JPH09145799A - テストパターン作成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 集積回路のテストパターンを効率よくかつ誤
りなく作成できる汎用性のあるテストパターン作成装置
を提供する。 【解決手段】 キーワード定義部１６によりキーワード
を信号パターンと対応づけてキーワード・テーブル１２
に登録しておき、キーワードおよび信号値で表現された
テストパターンをパターン入力部１８により入力する。
キーワード変換部１４は、必要に応じて、このテストパ
ターン中のキーワードを信号パターンに置き換えたり、
テストパターン中の所定の信号パターンをキーワードに
置き換えたりする。その後、ロック設定部２２により、
テストパターン内の編集すべきでない部分をロック領域
として設定する。これにより、編集入力部２６で入力さ
れる編集コマンドに基づいて編集処理部２８によってテ
ストパターンの編集が行われる際に、ロック領域の内容
が変更されないようにロック制御部２４が編集処理を制
御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路のテスト
パターンを作成するために使用されるテストパターン作
成装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、ＬＳＩ（大規模集積回路）のテス
トパターンの作成においては、ＬＳＩの各ピンの信号の
値を時間の経過に従って「１」または「０」の数字列で
表し、このような数値列を、ＥＷＳ（エンジニアリング
・ワークステーション）上で動作する汎用のテキスト・エ
ディタによって入力し編集するということが行われてい
た。しかし、近年のＬＳＩの高集積化に伴って、ＬＳＩ
のピン数やテスト時間に対応するサイクル数が増大し、
テストパターンが長大なものとなっている。このため、
「１」と「０」の羅列によって各ピンの信号の時間的変
化を把握し、ＬＳＩの動作を理解するのは困難な場合が
多い。この結果、テストパターンの作成に大きな労力を
要するとともに、テストパターンの作成においてミスが
生じやすくなっている。また、同じパターンを多くの箇
所に記述する必要が生じており、これを「１」と「０」
によって記述することもミスを生じやすくしている。さ
らに、他人が作成したテストパターンや自分が過去に作
成したテストパターンを利用して新たなテストパターン
を作成する場合には、「１」と「０」から成る長大なテ
ストパターンを読んで理解しなければならず、設計資源
の再利用にも多大な時間が必要となっている。

【０００３】これに対し特開平２−２０１５４５号公報
には、ＣＰＵの動作を示すニモニック・コードをエディ
タから入力してテストパターンに変換することができる
テストパターン作成装置が開示されている。このような
テストパターン作成装置によれば、テスト対象のＬＳＩ
の動作の理解が容易となり、テストパターンを効率よく
作成することができる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記公報に開
示されたテストパターン作成装置では、テストできるＬ
ＳＩおよび作成できるテストパターンがＣＰＵのニモニ
ック・コードによって限定される。また、既存のテスト
パターンを再利用する際には、「１」と「０」から成る
既存のテストパターンをＣＰＵのニモニック・コードに
変換して、テスト対象のＬＳＩの動作の理解を容易にす
ることが望ましいが、この点について前記公報は何ら言
及していない。

【０００５】ところで、ＬＳＩのテストパターンの作成
においては、通常、既存のテストパターン（入力済みの
テストパターン）に対する変更、追加、削除などの編集
作業が必要となる。この場合、編集する必要のない部分
や編集したくない部分を誤って編集し、その結果、誤り
のあるテストパターンが作成されることがある。ＬＳＩ
の高集積化に伴うテストパターンの長大化により、テス
トパターンの把握やＬＳＩの動作の理解が困難となって
きているため、このような編集対象の誤認の可能性は高
くなっている。

【０００６】本発明は以上のような問題を解決すべくな
されたものであり、その目的は、ＣＰＵのニモニック・
コードによる入力等というような限定によって汎用性を
損なうことなく、集積回路のテストパターンを効率よく
かつ誤りなく作成することができるテストパターン作成
装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明に係る第１のテストパターン作成装置
は、集積回路のテストパターンを作成するために操作者
によって操作されるテストパターン作成装置であって、
集積回路の信号値から成るパターンである信号パターン
と文字列とを対応づけるテーブルを記憶するためのテー
ブル記憶手段と、操作者の操作に基づき、信号パターン
と文字列とを対応づけてテーブル記憶手段に記憶させる
ことにより該文字列をキーワードとして定義する定義手
段と、集積回路のテストパターンを記憶するためのパタ
ーン記憶手段と、操作者の操作に基づいて集積回路の信
号値または前記キーワードを順次入力し、入力された信
号値または前記キーワードから成るパターンを集積回路
のテストパターンとしてパターン記憶手段に記憶させる
パターン入力手段と、パターン記憶手段に記憶されたテ
ストパターンを表示する表示手段と、操作者の操作に基
づき、パターン記憶手段に記憶されたテストパターンに
含まれる前記キーワードを前記テーブルによって対応づ
けられた信号パターンに変換する順変換手段と、を備え
た構成としている。このような構成によれば、操作者
は、定義手段によって所定の信号パターンに対応づけて
キーワードで定義しておき、信号値とともにこのキーワ
ードを用いて、パターン入力手段によりテストパターン
の入力を行うことができる。このようにして入力された
テストパターンは、パターン記憶手段に記憶されるとと
もに、表示手段に表示される。表示されるテストパター
ン（の一部）は、キーワードによって表現されており、
操作者は、これを見てテストパターンの内容を把握し、
集積回路の動作を理解する。また操作者は、必要に応じ
て順変換手段により、テストパターンに含まれるキーワ
ードを信号パターンに変換する。

【０００８】本発明に係る第２のテストパターン作成装
置は、集積回路のテストパターンを作成するために操作
者によって操作されるテストパターン作成装置であっ
て、集積回路の信号値から成るパターンである信号パタ
ーンと文字列とを対応づけるテーブルを記憶するための
テーブル記憶手段と、操作者の操作に基づき、信号パタ
ーンと文字列とを対応づけてテーブル記憶手段に記憶さ
せることにより該文字列をキーワードとして定義する定
義手段と、集積回路のテストパターンを記憶するための
パターン記憶手段と、操作者の操作に基づいて集積回路
の信号値または前記キーワードを順次入力し、入力され
た信号値または前記キーワードから成るパターンを集積
回路のテストパターンとしてパターン記憶手段に記憶さ
せるパターン入力手段と、パターン記憶手段に記憶され
たテストパターンを表示する表示手段と、パターン記憶
手段に記憶されたテストパターンに含まれる信号パター
ンのうちテーブル記憶手段に記憶された信号パターンと
一致する信号パターンを、前記テーブルによって対応づ
けられた前記キーワードに変換する逆変換手段と、を備
えた構成としている。このような構成によれば、操作者
は、信号値または定義手段によって定義したキーワード
を用いて、パターン入力手段によりテストパターンの入
力を行う。このようにして入力されたテストパターン
は、パターン記憶手段に記憶されるとともに、表示手段
に表示される。また操作者は、必要に応じて更に、定義
手段によって所定の信号パターンをキーワードと対応づ
けてテーブル記憶手段に記憶しておき、逆変換手段によ
り、パターン記憶手段に記憶されているテストパターン
に含まれる所定の信号パターンをキーワードに変換す
る。この変換後のテストパターンは表示手段に表示さ
れ、操作者は、これを見てテストパターンの内容を把握
し、集積回路の動作を理解する。

【０００９】本発明に係る第３のテストパターン作成装
置は、集積回路のテストパターンを編集するために操作
者によって操作されるテストパターン作成装置であっ
て、前記テストパターンを記憶している記憶手段と、操
作者の操作に基づき前記テストパターンを編集するため
に必要な情報を入力する編集入力手段と、記憶手段に記
憶されているテストパターンを前記情報に基づいて編集
する編集処理手段とを有するテストパターン作成装置に
おいて、操作者の操作に基づき、記憶手段に記憶されて
いるテストパターン内の領域をロック領域として設定す
るロック設定手段と、編集入力手段によって入力された
情報により前記ロック領域に対する編集が指示されてい
る場合には、編集処理手段による該編集を抑止して、前
記ロック領域の内容を保持するロック制御手段と、を備
えた構成としている。このような構成によれば、操作者
は、ロック設定手段により、記憶手段に記憶されている
テストパターンのうち編集すべきでない部分をロック領
域とすることができる。このようなロック領域が設定さ
れた後は、操作者が誤って編集すべきでない部分（ロッ
ク領域）に対する編集を編集入力手段によって指示して
も、その編集はロック制御手段によって抑止され、ロッ
ク領域の内容はそのまま保持される。

【００１０】

【発明の実施の形態】

＜実施形態の全体構成＞図２は、本発明の一実施形態で
あるテストパターン作成装置のハードウェア構成を示す
図である。本テストパターン作成装置のハードウェア
は、ＣＰＵ、メモリ、およびハードディスクやフロッピ
ーディスクなどの補助記憶装置から成る本体５４と、デ
ィスプレイ５２と、キーボード５６と、マウス５８とか
ら構成されるコンピュータ５０である。なお、マウス５
８の代わりに他のポインティング・デバイスを用いた構
成であってもよい。

【００１１】上記構成のコンピュータ５０は、本体５４
内のメモリに格納される所定のプログラムをＣＰＵが実
行することにより、テストパターン作成装置として動作
する。図１（ａ）は、このようなテストパターン作成装
置の構成を概念的に示す機能ブロック図である。この図
に示すように、本テストパターン作成装置は、概念的に
は、入力部１０、編集部２０、パターン記憶部３０、お
よび表示部４０から構成される。入力部１０は、テスト
パターン作成者によるキーボード５６等の操作に基づい
てテストパターンを入力し、入力したテストパターンを
コンピュータ本体５４内のメモリによって構成されるパ
ターン記憶部３０に格納する。また編集部２０は、テス
トパターン作成者によるキーボード５６やマウス５８の
操作に基づいて、パターン記憶部３０に格納されている
テストパターンに対する変更、追加、削除などの編集処
理を行う。そして表示部４０は、ディスプレイ５２等か
ら構成され、パターン記憶部３０に格納されたテストパ
ターンを表示する。

【００１２】＜テストパターンの入力＞図１（ｂ）は、
本テストパターン作成装置における入力部１０の構成を
示す機能ブロック図である。入力部１０は、キーワード
定義部１６、キーワード・テーブル１２、キーワード変
換部１４、およびパターン入力部１８から構成され、
「１」、「０」、不定状態「Ｘ」、高インピーダンス状
態「Ｚ」の４種類の信号値から成るテストパターンを入
力するために使用される。この入力部１０において、キ
ーワード定義部１６は、キーボード５６等から入力され
た「１」、「０」、「Ｘ」、「Ｚ」の４種類の信号値か
ら成るパターン（以下「信号パターン」という）と文字
列であるキーワードとを対応づけてキーワード・テーブ
ル１２に登録することにより、キーワードを定義する。
パターン入力部１８は、キーボード５６等から信号値ま
たはキーワードによって表現されたテストパターンを入
力してパターン記憶部３０に格納する。キーワード変換
部１４は、キーボード５６またはマウス５８によって入
力されるコマンドに応じて、パターン記憶部３０に格納
されているテストパターンに含まれているキーワードを
信号パターンに変換し、または、そのテストパターンに
含まれている所定の信号パターンをキーワードに変換す
る。

【００１３】以下、上記構成の入力部１０の動作を図３
に示すフローチャートを参照しつつ説明する。本実施形
態では、入力部１０の動作が開始されると、コマンドの
入力待ちの状態となる。この状態でステップＳ１０にお
いて、キーボード５６またはマウス５８によりコマンド
が入力されると、ステップＳ１２〜Ｓ１８においてその
コマンドの種類が判定される。

【００１４】ステップＳ１０において入力されたコマン
ドがキーワードを定義するためのコマンドである場合
は、ステップＳ２０へ進み、キーワード定義部１６が、
キーボード５６からキーワードおよびそれに対応づける
べき信号パターン（「１」、「０」、「Ｘ」、「Ｚ」か
ら成るパターン）を入力し、ステップＳ２２において、
これをキーワード・テーブル１２に登録する。その後、
ステップＳ１０へ戻って再びコマンド待ちの状態とな
る。図４は、このようにしてキーワード・テーブル１２
に登録されたキーワードおよび信号パターンの一例を示
している。この例では、４つのキーワード「ＩＮＩ
Ｔ」、「ＡＤＤ」、「ＭＯＤＥａ」、「ＴＥＳＴ」が、
信号パターン「１１１１」、「１１０１」、「００１
１」、「０１０１」にそれぞれ対応づけられている。な
お、キーワードに対応づける信号パターンとしては任意
のものが可能であって、メモリによる制約を越えない限
り、その長さも任意であり、また、隣接する複数のサイ
クルに亘る信号パターンであってもよい。

【００１５】ステップＳ１０において入力されたコマン
ドがテストパターン入力のためのコマンドである場合に
は、ステップＳ２４へ進み、パターン入力部１８がキー
ボード５６などからテストパターンを入力してパターン
記憶部３０に格納する。このときパターン入力部１８
は、従来通り、信号値「１」、「０」、「Ｘ」、「Ｚ」
で入力してもよいし、キーワード定義部１６によって定
義されたキーワードで入力してもよい。通常は、信号値
およびキーワードの双方を用いてテストパターンが入力
される。ここで、「キーワードで入力」とは、例えば図
５（ａ）の第２サイクルにおけるＤＡＴＡ０〜ＤＡＴＡ
３の信号値として「ＩＮＩＴ」を、第４サイクルにおけ
るＤＡＴＡ０〜ＤＡＴＡ３の信号値として「ＭＯＤＥ
ａ」を、第５サイクルにおけるＰＩＮＡ〜ＰＩＮＤの信
号値として「ＴＥＳＴ」を、それぞれ入力することを意
味する。ステップＳ２４においてテストパターンを入力
した後は、ステップＳ１０へ戻って再びコマンド待ちの
状態となる。前記図５（ａ）は、このようにして入力さ
れたテストパターンの一例を示している。この例では、
信号値「１」、「０」とともにキーワード「ＩＮＩ
Ｔ」、「ＭＯＤＥａ」、「ＴＥＳＴ」を用いて、テスト
パターンが入力されている。なお、キーワードの定義
は、必ずしもテストパターンの入力作業の前に行う必要
はなく、テストパターンの入力作業中において必要とな
ったときに行ってもよい。

【００１６】ステップＳ１０において入力されたコマン
ドがキーワード変換のためのコマンドである場合には、
ステップＳ２６へ進む。キーワード変換には、テストパ
ターン内のキーワードを信号パターンに変換する場合
（順変換の場合）と、テストパターン内の信号パターン
をキーワードに変換する場合（逆変換の場合）との２種
類があり、順変換か逆変換かは本コマンドの入力時にオ
ペランドの一つとして指定できるようになっている。

【００１７】キーワード変換のコマンドにおいて順変換
が指定された場合は次のように動作する。まずステップ
Ｓ２６において、キーワード・テーブル１２を検索する
ことにより、パターン記憶部３０に格納されているテス
トパターン内における各キーワードにつき、それに対応
づけられている信号パターンを得る。次にステップＳ２
８において、テストパターン内の各キーワードを得られ
た信号パターンに置き換える。これにより、例えば、キ
ーワードを含む図５（ａ）のテストパターンは、信号値
のみから成る図５（ｂ）のテストパターンに変換され、
これが表示部４０に表示される。なお、上記のキーワー
ド変換では、キーワード・テーブル１２に登録された全
てのキーワードを検索してテストパターン全体に対して
順変換を行っているが、本実施形態では、キーワード変
換の対象を次のようにして限定することもできる。 （１）テストパターン内においてマウス５８の操作によ
るラバーバンドで領域を指定し、その領域内のキーワー
ドを信号パターンに変換する。ここで、「ラバーバンド
で領域を指定」とは、マウス５８の左ボタンを押してそ
のままカーソルを移動させ、左ボタンを離すことで、左
ボタンを押した位置と離した位置とによって決まる矩形
領域を指定することを意味する。 （２）キーワード・テーブル１２に登録されているキー
ワードの中から一つまたは複数のキーワードを選択し、
テストパターン内に存在する選択されたキーワードを全
て信号パターンに変換する。

【００１８】一方、キーワード変換のコマンドにおいて
逆変換が指定された場合は次のように動作する。まずス
テップＳ２６において、キーワード・テーブル１２を検
索することにより、パターン記憶部３０に格納されてい
るテストパターンに含まれる信号パターンであってキー
ワード・テーブル１２に登録されたいずれかの信号パタ
ーンと一致するものがあるか否かを調べる。次にステッ
プＳ２８において、キーワード・テーブル１２に登録さ
れた信号パターンと一致するものがあれば、テストパタ
ーン中のそのような信号パターンを全て対応するキーワ
ードに置き換える。これにより、例えば、信号値のみか
ら成る図５（ｂ）のテストパターンは、キーワードを含
む図５（ａ）のテストパターンに変換され、これが表示
部４０に表示される。なお、上記のキーワード変換で
は、キーワード・テーブル１２に登録された全ての信号
パターンを検索してテストパターン全体に対して逆変換
を行っているが、本実施形態では、キーワード変換の対
象を次のようにして限定することもできる。 （１）テストパターン内においてマウス５８の操作によ
るラバーバンドで領域を指定し、その領域内の信号パタ
ーンのうちキーワード・テーブルに登録されている信号
パターンをキーワードに変換する。 （２）キーワード・テーブル１２に登録されている信号
パターンの中から一つまたは複数の信号パターンを選択
し、テストパターン内に存在する選択された信号パター
ンを全てキーワードに変換する。

【００１９】以上のようにしてキーワード変換（順変換
または逆変換）が行われた後は、ステップＳ１０へ戻っ
て再びコマンド待ちの状態となる。

【００２０】ステップＳ１０において入力されたコマン
ドがテストパターン入力を終了するためのコマンドであ
る場合には、入力部１０の動作が終了する。

【００２１】なお、ステップＳ１０において入力される
コマンドは上記以外にも存在し、上記以外のコマンドに
ついても、それぞれのコマンドに応じた処理が行われる
（ステップＳ３０）。例えばセーブコマンドが入力され
ると、パターン記憶部３０に格納されているテストパタ
ーンをハードディスク等の補助記憶装置に保存するとい
う処理が行われ、その後、ステップＳ１０へ戻って再び
コマンド待ちの状態となる。

【００２２】以上説明した入力部１０の動作からわかる
ように、本実施形態のテストパターン作成装置によれ
ば、キーワードを定義しておくことにより（ステップＳ
２０、Ｓ２２）、複数の信号値から成る信号パターンの
代わりにキーワードを用いてテストパターンを入力する
ことができるため（ステップＳ２４）、テストパターン
の入力のための作業量を軽減することができ、同じ信号
パターンを多くの箇所に記述する必要がある場合には特
に効果的である。また、キーワードでテストパターン
（の一部）を表現することにより、テストパターンの把
握やＬＳＩの動作の理解が容易となる。この結果、入力
ミスが減少するとともに、このようなキーワードを用い
て表現されたテストパターンは再利用もしやすくなる。
なお、作成済みのテストパターンをＬＳＩのテスト装置
で使用する際には、キーワード変換（順変換）を行うこ
とにより（ステップＳ２６、Ｓ２８）、信号値のみから
成るテストパターンを容易に得ることができる。テスト
パターン内のキーワードの内容（信号パターン）の確認
も、このキーワード変換により容易に行うことができ
る。

【００２３】また、本実施形態のテストパターン作成装
置では、所定の信号パターンを予めキーワードに対応づ
けておいて（ステップＳ２０、Ｓ２２）キーワード変換
（逆変換）を行うことにより（ステップＳ２６、Ｓ２
８）、信号値のみから成るテストパターンをキーワード
を用いて表現し、これを表示部４０に表示することがで
きる。これにより、他人が作成したテストパターンや自
分が過去に作成したテストパターンを利用して新たなテ
ストパターンを作成する場合に、テストパターンの理解
が容易となり、設計資源を効率よく再利用できるように
なる。

【００２４】以上の説明では、本実施形態において使用
するキーワードは信号パターンと１対１に対応している
ものとしているが（図４参照）、一つのキーワードに対
して複数の信号パターンを対応づけてもよく、また、複
数のキーワードを一つの信号パターンに対応づけてもよ
い。

【００２５】一つのキーワードに対して複数の信号パタ
ーンを対応づけている場合には、例えば次のような方法
により、キーワードを最終的に一つの信号パターンに変
換することができる（順変換）。 （１）キーワード変換の際に、変換対象のキーワードに
対応づけられている全ての信号パターンを候補として表
示し、操作者が選択できるようにする。 （２）キーワードを定義する際に、対応づける複数の信
号パターンに優先度を付けておき、キーワード変換の際
に、変換対象のキーワードに対応づけられた信号パター
ンのうち優先度の最も高い信号パターンに変換する。 （３）キーワードを定義する際に、信号名、サイクルＮ
ｏ．などと組み合わせて定義しておき、キーワード変換
の際に、テストパターンにおける変換対象のキーワード
の位置に対応する信号名やサイクルＮｏ．などから変換
後の信号パターンを一意的に決定する。

【００２６】また、複数のキーワードを一つの信号パタ
ーンに対応づけている場合には、例えば次のような方法
により、複数のキーワードが対応づけられた信号パター
ンを最終的に一つのキーワードに変換することができる
（逆変換）。 （１）キーワード変換の際に、変換対象の信号パターン
に対応づけられている全てのキーワードを候補として表
示し、操作者が選択できるようにする。 （２）キーワードを定義する際に、信号パターンに対応
づける複数のキーワードに優先度を付けておき、キーワ
ード変換の際に、変換対象の信号パターンに対応づけら
れたキーワードのうち優先度の最も高いキーワードに変
換する。 （３）キーワードを定義する際に、信号名、サイクルＮ
ｏ．などと組み合わせて定義しておき、キーワード変換
の際に、テストパターンにおける変換対象の信号パター
ンの位置に対応する信号名やサイクルＮｏ．などから変
換後のキーワードを一意的に決定する。

【００２７】＜テストパターンの編集＞図１（ｃ）は、
本テストパターン作成装置における編集部２０の構成を
示す機能ブロック図である。編集部２０は、編集入力部
２６、ロック設定部２２、および、ロック制御部２４を
含む編集処理部２８から構成されている。この編集部２
０において編集入力部２６は、キーボード５６やマウス
５８からテストパターンを編集するための編集コマンド
を入力し、編集処理部２８は、この編集コマンドに基づ
き、パターン記憶部３０に格納されているテストパター
ンに対する変更、追加、削除などの編集処理を行う。ロ
ック設定部２２は、マウス５８による操作に基づき、パ
ターン記憶部３０に格納されているテストパターンのう
ち編集すべきでない領域をロック領域として設定し、ロ
ック制御部２４は、編集入力部２６によって入力された
編集コマンドがロック領域に対する編集処理を指示して
いるか否かを検出し、ロック領域に対する編集処理を抑
止する。

【００２８】以下、上記構成の編集部２０の動作を図６
および図７を参照しつつ説明する。図６は、テストパタ
ーンの入力を開始してから編集を開始するまでの手順を
示すフローチャートである。このフローチャートにおけ
るステップＳ５０では、図３に示した前述のフローチャ
ートに従ってテストパターンを入力する。図８は、ステ
ップＳ５０において入力されパターン記憶部３０に格納
されているテストパターンの一例を示している。ただし
図８において、各ピン名の下に記載された「（Ｉ）」、
「（Ｏ）」、「（Ｂ）」は、そのピンが入力ピン、出力
ピン、入出力ピンであることをそれぞれ示す。そして、
信号値の属性を明確にするために、入力ピンの信号値お
よび入出力ピンの入力部分の信号値を「１」、「０」、
「ｘ」、「ｚ」で表し、出力ピンの信号値および入出力
ピンの出力部分の信号値を「Ｈ」、「Ｌ」、「Ｘ」、
「Ｚ」で表すものとする。

【００２９】上記のようなテストパターンが入力された
後において、テストパターンにロックを掛けない場合
は、このフローチャートを終了し、後述の編集が可能な
状態となる（ステップＳ５２参照）。ロックを掛ける場
合は、ステップＳ５４へ進み、ロック設定部２２が、テ
ストパターン作成者のマウス５８の操作によるラバーバ
ンドで指定されたテストパターン内の領域をロック領域
として設定する。これにより、例えば図８に示したテス
トパターンのうち矩形で囲まれた領域がロック領域とな
る。

【００３０】また本実施形態では、ロック領域の設定操
作を容易にするために、上記の他に次のような種々のロ
ック領域の設定方法が用意されている。他の第１の設定
方法は、マウス５８の操作によるラバーバンドでサイク
ル領域を指定することによりロック領域を設定するとい
う方法である。例えば図９に示すように、第３サイクル
〜第５サイクルの領域をラバーバンドによって指定する
ことにより、第３サイクル〜第５サイクルにおけるテス
トパターンの全て（斜線が付された領域）がロック領域
となる。第２の設定方法は、ラバーバンドによってピン
領域を指定することによりロック領域を設定するという
方法である。例えば図１０に示すように、ＰＩＮ３〜Ｐ
ＩＮ６の領域をラバーバンドによって指定することによ
り、ＰＩＮ３〜ＰＩＮ６に対するテストパターンの全て
（斜線が付された領域）がロック領域となる。第３の設
定方法は、「入力」、「出力」、または「入出力」とい
うピンの属性を指定することによりロック領域を設定す
るという方法である。例えば、ロック領域の指定として
「入力」というピン属性を指定すると、図１１に示すよ
うに、入力ピンであるＰＩＮ０、ＰＩＮ１、ＰＩＮ５、
ＰＩＮ８、ＰＩＮ９に対するテストパターンの全て（斜
線が付された領域）がロック領域となる。第４の設定方
法は、「入力」または「出力」という信号値の属性を指
定することによりロック領域を設定するという方法であ
る。例えば、ロック領域の指定として「入力」という信
号値属性を指定すると、図１２に示すように、入力信号
の値（「１」または「０」で表された信号値）から成る
テストパターンの全て（斜線が付された領域）がロック
領域となる。

【００３１】本実施形態では、上記他の設定方法である
第１〜第４の設定方法のうちの複数の方法を組み合わせ
てロック領域を設定することも可能である。例えば、
「入力」というピン属性の指定とサイクル領域の指定と
を組み合わせることにより、入力ピンの特定のサイクル
にのみロックを掛けることができ、また、「入力」とい
う信号値属性の指定と「出力」というピン属性の指定と
を組み合わせることにより、入出力ピンの出力部分以外
の領域にロックを掛けることができる。

【００３２】また、ロック領域を設定する際に既に設定
済みのロック領域が存在する場合の扱いに関し、二つの
モードが用意されている。すなわち、新たにロック領域
が設定されると、第１のモードでは、それ以前に設定さ
れていたロック領域は解除されて新たに設定されたロッ
ク領域のみが有効となり、第２のモードでは、それ以前
に設定されていたロック領域はそのまま有効であってこ
れに新たに設定されたロック領域が追加される。なお、
既に設定済みのロック領域を解除するための操作を新た
に設けてもよい。

【００３３】上記のようにしてロック領域が設定された
後は、ステップＳ５６において、ロック制御部２４が設
定されたロック領域を表示部４０に表示させる。その
後、このフローチャートを終了し、後述の編集が可能な
状態となる。

【００３４】次にテストパターンの編集時の動作につい
て説明する。図７は、テストパターンの編集時における
編集部２０の動作を示すフローチャートである。本実施
形態においてテストパターンの編集が可能な状態となる
と、編集部２０は編集コマンドの入力待ちの状態とな
る。ステップＳ６０において、編集入力部２６が、キー
ボード５６またはマウス５８から編集コマンドを入力す
ると、ステップＳ６２へ進み、編集処理部２８が、入力
された編集コマンドがテストパターンの編集を終了する
ための終了コマンドか否かを判定する。

【００３５】ステップＳ６２において、入力された編集
コマンドが終了コマンドでないと判定された場合は、ス
テップＳ６４へ進み、ロック制御部２４が、その編集コ
マンドによる編集がロック領域に対するものか否かを判
定する。その結果、ロック領域に対するものでない場合
は、ステップＳ６６へ進み、編集処理部２８がその編集
コマンドに基づき、パターン記憶部３０に格納されてい
るテストパターンに対する変更、追加、削除などの編集
処理を行う。その後、ステップＳ６０へ戻って再び編集
コマンド待ちの状態となる。

【００３６】ステップＳ６４での判定の結果、編集がロ
ック領域に対するものである場合には、ステップＳ６８
へ進み、ロック制御部２４が表示部４０への表示または
音声による警告を発した後、編集処理を行うことなくス
テップＳ６０へ戻り、再び編集コマンド待ちの状態とな
る。この場合、ステップＳ６８における警告により、テ
ストパターンの作成者である操作者は、編集しようとし
た対象にはロックが掛かっていて編集できないことを認
識する。

【００３７】ステップＳ６２において、入力された編集
コマンドが終了コマンドであると判定された場合は、テ
ストパターンに対する編集動作を終了する。このような
編集動作によってテストパターン作成が完了した後は、
パターン記憶部３０に格納されているテストパターンが
ハードディスなどの補助記憶装置に保存される。

【００３８】以上からわかるように本実施形態によれ
ば、テストパターンのうち編集すべきでない領域をロッ
ク領域として設定することにより（ステップＳ５４）、
編集操作を誤ってそのロック領域を編集しようとしても
編集は行われず、そのロック領域のパターンはそのまま
保持される。これにより、編集対象の誤認によって誤っ
たテストパターンが作成されるのを防止することができ
る。また、ロック領域内に対する編集操作が行われた場
合は警告が発せられるため（ステップＳ６８）、この警
告により操作者は誤った編集操作を行ったことを認識す
ることができる。さらに、編集すべき部分以外の領域を
ロック領域とすることにより、テストパターン全体に対
する単一の編集操作で編集すべき部分のみを選択的に編
集することができ、これにより編集の作業効率を向上さ
せることができる。

【００３９】

【発明の効果】本発明に係る第１のテストパターン作成
装置によれば、キーワードを定義しておくことにより、
複数の信号値から成る信号パターンの代わりにキーワー
ドを用いてテストパターンを入力することができるた
め、テストパターンの入力のための作業量を軽減するこ
とができ、同じ信号パターンを多くの箇所に記述する必
要がある場合には特に効果的である。また、キーワード
でテストパターン（の一部）を表現することにより、テ
ストパターンの把握やテスト対象の集積回路の動作の理
解が容易となる。この結果、入力ミスが減少するととも
に、このようなキーワードを用いて表現されたテストパ
ターンは再利用もしやすくなる。

【００４０】本発明に係る第２のテストパターン作成装
置によれば、所定の信号パターンを予めキーワードに対
応づけておいてキーワード変換（逆変換）を行うことに
より、テストパターンに含まれる信号パターンをキーワ
ードを用いて表現し、これを表示手段に表示することが
できる。これにより、他人が作成したテストパターンや
自分が過去に作成したテストパターンを利用して新たな
テストパターンを作成する場合に、テストパターンの理
解が容易となり、設計資源を効率よく再利用できるよう
になる。

【００４１】本発明に係る第３のテストパターン作成装
置によれば、テストパターンのうち編集すべきでない部
分をロック領域として指定することにより、編集操作を
誤ってそのロック領域を編集しようとしても編集は行わ
れず、そのロック領域のパターンはそのまま保持され
る。これにより、編集対象の誤認によって誤ったテスト
パターンが作成されるのを防止することができる。ま
た、編集すべき部分以外の領域をロック領域とすること
により、テストパターン全体に対する単一の編集操作で
編集すべき部分のみを選択的に編集することができるた
め、編集の作業効率を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施形態であるテストパターン作
成装置の構成を示す機能ブロック図。

【図２】 本発明の一実施形態であるテストパターン作
成装置のハードウェア構成を示す図。

【図３】 入力部の動作を示すフローチャート。

【図４】 キーワード・テーブルへの登録の内容を示す
図。

【図５】 入力部によって入力されたテストパターンの
一例を示す図。

【図６】 テストパターンの入力を開始してから編集を
開始するまでの手順を示すフローチャート。

【図７】 編集部の動作を示すフローチャート。

【図８】 テストパターンにおけるロック領域の設定方
法を説明するための図。

【図９】 テストパターンにおけるロック領域の他の設
定方法（サイクル領域の指定による方法）を説明するた
めの図。

【図１０】 テストパターンにおけるロック領域の他の
設定方法（ピン領域の指定による方法）を説明するため
の図。

【図１１】 テストパターンにおけるロック領域の他の
設定方法（ピン属性の指定による方法）を説明するため
の図。

【図１２】 テストパターンにおけるロック領域の他の
設定方法（信号値属性の指定による方法）を説明するた
めの図。

【符号の説明】

１０…入力部 ２０…編集部 ３０…パターン記憶部 ４０…表示部 １２…キーワード・テーブル １４…キーワード変
換部 １６…キーワード定義部 １８…パターン入力
部 ２２…ロック設定部 ２４…ロック制御部 ２６…編集入力部 ２８…編集処理部

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 集積回路のテストパターンを作成するた
   めに操作者によって操作されるテストパターン作成装置
   において、 集積回路の信号値から成るパターンである信号パターン
   と文字列とを対応づけるテーブルを記憶するためのテー
   ブル記憶手段と、 操作者の操作に基づき、信号パターンと文字列とを対応
   づけてテーブル記憶手段に記憶させることにより該文字
   列をキーワードとして定義する定義手段と、 集積回路のテストパターンを記憶するためのパターン記
   憶手段と、 操作者の操作に基づいて集積回路の信号値または前記キ
   ーワードを順次入力し、入力された信号値または前記キ
   ーワードから成るパターンを集積回路のテストパターン
   としてパターン記憶手段に記憶させるパターン入力手段
   と、 パターン記憶手段に記憶されたテストパターンを表示す
   る表示手段と、 操作者の操作に基づき、パターン記憶手段に記憶された
   テストパターンに含まれる前記キーワードを前記テーブ
   ルによって対応づけられた信号パターンに変換する順変
   換手段と、を備えることを特徴とするテストパターン作
   成装置。
2. 【請求項２】 集積回路のテストパターンを作成するた
   めに操作者によって操作されるテストパターン作成装置
   において、 集積回路の信号値から成るパターンである信号パターン
   と文字列とを対応づけるテーブルを記憶するためのテー
   ブル記憶手段と、 操作者の操作に基づき、信号パターンと文字列とを対応
   づけてテーブル記憶手段に記憶させることにより該文字
   列をキーワードとして定義する定義手段と、 集積回路のテストパターンを記憶するためのパターン記
   憶手段と、 操作者の操作に基づいて集積回路の信号値または前記キ
   ーワードを順次入力し、入力された信号値または前記キ
   ーワードから成るパターンを集積回路のテストパターン
   としてパターン記憶手段に記憶させるパターン入力手段
   と、 パターン記憶手段に記憶されたテストパターンを表示す
   る表示手段と、 パターン記憶手段に記憶されたテストパターンに含まれ
   る信号パターンのうちテーブル記憶手段に記憶された信
   号パターンと一致する信号パターンを、前記テーブルに
   よって対応づけられた前記キーワードに変換する逆変換
   手段と、を備えることを特徴とするテストパターン作成
   装置。
3. 【請求項３】 集積回路のテストパターンを編集するた
   めに操作者によって操作されるテストパターン作成装置
   であって、前記テストパターンを記憶している記憶手段
   と、操作者の操作に基づき前記テストパターンを編集す
   るために必要な情報を入力する編集入力手段と、記憶手
   段に記憶されているテストパターンを前記情報に基づい
   て編集する編集処理手段とを有するテストパターン作成
   装置において、 操作者の操作に基づき、記憶手段に記憶されているテス
   トパターン内の領域をロック領域として設定するロック
   設定手段と、 編集入力手段によって入力された情報により前記ロック
   領域に対する編集が指示されている場合には、編集処理
   手段による該編集を抑止して、前記ロック領域の内容を
   保持するロック制御手段と、を備えることを特徴とする
   テストパターン作成装置。