JPH09143740A - Cleaning method for treating gas supplying system - Google Patents

Cleaning method for treating gas supplying system

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JPH09143740A
JPH09143740A JP32828395A JP32828395A JPH09143740A JP H09143740 A JPH09143740 A JP H09143740A JP 32828395 A JP32828395 A JP 32828395A JP 32828395 A JP32828395 A JP 32828395A JP H09143740 A JPH09143740 A JP H09143740A
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JP
Japan
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gas
viscosity
dmah
liquid
org
Prior art date
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Application number
JP32828395A
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Japanese (ja)
Inventor
Shinpei Jinnai
新平 陣内
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Publication date
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Publication of JPH09143740A publication Critical patent/JPH09143740A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a cleaning method for a treating gas supplying system capable of effectively removing a high-viscosity liquid org. metallic material. SOLUTION: This method comprises supplying the high-viscosity liquid org. metallic material 16 to an vaporizing means 28 via a supplying passage 24 to vaporizing the material and to form a treating gas and supplies this treating gas to a treating device 42 to wholly or partially clean the entire part of the treating gas supplying system 14. The supplying passage part to be cleaned is heated in a temp. range where the viscosity of the org. metallic material is lowered and the thermal decomposition of the material does not arise. A purging gas is then passed to the supplying position part to expel the org. metallic material 16 lowered in the viscosity. An org. solvent which does not react with the org. metallic material is then introduced into the supplying passage part in the lowered viscosity state of the org. metallic material, by which the remaining org. metallic material is dissolved and the supplying passage part is cleaned. As a result, the gas purging is executed in the lowered viscosity state and, thereafter, the residual material is dissolved by the org. solvent, by which the approximately sure expulsion of the org. metallic material is made possible.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体製造
装置等に高粘度の液体をガス化させて供給する処理ガス
供給系のクリーニング方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for cleaning a processing gas supply system, which supplies a highly viscous liquid by gasifying it to, for example, a semiconductor manufacturing apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、半導体デバイスにあっては、最
近の高密度化、高集積化の要請に応じて、回路構成を多
層配線構造にする傾向にあり、この場合、下層デバイス
と上層アルミ配線との接続部であるコンタクトホールや
下層アルミ配線と上層アルミ配線との接続部であるヴィ
アホールなどの埋め込み技術が、両者の電気的な接続を
はかるために重要になっている。コンタクトホールやヴ
ィアホールの埋め込みには、安価で導電性の良好な材
料、例えばアルミニウムを用いるのが好ましく、しか
も、ホールの埋め込みという技術的な制約からボイドの
発生をなくすためには方向性の高いスパッタによる成膜
でなく、CVD(Chemical Vapor De
position)による成膜が望まれている。
2. Description of the Related Art In general, a semiconductor device tends to have a multilayer wiring structure in response to recent demands for higher density and higher integration. In this case, a lower device and an upper aluminum wiring are required. Embedding technology such as a contact hole as a connection portion with the via and a via hole as a connection portion between the lower aluminum wiring and the upper aluminum wiring has become important in order to make an electrical connection between them. It is preferable to use a cheap and highly conductive material such as aluminum for filling the contact holes and via holes, and it is highly directional in order to prevent the occurrence of voids due to the technical limitation of filling holes. CVD (Chemical Vapor Deposition) instead of sputtering
The film formation by the position) is desired.

【0003】アルミ−CVD成膜を形成するためには、
一般的には処理ガスとして有機金属ガスであるDMAH
(ジメチルアルミニウムハイドライド)を用いるが、こ
のDMAHは、常温では粘度が8000cp(センチポ
アズ)程度と非常に高くて水あめ状になっており、しか
も、空気中の水分や酸素と激しく反応して発火するため
に非常に取り扱いが困難な物質である。
To form an aluminum-CVD film,
Generally, DMAH which is an organic metal gas as a processing gas
(Dimethylaluminum hydride) is used, but this DMAH has a very high viscosity of about 8000 cp (centipoise) at room temperature and has a syrup-like form, and moreover, it reacts violently with moisture and oxygen in the air and ignites. It is a very difficult substance to handle.

【0004】液状の材料をガス化して処理ガスとして供
給する方法には、一般的には一例として図3に示すよう
にバブリング法、ベーキイング法及び直接気化法が存在
する。図3(A)はバブリング法を示し、液体収容容器
4内に貯留した液状材料2中にマスフローコントローラ
6により流量制御されたN2 ガス等のキャリアガスを供
給してバブリングし、この時発生するDMAHガスをキ
ャリアガスで供給配管7内に搬送し、処理装置へ供給す
るようになっている。図3(B)はベーキング法を示
し、液体材料2を貯留した液体収容容器4と、処理ガス
の流量制御を行なうマスフローコントローラ6とを同一
のオーブン8内に収容して加熱することにより液体材料
2を熱により直接蒸気化し、この時の蒸気圧により処理
ガスを供給配管7内に圧送して処理装置へ供給するよう
になっている。
As a method for gasifying a liquid material and supplying it as a processing gas, there are generally a bubbling method, a baking method and a direct vaporization method as shown in FIG. FIG. 3A shows a bubbling method, in which a carrier gas such as N 2 gas whose flow rate is controlled by the mass flow controller 6 is supplied into the liquid material 2 stored in the liquid container 4 to cause bubbling, which occurs at this time. The DMAH gas is carried into the supply pipe 7 as a carrier gas and supplied to the processing device. FIG. 3B shows a baking method, in which the liquid container 4 in which the liquid material 2 is stored and the mass flow controller 6 for controlling the flow rate of the processing gas are housed in the same oven 8 and heated to heat the liquid material. 2 is directly vaporized by heat, and the processing gas is pressure-fed into the supply pipe 7 by the vapor pressure at this time and supplied to the processing apparatus.

【0005】図3(C)は直接気化法を示し、液体材料
2を貯留した液体収容容器4内に加圧気体を供給し、こ
の圧力により容器4内の液体材料を液体のままで供給配
管7内に圧送し、この供給量を液体流量コントローラ1
0で流量制御しつつ気化器12に流し込む。そして、気
化器12にて、マスフローコントローラ6により流量制
御されたキャリアガスにより蒸気化させ、発生した処理
ガスを処理装置へ供給するようになっている。
FIG. 3C shows a direct vaporization method, in which a pressurized gas is supplied into a liquid container 4 in which the liquid material 2 is stored, and the pressure causes the liquid material in the container 4 to remain in the liquid state as a supply pipe. 7 is fed under pressure, and this supply amount is controlled by the liquid flow controller 1
It is poured into the vaporizer 12 while controlling the flow rate at 0. Then, in the vaporizer 12, the carrier gas whose flow rate is controlled by the mass flow controller 6 is vaporized, and the generated processing gas is supplied to the processing apparatus.

【0006】ところで、成膜処理の繰り返しによって液
状材料2がなくなった場合には、収容容器4を取り換え
たり、マスフローコントローラ6、液体マスフローコン
トローラ10或いは気化器12に何らかの理由でトラブ
ルが発生したりした場合には、これを供給系の配管類か
ら取り外すなどしてメンテナンス作業を行なわなければ
ならない。メンテナンス作業時には、配管内の残留液体
材料が空気や水分に晒されるとこれと反応して有害物質
を発生したり、発火したりするなど不都合な反応を生ず
る場合があるので、まず、メンテナンス作業対象となっ
ている部分の配管内に残留する液体材料を排除するため
に、一般的にはこの配管内を真空引きして真空パージを
行なったり、或いはこれと組み合わせてN2 ガス等の不
活性ガスを配管内に供給して残留する液体材料を強制的
に排出させるガスパージを行なっている。
By the way, when the liquid material 2 is used up by repeating the film forming process, the container 4 is replaced, or trouble occurs in the mass flow controller 6, the liquid mass flow controller 10 or the vaporizer 12 for some reason. In this case, maintenance work must be performed by removing this from the piping of the supply system. During maintenance work, if the residual liquid material in the pipe is exposed to air or moisture, it may react with it to produce harmful substances, which may cause inconvenient reactions such as ignition. In order to eliminate the liquid material remaining in the portion of the pipe, the inside of this pipe is generally evacuated to perform a vacuum purge, or in combination with this, an inert gas such as N 2 gas. Is purged into the pipe to forcibly discharge the remaining liquid material.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、処理ガスと
して気体材料や、容易に気化する通常の液体材料を用い
た場合には、上記した真空パージやガスパージで配管内
に残留する液体材料等を容易に排除することができる。
しかしながら、処理ガスとして粘度の特に高い液体材料
例えばCVDによりAl成膜を形成するときに用いられ
るDMAHを用いた場合には、この液体材料は前述のよ
うに非常に粘度が高いことから、上記したガスパージや
真空パージを併用しても管壁から十分に残留液体を除去
することができないといった問題があった。
By the way, when a gaseous material or an ordinary liquid material which is easily vaporized is used as the processing gas, it is easy to remove the liquid material remaining in the pipe by the above-mentioned vacuum purging or gas purging. Can be eliminated.
However, when a liquid material having a particularly high viscosity, for example, DMAH used when forming an Al film by CVD is used as the processing gas, this liquid material has a very high viscosity as described above, and therefore, the above-mentioned method is used. There was a problem that the residual liquid could not be sufficiently removed from the pipe wall even when the gas purge and the vacuum purge were used together.

【0008】本発明は、以上のような問題点に着目し、
これを有効に解決すべく創案されたものである。本発明
の目的は、液状の高粘度の有機金属材料を効果的に除去
することができる処理ガス供給系のクリーニング方法を
提供することにある。
The present invention focuses on the above problems,
It was created to solve this effectively. It is an object of the present invention to provide a cleaning method for a processing gas supply system, which can effectively remove a liquid high-viscosity organometallic material.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するために、液状の高粘度の有機金属材料を、供給
通路を介して気化手段に供給して気化させて処理ガスを
形成し、この処理ガスを処理装置へ供給する処理ガス供
給系を全体的或いは部分的にクリーニングする方法にお
いて、クリーニングすべき対象となる供給通路部分を、
前記有機金属材料の粘度を下げる温度で且つこれが熱分
解しない温度範囲で加熱し、前記供給通路部分にパージ
用ガスを流して粘度の低下している有機金属材料を排除
し、次に、前記有機金属材料の粘度を下げた状態で前記
有機金属材料と反応しない有機溶媒を前記供給通路部分
に導入することにより残留する有機金属材料を溶解して
クリーニングするように構成したものである。
In order to solve the above problems, the present invention supplies a liquid high-viscosity organometallic material to a vaporization means through a supply passage to vaporize it to form a processing gas. In the method of cleaning the processing gas supply system that supplies the processing gas to the processing apparatus wholly or partially, the supply passage portion to be cleaned is
The organometallic material is heated at a temperature that lowers the viscosity of the organometallic material and within a temperature range in which it does not thermally decompose, and a purging gas is caused to flow through the supply passage portion to eliminate the organometallic material whose viscosity is reduced. By introducing an organic solvent that does not react with the organic metal material into the supply passage portion while the viscosity of the metal material is reduced, the remaining organic metal material is dissolved and cleaned.

【0010】本発明は、以上のように構成したので、供
給通路内に残留する液状の有機金属材料は熱分解しない
温度範囲で加熱されて、その粘度を低下させており、こ
の状態でガスパージを行なうことにより大部分の有機金
属材料をパージして除去し、更に、有機溶媒を供給通路
に導入して、残留する有機金属材料を溶解し、クリーニ
ングする。この場合、有機溶媒としては、有機金属材料
と反応しない溶媒を用い、例えば有機金属材料としてA
l成膜用のDMAH(ジメチルアルミニウムハイドライ
ド)を用いた場合には、クリーニング用の有機溶媒とし
ては、非アルコール系の炭化水素系の溶媒、例えばn
(ノーマル)−ヘキサンやn−ドデカンを用いることが
できる。供給通路に導入された上記有機溶媒は、真空引
きによって排出されるのであるが、クリーニングを完全
に行なうために有機溶媒の導入と吸引排出を複数回繰り
返し行なうのがよい。
Since the present invention is configured as described above, the liquid organometallic material remaining in the supply passage is heated in a temperature range where it is not thermally decomposed and its viscosity is lowered, and gas purging is performed in this state. By doing so, most of the organometallic material is purged and removed, and further, an organic solvent is introduced into the supply passage to dissolve and clean the remaining organometallic material. In this case, a solvent that does not react with the organic metal material is used as the organic solvent, and for example, as the organic metal material, A
When DMAH (dimethylaluminum hydride) for film formation is used, the organic solvent for cleaning is a non-alcohol hydrocarbon solvent, for example, n.
(Normal) -hexane and n-dodecane can be used. The organic solvent introduced into the supply passage is discharged by vacuuming, but it is preferable to repeat the introduction and suction discharge of the organic solvent a plurality of times in order to completely perform cleaning.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下に、本発明に係る処理ガス供
給系のクリーニング方法の一実施例を添付図面に基づい
て詳述する。図1は本発明のクリーニング方法を実施す
るための処理ガス供給系を示す全体構成図である。ま
ず、本発明のクリーニング方法を実施するための処理ガ
ス供給系について説明する。ここでは、CVDによりア
ルミニウム成膜を形成するために、有機金属材料として
液状のDMAHを用い、これを気化して処理装置に供給
する場合を例にとって説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of a cleaning method for a processing gas supply system according to the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is an overall configuration diagram showing a processing gas supply system for carrying out the cleaning method of the present invention. First, a processing gas supply system for carrying out the cleaning method of the present invention will be described. Here, a case will be described as an example in which liquid DMAH is used as an organic metal material in order to form an aluminum film by CVD, and this is vaporized and supplied to a processing apparatus.

【0012】このDMAHは、前述のように常温では8
000cp程度と高い粘度を有し、水あめ状の液体状態
となっている。また、反応性に富み、空気中の水蒸気や
酸素と激しく反応する一方、略100℃以上では熱分解
して金属アルミニウムが析出し、取り扱いが極めて困難
である。
As described above, this DMAH is 8 at room temperature.
It has a high viscosity of about 000 cp and is in a syrup-like liquid state. Further, while it is highly reactive and reacts violently with water vapor and oxygen in the air, it is extremely difficult to handle at temperatures above about 100 ° C. due to thermal decomposition and precipitation of metallic aluminum.

【0013】この処理ガス供給系14は、成膜用の処理
ガスを作る液状の有機金属材料、ここではDMAH16
を収容する液体収納容器18と、このDMAH16を加
熱して粘度を低下させるための加熱手段20と、液体収
納容器18と処理装置22とを結ぶ供給通路24と、上
記粘度の低下されたDMAH16を供給通路24側へ圧
送する圧送手段26と、上記供給通路24の途中に介設
されて圧送されたDMAHを気化して処理ガスを形成す
る気化手段28とにより主に構成されている。
The processing gas supply system 14 is a liquid organic metal material for forming a processing gas for film formation, here DMAH16.
And a heating means 20 for heating the DMAH 16 to reduce the viscosity, a supply passage 24 connecting the liquid storage container 18 and the processing device 22, and the DMAH 16 having the reduced viscosity. It is mainly configured by a pressure feeding means 26 for pressure feeding to the supply passage 24 side, and a vaporization means 28 which is provided in the middle of the supply passage 24 and vaporizes DMAH which is pressure fed to form a processing gas.

【0014】具体的には、上記液体収納容器18は、例
えばステンレス製の容量が2リットル程度の密封容器よ
りなり、内壁にはガスや水分等が付着し難いように電解
研磨処理が施されている。この収納容器18には、下端
が液面の上方に位置されて、容器開閉弁30を介設した
ガス導入管32が設けられ、このガス導入管32には、
圧送手段26から延びる圧送管34がジョイント36を
介して接続されており、圧送用のガスを容器18内へ導
入し得るようになっている。また、収納容器18には、
下端が液中に浸積されて、容器開閉弁38を介設した液
体出口管40が設けられており、この出口側が、ジョイ
ント42を介して上記供給通路24に接続される。
Specifically, the liquid storage container 18 is made of, for example, a sealed container made of stainless steel and having a capacity of about 2 liters, and an electrolytic polishing process is applied to the inner wall so that gas, moisture and the like are hard to adhere. There is. The storage container 18 has a lower end located above the liquid level and is provided with a gas introduction pipe 32 with a container opening / closing valve 30 interposed therebetween.
A pressure feeding pipe 34 extending from the pressure feeding means 26 is connected via a joint 36 so that the gas for pressure feeding can be introduced into the container 18. In addition, in the storage container 18,
A lower end is immersed in the liquid, and a liquid outlet pipe 40 having a container opening / closing valve 38 is provided. The outlet side is connected to the supply passage 24 through a joint 42.

【0015】加熱手段20は、各ジョイント36、42
まで含む、収納容器18の全体を収める、例えばオーブ
ンにより形成されており、容器18の壁面には温度セン
サ44を設け、このセンサ44の検出値に基づいて温度
制御部46が加熱手段20に供給する電力を制御するこ
とにより、DMAH16を常時、適正な温度となるよう
に制御する。この場合、加熱温度は、DMAH16の粘
度を低下させるだけで、且つこれが熱分解しないような
温度範囲、例えば40〜80℃の範囲内に設定し、本実
施例では50℃に一定に維持しており、DMAHの粘度
を2000cp程度まで低下させている。
The heating means 20 includes joints 36 and 42.
The temperature sensor 44 is provided on the wall surface of the container 18, and the temperature control unit 46 supplies the heating means 20 based on the detection value of the sensor 44. By controlling the electric power to be applied, the DMAH 16 is always controlled to have an appropriate temperature. In this case, the heating temperature is set to a temperature range that only lowers the viscosity of DMAH16 and does not cause thermal decomposition, for example, in the range of 40 to 80 ° C., and is maintained at 50 ° C. in this embodiment. Therefore, the viscosity of DMAH is reduced to about 2000 cp.

【0016】圧送手段26は例えば5kg/cm2 2の
高圧Arガスを充填したArガスボンベ48とこれに接
続される圧送管34よりなり、この圧送管34の途中に
は、第1、第2及び第3開閉弁50A、50B、50C
を順次介設して容器18内のDMAH16を5kg/c
2 2の圧力で圧送するようになっている。Arガスボ
ンベ48の出口には、ボンベ開閉弁48Aが設けられ、
これを開閉可能としてる。このArガスは、後述するよ
うにクリーニング時のパージ用ガスとしても兼用される
ことになる。上記第3開閉弁50Cの下流側には、途中
にトラップ開閉弁52を介設したトラップ管54が分岐
させて設けられており、圧送管34内のガス抜きを必要
に応じて行ない得るようになっている。
The pressure feeding means 26 comprises, for example, an Ar gas cylinder 48 filled with a high pressure Ar gas of 5 kg / cm 2 2 and a pressure feeding pipe 34 connected to the Ar gas canister 48. In the middle of the pressure feeding pipe 34, first, second and Third on-off valves 50A, 50B, 50C
5 kg / c of DMAH 16 in the container 18
It is adapted to pumping at a pressure of m 2 2. A cylinder opening / closing valve 48A is provided at the outlet of the Ar gas cylinder 48,
It can be opened and closed. This Ar gas is also used as a purging gas at the time of cleaning as described later. On the downstream side of the third opening / closing valve 50C, a trap pipe 54 with a trap opening / closing valve 52 interposed in the middle is provided so as to be branched so that the gas in the pressure feeding pipe 34 can be degassed as necessary. Has become.

【0017】上記供給通路24は、流れるDMAHに過
度の圧力損失を生ぜしめることなくこれを流すことので
きるに十分な大きさの管径、例えば1/4インチのステ
ンレススチール管を用いており、その上流側より下流側
に向けて、第1開閉弁56A、流れる液体の流量を制御
する液体流量制御手段58、第2開閉弁56B、上記気
化手段28及び第3開閉弁56Cが順次介設されてお
り、DMAHは気化手段28までは液状体で流れ、ここ
で蒸気化されて以降はガス状態で流れることになる。
The supply passage 24 is made of a stainless steel tube having a diameter of, for example, 1/4 inch, which is large enough to allow the flowing DMAH to flow without causing excessive pressure loss. From the upstream side to the downstream side, a first opening / closing valve 56A, a liquid flow rate control means 58 for controlling the flow rate of the flowing liquid, a second opening / closing valve 56B, the vaporizing means 28 and a third opening / closing valve 56C are sequentially provided. Therefore, the DMAH flows as a liquid up to the vaporization means 28, is vaporized here, and thereafter flows in a gas state.

【0018】この気化手段28には、キャリアガス管6
0を介してキャリアガスとして例えば水素ガスを貯留す
る水素ガスボンベ62が接続されており、このガス管6
0にはその上流側より下流側に向けて第1開閉弁64
A、マスフローコントローラ66及び第2開閉弁64B
を順次介設して気化ガス兼キャリアガスとして水素ガス
を供給し得るようになっている。また、供給通路24の
第1開閉弁56Aの上流側、液体流量制御手段58と第
2開閉弁56Bとの間及び気化手段28と第3開閉弁5
6Cとの間からは、それぞれトラップ管68A、68
B、68Cが分岐させて設けられており、各トラップ管
には、トラップ開閉弁70A、70B、70Cがそれぞ
れ介設されている。尚、各トラップ管54、68A,6
8B,68Cは、図示されてないが共通に接続されて、
途中に真空ポンプが介設されており、トラップ時には真
空引きするようになっている。
The vaporizing means 28 includes a carrier gas pipe 6
A hydrogen gas cylinder 62 that stores, for example, hydrogen gas as a carrier gas is connected via 0.
0 indicates the first opening / closing valve 64 from the upstream side to the downstream side.
A, mass flow controller 66 and second on-off valve 64B
The hydrogen gas can be supplied as the vaporized gas and the carrier gas by sequentially interposing. In addition, the supply passage 24 upstream of the first on-off valve 56A, between the liquid flow rate control means 58 and the second on-off valve 56B, and the vaporization means 28 and the third on-off valve 5.
From between 6C, trap tubes 68A and 68, respectively.
B and 68C are provided in a branched manner, and trap opening / closing valves 70A, 70B, and 70C are provided in the respective trap tubes. Incidentally, each of the trap tubes 54, 68A, 6
Although not shown, 8B and 68C are commonly connected,
A vacuum pump is installed on the way, and a vacuum is drawn during the trap.

【0019】また、圧送管34の第2開閉弁50Bの下
流側と供給通路24の第1開閉弁56Aの下流側は、途
中に開閉弁72を介設した連通管74により連通され
る。また、圧送管34の第1開閉弁50Aの下流側と供
給通路24の第2開閉弁56Bの下流側とを接続して途
中に開閉弁76を介設したパージ管78が設けられてお
り、配管系のメンテナンス時にArガスによりDMAH
を排除し得るようになっている。
The downstream side of the second on-off valve 50B of the pressure feed pipe 34 and the downstream side of the first on-off valve 56A of the supply passage 24 are connected by a communication pipe 74 having an on-off valve 72 in the middle. Further, a purge pipe 78 is provided, which connects the downstream side of the first on-off valve 50A of the pressure feeding pipe 34 and the downstream side of the second on-off valve 56B of the supply passage 24 and has an on-off valve 76 interposed in the middle thereof. DMAH by Ar gas during maintenance of piping system
Can be eliminated.

【0020】ここで、液体収納容器18と気化手段28
との間の供給通路全体及びこの間の通路に介設される第
1開閉弁56A、液体流量制御手段58、第2開閉弁5
6B、更には、連通管74の開閉弁72及びここまでの
連通管74、トラップ開閉弁70Aを含むトラップ管6
8A、トラップ開閉弁70Bを含むトラップ管68B、
開閉弁76及びここまでのパージ管78は、例えばテー
プヒータよりなる第1の加熱ヒータ80(破線で示す)
が全体的に巻回されており、流れる液体の低粘度化を維
持するように、例えば収納容器18と同じ50℃程度に
加熱されている。
Here, the liquid container 18 and the vaporizing means 28
And the first opening / closing valve 56A, the liquid flow rate control means 58, and the second opening / closing valve 5 which are provided in the passage between them.
6B, and the trap pipe 6 including the open / close valve 72 of the communication pipe 74, the communication pipe 74 up to this point, and the trap open / close valve 70A.
8A, a trap tube 68B including a trap opening / closing valve 70B,
The on-off valve 76 and the purge pipe 78 so far are, for example, a first heater 80 (shown by a broken line) which is a tape heater.
Is entirely wound, and is heated to, for example, about 50 ° C., which is the same as that of the storage container 18, so as to keep the viscosity of the flowing liquid low.

【0021】また、気化手段28及びこれと処理装置2
2との間の供給通路24全体、第3開閉弁70Cを含む
トラップ管68Cにも、例えばテープヒータよりなる第
2の加熱ヒータ82(破線で示す)が巻回されており、
気化したDMAHが再液化しないで且つ熱分解もしない
温度範囲、例えば60〜80℃の範囲内の一定値に加熱
している。更には、キャリアガス管60の下流側全体に
も、例えばテープヒータのような第3の加熱ヒータ84
が巻回されてこれを気化手段28と同様な温度、60〜
80℃の範囲に加熱しており、流れるキャリアガスを予
熱してDMAHの気化を促進するようになっている。
Further, the vaporizing means 28 and the processing device 2 and the vaporizing means 28
A second heating heater 82 (shown by a broken line) made of, for example, a tape heater is also wound around the entire supply passage 24 between the second heating heater 2 and the trap pipe 68C including the third opening / closing valve 70C.
The vaporized DMAH is heated to a constant value within a temperature range in which it is neither reliquefied nor thermally decomposed, for example, 60 to 80 ° C. Furthermore, a third heater 84 such as a tape heater is also provided on the entire downstream side of the carrier gas pipe 60.
Is wound around and wound at a temperature similar to that of the vaporizing means 28, 60 to
It is heated in the range of 80 ° C. and preheats the flowing carrier gas to promote the vaporization of DMAH.

【0022】また、上記圧送管34の上流側には、Ar
ガスボンベ48と並列に、分岐管86を介してクリーニ
ング用の有機溶媒を貯留する溶媒ボンベ88が接続され
ており、この出口にはボンベ開閉弁88Aが設けられ、
これを開閉可能としている。従って、2つのボンベ開閉
弁48A、88Aを操作することにより、Arガスと有
機溶媒とを選択的に流し得るようになっている。ここで
有機溶媒としては、有機金属材料、ここではDMAHと
反応しないでこれを溶解する非アルコール系の炭化水素
系の有機溶媒、例えばn(ノーマル)−ヘキサンが用い
られる。尚、n−ヘキサンに換えてn−ドデカンを用い
てもよいが、イソピルアルコール等のアルコール系溶媒
は、DMAHと反応するので好ましくはない。
On the upstream side of the pressure feed pipe 34, Ar is provided.
In parallel with the gas cylinder 48, a solvent cylinder 88 for storing an organic solvent for cleaning is connected via a branch pipe 86, and a cylinder opening / closing valve 88A is provided at this outlet.
It can be opened and closed. Therefore, the Ar gas and the organic solvent can be selectively flown by operating the two cylinder opening / closing valves 48A and 88A. Here, as the organic solvent, an organic metal material, for example, a non-alcohol hydrocarbon-based organic solvent that dissolves DMAH without reacting with it, for example, n (normal) -hexane is used. In addition, n-dodecane may be used instead of n-hexane, but an alcohol solvent such as isopropyl alcohol is not preferable because it reacts with DMAH.

【0023】一方、液体流量制御手段58、気化手段2
8及びこれに供給されるキャリアガスの流量を制御する
マスフローコントローラ66は、例えばマイクロコンピ
ュータ等よりなる図示しない流量制御ユニットにより制
御され、気化手段28にはDMAHを気化するに十分な
量のキャリアガスが常時供給されるようになっている。
また、第1、第2及び第3の加熱ヒータ80、82、8
4は、例えばマイクロコンピュータ等よりなる温度制御
ユニット90によりそれぞれ前述した温度値に制御され
る。
On the other hand, the liquid flow rate control means 58 and the vaporization means 2
8 and a mass flow controller 66 for controlling the flow rate of the carrier gas supplied thereto are controlled by a flow rate control unit (not shown) such as a microcomputer, and the vaporizing means 28 has a sufficient amount of carrier gas for vaporizing DMAH. Is always supplied.
In addition, the first, second and third heaters 80, 82, 8
4 are controlled to the above-mentioned temperature values by a temperature control unit 90 including, for example, a microcomputer.

【0024】ここで、液体流量制御手段58及び気化手
段28の構造を説明する。図2に示すように液体流量制
御手段58は、微量のガス流量を検出する通常のマスフ
ローコントローラと略同様に構成されるが、通常のマス
フローコントローラが流体を加熱して流量に応じた温度
変化を検出するのに対して、DMAHの場合には加熱に
より気化や熱分解の恐れがあることから流体を冷却して
流量に応じた温度変化を検出するようにした点及び粘度
が高くてもセンスできる程度の流速が得られて、しかも
流れを損なわないような管径にセンサ管を設定した点が
通常のマスフローコントローラと構成が異なる。すなわ
ち、図2において供給通路24に接続されるセンサ管9
2には、ペルチェ素子のような電子冷却素子94が設け
られ、ブリッジ回路96により流量を電位差として検出
する。この検出値は、増幅回路98にて増幅されて、更
に補正回路100にて温度補正が行なわれるようになっ
ており、これによりセンサ102を構成している。
Here, the structures of the liquid flow rate control means 58 and the vaporization means 28 will be described. As shown in FIG. 2, the liquid flow rate control means 58 is configured in substantially the same manner as a normal mass flow controller that detects a minute gas flow rate, but the normal mass flow controller heats the fluid to change the temperature according to the flow rate. On the other hand, in the case of DMAH, there is a risk of vaporization and thermal decomposition due to heating, so that it is possible to sense even if the temperature is high and the temperature change is detected according to the flow rate by cooling the fluid. The configuration is different from that of a normal mass flow controller in that the sensor tube is set to a tube diameter that can obtain a flow velocity of a certain degree and that does not impair the flow. That is, the sensor tube 9 connected to the supply passage 24 in FIG.
An electronic cooling element 94 such as a Peltier element is provided at 2, and the bridge circuit 96 detects the flow rate as a potential difference. The detected value is amplified by the amplifier circuit 98, and the temperature is corrected by the correction circuit 100, which constitutes the sensor 102.

【0025】比較制御回路104は、図示しない流量制
御ユニットから指令される設定電圧と上記センサ検出値
と比較し、この偏差がゼロになるようにバルブ駆動回路
106は、例えば積層型圧電素子よりなるアクチュエー
タ108を駆動し、ピエゾバルブ110の弁開度を制御
するようになっている。この場合、センサ管92の管径
は、前述のように予定される液体の流量、例えば0.5
CCM(100SCCM)程度に対してセンサが検出し
得る程度の流速が得られ、且つ粘度が2000cpとあ
る程度高くても液体の流れを許容できる程度の大きさ、
例えば本実施例では、5mm程度に設定されている。管
径が例えば1mm程度と細過ぎてはその粘性のために圧
損が大き過ぎて流すことができず、また、例えば10m
m程度と太過ぎてはセンサが検出するには流速が遅くな
り過ぎてしまう。
The comparison control circuit 104 compares a set voltage commanded by a flow rate control unit (not shown) with the sensor detection value, and the valve drive circuit 106 is composed of, for example, a laminated piezoelectric element so that the deviation becomes zero. The actuator 108 is driven to control the valve opening of the piezo valve 110. In this case, the pipe diameter of the sensor pipe 92 is set to the predetermined flow rate of the liquid as described above, for example, 0.5.
A flow rate that can be detected by a sensor with respect to CCM (100 SCCM) is obtained, and a size that allows the flow of liquid even if the viscosity is as high as 2000 cp,
For example, in this embodiment, it is set to about 5 mm. If the tube diameter is too small, for example, about 1 mm, the viscosity of the tube is too great to allow it to flow, and for example, 10 m
If it is too thick, about m, the flow velocity will be too slow for the sensor to detect.

【0026】図3は流れ方向と検出温度との関係を示
し、図中実線は液体が流れていない場合、破線は液体が
流れている場合の特性を示す。液体が流れると△Tの温
度上昇を検出するが、この上昇分は流量に比例し、この
温度上昇分を電気的に処理することにより流量が求めら
れる。
FIG. 3 shows the relationship between the flow direction and the detected temperature. In the figure, the solid line shows the characteristics when the liquid is not flowing, and the broken line shows the characteristics when the liquid is flowing. When the liquid flows, the temperature rise of ΔT is detected, but this rise is proportional to the flow rate, and the flow rate is obtained by electrically processing this temperature rise.

【0027】図4及び図5は気化手段28の構成を示
し、バルブ本体112の中央に液体導入ポート114を
設け、これを中心としてその直径方向の反対側にキャリ
ア導入ポート116とガス排出ポート118を設ける。
そして、液体導入ポート114の外周に、他のポート1
16、118を連絡するようにリング状の気化溝120
を形成する。そして、このバルブ本体112の上部に、
上下方向に屈曲可能な例えばコルゲーション122付き
の薄板状の弁体124を設け、これを図示しないアクチ
ュエータにより上下方向に屈曲させることによりポート
を閉塞したり、この弁開度を変えるようになっている。
従って、液体導入ポート114より流出した液体は、コ
ントロールされたキャリアガスを流すことにより圧力降
下を起こし、ジュール・トムスン効果により気化しなが
ら気化溝120に到達し、キャリアと共に処理ガスとし
て搬送し得るようになっている。この場合にも、キャリ
ア導入ポート116及びこれに接続される管の管径は、
先のセンサ管92と同様に5mm程度に設定する。
FIGS. 4 and 5 show the structure of the vaporization means 28. A liquid introduction port 114 is provided in the center of the valve body 112, and a carrier introduction port 116 and a gas discharge port 118 are provided on the opposite sides of the liquid introduction port 114 in the diametrical direction. To provide.
Then, on the outer periphery of the liquid introduction port 114, another port 1
Ring-shaped vaporization groove 120 so as to connect 16, 118
To form And, on the upper part of this valve body 112,
For example, a thin plate-shaped valve body 124 with a corrugation 122 that can be bent in the vertical direction is provided, and the valve is bent in the vertical direction by an actuator (not shown) to close the port or change the valve opening. .
Therefore, the liquid flowing out from the liquid introduction port 114 causes a pressure drop by flowing the controlled carrier gas, reaches the vaporization groove 120 while being vaporized by the Joule-Thomson effect, and can be transported as a processing gas together with the carrier. It has become. Also in this case, the carrier introduction port 116 and the pipe diameter of the pipe connected thereto are
Like the previous sensor tube 92, it is set to about 5 mm.

【0028】ここで図1に戻って、処理装置22の構成
について説明する。この処理装置22としては、半導体
ウエハWを1枚ずつ処理する、いわゆる枚葉式のCVD
装置が一例として示されている。この装置の、例えばア
ルミニウム製の処理容器126内には例えば抵抗加熱ヒ
ータ128で加熱される載置台130が設けられてお
り、この載置台130の上面に例えばメカニカルクラン
プ132に保持されてウエハWが載置される。このメカ
ニカルクランプ132に換えて静電チャックを用いるよ
うにしてもよい。容器126内の上部には載置台130
に対向させてシャワーヘッド134が設けられており、
このシャワーヘッド134には、処理ガスを供給するた
めの供給通路24が接続されており、これにより処理ガ
スを処理容器126内に導入するようになっている。ま
た、容器底部には、図示しな真空ポンプに接続された排
気口136が設けられており、容器内を真空引き可能に
している。
Now, returning to FIG. 1, the structure of the processing device 22 will be described. As the processing apparatus 22, a so-called single wafer type CVD for processing the semiconductor wafers W one by one
The device is shown as an example. A mounting table 130 heated by, for example, a resistance heater 128 is provided in a processing container 126 made of, for example, aluminum of this apparatus, and the wafer W is held on the upper surface of the mounting table 130 by, for example, a mechanical clamp 132. Placed. An electrostatic chuck may be used instead of the mechanical clamp 132. On the upper part of the container 126, a mounting table 130
A shower head 134 is provided facing to
A supply passage 24 for supplying a processing gas is connected to the shower head 134, so that the processing gas is introduced into the processing container 126. Further, an exhaust port 136 connected to the illustrated vacuum pump is provided at the bottom of the container so that the inside of the container can be evacuated.

【0029】次に、以上のように構成された処理ガス供
給系の動作について説明する。まず、処理容器126内
に未処理の半導体ウエハWを搬入してこれを載置台13
0上に載置保持し、容器126内をベース圧まで真空引
きすると共に抵抗加熱ヒータ128によりウエハWをプ
ロセス温度範囲、180℃〜250℃の範囲内の所定の
値、例えば200℃に維持する。そして、この容器12
6内にシャワーヘッド132より所定の処理ガスを供給
しつつ内部をプロセス圧力範囲、0.5Torr〜10
0Torrの範囲内の所定の値、例えば2Torr程度
に維持して、例えばアルミニウムの成膜処理を行なう。
Next, the operation of the processing gas supply system configured as described above will be described. First, an unprocessed semiconductor wafer W is loaded into the processing container 126 and placed on the mounting table 13.
0, the container 126 is evacuated to the base pressure, and the resistance heater 128 keeps the wafer W at a predetermined value within the process temperature range, 180 ° C. to 250 ° C., for example, 200 ° C. . And this container 12
While supplying a predetermined processing gas from the shower head 132 to the inside of the chamber 6, the inside of the chamber is in the process pressure range of 0.5 Torr to 10
While maintaining a predetermined value within the range of 0 Torr, for example, about 2 Torr, a film forming process of, for example, aluminum is performed.

【0030】ここで処理ガスを処理容器126に供給す
るためには、粘度の高い水あめ状のDMAH16を有機
金属材料として用いるのであるが、このままでは粘度が
あまりにも高くてこれを流量制御しつつ供給することが
できない。そこで、本発明においては、DMAH16を
収納する液体収納容器18全体をオーブン20で覆って
DMAH16を所定の温度、例えば50℃に加熱し、粘
度8000cp程度から2000cp程度まで低下させ
て流れ易くしている。この加熱温度は、液体の有機金属
材料の粘度をある程度低下させて且つ気化や熱分解しな
い程度の温度範囲、すなわちDMAHの場合には、40
℃程度から60℃程度までの範囲が好ましい。
Here, in order to supply the processing gas to the processing container 126, the high-viscosity syrup-like DMAH 16 is used as the organic metal material. However, the viscosity is too high as it is and it is supplied while controlling the flow rate. Can not do it. Therefore, in the present invention, the entire liquid storage container 18 for storing the DMAH 16 is covered with the oven 20 to heat the DMAH 16 to a predetermined temperature, for example, 50 ° C., to reduce the viscosity from about 8000 cp to about 2000 cp to facilitate the flow. . This heating temperature is within a temperature range in which the viscosity of the liquid organometallic material is lowered to some extent and vaporization or thermal decomposition is not caused, that is, in the case of DMAH, it is 40
The range of about 60 ° C to about 60 ° C is preferable.

【0031】収納容器18の温度は、温度センサ44に
より検出されて、これがフィードバック信号として温度
制御部46へ入力され、常に例えば50℃を維持するよ
うになっている。ここでDMAHの温度と粘度との関係
を図6に基づいて説明すると、常温、例えば25℃では
粘度は8000cp程度と非常に高いが、これを50℃
程度まで加熱すると粘度は2000cp程度まで急激に
低下している。このようにDMAH16の粘度を低下さ
せた状態で、圧送手段のArガスボンベ48より5Kg
/cm2 2の圧力のArガスを圧送管34を介して収納
容器18内に導入すると、粘度が低下しているDMAH
16はこのガス圧により供給通路24内を円滑に圧送さ
れて行くことになる。尚、ここで圧送管34に介設した
第1、第2、第3開閉弁50A,50B,50C及び供
給通路24に介設した第1、第2、第3開閉弁56A,
56B,56Cはそれぞれ開になされ、Arガスボンベ
48のボンベ開閉弁48Aも開になされ、また、容器開
閉弁30、38も開になされているのは勿論である。加
圧ガスとしてはArガスの他に、Heガス、Xeガス等
の他の不活性ガスも用いることができる。
The temperature of the storage container 18 is detected by the temperature sensor 44, and this is input to the temperature control unit 46 as a feedback signal so that it is always maintained at 50 ° C., for example. Here, the relationship between the temperature of DMAH and the viscosity will be described with reference to FIG. 6. At room temperature, for example, 25 ° C., the viscosity is as high as about 8000 cp, but it is 50 ° C.
When heated to a certain degree, the viscosity sharply drops to about 2000 cp. With the viscosity of the DMAH 16 lowered in this way, 5 kg from the Ar gas cylinder 48 of the pressure feeding means was used.
When Ar gas having a pressure of / cm 2 2 is introduced into the storage container 18 through the pressure feed pipe 34, the viscosity is lowered.
16 is smoothly pumped in the supply passage 24 by this gas pressure. The first, second and third on-off valves 50A, 50B and 50C provided on the pressure feed pipe 34 and the first, second and third on-off valves 56A and 50A provided on the supply passage 24 are provided.
Of course, 56B and 56C are opened, the cylinder opening / closing valve 48A of the Ar gas cylinder 48 is also opened, and the container opening / closing valves 30 and 38 are also opened. As the pressurized gas, other than Ar gas, other inert gas such as He gas and Xe gas can be used.

【0032】供給通路24内を圧送される液体DMAH
は液体流量制御手段58により流量制御されつつ流れ
て、気化手段28に導入される。気化手段28に導入さ
れた液体DMAHは、水素ガスボンベ62よりキャリア
ガス管60を介してこれに供給される高圧水素ガスによ
り、ジュール・トムスン効果で気化されて処理ガスとな
り、ここで発生した処理ガスは水素ガスに伴われて供給
通路24内を更に下流側へ流れて処理装置22に到達
し、最終的に前述のようにシャワーヘッド132から処
理容器126内へ導入されることになる。
Liquid DMAH pumped in the supply passage 24
Is introduced into the vaporizing means 28 while flowing while the flow rate is controlled by the liquid flow rate controlling means 58. The liquid DMAH introduced into the vaporization means 28 is vaporized by the high-pressure hydrogen gas supplied from the hydrogen gas cylinder 62 via the carrier gas pipe 60 to the processing gas by the Joule-Thomson effect, and the processing gas generated here is generated. Accompanying hydrogen gas, the gas flows further downstream in the supply passage 24 to reach the processing device 22, and is finally introduced into the processing container 126 from the shower head 132 as described above.

【0033】ここで、流れるDMAHが液状となってい
る通路部分、すなわち気化手段28よりも上流側の供給
通路24や液体流量制御手段58は、巻回された第1の
加熱ヒータ80により、収納容器18と略同じ温度、例
えば50℃に加熱維持されているので、供給途中で液状
DMAHの粘度が低下して供給に支障をきたすことが生
ずることを未然に防止することができる。また、気化手
段28及びその下流側の供給通路24は、巻回された第
2の加熱ヒータ82により、DMAHの気化温度以上で
熱分解温度以下の温度範囲、例えば60℃〜80℃の範
囲で加熱されているので、このDMAHの気化ガスすな
わち処理ガスが再液化することなく、しかも熱分解され
ることなくこの通路内を流れて処理装置22まで円滑に
供給することができる。
Here, the passage portion in which the flowing DMAH is in a liquid state, that is, the supply passage 24 and the liquid flow rate control means 58 on the upstream side of the vaporization means 28 are accommodated by the wound first heater 80. Since the temperature is maintained at substantially the same temperature as that of the container 18, for example, 50 ° C., it is possible to prevent the viscosity of the liquid DMAH from lowering during the supply, which may hinder the supply. Further, the vaporizing means 28 and the supply passage 24 on the downstream side thereof are heated by the wound second heater 82 in a temperature range not lower than the vaporization temperature of DMAH and not higher than the thermal decomposition temperature, for example, in the range of 60 ° C. to 80 ° C. Since it is heated, the vaporized gas of DMAH, that is, the processing gas does not reliquefy and is not thermally decomposed, and it can be smoothly supplied to the processing device 22 by flowing through this passage.

【0034】更に、キャリアガスを流すキャリアガス管
60には第3の加熱ヒータ84を巻回して設けて、気化
手段28に導入されるキャリアガスを気化手段28と同
じ温度、例えば60℃〜80℃の範囲内に予め加熱して
いるので、液状DMAHの気化を迅速に且つ円滑に行な
うことが可能となる。尚、キャリアガスとしてはH2
スの他に、Arガス、Heガス等の不活性ガスを用いる
ことができる。このように高精度の流量コントロール下
では従来装置においては高々4SCCM程度しか供給で
きなかったが、ここでは、1枚のウエハWに対して量産
的にアルミニウムの成膜を施すに必要とされる流量、例
えば100SCCM(液体換算で0.4CCM)程度の
多量の流量のDMAHを高精度にコントロールしつつ供
給することが可能となる。従って、量産ベースでのAl
−CVD成膜が可能となり、コンタクトホールやヴィア
ホールの埋め込み処理をAl−CVD成膜により量産ベ
ースで行なうことができる。
Further, a third heater 84 is wound around the carrier gas pipe 60 through which the carrier gas flows, so that the carrier gas introduced into the vaporizing means 28 has the same temperature as that of the vaporizing means 28, for example, 60 ° C. to 80 ° C. Since the liquid DMAH is preheated within the range of ° C, the liquid DMAH can be vaporized quickly and smoothly. In addition to H 2 gas, an inert gas such as Ar gas or He gas can be used as the carrier gas. As described above, under the high-precision flow rate control, the conventional apparatus could supply only about 4 SCCM at most, but here, the flow rate required to mass-produce aluminum on one wafer W is required. For example, it becomes possible to supply DMAH with a large flow rate of about 100 SCCM (0.4 CCM in terms of liquid) while controlling it with high accuracy. Therefore, Al on a mass production basis
-CVD film formation becomes possible, and the process of filling contact holes and via holes can be performed on a mass production basis by Al-CVD film formation.

【0035】ところで、成膜処理を繰り返し行なった結
果、液体収納容器18の残留DMAH16が少なくなっ
たり、なくなったりした場合には、空になった収納容器
18をDMAHの満たされた新たな収納容器18と交換
しなければならず、また、液体流量制御手段58や気化
手段28は定期的或いは不定期的にメンテナンスが行な
われ、或いは劣化した配管類を交換するなどのメンテナ
ンスも不定期的に行なわれる。この場合、配管や通路内
に残留しているDMAHが空気中の水分や酸素と接触す
ると前述のように激しく反応することから空気に晒され
ることになる配管類の内部から予め残留DMAHを除去
してクリーニングする必要がある。まず、液体収納容器
18をDMAHの満たされた新たな収納容器と交換する
場合について説明する。この場合には、少なくとも容器
開閉弁38と第1開閉弁56Aとの間の供給通路24の
部分の残留DMAHを確実に排除しなければならない。
By the way, when the residual DMAH 16 in the liquid storage container 18 decreases or disappears as a result of repeating the film forming process, the empty storage container 18 is replaced with a new storage container filled with DMAH. 18, the liquid flow rate control means 58 and the vaporization means 28 are regularly or irregularly maintained, or maintenance such as replacement of deteriorated pipes is irregularly performed. Be done. In this case, if the DMAH remaining in the pipes or passages comes into contact with moisture or oxygen in the air and reacts violently as described above, the residual DMAH is previously removed from the inside of the pipes that will be exposed to the air. Need to be cleaned. First, the case where the liquid storage container 18 is replaced with a new storage container filled with DMAH will be described. In this case, at least the residual DMAH in the portion of the supply passage 24 between the container opening / closing valve 38 and the first opening / closing valve 56A must be reliably eliminated.

【0036】まず、当然のこととして成膜処理は中断し
ていることから、供給通路24に介設された第1、第2
及び第3開閉弁56A、56B、56Cの各弁は閉状態
にされてDMAHの供給は停止されており、また、収納
容器18に付属する両容器開閉弁30、38も閉にして
容器18内を密閉状態とする。また、圧送管34に介設
した第1、第2及び第3開閉弁50A、50B、50C
もそれぞれ閉状態になされ、Arガスの供給を停止して
いる。ここで、供給通路24内に残留するDMAHを低
粘度化して流れ易い状態に維持させるために供給通路2
4の上流側に巻回してある第1の加熱ヒータ80には通
電を継続して行ない、これを成膜時と同様な粘度を下げ
る温度、例えば50℃に加熱維持する。この加熱温度
は、当然のこととしてDMAHの熱分解温度、例えば1
00℃よりも小さく設定しているのは勿論である。この
第1の加熱ヒータ80への通電によりトラップ管68A
も上記した温度に加熱されている。
First, since the film forming process is interrupted as a matter of course, the first and second films provided in the supply passage 24 are provided.
Also, the respective valves of the third opening / closing valves 56A, 56B, 56C are closed and the supply of DMAH is stopped, and both container opening / closing valves 30, 38 attached to the storage container 18 are also closed to close the inside of the container 18. Is closed. Further, the first, second and third opening / closing valves 50A, 50B, 50C provided in the pressure feeding pipe 34.
Are also closed, and the supply of Ar gas is stopped. Here, in order to reduce the viscosity of the DMAH remaining in the supply passage 24 and maintain it in a state where it easily flows, the supply passage 2
The first heater 80 wound on the upstream side of No. 4 is continuously energized, and this is heated and maintained at the same temperature for lowering the viscosity as during film formation, for example, 50 ° C. This heating temperature is, of course, the thermal decomposition temperature of DMAH, for example, 1
Of course, the temperature is set lower than 00 ° C. By energizing the first heater 80, the trap tube 68A
Is also heated to the above temperature.

【0037】このように配管内の残留DMAHが低粘度
化されているので、Arガスボンベ48のボンベ開閉弁
48A、圧送管34の第1及び第2開閉弁50A、50
B、連通管74の開閉弁72、トラップ管68Aのトラ
ップ開閉弁70Aを開にすることにより、上述した経路
に従って高圧のArガスを流して、容器開閉弁38と第
1開閉弁56Aの間の供給通路部分に残留していたDM
AHをトラップ管68Aを介して系外へパージし、排除
する。この時、DMAHのパージを促進させるために、
トラップ管68Aを図示しない真空ポンプで真空引きす
るのは勿論である。
Since the residual DMAH in the pipe is thus made low in viscosity, the cylinder opening / closing valve 48A of the Ar gas cylinder 48 and the first and second opening / closing valves 50A, 50 of the pressure feeding pipe 34 are formed.
By opening B, the opening / closing valve 72 of the communication pipe 74, and the trap opening / closing valve 70A of the trap pipe 68A, high-pressure Ar gas is caused to flow in accordance with the above-described path, and the space between the container opening / closing valve 38 and the first opening / closing valve 56A is changed. DM remaining in the supply passage
AH is purged out of the system through the trap tube 68A and eliminated. At this time, in order to promote the purge of DMAH,
Of course, the trap tube 68A is evacuated by a vacuum pump (not shown).

【0038】ここで、加熱により粘性が低下されている
とはいえ、DMAHが配管内壁に付着して残留すること
は避けられないので、次に、Arガスボンベ48のボン
ベ開閉弁48Aを閉にしてArガスの供給を停止し、代
わりに溶媒ボンベ88のボンベ開閉弁88Aを開にして
溶媒のn−ヘキサンを上記したと同じ経路に導入して流
し込み、配管内壁に付着しているDMAHをこの溶媒で
溶かし込み、排除する。この場合、n−ヘキサンを連続
的に導入しつつトラップ管68Aより排除するようにし
てもよいが、これに限らず、例えばトラップ管68Aま
で溶媒が到達したならばトラップ開閉弁70Aを一旦閉
にして溶媒を管内にしばらくの間、例えば20秒程度だ
け滞留させてDMAHのを溶解を促進させ、その後、ト
ップ開閉弁70Aを再度、開にして溶媒を系外へ排出さ
せるようにしてもよい。
Here, although the viscosity is lowered by heating, it is inevitable that DMAH adheres to and remains on the inner wall of the pipe. Next, the cylinder opening / closing valve 48A of the Ar gas cylinder 48 is closed. The supply of Ar gas is stopped, and the cylinder opening / closing valve 88A of the solvent cylinder 88 is opened instead, and n-hexane as a solvent is introduced into the same path as described above and poured in, and DMAH adhering to the inner wall of the pipe is mixed with this solvent. Dissolve in and eliminate. In this case, n-hexane may be continuously introduced while being removed from the trap tube 68A, but not limited to this, for example, when the solvent reaches the trap tube 68A, the trap opening / closing valve 70A is temporarily closed. The solvent may be retained in the tube for a while, for example, for about 20 seconds to accelerate the dissolution of DMAH, and then the top opening / closing valve 70A may be opened again to discharge the solvent out of the system.

【0039】そして、溶媒による溶解が終了したなら
ば、溶媒ボンベ88のボンベ開閉弁88Aを再度、閉に
して溶媒の供給を停止し、次にArガスボンベ48のボ
ンベ開閉弁48Aを再度、開にしてArガスを導入して
流すことにより配管内の溶媒をトラップ管68Aより確
実に排除する。このようにメンテナンス対象部分の残留
DMAHのパージが完了したならば、次に、他方のトラ
ップ管84のトラップ開閉弁52を開にして圧送管34
の第3開閉弁50Cより下流側の圧抜きを行なう。尚、
この圧抜きはメンテナンス時のどの時点で行なってもよ
い。この圧抜きが終了したならば、ジョイント36、4
2をリリースすることにより液体収納容器18を取り外
し、これに代えて新たな収納容器をここに取り付ければ
よい。
When the dissolution with the solvent is completed, the cylinder opening / closing valve 88A of the solvent cylinder 88 is closed again to stop the supply of the solvent, and then the cylinder opening / closing valve 48A of the Ar gas cylinder 48 is opened again. The solvent in the pipe is reliably removed from the trap pipe 68A by introducing and flowing Ar gas. When the purge of the residual DMAH of the maintenance target portion is completed in this manner, next, the trap opening / closing valve 52 of the other trap tube 84 is opened and the pressure feeding pipe 34 is opened.
The pressure is released on the downstream side of the third opening / closing valve 50C. still,
This depressurization may be performed at any point during maintenance. When this pressure release is completed, the joints 36, 4
The liquid storage container 18 may be removed by releasing 2, and a new storage container may be attached instead of this.

【0040】このように、まず残留DMAHを加熱する
ことによりこれを低粘度状態に維持し、この状態でガス
パージにより大部分のDMAHを排除し、更に、未反応
性の有機溶媒を流して管壁に残留するDMAHを溶解し
てパージするようにしたので、残留DMAHを確実に排
除することができる。また、有機溶媒としては、有機金
属材料に対して未反応性の溶媒を用いているので、反応
により金属が配管内に析出することもない。この実施例
では、溶媒の供給を1回しか行なわない場合について説
明したが、これに限定されず、溶媒の供給と排出を、複
数回繰り返し行なって、より完全にDMAHのパージを
行なうようにしてもよい。
As described above, first, the residual DMAH is heated to maintain it in a low viscosity state, and in this state, most of the DMAH is removed by gas purging, and further, an unreacted organic solvent is flowed to the tube wall. Since the residual DMAH is dissolved and purged, the residual DMAH can be reliably removed. Further, as the organic solvent, a solvent which is unreactive with the organic metal material is used, and therefore, the metal is not deposited in the pipe due to the reaction. In this embodiment, the case where the solvent is supplied only once has been described, but the present invention is not limited to this, and the supply and the discharge of the solvent are repeated a plurality of times so that the DMAH can be completely purged. Good.

【0041】次に、液体制御手段58のメンテナンスを
行なう場合について説明する。この場合にも先の容器交
換時と同様に、メンテナンス対象部分を孤立化させて、
残留するDMAHの低粘度化を維持し、ガスパージ及び
溶媒による溶解操作という手順で行なう。まず、すべて
の開閉弁を閉じて供給系の動きを停止した状態におい
て、供給通路24に巻回してある第1の加熱ヒータ80
には継続的に通電を行なって、前述と同様に残留DMA
Hの粘度を下げ且つ熱分解しない温度、例えば50℃に
加熱維持する。これにより液体流量制御手段58内及び
供給通路24内に残留するDMAHの粘度は低下されて
流れ易くなっている。
Next, the case where the liquid control means 58 is maintained will be described. Also in this case, as in the case of the previous container replacement, the maintenance target part is isolated,
The remaining viscosity of DMAH is kept low, and a procedure of gas purging and dissolving with a solvent is performed. First, in a state where all the on-off valves are closed and the movement of the supply system is stopped, the first heater 80 wound around the supply passage 24 is provided.
Is continuously energized, and residual DMA is applied as described above.
The viscosity of H is lowered and maintained at a temperature at which it is not thermally decomposed, for example at 50 ° C. As a result, the viscosity of the DMAH remaining in the liquid flow rate control means 58 and the supply passage 24 is reduced, and the DMAH easily flows.

【0042】次に、Arガスボンベ48のボンベ開閉弁
48A、圧送管34の第1及び第2開閉弁50A、50
B、連通管74の開閉弁72及び液体流量制御手段58
の上流側のトラップ管68Bのトラップ開閉弁70Bを
それぞれ開にし、この経路に従って高圧のArガスを流
して液体流量制御手段58内及び第2開閉弁56Bより
も上流側の供給通路24内に残留する大部分のDMAH
をガスパージにより排除する。ここで、トラップ管68
Aのトラップ開閉弁70Aも、例えば時間差を設けて開
にすれば、前述のように容器開閉弁38と第1開閉弁5
6Aとの間の供給通路24に残留するDMAHも排除す
ることができる。
Next, the cylinder open / close valve 48A of the Ar gas cylinder 48 and the first and second open / close valves 50A, 50 of the pressure feed pipe 34 are shown.
B, open / close valve 72 of communication pipe 74 and liquid flow rate control means 58
The trap opening / closing valve 70B of the upstream side of the trap pipe 68B is opened, and high-pressure Ar gas is caused to flow along this path to remain in the liquid flow rate control means 58 and in the supply passage 24 on the upstream side of the second opening / closing valve 56B. Most of the DMAH to do
Are removed by gas purging. Here, the trap tube 68
If the trap opening / closing valve 70A of A is opened with a time difference, for example, the container opening / closing valve 38 and the first opening / closing valve 5 are opened as described above.
The DMAH remaining in the supply passage 24 between 6A and 6A can also be eliminated.

【0043】次に、Arガスボンベ48のボンベ開閉弁
48Aを閉にしてArガスの供給を停止し、代わりに溶
媒ボンベ88のボンベ開閉弁88Aを開にして溶媒のn
−ヘキサンを上記した経路に導入して流し込み、配管内
壁や流量制御手段58の内部に付着しているDMAHを
この溶媒で溶かし込み、除去する。この場合にも、n−
ヘキサンを連続的に導入しつつトラップ管68Bより排
除するようにしてもよいが、これに限らず、トラップ管
68Bまで溶媒が到達したならばトラップ開閉弁70B
を一旦閉にして前述の場合と同様に溶媒をしばらくの間
だけ滞留させてDMAHの溶解を促進させ、その後、ト
ラップ開閉弁70Bを再度、開にして溶媒を系外へ排出
させるようにしてもよい。
Next, the cylinder opening / closing valve 48A of the Ar gas cylinder 48 is closed to stop the supply of the Ar gas, and the cylinder opening / closing valve 88A of the solvent cylinder 88 is opened to open the n of the solvent.
-Hexane is introduced into the above-mentioned path and poured, and DMAH adhering to the inner wall of the pipe and the inside of the flow rate control means 58 is dissolved and removed with this solvent. Also in this case, n−
Hexane may be continuously introduced while being removed from the trap pipe 68B, but the present invention is not limited to this, and when the solvent reaches the trap pipe 68B, the trap opening / closing valve 70B is used.
Is closed once and the solvent is retained for a while to accelerate the dissolution of DMAH, and then the trap opening / closing valve 70B is opened again to discharge the solvent out of the system. Good.

【0044】そして、溶媒による溶解が終了したなら
ば、溶媒ボンベ88のボンベ開閉弁88Aを再度、閉に
して溶媒の供給を停止し、次にArガスボンベ48のボ
ンベ開閉弁48Aを再度、開にしてArガスを導入して
流すことにより先に導入された溶媒をトラップ管68B
より確実に排除する。尚、トラップ管68Aのトラップ
開閉弁70Aは、制御手段58の下流側のトラップ68
Bのトラップ開閉弁70Bと同期させて、或いは制御手
段58側のDMAHを優先して排除するために僅かに時
間を遅らせて同様に開閉操作をすればよいし、また、容
器開閉弁38と第1開閉弁56Aとの間の供給通路部分
の容量が非常に少なければ、この部分のDMAHを無視
してトラップ開閉弁70Aを上述の操作の間、閉状態を
維持するようにしてもよい。
When the dissolution with the solvent is completed, the cylinder opening / closing valve 88A of the solvent cylinder 88 is closed again to stop the supply of the solvent, and then the cylinder opening / closing valve 48A of the Ar gas cylinder 48 is opened again. By introducing Ar gas and flowing the Ar gas, the solvent introduced previously is trapped in the pipe 68B.
Eliminate more reliably. The trap opening / closing valve 70A of the trap pipe 68A is provided on the downstream side of the control means 58.
The opening / closing operation may be performed in synchronization with the trap opening / closing valve 70B of B or by slightly delaying the time in order to preferentially remove the DMAH on the control means 58 side. If the capacity of the supply passage portion between the first opening / closing valve 56A and the first opening / closing valve 56A is very small, the DMAH in this portion may be ignored and the trap opening / closing valve 70A may be kept closed during the above-described operation.

【0045】この場合にも、前述の収納容器交換時のク
リーニング操作と同様に、DMAHの除去を確実にする
ために溶媒の供給と排出を複数回繰り返し行なうように
してもよい。このようにクリーニングが終了したなら
ば、供給通路24から液体流量制御手段58を取り外
し、このメンテナンスを行なえばよい。次に、気化手段
28のメンテナンスを行なう場合について説明する。こ
の場合にも先の容器交換時と同様にメンテナンス対象部
分を孤立化させて、残留するDMAHの低粘度化を維持
し、ガスパージ及び溶媒による溶解操作という手順で行
なう。
Also in this case, the solvent may be supplied and discharged a plurality of times repeatedly in order to ensure the removal of DMAH, as in the cleaning operation when the storage container is replaced. When the cleaning is completed in this way, the liquid flow rate control means 58 may be removed from the supply passage 24 and this maintenance may be performed. Next, a case where maintenance of the vaporizing means 28 is performed will be described. In this case as well, as in the case of the previous container replacement, the maintenance target portion is isolated to maintain the viscosity of the residual DMAH low, and the procedure of gas purging and solvent dissolution is performed.

【0046】まず、全ての開閉弁を閉じて供給系の動き
を停止した状態において、供給通路に巻回してある第2
の加熱ヒータ82には継続的に通電を行なって、前述の
ように残留DMAHの粘度を下げ、且つ熱分解しない温
度、例えば50℃に加熱維持する。この加熱温度は、成
膜時の再液化防止温度60℃〜80℃と同じになるよう
に設定してもよい。また、気化手段28の上流側の供給
通路24にてパージ管78が接続される位置との間に僅
かな距離の供給通路部分が存在することから、この部分
の残留DMAHの粘度も低下させるために第1の加熱ヒ
ータ80にも通電させてこの通路を例えば50℃に維持
する。
First, with all the on-off valves closed and the movement of the supply system stopped, the second coil wound around the supply passage is closed.
The heater 82 is continuously energized to reduce the viscosity of the residual DMAH as described above and to maintain the temperature at which it does not thermally decompose, for example, 50 ° C. The heating temperature may be set to be the same as the reliquefaction prevention temperature of 60 ° C. to 80 ° C. during film formation. Further, since there is a short distance between the supply passage 24 on the upstream side of the vaporizing means 28 and the position where the purge pipe 78 is connected, the viscosity of the residual DMAH in this portion is also reduced. The first heater 80 is also energized to maintain this passage at, for example, 50 ° C.

【0047】次に、Arガスボンベ48のボンベ開閉弁
48A、パージ管78の開閉弁90及びトップ管68C
のトラップ開閉弁70Cをそれぞれ開にし、この経路に
従って高圧のArガスを流して気化手段28及び第2開
閉弁56Bと第3開閉弁56Cとの間の供給通路24内
に残留する大部分のDMAHをガスパージにより排除す
る。次に、Arガスボンベ48のボンベ開閉弁48Aを
閉にしてArガスの供給を停止し、代わりに溶媒ボンベ
88のボンベ開閉弁88Aを開にして溶媒のn−ヘキサ
ンを上記した経路に導入して流し込み、配管内壁や気化
手段28の内部に付着しているDMAHをこの溶媒で溶
かし込み、除去する。この場合にも、n−ヘキサンを連
続的に導入しつつトラップ管68Cより排除するように
してもよいが、これに限らず、トラップ管68Cまで溶
媒が到達したならば、トラップ開閉弁70Cを一旦閉に
して前述の場合と同様に溶媒をしばらくの間だけ滞留さ
せてDMAHの溶解を促進させ、その後、トラップ開閉
弁70Bを再度、開にして溶媒とを系外へ排出させるよ
うにしてもよい。
Next, the cylinder open / close valve 48A of the Ar gas cylinder 48, the open / close valve 90 of the purge pipe 78, and the top pipe 68C.
The trap on-off valve 70C is opened, and high-pressure Ar gas is caused to flow in accordance with this path, and most of the DMAH remaining in the vaporization means 28 and the supply passage 24 between the second on-off valve 56B and the third on-off valve 56C. Are removed by gas purging. Next, the cylinder open / close valve 48A of the Ar gas cylinder 48 is closed to stop the supply of Ar gas, and the cylinder open / close valve 88A of the solvent cylinder 88 is opened instead to introduce the solvent n-hexane into the above-mentioned path. The solvent is poured and DMAH adhering to the inner wall of the pipe and the inside of the vaporizing means 28 is dissolved and removed with this solvent. Also in this case, n-hexane may be continuously introduced while being removed from the trap tube 68C, but the present invention is not limited to this, and once the solvent reaches the trap tube 68C, the trap on-off valve 70C is temporarily turned on. As in the case described above, the solvent may be retained for a while to accelerate the dissolution of DMAH, and then the trap on-off valve 70B may be opened again to discharge the solvent out of the system. .

【0048】そして、溶媒による溶解が終了したなら
ば、溶媒ボンベ88のボンベ開閉弁88Aを再度、閉に
して溶媒の供給を停止し、次に、Arガスボンベ48の
ボンベ開閉弁48Aを再度、開にしてArガスを導入し
て流すことにより、先に導入された溶媒をトラップ管6
8Bより確実に排除する。この場合にも、前述の収納容
器交換時のクリーニング操作と同様に、DMAHの除去
を確実にするために溶媒の供給と排出を複数回繰り返し
行なうようにしてもよい。このようにクリーニングが終
了したならば、供給通路24から気化手段28を取り外
し、このメンテナンスを行なえばよい。
When the dissolution with the solvent is completed, the cylinder opening / closing valve 88A of the solvent cylinder 88 is closed again to stop the supply of the solvent, and then the cylinder opening / closing valve 48A of the Ar gas cylinder 48 is opened again. The Ar gas is introduced into the trap tube 6 to flow the Ar gas.
Eliminate from 8B surely. In this case as well, similar to the cleaning operation at the time of replacing the storage container, the supply and discharge of the solvent may be repeated a plurality of times to ensure the removal of DMAH. When the cleaning is completed in this manner, the vaporizing means 28 may be removed from the supply passage 24 and the maintenance may be performed.

【0049】尚、供給通路24を交換する場合には、交
換対象となっている供給通路部分を上記した各クリーニ
ング操作を適宜組み合わせることによりクリーニング処
理してDMAHを排除するようにすればよい。このよう
にして本発明によれば、液状の高粘度の有機金属材料を
供給系に流して気化させて処理ガスを形成し、この処理
ガスを成膜用に処理装置へ送るようにした供給系のメン
テナンス作業等を行なう場合に、メンテナンス対象とな
る部分を、有機金属材料の熱分解温度以下の温度で加熱
することにより有機金属材料を低粘度化して流れ易くし
ておき、この状態でガスパージを行なって大部分の有機
金属材料を除去し、更に、この金属材料と非反応性の有
機溶媒を導入して残留する有機金属材料を溶解して除去
するようにしたので、効率良く、且つ確実に有機金属材
料を除去して供給系をクリーニングすることができる。
When the supply passage 24 is replaced, the supply passage portion to be replaced may be cleaned by appropriately combining the above-mentioned cleaning operations to eliminate DMAH. As described above, according to the present invention, a liquid high-viscosity organometallic material is caused to flow into a supply system to be vaporized to form a processing gas, and the processing gas is sent to a processing apparatus for film formation. When performing maintenance work, etc., the part to be maintained is heated at a temperature below the thermal decomposition temperature of the organometallic material to reduce the viscosity of the organometallic material and make it easier to flow. By doing so, most of the organometallic material is removed, and further, an organic solvent that is non-reactive with this metal material is introduced to dissolve and remove the remaining organometallic material, so that it is efficient and reliable. The supply system can be cleaned by removing the organometallic material.

【0050】尚、上記実施例では、供給系の供給方式と
して、有機金属材料を加熱してこの粘度を低下させ、こ
の状態で圧送して気化させる方式を例にとって説明した
が、これに限定されず、バブリング式の供給系等にも適
用し得るのは勿論である。また、半導体ウエハに成膜す
る場合に限られず、他の被処理体、例えばLCD基板や
ガラス基板に成膜する場合にも適用できるのは勿論であ
る。
In the above embodiment, the supply system of the supply system has been described by way of example in which the organometallic material is heated to reduce its viscosity, and pressure-fed in this state to be vaporized. Of course, it can be applied to a bubbling type supply system and the like. Further, it is needless to say that the present invention is not limited to the case of forming a film on a semiconductor wafer, and can be applied to the case of forming a film on another object to be processed such as an LCD substrate or a glass substrate.

【0051】[0051]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の処理ガス
供給系のクリーニング方法によれば、次のように優れた
作用効果を発揮することができる。クリーニングすべき
対象となる供給通路部分を加熱して残留する液状の有機
金属材料の粘度を低下させ、この状態でガスパージを行
なうことにより大部分の有機金属材料を排除し、更に、
上記金属材料と非反応の有機溶媒を導入して残留する有
機金属材料を溶解して除去するようにしたので、クリー
ニングを迅速に且つ確実に行なうことができる。従っ
て、反応性に富む或いは危険な有機金属材料が配管内に
残留することがなく、液体収納容器の交換や各種のメン
テナンス作業を迅速に、且つ安全に行なうことができ
る。特に、有機溶媒の導入操作と、この吸引排除操作を
複数回繰り返し行なうことにより、クリーニングを確実
に行なうことができる。
As described above, according to the cleaning method of the processing gas supply system of the present invention, the following excellent operational effects can be exhibited. The supply passage portion to be cleaned is heated to reduce the viscosity of the remaining liquid organometallic material, and gas purging is performed in this state to remove most of the organometallic material.
Since the organic solvent that does not react with the metal material is introduced to dissolve and remove the remaining organic metal material, cleaning can be performed quickly and reliably. Therefore, a highly reactive or dangerous organometallic material does not remain in the pipe, and the replacement of the liquid storage container and various maintenance operations can be performed quickly and safely. Particularly, cleaning can be surely performed by repeating the operation of introducing the organic solvent and the operation of removing the suction a plurality of times.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のクリーニング方法を実施するための処
理ガス供給系を示す全体構成図である。
FIG. 1 is an overall configuration diagram showing a processing gas supply system for carrying out a cleaning method of the present invention.

【図2】液体流量制御手段の概略構成図である。FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a liquid flow rate control unit.

【図3】図2に示す流量制御手段の動作を示す動作説明
図である。
FIG. 3 is an operation explanatory view showing an operation of the flow rate control means shown in FIG.

【図4】気化手段を示す概略断面図である。FIG. 4 is a schematic sectional view showing a vaporizing means.

【図5】図4に示す気化手段の平面図である。5 is a plan view of the vaporizing means shown in FIG. 4. FIG.

【図6】DMAHの温度と粘度との関係を示すグラフで
ある。
FIG. 6 is a graph showing the relationship between temperature and viscosity of DMAH.

【図7】従来の処理ガス供給系を示す概略構成図であ
る。
FIG. 7 is a schematic configuration diagram showing a conventional processing gas supply system.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

14 処理ガス供給系 16 DMAH(有機金属材料) 18 液体収納容器 20 加熱手段 22 処理装置 24 供給通路 26 圧送手段 28 気化手段 34 圧送管 36 ジョイント 42 ジョイント 48 Arガスボンベ 48A ボンベ開閉弁 52 トラップ開閉弁 54 トラップ管 62 水素ガスボンベ 68A,68B,68C トラップ管 70A,70B,70C トラップ開閉弁 78 パージ管 80 第1の加熱ヒータ 82 第2の加熱ヒータ 84 第3の加熱ヒータ 88 溶媒ボンベ 88A ボンベ開閉弁 W 半導体ウエハ 14 processing gas supply system 16 DMAH (organic metal material) 18 liquid storage container 20 heating means 22 processing device 24 supply passage 26 pressure feeding means 28 vaporization means 34 pressure feeding pipe 36 joint 42 joint 48 Ar gas cylinder 48A cylinder opening / closing valve 52 trap opening / closing valve 54 Trap tube 62 Hydrogen gas cylinder 68A, 68B, 68C Trap tube 70A, 70B, 70C Trap opening / closing valve 78 Purge tube 80 First heating heater 82 Second heating heater 84 Third heating heater 88 Solvent cylinder 88A Bottle opening / closing valve W Semiconductor Wafer

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 液状の高粘度の有機金属材料を、供給通
路を介して気化手段に供給して気化させて処理ガスを形
成し、この処理ガスを処理装置へ供給する処理ガス供給
系を全体的或いは部分的にクリーニングする方法におい
て、クリーニングすべき対象となる供給通路部分を、前
記有機金属材料の粘度を下げる温度で且つこれが熱分解
しない温度範囲で加熱し、前記供給通路部分にパージ用
ガスを流して粘度の低下している有機金属材料を排除
し、次に、前記有機金属材料の粘度を下げた状態で前記
有機金属材料と反応しない有機溶媒を前記供給通路部分
に導入することにより残留する有機金属材料を溶解して
クリーニングするように構成したことを特徴とする処理
ガス供給系のクリーニング方法。
1. A processing gas supply system for supplying a processing gas to a processing apparatus by supplying a liquid high-viscosity organometallic material to a vaporizing means through a supply passage to vaporize the processing gas and supply the processing gas to a processing apparatus. In the method of selectively or partially cleaning, the supply passage portion to be cleaned is heated at a temperature at which the viscosity of the organometallic material is lowered and in a temperature range in which it does not thermally decompose, and the supply passage portion is purged with a gas for purging. To remove the organometallic material whose viscosity has decreased, and then introduce an organic solvent that does not react with the organometallic material into the supply passage portion while the viscosity of the organometallic material is reduced. A method for cleaning a processing gas supply system, characterized in that the organic metal material for cleaning is dissolved and cleaned.
【請求項2】 前記有機金属材料はジメチルアルミニウ
ムハイドライドであることを特徴とする請求項1記載の
処理ガス供給系のクリーニング方法。
2. The method for cleaning a processing gas supply system according to claim 1, wherein the organometallic material is dimethyl aluminum hydride.
【請求項3】 前記有機溶媒は、非アルコール系の炭化
水素系の有機溶媒であることを特徴とする請求項1また
は2記載の処理ガス供給系のクリーニング方法。
3. The cleaning method for the processing gas supply system according to claim 1, wherein the organic solvent is a non-alcohol hydrocarbon organic solvent.
【請求項4】 前記加熱温度は、80℃以下であること
を特徴とする請求項1乃至3記載の処理ガス供給系のク
リーニング方法。
4. The cleaning method for a processing gas supply system according to claim 1, wherein the heating temperature is 80 ° C. or lower.
【請求項5】 前記有機溶媒の導入と、吸引排出を複数
回繰り返し行なうことを特徴とする請求項1乃至4記載
の処理ガス供給系のクリーニング方法。
5. The method for cleaning a processing gas supply system according to claim 1, wherein the introduction of the organic solvent and the suction and discharge are repeated a plurality of times.
【請求項6】 前記有機溶媒は、n−ヘキサン或いはn
−ドデカンであることを特徴とする請求項1乃至5記載
の処理ガス供給系のクリーニング方法。
6. The organic solvent is n-hexane or n-hexane.
-The cleaning method for the processing gas supply system according to claim 1, wherein the cleaning gas supply system is dodecane.
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