JPH0878122A - 接続装置 - Google Patents

接続装置

Info

Publication number
JPH0878122A
JPH0878122A JP6234002A JP23400294A JPH0878122A JP H0878122 A JPH0878122 A JP H0878122A JP 6234002 A JP6234002 A JP 6234002A JP 23400294 A JP23400294 A JP 23400294A JP H0878122 A JPH0878122 A JP H0878122A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
blocks
connection device
qfp
package
block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP6234002A
Other languages
English (en)
Inventor
英一 ▲高▼橋
Hidekazu Takahashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Microcomputer System Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Microcomputer System Ltd
Priority to JP6234002A priority Critical patent/JPH0878122A/ja
Publication of JPH0878122A publication Critical patent/JPH0878122A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 異なるIC間で共用可能な接続装置を提供す
る。 【構成】 アリ溝16とアリ17が形成された棒状の本
体12に複数のコンタクト13がアウタリードのピッチ
に対応して配列されて成るブロック11が複数用意され
る。4本のブロック11がアリ溝16とアリ17が連結
されて内径を変更可能に井桁に組まれることにより、Q
FP・IC用接続装置が構築される。 【効果】 井桁内径をアリ溝、アリの摺動で増減させて
QFP・IC外形、リード本数の増減に対応できるた
め、外形、リード本数が異なるQFP・IC相互間で接
続装置を共用できる。QFP・ICの規格毎に用意すべ
き接続装置の規格の数を大幅に減少させてコストを低減
できる。接続装置は同一構造の複数のブロックで構築さ
れるため、同一の構造のブロックを製作すれば済み、か
つ、同一構造のブロックを多数本製作することで製造コ
ストを一層削減できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電極的接続技術、特
に、半導体集積回路装置(以下、ICという。)と外部
の電気機器等との電気的接続を仲介する接続装置に関
し、例えば、ICの製造工程において、良品不良品の選
別検査を実施するICハンドラのテスタに被検査物とし
てのICを電気的に接続させるのに利用して有効な接続
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ICの製造工程において、ICの良品不
良品選別検査が実施されるに際しては、被検査物として
のICをICハンドラのテスタに電気的に接続するのに
ソケットと呼ばれる接続装置が使用されている。一般
に、このソケットは被接続物としてのICの外形に対応
した枠形状に形成されている本体を備えており、この本
体に複数本のコンタクトがICのアウタリードに対応し
て配列されて一体的に構成されている。
【0003】なお、この種の接続装置を述べてある例と
しては、特開平2−167485号公報、特開平6−9
4791号公報、がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ソケットにおいては、被接続物であるICのパッケージ
の種類毎にそれらに対応した専用のソケットが必要にな
るため、その製作工数、製作費用等が多大になるという
問題点がある。
【0005】本発明の目的は、異なる被接続物間で共用
可能な接続装置を提供することにある。
【0006】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0007】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
【0008】すなわち、接続装置は、継手が形成された
棒状の本体に複数のコンタクトが長さ方向に規則的に整
列されて固定されて成るブロックが4本、井桁形状に組
まれているとともに、井桁形状の内径を調整可能なよう
に各ブロックの継手が長さ方向に摺動自在にそれぞれ連
結されている。
【0009】また、別の接続装置は、2本のブロックが
スペーサを挟んで平行に配設されているとともに、両ブ
ロックの継手がスペーサにそれぞれ連結されている。
【0010】
【作用】前記した第1の接続装置は、四角形の4側面に
アウタリード群がそれぞれ配列されたパッケージを有す
る被接続物を電気的に接続させるのに使用される。すな
わち、その被接続物が4本のブロックの井桁形状の枠内
に挿入されると、各アウタリードは各コンタクトにそれ
ぞれ接触した状態になるため、被接続物は各コンタクト
を介して外部の電気機器に接続されることになる。
【0011】被接続物のパッケージにおける外形および
アウタリードの本数が増加した場合には、4本のブロッ
クによる井桁形状の内径を互いの継手を長手方向に摺動
させて拡径することにより、対応することができる。逆
に、被接続物のパッケージにおける外形およびアウタリ
ードの本数が減少した場合には、4本のブロックによる
井桁形状の内径を互いの継手を長手方向に摺動させて縮
径することにより、対応することができる。つまり、こ
の接続装置は、四角形の4側面にアウタリード群が整列
されたパッケージの外形およびアウタリードの本数が異
なる被接続物の相互間で共用可能である。
【0012】前記した第2の接続装置は、四角形の2側
面にアウタリード群がそれぞれ配列されたパッケージを
有する被接続物を電気的に接続させるのに使用される。
すなわち、その被接続物が2本のブロックの間に挿入さ
れると、各アウタリードは各コンタクトにそれぞれ接触
した状態になるため、被接続物は各コンタクトを介して
外部の電気機器に接続されることになる。
【0013】被接続物のパッケージにおける両アウタリ
ード列の間隔(パッケージの横幅)が増加した場合に
は、2本のブロックの間隔を幅の大きなスペーサに交換
して拡大することにより、対応することができる。逆
に、被接続物のパッケージの横幅が減少した場合には、
2本のブロックの間隔を幅の小さなスペーサに交換して
短縮することにより、対応することができる。つまり、
この接続装置は、パッケージの横幅が異なる被接続物の
相互間で共用可能である。
【0014】また、第2の接続装置は、ブロックにコン
タクトの本数を多めに配設しておくことにより、被接続
物のアウタリードの本数の増減にも簡単に対応すること
ができる。つまり、この接続装置はパッケージの横幅が
同じでアウタリードの本数が異なる被接続物相互間でも
共用可能である。
【0015】
【実施例】図1は本発明の一実施例である接続装置を示
しており、(a)は接続前の一部省略斜視図、(b)は
接続後の一部省略一部切断正面図である。図2は継手の
部分を示しており、(a)は図1に示されている継手の
拡大斜視図、(b)は変形例を示す拡大斜視図である。
図3(a)、(b)はその接続装置の作用を説明するた
めの各平面図である。
【0016】本実施例において、本発明に係る接続装置
は、クワッド・フラット・パッケージを備えているIC
(以下、QFP・ICという。)をICハンドラのテス
タに接続するのを仲介するものとして構成されている。
被接続物としてのQFP・IC1はクワッド・フラット
型のパッケージ2を備えており、このパッケージ2は樹
脂が用いられて正方形の平板形状に形成された樹脂封止
体3の4側面にアウタリード4群が1列ずつ整列されて
構成されている。樹脂封止体3の内部には半導体集積回
路が作り込まれたペレットと、このペレットに電気的に
接続されたインナリード(いずれも図示しない。)とが
樹脂封止されている。アウタリード4はインナリードに
一体的に連設されており、樹脂封止体3の外部において
水平に突出されて中間部が垂直方向下向きに屈曲された
後に径方向外側向きに水平に屈曲されたガル・ウイング
形状にリード成形されている。また、アウタリード4群
はその実装面である下端面が樹脂封止体3の下端面から
極僅かに突出されているとともに、同一平面内に位置さ
れている。
【0017】このQFP・IC用の接続装置10にはコ
ンタクトブロック(以下、ブロックという。)11が4
本使用されている。ブロック11は絶縁性を有する樹脂
が用いられて断面が略L字形の棒状に一体成形されてい
る本体12を備えている。本体12の横部材には銅また
は銅合金等の導電性の良好な材料が用いられて形成され
たコンタクト13が複数本、QFP・IC1のアウタリ
ード4のピッチに対応されて長さ方向に配列されてい
る。各コンタクト13の上部は横部材に配されてその上
面が上面から上向きに露出されて面一に揃えられてお
り、その露出面によってコンタクト面14が形成されて
いる。また、各コンタクト13の下部は横部材の下面か
ら下方に垂直に突出されて下端が揃えられており、その
突出端部によってテスタがリード線等の適当な手段によ
り電気的に接続される端子部15が形成されている。
【0018】例えば、ブロック11は次のような製造方
法によって簡単に量産することができる。L字形状に屈
曲された多数本のコンタクト13が1列に並べられてフ
レームに一体的に連結された組立体(所謂、リードフレ
ームに相当する。)が予め準備される。ブロック本体1
2が樹脂成形される成形型内にコンタクトフレーム組立
体が挿入されてインサート成形される。
【0019】ブロック本体12の横部材における内側側
面には雌継手としてのアリ溝(dovetail gr
oove)16が長手方向に細長く一体的に没設されて
おり、アリ溝16の一端はブロック本体12の一端部に
おいて閉塞され、他端はブロック本体12の他端部にお
いて開口されている。また、ブロック本体12の長さ方
向のアリ溝16の閉塞側が位置する一端面には、アリ
(dovetail)17がアリ溝16に対応する位置
に配されて長さ方向外側に突設されており、このアリ1
7とアリ溝16とは適度な力によって摺動し得る状態で
噛合するようにそれぞれ形成されている。
【0020】なお、図2(b)に示されているように、
アリ17をブロック本体12の横部材の内側側面に長手
方向に細長く敷設するとともに、アリ溝16をブロック
本体12の一端面に没設してもよい。
【0021】QFP・IC用の接続装置10は、以上の
ように構成されたブロック11が4本用意され、図1に
示されているように井桁(井の字形に組まれた井戸の
縁)形状に組まれて構成されている。すなわち、第1の
ブロック11のアリ溝16に第2のブロック11のアリ
17が一端開口から嵌入されて組み付けられ、第2ブロ
ック11のアリ溝16に第3のブロック11のアリ17
が一端開口から嵌入されて組み付けられ、第3ブロック
11のアリ溝16に第4のブロック11のアリ17が一
端開口から嵌入されて組み付けられるとともに、第4ブ
ロック11のアリ溝16に第1ブロック11のアリ17
が嵌入されて組み付けられる。そして、井桁形状に組ま
れて成る接続装置10の内径は、これから接続しようと
するQFP・IC1のパッケージ2の外形に対応する大
きさに調整される。この調整作業は井桁形状に組まれた
4本のブロック11をアリ溝16およびアリ17との間
で摺動させて井桁形状の内径を調整することにより、実
行することができる。
【0022】次に作用を説明する。以上のようにして構
成された接続装置10にQFP・IC1が装着されるに
際して、QFP・IC1は井桁形状の枠内に上からアウ
タリード4の実装面側を下向きにして挿入される。QF
P・IC1が接続装置10内に挿入されると、枠の内径
がパッケージ2の外形に対応され、かつ、コンタクト1
3のピッチがアウタリード4のピッチに対応されている
ため、各アウタリード4は各コンタクト13に整合した
状態で各コンタクト面14にそれぞれ接触する。
【0023】例えば、この接続装置10がICハンドラ
のソケットとして使用される場合には、コンタクト13
の端子部15がICハンドラのテスタ(図示せず)にリ
ード線等を介して電気的に接続される。そして、接続装
置10の各コンタクト13に各アウタリード4が接触し
たQFP・IC1はテスタに電気的に接続された状態に
なるため、QFP・IC1とテスタとの間でテスト信号
を交わして、所望の電気的特性試験を実施することがで
きる。
【0024】その後、接続しようとするQFP・IC1
が変更されてパッケージ2の外形が異なった場合には、
図3に示されているように、井桁の枠組みを変更すれば
よい。例えば、図3(a)および(b)に示されている
ように、パッケージ2の外形が小さく変更される場合に
は、接続装置10の内径を小さく変更調整すればよい。
この変更調整作業は、井桁形状に組まれた状態のままで
4本のブロック11をアリ溝16およびアリ17との間
で摺動させて井桁形状の内径を調整することにより、き
わめて簡単に実行することができる。ちなみに、井桁形
状は正方形に限らず、長方形にも調整可能であることは
いうまでもない。
【0025】前記実施例によれば次の効果が得られる。 (1) 4本のブロック11によって井桁形状に組まれ
た接続装置10の井桁形状の内径をアリ溝16およびア
リ17を長手方向に摺動させて増減することにより、Q
FP・IC1のパッケージ2の外形およびアウタリード
4の本数の増減に対応することができるため、パッケー
ジ2の外形およびアウタリード4の本数が異なるQFP
・IC1相互間で共用することができる。
【0026】(2) 前記(1)により、QFP・IC
1の規格数に相応して用意すべき接続装置の規格数を大
幅に減少させることができるため、接続装置全体として
のコストを低減することができるとともに、良品不良品
選別検査作業のコストしいてはQFP・ICの生産コス
トを低減することができる。
【0027】(3) 前記(1)により、新製品の開発
に際して既存のブロック11によって対応することがで
きるため、新製品専用の接続装置を試作せずに済み、開
発期間を短縮することができるとともに、開発コストを
低減することができる。
【0028】(4) 接続装置10は同一構造のブロッ
ク11を複数本使用して構築されるため、同一の構造の
ブロックを製作すれば済み、かつ、同一構造のブロック
を多数本製作することにより、その製造コストを大幅に
削減することができる。その結果、前記(2)および
(3)の効果をより一層高めることができる。
【0029】図4は本発明の実施例1であるQFP・I
C用接続装置の応用例を示す接続状態の斜視図である。
【0030】本実施例が前記実施例1と異なる点は、ブ
ロック11の本体12の縦部材における外側側面に断面
半円形のストッパ溝18が長手方向に延在するように全
長にわたって一定幅一定深さに没設されているととも
に、鋼や樹脂等の弾性を有する材料が用いられて形成さ
れてこのストッパ溝18に係合するストッパ19を備え
ている点にある。
【0031】本実施例に係る接続装置においては、QF
P・IC1が枠内に挿入された後に、互いに対辺に位置
する一対のブロック11、11間にストッパ19が架橋
されるとともに、ストッパ19の両端部にそれぞれ形成
された係合部20、20が両ブロック11、11のスト
ッパ溝18、18にそれぞれ係合されることにより、ス
トッパ19が接続装置10にセットされる。このセット
状態において、ストッパ19の中央部に膨出形成された
押さえ部21がQFP・IC1の樹脂封止体3を下方に
押すことにより、QFP・IC1は接続装置10に固定
されるとともに、各アウタリード4が各コンタクト13
のコンタクト面に押接された状態になる。
【0032】そして、本実施例に係る接続装置10はQ
FP・IC1が接続された状態を維持する必要がある場
合に使用するのに好適である。例えば、パーソナルコン
ピュータ等のCPUがプリント配線基板に搭載される場
合に、CPU回路を作り込まれたQFP・IC1をこの
接続装置10を仲介にしてプリント配線基板に搭載して
置くことにより、CPUがバージョンアップされた際
に、ストッパ19をストッパ溝18から外すことによっ
て新旧のQFP・IC1をきわめて簡単に交換すること
ができる。しかも、バージョンアップされた際にQFP
・IC1のパッケージ2の外形およびアウタリード4の
本数が増加した場合にも、接続装置10の井桁形状の内
径を拡大することにより、簡単に対処することができ
る。
【0033】図5(a)は本発明の他の実施例であるS
OP・IC用の接続装置を示す接続状態の斜視図であ
り、(b)はその変形例を示す正面図である。
【0034】本実施例が前記実施例1と異なる点は、ス
モール・アウトライン・パッケージを備えているIC
(以下、SOP・ICという。)の接続に使用されるも
のとして構成されており、ブロック11が2本使用され
ているとともに、両ブロック11、11がスペーサ22
によって連結されている点にある。すなわち、スペーサ
22はブロック本体12と同質の材料等が用いられてS
OP・IC1Aのパッケージ2Aの横幅に対応する横幅
を有する長方形の板形状に一体成形されており、その長
辺側の両側面にはブロック11のアリ17に噛合するア
リ溝16がそれぞれ突設されている。そして、2本のブ
ロック11、11がスペーサ22の両側面にアリ17お
よびアリ溝16が噛合された状態で組み付けられること
により、SOP・IC用の接続装置10Aが組み立てら
れる。
【0035】このように構成された接続装置10AにS
OP・IC1Aが接続されるに際して、SOP・IC1
Aが両ブロック11、11間に上から挿入されると、S
OP・IC1Aの各アウタリード4が各コンタクト13
のコンタクト面14にそれぞれ接触された状態になる。
そして、SOP・IC1Aのアウタリード4の本数が増
加した場合には、両ブロック11、11の長さ方向に整
列されている余分のコンタクト13によって対応するこ
とができる。また、SOP・IC1Aのパッケージ2A
の横幅の増減に対しては、横幅の異なるスペーサ22を
用意しておき、スペーサ22を交換することにより、対
応することができる。したがって、本実施例によれば、
前記実施例1と同様の作用効果が奏されることになる。
【0036】なお、接続装置10AにSOP・IC1A
が保持される場合には、図5(b)に示されているよう
に、ストッパ19が使用されることになる。
【0037】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
【0038】例えば、ブロック11は単一の規格品を用
意するに限らず、ICのアウタリードのピッチの規格の
数に対応してコンタクトのピッチが異なる規格品を複数
用意しておくことが望ましい。その場合、ICのピッチ
の規格は、例えば、0.635mm、1.27mmとい
うように整数倍に規格されていることが多々あるため、
コンタクトのピッチを最小規格のピッチに設定したブロ
ックを用意しておいて、アウタリードのピッチがその最
小規格であるICと、アウタリードのピッチが最小規格
の整数倍であるICとの間で、当該ブロック自体を共用
するように設定することもできる。このようにコンタク
トのピッチをアウタリードのピッチの整数倍に対応する
ように設定しておくと、ブロックの規格数をさらに減少
させることができる。
【0039】接続装置に組み立てた後には、各ブロック
11およびスペーサ22は可動状態のままに連結して置
くに限らず、連結を固定してもよい。さらに、連結が固
定された場合には、ブロック11の余分な長さは切除し
てもよい。この場合には、専用の接続装置を同一規格の
ブロックによって安価に製造することができる等の効果
が得られることになる。
【0040】ブロック本体およびコンタクトの具体的な
形状および構造は、前記実施例に限らず、被接続物の形
状や構造に対応して適宜選定することが望ましい。
【0041】また、各ブロックを連結する継手はアリお
よびアリ溝の組み合わせに限定されない。
【0042】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるQFP
・ICおよびSOP・ICについて説明したが、それに
限定されるものではなく、JリードパッケージICやI
リードパッケージIC、ノンリードパッケージIC等の
他のIC、IC以外の半導体装置やその他の電子部品や
電気機器の接続に使用される接続装置全般に適用するこ
とができる。
【0043】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
【0044】継手が形成された棒状の本体に複数個のコ
ンタクトが長さ方向に規則的に整列されて固定されてい
るブロックを複数本用意し、少なくとも一対のブロック
を平行に配した状態で継手によって連結して接続装置を
構築することにより、この接続装置は被接続物の大きさ
の相違に互いの継手の位置を変位させて対応することが
できるため、接続装置を異なる規格の被接続物に共用す
ることができる。
【0045】接続装置は同一構造のブロックを複数本使
用して構築されるため、同一の構造のブロックを製作す
れば済み、かつ、同一構造のブロックを多数本製作する
ことにより、その製造コストを大幅に削減することがで
きる。
【0046】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である接続装置を示してお
り、(a)は接続前の一部省略斜視図、(b)は接続後
の一部省略一部切断正面図である。
【図2】継手の部分を示しており、(a)は図1に示さ
れている継手の拡大斜視図、(b)は変形例を示す拡大
斜視図である。
【図3】(a)、(b)はその接続装置の作用を説明す
るための各平面図である。
【図4】QFP・IC用接続装置の応用例を示す接続状
態の斜視図である。
【図5】(a)は本発明の他の実施例であるSOP・I
C用の接続装置を示す接続状態の斜視図であり、(b)
はその変形例を示す正面図である。
【符合の説明】
1…QFP・IC(被接続物)、2…クワッド・フラッ
ト・パッケージ、3…樹脂封止体、4…アウタリード、
10…QFP・IC用接続装置、11…ブロック、12
…ブロック本体、13…コンタクト、14…コンタクト
面、15…端子部、16…アリ溝(雌継手)、17…ア
リ(雄継手)、18…ストッパ溝、19…ストッパ、2
0…係合部、21…押さえ部、1A…SOP・IC、2
A…スモール・アウトライン・パッケージ、10A…S
OP・IC用接続装置、22…スペーサ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のコンタクトが棒状の本体に長さ方
    向に規則的に整列されて固定されているブロックを複数
    本備えているとともに、各ブロックの本体には継手がそ
    れぞれ形成されており、少なくとも一対のブロックが平
    行に配されて継手によって連結されていることを特徴と
    する接続装置。
  2. 【請求項2】 4本のブロックが井桁形状に組まれてい
    るとともに、井桁形状の内径を調整可能なように各ブロ
    ックの継手が長さ方向に摺動自在にそれぞれ連結されて
    いることを特徴とする請求項1に記載の接続装置。
  3. 【請求項3】 2本のブロックがスペーサを挟んで平行
    に配設されているとともに、両ブロックの継手がスペー
    サにそれぞれ連結されていることを特徴とする請求項1
    に記載の接続装置。
JP6234002A 1994-09-02 1994-09-02 接続装置 Withdrawn JPH0878122A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6234002A JPH0878122A (ja) 1994-09-02 1994-09-02 接続装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6234002A JPH0878122A (ja) 1994-09-02 1994-09-02 接続装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0878122A true JPH0878122A (ja) 1996-03-22

Family

ID=16964023

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6234002A Withdrawn JPH0878122A (ja) 1994-09-02 1994-09-02 接続装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0878122A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100767298B1 (ko) * 2000-10-16 2007-10-16 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시기판 또는 회로기판의 검사장치
KR100798649B1 (ko) * 2006-05-03 2008-01-28 (주)넥스디스플레이 백 라이트 유닛 검사 장치
KR100798320B1 (ko) * 2002-03-06 2008-01-28 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정 패널의 검사 장치 및 그 방법

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100767298B1 (ko) * 2000-10-16 2007-10-16 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시기판 또는 회로기판의 검사장치
KR100798320B1 (ko) * 2002-03-06 2008-01-28 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정 패널의 검사 장치 및 그 방법
KR100798649B1 (ko) * 2006-05-03 2008-01-28 (주)넥스디스플레이 백 라이트 유닛 검사 장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5413970A (en) Process for manufacturing a semiconductor package having two rows of interdigitated leads
CN102714201B (zh) 半导体封装和方法
US5691650A (en) Apparatus for coupling a semiconductor device with a tester
KR101826663B1 (ko) 반도체 디바이스 테스트용 양방향 도전성 소켓, 반도체 디바이스 테스트용 양방향 도전성 모듈 및 이의 제조방법
US6179659B1 (en) Electrical contact device and associated method of manufacture
JPH0878122A (ja) 接続装置
CN205452273U (zh) 半导体封装体和电子装置
JP5538697B2 (ja) 半導体装置のテスト方法
EP3364194A1 (en) Kelvin test probe, kelvin test probe module, and manufacturing method therefor
JP2002344004A (ja) 光結合素子およびその製造方法、ならびに光結合素子製造装置
EP3944312A1 (de) Leistungselektronische baugruppe
KR19990034968U (ko) 콘택트핑거를이용한반도체검사용소켓어셈블리
US4161817A (en) Method and apparatus for making a semiconductor device mounting element embodying an embedded fan-out wire arrangement
KR100689218B1 (ko) 볼 그리드 어레이형 디바이스 및 이의 패키징 방법
JP4334684B2 (ja) 基板検査用センサおよび基板検査装置
JP2009152324A (ja) 半導体装置の製造方法
KR20020069252A (ko) 구성요소 검사용 소켓 및 구성요소의 검사 방법
JP2000260931A (ja) 半導体装置およびその製造方法
KR100830714B1 (ko) 웨이퍼 검사용 프로브카드 제작방법
KR20000007238A (ko) 반도체 소자 검사용 소켓 구조
JPH0526764Y2 (ja)
KR100560410B1 (ko) 프로브 카드의 프로브 핀 블록
JPH05335460A (ja) Icリードフレーム
JP4153463B2 (ja) 半導体装置用ソケット
JPH0299875A (ja) 半導体装置の試験装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20011106