JPH09114148A - 電位センサ較正方法 - Google Patents
電位センサ較正方法Info
- Publication number
- JPH09114148A JPH09114148A JP7297795A JP29779595A JPH09114148A JP H09114148 A JPH09114148 A JP H09114148A JP 7297795 A JP7297795 A JP 7297795A JP 29779595 A JP29779595 A JP 29779595A JP H09114148 A JPH09114148 A JP H09114148A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- potential
- calibration
- output
- photoconductor
- potential sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 感光体の残留電位に影響されず、較正が必要
な時に、同じ感光体を用いて精度のよい較正式が得られ
る電位センサの較正方法を提供する。 【解決手段】 感光体の電位を測定する電位センサを備
えた画像形成装置で感光体の導電部分に基準電圧を印加
して電位センサから得られた出力を基準に電位センサの
出力を所定の演算式で較正する電位センサ較正方法にお
いて、異なる３値以上の電圧を印加し得られた出力値か
ら較正を行う。この場合、電位センサの出力ｘを、ｙ＝
ａｘ＋ｂなる較正をする方法において、感光体の導電部
分に印加する基準電圧のうち異なる２値以上の電圧で傾
きａを求め、１値以上の電圧から切片ｂを求める。
な時に、同じ感光体を用いて精度のよい較正式が得られ
る電位センサの較正方法を提供する。 【解決手段】 感光体の電位を測定する電位センサを備
えた画像形成装置で感光体の導電部分に基準電圧を印加
して電位センサから得られた出力を基準に電位センサの
出力を所定の演算式で較正する電位センサ較正方法にお
いて、異なる３値以上の電圧を印加し得られた出力値か
ら較正を行う。この場合、電位センサの出力ｘを、ｙ＝
ａｘ＋ｂなる較正をする方法において、感光体の導電部
分に印加する基準電圧のうち異なる２値以上の電圧で傾
きａを求め、１値以上の電圧から切片ｂを求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、感光体の電位を測
定する電位センサを備えた画像形成装置における電位セ
ンサ較正方法に関し、特に感光体の導電部分に基準電圧
を印加して電位センサから得られた出力を基準に電位セ
ンサの出力を所定の演算式で較正する電位センサ較正方
法に関する。
定する電位センサを備えた画像形成装置における電位セ
ンサ較正方法に関し、特に感光体の導電部分に基準電圧
を印加して電位センサから得られた出力を基準に電位セ
ンサの出力を所定の演算式で較正する電位センサ較正方
法に関する。
【０００２】
【従来の技術】画像形成装置の感光体の電位は、電位セ
ンサによって測定されるが、電位センサから出力される
電位を保証するために、感光体の導電部分に基準電圧を
印加してこれを電位センサで測定し、測定した電位を所
定の演算式で較正することが行われている。
ンサによって測定されるが、電位センサから出力される
電位を保証するために、感光体の導電部分に基準電圧を
印加してこれを電位センサで測定し、測定した電位を所
定の演算式で較正することが行われている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし従来の較正方法
においては、感光体に残留電位があると基準電圧に加算
された電圧に対してもセンサ出値が得られ、較正式の精
度が下がる（図５参照）。このため、感光体の残留電位
に影響しない様な時期に較正しなければならず、適当な
較正時期に較正を実行できないという問題があった。
においては、感光体に残留電位があると基準電圧に加算
された電圧に対してもセンサ出値が得られ、較正式の精
度が下がる（図５参照）。このため、感光体の残留電位
に影響しない様な時期に較正しなければならず、適当な
較正時期に較正を実行できないという問題があった。
【０００４】このため、感光体休止時にヒータ等で感光
体をヒートアップし残留電位を下げる手段を設けたり、
検知手段を用いて較正に影響ない残留電位か否かを判断
してから較正を行う等の必要があり、ヒータや検知手段
等の装置を設置しなければならないといった問題もあっ
た。
体をヒートアップし残留電位を下げる手段を設けたり、
検知手段を用いて較正に影響ない残留電位か否かを判断
してから較正を行う等の必要があり、ヒータや検知手段
等の装置を設置しなければならないといった問題もあっ
た。
【０００５】そこで本発明は、上述した感光体の残留電
位に影響されず、較正が必要な時に、同じ感光体を用い
て精度のよい較正式が得られる電位センサの較正方法を
提供することを目的としている。
位に影響されず、較正が必要な時に、同じ感光体を用い
て精度のよい較正式が得られる電位センサの較正方法を
提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に係る電位センサ
較正方法のうち請求項１に係るものは、画像形成装置の
感光体の導電部分に基準電圧を印加し、上記感光体の電
位を測定する電位センサから得られる出力を基準に、該
電位センサの出力を所定の演算式で較正する電位センサ
較正方法において、異なる３値以上の電圧を印加し、そ
れにより得られる出力値から較正を行うことを特徴とす
る。
較正方法のうち請求項１に係るものは、画像形成装置の
感光体の導電部分に基準電圧を印加し、上記感光体の電
位を測定する電位センサから得られる出力を基準に、該
電位センサの出力を所定の演算式で較正する電位センサ
較正方法において、異なる３値以上の電圧を印加し、そ
れにより得られる出力値から較正を行うことを特徴とす
る。
【０００７】同請求項２に係るものは、上記電位センサ
の出力ｘをｙ＝ａｘ＋ｂなる演算式により較正をするも
のとし、上記感光体の導電部分に印加する基準電圧のう
ち異なる２値以上の電圧で上記演算式の傾きａを求め、
１値以上の電圧から上記演算式の切片ｂを求めることを
特徴とする。
の出力ｘをｙ＝ａｘ＋ｂなる演算式により較正をするも
のとし、上記感光体の導電部分に印加する基準電圧のう
ち異なる２値以上の電圧で上記演算式の傾きａを求め、
１値以上の電圧から上記演算式の切片ｂを求めることを
特徴とする。
【０００８】同請求項３に係るものは、上記異なる３値
の基準電圧のうち少なくとも１値を上記感光体の残留電
位より低いかまたは逆極性の電圧とし、この時の上記電
位センサの出力から上記演算式の切片ｂを求め、他の少
なくとも２値を上記感光体の残留電位より高い電圧と
し、この時の上記電位センサの出力から上記演算式の傾
きａを求めることを特徴とする。
の基準電圧のうち少なくとも１値を上記感光体の残留電
位より低いかまたは逆極性の電圧とし、この時の上記電
位センサの出力から上記演算式の切片ｂを求め、他の少
なくとも２値を上記感光体の残留電位より高い電圧と
し、この時の上記電位センサの出力から上記演算式の傾
きａを求めることを特徴とする。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
沿って説明する。図１は感光体の電位と電位センサの出
力の関係を示すグラフ、図２は本発明に係る電位測定の
手順を示すフローチャート、図３は電位センサの較正式
を求めるフローチャートである。
沿って説明する。図１は感光体の電位と電位センサの出
力の関係を示すグラフ、図２は本発明に係る電位測定の
手順を示すフローチャート、図３は電位センサの較正式
を求めるフローチャートである。
【００１０】いま、感光体に基準電圧を印加した時の電
位センサの出力特性が、図１の直線Ａのごとくであった
とする。すなわち傾き（係数ａ）は２００倍で、被測定
物の電位が０Ｖ以下（負電位）で出力は一定となる。こ
れは電位センサの特性によるが片電位（ここでは正電
位）検知センサの特徴的特性である。次に感光体の残留
電位が発生している場合は、同図における直線Ｂのごと
くの推移が見られる。すなわち残留電位分は電位センサ
側からみると、基準電圧に重畳されたものとして理解さ
れる。そして電位が０Ｖから負極に推移した点からセン
サの出力は一定となる。
位センサの出力特性が、図１の直線Ａのごとくであった
とする。すなわち傾き（係数ａ）は２００倍で、被測定
物の電位が０Ｖ以下（負電位）で出力は一定となる。こ
れは電位センサの特性によるが片電位（ここでは正電
位）検知センサの特徴的特性である。次に感光体の残留
電位が発生している場合は、同図における直線Ｂのごと
くの推移が見られる。すなわち残留電位分は電位センサ
側からみると、基準電圧に重畳されたものとして理解さ
れる。そして電位が０Ｖから負極に推移した点からセン
サの出力は一定となる。
【００１１】次に図２に沿って電位測定の手順について
説明する。最初に感光体に基準電圧ＶDEP：−３００を
印加し（ステップ１）、そのセンサ出力Ｖdepを検知し
（ステップ２）、これらＶDEP、Ｖdepをメモリに記憶す
る（ステップ３）。同様に、基準電圧ＶMIN：３００を
感光体に印加し（ステップ４）、そのセンサ出力Ｖmin
を検知し（ステップ５）、これらＶMIN、Ｖminをメモリ
に記憶する（ステップ６）。次いで、基準電圧ＶMAX：
６００を印加し（ステップ７）、そのセンサ出力Ｖmax
を検知し（ステップ８）、これらＶMAX、Ｖmaxをメモリ
に記憶する（ステップ９）。ここでＶDEPは残留電位の
最大値と同じ絶対値の逆極性（ここでは負極）の電圧を
印加すればよく、この最大値が明らかでない時は、複数
の電圧を印加しそのセンサ出力値をメモリに入力すれば
よい。ＶMIN、ＶMAXは、残留電位の最大値より高い電圧
を印加すればよく、この最大値が明らかでない時は、前
記同様に複数の電圧を印加しそのセンサ出力値をメモリ
に入力すればよい。
説明する。最初に感光体に基準電圧ＶDEP：−３００を
印加し（ステップ１）、そのセンサ出力Ｖdepを検知し
（ステップ２）、これらＶDEP、Ｖdepをメモリに記憶す
る（ステップ３）。同様に、基準電圧ＶMIN：３００を
感光体に印加し（ステップ４）、そのセンサ出力Ｖmin
を検知し（ステップ５）、これらＶMIN、Ｖminをメモリ
に記憶する（ステップ６）。次いで、基準電圧ＶMAX：
６００を印加し（ステップ７）、そのセンサ出力Ｖmax
を検知し（ステップ８）、これらＶMAX、Ｖmaxをメモリ
に記憶する（ステップ９）。ここでＶDEPは残留電位の
最大値と同じ絶対値の逆極性（ここでは負極）の電圧を
印加すればよく、この最大値が明らかでない時は、複数
の電圧を印加しそのセンサ出力値をメモリに入力すれば
よい。ＶMIN、ＶMAXは、残留電位の最大値より高い電圧
を印加すればよく、この最大値が明らかでない時は、前
記同様に複数の電圧を印加しそのセンサ出力値をメモリ
に入力すればよい。
【００１２】またここでは説明を簡略にするために、感
光体の電位とセンサ出力の関係を直線で近似したが、よ
り精度よく較正するならば複数の電圧を印加して近似式
を求めればよい。これは特に図４に示すセンサ特性で、
低い電位の精度を上げるには有効である。
光体の電位とセンサ出力の関係を直線で近似したが、よ
り精度よく較正するならば複数の電圧を印加して近似式
を求めればよい。これは特に図４に示すセンサ特性で、
低い電位の精度を上げるには有効である。
【００１３】図３において、スイッチオンとした（ステ
ップ１）後、図２の測定を行ない（ステップ２）、傾き
（係数ａ）をａ＝（ＶMAX−ＶMIN）／（Ｖmax−Ｖmin）
として求める（ステップ３）。切片（係数ｂ）は、係数
ａのデータを用い、ｂ＝−ａ×Ｖdepとして求める（ス
テップ５）。これらより求められた値は各々メモリに記
憶し（ステップ４、６）、その後ｙ＝ａｘ＋ｂなる較正
式として、以後画像形成時得られたセンサ出力をｘとし
て較正式より感光体電位ｙを求め（ステップ７）、感光
体の残留電位に依存することなく正確な感光体電位を検
出する。
ップ１）後、図２の測定を行ない（ステップ２）、傾き
（係数ａ）をａ＝（ＶMAX−ＶMIN）／（Ｖmax−Ｖmin）
として求める（ステップ３）。切片（係数ｂ）は、係数
ａのデータを用い、ｂ＝−ａ×Ｖdepとして求める（ス
テップ５）。これらより求められた値は各々メモリに記
憶し（ステップ４、６）、その後ｙ＝ａｘ＋ｂなる較正
式として、以後画像形成時得られたセンサ出力をｘとし
て較正式より感光体電位ｙを求め（ステップ７）、感光
体の残留電位に依存することなく正確な感光体電位を検
出する。
【００１４】
【発明の効果】請求項１の電位センサ較正方法は以上説
明してきたように、異なる３値以上の電圧を印加し得ら
れた出力値から較正を行うこととしたため、画像形成装
置に用いている感光体と同じ感光体を使っても感光体の
残留電位に依存することなく必要な時期に精度よく較正
式を求めることができるという効果がある。
明してきたように、異なる３値以上の電圧を印加し得ら
れた出力値から較正を行うこととしたため、画像形成装
置に用いている感光体と同じ感光体を使っても感光体の
残留電位に依存することなく必要な時期に精度よく較正
式を求めることができるという効果がある。
【００１５】また、請求項２の電位センサ較正方法は、
請求項１の効果に加え、較正式に用いる基準電圧を特定
することで、各々のセンサ出力を間違いないデータとし
て使う事ができるから較正式も間違いない式が得られる
という効果がある。
請求項１の効果に加え、較正式に用いる基準電圧を特定
することで、各々のセンサ出力を間違いないデータとし
て使う事ができるから較正式も間違いない式が得られる
という効果がある。
【００１６】更に、請求項３の電位センサ較正方法は、
請求項２の効果に加え、較正式に用いる基準電圧を特定
することで、傾き（係数ａ）や切片（係数ｂ）を正確な
データから求めることができるという効果もある。
請求項２の効果に加え、較正式に用いる基準電圧を特定
することで、傾き（係数ａ）や切片（係数ｂ）を正確な
データから求めることができるという効果もある。
【図１】感光体の電位と電位センサの出力の関係を示す
グラフである。
グラフである。
【図２】本発明に係る電位測定の手順を示すフローチャ
ートである。
ートである。
【図３】電位センサの較正式を求めるフローチャートで
ある。
ある。
【図４】感光体の電位と電位センサの出力の関係を示す
グラフである。
グラフである。
【図５】感光体の電位と電位センサの出力の関係を示す
グラフである。
グラフである。
Ａ 電位センサの出力特性を示す直線 Ｂ 残留電位がある場合の電位センサの出力特性を
示す直線
示す直線
Claims (3)
- 【請求項１】 画像形成装置の感光体の導電部分に基準
電圧を印加し、上記感光体の電位を測定する電位センサ
から得られる出力を基準に、該電位センサの出力を所定
の演算式で較正する電位センサ較正方法において、異な
る３値以上の電圧を印加し、それにより得られる出力値
から較正を行うことを特徴とする電位センサ較正方法。 - 【請求項２】 上記電位センサの出力ｘをｙ＝ａｘ＋ｂ
なる演算式により較正をするものとし、上記感光体の導
電部分に印加する基準電圧のうち異なる２値以上の電圧
で上記演算式の傾きａを求め、１値以上の電圧から上記
演算式の切片ｂを求めることを特徴とする請求項１の電
位センサ較正方法。 - 【請求項３】 上記異なる３値の基準電圧のうち少なく
とも１値を上記感光体の残留電位より低いかまたは逆極
性の電圧とし、この時の上記電位センサの出力から上記
演算式の切片ｂを求め、他の少なくとも２値を上記感光
体の残留電位より高い電圧とし、この時の上記電位セン
サの出力から上記演算式の傾きａを求めることを特徴と
する請求項２の電位センサ較正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7297795A JPH09114148A (ja) | 1995-10-19 | 1995-10-19 | 電位センサ較正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7297795A JPH09114148A (ja) | 1995-10-19 | 1995-10-19 | 電位センサ較正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09114148A true JPH09114148A (ja) | 1997-05-02 |
Family
ID=17851273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7297795A Pending JPH09114148A (ja) | 1995-10-19 | 1995-10-19 | 電位センサ較正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09114148A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6498493B2 (en) * | 2000-01-07 | 2002-12-24 | Advantest Corporation | Electric potential detector, device tester and method of detecting electric potential |
-
1995
- 1995-10-19 JP JP7297795A patent/JPH09114148A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6498493B2 (en) * | 2000-01-07 | 2002-12-24 | Advantest Corporation | Electric potential detector, device tester and method of detecting electric potential |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4358520A (en) | Method of stabilizing an electrostatic latent image | |
| JPS582855A (ja) | 静電複写機用自動電位制御装置 | |
| JPH03266398A (ja) | 除電器のイオンバランス制御装置 | |
| JP5991246B2 (ja) | センサ装置、同センサ装置を備えた画像形成装置、及び湿度検出方法 | |
| JPH09114148A (ja) | 電位センサ較正方法 | |
| JPS58122465A (ja) | 導電率検出器及びその方法 | |
| US5182596A (en) | Device for measuring surface potentials at photosensitive body and electrostatic recording apparatus using said device | |
| US4910555A (en) | Electrophotographic device with controlled exposed potential | |
| US6429660B1 (en) | Process for minimizing cross-talk in diagnostic signals of a pH sensor | |
| JPH052987B2 (ja) | ||
| JPH04370769A (ja) | Ａ／ｄ変換器を用いた電圧・電流信号の補正方法 | |
| JPS5859470A (ja) | 複写機の現象バイアス電源 | |
| JPH02170175A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP2992649B2 (ja) | 変位測定装置 | |
| JP2747065B2 (ja) | 画像形成装置 | |
| JP2024506418A (ja) | イオナイザを備えた天秤を動作させる方法 | |
| SU1017998A2 (ru) | Электронный кулонометр с контролируемым потенциалом | |
| US20010043262A1 (en) | Optical writing device obtaining a constant amount of pass-through light | |
| JPS6398636A (ja) | 液晶表示装置の順応駆動方法 | |
| JPH0743393A (ja) | 電圧測定方法 | |
| SU1241170A1 (ru) | Способ поверки измерителей коэффициента нелинейности варисторов | |
| JPS63205247A (ja) | イオン流制御記録装置 | |
| JPS5911403Y2 (ja) | 質量分析装置における掃引装置 | |
| JPS5912570Y2 (ja) | 流量計測装置 | |
| CN115265774A (zh) | 一种光强检测方法及光强检测电路 |