JPH09102472A - 誘電体素子の製造方法 - Google Patents

誘電体素子の製造方法

Info

Publication number
JPH09102472A
JPH09102472A JP7259762A JP25976295A JPH09102472A JP H09102472 A JPH09102472 A JP H09102472A JP 7259762 A JP7259762 A JP 7259762A JP 25976295 A JP25976295 A JP 25976295A JP H09102472 A JPH09102472 A JP H09102472A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal electrode
film
electrode film
forming
dielectric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7259762A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoru Fujii
覚 藤井
Ryoichi Takayama
良一 高山
Takeshi Kamata
健 鎌田
Atsushi Tomosawa
淳 友澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP7259762A priority Critical patent/JPH09102472A/ja
Priority to KR1019960041577A priority patent/KR100229608B1/ko
Priority to US08/724,654 priority patent/US5868948A/en
Priority to CN96112720A priority patent/CN1080455C/zh
Publication of JPH09102472A publication Critical patent/JPH09102472A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 誘電体素子の製造方法、特に簡便でプロセス
時間が短く、フォトレジストのダメージが少ない、誘電
体および電極のスパッタエッチングによる微細加工技術
を供給する。 【解決手段】 基板上に下部金属電極膜を形成する工
程、前記下部金属電極膜上に誘電体膜を形成する工程、
前記誘電体膜上に上部金属電極膜を形成する工程、前記
上部金属電極をスパッタエッチングしパターニングした
上部金属電極膜を形成する工程、前記パターニングした
上部金属電極膜をマスクとして前記誘電体膜をパターニ
ングする工程、最後に下部金属電極膜をスパッタエッチ
ングしパターニングした下部金属電極膜を形成する工程
を備えている。さらに、本発明の誘電体素子の製造方法
は、スパッタエッチングにおいて、基板とエッチング装
置の電極の間に有機樹脂シートを配置して絶縁する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は誘電体素子の製造方
法、特にスパッタエッチングによる微細加工に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】近年、不揮発性メモリの開発にともない
強誘電体をはじめ誘電体材料の微細加工技術の重要性が
高まっている。
【0003】従来、Si系誘電体や電極材料の微細加工
方法として、スパッタエッチング法、反応性ガスを用い
たリアクティブイオンエッチング法が主に使用されてい
る。しかし、PbTiO3、PZT、PLZTをはじめ
とする強誘電体、および、Pt,Au、Pdなどの貴金
属あるいはこれらの化合物の電極材料は、通常の反応性
エッチングが困難である。従って、加速したアルゴンイ
オン等を物理的に衝突させて異方的にスパッタエッチン
グする方法が有効な手段である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
スパッタエッチングでは、通常、エッチング試料と電極
は厚さ数mmの石英板で絶縁されているために、電極裏面
からの冷却水による冷却効率は十分ではなかった。その
結果、試料の温度上昇によりフォトレジストが焼き付く
という問題点があった。これに対して、真空グリースを
試料と電極の間に塗布して冷却効果を高めることが実施
されている。しかしながら、グリースの塗布に手間がか
かり、また面積の小さな試料ではグリースが試料からは
みでる可能性があり、不純物発生の問題を有している。
【0005】また、強誘電体はエッチングレートが小さ
く、フォトレジストとのエッチングレート比(選択比)
も小さい。従って、強誘電体を用いたデバイス、特に焦
電体、圧電体センサデバイスのように強誘電体の膜厚が
数μm必要な場合には、フォトレジストが、強誘電体の
エッチング終了時までに完全にエッチング除去されてし
まうという問題も有していた。
【0006】本発明の目的は、誘電体素子の製造方法、
特に簡便で、フォトレジストのダメージが少ない、誘電
体および電極のスパッタエッチングによる微細加工技術
を供給することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに本発明の誘電体素子の製造法は、基板上に金属電極
膜を形成する工程、前記金属電極膜をスパッタエッチン
グしパターニングした金属電極膜を形成する工程、前記
パターニングした金属電極膜上に誘電体膜を形成する工
程を備えていることを特徴としている。
【0008】また、本発明の誘電体素子の製造方法は、
基板上に誘電体膜を形成する工程、前記誘電体膜をスパ
ッタエッチングしパターニングした誘電体膜を形成する
工程を備えていることを特徴としている。
【0009】さらに、本発明の誘電体素子の製造方法
は、基板上に誘電体膜を形成する工程、前記誘電体膜上
に金属電極膜を形成する工程、前記金属電極膜をスパッ
タエッチングしパターニングした金属電極膜を形成する
工程を備えていることを特徴としている。
【0010】また、本発明の誘電体素子の製造方法は、
基板上に金属電極膜を形成する工程、前記金属電極膜上
に誘電体膜を形成する工程、前記誘電体膜をパターニン
グする工程、前記金属電極膜をスパッタエッチングしパ
ターニングした金属電極膜形成する工程を備えているこ
とを特徴としている。
【0011】さらにまた、本発明の誘電体素子の製造方
法は、基板上に下部金属電極膜を形成する工程、前記下
部金属電極膜上に誘電体膜を形成する工程、前記誘電体
膜上に上部金属電極膜を形成する工程、前記上部金属電
極膜をスパッタエッチングしパターニングした上部金属
電極膜を形成する工程、前記パターニングした上部金属
電極膜をマスクとして前記誘電体膜をパターニングする
工程、最後に下部金属電極膜をスパッタエッチングしパ
ターニングした下部金属電極膜を形成する工程を備えて
いることを特徴としている。
【0012】さらに、本発明の誘電体素子の製造方法
は、前記スパッタエッチングにおいて、基板とエッチン
グ装置の電極の間に有機樹脂シートを配置して絶縁する
ことを特徴としている。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明は上記構成により、スパッ
タエッチングにおいて、基板とエッチング装置の電極の
間に有機樹脂シートを配置して絶縁することにより、有
機樹脂シートがスパッタエッチングされることにより、
有機樹脂シートから蒸発物が発生する。そして、この蒸
発物がフォトレジスト上に再付着することにより、フォ
トレジストのエッチングによる減少速度を大幅に低下さ
せることができる。従って、2〜3時間を要する数μm
の強誘電体膜のスパッタエッチングにおいても、フォト
レジストが使用可能な点で有効である。
【0014】また、有機樹脂シートは、基板との密着性
が石英板よりも優れているために、電極からの冷却水に
よる試料の冷却効率が向上する。その結果、スパッタエ
ッチング中のフォトレジストの焼け焦げが減少し、フォ
トレジストの剥離が完全に行える点で有効である。
【0015】さらに、スパッタエッチング中は、装置電
極上の有機樹脂シートから有機物がスパッタエッチング
により発生する。チャンバー内は、有機物が過剰な雰囲
気である。従って、チャンバー内の有機物雰囲気は、エ
ッチング試料の数やエッチング面積による影響を受けに
くく、ほぼ一定である。その結果、いわゆる”ローディ
ング効果”の影響が小さく均一なエッチングを実行でき
る点で有効である。
【0016】以下本発明の誘電体素子の製造方法に関す
る一実施例について、図面を参照しながら説明する。
【0017】(実施例1)図1に、本発明の一実施例の
誘電体素子の断面図を、図2にその作製プロセスの断面
図を示す。基板101としてMgO単結晶基板(厚さ5
00μm)を用いた。基板101の上に、Pt薄膜を下
部金属電極膜102として形成した。この下部金属電極
膜102は、高周波マグネトロンスパッタ法により作製
した。
【0018】スパッタ成膜条件は、基板温度が600
℃、スパッタガスはAr(95%)と酸素(5%)の混
合ガスで、ガス圧は0.5Pa、高周波投入パワー密度
は2.5W/cm2(13.56MHz)で、成膜時間は
1時間であった。膜の厚さは0.15μmであった。さ
らに、前記下部金属電極膜102上に、Pb0.9La0.1
Ti0.9753なる組成の誘電体膜103を形成した。そ
の成膜方法を以下に述べる。
【0019】Pb0.9La0.1Ti0.9753の薄膜の成膜
には、高周波マグネトロンスパッタ装置を用いた。基板
は、ステンレス製基板ホルダに取り付けて成膜した。タ
ーゲットは、PbO,La23,TiO2の粉末を混合
し、銅製皿に入れて用いた。粉末の混合比は、膜組成に
対してPbOを20mol%過剰に加えた。スパッタの成膜
条件は、基板温度が600℃、スパッタガスはAr(9
0%)と酸素(10%)の混合ガスで、ガス圧は0.9
Pa、高周波投入パワー密度は2.0W/cm2(13.
56MHz)であった。膜の厚さは3μmであった。
【0020】さらに、前記誘電体膜103上に、Pt薄
膜である上部金属電極膜104を形成した。上部金属電
極膜104の作成方法、条件、特性は下部金属電極膜1
02と同様にして行った。
【0021】この後、上部金属電極膜104上に、厚さ
7μmのフォトレジスト105によりマスクパターンを
形成した後に、上部金属電極膜104をスパッタエッチ
ングによりパターニングした。
【0022】図3にエッチング装置の断面図を示す。図
において、301はエッチング試料、302は反応チャ
ンバー、303は高周波印加電極、304は有機樹脂シ
ート、305は対向電極、306は排気系、307は高
周波電源、308はガス供給源である。電極303と3
05は平行に配置されている。さらに、高周波電極30
3には13.56MHzの高周波が印加されている。また、
この高周波印加電極は裏面より水冷されている。なお、
電極303の直径は10インチである。
【0023】エッチング試料301は高周波印加電極3
03上に設けた厚さ0.1mmの有機樹脂シート304上
に配置されている。有機樹脂シートとして、接着層を備
えた、ポリ塩化ビニル樹脂シート、あるいはフッ素樹脂
を用いた。エッチングは、真空度0.06Torr、Arガ
ス流量10SCCM、プラズマパワー170Wの条件で、1
5分を要した。このとき、有機樹脂シートにより、エッ
チング試料と電極を絶縁しているために、冷却効果が十
分高く、フォトレジストが焼き焦げることはなかった。
また、Cl、あるいはFを含む樹脂は、エッチング中に
発生する、レジスト表面への再付着物がプラズマに対し
て耐性があるために、保護膜として働き、長時間のエッ
チングにおいてもフォトレジストがダメージを受けて消
失することがない点で有効である。例えば、真空度0.
06Torr、Arガス流量10SCCM、プラズマパワー17
0Wの条件において、フォトレジスト(ポジ)のエッチ
ングレートは、ポリ塩化ビニルフィルム(厚さ0.1mm)
の絶縁においては0.065μm/minであった。この値
は、通常用いられる石英板(厚さ1mm)による絶縁の場合
のフォトレジストのエッチングレート値、0.15μm/m
inと比較して、1/2以下であった。
【0024】さらに、スパッタエッチング中は、装置電
極上の有機樹脂シートから有機物がスパッタエッチング
により発生する。従って、チャンバー内は、有機物が過
剰な雰囲気である。従って、チャンバー内の有機物雰囲
気は、エッチング試料の数やエッチング面積による影響
を受けにくく、ほぼ一定である。その結果、いわゆる”
ローディング効果”の影響が小さく均一なエッチングを
実行できる点で有効である。ローディング効果の影響を
調べるために、絶縁方法として、塩化ビニルシート(厚
さ0.1mm)、および石英板(厚さ1mm)を、エッチング
サンプル数として20mm□基板の枚数が1枚および8枚
の時について、上部金属電極膜104であるPtのエッ
チングレートを調べた。その結果を(表1)に示す。そ
の結果、絶縁方法が塩化ビニルシートの場合には、基板
の枚数によらずPt膜のエッチングレートは一定であっ
た。一方、絶縁方法が石英基板の場合には、基板枚数に
よりエッチングレートが大きく変化した。
【0025】
【表1】
【0026】続いて、パターニングした上部金属電極膜
104をマスクとし、誘電体薄膜103を、ケミカルエ
ッチングによりパターニングを行なった。エッチャント
にはフッ硝酸(HF/HNO3=0.1〜20)を使用し
た。プロセス時間は0.5〜10分であった。
【0027】さらに続いて、下部金属電極膜101も同
様にして、スパッタエッチングによりパターニングを行
い、誘電体素子を作製した。
【0028】(実施例2)図4に、本発明の一実施例の
誘電体素子の断面図を、図5にその作製プロセスの断面
図を示す。基板401としてMgO単結晶基板(厚さ5
00μm)を用いた。基板401の上に、Pb0.9La
0.1Ti0.9753なる組成の誘電体体膜402を形成し
た。この誘電体膜402は、高周波マグネトロンスパッ
タ法により作製した。成膜方法を以下に述べる。
【0029】Pb0.9La0.1Ti0.9753の薄膜の成膜
には、高周波マグネトロンスパッタ装置を用いた。基板
は、ステンレス製基板ホルダに取り付けて成膜した。タ
ーゲットは、PbO,La23,TiO2の粉末を混合
し、銅製皿に入れて用いた。粉末の混合比は、膜組成に
対してPbOを20mol%過剰に加えた。スパッタの成膜
条件は、基板温度が600℃、スパッタガスはAr(9
0%)と酸素(10%)の混合ガスで、ガス圧は0.9
Pa、高周波投入パワー密度は2.0W/cm2(13.
56MHz)であった。膜厚は3μmであった。
【0030】続いて、誘電体膜402上にパターニング
したフォトレジスト403(厚さ7μm)をマスクとして
形成した後に、誘電体膜402をスパッタエッチングに
よりパターニングした。エッチング装置は、図3に示し
た実施例1と同じ装置を使用した。試料は電極上に設け
た厚さ0.1mmの有機樹脂シート上に配置されている。
有機樹脂シートとして、接着層を備えた、ポリ塩化ビニ
ル樹脂シート、あるいはフッ素樹脂を用いた。用いたエ
ッチング装置は、電極の直径が10インチであった。
【0031】エッチングは、真空度0.06Torr、Ar
ガス流量10SCCM、プラズマパワー170W条件で、エ
ッチング時間90分を要した。このとき、有機樹脂シー
トにより、エッチング試料と電極を絶縁しているため
に、冷却効果が十分高く、フォトレジストが焼き焦げる
ことはなかった。また、本発明で使用するCl、あるい
はFを含む樹脂は、エッチング中に発生する、レジスト
表面への再付着物がプラズマに対して耐性があるため
に、保護膜として働き、90分と長時間のエッチングに
おいてもフォトレジストがダメージを受けて消失するこ
とがない点で有効である。
【0032】一方、石英板(厚さ1mm)で絶縁した場合
には、Pb0.9La0.1Ti0.9753のエッチングに、A
rガス流量10SCCM、プラズマパワー170Wの同条件
で3時間を要した。しかも、エッチング終了時、フォト
レジスト403は完全に消失していた。
【0033】なお、本実施例1および2において、誘電
体として、Pb0.9La0.1Ti0.97 53を例として示し
た。しかし、Si系をはじめとする誘電体や、BaTi
3をはじめとする他の強誘電体材料についても本発明
が有効であることは明らかである。
【0034】また、本実施例1において、金属電極膜と
して、Ptについて例示したが、他の金属材料について
も本発明が有効であることは明らかである。
【0035】さらに、本実施例1および2において、有
機樹脂シートとしてポリ塩化ビニルあるいはフッ素樹脂
を例として示した。しかし、塩素あるいはフッ素原子の
少なくともどちらかを含んでいれば、他の組成の樹脂シ
ートについても本発明が有効であることは明らかであ
る。
【0036】
【発明の効果】以上のように本発明の誘電体素子の製造
方法は、基板上に金属電極膜を形成する工程、前記金属
電極膜をスパッタエッチングしパターニングした金属電
極膜を形成する工程、前記パターニングした金属電極膜
上に誘電体膜を形成する工程を備えている。
【0037】また、本発明の誘電体素子の製造方法は、
基板上に誘電体膜を形成する工程、前記誘電体膜をスパ
ッタエッチングしパターニングした誘電体膜を形成する
工程を備えている。
【0038】さらに、本発明の誘電体素子の製造方法
は、基板上に誘電体膜を形成する工程、前記誘電体膜上
に金属電極膜を形成する工程、前記金属電極膜をスパッ
タエッチングしパターニングした金属電極膜を形成する
工程を備えている。
【0039】またさらに、本発明の誘電体素子の製造方
法は、基板上に金属電極膜を形成する工程、前記金属電
極膜上に誘電体膜を形成する工程、前記誘電体膜をパタ
ーニングする工程、前記金属電極膜をスパッタエッチン
グしパターニングした金属電極膜形成する工程を備えて
いる。
【0040】さらに、本発明の誘電体素子の製造方法
は、基板上に下部金属電極膜を形成する工程、前記下部
金属電極膜上に誘電体膜を形成する工程、前記誘電体膜
上に上部金属電極膜を形成する工程、前記上部金属電極
膜をスパッタエッチングしパターニングした上部金属電
極膜を形成する工程、前記パターニングした上部金属電
極膜をマスクとして前記誘電体膜をパターニングする工
程、最後に下部金属電極膜をスパッタエッチングしパタ
ーニングした下部金属電極膜を形成する工程を備えてい
る。
【0041】また、本発明の誘電体素子の製造方法は、
前記スパッタエッチングにおいて、基板とエッチング装
置の電極の間に有機樹脂シートを配置して絶縁する。
【0042】本発明は上記構成により、スパッタエッチ
ングにおいて、基板とエッチング装置の電極の間に有機
樹脂シートを配置して絶縁することにより、エッチング
プロセス中に有機樹脂シートがスパッタエッチングされ
ることにより、有機樹脂シートから蒸発物が発生する。
そして、この蒸発物がフォトレジスト上に再付着するこ
とにより、フォトレジストのエッチングによる減少速度
を大幅に低下させることができる。従って、2〜3時間
を要する数μmの強誘電体膜のスパッタエッチングにお
いても、フォトレジストが使用可能な点で有効である。
【0043】また、有機樹脂シートは、基板との密着性
が石英板よりも優れているために、装置電極からの冷却
水による試料の冷却効率が向上する。その結果、スパッ
タエッチング中のフォトレジストの焼け焦げが減少し、
フォトレジストの剥離が完全に行える点で有効である。
【0044】さらに、スパッタエッチング中は、装置電
極上の有機樹脂シートから有機物がスパッタエッチング
により発生する。従って、チャンバー内は、有機物が過
剰な雰囲気である。従って、チャンバー内の有機物雰囲
気は、エッチング試料の数やエッチング面積による影響
を受けにくく、ほぼ一定である。その結果、いわゆる”
ローディング効果”の影響が小さく均一なエッチングを
実行できる点で有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1の誘電体素子の断面図
【図2】実施例1の誘電体素子の製造プロセスの断面図
【図3】実施例1および2に用いたエッチング装置の断
面図
【図4】実施例2の誘電体素子の断面図
【図5】実施例2の誘電体素子の製造プロセスの断面図
【符号の説明】
101 基板 102 下部金属電極膜 103 誘電体膜 104 上部金属電極膜 105 フォトレジスト 301 エッチング試料 302 反応チャンバー 303 高周波印加電極 304 有機樹脂シート 305 対向電極 306 排気系 307 高周波電源 308 ガス供給源 401 基板 402 誘電体膜 403 フォトレジスト
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 友澤 淳 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に金属電極膜を形成する工程、前記
    金属電極膜をスパッタエッチングしパターニングした金
    属電極膜を形成する工程、前記パターニングした金属電
    極膜上に誘電体膜を形成する工程を備えていることを特
    徴とする誘電体素子の製造方法。
  2. 【請求項2】基板上に誘電体膜を形成する工程、前記誘
    電体膜をスパッタエッチングしパターニングした誘電体
    膜を形成する工程を備えていることを特徴とする誘電体
    素子の製造方法。
  3. 【請求項3】基板上に誘電体膜を形成する工程、前記誘
    電体膜上に金属電極膜を形成する工程、前記金属電極膜
    をスパッタエッチングしパターニングした金属電極膜を
    形成する工程を備えていることを特徴とする誘電体素子
    の製造方法。
  4. 【請求項4】基板上に金属電極膜を形成する工程、前記
    金属電極膜上に誘電体膜を形成する工程、前記誘電体膜
    をパターニングする工程、前記金属電極膜をスパッタエ
    ッチングしパターニングした金属電極膜形成する工程を
    備えていることを特徴とする誘電体素子の製造方法。
  5. 【請求項5】基板上に下部金属電極膜を形成する工程、
    前記下部金属電極膜上に誘電体膜を形成する工程、前記
    誘電体膜上に上部金属電極膜を形成する工程、前記上部
    金属電極膜をスパッタエッチングしパターニングした上
    部金属電極膜を形成する工程、前記パターニングした上
    部金属電極膜をマスクとして前記誘電体膜をパターニン
    グする工程、最後に下部金属電極膜をスパッタエッチン
    グしパターニングした下部金属電極膜を形成する工程を
    備えていることを特徴とする誘電体素子の製造方法。
  6. 【請求項6】スパッタエッチングにおいて、基板とエッ
    チング装置の電極の間に有機樹脂シートを配置して絶縁
    することを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の
    誘電体素子の製造方法。
  7. 【請求項7】有機樹脂シートが塩素原子を含むことを特
    徴とする請求項6に記載の誘電体素子の製造方法。
  8. 【請求項8】有機樹脂シートがフッ素原子を含むことを
    特徴とする請求項6に記載の誘電体素子の製造方法。
JP7259762A 1995-10-06 1995-10-06 誘電体素子の製造方法 Pending JPH09102472A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7259762A JPH09102472A (ja) 1995-10-06 1995-10-06 誘電体素子の製造方法
KR1019960041577A KR100229608B1 (ko) 1995-10-06 1996-09-23 유전체소자의 제조방법
US08/724,654 US5868948A (en) 1995-10-06 1996-10-01 Method for fabricating dielectric device
CN96112720A CN1080455C (zh) 1995-10-06 1996-10-04 电介质元件的制造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7259762A JPH09102472A (ja) 1995-10-06 1995-10-06 誘電体素子の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09102472A true JPH09102472A (ja) 1997-04-15

Family

ID=17338616

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7259762A Pending JPH09102472A (ja) 1995-10-06 1995-10-06 誘電体素子の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09102472A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2006003891A1 (ja) * 2004-07-02 2008-04-17 松下電器産業株式会社 音声信号復号化装置及び音声信号符号化装置
WO2014082352A1 (zh) * 2012-11-30 2014-06-05 中国科学院微电子研究所 平坦化处理方法
US10068803B2 (en) 2012-11-30 2018-09-04 Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences Planarization process

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2006003891A1 (ja) * 2004-07-02 2008-04-17 松下電器産業株式会社 音声信号復号化装置及び音声信号符号化装置
JP4934427B2 (ja) * 2004-07-02 2012-05-16 パナソニック株式会社 音声信号復号化装置及び音声信号符号化装置
WO2014082352A1 (zh) * 2012-11-30 2014-06-05 中国科学院微电子研究所 平坦化处理方法
US9633855B2 (en) 2012-11-30 2017-04-25 Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences Planarization process
US10068803B2 (en) 2012-11-30 2018-09-04 Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences Planarization process

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4878993A (en) Method of etching thin indium tin oxide films
JP4764028B2 (ja) プラズマ処理方法
JP3954667B2 (ja) 強誘電性キャパシタの製造方法
EP1156132B1 (en) Method of forming electrode film
EP0608931B1 (en) Reactive ion etching of indium tin oxide (ITO)
JPH08274046A (ja) シリコンウエハー上に白金薄膜を形成する方法、その方法により製造されたシリコン基板及びその基板を利用した半導体素子の製造方法
JPH11219941A (ja) 水素及びハロゲンのラジカルによる酸化インジウム及び酸化錫の高速ドライエッチング
US4713157A (en) Combined integrated circuit/ferroelectric memory device, and ion beam methods of constructing same
US5496437A (en) Reactive ion etching of lead zirconate titanate and ruthenium oxide thin films
KR100229608B1 (ko) 유전체소자의 제조방법
EP0403936B1 (en) Method for producing a conductive oxide pattern
Poor et al. Measurements of etch rate and film stoichiometry variations during plasma etching of lead‐lanthanum‐zirconium‐titanate thin films
US5264077A (en) Method for producing a conductive oxide pattern
JPH09102472A (ja) 誘電体素子の製造方法
JP3297974B2 (ja) ペロブスカイト型酸化物薄膜のプラズマエッチング方法および半導体装置の製造方法
US4778562A (en) Reactive ion etching of tin oxide films using neutral reactant gas containing hydrogen
JP3201251B2 (ja) 誘電体素子の製造方法
JP2006294848A (ja) ドライエッチング方法
JPH11111695A (ja) 白金薄膜パターンの形成方法及び半導体装置の製造方法
JP3727693B2 (ja) TiN膜製造方法
JP2613803B2 (ja) 銅薄膜のエッチング方法
JP5800710B2 (ja) 圧電素子の製造方法
KR100378345B1 (ko) 백금 박막의 건식 식각 방법
JPH07130712A (ja) Ptを主成分とする合金のエッチング方法
JPH08269686A (ja) 透明導電膜の形成方法および透明導電膜形成装置