JPH0894755A - 受光器および距離測定装置 - Google Patents

受光器および距離測定装置

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JPH0894755A
JPH0894755A JP6234987A JP23498794A JPH0894755A JP H0894755 A JPH0894755 A JP H0894755A JP 6234987 A JP6234987 A JP 6234987A JP 23498794 A JP23498794 A JP 23498794A JP H0894755 A JPH0894755 A JP H0894755A
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JP
Japan
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light
lens
target
aperture stop
reflected
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JP6234987A
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English (en)
Inventor
Shuichi Isogawa
秀一 五十川
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、光源から出射された光あるいは反
射体から到来した反射光を受光して光電変換を行う受光
器とその受光器が搭載された測距装置とに関し、受光す
べき光と共に入射する背景光を安価に効率よく抑圧する
ことを目的する。 【構成】 単一または複数の物標から出射されあるいは
反射された光を集光し、これらの物標について個別に像
点あるいは像面を形成するレンズ11と、単一または複
数の物標とレンズ11との相対位置に応じた像点あるい
は像面の軌跡として開口部が形成され、そのレンズによ
って集光された光の光量を抑圧する開口絞り13と、開
口絞り13によって光量が抑圧された光を受光して光電
変換する受光手段15とを備えて構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光源から出射された光
あるいは反射体から到来した反射光を受光して光電変換
を行う受光器とその受光器が搭載された測距装置とに関
する。
【0002】
【従来の技術】近年、高級乗用車や長時間に渡って運行
される業務用車両には、走行時の安全性を高めるため
に、前方および後方に位置する障害物の相対距離を計測
して運転者に通知する距離測定装置が搭載されている。
また、このような距離測定装置は、その低廉化や性能の
向上に伴って一般の乗用車にも普及しつつある。
【0003】図9は、距離測定装置の構成例を示す図で
ある。図において、レンズ61S の光軸は物標が存在す
る覆域の方向に設定され、そのレンズ61S の一方には
発光素子62の発光面が配置される。発光素子62の入
力には、制御部63の出力が接続される。レンズ61R
の一方の面は、赤外透過フィルタ64を介して上述した
覆域に対向し、そのレンズの他方の面の光軸上の焦点付
近には受光素子65が配置される。受光素子65の出力
は、制御部63の入力に接続される。
【0004】このような構成の距離測定装置では、制御
部63は所定の周期で発光素子62にパルスを与える。
発光素子62はこのようなパルスに応じて変調されたレ
ーザ光を出射し、そのレーザ光はレンズ61S を介して
上述した覆域に照射される。
【0005】赤外透過フィルタ64は、このような覆域
に位置する物標で生じた反射光と共に到来する背景光の
内、波長が上述したレーザ光の波長と異なる成分を除去
し、かつほぼ同じ波長の反射光をレンズ61R の方向に
透過させる。なお、このような背景光の成分の内、レー
ザ光の波長に比べて長波長の成分については、上述した
赤外透過フィルタ64にコーティングを施すことにより
除去することも可能である。
【0006】したがって、このような反射光は波長領域
で背景光の影響を減少させてレンズ61R により集光さ
れ、受光素子65はその反射光を電気信号に変換して制
御部63に与える。
【0007】制御部63は、このような電気信号として
与えられる物標からの反射光を取り込み、その反射光が
検出されるタイミングと上述したパルスが送出されたタ
イミングとの時間差の半値と上述したレーザ光の伝搬速
度との積を算出することにより、その物標との相対距離
を求める。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
従来の距離測定装置に搭載された受光器では、赤外透過
フィルタ64は、波長が上述したレーザ光の波長より長
い背景光については除去されなかった。
【0009】また、上述したコーティングが施された赤
外透過フィルタ64の濾波特性は、このような背景光の
一部を除去するが、そのレーザ光を含む狭い波長域の光
のみを透過させるほど急峻ではなかった。
【0010】さらに、このような狭い波長域の光学フィ
ルタについては、温度変動等に起因する発光素子62の
発光波長のシフト分を吸収するためにそのシフト分に追
従して波長域を可変設定する複雑な制御が要求され、十
分な安定性は安価には得られなかった。
【0011】また、受光素子65については、その受光
面にレンズ61R によって集光された太陽光が直接入射
すると、その太陽光の高い輝度によって劣化や焼損が発
生する可能性が高かった。
【0012】本発明は、受光すべき光と共に入射する背
景光を安価に効率よく抑圧できる受光器および測距装置
を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】図1は、請求項1、2に
記載の発明の原理構成図である。請求項1に記載の発明
は、単一または複数の物標から出射されあるいは反射さ
れた光を集光し、これらの物標について個別に像点ある
いは像面を形成するレンズ11と、単一または複数の物
標とレンズ11との相対位置に応じた像点あるいは像面
の軌跡として開口部が形成され、そのレンズによって集
光された光の光量を抑圧する開口絞り13と、開口絞り
13によって光量が抑圧された光を受光して光電変換す
る受光手段15とを備えたことを特徴とする。
【0014】請求項2に記載の発明は、単一または複数
の物標から出射されあるいは反射された光を集光し、こ
れらの物標について個別に像点あるいは像面を形成する
レンズ11と、単一または複数の物標の内、予め決めら
れた単数あるいは複数の位置に存在する物標に対する像
点あるいは像面の軌跡として開口部が形成され、レンズ
11によって集光された光の光量を抑圧する開口絞り2
1と、開口絞り21によって光量が抑圧された光を受光
して光電変換する受光手段23とを備えたことを特徴と
する。
【0015】図2は、請求項3に記載の発明の原理構成
図である。請求項3に記載の発明は、単一または複数の
物標が位置する覆域にパルスで変調された光を照射する
発光手段31と、予め決められた位置がレンジが最大と
なる位置に設定され、覆域に位置する物標で発光手段3
1によって照射された光が反射して生じた反射光を受光
する請求項2に記載の受光器33と、発光手段31によ
って照射された光と受光手段33によって受光された反
射光とのレンジ方向の相関をとり、その結果に基づいて
物標の相対距離を求める測距手段35とを備えたことを
特徴とする。
【0016】
【作用】請求項1に記載の発明にかかわる受光器では、
レンズ11によって形成される物標の像点あるいは像面
の位置はその物標との相対位置に応じて変位するが、開
口絞り13の開口部は、そのような物標がとり得る相対
位置に対してレンズ11が形成する像点あるいは像面の
軌跡として形成される。
【0017】すなわち、このような相対位置に含まれな
い空間に位置する光源や反射体から到来してレンズ11
によって集光された光は、開口絞り13の開口部とその
周辺とに光学的に拡散されて照射される。
【0018】したがって、受光手段15がその開口部を
介して入射する光を光電変換して生成する電気信号につ
いては、受光の対象とすべき物標以外から出射されある
いは反射された光によるSN比の低下が確実に軽減され
る。
【0019】請求項2に記載の発明にかかわる受光器で
は、レンズ11によって形成される物標の像点あるいは
像面の位置はその物標との相対位置に応じて変位する
が、開口絞り21の開口部は、そのような物標がとり得
る位置の内、予め決められた単数あるいは複数の位置に
存在する物標に対する像点あるいは像面の軌跡として形
成される。
【0020】すなわち、このような相対位置に含まれな
い空間に位置する光源や反射体から到来してレンズ11
によって集光された光は、開口絞り21の開口部とその
周辺とに光学的に拡散されて照射される。また、このよ
うな空間の内、上述した予め決められた位置よりレンズ
11に近い領域に位置する物標が出射しあるいは反射し
た光については、開口絞り21の絞り部に拡散されて照
射される面とその開口絞りの開口部との面積の比が、そ
の光の光量に対する受光手段15の光学的なダイナミッ
クレンジの下限値との比より大きい場合には、その受光
手段15によって光電変換されて電気信号として得られ
る。
【0021】したがって、受光対象とすべき範囲外から
の光たとえば受光の対象とすべき範囲より遠方に位置す
る光源や反射体から到来した光によるSN比の低下を確
実に軽減しつつ、所望のレンジに分布する物標が光学的
に確実にとらえられる。
【0022】請求項3に記載の発明にかかわる測距装置
では、発光手段31によって照射された光は請求項2に
記載の発明にかかわる受光器33によって受光される。
このような受光器では、予め決められた位置がこのよう
な光の反射体あるいは反射源である物標が存在するレン
ジの最大値で決定され、さらに、一般に、その光の光量
はレンジの4乗に反比例した値となる。
【0023】したがって、このような光量とレンジとの
関係の下で、所望のレンジの外から到来した光が開口絞
り21に拡散されて照射される面とその開口絞りの開口
部との面積の比が、レンジ内の物標から到来した反射光
の光量に対する受光手段15の光学的なダイナミックレ
ンジの下限値との比より大きい条件が成立する場合に
は、その反射光は、受光手段15によって光電変換され
て電気信号として得られる。
【0024】すなわち、所望のレンジの外に位置する光
源や反射体から到来した光によるSN比の低下が確実に
軽減され、レンジ内に位置する物標にかかわる測距の精
度が高められる。
【0025】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例につい
て詳細に説明する。図3は、請求項1〜6に記載の発明
に対応した実施例を示す図である。
【0026】図において、図9に示すものと機能および
構成が同じものについては、同じ参照番号を付与して示
し、ここではその説明を省略する。本発明の特徴とする
構成は、本実施例では、図4に示すように、レンズ61
Rと受光素子65とで挟まれた空間に開口絞り40が配
設され、その開口絞り40の開口部41がレンズ61R
によって形成される物標42の像面(像点)の位置に形
成され、かつ図5に示すように、その物標がとり得るレ
ンズ61R との相対位置の全てに対する像面(像点)の
軌跡に等しい形状を有する点にある。
【0027】なお、このような像面(像点)について
は、一般に、物標42がレンズ61Rの主点から距離L
隔たった光軸上の点に位置し、かつそのレンズの焦点距
離がfで与えられる場合には、その主点から光軸に沿っ
【0028】
【数1】
【0029】の式が成立する距離d隔たった点に形成さ
れる。また、開口部41の寸法は、覆域において物標4
2が占有する空間について個別に着目すると、レンズ6
R の光軸に垂直な方向におけるその空間の断面の寸法
に、そのレンズの主軸とその断面との距離Lおよびその
主軸と開口部41との距離dに対して
【0030】
【数2】
【0031】の式で与えられる横倍率βを乗じた値とな
る。また、本実施例と図1および図2に示す原理構成図
との対応関係については、レンズ61R はレンズ11に
対応し、開口絞り40は開口絞り13、21に対応し、
受光素子65は受光手段15、23に対応し、発光素子
62およびレンズ61S は発光手段31に対応し、赤外
透過フィルタ64、レンズ61R 、開口絞り40および
受光素子65は受光器33に対応し、制御部63は測距
手段35に対応する。
【0032】図6は、本実施例の動作を説明する図であ
る。以下、図3〜図6を参照して請求項1に記載の発明
に対応した本実施例の動作を説明する。
【0033】発光素子62から出射されてレンズ61S
を介して物標42に照射されたレーザ光の内、赤外透過
フィルタ64の方向に反射されたレーザ光(以下、単に
「反射光」という。)は、図6(a) に示すように、レン
ズ61R によって集光されて上述した像面(像点)で収
束し、開口絞り40の開口部41を介して受光素子65
の受光面に入射する。
【0034】しかし、このような反射光と共に赤外透過
フィルタ64を透過してレンズ61 R によって集光され
た光の内、例えば、太陽光のようにレンズ61R に対し
て物標42より遠い点から到来した背景光は、図6(b)
に示すように、上述した像面(像点)よりレンズ61R
近い光軸上の点あるいはそのレンズの焦点で収束し、さ
らに、発散して開口絞り40に照射される。
【0035】したがって、このような背景光は、上述し
た発散による開口絞り40への照射面(図6(b) では、
直径D2 の円で示される。)の面積と、開口面41の面
積との比(=D1 2/D2 2)に等しい減衰を受けて受光素子
65の受光面に入射する。
【0036】また、レンズ61R に対して物標42より
近い点(距離L1 <Lで示される。)に位置する物標から
到来した反射光については、図6(c) に示すように、レ
ンズ61R に対して上述した像面(像点)より遠い光軸
上に収束点が形成されるが、その収束点よりレンズ61
R に近い点に位置する開口絞り40には発散して照射さ
れる。
【0037】したがって、このような反射光は、開口絞
り40に対する照射面(図6(c) では、直径D3 の円で
示される。)の面積と、開口面41の面積との比(=D
1 2/D3 2)に等しい減衰を受けて受光素子65の受光面
に入射する。
【0038】さらに、物標42が変位したりその物標が
存在し得る空間がレンズ61R の光軸の周辺に散在する
場合には、そのレンズによって形成される物標の像面
(像点)の位置も変位したり散在する。
【0039】しかし、開口部41は、図5に示すよう
に、このように変位したり散在する像面(像点)の軌跡
として形状および寸法が与えられるので、物標42が位
置し得ない空間から到来する背景光や反射光は、同様に
開口部41の周辺に発散した状態で到達し、開口絞り4
0によって効率よく抑圧される。
【0040】このように本実施例によれば、光源や反射
体である物標と背景光が発生する物体とについてレンズ
61R が形成する像面(像点)の相違に基づいてその背
景光が光学的に抑圧され、その反射光のSN比が確実に
高められる。これによって、従来の技術によってとりえ
なかった同じ波長域の雑音成分を含む背景光が低減され
る。したがって、同じ性能の受光素子を使用しても性能
のよい距離測定装置を得ることができる。
【0041】また、レンズ61R によって高い輝度の太
陽光が集光される環境下では、受光素子65は、その太
陽光の内、赤外透過フィルタ64を透過した成分が上述
したように抑圧されて受光面に入射するので、従来例で
生じていた劣化や焼損の発生確率が大幅に低減される。
なお、赤外透過フィルタ64は、減衰された背景光の中
から赤外以外の波長の光をカットすることによりノイズ
カット効果を高めるために設けられたものであり、本発
明の必須要件ではない。
【0042】なお、本実施例では、物標42が位置し得
る空間がレンズ61R の光軸に垂直に分布する狭小な領
域であると仮定されているが、本発明はこのような物標
42の分布に限定されず、例えば、その空間が赤外透過
フィルタ64の至近点から所定の距離(レンジ)の幅で示
される三次元空間である場合には、開口部41の形状お
よび寸法は、その距離に応じて受光素子65の受光面に
入射する赤外線のレベル、その受光素子の感度、赤外透
過フィルタ64の損失、レンズ61R の損失等を勘案し
つつ所望の視野が得られるものにすればよい。
【0043】以下、請求項2に記載の発明に対応した本
実施例の動作を説明する。請求項2に記載の発明に対応
した実施例と上述した請求項1に記載の発明に対応した
実施例との構成の相違点は、開口部41の形状および寸
法が、物標42が占有し得る空間の内、レンズ61R
主点から所定の距離隔たった空間に対する像面(像点)の
軌跡として与えられた点にある。
【0044】このような構成では、レンズ61R に対し
て物標42より遠い点から到来した背景光は、図6(b)
に示すように、請求項1に記載の発明に対応した実施例
と同様にして減衰を受けて受光素子65の受光面に入射
する。
【0045】また、レンズ61R に対して物標42より
近い点に位置する物標から到来した反射光については、
図6(c) に示すように、請求項1に記載の発明に対応し
た実施例と同様にして、その物標のレンズ61R に対す
る相対距離が小さいほど大きな減衰を受けて受光素子6
5の受光面に入射する。
【0046】しかし、物標42から出射されたり反射さ
れた光がその物標との相対距離が小さいほど大きなレベ
ル(一般には、相対距離の2乗ないし4乗に反比例する
値となる)で受光される場合には、受光素子65の感
度、赤外透過フィルタ64の損失、レンズ61R の損失
等を勘案しつつ、開口絞り40の位置に併せて開口部4
1の寸法や形状を適性に設定することにより、上述した
抑圧(減衰)に抗して所望の受光感度を確保することが
可能である。
【0047】すなわち本実施例によれば、レンズ61R
に対して物標42が存在し得る空間より遠くに位置する
光源あるいは反射体から到来する背景光が効率的に抑圧
され、その物標からの反射光のSN比が光学的に確実に
高められる。
【0048】以下、請求項3に記載の発明に対応した本
実施例の動作を説明する。本実施例にかかわる距離測定
装置では、受光器として請求項2に記載の発明に対応し
た実施例が適用され、その請求項に示す「予め決められ
た位置」を与える相対距離が測距の対象となる最大のレ
ンジとして与えられる。
【0049】したがって、測距すべきレンジ内の物標か
らの反射光のレベルは、図6(c) に示すように、開口絞
り40によって抑圧される。しかし、このような距離測
定装置では、一般に、照射された光に対する物標42の
反射光は、その物標との相対距離の4乗に反比例したレ
ベルで受光される。すなわち、相対距離が小さいほど受
光される反射光の光量が大きいので、受光素子65の感
度、赤外透過フィルタ64の損失、レンズ61R の損失
等を勘案しつつ、開口絞り40の位置に併せて開口部4
1の寸法や形状を適性に設定することにより、レンジ外
に位置する光源あるいは反射体から到来する背景光を効
率的に抑圧し、かつ上述した抑圧に抗して所望のレンジ
の測距を行うことができる。
【0050】したがって、物標42からの反射光のSN
比が光学的に高められて測距可能な物標の実効的な開口
面積や反射係数の下限が従来例に比較して小さくなり、
精度および性能が高められる。
【0051】なお、上述した各実施例では、開口部41
が単一の連通孔から構成されているが、本発明はこのよ
うな構成に限定されず、例えば、図7(a),(b) に示すよ
うに、物標42が占有し得る複数の空間に個別に対応し
た複数の連通孔から構成されてもよい。
【0052】このような構成では、物標42が複数の特
定の空間にのみ位置する場合には、開口部41にこれら
の空間で挟まれた領域に対応する連通孔が含まれないの
で、その領域に位置する物標から到来する背景光や反射
光が効率的に抑圧され、受光すべき反射光のSN比がさ
らに高められる。
【0053】また、開口部41の形状については、例え
ば、図7(c),(d) に示すように、開口部41が、請求項
1、2に記載の発明に対応した実施例において軌跡とし
て与えられた形状に外接する円あるいは楕円として形成
されてもよい。
【0054】このような構成では、開口部41が不定型
の連通孔で形成された場合に比較して安価に高い加工精
度が得られるので、低廉化をはかりつつ容易に受光すべ
き反射光のSN比が高められる。
【0055】さらに、このような円や楕円については、
例えば、図8(a),(b) に示すように、上述した形状に内
接する円あるいは楕円で代用可能である。このような構
成では、厳密には、物標42が存在し得る位置に対する
受光素子65の視野が十分に確保されない可能性がある
が、上述した軌跡の外周形状に急峻であって大きな変曲
点が含まれず、その視野の狭小化が許容される程度であ
る場合には、十分実用に供される。
【0056】また、開口部41の構成については、図8
(c),(d) に示すように、複数の連通孔の集合として構成
してもよく、かつこれらの連通孔の一部あるいは全ての
形状を所望の径や曲率の円あるいは楕円として形成して
もよい。
【0057】
【発明の効果】以上説明したように請求項1、2に記載
の発明では、所望の物標以外の光源や反射体から到来し
た背景光の光量が、集光を行うレンズによって形成され
る両者の像点や像面の位置の相違に基づいて抑圧され
る。
【0058】すなわち、上述した背景光が光電変換に先
行して光学的に抑圧されるので、所望の物標から出射さ
れあるいは反射された光のSN比が高められる。請求項
3に記載の発明では、発光手段から照射された光の反射
光を受光する受光器として、予め決められた位置が物標
の存在するレンジの最大値で設定された請求項2に記載
の受光器が適用され、その反射光の光量がレンジの4乗
に反比例した値となることを利用することにより、その
レンジの外に位置する光源や反射体から到来した光によ
るSN比の低下を軽減しつつ、そのレンジ内に位置する
物標にかかわる測距が行われる。
【0059】したがって、請求項1、2に記載の発明が
適用された機器では、電気的に実現することができなか
った背景光に対するSN比の向上がはかられ、光電変換
によって得られる電気信号の処理にかかわる精度および
効率が高められて性能が向上する。
【0060】また、請求項3に記載の発明では、このよ
うな処理として行われる測距の精度および効率が高めら
れ、同様に性能が高められる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1、2に記載の発明の原理構成図であ
る。
【図2】請求項3に記載の発明の原理構成図である。
【図3】請求項1〜3に記載の発明に対応した実施例を
示す図である。
【図4】開口絞りの位置を示す図である。
【図5】開口絞りの開口部の形状および寸法を示す図で
ある。
【図6】本実施例の動作を説明する図である。
【図7】開口部の他の構成を示す図(1) である。
【図8】開口部の他の構成を示す図(2) である。
【図9】距離測定装置の構成例を示す図である。
【符号の説明】
11,61 レンズ 13,21,40 開口絞り 15,23 受光手段 31 発光手段 33 受光器 35 測距手段 41 開口部 42 物標 62 発光素子 63 制御部 64 赤外透過フィルタ 65 受光素子

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 単一または複数の物標から出射されある
    いは反射された光を集光し、これらの物標について個別
    に像点あるいは像面を形成するレンズと、 前記単一または複数の物標と前記レンズとの相対位置に
    応じた前記像点あるいは前記像面の軌跡として開口部が
    形成され、そのレンズによって集光された光の光量を抑
    圧する開口絞りと、 前記開口絞りによって光量が抑圧された光を受光して光
    電変換する受光手段とを備えたことを特徴とする受光
    器。
  2. 【請求項2】 単一または複数の物標から出射されある
    いは反射された光を集光し、これらの物標について個別
    に像点あるいは像面を形成するレンズと、 前記単一または複数の物標の内、予め決められた単数あ
    るいは複数の位置に存在する物標に対する前記像点ある
    いは前記像面の軌跡として開口部が形成され、前記レン
    ズによって集光された光の光量を抑圧する開口絞りと、 前記開口絞りによって光量が抑圧された光を受光して光
    電変換する受光手段とを備えたことを特徴とする受光
    器。
  3. 【請求項3】 単一または複数の物標が位置する覆域に
    パルスで変調された光を照射する発光手段と、 予め決められた位置がレンジが最大となる位置に設定さ
    れ、前記覆域に位置する物標で前記発光手段によって照
    射された光が反射して生じた反射光を受光する請求項2
    に記載の受光器と、 前記発光手段によって照射された光と前記受光手段によ
    って受光された反射光とのレンジ方向の相関をとり、そ
    の結果に基づいて前記物標の相対距離を求める測距手段
    とを備えたことを特徴とする測距装置。
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