JPH0855357A - 半導体レーザ装置 - Google Patents

半導体レーザ装置

Info

Publication number
JPH0855357A
JPH0855357A JP6193259A JP19325994A JPH0855357A JP H0855357 A JPH0855357 A JP H0855357A JP 6193259 A JP6193259 A JP 6193259A JP 19325994 A JP19325994 A JP 19325994A JP H0855357 A JPH0855357 A JP H0855357A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor laser
plane
light
optical
parallel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6193259A
Other languages
English (en)
Inventor
Michihiko Sakurai
道彦 桜井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP6193259A priority Critical patent/JPH0855357A/ja
Publication of JPH0855357A publication Critical patent/JPH0855357A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 発振波長の異なる半導体レーザを備えた半導
体レーザ装置の非点隔差補正を可能にし且つ小型、薄
型、軽量化を図る。 【構成】 パッケージ内に発振波長の異なる複数の半導
体レーザチップ34,35と、各半導体レーザチップか
らの出射光の光軸を同一光軸上に一致させるための、出
射光を透過・反射する光学誘電体多層膜のダイクロイッ
クミラー36を形成した透光性の平行平面板37とを設
け、各出射光の水平成分に関する光軸が平行平面板に対
して斜めに透過するように配置した構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザ装置、特
に発振波長の異なる複数の半導体レーザチップを有して
夫々に非点隔差補正がなされ且つ装置の小型、薄型、軽
量化が可能な半導体レーザ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体レーザにおいて、例えばゲイン・
ガイド型の半導体レーザは、縦多モード発振のため、イ
ンデックス・ガイド型の半導体レーザのような縦単一モ
ード発信の半導体レーザに比べ、戻り光束による発振が
乱されにくいという性質がある。このため、ゲイン・ガ
イド型の半導体レーザは、読み取り面等からの戻り光束
による自己結合効果に起因するノイズレベルの増加がな
く、特に高S/N比が要求される光ディスクプレーヤの
光学ピックアップの光源として利用されている。
【0003】しかしながら、このゲイン・ガイド型の半
導体レーザは、レーザ接合面(いわゆる活性層の面)に
平行な面内で発散する光(水平成分の光)の発光点と、
レーザ接合面に垂直な面内で発散する光(垂直成分の
光)の発光点とが異なり、いわゆる非点隔差のある光学
特性を有している。
【0004】即ち、図13A,Bに示すように、ゲイン
・ガイド型の半導体レーザ1から出射される光ビーム2
は発散光であり、レーザ接合面(活性層3の面)に平行
な面(X−Y面)内と垂直な面(X−Z面)内とで固有
の放射角θa とθb を持つ。
【0005】そして、放射角θb で広がる垂直成分の光
b の仮想発光点Aが半導体レーザ1の端面(即ち鏡
面)4であるのに対し、放射角θa で広がる水平成分の
光Laの仮想発光点Bが端面4より奥に入った点とな
る。従って、この光ビーム2では、レーザ接合面に垂直
な面内の垂直成分の光Lb と平行な面内の水平成分の光
a とで仮想発光点が異なり、光学上でいう非点隔差Δ
Zが生ずる。
【0006】上記のゲイン・ガイド型の半導体レーザを
コンパクトディスク(CD)、ミニディスク(MD)等
の光ディスクプレーヤの光学ピックアップの光源として
使用した場合、非点隔差ΔZは、再生特性に悪影響を与
える。
【0007】従来、このような非点隔差を補正するため
に、図11及び図12に示すような構成の半導体レーザ
装置が提案されている。この半導体レーザ装置11は、
パッケージ12内の基台13上にサブマウント部材14
を介してゲイン・ガイド型の半導体レーザチップ15が
取付けられ、パッケージ12の窓にはレーザ光の光軸L
O に対して半導体レーザチップ15のレーザ接合面(X
−Y面)内で所定角度θA 傾くように、透光性の平行平
面板、例えば平行平面ガラス板16が配されて成る。
【0008】この半導体レーザ装置11の構成によれ
ば、レーザ結合面に平行な面内で図11に示すように、
水平成分光La の光軸LO が平行平面ガラス板16に斜
めに透過することにより、見かけ上、仮想発光点Bはレ
ーザチップ15の端面(鏡面)側に移り、一方、レーザ
接合面に垂直な面内では図12に示すように、垂直成分
光Lb の光軸LO が平行平面ガラス板16に直角に透過
するので、仮想発光点Aは変わらない。従って、傾けた
平行平面ガラス板16を透過させることにより、非点隔
差が補正される。
【0009】一方、光源波長の異なる規格の光ディスク
を再生可能にするシステム、即ち、例えば光ディスクを
記録密度に応じて規格化した場合、その光ディスクの規
格に応じて夫々特定波長の光源を選択して共通の装置で
再生できるようにしたシステムが開発されてきている。
このようなシステムにおいて使用される光学ピックアッ
プとしては、発振波長の異なる光源に対して光学系を可
能な限り共有化することが構成の簡素化、製造コストの
点から好ましい。
【0010】このような要求から、図10に示すような
光源部20が考えられている。図9において、21は第
1の光源となる例えば波長680nmの半導体レーザ装
置、22は第2の光源となる例えば波長780nmの半
導体レーザ装置、23はダイクロイックミラーを示す。
この光源部20では、第1の半導体レーザ装置21から
の出射光(光軸L11)がダイクロイックミラー23を透
過し、第2の半導体レーザ装置22の出射光(光軸
12)がダイクロイックミラーで反射して第1の半導体
レーザ装置21からの出射光の光軸L11と同一の光軸に
一致するように構成される。之れ以後の夫々の出射光は
共通の光学系を通ることになる。ここで第1及び第2の
半導体レーザ装置21及び22は前述の図10の半導体
レーザ装置11と同様の構成を採る。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した図
10の光源部20においては、第1及び第2の半導体レ
ーザ装置21及び22、ダイクロイックミラー23等の
個別部品の組み合で構成されているため、部品点数が多
く、光学系の寸法、容積が大きくなる等、設計上問題と
なることが予想される。図10の例では、光源部20の
縦a×横b×奥行cの寸法が10mm×10mm×5.
6mm以上となり、光学ピックアップの更なる小型化、
薄型化、軽量化が困難となる。また、光学的調整工数が
多くなることも避けられない。
【0012】本発明は、上述の点に鑑み、発振波長の異
なる複数の半導体レーザチップを有して夫々に非点隔差
補正ができ、且つ装置全体の小型化、薄型化、軽量化を
可能にし、また光学的調整工程を削減でき光学ピックア
ップに適用して好適ならしめる半導体レーザ装置を提供
するものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】第1の本発明に係る半導
体レーザ装置は、パッケージ30内に発振波長の異なる
複数の半導体レーザチップ34,35と、各半導体レー
ザチップ34,35からの出射光の光軸L13,L14を同
一光軸上に一致させるための、出射光を通過・反射する
光学誘電体多層膜36が形成された透光性の平行面板3
7を設け、各出射光の水平成分に関する光軸L13,L14
が平行平面板37に対して斜めに透過するように配置し
て構成する。
【0014】第2の本発明は、第1の発明の半導体レー
ザ装置において、平行平面板37を、そのいずれか一方
の面のみに光学誘電体多層膜41を形成して構成する。
【0015】第3の本発明は、第1の発明の半導体レー
ザ装置において、平行平面板37を、2枚の平板37
A,37Bの間に光学誘電体多層膜36を挟み一体化し
て構成する。
【0016】第4の本発明は、第1、第2又は第3の発
明の半導体レーザ装置において、平行平面板37を、光
学誘電体多層膜36が形成されない面37X,37Y又
は37Zに、入射する前記出射光の波長に対して反射防
止処理を施して構成する。
【0017】
【作用】第1の本発明においては、一の発振波長を持つ
半導体レーザチップ34からの出射光は、光学誘電体多
層膜36が形成された平行平面板37を透過し、他の発
振波長を持つ半導体レーザチップ35からの出射光は、
光学誘電体多層膜36で反射してその光軸L14が一の発
振波長をもつ半導体レーザチップからの出射光の光軸L
13に一致する。従って、両出射光は、それ以後、共有す
る光学系を通過することになる。
【0018】そして、平行平面板37が各出射光の水平
成分の光軸L13,L14に対して斜めに配されるので、各
レーザチップ34,35からの出射光の垂直成分に関す
る光軸は平行平面板37に直角に透過し、各出射光の水
平成分に関する光軸L13,L 14は平行平面板37に対し
て斜めに透過するようになり、各出射光の非点隔差が補
正される。
【0019】また、パッケージ30内に複数の半導体レ
ーザチップ34,35と光学誘電体多層膜36を形成し
た平行平面板37を配置するので、パッケージ30の小
型化、薄型化が可能となる。また、パッケージ30内で
一体化され1つの部品として構成されるので、例えば光
学ピックアップの光源部に適用した場合、光学ピックア
ップを構成する部品点数が少なくなり、光学ピックアッ
プの光学系組立時の調整工数の削減が図れる。
【0020】第2の本発明においては、図8に示すよう
に、平行平面板37のいずれか一方の面のみに光学誘電
体多層膜41を形成することにより、一の半導体レーザ
チップ35からの出射光が透過する平行平面板37の実
効板厚が、平行平面板37の板厚と同じとなり、他の半
導体レーザチップ34からの出射光が透過する平行平面
板の実効板厚は光学誘電体多層膜41で反射するために
平行平面板37の板厚の2倍となり、各出射光の透過す
る実効板厚に差が生ずる。これによって、夫々の発振波
長の異なるレーザチップの異なる非点隔差が独立に補正
される。
【0021】第3の本発明においては、図3に示すよう
に、2枚の平板37A,37Bの間に光学誘電体多層膜
36を挟んで一体化して平行平面板37を構成すること
により、2枚の平板37A,37Bの板厚を異ならして
置けば、一の半導体レーザチップ34からの出射光が透
過する平行平面板37の実効板厚が2枚の平板37A,
37Bの板厚の合計となり、他方の半導体レーザチップ
35からの出射光が透過する平行平面板37の実効板厚
は光学誘電体多層膜36で反射するために一方の平板3
7Bの板厚の2倍となり、各出射光の透過する実効板厚
に差が生ずる。これによって、夫々の発振波長の異なる
レーザチップの異なる非点隔差が独立に補正される。
【0022】第3の本発明において、平板(37A,3
7B)のガラス材料の屈折率を変えて、実効板厚を調整
してもよい。また、平板(37A,37B)の板厚と屈
折率を変えて、これら板厚と屈折率を組み合わせて、実
効板厚を調整してもよい。
【0023】第4の本発明においては、平行平面板37
の光学誘電体多層膜36(又は41)が形成されない面
37X,37Y,37Zに之に入射する出射光(すなわ
ちレーザ光)の波長に対して反射防止処理を施すことに
より、入射するレーザ光の損失が低減する。
【0024】
【実施例】以下、図面を参照して本発明に係る半導体レ
ーザ装置の実施例を説明する。
【0025】図1及び図2は本発明の一実施例である。
図3はその要部を示す構成図である。本例は、一側面に
例えば透光性の平行平面ガラス板31を配してレーザ光
を出射する窓部32を形成した薄型(直方体)のパッケ
ージ30を設ける。このパッケージ30内に、第1の半
導体レーザチップ(例えば図4の発振スペクトルで示す
発振波長500nmのレーザチップ)34と、第2の半
導体レーザチップ(例えば図5の発振スペクトルで示す
発振波長780nmのレーザチップ)35と、光学誘電
体多層膜からなるダイクロイックミラー即ち、例えば図
6に示す透過率特性(波長500nmの光は透過し、波
長780nmの光は反射する)を有するダイクロイック
ミラー36が形成された透光性の平行平面板、例えば平
行平面ガラス板37を配置して半導体レーザ装置29を
構成する。
【0026】半導体レーザチップ34及び35は、夫々
例えばシリコン等よりなるサブマウント部材38及び3
9上に取付けられ、このサブマウント部材38及び39
がパッケージ30の内底面に配置される。このとき、各
半導体レーザチップ34及び35は、そのレーザ光の光
軸L13及びL14がパッケージ30の内底面、サブマウン
ト部材34,35の上面等に平行な方向に出射されるよ
うに、且つ光軸L13及びL14が共に同じ高さから出射さ
れるように取付ける。
【0027】平行平面ガラス板37は、ダイクロイック
ミラー36を2枚の透光性平行平面ガラス板37A及び
37B間に挟んで3者一体化して構成される。この平行
平面ガラス板37は第1及び第2の半導体レーザチップ
34及び35間に配置されると共に、その板面が夫々の
レーザチップ34及び35からの出射光、特にその水平
成分の光軸L13,L14に対して夫々所定角度になるよう
斜めに配置される。本例では、夫々の光軸L13,L14
対して45°傾くように配置される。
【0028】非点隔差の補正は、前述したように、平行
平面ガラス板37をレーザ光の光軸に傾けて配置するこ
とが有効である。その際、レーザチップ34,35から
出射されたレーザ光の垂直成分(レーザ接合面に垂直な
面内での成分光)に関する光軸を平行平面ガラス板37
に直角に入射させ、レーザ光の水平成分(レーザ接合面
に平行な面内での成分光)に関する光軸を平行平面ガラ
ス板37に斜めに入射させるようになす。
【0029】図3の構成で第1の半導体レーザチップ3
4からの出射光は、平行平面ガラス板37と共にダイク
ロイックミラー36を透過して直進する。第2の半導体
レーザチップ35からの出射光は、ダイクロイックミラ
ー36で反射される。このとき、第2の半導体レーザチ
ップ35から出射光のダイクロイックミラー36で反射
した反射光軸は、第1の半導体レーザチップ34から出
射しダイクロイックミラー36を透過した透過光軸に一
致するように調整される。
【0030】上記第1及び第2の半導体レーザチップ3
4及び35をゲイン・ガイド型半導体レーザチップとす
ると、夫々固有の非点隔差を有する。この第1及び第2
の半導体レーザチップ34及び35を光ディスク用光源
として利用する場合、非点隔差の補正が必要となる(非
点隔差をゼロにするのが望ましい)。
【0031】一般に、第1及び第2の半導体レーザチッ
プ34及び35の発振波長が異なる場合、非点隔差を補
正すべき量は異なる。
【0032】一方、平行平面板による非点隔差補正量A
sは数1の理論式で与えられる。
【0033】
【数1】 Nは平行平面板の屈折率 tは平行平面板の板厚 θは平行平面板の傾き(即ち平行平面板の法線と斜め透
過する光軸とのなす角)
【0034】数1の式において、例えばN=1.49、
t=0.25mm、θ=30°とすれば、非点隔差補正
量As=27.6μmとなる。例えばN=1.49、t
=0.25mm、θ=45°とすれば、非点隔差補正量
As=67.6μmとなる。
【0035】今、非点隔差補正量として第1の半導体レ
ーザチップ34では40.0μmが、第2の半導体レー
ザチップ35では27.0μmが夫々必要であるとす
る。
【0036】図3の構成において、 平行平面ガラス板37の屈折率N=1.49、 平行平面ガラス板37の傾きθ=45° 平行平面ガラス板37Aの厚みt1 =100μm、 平行平面ガラス板37Bの厚みt2 =50μm、 とすれば、第1の半導体レーザチップ34の出射光が透
過する平行平面ガラス板37の実効厚みtは2枚のガラ
ス板37A及び37Bを透過するので、t1 +t2 =1
00μm+50μm=150μmとなり、第2の半導体
レーザチップ35が透過する平行平面ガラス板37の実
効厚みtは、ダイクロイックミラー36で反射するので
同じガラス板37Bの板厚t2 の2倍の距離を通過する
ことになりt2 +t2 =50μm+50μm=100μ
mとなる。
【0037】従って、非点隔差補正量Asは、第1の半
導体レーザチップ34についてAs=40.6μm、第
2の半導体レーザチップ35についてAs=27.0μ
mが得られ、共に非点隔差補正が達成される。
【0038】斯くして、本例の半導体レーザ装置29に
おいては、各半導体レーザチップ34及び35の非点隔
差を夫々独立に補正することができ、且つパッケージ3
0の小型化、薄型化が可能となり、半導体レーザ装置2
9の軽量化も可能となる。因みに本例ではパッケージの
大きさが縦a1 ×横b1 ×高さc1 =5mm×5mm×
2mm以下となり、容積が図9に比較して1/10以下
に低減した半導体レーザ装置が得られる。
【0039】図3の平行平面ガラス板37において、そ
の平行平面ガラス板37A及び37Bのガラス材料の屈
折率を夫々変えて、実効板厚を調整することもできる。
また、平行平面ガラス板37A及び37Bの板厚と屈折
率を変え、これら板厚と屈折率を組み合わせて、実効板
厚を調整することもできる。
【0040】尚、上例においては、ダイクロイックミラ
ー36を2枚の平行平面ガラス板37A及び37B間に
挟んで平行平面ガラス板37を構成したが、その他、図
8に示すように、1枚構造の平行平面ガラス板37のい
ずれか一方の面のみに、例えば図7に示す透過率特性
(波長500nmの光は反射し、波長780nmの光は
透過する)を有する光学誘電体多層膜からなるダイクロ
イックミラー41を形成した構成とすることもできる。
この場合、第2の半導体レーザチップ35からの出射光
(光軸L14)をダイクロイックミラー41を透過させ、
第1の半導体レーザチップ34からの出射光(光軸
13)をダイクロイックミラー41で反射するようにな
す。
【0041】また、図3及び図8の平行平面ガラス板3
7においてダイクロイックミラー36及び41が形成さ
れない面37X,37Y又は37Zに、ここに入射され
る波長のレーザ光を反射しないように、反射防止処理、
例えば反射防止膜をコーティングすることもできる。こ
のように反射防止処理を施すことにより、平行平面ガラ
ス板37を透過するレーザ光の損失を低減することがで
きる。
【0042】図9は本例の半導体レーザ装置29を光デ
ィスクプレーヤの光学ピックアップ50の光源に適用し
た場合である。同図において、51はビームスプリッタ
ー、52はディスク、53はレンズ系、54は受光素子
を示す。半導体レーザ装置29の第1又は第2のレーザ
チップ34又は35から出射したレーザ光55は、ビー
ムスプリッター51で反射されてレンズ系53を通して
ディスク52の面に照射される。ディスク面で反射され
たレーザ光はレンズ系53、ビームスプリッター51を
通して受光素子54に検出され、情報の読み取りが行な
われる。
【0043】このように、本例に係る半導体レーザ装置
29は、光学ピックアップの部品点数を削減し、更なる
小型化、薄型化を可能にする。また、半導体レーザ装置
29が1部品として構成されているので、光学ピックア
ップの光学系の組立時の調整工数を削減できる。
【0044】
【発明の効果】本発明に係る半導体レーザ装置によれ
ば、発振波長の異なる複数の半導体レーザチップの非点
隔差を夫々独立に補正することができると共に、全体を
小型化、薄型化、軽量化することができる。また、複数
の半導体レーザチップ、光学誘電体多層膜を有する平行
平面板等をパッケージ内に配置することにより全体が一
部品となる。従って、本発明の半導体レーザ装置は、例
えば光学ピックアップの光源に適用した場合、光学ピッ
クアップの構成する部品点数の削減が図られ、また光学
ピックアップの小型化、薄型化、軽量化が図られ、さら
に光学系組立時の調整工数を削減することができる。
【0045】半導体レーザ装置を構成する平行平面板と
して、平行平面板の一方の面のみに光学誘電体多層膜を
形成して成る平行平面板を用いる場合、或は2枚の平行
平面板の間に光学誘電体多層膜を挟み一体化して形成し
て成る平行平面板を用いる場合、いずれも異なる発振波
長の半導体レーザに対して夫々独立の非点隔差補正する
ことができる。
【0046】さらに、平行平面板の光学誘電体多層膜が
形成されない面に、之に入射される出射光、即ちレーザ
光の波長に対して反射防止処理を施すときは、入射する
レーザ光の損失を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体レーザ装置の上方よりみた
断面図である。
【図2】本発明に係る半導体レーザ装置の側方よりみた
断面図である。
【図3】本発明に係る半導体レーザ装置の要部の構成図
である。
【図4】第1の半導体レーザチップの発振スペクトル図
である。
【図5】第2の半導体レーザチップの発振スペクトル図
である。
【図6】ダイクロイックミラーの透過率特性図である。
【図7】ダイクロイックミラーの透過率特性図である。
【図8】本発明に係る半導体レーザ装置の他の例を示す
要部の構成図である。
【図9】本発明の半導体レーザ装置を光源に用いた光学
ピックアップの構成図である。
【図10】光源部の比較例の構成図てある。
【図11】従来の半導体レーザ装置のレーザ接合面に平
行な面に沿った断面図である。
【図12】従来の半導体レーザ装置のレーザ接合面に垂
直な面に沿った断面図である。
【図13】A 半導体レーザの斜視図である。B レー
ザ光の非点隔差の説明図である。
【符号の説明】
1 半導体レーザ 2 レーザビーム 3 活性層 4 端面(鏡面) A,B 仮想発光点 11,21,22 半導体レーザ装置 15 半導体レーザチップ 16 平行平面ガラス板 29 半導体レーザ装置 30 パッケージ 32 窓部 34,35 半導体レーザチップ 36,41 光学誘電体多層膜のダイクロイックミラー 37,37A,37B 平行平面ガラス板

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パッケージ内に発振波長の異なる複数の
    半導体レーザチップと、該各半導体レーザチップからの
    出射光の光軸を同一光軸上に一致させるための前記出射
    光を透過・反射する光学誘電体多層膜が形成された透光
    性の平行平面板とが設けられ、前記各出射光の水平成分
    に関する光軸が前記平行平面板に対して斜めに透過する
    ように配置されて成ることを特徴とする半導体レーザ装
    置。
  2. 【請求項2】 前記平行平面板は、そのいずれか一方の
    面のみに前記光学誘電体多層膜を形成して構成されるこ
    とを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザ装置。
  3. 【請求項3】 前記平行平面板は、2枚の平板の間に前
    記光学誘電体多層膜を挟み一体化して構成されることを
    特徴とする請求項1に記載の半導体レーザ装置。
  4. 【請求項4】 前記平行平面板は、前記光学誘電体多層
    膜が形成されない面に、入射する前記出射光の波長に対
    して反射防止処理が施されていることを特徴とする請求
    項1、2又は3に記載の半導体レーザ装置。
JP6193259A 1994-08-17 1994-08-17 半導体レーザ装置 Pending JPH0855357A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6193259A JPH0855357A (ja) 1994-08-17 1994-08-17 半導体レーザ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6193259A JPH0855357A (ja) 1994-08-17 1994-08-17 半導体レーザ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0855357A true JPH0855357A (ja) 1996-02-27

Family

ID=16304976

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6193259A Pending JPH0855357A (ja) 1994-08-17 1994-08-17 半導体レーザ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0855357A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10321961A (ja) * 1997-05-21 1998-12-04 Sharp Corp 半導体レーザ装置
KR20030052724A (ko) * 2001-12-21 2003-06-27 삼성전기주식회사 광 픽업장치
US7035174B2 (en) * 1999-02-25 2006-04-25 Sony Corporation Optical disc drive and optical pickup apparatus that correct astigmatism
KR100702106B1 (ko) * 2004-03-30 2007-04-02 샤프 가부시키가이샤 광픽업장치, 그에 사용가능한 반도체 레이저장치와 하우징및 반도체 레이저장치의 제조방법
JP4611456B1 (ja) * 2009-10-20 2011-01-12 パイオニア株式会社 レーザ光源ユニットの製造方法およびレーザ光源ユニット並びにそのレーザ光源ユニットを備えた画像表示装置
US8179750B2 (en) 2010-02-26 2012-05-15 Mitsubishi Electric Corporation Optical pickup device and optical disc device
JP2016046481A (ja) * 2014-08-26 2016-04-04 住友電気工業株式会社 光アセンブリの製造方法、及び光アセンブリ

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10321961A (ja) * 1997-05-21 1998-12-04 Sharp Corp 半導体レーザ装置
US7035174B2 (en) * 1999-02-25 2006-04-25 Sony Corporation Optical disc drive and optical pickup apparatus that correct astigmatism
CN100347770C (zh) * 1999-02-25 2007-11-07 索尼公司 光学拾取器和光盘驱动器
KR20030052724A (ko) * 2001-12-21 2003-06-27 삼성전기주식회사 광 픽업장치
KR100702106B1 (ko) * 2004-03-30 2007-04-02 샤프 가부시키가이샤 광픽업장치, 그에 사용가능한 반도체 레이저장치와 하우징및 반도체 레이저장치의 제조방법
JP4611456B1 (ja) * 2009-10-20 2011-01-12 パイオニア株式会社 レーザ光源ユニットの製造方法およびレーザ光源ユニット並びにそのレーザ光源ユニットを備えた画像表示装置
WO2011048667A1 (ja) * 2009-10-20 2011-04-28 パイオニア株式会社 レーザ光源ユニットおよびそのレーザ光源ユニットを備えた画像表示装置並びにレーザ光源ユニットの製造方法
US8179750B2 (en) 2010-02-26 2012-05-15 Mitsubishi Electric Corporation Optical pickup device and optical disc device
JP2016046481A (ja) * 2014-08-26 2016-04-04 住友電気工業株式会社 光アセンブリの製造方法、及び光アセンブリ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH01502619A (ja) 光学波長分割多重化装置
US7050381B2 (en) Optical system having a convex surface for accessing a storage medium
KR20090040860A (ko) 광 송수신 모듈
WO2018180807A1 (ja) 光モジュール
US5978404A (en) Laser beam emission apparatus
US20050213471A1 (en) Reflecting optical element and optical pickup device
JP3219172B2 (ja) 合波装置
JPH0855357A (ja) 半導体レーザ装置
KR19990024008A (ko) 광디스크장치
JP4590660B2 (ja) 光ピックアップ装置
US5473594A (en) Optical pickup device using optical lens coated with antireflection film whose spectral reflectance changes in accordance with wavelength
US4553229A (en) Apparatus for reading information
JP3908002B2 (ja) 光ピックアップおよび光ディスク装置
JPH02311816A (ja) ビーム変換装置
JPH11167035A (ja) 光機能素子と光結合方法
JP3912017B2 (ja) 発光素子実装体及び光学システム
JP2996856B2 (ja) 光学式ピックアップ装置
JPH07161058A (ja) 半導体レーザ装置
JP2638039B2 (ja) 光集積回路装置
JP2002328259A (ja) 光学素子
US20050162994A1 (en) Two-wavelength optical element
JP3668422B2 (ja) 光ピックアップ装置
JP2002319176A (ja) 光学ピックアップ装置
JP2003060275A (ja) 半導体レーザ装置
JP2924872B2 (ja) 光ヘッドとその組立方法