーム断
面を円環形状にするのは、外径を加工レーザより大きく
しながら、ガイドレーザの断面積を小さくして出力密度
を一定以上確保するためである。出力密度を一定以上確
保しなければ、センサによるガイドレーザの検出が困難
となる。上述した大きさの範囲とすれば、十分な出力密
度が確保できるとともに、ガイドレーザの検出を加工レ
ーザの影響を受けずに行うことができる。
【0016】ガイドレーザの位置を検出するセンサに
は、ラインイメージセンサ、フォトダイオード、CCD
カメラ等を用いる。また、複数のセンサを組み合わせて
用いてもよい。例えば2個のセンサを組み合わせて、一
方で水平方向の位置を検出するとともに、他方で垂直方
向の位置を検出するようにしてもよい。さらに、4個の
センサを組み合わせて、水平方向と垂直方向にそれぞれ
2個のセンサを用いるようにしてもよい。センサは、ガ
イドレーザの位置を検出し、その位置を位置信号として
出力する。
【0017】出力された位置信号は、伝送ミラー調整手
段に伝達される。伝送ミラー調整手段は、コントロー
ラ、モータ、ミラー回転および/または変位機構などか
らなる。例えば、信号処理装置に位置信号をサンプルホ
ールド回路およびD/Aコンバータを用い、制御モータ
にコントローラを備えたパルスモータを用いて、信号処
理装置が入力された位置信号をデジタル化してコントロ
ーラに出力し、コントローラでガイドレーザのずれを算
出して、これを修正するべく制御モータを制御して、伝
送ミラーを調整するようにしてもよい。尚、伝送ミラー
の調整とは、ミラー角度及びミラー位置の少なくとも一
つを変更させることをいう。
【0018】また、レーザ伝送装置の出側に出射側ミラ
ーを設ける場合には、出射側ミラーの位置をモニターす
る手段を設けて、上述と同様の手順により、出射側ミラ
ーの位置に応じて伝送ミラーの調整を行うようにしても
よい。
【0019】
【実施例】以下本発明の実施例について、図面を参照し
ながら説明する。図1は、本発明を用いたレーザ加工装
置の一例を示す模式的に示す斜視図である。このレーザ
加工装置は、主として、レーザ供給源1、レーザ伝送ミ
ラー群11〜16、親台車31、子台車41、加工ヘッ
ド23、光センサユニット51、および制御装置53よ
りなっている。また、図中Wは被加工物を、Lは加工レ
ーザ及びガイドレーザの光軸を示している。
【0020】被加工物Wは矢印方向に連続的に移動して
おり、これと同期して親台車31が親台車レール33上
を移動する。子台車41は親台車31上に設けられた子
台車レール43上を被加工物の幅方向に移動する。親台
車31の移動距離は最長30m 、子台車41の移動距離
は最長2.0m である。
【0021】レーザ供給源1から出射された加工レーザ
は、第1伝送ミラー11、親台車31上に設けた第2伝
送ミラー12、子台車41上に設けた第3伝送ミラー1
3、第4伝送ミラー14、第5伝送ミラー15、及び第
6伝送ミラー16により伝送されて、パラボリックミラ
ー21により集光され、加工ヘッド23から被加工物W
の加工点に照射される。
【0022】この装置ではレーザ供給源1から加工レー
ザと同時に、光軸が加工レーザの光軸Lと同一なガイド
レーザを出射し、第1伝送ミラー11により伝送させ
る。このガイドレーザの位置を第2伝送ミラー12の手
前に設けた光センサユニット51により検出した位置信
号を制御装置53で処理し、その出力信号に基づいて第
1伝送ミラーのミラー姿勢調整機構61で第1伝送ミラ
ーの位置、角度を調整する。
【0023】図2は、図1に示したレーザ加工装置で用
いられるレーザ供給源1を示した側面図である。このレ
ーザ供給源1は、加工レーザ発振器2、第1ミラー3、
コリメーションミラー4、第2ミラー5、ガイドレーザ
供給装置8、ガイドレーザ反射ミラー9からなってい
る。加工レーザ発振器2は出力45kWの連続波CO2
ーザ発振器であり、その出力するレーザビームの直径は
100mm、発散角は1〜2mradである。
【0024】図3は、レーザ供給源1に用いられるガイ
ドレーザ供給装置8を示したものである。この装置は、
ガイドレーザ発振器82、第1レンズ83、第2レンズ
85、円錐ミラー87、円錐台ミラー89からなってい
る。ガイドレーザ発振器82は出力10mWのHeNeレ
ーザ発振器である。ガイドレーザ発振器82から出力さ
れた直径1mmのレーザは、f=4.5mmの第1レンズ8
3及びf=200mmの第2レンズ85により、その直径
を40mmに拡大される。その後(頂点角度)45゜の円
錐ミラー87と円錐台ミラー89によってビーム断面の
形状が外径200mm、内径140mmの円環形状に変換さ
れる。
【0025】このレーザ供給源1は、加工レーザ発振器
2から出力された加工レーザを第1ミラー3、コリメー
ションミラー4、第2ミラー5を介して、レーザ加工装
置へ伝送する。第2ミラー5のレーザ出側には、ガイド
レーザ反射ミラー9が配置されている。ガイドレーザ反
射ミラー9には直径120mmの穴が開けてあり、加工レ
ーザの光軸Lに対して45゜の傾斜を持たせてある。
【0026】図4に示すように、加工レーザビームはガ
イドレーザ反射ミラー9の穴を貫通し、そのままレーザ
加工装置に供給される。一方、ガイドレーザ供給装置8
から供給されるガイドレーザは、ガイドレーザ反射ミラ
ー9によって反射されてその光軸を加工レーザと同一に
される。すなわち、加工レーザビームがガイドレーザビ
ームによって覆われた状態となり、両レーザは同時にレ
ーザ加工装置へ伝送される。光軸を同一とした加工レー
ザ及びガイドレーザの強度分布は図4に示したとおりで
あるが、両レーザは発散角を異にするので、親台車31
の移動に伴い、第2伝送ミラー12に伝送される両レー
ザの強度分布は変化する。しかし、ガイドレーザのビー
ム断面は、内径140mm、外径約200mmを保つ。尚、
この値は、ガイドレーザ供給装置8の第1レンズ83、
第2レンズ85、円錐台ミラー89の形状及び配置によ
って定まる。
【0027】図5に、光センサユニット51を示す。こ
の光センサユニット51は、金属製外郭91、反射ミラ
ー92、光センサ93からなっている。外郭91の開口
部から入射したガイドレーザは、傾斜角αを設けた反射
鏡92により反射され、光センサ93に照射される。光
センサ93は光ダイオードであり、入射する光の量に応
じた電圧を出力する。ガイドレーザの位置に変動がある
と、光センサ93に入射する光量が変化して、出力電圧
に変動が生じる。光ダイオードは入射する光強度が過度
に強いと出力電圧が飽和してしまうが、ガイドレーザG
の光センサユニット51への入射面積に対する光センサ
93の受光面積の比は、1/tan αとなるので、傾斜角
αを45゜より小さくすれば、光ダイオードへ入射する
光強度を抑えることができる。傾斜角αは、25゜〜3
5゜が適当である。また、光センサ93をラインセンサ
にして、ガイドレーザのエッジを検出するようにしても
よい。
【0028】反射ミラー92は、図6(a)に示すよう
に、外郭開口部手前側の辺d1が向かい合う辺d2より
も短い台形状とする。このような形状とすることで、ガ
イドレーザの光軸のずれに対し、光センサの受光面積は
非線形的に急激に増加または減少するので、ガイドレー
ザの位置がd1−d2方向にずれた場合の光センサ93
の感度を高めることができる。尚、反射ミラー92の形
状は、図6(b)に示すような楕円状としてもよい。ま
た、外郭91にはガス導入口94を設けて、パージガス
供給装置(図示しない)により、ユニット内部にパージ
ガスを供給する。
【0029】図7は、加工レーザとガイドレーザに対す
る光センサユニット51の配置を両レーザの光軸(X
軸)方向から見た図面である。この図面で、Lは高出力
の加工レーザを、Gはガイドレーザの断面を示してい
る。この図面に示すように、光センサユニット51は、
レーザ光軸(X軸)に対して垂直な平面上に、ガイドレ
ーザの水平方向(Y軸)と垂直方向(Z軸)にそれぞれ
2個ずつ配置する。ここで、反射ミラー92を、図6
(a)のような台形状とする場合には、その長辺d2側
がガイドレーザ外周の外側に、短辺d1側が同内側にな
るように光センサユニット51を同心円状に配置する。
また、ガイドレーザの外周エッジが光センサユニット5
1の反射ミラー92上に位置するようにする。尚、光セ
ンサユニット51は加工レーザと接触しないようにす
る。光センサユニット51の保護のためである。
【0030】さらに、第2伝送ミラー12と光センサユ
ニット51とは図7に示すように、一体に成形する。こ
のように配置することで、第1伝送ミラー11に生じた
ずれだけでなく、親台車31の振動等により生じる第2
伝送ミラー12の位置等のずれも光センサユニット51
により検出でき、第1伝送ミラー11の調整によりこの
ずれを修正することができる。
【0031】図8に示すように、水平方向及び垂直方向
には、それぞれ2個の光センサユニット51を配置し、
各方向2ユニットの出力電圧の差をその方向のガイドレ
ーザ位置信号として用いる。ガイドレーザが正規の位置
に伝送されていれば、光センサユニット51は同心円状
に配置されているので、出力電圧に差はなく、ガイドレ
ーザ位置信号は0である。また、ある方向において、ガ
イドレーザの位置にずれが生じれば、その方向に配置さ
れたユニットのうち、一方は受光量が増えて出力電圧が
増大するとともに、他方は受光量が減って出力電圧が減
少する。すなわち、ガイドレーザの位置のずれが、出力
電圧の差であるガイドレーザ位置信号に反映されること
になる。ここで、反射ミラー92を図6(a)、(b)
に示すような形状とすれば、ガイドレーザの位置のずれ
に伴う光センサ93の受光量の変化が顕著となり、出力
電圧の変動を大きくし、ガイドレーザ位置検出の感度を
高めることができる。
【0032】図9は、光センサユニット51が出力した
電気信号を処理して第1伝送ミラー11の姿勢を調整す
る制御装置53及びミラー姿勢調整機構61の構成図で
ある。垂直(Z軸)方向と水平(Y軸)方向の各々2か
所に配置した光センサユニット51の出力電圧は、各方
向ごとに差動増幅器54Z及び54Yによって位置信号
として、サンプルホールド回路55Z及び55Yを経て
モータコントローラ56に出力される。第1伝送ミラー
11の姿勢制御による自励振動を防止するために、サン
プルホールド回路55Z及び55Yのタイミングは親台
車31の移動速度に応じて設定する。上記タイミング
は、親台車の移動速度や制御系の特性によっては0.1
〜0.5sec に固定することもできる。モータコントロ
ーラ56は、Z方向及びY方向それぞれの位置信号から
ガイドレーザのずれを水平方向と垂直方向のそれぞれに
ついて演算し、第1パルスモータ63及び第2パルスモ
ータ72に制御信号を出力する。この際、第2伝送ミラ
ー12の位置データと親台車31の移動速度データとを
メインコントローラ57を介してモータコントローラ5
6に導入して位置信号に修正を加える。モータコントロ
ーラ56は修正した位置信号に応じて第1パルスモータ
63と第2パルスモータ72を駆動して第1伝送ミラー
11の姿勢調整を行い、レーザ光軸のずれが修正され
る。
【0033】図9に示すように、ミラー調整機構61は
固定枠62、第1回転枠71、及び第2回転枠81を備
えている。第1回転枠71及び第2回転枠81は、基準
状態で固定枠62と平行になるように設定されている。
固定枠62には、第1パルスモータ63で駆動される水
平位置調整ねじ軸64が取り付けられており、軸先端部
は第1回転枠71にピン連結66されている。水平方向
(紙面に対し垂直方向)に間隔をおいて、固定枠62と
第1回転枠71との間に第1コイルばね68が取り付け
られている。第1回転枠71は、固定枠62に支持され
た第1支軸79の回りに回転可能である。また、第1回
転枠71には、第2パルスモータで駆動される垂直位置
調整ねじ軸73が取り付けられており、軸先端部は第2
回転枠81にピン連結83されている。垂直方向に間隔
をおいて、第1回転枠71と第2回転枠81との間に第
2コイルばね77が取り付けられている。第2回転枠8
1は、第1伝送ミラー11が固定されており、第1回転
枠71に支持された第2支軸83の回りに回転可能であ
る。モータコントローラ56からの制御信号で第1パル
スモータ63及び第2パルスモータ72が駆動され、水
平位置調整ねじ軸64及び垂直位置調整ねじ軸73がそ
れぞれ出入し、ガイドビームの位置に応じて第1回転枠
71及び第2回転枠81がそれぞれ回転して加工ビーム
の光軸位置を修正する。
【0034】なお、以上伝送ミラーの角度を調整する場
合について説明したが、伝送ミラーの位置を調整する場
合も同様に、加工レーザの位置を調整できる。
【0035】図10は、1個の光センサユニットで、H
eNeレーザの移動量を測定した実験結果を示してい
る。この実験は、出力10mW、出力ビーム直径1mmのH
eNeレーザを、外径200mm内径140mmに拡大した
レーザに対して、レーザ光軸(X軸)に対して垂直な軸
(Y軸)上の1箇所に光センサユニットを配置し、He
Neレーザの位置をY軸方向に変化させたときの光セン
サユニットの出力電圧を測定したものである。HeNe
レーザ発振器から10m の位置で測定した結果を実線
で、30m の位置で測定した結果を点線でそれぞれ示
す。ここで使用した光センサユニットは、d1=20m
m、d2=40mm、高さ60mmの台形の反射ミラーを傾
斜角30゜で用いており、光センサには光ダイオードを
用いている。
【0036】図11は、2個の光センサユニットで、H
eNeレーザの移動量を測定した実験結果を示してい
る。この実験は、出力10mW、出力ビーム直径1mmのH
eNeレーザを外径200mm、内径140mmに拡大した
レーザに対して、レーザ光軸(X軸)に対して垂直な軸
(Y軸)上の2箇所に光センサユニットを配置し、He
Neレーザの位置をY軸方向に変化させたときの両光セ
ンサユニットの出力電圧の差(位置信号)を測定したも
のである。HeNeレーザ発振器から10m の位置で測
定した結果を実線で、30m の位置で測定した結果を点
線でそれぞれ示す。ここで使用した光センサユニット
は、d1=20mm、d2=40mm、高さ60mmの台形の
反射ミラーを傾斜角30゜で用いており、光センサには
光ダイオードを用いている。図11において、信号電圧
カーブがx<20mm、x>40mmの領域でガイドレーザ
の位置に対し反対の特性を見せているのは、ガイドレー
ザの変位に従って一方の光センサユニットのガイドレー
ザ受光面積が減少し、遂にはガイドレーザが光センサユ
ニットから外れてしまったことを示している。
【0037】
【発明の効果】レーザ加工中にレーザ伝送装置に振動等
が加わって、加工レーザが正規の伝送経路から外れたと
きには、ガイドレーザも加工レーザと同様に伝送経路が
ずれる。このずれがガイドレーザ位置検出手段によって
検出され、位置信号として出力される。この位置信号に
応じて伝送ミラーの角度及び位置の少なくとも一つを調
整を行うことで、正確なレーザ伝送が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を用いたレーザ加工装置の一例を模式的
に示す斜視図である。
【図2】レーザ供給源を示した側面図である。
【図3】ガイドレーザ供給装置を示した側面図である。
【図4】加工レーザ、ガイドレーザ、ガイドレーザ反射
ミラーの位置関係を示した模式図である。
【図5】(a)光センサユニットを示した側面図であ
る。 (b)光センサユニットを示した正面図である。
【図6】(a)台形型反射ミラーの形状の一例を示した
図面である。 (b)楕円型反射ミラーの形状の一例を示した図面であ
る。
【図7】伝送ミラーに取り付けられた光センサユニット
の側面図である。
【図8】レーザ光軸(X軸)方向から見た光センサユニ
ットの配置図である。
【図9】伝送ミラーの制御装置及びミラー姿勢調整機構
の構成図である。
【図10】ガイドレーザの位置と光センサの信号電圧と
の関係を示す線図である。
【図11】ガイドレーザの位置と対となった光センサの
信号電圧との関係を示す線図である。
【符号の説明】
1レーザ供給源 2 加工レーザ発振器 3 第1ミラー 4 コリメーションミラー 5 第2ミラー 8 ガイドレーザ発振器 9 ガイドレーザ反射ミラー 11 第1伝送ミラー 12 第2伝送ミラー 13 第3伝送ミラー 14 第4伝送ミラー 15 第5伝送ミラー 16 第6伝送ミラー 21 パラボリックミラー 23 加工ヘッド 31 親台車 33 親台車レール 41 子台車 43 子台車レール 51 光センサユニット 53 制御装置 54Z Z方向差動増幅器 54Y Y方向差動増幅器 55 サンプルホールド回路 56 モータコントローラ 61 ミラー姿勢調整機構 62 固定枠 63 第1パルスモータ 64 水平位置調整ねじ軸 68 コイルばね 71 第1回転枠 72 第2パルスモータ 73 垂直位置調整ねじ軸 77 コイルばね 81 第2回転枠 82 ガイドレーザ発振器 83 第1レンズ 85 第2レンズ 87 円錐ミラー 89 円錐台ミラー 91 外郭 92 反射ミラー 93 光センサ L 加工レーザ G ガイドレーザ W 被加工物

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ミラーによって高出力レーザを伝送する
    方法において、ビーム断面が円環状で光軸が高出力レー
    ザと同一であるガイドレーザを高出力レーザと同時に伝
    送し、ガイドレーザの光路に生じたずれをセンサにより
    検出して、当該ずれを修正するようにミラーの角度及び
    位置の少なくとも一つを調整することを特徴とする高出
    力レーザ伝送方法。
  2. 【請求項2】 高出力レーザ発振器と、ガイドレーザ発
    振器と、ガイドレーザのビーム断面を円環状にするガイ
    ドレーザ変換器と、角度及び位置の少なくとも一つが調
    整可能なレーザ伝送可動ミラーと、レーザ伝送可動ミラ
    ーの出射側にあって高出力レーザと光軸を同一にして伝
    送されるガイドレーザの位置を検出するセンサと、セン
    サからの位置信号に応じてレーザ伝送可動ミラーの角度
    及び位置の少なくとも一つを調整するミラー調整手段と
    を備えていることを特徴とする高出力レーザ伝送装置。
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