JPH09124658A - Elimination of organometal - Google Patents

Elimination of organometal

Info

Publication number
JPH09124658A
JPH09124658A JP28331895A JP28331895A JPH09124658A JP H09124658 A JPH09124658 A JP H09124658A JP 28331895 A JP28331895 A JP 28331895A JP 28331895 A JP28331895 A JP 28331895A JP H09124658 A JPH09124658 A JP H09124658A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
organic metal
ether
lewis base
valve
organometal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28331895A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhisa Kajiwara
和久 梶原
Tadaaki Yako
忠明 八子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Chemical Co Ltd filed Critical Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority to JP28331895A priority Critical patent/JPH09124658A/en
Publication of JPH09124658A publication Critical patent/JPH09124658A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Detergent Compositions (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate organometal(s) from the inside of apparatus(es) safely and completely in a simple operation by adding a Lewis base to the organometal(s). SOLUTION: A Lewis base (e.g. diethyl ether, dibutyl ether, methyl butyl ether, anisole, diphenyl ether, dimethoxyethane, ethylene glycol dimethyl ether, tetrahydrofuran, dioxane) is added to organometal(s) lying adhered and left inside apparatus(es) or piping(s) (e.g. dimethylaluminum hydride trimethylaluminum, triethylaluminum, aminoalane, trimethylgallium, triethylgallium) to eliminate the organometal(s). It is preferable that the amount of the Lewis base to be added be pref. >=0.01 (more pref. 0.01-10)wt.% based on the organometal (s).

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、有機金属の除外方
法に係わり、更に詳細にはルイス塩基を添加する事を特
徴とする有機金属の除外方法に関するものであり、ジメ
チルアルミニウムハイドライド、トリメチルアルミニウ
ム、トリエチルアルミニウム、アミンアラン、トリメチ
ルガリウム、トリエチルガリウム、トリメチルインジウ
ムおよびトリエチルガリウム等のような有機金属、すな
わち空気中で発火する化合物が付着し残存している装
置、或いは配管などから、該有機金属を安全かつ完全に
除外し得る有機金属の除外方法を提供するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for excluding organic metal, and more particularly to an organic metal excluding method characterized by adding a Lewis base, such as dimethyl aluminum hydride, trimethyl aluminum, Safely protect organic metals from organic metals such as triethylaluminum, amine alane, trimethylgallium, triethylgallium, trimethylindium, and triethylgallium, that is, devices or pipes where compounds that ignite in the air adhere and remain. In addition, the present invention provides a method of excluding organic metals that can be completely excluded.

【0002】[0002]

【従来の技術】有機金属は空気中で発火するため、該有
機金属が付着し残存している装置を解体する場合には、
(1)事前に装置および配管内を加熱し有機金属を蒸発
させ、これを真空吸引することにより、残存する有機金
属を取り除く方法、(2)有機金属を溶解し、かつ該有
機金属とは反応しないヘキサン、ヘプタン等の有機溶液
で洗浄除去する方法、が考えられる。
2. Description of the Related Art Since organic metal is ignited in the air, when dismantling a device in which the organic metal adheres and remains,
(1) A method of removing the remaining organic metal by heating the inside of the apparatus and the piping in advance to evaporate the organic metal, and vacuum suctioning this, (2) dissolving the organic metal and reacting with the organic metal A method of washing and removing with an organic solution such as hexane or heptane is considered.

【0003】しかしながら(1)粘度の高いジメチルア
ルミニウムハイドライドのような有機金属の場合には、
加熱して真空吸引するだけでは除外できないことが多
く、装置および配管内に残存する有機金属が発火する、
過熱による有機金属の分解物によって装置が汚れるなど
の問題を生じていた。(2)の有機溶液で洗浄する方法
はバルブや配管の溜まり部分の洗浄が困難で特に高粘度
の有機金属は溶解し難く残存する有機金属が発火する、
微量の有機金属に対して数十から数百倍の洗浄液を導入
・回収するシステムが必要である等の問題点を有してい
た。
However, (1) in the case of an organic metal such as dimethyl aluminum hydride having a high viscosity,
In many cases, it cannot be excluded only by heating and vacuum suction, and the organic metal remaining in the equipment and piping ignites.
Problems such as soiling of the device have been caused by decomposition products of organic metals due to overheating. In the method of washing with the organic solution of (2), it is difficult to wash the accumulated portion of the valve or the pipe, particularly the highly viscous organometal is difficult to dissolve, and the remaining organometal is ignited.
There is a problem such as the need for a system for introducing and recovering a washing liquid several tens to several hundreds times the amount of a trace amount of organic metal.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】かかる事情下に鑑み、
本発明者らは、作業が容易で、安全かつ完全に装置内よ
り有機金属を除外できる方法を見い出すことを目的とし
鋭意検討した結果、有機金属にルイス塩基を添加する場
合には、上記目的を全て満足し得ることを見い出し、本
発明を完成するに至った。
In view of such circumstances, in view of the above circumstances,
The present inventors have conducted an intensive study for the purpose of finding a method that is easy to perform, safe and can completely exclude an organic metal from the inside of an apparatus.As a result, when adding a Lewis base to an organic metal, They have found that they are all satisfactory, and have completed the present invention.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、ルイ
ス塩基を添加する事を特徴とする有機金属の除外方法を
提供するものである。
That is, the present invention provides a method for excluding organic metals, which is characterized by adding a Lewis base.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】以下、本発明を詳細に説明する。
本発明の除外方法が対象とする有機金属はMOCVD装
置などで適用されている有機金属であり、その種類は特
に制限されるものではないが、例えばジメチルアルミニ
ウムハイドライド、トリメチルアルミニウム、トリエチ
ルアルミニウム、アミンアラン、トリメチルガリウム、
トリエチルガリウム、トリメチルインジウム、トリエチ
ルガリウムのような化合物が挙げられ、就中、ジメチル
アルミニウムハイドライドが挙げられる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the present invention will be described in detail.
The organic metal targeted by the exclusion method of the present invention is an organic metal applied in a MOCVD device or the like, and the type thereof is not particularly limited, but for example, dimethyl aluminum hydride, trimethyl aluminum, triethyl aluminum, amine alane. , Trimethylgallium,
Compounds such as triethylgallium, trimethylindium, triethylgallium are mentioned, among which dimethylaluminum hydride.

【0007】有機金属に添加するルイス塩基とは具体的
にはジエチルエーテル、ジブチルエーテル、メチルブチ
ルエーテル、ジフェニルエーテル、ベンジルエーテル、
ジメトキシエタン、ジエトキシエタン、エチレングリコ
ールジメチルエーテル、テトラヒドロフラン(以下、T
HFと称す)、ジオキサン、トリエチルアミン、トリオ
クチルアミン、ジメチルプロピルアミン、ジメチルドデ
シルアミン、ジメチルアミノトリメチルシラン、ジメチ
ルアリルアミン、ジイソプロピルエチルアミン、ジメチ
ルアニリン、ベンジルエチルアニリン、テトラメチルエ
チレンジアミン、テトラメチルジアミノプロパン、テト
ラメチルヘキサメチレンジアミン、ピリジン、ジメチル
アミノピリジン、コリジン、ピラジン、ジメチルピラジ
ン、キノリン、イソキノリン、キナルジン、ベンジルメ
チルイミダゾール、硫化ジメチル、硫化ジエチル、硫化
ジフェニル、チオフェン、トリエチルホスフィン、トリ
フェニルホスフィン、トリエチルアルシンなどが挙げら
れる。これらは1種、或いは2種以上用いても良い。就
中、ジエチルエーテル、THFの使用が推奨される。
The Lewis base added to the organic metal is specifically diethyl ether, dibutyl ether, methyl butyl ether, diphenyl ether, benzyl ether,
Dimethoxyethane, diethoxyethane, ethylene glycol dimethyl ether, tetrahydrofuran (hereinafter T
HF), dioxane, triethylamine, trioctylamine, dimethylpropylamine, dimethyldodecylamine, dimethylaminotrimethylsilane, dimethylallylamine, diisopropylethylamine, dimethylaniline, benzylethylaniline, tetramethylethylenediamine, tetramethyldiaminopropane, tetramethyl. Hexamethylenediamine, pyridine, dimethylaminopyridine, collidine, pyrazine, dimethylpyrazine, quinoline, isoquinoline, quinaldine, benzylmethylimidazole, dimethyl sulfide, diethyl sulfide, diphenyl sulfide, thiophene, triethylphosphine, triphenylphosphine, triethylarsine, etc. To be You may use these 1 type (s) or 2 or more types. Above all, the use of diethyl ether and THF is recommended.

【0008】これらルイス塩基は有機金属に対し約0.
01重量%以上、好ましくは約0.01重量%〜約10
重量%の範囲で用いられるが、この範囲に特に制限され
るものではない。上限については、有機金属の量が多い
場合にはルイス塩基との配位熱により発熱し沸騰や分解
を生じたり、有機金属とルイス塩基の配位化合物は通常
高沸点で除外し難くなる場合が多いので100重量%程
度で用いるのは好ましくない。しかし有機金属の量が少
なく配位熱による問題がなければ、100重量%以上の
ルイス塩基を用いても洗浄可能である。
These Lewis bases are about 0.
01% by weight or more, preferably about 0.01% by weight to about 10%
It is used in the range of wt%, but is not particularly limited to this range. Regarding the upper limit, when the amount of the organic metal is large, it may be heated by the heat of coordination with the Lewis base to cause boiling or decomposition, or the coordination compound of the organic metal and the Lewis base is usually a high boiling point and may be difficult to exclude. Since it is large, it is not preferable to use it at about 100% by weight. However, if the amount of the organic metal is small and there is no problem due to the heat of coordination, it is possible to wash even with 100% by weight or more of Lewis base.

【0009】以下、本発明の除外方法を図面を用いて説
明するが、該方法は一例であり、本発明の有機金属の除
外方法の適用範囲を制限するものではない。図1は通常
公知の有機金属の薄膜形成装置に、本発明を実施する目
的でルイス塩基容器と有機金属回収容器を配置した例を
示すものである。図に於いて、1は有機金属容器、2は
有機金属薄膜形成装置(以下MOCVD装置と称す
る)、3はルイス塩基容器、4は有機金属回収容器、5
〜10はバルブ、11は真空吸引装置を示す。
Hereinafter, the exclusion method of the present invention will be described with reference to the drawings, but the method is merely an example and does not limit the scope of application of the organometallic exclusion method of the present invention. FIG. 1 shows an example in which a Lewis base container and an organic metal recovery container are arranged in a generally known organic metal thin film forming apparatus for the purpose of carrying out the present invention. In the figure, 1 is an organic metal container, 2 is an organic metal thin film forming apparatus (hereinafter referred to as MOCVD apparatus), 3 is a Lewis base container, 4 is an organic metal recovery container, 5
10 to 10 are valves, and 11 is a vacuum suction device.

【0010】図1の装置に於いては、通常公知の有機金
属を用いた基体への金属薄膜形成方法と同様に、有機金
属容器1の上部に配設されたバルブ5および薄膜形成装
置2の入り口部に配設されたバルブ6を開き、バルブ9
より水素、アルゴン、窒素などの不活性ガスを導入し、
有機金属を配管を経由して、薄膜形成装置2に導入し、
該装置内の基板上に金属薄膜を形成する。通常少量の有
機金属を導入する場合には加熱或いはバブリングなどを
併用して該不活性ガスに有機金属を同伴させるが、多量
に導入する場合には、有機金属を液体のまま薄膜形成装
置2へ導入する。本発明は特に後者の除外に有効であ
り、図1は後者の一例を示している。
In the apparatus shown in FIG. 1, the valve 5 and the thin film forming apparatus 2 arranged on the upper part of the organic metal container 1 are arranged in the same manner as in a generally known method for forming a metal thin film on a substrate using an organic metal. Open the valve 6 installed at the entrance to open the valve 9
More inert gas such as hydrogen, argon, nitrogen is introduced,
Introduce organic metal into the thin film forming apparatus 2 via a pipe,
A metal thin film is formed on a substrate in the device. Usually, when a small amount of organic metal is introduced, heating or bubbling is also used to cause the inert gas to accompany the organic metal. However, when a large amount of organic metal is introduced, the organic metal remains as a liquid in the thin film forming apparatus 2. Introduce. The present invention is particularly effective in excluding the latter, and FIG. 1 shows an example of the latter.

【0011】基板上に金属薄膜を形成した後、従来法で
はバルブ5、バルブ6を閉とし、該配管内を加熱し、配
管内に残存する有機金属を溶解、揮散除去するか、或い
は有機金属を溶解し得る溶液、例えばヘキサン、ヘプタ
ン等で配管内部を洗浄していた。本発明に於いては、ル
イス塩基がバルブ7を介して有機金属容器1と薄膜形成
装置2を接続する配管内に導入し得る如くルイス塩基容
器3が設置されている。しかして、該ルイス塩基容器3
上部にはバルブ10が配設されており、所定量のルイス
塩基がバルブ10より容器3内に供給される。一方、有
機金属容器1と薄膜形成装置2を接続する配管にはバル
ブ8を介して真空吸引装置11を有する有機金属回収容
器4が配設されている。
After forming the metal thin film on the substrate, in the conventional method, the valves 5 and 6 are closed and the inside of the pipe is heated to dissolve and volatilize and remove the organic metal remaining in the pipe, or The inside of the pipe was washed with a solution capable of dissolving the above, such as hexane and heptane. In the present invention, the Lewis base container 3 is installed so that the Lewis base can be introduced into the pipe connecting the organometallic container 1 and the thin film forming apparatus 2 via the valve 7. Then, the Lewis base container 3
A valve 10 is arranged at the upper part, and a predetermined amount of Lewis base is supplied from the valve 10 into the container 3. On the other hand, an organic metal recovery container 4 having a vacuum suction device 11 is arranged via a valve 8 in a pipe connecting the organic metal container 1 and the thin film forming apparatus 2.

【0012】該装置での除外方法としては特に制限され
ないが、以下の手順で実施することができる。 バルブ7を閉じ、バルブ10より所定量のルイス塩基
を容器3内に供給し、バルブ10を閉じる。 バルブ5、6および8を閉じ、バルブ7を開としてル
イス塩基を配管内に導入する。 バルブ7を閉じ、有機金属回収容器4に配設された真
空吸引機11により真空吸引しつつ、バルブ8を開き、
配管内の有機金属を有機金属回収容器4内に回収する。 更に洗浄の程度により〜の操作を数回繰り返す。
The method of exclusion in the apparatus is not particularly limited, but the following procedure can be carried out. The valve 7 is closed, a predetermined amount of Lewis base is supplied from the valve 10 into the container 3, and the valve 10 is closed. Valves 5, 6 and 8 are closed and valve 7 is opened to introduce the Lewis base into the pipe. The valve 7 is closed, and the valve 8 is opened while vacuum suction is performed by the vacuum suction device 11 provided in the organic metal recovery container 4.
The organic metal in the pipe is recovered in the organic metal recovery container 4. Further, the operations of to are repeated several times depending on the degree of washing.

【0013】なお洗浄に際し、バルブ5〜8を閉じ、こ
の間の配管を加熱し、有機金属回収容器4に配設された
真空吸引機11で真空吸引しつつ、バルブ8を開として
有機金属回収容器4内に配管内の有機金属を予め回収す
ることも可能である。この場合配管の加熱温度は有機金
属の分解温度以下の温度を適用すればよい。また、有機
金属回収容器4は室温でもかまわないが、冷却してある
方が有機金属などが真空吸引機11側へ逃げないので好
ましい。かかる操作を実施することにより、配管内の器
壁はもとより配管の溜まり部、バルブの間隙に残存、付
着する有機金属を容易に洗浄、除去することができる。
During the cleaning, the valves 5 to 8 are closed, the piping between them is heated, and while the vacuum suction device 11 provided in the organic metal recovery container 4 performs vacuum suction, the valve 8 is opened to open the organic metal recovery container. It is also possible to collect the organic metal in the pipe in advance in 4. In this case, the heating temperature of the pipe may be a temperature below the decomposition temperature of the organic metal. Although the organic metal recovery container 4 may be at room temperature, it is preferable to cool the organic metal recovery container 4 because organic metal or the like does not escape to the vacuum suction device 11 side. By carrying out such an operation, it is possible to easily wash and remove the organic metal remaining and adhering not only to the vessel wall in the pipe but also to the reservoir of the pipe and the gap between the valves.

【0014】[0014]

【発明の効果】本発明の有機金属の除外方法は従来、洗
浄が困難であった配管やバルブの液溜まり部も容易に洗
浄除去する事ができるので、製造や出荷のための有機金
属の容器への充填などの有機金属取り扱い作業や、MO
CVD装置での有機金属容器の取り替え、或いはMOC
VD装置に用いる原料有機金属の切り替えにより生起す
る配管分解時の発火、発煙もなく、安全に作業し得ると
の効果を奏する。
EFFECTS OF THE INVENTION According to the method of removing an organic metal of the present invention, the liquid pool portion of a pipe or a valve, which has been difficult to wash in the past, can be easily washed and removed. Metal-filling work such as filling metal and MO
Replacement of metalorganic container in CVD equipment or MOC
There is no effect of ignition and smoke when the pipe is disassembled, which is caused by switching the raw material organic metal used in the VD device, and it is possible to safely work.

【0015】[0015]

【実施例】以下、実施例により本発明を更に詳細に説明
するが、本発明範囲は実施例により限定されるものでは
ない。なお、実施例は図1記載の装置を用いた。
EXAMPLES The present invention will be described in more detail with reference to examples below, but the scope of the present invention is not limited to the examples. The apparatus shown in FIG. 1 was used in the examples.

【0016】実施例1 有機金属容器1内の市販のDMAH(住友化学工業株式
会社製)をバルブ9からアルゴンを導入し0.2kg/
cm2 に加圧し、バルブ5および6を開けて、DMAH
をMOCVD装置2内に供給し、その後、バルブ5、
6、9を閉じ、真空吸引機11を稼動させた後、バルブ
8を開け、配管内に残存するDMAHを回収容器4へ回
収した。その際、回収容器4はヘキサン/ドライアイス
で−70℃まで冷却し、配管は50℃に加熱した。次い
でバルブ10からTHFを0.1mlをルイス塩基容器
3へ導入してバルブ10を閉じた後、バルブ8を閉じ、
バルブ7を開けてTHFを配管内に導入した。その後バ
ルブ7を閉めて、再びバルブ8を開け有機金属を回収タ
ンク4へ回収した。このTHFを導入する操作と有機金
属を回収する操作を3回繰り返した後、配管5および6
を取り外したが、何れの配管からも白煙の発生は見られ
なかった。
Example 1 A commercially available DMAH (manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.) in the organometallic container 1 was introduced with argon from a valve 9 to obtain 0.2 kg /
Pressurize to cm 2 , open valves 5 and 6 and DMAH
Is supplied to the MOCVD apparatus 2, and then the valve 5 and
After closing 6 and 9, the vacuum suction device 11 was operated, the valve 8 was opened, and the DMAH remaining in the pipe was recovered in the recovery container 4. At that time, the recovery container 4 was cooled to −70 ° C. with hexane / dry ice, and the pipe was heated to 50 ° C. Then, 0.1 ml of THF was introduced from the valve 10 into the Lewis base container 3 to close the valve 10, and then the valve 8 was closed.
The valve 7 was opened and THF was introduced into the pipe. After that, the valve 7 was closed and the valve 8 was opened again to collect the organic metal in the recovery tank 4. After repeating the operation of introducing THF and the operation of recovering the organic metal three times, the pipes 5 and 6
However, no white smoke was observed in any of the pipes.

【0017】比較例1 THFを用いず、実施例1と全く同様に除外操作を行っ
た後、配管5および6を取り外したところ、何れの配管
からも有機金属による発火を生じた。
COMPARATIVE EXAMPLE 1 Without using THF, the same exclusion procedure as in Example 1 was carried out, and then the pipes 5 and 6 were removed. As a result, ignition was caused by an organic metal from both pipes.

【0018】比較例2 THF0.1mlをヘプタン10mlに代えた他は実施
例1と全く同様に除外操作を行った後、配管5および6
を取り外したところ、何れの配管からも有機金属による
白煙が発生した。
COMPARATIVE EXAMPLE 2 Except that 0.1 ml of THF was replaced with 10 ml of heptane, the same exclusion procedure as in Example 1 was carried out, and then pipes 5 and 6 were used.
When the pipe was removed, white smoke was generated from the organic metal from all the pipes.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】有機金属の除外方法の適用例を示す。FIG. 1 shows an application example of an organic metal exclusion method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:有機金属容器 2:有機金属薄膜形成装置 3:ルイス塩基容器 4:有機金属回収容器 5:バルブ 6:バルブ 7:バルブ 8:バルブ 9:バルブ 10:バルブ 11:真空吸引装置 1: Organometallic container 2: Organometallic thin film forming device 3: Lewis base container 4: Organometallic recovery container 5: Valve 6: Valve 7: Valve 8: Valve 9: Valve 10: Valve 11: Vacuum suction device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 C11D 7/36 C11D 7/36 C23C 16/44 C23C 16/44 J ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI Technical indication C11D 7/36 C11D 7/36 C23C 16/44 C23C 16/44 J

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ルイス塩基を添加する事を特徴とする有機
金属の除外方法。
1. A method for excluding organic metals, which comprises adding a Lewis base.
【請求項2】有機金属がジメチルアルミニウムハイドラ
イド、トリメチルアルミニウム、トリエチルアルミニウ
ム、アミンアラン、トリメチルガリウム、トリエチルガ
リウム、トリメチルインジウムおよびトリエチルガリウ
ムのいずれか1種である請求項1記載の有機金属の除外
方法。
2. The method for excluding organic metal according to claim 1, wherein the organic metal is any one of dimethyl aluminum hydride, trimethyl aluminum, triethyl aluminum, amine alane, trimethyl gallium, triethyl gallium, trimethyl indium and triethyl gallium.
【請求項3】有機金属がジメチルアルミニウムハイドラ
イドであることを特徴とする請求項1記載の有機金属の
除外方法。
3. The method for excluding organic metal according to claim 1, wherein the organic metal is dimethyl aluminum hydride.
【請求項4】ルイス塩基がジエチルエーテル、ジブチル
エーテル、メチルブチルエーテル、アニソール、ジフェ
ニルエーテル、ベンジルエーテル、ジメトキシエタン、
ジエトキシエタン、エチレングリコールジメチルエーテ
ル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、トリエチルアミ
ン、トリオクチルアミン、ジメチルプロピルアミン、ジ
メチルドデシルアミン、ジメチルアミノトリメチルシラ
ン、ジメチルアリルアミン、ジイソプロピルエチルアミ
ン、ジメチルアニリン、ベンジルエチルアニリン、テト
ラメチルエチレンジアミン、テトラメチルジアミノプロ
パン、テトラメチルヘキサメチレンジアミン、ピリジ
ン、ジメチルアミノピリジン、コリジン、ピラジン、ジ
メチルピラジン、キノリン、イソキノリン、キナルジ
ン、ベンジルメチルイミダゾール、硫化ジメチル、硫化
ジエチル、硫化ジフェニル、チオフェン、トリエチルホ
スフィン、トリフェニルホスフィン、トリエチルアルシ
ンよりなるグループから選ばれた少なくとも1種である
ことを特徴とする請求項1記載の有機金属の除外方法。
4. A Lewis base is diethyl ether, dibutyl ether, methyl butyl ether, anisole, diphenyl ether, benzyl ether, dimethoxyethane,
Diethoxyethane, ethylene glycol dimethyl ether, tetrahydrofuran, dioxane, triethylamine, trioctylamine, dimethylpropylamine, dimethyldodecylamine, dimethylaminotrimethylsilane, dimethylallylamine, diisopropylethylamine, dimethylaniline, benzylethylaniline, tetramethylethylenediamine, tetramethyl Diaminopropane, tetramethylhexamethylenediamine, pyridine, dimethylaminopyridine, collidine, pyrazine, dimethylpyrazine, quinoline, isoquinoline, quinaldine, benzylmethylimidazole, dimethyl sulfide, diethyl sulfide, diphenyl sulfide, thiophene, triethylphosphine, triphenylphosphine, Is it a group consisting of triethylarsine? How exclusion organometallic claim 1, wherein the at least one selected.
【請求項5】ルイス塩基がジエチルエーテルまたはテト
ラヒドロフランであることを特徴とする請求項1記載の
有機金属の除外方法。
5. The method for excluding organic metal according to claim 1, wherein the Lewis base is diethyl ether or tetrahydrofuran.
【請求項6】有機金属に対するルイス塩基の添加量が
0.01重量%以上であることを特徴とする請求項1記
載の有機金属の除外方法。
6. The method for excluding organic metal according to claim 1, wherein the addition amount of the Lewis base to the organic metal is 0.01% by weight or more.
JP28331895A 1995-10-31 1995-10-31 Elimination of organometal Pending JPH09124658A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28331895A JPH09124658A (en) 1995-10-31 1995-10-31 Elimination of organometal

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28331895A JPH09124658A (en) 1995-10-31 1995-10-31 Elimination of organometal

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09124658A true JPH09124658A (en) 1997-05-13

Family

ID=17663917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28331895A Pending JPH09124658A (en) 1995-10-31 1995-10-31 Elimination of organometal

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09124658A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008300712A (en) * 2007-06-01 2008-12-11 Shin Etsu Chem Co Ltd Method for filling solid organic metal compound
JP2011173934A (en) * 2011-06-16 2011-09-08 Ube Industries Ltd Highly pure trialkyl gallium and method for producing the same
WO2011107924A1 (en) * 2010-03-03 2011-09-09 L'air Liquide, Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude Cleaning solvent and cleaning method for metallic compound

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008300712A (en) * 2007-06-01 2008-12-11 Shin Etsu Chem Co Ltd Method for filling solid organic metal compound
WO2011107924A1 (en) * 2010-03-03 2011-09-09 L'air Liquide, Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude Cleaning solvent and cleaning method for metallic compound
US8128755B2 (en) 2010-03-03 2012-03-06 L'air Liquide Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude Cleaning solvent and cleaning method for metallic compound
US8158569B2 (en) 2010-03-03 2012-04-17 L'air Liquide Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude Cleaning solvent and cleaning method for metallic compound
CN102782184A (en) * 2010-03-03 2012-11-14 乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司 Cleaning solvent and cleaning method for metallic compound
EP2542709A4 (en) * 2010-03-03 2014-08-06 L Air Liquide Société Anonyme Pour L Etude Et L Expl Des Procédés Georges Claude Cleaning solvent and cleaning method for metallic compound
JP2011173934A (en) * 2011-06-16 2011-09-08 Ube Industries Ltd Highly pure trialkyl gallium and method for producing the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE156198T1 (en) METHOD FOR PRODUCING IMPROVED CVD COPPER FILM
KR910007089A (en) Cleaning Method for Semiconductor Wafer Processing Equipment
JPH09124658A (en) Elimination of organometal
KR101965219B1 (en) Aluminum compound and forming method of aluminum-containing film using the same
JPH09111299A (en) Cleaning agent composition for removing organic metal
JPH09235287A (en) Metal complex and formation of metal thin film
US5358670A (en) Process for preparing grignard reagents in diethylene glycol dibutyl ether
JP2002270597A5 (en)
JP3582118B2 (en) Organic metal filling method
JP3373826B2 (en) Method for regenerating metal CVD precursor
US20040045576A1 (en) Plasma cleaning gas with lower global warming potential than SF6
Chivers et al. Chlorocarbon derivatives of tin
JP2009530490A (en) Equipment for processing gas streams
DeKock Proton affinity and the frontier orbital concept. Predictions and pitfalls
US6700007B2 (en) Method for preparing alkoxyamines from nitroxides
KR100310253B1 (en) cleaning method for polymer produced during metal or via etch
JP4463403B2 (en) Gate oxide film forming material and gate oxide film forming method
JP2836891B2 (en) Cleaning method of SiOx with chlorine fluoride gas
GB2209166A (en) Process for producing trialkylarsenic compound
JP2003327412A (en) Method for generating fluorine
KR100569512B1 (en) Poly film VPD system and particle analysis method using the same
JP4345532B2 (en) MOCVD residue removal method
JP2001189277A (en) Piping cleaning method and apparatus
JPH06326034A (en) Cleaning method for plasma cvd device
JPS61235578A (en) Method for cleaning inside of reaction furnace