JPH09146997A - Automatic element arranging method - Google Patents

Automatic element arranging method

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JPH09146997A
JPH09146997A JP7302746A JP30274695A JPH09146997A JP H09146997 A JPH09146997 A JP H09146997A JP 7302746 A JP7302746 A JP 7302746A JP 30274695 A JP30274695 A JP 30274695A JP H09146997 A JPH09146997 A JP H09146997A
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data
arrangement
constraint
performance
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Masahiro Mitsuyasu
安 政 浩 光
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the layout size of even a large-scale circuit and guarantee the performance by performing final element arrangement according to arrangement restrictions generated in a final arrangement restriction generating process. SOLUTION: A data input/output part 102 inputs component data, connection information, performance restrictions, and control parameters from outside the system and stores them in a data storage part 103. Then, an arrangement restriction generation part 104 generates tentative arrangement restrictions. Then an arrangement part 105 performs tentative arrangement, and further, estimates a wiring congestion place. A performance analysis part 107 analyzes the performance. Then, the arrangement restriction generation part 104 determines final arrangement restrictions by using the data on the tentative arrangement, wiring congestion degree estimation data, and performance data. The data on the obtained final arrangement restrictions are stored as arrangement restriction data in the data storage part 103. Lastly, the arrangement restriction data are used to perform the final arrangement.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路や
プリント基板、マルチチップモジュール等のレイアウト
設計を自動的に行うための、自動素子配置方法に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic element arranging method for automatically designing a layout of a semiconductor integrated circuit, a printed circuit board, a multichip module or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、半導体集積回路やプリント基
板、マルチチップモジュール等のレイアウト設計を自動
的に行う方法として、フロアプラン工程を用いるものが
知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a method for automatically designing a layout of a semiconductor integrated circuit, a printed circuit board, a multi-chip module, etc., a method using a floor plan process is known.

【0003】フロアプラン工程とは、素子間での信号の
接続に関する情報、素子の形状、素子のピン位置等の制
約条件を用いて配置の制約条件を決定する工程である。
このフロアプラン工程は、後工程としての配置工程・配
線工程における配置・配線の容易度や、チップのサイ
ズ、チップのパフォーマンス(動作特性)等に大きな影
響を与える。
The floorplanning step is a step of deciding the layout constraint condition by using the constraint conditions such as the information about the signal connection between the devices, the shape of the device, the pin position of the device and the like.
This floorplanning process greatly affects the ease of placement / wiring in the placement / wiring process as a post-process, the chip size, the chip performance (operating characteristics), and the like.

【0004】このフロアプラン工程を実行する方法とし
ては、コンピュータを用いて自動計算する方法と、手作
業による方法とがある。
As a method for executing the floor plan process, there are a method of automatically calculating using a computer and a method of manual work.

【0005】ここで、コンピュータを用いたフロアプラ
ン工程においては、回路構成が簡単な場合は、素子単位
で配置の制約条件を決定する方法が一般的である。この
方法においては、素子間の接続情報やパフォーマンス制
約等を考慮して、配置の制約条件を決定すればよい。
Here, in a floor plan process using a computer, when the circuit configuration is simple, it is general to determine the constraint condition of the placement for each element. In this method, the layout constraint condition may be determined in consideration of the connection information between elements and the performance constraint.

【0006】一方、コンピュータを用いたフロアプラン
工程において、回路構成が複雑な場合は、回路全体を複
数のグループに分割して、このグループ単位で配置の制
約条件を決定する方法が一般的である。この方法におい
ては、まず、回路の階層構造や信号の接続情報を考慮し
て、回路全体を複数のグループに分割する。次に、グル
ープを素子の一種と見なして、グループ間の接続情報、
パフォーマンス制約、グループの形状、グループの重な
り等をコスト関数として最適化問題(グループの配置問
題)を解き、これによって制約条件を決定する。そし
て、これを素子配置の制約として、後工程としての配置
工程・配線工程を実行する。
On the other hand, in a floor plan process using a computer, when the circuit configuration is complicated, it is common to divide the entire circuit into a plurality of groups and determine the layout constraint condition for each group. . In this method, first, the entire circuit is divided into a plurality of groups in consideration of the hierarchical structure of the circuit and signal connection information. Next, consider the group as a kind of element, and connect information between groups,
The optimization problem (group placement problem) is solved using performance constraints, group shapes, group overlaps, etc. as cost functions, and the constraint conditions are determined by this. Then, with this as a constraint for the element placement, the placement step / wiring step as a post step is executed.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】従来のフロアプラン工
程においてグループ化を行う場合には、上述のように、
素子間の接続情報やパフォーマンス制約等に加えて、グ
ループの形状や重なり等をも考慮して制約条件を同時に
決定しなければならない。このため、コスト関数の自由
度が大きく非常に複雑になってしまうので、適切なコス
ト関数を設定することおよび最適解を得ることが非常に
困難である。
When performing grouping in the conventional floorplanning process, as described above,
In addition to the connection information between elements and the performance constraint, the constraint condition must be determined at the same time by considering the shape and overlap of the group. Therefore, the cost function has a large degree of freedom and becomes very complicated, and it is very difficult to set an appropriate cost function and obtain an optimum solution.

【0008】また、このようにコスト関数が複雑なため
に、従来のフロアプラン工程では、フロアプラン作成過
程及び決定後において配線混雑度やパフォーマンス等の
正確な予測を行うことが困難である。
Further, since the cost function is complicated as described above, it is difficult in the conventional floorplanning process to accurately predict the wiring congestion degree, the performance, etc. after the floorplan making process and after the decision.

【0009】このため、従来は、フロアプラン工程の後
工程としての配置・配線工程を行う際に、レイアウトサ
イズが大きくなってしまったり、配線が不可能になって
しまったりする場合があった。
Therefore, conventionally, when the layout / wiring process is performed as a post-process of the floor plan process, the layout size may be increased or wiring may be impossible.

【0010】本発明は、このような従来技術の欠点に鑑
みてなされたものであり、大規模な回路においてもレイ
アウトサイズを小さくすることができ、且つ、パフォー
マンスを保障することができる自動素子配置方法を提供
することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks of the prior art, and it is possible to reduce the layout size even in a large-scale circuit and to ensure the performance of an automatic element arrangement. The purpose is to provide a method.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明に係る自動素子配
置方法は、各素子についての仮の素子配置を行う仮配置
過程と、この仮配置過程で配置された各素子についての
仮の配線経路を決定して、これらの配線経路の混雑度を
見積もる配線混雑度見積過程と、前記仮配置過程で配置
された各素子についてのパフォーマンス解析を行うパフ
ォーマンス解析過程と、前記仮配置過程、前記配線混雑
度見積過程および前記パフォーマンス解析過程の結果に
基づいて、各素子の最終的なグループ分けを決定すると
ともに、各グループの最終的な配置制約を生成する本配
置制約生成過程と、この本配置制約生成過程で生成され
た前記配置制約に基づいて、最終的な素子配置を行う本
配置過程と、を備えたことを特徴とする。
According to the automatic element placement method of the present invention, a temporary placement step for performing a temporary element placement for each element and a temporary wiring route for each element placed in the temporary placement step are provided. To determine the congestion degree of these wiring paths, a performance analysis step of performing a performance analysis for each element arranged in the temporary placement step, the temporary placement step, and the wiring congestion. Based on the results of the degree estimation process and the performance analysis process, the final grouping of each element is determined, and the final placement constraint generation process for generating the final placement constraint for each group, and the final placement constraint generation process. A main placement step of performing a final element placement based on the placement constraint generated in the step.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る自動素子配置
方法の一実施形態について、図1〜図3を用いて説明す
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of an automatic element arranging method according to the present invention will be described below with reference to FIGS.

【0013】図1は、本実施形態に係る自動素子配置方
法を実行する装置のシステム構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing the system configuration of an apparatus for executing the automatic element placement method according to this embodiment.

【0014】同図において、制御部101は、システム
全体のコントロールを行う。
In FIG. 1, a control unit 101 controls the entire system.

【0015】また、データ入出力部102は、フロアプ
ラン工程で使用される部品情報、信号接続情報、パフォ
ーマンス制約、制御パラメータ等(後述)を読み込ん
で、データ格納部103に格納する。また、これらの入
力データやシステム内で生成されたデータ(配置デー
タ、配置制約データ、配線混雑度見積データ、パフォー
マンスデータ等;後述)をデータ格納部103から読み
込んでシステムから出力する際にも使用される。
The data input / output unit 102 also reads component information, signal connection information, performance constraints, control parameters and the like (described later) used in the floorplan process and stores them in the data storage unit 103. It is also used when these input data and data generated in the system (placement data, placement constraint data, wiring congestion degree estimation data, performance data, etc .; described later) are read from the data storage unit 103 and output from the system. To be done.

【0016】配置制約生成部104は、データ格納部1
03から読み込んだデータ等に基づいて、配置制約を決
定する。そして、これにより生成された配置制約データ
を、データ格納部103に格納する。
The layout constraint generation unit 104 includes a data storage unit 1.
The layout constraint is determined based on the data read from 03. Then, the placement constraint data thus generated is stored in the data storage unit 103.

【0017】配置部105は、データ格納部103から
読み込んだ配置制約データ等を用いて、本配置工程と同
様の手法による配置処理を行う。そして、生成された配
置データを、データ格納部103に格納する。この配置
部105は、後述するように、グループの相対位値を決
定するための仮配置工程と、フロアプラン工程後の配置
工程とで、使用される。
The placement unit 105 uses the placement constraint data and the like read from the data storage unit 103 to perform placement processing by the same method as the main placement process. Then, the generated layout data is stored in the data storage unit 103. As will be described later, the placement unit 105 is used in a temporary placement process for determining the relative position value of the group and a placement process after the floorplanning process.

【0018】配線混雑度見積部106は、データ格納部
103から読み込んだ配置データを用いて、確率的仮想
配線手法により、高速に配線経路の予測を行う。そし
て、この予測結果に基づいて、配線混雑度マップを作成
する。この配線混雑度マップは、配線混雑度見積データ
として、データ格納部103に格納される。この配線混
雑度見積データは、後述するように、グループのユーテ
ィリティを決定する際やマージ処理を行う際に使用され
る。
The wiring congestion degree estimation unit 106 uses the placement data read from the data storage unit 103 to predict the wiring route at high speed by the stochastic virtual wiring method. Then, a wiring congestion degree map is created based on this prediction result. The wiring congestion degree map is stored in the data storage unit 103 as wiring congestion degree estimation data. This wiring congestion degree estimation data is used when determining the utility of the group and when performing merge processing, as described later.

【0019】パフォーマンス解析部107は、データ格
納部103から読み込んだ配置データを用いて、回路の
パフォーマンス解析(動作速度を保障するための解析)
を行なう。このパフォーマンス解析の結果は、パフォー
マンスデータとして、データ格納部103に格納され
る。このパフォーマンスデータは、後述するように、グ
ループのユーティリティを決定する際やマージ処理を行
う際に使用される。
The performance analysis unit 107 uses the arrangement data read from the data storage unit 103 to analyze the performance of the circuit (analysis for ensuring the operation speed).
Perform The result of this performance analysis is stored in the data storage unit 103 as performance data. As will be described later, this performance data is used when determining the utility of the group and performing the merge process.

【0020】次に、図1に示したようなシステムを使用
して自動素子配置を行なう手順について、図2および図
3を用いて説明する。
Next, a procedure for performing automatic element placement using the system as shown in FIG. 1 will be described with reference to FIGS. 2 and 3.

【0021】図2は、本実施態様に係る自動素子配置の
手順を概略的に示すフローチャートである。
FIG. 2 is a flow chart schematically showing the procedure of automatic element placement according to this embodiment.

【0022】まず、データ入出力部102が、システ
ムの外部から、部品データ、接続情報、パフォーマンス
制約および制御パラメータを入力し、データ格納部10
3に格納する(S201)。
First, the data input / output unit 102 inputs component data, connection information, performance constraints and control parameters from outside the system, and the data storage unit 10
3 (S201).

【0023】ここで、部品データは、論理ゲートの大き
さおよび形状、ピン位置、配線の禁止領域、信号入力か
ら信号出力までの所要時間、ピンに配線を接続した場合
の容量等のデータによって構成されている。
Here, the component data is composed of data such as the size and shape of the logic gate, the pin position, the wiring prohibited area, the time required from signal input to signal output, and the capacitance when the wiring is connected to the pin. Has been done.

【0024】また、接続情報は、素子間の接続関係を表
す情報であり、階層情報を含む。
The connection information is information indicating the connection relationship between elements and includes hierarchical information.

【0025】パフォーマンス制約は、チップの動作周波
数や、入力から出力までの到達時間に対する制約を表す
データである。
Performance constraints are data representing constraints on the operating frequency of the chip and the arrival time from input to output.

【0026】制御パラメータは、配線混雑度やパフォー
マンス等について、配置制約を決定する際の重要度を表
すパラメータである。
The control parameter is a parameter indicating the degree of importance in determining the placement constraint with respect to the wiring congestion degree, the performance, and the like.

【0027】ここで、ステップS201で入力されるデ
ータは仮配置のためのデータなので、パフォーマンス制
約および制御パラメータは、本配置のときと同等或いは
緩い制約とする。
Here, since the data input in step S201 is data for temporary placement, performance constraints and control parameters are set equal to or looser than those in the main placement.

【0028】次に、配置制約生成部104が、仮配置
制約を生成する(S202;請求項2の「仮配置制約生
成過程」に相当する)。
Next, the placement constraint generation unit 104 generates a temporary placement constraint (S202; corresponds to the "temporary placement constraint generation process" in claim 2).

【0029】この生成過程では、まず、ステップ201
で入力したデータ(部品データ、接続情報、パフォーマ
ンス制約および制御パラメータ)を、データ格納部10
3から読み込む。次に、これらの入力データに基づい
て、素子を仮のグループに分割する。そして、各グルー
プについて、緩やかな配置制約を決定する。このように
して得られた仮配置制約は、配置制約データとして、デ
ータ格納部103に格納される。
In this generation process, first, step 201
The data (part data, connection information, performance constraints, and control parameters) input in step 3 is stored in the data storage unit 10.
Read from 3. Next, the elements are divided into temporary groups based on these input data. Then, a soft placement constraint is determined for each group. The temporary placement constraint obtained in this way is stored in the data storage unit 103 as placement constraint data.

【0030】この配置制約は、縦・横の長さや半周の長
さ(縦の長さと横の長さとの和)の制約を、グループご
とに定めたものである。
This layout constraint defines the length / width and half circumference length (the sum of the length and width) of each group.

【0031】なお、この仮配置制約は、必要がない場合
は実行しなくてもよい。
It should be noted that this temporary placement constraint may not be executed if it is unnecessary.

【0032】続いて、配置部105が、仮配置を行う
(S203;請求項1、2の「仮配置過程」に相当す
る)。
Subsequently, the placement unit 105 performs temporary placement (S203; corresponds to the "temporary placement step" in claims 1 and 2).

【0033】この過程では、まず、ステップS202で
生成された仮配置制約(配置制約データ)を、データ格
納部103から読み出す。そして、このデータを用い
て、各素子の絶対位置を決定する。このとき、後述する
本配置と同様の手法(例えばミニカット法等)を用いる
ことにより、仮配置の精度を高めることができ、本配置
制約の最適化を促進することができる。その後、このよ
うにして得られた仮配置のデータを、配置データとし
て、データ格納部103に格納する。
In this process, first, the temporary placement constraint (placement constraint data) generated in step S202 is read from the data storage unit 103. Then, using this data, the absolute position of each element is determined. At this time, by using a method similar to the main placement described later (for example, the mini-cut method), the accuracy of the temporary placement can be increased and the optimization of the main placement constraint can be promoted. Thereafter, the temporary placement data obtained in this way is stored in the data storage unit 103 as placement data.

【0034】なお、上述のステップS202を実行しな
かった場合は、ステップS201で入力した部品デー
タ、接続情報、パフォーマンス制約および制御パラメー
タをデータ格納部103から読み出し、これらのデータ
を用いて仮配置を行う。
If step S202 described above is not executed, the component data, connection information, performance constraints and control parameters input in step S201 are read from the data storage unit 103, and temporary placement is performed using these data. To do.

【0035】次に、配線混雑度見積部106が、配線
混雑箇所の見積もりを行う(S204;請求項1の「配
線混雑度見積過程」に相当する)。
Next, the wiring congestion degree estimation unit 106 estimates the wiring congestion location (S204; corresponds to the "wiring congestion degree estimation process" in claim 1).

【0036】この過程では、まず、ステップS203で
生成された仮配置のデータ(配置データ)を、データ格
納部103から読み出す。次に、この配置データに基づ
き、確率的仮想配線技術を用いて、配線経路を予想す
る。さらに、かかる予想結果に基づいて、配線が混雑す
る箇所の見積もりを行う。そして、この見積もりの結果
を示すマップ(配線混雑度見積データ)を、データ格納
部103に格納する。この配線混雑度見積データは、グ
ループごとのユーティリティ(回路面積に対する素子面
積の比)の調整やマージ(複数のグループを統合するこ
と)等の制約条件の生成に使用される。
In this process, first, the temporary placement data (placement data) generated in step S203 is read from the data storage unit 103. Next, based on this arrangement data, a wiring route is predicted by using a probabilistic virtual wiring technique. Further, based on the prediction result, the place where the wiring is congested is estimated. Then, a map showing the result of this estimation (wiring congestion degree estimation data) is stored in the data storage unit 103. The wiring congestion degree estimation data is used to generate a constraint condition such as adjustment of utility (ratio of element area to circuit area) for each group and merge (integration of a plurality of groups).

【0037】次に、パフォーマンス解析部107が、
パフォーマンスの解析を行う(S205;請求項1の
「パフォーマンス解析過程」に相当する)。
Next, the performance analysis unit 107
The performance is analyzed (S205; corresponds to the "performance analysis process" in claim 1).

【0038】この過程でも、まず、ステップS203で
生成された仮配置のデータ(配置データ)を、データ格
納部103から読み出す。次に、この配置データに基づ
き、パフォーマンスの解析を行う。そして、この解析結
果を示すデータ(パフォーマンスデータ)を、データ格
納部103に格納する。このパフォーマンスデータも、
グループごとのユーティリティの調整やマージ等の制約
条件の生成に使用される。
Also in this process, first, the temporary placement data (placement data) generated in step S203 is read from the data storage unit 103. Next, the performance is analyzed based on this arrangement data. Then, the data (performance data) indicating the analysis result is stored in the data storage unit 103. This performance data also
It is used to adjust the utility of each group and generate constraints such as merging.

【0039】その後、配置制約生成部104が、上述
のようにして得られた仮配置のデータ、配線混雑度見積
データおよびパフォーマンスデータを用いて、本配置制
約を決定する(S206;請求項1の「本配置制約生成
過程」に相当する)。
After that, the placement constraint generating unit 104 determines the real placement constraint by using the temporary placement data, the wiring congestion degree estimation data and the performance data obtained as described above (S206; claim 1). It corresponds to the "book layout constraint generation process").

【0040】この過程では、まず、ステップS203〜
S205で生成された仮配置のデータ(配置データ)、
配線混雑度見積データおよびパフォーマンスデータを、
データ格納部103から読み出す。
In this process, first, steps S203-
Temporary placement data (placement data) generated in S205,
Wiring congestion estimation data and performance data,
It is read from the data storage unit 103.

【0041】次に、これらの入力データに基づいて、上
述のグループ(S203)の相対的な位置関係の制約を
決定する。また、複数のグループを統合した方がよいと
判断された場合は、それらのグループをマージする。そ
して、このマージ後のグループについて、相対的な位置
関係の制約を更新する。
Next, based on these input data, the constraint on the relative positional relationship of the above-mentioned group (S203) is determined. If it is determined that a plurality of groups should be integrated, those groups are merged. Then, the relative positional relationship constraint is updated for the group after the merge.

【0042】さらに、この過程では、グループの形状や
ユーティリティの最適化も、行われる。これらの最適化
は、グループ内における素子の面積(仮配置のデータか
ら得られる)や配線混雑度見積データを用いて行われ
る。
Further, in this process, the shape of the group and the utility are optimized. These optimizations are performed using the area of elements in the group (obtained from data of temporary placement) and the wiring congestion degree estimation data.

【0043】そして、このようにして得られた本配置制
約のデータを、配置制約データとして、データ格納部1
03に格納する。
The data of the main placement constraint obtained in this way is used as placement constraint data, and the data storage unit 1
03.

【0044】最後に、この配置制約データを用いて、
最終的な配置を行う(S207;請求項1の「本配置過
程」に相当する)。
Finally, using this arrangement constraint data,
Final placement is performed (S207; corresponds to the "main placement process" in claim 1).

【0045】この過程では、まず、ステップS206で
生成された配置制約データを、データ格納部103から
読み出す。そして、このデータを用い、仮配置と同様の
手法によって、各素子の絶対位置を決定する。その後、
このようにして得られた本配置のデータを、配置データ
として、データ格納部103に格納し、自動素子配置を
終了する。
In this process, first, the placement constraint data generated in step S206 is read from the data storage unit 103. Then, using this data, the absolute position of each element is determined by a method similar to the temporary placement. afterwards,
The data of the main arrangement thus obtained is stored in the data storage unit 103 as arrangement data, and the automatic element arrangement is completed.

【0046】次に、上述の本配置制約生成過程(S20
6)および本配置過程(S207)の具体例について、
図3を用いて説明する。
Next, the above-mentioned main placement constraint generation process (S20)
6) and a specific example of the main placement process (S207),
This will be described with reference to FIG.

【0047】図3において、(a)は仮配置過程(S2
03)後の各グループの位置を示す概念図であり、
(b)は本配置過程(S207)後の各グループの位置
を示す概念図である。
In FIG. 3, (a) is a temporary placement process (S2
03) is a conceptual diagram showing the position of each group after
(B) is a conceptual diagram showing the position of each group after the main placement process (S207).

【0048】ここでは、仮配置過程(S203)後に行
った配線混雑度見積過程(S204)の結果、グループ
Aの配線混雑度が非常に大きくなることが判明したもの
とする(図3(a)参照)。このため、本配置制約生成
過程(S207)では、ユーティリティの調整により、
グループAの面積の制約を緩くする。これにより、本配
置においては、グループAの面積が、仮配置のときより
も大きくなる(図3(b)参照)。
Here, as a result of the wiring congestion degree estimation step (S204) performed after the temporary placement step (S203), it is assumed that the wiring congestion degree of the group A becomes extremely large (FIG. 3A). reference). Therefore, in the placement constraint generation process (S207), by adjusting the utility,
The restrictions on the area of group A are relaxed. As a result, in the main arrangement, the area of the group A becomes larger than that in the temporary arrangement (see FIG. 3B).

【0049】また、仮配置過程(S203)後のパフォ
ーマンス解析過程(S205)の結果、グループBから
出力された信号が所望の時間内にグループC,Iに到達
することができず、タイミング違反が発生してしまうこ
とが判明したものとする(図3(a)参照)。このた
め、本配置制約生成過程(S207)では、グループ
B,C,Iのマージと形状変更を行う。これにより、グ
ループB,C,Iが一つのグループとして取り扱われる
ので(図3(b)参照)、本配置での素子配置の自由度
が高まり、タイミング違反の発生を防止し易くなる。
As a result of the performance analysis process (S205) after the temporary placement process (S203), the signals output from the group B cannot reach the groups C and I within a desired time, and the timing violation occurs. It is assumed that it will be generated (see FIG. 3A). Therefore, in the main placement constraint generation process (S207), the groups B, C, and I are merged and the shape is changed. As a result, the groups B, C, and I are treated as one group (see FIG. 3B), which increases the degree of freedom in element arrangement in this arrangement and makes it easy to prevent timing violations.

【0050】一方、グループD,Eは、境界部が複雑に
入り組んでおり、仮配置(S203)の際に、最適な素
子配置(すなわち、レイアウトサイズや配線混雑度が小
さくなるような配置)が困難である。したがって、本配
置制約生成過程(S207)ではグループD,Eのマー
ジを行うこととし、本配置過程での素子配置の最適化を
容易にしている(図3(b)参照)。
On the other hand, the boundaries of the groups D and E are intricately complicated, and the optimum element layout (that is, layout in which the layout size and the degree of wiring congestion are reduced) during the temporary layout (S203). Have difficulty. Therefore, in the main placement constraint generation process (S207), the groups D and E are merged to facilitate the optimization of element placement in the main placement process (see FIG. 3B).

【0051】さらに、グループHはグループGに包含さ
れており、無意味な仮配置制約の原因となっている(図
3(a)参照)。このため、本配置制約生成過程(S2
07)では、グループHとグループIとのマージを行
い、本配置過程での素子配置の最適化を容易にしている
(図3(b)参照)。
Further, the group H is included in the group G, which causes a meaningless temporary placement constraint (see FIG. 3A). Therefore, this placement constraint generation process (S2
In 07), the group H and the group I are merged to facilitate optimization of element placement in the main placement process (see FIG. 3B).

【0052】このように、本実施態様に係る自動素子配
置方法は、部品データ、接続情報、パフォーマンス制約
等のデータを外部から入力してそのまま配置制約を決定
するのではなく、まず、これらのデータを用いて仮配置
制約を決定し、この仮配置制約に基づいて生成された仮
配置データ、配線混雑度見積データおよびパフォーマン
ス解析データを用いて最終的な配置制約を決定すること
としたものである。
As described above, in the automatic element placement method according to this embodiment, data such as component data, connection information, and performance constraints are not externally input to determine placement constraints as they are. Is used to determine the temporary placement constraint, and the final placement constraint is determined using the temporary placement data, the wiring congestion degree estimation data, and the performance analysis data generated based on the temporary placement constraint. .

【0053】このため、本実施態様に係る自動素子配置
方法によれば、最適化問題を簡略化することができるの
で、最適化効率を高めることができ、レイアウトサイズ
や配線混雑度の低減、パフォーマンスの保障等に対して
有効である。また、仮配置工程(S203)で、本配置
(S207)と同様の手法(例えばミニカット法等)を
用いることとしたので、仮配置の精度を高めることがで
き、本配置制約の最適化を促進することができる。
Therefore, according to the automatic element arranging method of this embodiment, the optimization problem can be simplified, so that the optimization efficiency can be increased, the layout size and the wiring congestion degree can be reduced, and the performance can be improved. It is effective for the security of. Further, in the temporary placement step (S203), since the same method as the main placement (S207) (for example, the mini-cut method) is used, the accuracy of the temporary placement can be increased and the main placement constraint can be optimized. Can be promoted.

【0054】[0054]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、大規模な回路においてもレイアウトサイズを小さ
くすることができ、且つ、パフォーマンスを保障するこ
とができる自動素子配置方法を提供することができる。
As described in detail above, according to the present invention, there is provided an automatic element arranging method capable of reducing the layout size even in a large-scale circuit and ensuring the performance. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態に係る自動素子配置方法を実
行する装置のシステム構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a system configuration of an apparatus that executes an automatic element placement method according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示した実施態様に係る自動素子配置の手
順を概略的に示すフローチャートである。
FIG. 2 is a flow chart schematically showing a procedure of automatic element placement according to the embodiment shown in FIG.

【図3】図2に示した本配置制約生成過程および本配置
過程の具体例を説明するための図であり、(a)は仮配
置後の各グループの位置を示す概念図、(b)は本配置
後の各グループの位置を示す概念図である。
3A and 3B are diagrams for explaining a specific example of the main placement constraint generation process and the main placement process shown in FIG. 2, where FIG. 3A is a conceptual diagram showing the position of each group after temporary placement, and FIG. FIG. 3 is a conceptual diagram showing the position of each group after the main arrangement.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 制御部 102 入出力部 103 データ格納部 104 配置制約生成部 105 配置部 106 配線混雑度見積部 107 パフォーマンス解析部 Reference numeral 101 control unit 102 input / output unit 103 data storage unit 104 placement constraint generation unit 105 placement unit 106 wiring congestion degree estimation unit 107 performance analysis unit

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】各素子についての仮の素子配置を行う仮配
置過程と、 この仮配置過程で配置された各素子についての仮の配線
経路を決定して、これらの配線経路の混雑度を見積もる
配線混雑度見積過程と、 前記仮配置過程で配置された各素子についてのパフォー
マンス解析を行うパフォーマンス解析過程と、 前記仮配置過程、前記配線混雑度見積過程および前記パ
フォーマンス解析過程の結果に基づいて、各素子の最終
的なグループ分けを決定するとともに、各グループの最
終的な配置制約を生成する本配置制約生成過程と、 この本配置制約生成過程で生成された前記配置制約に基
づいて、最終的な素子配置を行う本配置過程と、 を備えたことを特徴とする自動素子配置方法。
1. A temporary placement process for performing a temporary device placement for each device, and a temporary wiring route for each device placed in this temporary placement process is determined to estimate the congestion degree of these wiring routes. Wiring congestion degree estimation process, a performance analysis process of performing a performance analysis for each element placed in the temporary placement process, based on the results of the temporary placement process, the wiring congestion degree estimation process and the performance analysis process, Based on the final placement constraint generation process that determines the final grouping of each element and generates the final placement constraint of each group, and the final placement constraint generated in this real placement constraint generation process, An automatic element placement method comprising: a main placement process for performing various element placements;
【請求項2】各素子を仮のグループに分割して、各グル
ープの配置制約を仮配置制約として生成する仮配置制約
生成過程をさらに備え、この仮配置制約生成過程で生成
された前記仮配置制約を用いて前記仮配置過程を行うこ
とを特徴とする請求項1記載の自動素子配置方法。
2. A provisional placement constraint generation process for dividing each element into a provisional group and generating a placement constraint of each group as a provisional placement constraint, the provisional placement generated in the provisional placement constraint creation process. The automatic element placement method according to claim 1, wherein the temporary placement step is performed using a constraint.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011529238A (en) * 2008-07-30 2011-12-01 シノプシス, インコーポレイテッド Method and apparatus for close placement of ordered cells

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