JPH09139453A - 半導体冷却装置 - Google Patents

半導体冷却装置

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JPH09139453A
JPH09139453A JP29797095A JP29797095A JPH09139453A JP H09139453 A JPH09139453 A JP H09139453A JP 29797095 A JP29797095 A JP 29797095A JP 29797095 A JP29797095 A JP 29797095A JP H09139453 A JPH09139453 A JP H09139453A
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JP
Japan
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evaporator
heat transfer
transfer surface
semiconductor
cooling device
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JP29797095A
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Yasuo Kahata
安雄 加幡
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 内部に冷媒液を封入し、その外面に少くとも
1個以上の半導体素子を圧接接合した蒸発器と、該蒸発
器から発生する冷媒蒸気を凝縮させ該凝縮した冷媒液を
蒸発器へ循環させる凝縮器3を備えた半導体冷却装置の
冷却効率の向上とバーンアウトの防止。 【解決手段】 内部に冷媒液5を封入し、その外面に少
くとも1個以上の半導体素子1を圧接接合した蒸発器2
と、該蒸発器2から発生する冷媒蒸気を凝縮させ該凝縮
した冷媒液を蒸発器へ循環させる凝縮器3を備えた半導
体冷却装置において、前記半導体素子1を圧接接合した
前記蒸発器内の伝熱面6に密着させて1層以上の金属製
の網13を積層配置したことを特徴とする半導体冷却装
置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、冷媒の沸騰・凝縮
現象を利用した半導体装置の冷却技術に関する。
【0002】
【従来の技術】パワーエレクトロニクス装置(PE装
置)は、電力用及び産業用変換装置の普及、高性能化に
大きく貢献し、その利用範囲は、電力、産業システムか
ら鉄道、昇降機、家庭電気機器に至るまで多岐にわたっ
ている。これらの装置に用いられるGTOやIGBT等
の半導体素子は、大容量化、高速化を指向しており、そ
れに伴ない素子の発熱損失も増大している。また、高速
形の素子は大容量化に限界があるため装置に適用する場
合は素子を直並列に多数接続する必要があり、これらの
素子を効率良く冷却する冷却器の小形、軽量化を図るこ
とが、装置全体をコンパクト化、高性能化を図る上で重
要な技術課題となっている。
【0003】モジュール形半導体素子による半導体装置
において、沸騰冷却器を用いた従来例を図7、図8を用
いて説明する。図7は従来の半導体冷却装置を示す斜視
図であり図8は図7の断面図である。
【0004】半導体冷却装置は半導体素子1を取付ける
蒸発器2と冷媒蒸気7を凝縮させる凝縮器3から成る。
蒸発器2は中空容器であり、内部は冷媒液5で満され、
外壁面に半導体素子1が複数個圧接接合される。図7の
例では半導体素子1が片面6個づつ計12個装着されて
いる。
【0005】半導体素子1に発生した熱は、蒸発器2と
の接合面から、蒸発器壁8を通して蒸発器内部の冷媒液
5へと伝熱する。冷媒液5は蒸発器内壁面上の伝熱面6
で沸騰し、相変化によって冷媒蒸気7となり、伝熱面6
を冷却する。
【0006】蒸発した蒸気7は上方へと移動し、蒸発器
2の上方に設置した凝縮器3へと導かれ、放熱フィン4
を介して大気・水などの2次冷却媒体と熱交換し、再び
凝縮して冷媒液となり、蒸発器2へ戻る。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】図7、図8に示した半
導体冷却装置では、半導体素子1の発熱を、冷媒5の蒸
発・凝縮のサイクルを形成して冷却するもであり、各半
導体素子1に対応する蒸発器2の内壁の伝熱面6からの
冷媒液5の沸騰を促進し、熱伝達性能を向上させること
が半導体装置の高性能化・コンパクト化につながる重要
な課題である。
【0008】伝熱面6からの沸騰促進は、気泡の発生を
助長させ安定化させることにより、伝熱面6上に気泡発
生の核となる気泡核を保持することにある。伝熱面6上
に気泡核が存在する場合、その核を中心に気泡が成長・
離脱を繰り返し、安定した沸騰状態が保たれるのに対
し、気泡核が存在しない場合は、伝熱面6上に気泡核が
形成されるまでに大きな壁面過熱度(伝熱面温度と冷媒
液温度との温度差)が必要であり、沸騰は安定しない。
【0009】伝熱面6上に気泡核を保持する方法として
は金属粒子や金属繊維を伝熱面上に焼結・溶射・鍍金な
どして、多孔質層を形成して気泡核を伝熱面上に保持す
る方法が多種提案されているが(例えば、「伝熱工学資
料 改訂版4版」.p194,日本機械工学,1986
年発行)、半導体冷却装置のように広い伝熱面6に金属
粒子または金属繊維を用いて多孔質層を形成するのは困
難であり、又、焼結・溶射・鍍金等の方法により多孔質
層を形成するため、得られる伝熱性能のばらつきが大き
いという欠点を持っている。そのため、従来の半導体冷
却装置では、伝熱面6からの沸騰を促進する技術に関し
てはほとんど考慮されていないのが現状である。
【0010】又、半導体素子1の発熱量が多くなり、伝
熱面6の熱流束が高くなると、伝熱面6からの冷媒液5
の沸騰が核沸騰から膜沸騰へと移行するバーンアウト現
象が生じ、伝熱面6温度が急に上昇して、半導体素子1
を破壊する危険性が高くなって来る。
【0011】図9は、垂直伝熱面のバーンアウト現象を
模式的に示した説明図である。熱流束が高くなると、気
泡核からの蒸気発生はほとんど連続的となり蒸気ジェッ
ト9を形成し、発生した蒸気は他の蒸気核から発生した
蒸気と合体して蒸気塊10を形成しながら上へと上昇す
る。伝熱面6の冷却には伝熱面6への冷媒液5の供給が
必要であるが、伝熱面6の上方位置ほど蒸気塊10は大
きくなり冷媒液5の供給を妨げる。伝熱面6のバーンア
ウトは、蒸気塊10と伝熱面6との間に存在する薄い冷
媒液5の膜12が新たに冷媒液5が伝熱面6に流入する
前に蒸発乾燥した場合に生じ、図中11で示したように
伝熱面6が冷媒蒸気で覆われると熱伝達性能が極端に低
下するため、伝熱面温度が急上昇し、それに追従して半
導体素子1の温度が上昇し、暴走・破壊の原因となる。
【0012】複数の半導体素子1を複数段に配列して半
導体冷却装置を構成する場合、下方の伝熱面6から発生
した蒸気が上方の伝熱面上を通過するため、上方位置の
伝熱面周りの冷媒蒸気の比率が高くなるため、上方位置
の伝熱面6においてバーンアウトする可能性が高くな
る。また、バーンアウトに至らないまでも上方位置の伝
熱面6への冷媒液の供給が妨げられるため、上方位置の
伝熱面6ほど高い温度を示し、各半導体素子1間で温度
差が生じ、許容範囲以上の温度差が各半導体素子1間に
生じた場合、各半導体素子1の性能がアンバランスにな
り半導体素子1によて構成される回路の暴走等の危険性
が高くなる。
【0013】本発明は、前述のような事情に鑑みなされ
たもので、その目的は、内部に冷媒液を封入し、その外
面に少くとも1個以上の半導体素子を圧接接合した蒸発
器と該蒸発器から発生する冷媒蒸気を凝縮させ該凝縮し
た冷媒液を蒸発器へ循環させる凝縮器を備えた半導体冷
却装置において、前記半導体素子を圧接した前記蒸発器
内の伝熱面上にに多孔質層を形成し、伝熱面からの沸騰
を促進して、冷却性能の優れた半導体冷却装置を提供す
ることにある。
【0014】又、本発明の他の目的は、内部に冷媒液を
封入し、その外面に複数個の半導体素子を垂直方向に複
数段圧接接合した蒸発器と、該蒸発器から発生する冷媒
蒸気を凝縮させ、該凝縮した冷媒液を蒸発器へ循環させ
る凝縮器を備えた半導体冷却装置において、下方位置の
伝熱面から発生した気泡が上方位置の伝熱面を干渉する
ことなく上昇し、上方位置の伝熱面がバーンアウトする
危険性を極めて低くしたことを特徴とする半導体冷却装
置を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に記載に関わる発明は、内部に冷媒液を封
入し、その外面に少くとも1個以上の半導体素子を圧接
接合した蒸発器と、該蒸発器から発生する冷媒蒸気を凝
縮させ該凝縮した冷媒液を蒸発器へ循環させる凝縮器を
備えた半導体冷却装置において、半導体素子を圧接接合
した蒸発器の伝熱面に密着させて1層以上の金属製の網
を積層配置したことを特徴とする。
【0016】又、請求項2に関わる発明は、請求項1に
記載の半導体冷却装置において、1層以上の金属製の網
を密着積層配置する伝熱面を球面状にしたこを特徴とす
る。又、請求項3に関わる発明は、内部に冷媒液を封入
し、その外面に複数個の半導体素子を垂直方向に複数段
圧接接合した蒸発器と、該蒸発器から発生する冷媒蒸気
を凝縮させ、該凝縮した冷媒液を蒸発器へ循環させる凝
縮器を備えた半導体冷却装置において、前記半導体素子
を圧接接合した前記蒸発器内の伝熱面の下方或いは上方
のいずれか一方を前記蒸発器の内壁面より高くし前記伝
熱面に傾斜を持たせたことを特徴とする。
【0017】又、請求項4に関わる発明は、内部に冷媒
液を封入し、その外面に複数個の半導体素子を垂直方向
に複数段圧接接合した蒸発器と、該蒸発器から発生する
冷媒蒸気を凝縮させ、該凝縮した冷媒液を蒸発器へ循環
させる凝縮器を備えた半導体冷却装置において、前記半
導体素子を圧接接合した前記蒸発器内の伝熱面の高さを
下方に位置する伝熱面ほど高くしたことを特徴とする。
【0018】更に、請求項5に関わる発明は、内部に冷
媒液を封入し、その外面に複数個の半導体素子を垂直方
向に複数段圧接接合した蒸発器と、該蒸発器から発生す
る冷媒蒸気を凝縮させ、該凝縮した冷媒液を蒸発器へ循
環させる凝縮器を備えた半導体冷却装置において、下方
位置の伝熱面から発生した蒸気泡が上方位置の伝熱面上
を通過しないように伝熱面下部にガイドを設けたことを
特徴としている。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について図
面を参照して説明する。図1は請求項1に関わる発明の
一実施例を示す構成図である。図1に示した実施例の基
本的構成は図7、図8に示した従来の半導体冷却装置と
同様であり、図7、図8において、既に示した部品につ
いては、以下においても同じ番号を付している。
【0020】請求項1の発明に関わる半導体冷却装置は
半導体素子1を取付ける蒸発器2と冷媒蒸気を凝縮させ
る凝縮器3から成る。蒸発器2は中空容器であり、内部
は冷媒液5で満され、外壁面に半導体素子1が複数個圧
接接合されている。半導体素子1が接合された蒸発器壁
8の内側面が伝熱面6に密着させて1層以上の金属製の
網13を積層配置することにより、伝熱面上に多孔質が
形成される。
【0021】半導体素子1に発生した熱は、蒸発器2と
の接合面から蒸発器壁面8を通して蒸発器内部の冷媒液
5へと伝熱する。冷媒液5は蒸発器内壁面上の伝熱面6
で沸騰し、層変化によって冷媒蒸気となり、伝熱面6を
冷却する。
【0022】この時、金属製の網13によって形成され
た多孔質層に気泡核が保持されるため、安定して気泡の
成長・脱離が繰り返され、高い冷却性能が得られる。発
生した蒸気7は上方へと移動し、蒸発器2の上方に設置
した凝縮器3へと導かれ、大気、水などの2次冷却媒体
と熱交換し、再び凝縮して冷媒液となり、蒸発器2へ戻
る。
【0023】図2は請求項2に記載の発明の一実施例を
示す構成図で、蒸発器2の半導体素子1の取付け部分の
拡大図である。本実施例では、伝熱面6に対応する蒸発
器壁面8を球面状とし、その伝熱面に密着させて金属製
の網13を積層配置している。金属製の網13は伝熱面
6にできるだけ密着して配置することが望ましいが、金
網13を伝熱面外周に沿って押えて固定する場合、伝熱
面を球面状にしたことにより、金網13に張力が働き、
伝熱面への密着性が向上する。
【0024】図3は請求項3に記載の発明の一実施例を
示す構成図で、蒸発器2内の伝熱面6の形状を下方ほど
蒸発器内壁面より高くし、伝熱面6に傾斜を設けてい
る。伝熱面6の上方に向って傾斜を設けることにより、
伝熱面6から発生した気泡が上昇する過程で上方の伝熱
面6への冷媒液5の供給を妨げることが極めて少なくな
る。特に、半導体素子1からの発熱が大きくなり伝熱面
6から発生した蒸気が図9に示したような蒸気塊10を
形成し、伝熱面6への冷媒液5の供給を妨げようとして
も、伝熱面6に傾斜が設けてあるため蒸気塊10と伝熱
面6との距離が伝熱面6が垂直の場合よりも広く保た
れ、バーンアウトする危険性が低くなる。
【0025】図3の実施例は、蒸発器2内の伝熱面6の
形状を下方ほど蒸発器内壁面より高くし、伝熱面6に傾
斜を設けているが、この逆にしても同様な効果を得るこ
とができる。即ち、蒸発器2内の伝熱面6の形状を下方
より上方を蒸発器内壁面より高くし、伝熱面6に傾斜を
設けても良い。
【0026】図4は、請求項4に記載の発明の一実施例
を示す構成図である。下方の伝熱面6を蒸発器2内壁面
より高くし、その高さを下方に位置する伝熱面6ほど高
くしている。
【0027】請求項4に関わる本発明は、複数個の半導
体素子1を垂直方向に複数段圧接した導体冷却装置の場
合に適用するもので、同一面上に伝熱面を配置した場
合、下段伝熱面から発生した気泡が、上段の伝熱面より
発生した気泡と合体するため上段伝熱面でバーンアウト
する危険性が高くなるが、請求項4に関わる本発明では
複数段ある伝熱面6の位置が異るため、下段伝熱面6か
ら発生した冷媒蒸気の影響を受け難くなり、上段伝熱面
6でバーンアウトする危険性がほとんど無くなり装置の
信頼性が向上する。
【0028】図5は、請求項5に記載の発明の一実施例
を示す構成図である。図6は図5におけるA―A矢視断
面図である。請求項5に記載の発明では、下方位置の伝
熱面6から発生した蒸気泡が上方位置の伝熱面6上を通
過しないように伝熱面6の下部にガイド14を設けてい
る。図6に示した実施例では、ガイド14の形状を半円
型として、通過する蒸気が上部伝熱面の側面を通過し易
いようにしており、各伝熱面6から発生した気泡は、図
6に矢印で示すような経路で上昇する。
【0029】請求項5に記載の発明は、複数個の半導体
素子を垂直方向に複数段圧接した半導体冷却装置の場合
に適用されるものであり、上方ほど冷媒の蒸気含有率が
大きくなり、上方に位置する伝熱面6ほど冷媒供給が妨
げられて、バーンアウトや、上下素子間の温度差が生じ
る原因となるが、ガイド14を設けたことにより上方伝
熱面でバーンアウトする危険性が極めて低くなると共に
上下半導体素子1間の温度差を小さく保つことができ、
信頼性の高い安定し回路性能を得ることができる。
【0030】
【発明の効果】以上説明のように、請求項1、請求項2
に関わる発明によると伝熱面に密着させて1層以上の金
属製の網を積層配置することにより、伝熱面上に多孔質
層が形成され、気泡核を保持する効果があるため、伝熱
面から安定して蒸気が発生し、高い冷却性能が得られ
る。伝熱面からの冷却性能が向上することにより、素子
の過熱に起因して発生していた故障等の可能性が低くな
り装置の信頼性が高くなると共に、冷媒の作動圧力の低
減を図ることができ、装置全体のコンパクト化にも大き
く寄与する。
【0031】多孔質層の最適な孔径は、使用する冷媒、
圧力、温度条件、熱流速等の冷却条件により変化するた
め、金属粒子や金属繊維を焼結・溶射・鍍金等により目
的の孔径に多孔質層を形成することが困難であり、ま
た、製作ごとのばらつきも大きい。しかし、本発明によ
れば多孔質層形成に使用する金網の線径及びメッシュピ
ッチ、積層枚数を適当に選ぶことにより、最適な孔径の
多孔質層を形成することができる。又、伝熱面ごとの孔
径のばらつきも小さく、安定して高い伝熱性能を得るこ
とができる。
【0032】又、請求項3、請求項4及び請求項5に関
わる発明によれば、半導体素子からの発熱が大きくなり
下方の伝熱面から発生した蒸気が上方の伝熱面から発生
する蒸気と合体することなく、伝熱面への冷媒液の供給
が十分行われるため、バーンアウトする危険性がほとん
ど無くなり上下半導体素子間の温度差を小さく保つこと
ができ、安定した回路性能を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1の発明の一実施例を示す半導体冷却装
置の断面図。
【図2】請求項2の発明の一実施例を示す半導体冷却装
置の半導体素子取付け部分の断面図。
【図3】請求項3の発明の一実施例を示す半導体冷却装
置の断面図。
【図4】請求項4の発明の一実施例を示す半導体冷却装
置の断面図。
【図5】請求項5の発明の一実施例を示す半導体冷却装
置の断面図。
【図6】[図5]に示すA―A断面図。
【図7】従来の半導体冷却装置の基本構成を示す斜視
図。
【図8】[図7]の断面図。
【図9】バーンアウト現象の模式図。
【符号の説明】
1 …半導体素子 2 …蒸
発器 3 …凝縮器 4 …放
熱フィン 5 …冷媒液 6 …伝
熱面 7 …冷媒蒸気 8 …蒸
発器壁面 9 …蒸気ジェット 10 …蒸
気塊 11 …バーンアウト点 12 …冷
媒液膜 13 …金属製の網 14 …ガ
イド 7 …冷媒蒸気 8 …蒸
発器壁

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部に冷媒液を封入し、その外面
    に少くとも1個以上の半導体素子を圧接接合した蒸発器
    と、該蒸発器から発生する冷媒蒸気を凝縮させ該凝縮し
    た冷媒液を蒸発器へ循環させる凝縮器を備えた半導体冷
    却装置において、前記半導体素子を圧接接合した前記蒸
    発器内の伝熱面に密着させて1層以上の金属製の網を積
    層配置したことを特徴とする半導体冷却装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の半導体冷却装置
    において、1層以上の金属製の網を密着積層配置する伝
    熱面を球面状にしたこを特徴とする半導体冷却装置。
  3. 【請求項3】 内部に冷媒液を封入し、その外面
    に複数個の半導体素子を垂直方向に複数段圧接接合した
    蒸発器と、該蒸発器から発生する冷媒蒸気を凝縮させ、
    該凝縮した冷媒液を蒸発器へ循環させる凝縮器を備えた
    半導体冷却装置において、前記半導体素子を圧接接合し
    た前記蒸発器内の伝熱面の下方或いは上方のいずれか一
    方を前記蒸発器の内壁面より高くし前記伝熱面に傾斜を
    持たせたことを特徴とする半導体冷却装置。
  4. 【請求項4】 内部に冷媒液を封入し、その外面
    に複数個の半導体素子を垂直方向に複数段圧接接合した
    蒸発器と、該蒸発器から発生する冷媒蒸気を凝縮させ、
    該凝縮した冷媒液を蒸発器へ循環させる凝縮器を備えた
    半導体冷却装置において、前記半導体素子を圧接接合し
    た前記蒸発器内の伝熱面の高さを下方に位置する伝熱面
    ほど高くしたことを特徴とする半導体冷却装置。
  5. 【請求項5】 内部に冷媒液を封入し、その外面
    に複数個の半導体素子を垂直方向に複数段圧接接合した
    蒸発器と、該蒸発器から発生する冷媒蒸気を凝縮させ、
    該凝縮した冷媒液を蒸発器へ循環させる凝縮器を備えた
    半導体冷却装置において、下方位置の伝熱面から発生し
    た蒸気泡が上方位置の伝熱面上を通過しないように伝熱
    面下部にガイドを設けたことを特徴とする半導体冷却装
    置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008091700A (ja) * 2006-10-03 2008-04-17 Toyota Motor Corp 半導体装置
JP2010050326A (ja) * 2008-08-22 2010-03-04 Denso Corp 冷却装置
WO2010104080A1 (ja) * 2009-03-10 2010-09-16 トヨタ自動車株式会社 沸騰冷却装置
JP2012089642A (ja) * 2010-10-19 2012-05-10 Fujitsu Ltd 電子装置、半導体装置、サーマルインターポーザ及びその製造方法
US10271458B2 (en) 2015-03-25 2019-04-23 Mitsubishi Electric Corporation Cooling device, power conversion device, and cooling system

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008091700A (ja) * 2006-10-03 2008-04-17 Toyota Motor Corp 半導体装置
JP2010050326A (ja) * 2008-08-22 2010-03-04 Denso Corp 冷却装置
WO2010104080A1 (ja) * 2009-03-10 2010-09-16 トヨタ自動車株式会社 沸騰冷却装置
JP2010212402A (ja) * 2009-03-10 2010-09-24 Toyota Motor Corp 沸騰冷却装置
CN102349152A (zh) * 2009-03-10 2012-02-08 丰田自动车株式会社 沸腾冷却装置
JP2012089642A (ja) * 2010-10-19 2012-05-10 Fujitsu Ltd 電子装置、半導体装置、サーマルインターポーザ及びその製造方法
US10271458B2 (en) 2015-03-25 2019-04-23 Mitsubishi Electric Corporation Cooling device, power conversion device, and cooling system

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