JPH089634Y2 - 大気中のｃｈ▲下４▼濃度測定装置 - Google Patents
大気中のｃｈ▲下４▼濃度測定装置Info
- Publication number
- JPH089634Y2 JPH089634Y2 JP1990043278U JP4327890U JPH089634Y2 JP H089634 Y2 JPH089634 Y2 JP H089634Y2 JP 1990043278 U JP1990043278 U JP 1990043278U JP 4327890 U JP4327890 U JP 4327890U JP H089634 Y2 JPH089634 Y2 JP H089634Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oxidation catalyst
- gas
- atmosphere
- sample gas
- cell
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 ｛産業上の利用分野｝ 本考案は、大気中のCH4濃度を測定する装置に関する
ものである。
ものである。
｛従来の技術｝ 大気中のCH4濃度測定については、大気中にはCH4以外
にC2H6、C3H8、C2H4その他のハイドロカーボンが共存し
ているから、例えば、特公昭47-15338号公報に開示され
た測定装置が知られている。
にC2H6、C3H8、C2H4その他のハイドロカーボンが共存し
ているから、例えば、特公昭47-15338号公報に開示され
た測定装置が知られている。
この測定装置は、計量管に貯えたサンプルガスを、ガ
スクロマトグラフのカラムで非メタン、酸素、メタンに
分離し、前記酸素、メタンをカラムから流出させて、そ
れらを水素炎イオン化検出器で測定する。次に、前記カ
ラムをバックフラッシュして、それに残っている前記非
メタンを流出させて、それを前記水素炎イオン化検出器
で測定するものである。
スクロマトグラフのカラムで非メタン、酸素、メタンに
分離し、前記酸素、メタンをカラムから流出させて、そ
れらを水素炎イオン化検出器で測定する。次に、前記カ
ラムをバックフラッシュして、それに残っている前記非
メタンを流出させて、それを前記水素炎イオン化検出器
で測定するものである。
｛考案が解決しようとする課題｝ 前記従来の濃度測定装置は、計量管に貯えたサンプル
ガスを、ガスクロマトグラフのカラムで非メタン、酸
素、メタンに分離して、それらを測定するから、バッチ
測定になり連続測定ができない問題がある。また、水素
炎イオン化検出器を使用するから燃料用H2などが必要で
ある問題、及び保守用コストが高くなる難点がある。
ガスを、ガスクロマトグラフのカラムで非メタン、酸
素、メタンに分離して、それらを測定するから、バッチ
測定になり連続測定ができない問題がある。また、水素
炎イオン化検出器を使用するから燃料用H2などが必要で
ある問題、及び保守用コストが高くなる難点がある。
本考案は上記のような課題を解決するものであり、低
コストで連続測定を行うことが可能であるとともに、保
守が容易な大気中のCH4濃度測定装置をうることを目的
とするものである。
コストで連続測定を行うことが可能であるとともに、保
守が容易な大気中のCH4濃度測定装置をうることを目的
とするものである。
｛課題を解決するための手段｝ 本考案の大気中のCH4濃度測定装置における第１考案
は、大気中のCH4成分のほとんどすべてと、C2H6成分の
一部とを酸化させることなく、残りのC2H6成分とその他
のハイドロカーボンを酸化させる温度に設定された酸化
触媒と、その酸化触媒を通過させて大気中のCH4成分の
濃度を分析する干渉補償形のガス分析計とを具備し、そ
のガス分析計には、前記酸化触媒で酸化されなかったC2
H6成分の干渉影響を補正するための補償検出器を設けて
あることを特徴としている。
は、大気中のCH4成分のほとんどすべてと、C2H6成分の
一部とを酸化させることなく、残りのC2H6成分とその他
のハイドロカーボンを酸化させる温度に設定された酸化
触媒と、その酸化触媒を通過させて大気中のCH4成分の
濃度を分析する干渉補償形のガス分析計とを具備し、そ
のガス分析計には、前記酸化触媒で酸化されなかったC2
H6成分の干渉影響を補正するための補償検出器を設けて
あることを特徴としている。
前記酸化触媒の温度は、例えば220〜230℃に設定す
る。
る。
第２考案は、大気中のCH4成分のほとんどすべてと、C
2H6成分の一部とを酸化させることなく、残りのC2H6成
分とその他のハイドロカーボンを酸化させる温度に設定
された第１酸化触媒と、大気中のすべてのハイドロカー
ボンを酸化する温度に設定された第２酸化触媒と、前記
第１酸化触媒を通過させた大気を測定ガスとする一方、
前記第１酸化触媒と第２酸化触媒とを通過させた大気を
比較ガスとして大気中のCH4成分の濃度を分析する干渉
補償形の差量測定式ガス分析計とを具備し、その差量測
定式ガス分析計には、前記第１酸化触媒で酸化されなか
ったC2H6成分の干渉影響を補正するための補償検出器を
設けてあることを特徴とするものである。
2H6成分の一部とを酸化させることなく、残りのC2H6成
分とその他のハイドロカーボンを酸化させる温度に設定
された第１酸化触媒と、大気中のすべてのハイドロカー
ボンを酸化する温度に設定された第２酸化触媒と、前記
第１酸化触媒を通過させた大気を測定ガスとする一方、
前記第１酸化触媒と第２酸化触媒とを通過させた大気を
比較ガスとして大気中のCH4成分の濃度を分析する干渉
補償形の差量測定式ガス分析計とを具備し、その差量測
定式ガス分析計には、前記第１酸化触媒で酸化されなか
ったC2H6成分の干渉影響を補正するための補償検出器を
設けてあることを特徴とするものである。
前記第１酸化触媒の温度は、例えば220〜230℃に、第
２酸化触媒の温度は、例えば、400〜500℃にそれぞれ設
定する。
２酸化触媒の温度は、例えば、400〜500℃にそれぞれ設
定する。
｛作用｝ 本考案は、大気中のハイドロカーボンを酸化反応させ
たときに、CH4の酸化温度が最も高いこと、及び干渉補
償形検出器を用いたガス分析計は、干渉成分が１つであ
れば、その補償が容易で精度の高いことを活用するもの
である。
たときに、CH4の酸化温度が最も高いこと、及び干渉補
償形検出器を用いたガス分析計は、干渉成分が１つであ
れば、その補償が容易で精度の高いことを活用するもの
である。
そして、前記第１考案は、サンプルガスとしての大気
を所定温度に加熱した酸化触媒に導入酸化すると、サン
プルガス中のCH4がほとんど酸化されないで残存すると
ともに、C2H6の一部が残り、他のハイドロカーボンはす
べて酸化される。このようにしてCH4とC2H6とが残った
サンプルガスをガス分析計に導入して、その干渉補償形
検出器で干渉成分としてのC2H6の影響を補正して、CH4
の濃度を測定するものである。
を所定温度に加熱した酸化触媒に導入酸化すると、サン
プルガス中のCH4がほとんど酸化されないで残存すると
ともに、C2H6の一部が残り、他のハイドロカーボンはす
べて酸化される。このようにしてCH4とC2H6とが残った
サンプルガスをガス分析計に導入して、その干渉補償形
検出器で干渉成分としてのC2H6の影響を補正して、CH4
の濃度を測定するものである。
第２考案は、サンプルガスとしての大気を所定温度に
加熱した第１酸化触媒に導入酸化すると、サンプルガス
中のCH4がほとんど酸化されないで残るとともに、C2H6
の一部が残り、他のハイドロカーボンはすべて酸化され
る。この第１酸化触媒を通過したサンプルガスを測定ガ
スとして差量測定式ガス分析計に導入するとともに、第
１酸化触媒を通過した前記サンプルガスを第２酸化触媒
に導入し酸化する。この第２酸化触媒が前記サンプルガ
スに残ったCH4とC2H6のすべてを酸化させるから、このC
H4とC2H6のすべてが酸化されたサンプルガスを比較ガス
として前記差量測定式ガス分析計に導入する。このよう
にして、差量測定式ガス分析計に導入した前記測定ガス
と比較ガスとから、その干渉補償形検出器で干渉成分と
してのC2H6の影響を補正して、CH4の濃度を測定するも
のである。
加熱した第１酸化触媒に導入酸化すると、サンプルガス
中のCH4がほとんど酸化されないで残るとともに、C2H6
の一部が残り、他のハイドロカーボンはすべて酸化され
る。この第１酸化触媒を通過したサンプルガスを測定ガ
スとして差量測定式ガス分析計に導入するとともに、第
１酸化触媒を通過した前記サンプルガスを第２酸化触媒
に導入し酸化する。この第２酸化触媒が前記サンプルガ
スに残ったCH4とC2H6のすべてを酸化させるから、このC
H4とC2H6のすべてが酸化されたサンプルガスを比較ガス
として前記差量測定式ガス分析計に導入する。このよう
にして、差量測定式ガス分析計に導入した前記測定ガス
と比較ガスとから、その干渉補償形検出器で干渉成分と
してのC2H6の影響を補正して、CH4の濃度を測定するも
のである。
｛実施例｝ 前記第１考案の大気中のCH4濃度測定装置を第１図に
示した第１実施例について説明する。
示した第１実施例について説明する。
第１図において、１はサンプルガスとしての大気が導
入されるフィルタで、これがポンプ２を介してPt系また
はPd系などの酸化触媒３に接続されている。酸化触媒３
の加熱温度は、約220〜230℃に設定されている。
入されるフィルタで、これがポンプ２を介してPt系また
はPd系などの酸化触媒３に接続されている。酸化触媒３
の加熱温度は、約220〜230℃に設定されている。
したがって、第４図に示した、酸化触媒の温度と各種
ハイドロカーボンの酸化率の変化を示す図から明らかな
ように、前記酸化触媒３は、前記サンプルガス中のCH4
のほぼ全量、及びC2H6の一部を酸化することなく残す
が、他のハイドロカーボンのすべてを酸化する。
ハイドロカーボンの酸化率の変化を示す図から明らかな
ように、前記酸化触媒３は、前記サンプルガス中のCH4
のほぼ全量、及びC2H6の一部を酸化することなく残す
が、他のハイドロカーボンのすべてを酸化する。
４は干渉補償形検出器を備えたいわゆる干渉補償形の
ガス分析計で、その測定セル５に前記酸化触媒３を通過
したサンプルガスが導入される。６は比較セル、7a,7b
は光源、８はチョッパ、９は測定セル５と比較セル６を
透過した各光線が入射される主検出器、10は主検出器９
を透過した光線の干渉成分を検出する補償検出器、11,1
2は前置増幅器、13は前置増幅器11の出力から前置増幅
器12の出力を減算する減算器である。前記主検出器９と
補償検出器10とは、コンデンサマイクロホンで構成され
ている。
ガス分析計で、その測定セル５に前記酸化触媒３を通過
したサンプルガスが導入される。６は比較セル、7a,7b
は光源、８はチョッパ、９は測定セル５と比較セル６を
透過した各光線が入射される主検出器、10は主検出器９
を透過した光線の干渉成分を検出する補償検出器、11,1
2は前置増幅器、13は前置増幅器11の出力から前置増幅
器12の出力を減算する減算器である。前記主検出器９と
補償検出器10とは、コンデンサマイクロホンで構成され
ている。
この測定装置による大気中のCH4濃度の測定は、ガス
分析計４の比較セル６にゼロガスを導入し、かつ光源7
a,7bの赤外線をチョッパ８で断続的に測定セル５と比較
セル６とに入射する。そして、ポンプ２の作動で、大気
をサンプルガスとしてフィルタ１を経て約220〜230℃の
温度に加熱した酸化触媒３に導入する。このサンプルガ
スは、酸化触媒３でCH4のほとんどとC2H6の一部を残
し、他のハイドロカーボンのすべてが酸化されたCO2に
変換されてから、測定セル５に導入され、測定セル５に
入射された光線の一部を吸収する。
分析計４の比較セル６にゼロガスを導入し、かつ光源7
a,7bの赤外線をチョッパ８で断続的に測定セル５と比較
セル６とに入射する。そして、ポンプ２の作動で、大気
をサンプルガスとしてフィルタ１を経て約220〜230℃の
温度に加熱した酸化触媒３に導入する。このサンプルガ
スは、酸化触媒３でCH4のほとんどとC2H6の一部を残
し、他のハイドロカーボンのすべてが酸化されたCO2に
変換されてから、測定セル５に導入され、測定セル５に
入射された光線の一部を吸収する。
したがって、測定セル５と比較セル６とを透過した各
光線を主検出器９が検出して、前記CH4とC2H6の濃度に
対応した信号を出力し、かつ主検出器９を透過した各光
線が補償検出器10に入射されて、補償検出器10が干渉成
分としてのC2H6の濃度に対応した信号を出力するから、
主検出器９の前記出力から補償検出器10の前記出力を減
算器13で減算して、前記CH4の濃度を測定するものであ
る。
光線を主検出器９が検出して、前記CH4とC2H6の濃度に
対応した信号を出力し、かつ主検出器９を透過した各光
線が補償検出器10に入射されて、補償検出器10が干渉成
分としてのC2H6の濃度に対応した信号を出力するから、
主検出器９の前記出力から補償検出器10の前記出力を減
算器13で減算して、前記CH4の濃度を測定するものであ
る。
この測定装置は、前記のように、サンプルガスとして
の大気を酸化触媒で酸化することによって、そのハイド
ロカーボンをCH4とC2H6の２種のみにしてから測定セル
５に導入して、それを透過した光線を主検出器９と補償
検出器10とで検出して、CH4の濃度を測定するから、CH4
を容易に精度よく選択して、その濃度を連続的に測定す
ることが可能である。
の大気を酸化触媒で酸化することによって、そのハイド
ロカーボンをCH4とC2H6の２種のみにしてから測定セル
５に導入して、それを透過した光線を主検出器９と補償
検出器10とで検出して、CH4の濃度を測定するから、CH4
を容易に精度よく選択して、その濃度を連続的に測定す
ることが可能である。
第２図は第２実施例を示すものであって、これは第２
考案に対応するものである。
考案に対応するものである。
第２図において、21はフィルタ、22はポンプ、23は第
１酸化触媒で、これはサンプルガス中のCH4のほぼ全
量、及びC2H6の一部を酸化することなく残すが、他のハ
イドロカーボンのすべてを酸化することができる約220
〜230℃に加熱される。
１酸化触媒で、これはサンプルガス中のCH4のほぼ全
量、及びC2H6の一部を酸化することなく残すが、他のハ
イドロカーボンのすべてを酸化することができる約220
〜230℃に加熱される。
24は干渉補償形検出器を備えた差量測定式ガス分析計
で、これは第１セル25と第２セル26との一側に光源27a,
27bとチョッパ28とを配設し、他側に第１セル25と第２
セル26を透過した各光線が入射される主検出器29、及び
主検出器29を透過した光線を検出する補償検出器30を配
設して構成されている。
で、これは第１セル25と第２セル26との一側に光源27a,
27bとチョッパ28とを配設し、他側に第１セル25と第２
セル26を透過した各光線が入射される主検出器29、及び
主検出器29を透過した光線を検出する補償検出器30を配
設して構成されている。
そして、前記第１酸化触媒23が第１サンプルガスライ
ン35で前記第１セル25に接続されている。36は第１サン
プルガスライン35を分岐した第２サンプルガスライン
で、これが第２酸化触媒37を介して第２セルに接続され
ている。前記第２酸化触媒37の温度は、前記第１酸化触
媒23を通過したサンプルガスに残ったCH4とC2H6のすべ
てを酸化できる約450℃に設定されている。
ン35で前記第１セル25に接続されている。36は第１サン
プルガスライン35を分岐した第２サンプルガスライン
で、これが第２酸化触媒37を介して第２セルに接続され
ている。前記第２酸化触媒37の温度は、前記第１酸化触
媒23を通過したサンプルガスに残ったCH4とC2H6のすべ
てを酸化できる約450℃に設定されている。
31,32は前置増幅器、33は前置増幅器31の出力から前
置増幅器32の出力を減算する減算器である。前記主検出
器29と補償検出器30とは、コンデンサマイクロホンで構
成されている。
置増幅器32の出力を減算する減算器である。前記主検出
器29と補償検出器30とは、コンデンサマイクロホンで構
成されている。
この測定装置による大気中のCH4測定は、光源27a,27b
の光線をチョッパ28で断続的に第１セル25と第２セル26
とに入射する。そして、ポンプ22の作動で、大気をサン
プルガスとしてフィルタ21を経て第１酸化触媒23に導入
する。第１酸化触媒23は導入された前記サンプルガスの
CH4のほとんどとC2H6の一部を残して、他のハイドロカ
ーボンのすべてを酸化しCO2に変換する。
の光線をチョッパ28で断続的に第１セル25と第２セル26
とに入射する。そして、ポンプ22の作動で、大気をサン
プルガスとしてフィルタ21を経て第１酸化触媒23に導入
する。第１酸化触媒23は導入された前記サンプルガスの
CH4のほとんどとC2H6の一部を残して、他のハイドロカ
ーボンのすべてを酸化しCO2に変換する。
第１酸化触媒23を通過した前記サンプルガスは、その
まま第１サンプルガスライン35で測定ガスとして前記第
１セル25に導入されるとともに、第２サンプルガスライ
ン36に分流して第２酸化触媒37に導かれる。この第２酸
化触媒37は、約450℃に加熱されているから、第１酸化
触媒23を通過したサンプルガスに残ったCH4とC2H6のす
べてを酸化する。このCH4とC2H6のすべても酸化された
サンプルガスが、第２サンプルガスライン36で比較ガス
として第２セル26に導入される。
まま第１サンプルガスライン35で測定ガスとして前記第
１セル25に導入されるとともに、第２サンプルガスライ
ン36に分流して第２酸化触媒37に導かれる。この第２酸
化触媒37は、約450℃に加熱されているから、第１酸化
触媒23を通過したサンプルガスに残ったCH4とC2H6のす
べてを酸化する。このCH4とC2H6のすべても酸化された
サンプルガスが、第２サンプルガスライン36で比較ガス
として第２セル26に導入される。
このように、第１、第２サンプルガスライン35,36で
第１セル25、第２セル26に導入された各サンプルガス
が、第１セル25と第２セル26にチョッパ28で断続的に入
射された光源27a,27bの光線を吸収する。そして、第１
セル25と第２セル26のそれぞれを透過した各光線を主検
出器29で検出し、前記CH4とC2H6の濃度に対応した信号
を出力し、かつ主検出器29を透過した各光線が補償検出
器30に入射されて、補償検出器30が干渉成分としてのC2
H6の濃度に対応した信号を出力するから、主検出器29の
前記出力から補償検出器30の前記出力を減算器33で減算
して、前記CH4の濃度を測定する。
第１セル25、第２セル26に導入された各サンプルガス
が、第１セル25と第２セル26にチョッパ28で断続的に入
射された光源27a,27bの光線を吸収する。そして、第１
セル25と第２セル26のそれぞれを透過した各光線を主検
出器29で検出し、前記CH4とC2H6の濃度に対応した信号
を出力し、かつ主検出器29を透過した各光線が補償検出
器30に入射されて、補償検出器30が干渉成分としてのC2
H6の濃度に対応した信号を出力するから、主検出器29の
前記出力から補償検出器30の前記出力を減算器33で減算
して、前記CH4の濃度を測定する。
この測定装置は、第１酸化触媒23による酸化で残した
サンプルガスのCH4とC2H6のすべてを第２酸化触媒で酸
化してなるサンプルガスを比較ガスとして第２セル26に
導入するから、第１セル25と第２セル26におけるハイド
ロカーボン以外の共存ガス成分はほとんど同じであるた
め、H2O、CO2などの影響はほとんど無視することができ
る程度に小さくなり、CH4を選択してその濃度をより精
度よく測定することができる。
サンプルガスのCH4とC2H6のすべてを第２酸化触媒で酸
化してなるサンプルガスを比較ガスとして第２セル26に
導入するから、第１セル25と第２セル26におけるハイド
ロカーボン以外の共存ガス成分はほとんど同じであるた
め、H2O、CO2などの影響はほとんど無視することができ
る程度に小さくなり、CH4を選択してその濃度をより精
度よく測定することができる。
なお、前記差量測定式ガス分析計24としては、任意の
構成のものを使用することが可能であって、例えば、特
公昭62-3369号公報に開示された、前記第１サンプルガ
スライン35の測定ガスと、第２サンプルガスライン36の
比較ガスとを、切替装置で切替えて、第１セル25と第２
セル26とに交互に導入する、いわゆる流体変調方式のガ
ス分析計も使用可能であって、この流体変調方式のガス
分析計を使用すれば、大気中のCH4濃度をより精度よく
測定することに対して適する。
構成のものを使用することが可能であって、例えば、特
公昭62-3369号公報に開示された、前記第１サンプルガ
スライン35の測定ガスと、第２サンプルガスライン36の
比較ガスとを、切替装置で切替えて、第１セル25と第２
セル26とに交互に導入する、いわゆる流体変調方式のガ
ス分析計も使用可能であって、この流体変調方式のガス
分析計を使用すれば、大気中のCH4濃度をより精度よく
測定することに対して適する。
第３図は第３実施例を示すものであって、これも前記
第２考案に対応するものである。
第２考案に対応するものである。
第３図において、21はフィルタ、22はポンプ、23は第
１酸化触媒で、これはサンプルガス中のCH4のほぼ全量
及びC2H6の一部を酸化することなく残すが、他のハイド
ロカーボンのすべてを酸化することができる約220〜230
℃に加熱される。
１酸化触媒で、これはサンプルガス中のCH4のほぼ全量
及びC2H6の一部を酸化することなく残すが、他のハイド
ロカーボンのすべてを酸化することができる約220〜230
℃に加熱される。
前記第１酸化触媒23が第１サンプルガスライン35で干
渉補償形検出器（図示省略）を備えた差量測定式ガス分
析計24の第１セル（図示省略）に接続され、かつこの第
１セルのガス排出口に、前記第２サンプルガスライン36
が接続されている。そして、この第２サンプルガスライ
ン36に第２酸化触媒37が接続され、かつその下流側にフ
ィルタ38及びポンプ39を介在させて、第２サンプルガス
ライン36が前記差量測定式ガス分析計24の第２セル（図
示省略）に接続されている。前記第２酸化触媒37は、前
記第１セルを通過したサンプルガスに残ったCH4とC2H6
のすべてを酸化するため、約450℃に加熱される。
渉補償形検出器（図示省略）を備えた差量測定式ガス分
析計24の第１セル（図示省略）に接続され、かつこの第
１セルのガス排出口に、前記第２サンプルガスライン36
が接続されている。そして、この第２サンプルガスライ
ン36に第２酸化触媒37が接続され、かつその下流側にフ
ィルタ38及びポンプ39を介在させて、第２サンプルガス
ライン36が前記差量測定式ガス分析計24の第２セル（図
示省略）に接続されている。前記第２酸化触媒37は、前
記第１セルを通過したサンプルガスに残ったCH4とC2H6
のすべてを酸化するため、約450℃に加熱される。
40は前記ポンプ22の下流側で、第１酸化触媒23の上流
側に接続された電子冷却器で、そのドレン抜きライン41
が差量測定式ガス分析計24のサンプルガス排出ライン42
に接続されている。43はフィルタ21の下流側で、ポンプ
22の上流側に接続された３方電磁弁で、そのもう一方の
下流側にゼロガスボンベ44とスパンガスボンベ45とが並
列に接続されている。46,47は開閉弁、48は流量計であ
る。
側に接続された電子冷却器で、そのドレン抜きライン41
が差量測定式ガス分析計24のサンプルガス排出ライン42
に接続されている。43はフィルタ21の下流側で、ポンプ
22の上流側に接続された３方電磁弁で、そのもう一方の
下流側にゼロガスボンベ44とスパンガスボンベ45とが並
列に接続されている。46,47は開閉弁、48は流量計であ
る。
この測定装置による大気中のCH4の測定は、３方電磁
弁43のポンプ22側を開き、ポンプ22,39を作動させる。
すると、ポンプ22が大気をサンプルガスとしてフィルタ
21から電子冷却器40を経て第１酸化触媒23に導入する。
第１酸化触媒23に導入された前記サンプルガスが、その
CH4のほとんどとC2H6の一部を残し、他のハイドロカー
ボンのすべてが酸化されてから、測定ガスとして第１サ
ンプルガスライン35で差量測定式ガス分析計24の第１セ
ルに導入される。
弁43のポンプ22側を開き、ポンプ22,39を作動させる。
すると、ポンプ22が大気をサンプルガスとしてフィルタ
21から電子冷却器40を経て第１酸化触媒23に導入する。
第１酸化触媒23に導入された前記サンプルガスが、その
CH4のほとんどとC2H6の一部を残し、他のハイドロカー
ボンのすべてが酸化されてから、測定ガスとして第１サ
ンプルガスライン35で差量測定式ガス分析計24の第１セ
ルに導入される。
そして、第１セルを通過した前記測定ガスが、ポンプ
39で吸引されて第２サンプルガスライン36で第２酸化触
媒37に導かれて、残っているCH4とC2H6のすべてが酸化
されてから、フィルタ38を通過し、比較ガスとして差量
測定式ガス分析計24の第２セルに導入されるものであ
る。
39で吸引されて第２サンプルガスライン36で第２酸化触
媒37に導かれて、残っているCH4とC2H6のすべてが酸化
されてから、フィルタ38を通過し、比較ガスとして差量
測定式ガス分析計24の第２セルに導入されるものであ
る。
このようにして、差量測定式ガス分析計24に導入され
た前記測定ガスと比較ガスに基づく干渉補償形検出器に
よるCH4の測定は、前記第２実施例と同じである。
た前記測定ガスと比較ガスに基づく干渉補償形検出器に
よるCH4の測定は、前記第２実施例と同じである。
この測定装置は、第１酸化触媒23でCH4とC2H6以外の
ハイドロカーボンのすべてを酸化して、第１サンプルガ
スライン35で測定ガスとして差量測定式ガス分析計24に
導入し通過したサンプルガスを、第２サンプルガスライ
ン36の第２酸化触媒37で酸化してから比較ガスとして差
量測定式ガス分析計24に導入するから、サンプルガスの
採取量を少なくすることが可能である。そして、第１酸
化触媒23の上流側に、H2Oの分圧変化の影響を補正する
ための電子冷却器40を配しているから、より精度よくCH
4を測定することが可能である。
ハイドロカーボンのすべてを酸化して、第１サンプルガ
スライン35で測定ガスとして差量測定式ガス分析計24に
導入し通過したサンプルガスを、第２サンプルガスライ
ン36の第２酸化触媒37で酸化してから比較ガスとして差
量測定式ガス分析計24に導入するから、サンプルガスの
採取量を少なくすることが可能である。そして、第１酸
化触媒23の上流側に、H2Oの分圧変化の影響を補正する
ための電子冷却器40を配しているから、より精度よくCH
4を測定することが可能である。
｛考案の効果｝ 本考案における請求項（１）の大気中のCH4濃度測定
装置は、上記のように、大気中のCH4のほとんどとC2H6
とを残し、他のハイドロカーボンのすべてを酸化触媒で
酸化したサンプルガスを干渉補償形検出器を備えたガス
分析計で分析し、前記干渉成分としてのC2H6の影響を補
正してCH4の濃度を測定するものである。したがって、
大気中のCH4を容易に選択して、その濃度を連続的に精
度よく、かつ低コストで測定することが可能であるとと
もに、保守も容易である。
装置は、上記のように、大気中のCH4のほとんどとC2H6
とを残し、他のハイドロカーボンのすべてを酸化触媒で
酸化したサンプルガスを干渉補償形検出器を備えたガス
分析計で分析し、前記干渉成分としてのC2H6の影響を補
正してCH4の濃度を測定するものである。したがって、
大気中のCH4を容易に選択して、その濃度を連続的に精
度よく、かつ低コストで測定することが可能であるとと
もに、保守も容易である。
そして、請求項（２）のCH4濃度測定装置は、大気中
のCH4のほとんどとC2H6の一部とを残して、他のハイド
ロカーボンのすべてを第１酸化触媒で酸化したサンプル
ガスを測定ガスとし、かつ前記サンプルガスに残ったCH
4とC2H6のすべてを第２酸化触媒で酸化したサンプルガ
スを比較ガスとして、干渉補償形検出器を備えた差量測
定式ガス分析計で、C2H6の影響を補正してCH4を測定す
るものである。
のCH4のほとんどとC2H6の一部とを残して、他のハイド
ロカーボンのすべてを第１酸化触媒で酸化したサンプル
ガスを測定ガスとし、かつ前記サンプルガスに残ったCH
4とC2H6のすべてを第２酸化触媒で酸化したサンプルガ
スを比較ガスとして、干渉補償形検出器を備えた差量測
定式ガス分析計で、C2H6の影響を補正してCH4を測定す
るものである。
したがって、前記測定ガスと比較ガスとは、それらの
ハイドロカーボン以外の共存ガス成分がほとんど同じで
あるため、H2O，CO2などの影響はほとんど無視すること
ができる程度に小さくなり、CH4を選択してその濃度を
より精度よく、かつ低コストで測定することができ、保
守も容易である。
ハイドロカーボン以外の共存ガス成分がほとんど同じで
あるため、H2O，CO2などの影響はほとんど無視すること
ができる程度に小さくなり、CH4を選択してその濃度を
より精度よく、かつ低コストで測定することができ、保
守も容易である。
図面は本考案の実施例を示し、第１図は第１実施例の構
成図、第２図は第２実施例の構成図、第３図は第３実施
例の構成図、第４図は酸化触媒の温度と各種ハイドロカ
ーボンの酸化率の変化を表す図である。 3:酸化触媒、4:干渉補償形検出器を備えたガス分析計、
23:第１酸化触媒、24:干渉補償形検出器を備えた差量測
定式ガス分析計、37:第２酸化触媒。
成図、第２図は第２実施例の構成図、第３図は第３実施
例の構成図、第４図は酸化触媒の温度と各種ハイドロカ
ーボンの酸化率の変化を表す図である。 3:酸化触媒、4:干渉補償形検出器を備えたガス分析計、
23:第１酸化触媒、24:干渉補償形検出器を備えた差量測
定式ガス分析計、37:第２酸化触媒。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 嘉田 教夫 京都府京都市南区吉祥院宮ノ東町２番地 株式会社堀場製作所内 (56)参考文献 特開 昭56−16847（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−176938（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−228940（ＪＰ，Ａ) 実開 昭49−116190（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭62−81048（ＪＰ，Ｕ)
Claims (2)
- 【請求項１】大気中のCH4成分のほとんどすべてと、C2H
6成分の一部とを酸化させることなく、残りのC2H6成分
とその他のハイドロカーボンを酸化させる温度に設定さ
れた酸化触媒と、その酸化触媒を通過させて大気中のCH
4成分の濃度を分析する干渉補償形のガス分析計とを具
備し、そのガス分析計には、前記酸化触媒で酸化されな
かったC2H6成分の干渉影響を補正するための補償検出器
を設けてあることを特徴とする大気中のCH4濃度測定装
置。 - 【請求項２】大気中のCH4成分のほとんどすべてと、C2H
6成分の一部とを酸化させることなく、残りのC2H6成分
とその他のハイドロカーボンを酸化させる温度に設定さ
れた第１酸化触媒と、大気中のすべてのハイドロカーボ
ンを酸化する温度に設定された第２酸化触媒と、前記第
１酸化触媒を通過させた大気を測定ガスとする一方、前
記第１酸化触媒と第２酸化触媒とを通過させた大気を比
較ガスとして大気中のCH4成分の濃度を分析する干渉補
償形の差量測定式ガス分析計とを具備し、その差量測定
式ガス分析計には、前記第１酸化触媒で酸化されなかっ
たC2H6成分の干渉影響を補正するための補償検出器を設
けてあることを特徴とする大気中のCH4濃度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990043278U JPH089634Y2 (ja) | 1990-04-23 | 1990-04-23 | 大気中のｃｈ▲下４▼濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990043278U JPH089634Y2 (ja) | 1990-04-23 | 1990-04-23 | 大気中のｃｈ▲下４▼濃度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH043346U JPH043346U (ja) | 1992-01-13 |
| JPH089634Y2 true JPH089634Y2 (ja) | 1996-03-21 |
Family
ID=31555559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1990043278U Expired - Lifetime JPH089634Y2 (ja) | 1990-04-23 | 1990-04-23 | 大気中のｃｈ▲下４▼濃度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH089634Y2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5310228Y2 (ja) * | 1973-01-30 | 1978-03-17 | ||
| JPS5616847A (en) * | 1979-07-20 | 1981-02-18 | Horiba Ltd | Nondispersion type infrared-ray analysis meter |
| JPH01176938A (ja) * | 1987-12-30 | 1989-07-13 | Horiba Ltd | マルチ流体変調方式を用いたノンメタンｈｃ測定装置 |
-
1990
- 1990-04-23 JP JP1990043278U patent/JPH089634Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH043346U (ja) | 1992-01-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5753185A (en) | Vehicle emissions testing system | |
| US4004882A (en) | Gas analysis diluter | |
| US5255072A (en) | Apparatus for analyzing fluid by multi-fluid modulation mode | |
| JP3656231B2 (ja) | 高精度窒素測定用分析システム | |
| JP4550645B2 (ja) | 車両搭載型排気ガス分析装置 | |
| JPH089634Y2 (ja) | 大気中のｃｈ▲下４▼濃度測定装置 | |
| GB1446637A (en) | Gas testing apparatus and method | |
| EP1710569A1 (en) | Gas analyzer and method for controlling hydrogen flame ionization detector | |
| EP0467307B1 (en) | Gas analyzer | |
| JP4188096B2 (ja) | 測定装置 | |
| JPH04110768A (ja) | 炭化水素の分析方法およびその分析装置 | |
| JP2004138467A (ja) | 紫外線吸収式測定装置および測定試料の処理方法 | |
| JP4247985B2 (ja) | 流路切換式分析計およびこれを用いた測定装置 | |
| US5102806A (en) | Method for analyzing fluid by multi-fluid modulation mode | |
| EP0319887A2 (en) | Method and apparatus for analyzing fluids by multi-fluid modulation modes | |
| JPH05223735A (ja) | 差量ガス分析方法 | |
| JPS6330995Y2 (ja) | ||
| JPH079397B2 (ja) | 流体分析方法 | |
| JPH0961361A (ja) | アンモニア濃度連続測定装置 | |
| US20230152220A1 (en) | Rapid, sensitive hydrogen detector with flow path difference compensation | |
| JPH11118676A (ja) | ガス分析計 | |
| CN211263172U (zh) | 一种非甲烷总烃(nmhc)红外差分检测系统 | |
| JP3172571B2 (ja) | 基準ガス濃度調整方式によるガス濃度測定方法およびその装置 | |
| JP3129842U (ja) | 揮発性有機化合物測定装置 | |
| JPH0575645U (ja) | Ｎ２ ｏガス分析装置 |