JPH08500049A - コントラスト感度テスト装置 - Google Patents

コントラスト感度テスト装置

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JPH08500049A JP7504540A JP50454095A JPH08500049A JP H08500049 A JPH08500049 A JP H08500049A JP 7504540 A JP7504540 A JP 7504540A JP 50454095 A JP50454095 A JP 50454095A JP H08500049 A JPH08500049 A JP H08500049A
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Abstract

(57)【要約】 可視コントラスト感度をテストする装置が開示される。この装置により、ベクトグラフ的に偏光されたテストシンボルと基準背景の間のコントラストを、テスト軸線に沿って配置された偏光アナライザの偏光方向を変化させることにより、連続的に変化させることができる。本発明は、回転自在アナライザを有するチャト投影装置または従来の屈折装置を設けることにより実施される。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の名称] コントラスト感度テスト装置 [発明の背景] 本発明は、コントラスト感度テスト装置に係わり、特にベクトグラフスライド (vectographic slides)またはベクトグラフ近点カード(near-point card)に より生成される投影像を用いたコントラスト感度テスト装置に関する。 ベクトグラフスライドは、次に示すもののテストのために多年にわたって使用 されている。すなわち、双眼視状態の下での単眼の視力(アキューテイ(acuity) )や、双眼視状態の下での各々の眼の乱視の軸、右眼と左眼の間での視力と調節 性のバランス、双眼視の不安定性、単眼視および双眼視の視力の間の一致性、筋 肉のバランス、視線固定(注視)の不一致、および立体的な視力のテストに用い られている。このようなスライドを用いた初期の頃の一報告が、New Eng land Journal of Optometry,May 1966,v ol.XVII,No.5に刊行されている。これらのスライドは無偏光背景部 分に対して偏光シンボルを有するという独自の特徴が有り、すなわち、典型的に 幾つかのシンボルが一つの方向に 偏光され、他のシンボルがそれと直交する方向に偏光されている。上記の従来の テストは一対の直交偏光アナライザを用いて行われ、それぞれのアナライザは、 各々のシンボルを一方の眼に対して可視にし、他方の眼に対して不可視にするよ うに各々の眼の前方に配置される。アナライザが整合位置から完全に20度外れ るまでは望ましくないゴースト像は現れないので、アナライザを正確に90度の 位置に位置決めを行う必要はない。最も適当と思われる(subjective)屈折装置 (refractor)がテスト実施者に与えられ、直交アナライザが付属ホイールに装 着される。 殆どのテスト実施者は既にベクトグラフスライドおよび近点カードを用いてい るので、固定されたアナライザの代わりにまたはそれに加えて回転自在なアナラ イザを与える屈折装置の適応(adaptation)は、従来のベクトグラフテストに加 えて、コントラスト感度テストに供する簡単な手段を提供する。あるいはまた、 回転自在アナライザはチャート投影装置に付加することができる。ベクトグラフ スライドおよびベクトグラフ近点カードは、一方向のみに偏光されたテストシン ボルを有するスライドおよび近点カードを備えてもよく、コントラスト感度のテ ストに供する回転自在アナライザと共に用いてもよい。回転自在アナライザを屈 折装置が備える1つの利点は、読み取り条件の下でのコン トラスト感度がベクトグラフ近点読み取りカードを用いてテストできるという点 にある。双眼視屈折に用いられるベクトグラフ近点読み取りカード、およびこれ らを作製する方法は、1971年3月30日付けの米国特許第3、572、91 1号に開示してあり、当業者には理解されるように、上記の開示された方法は、 一方向のみに偏光されたシンボルまたは複数のシンボルを有する近点カードを形 成するように容易に変形可能である。 従来、コントラスト感度テストは、チャートの背景に対して異なるコントラス トレベルを有するシンボル(複数)を含む特殊なチャート(複数)、又は異なる コントラストレベルのシンボルを投影するスライド(複数)を用いて行われてい る。しかしながら、このような装置は、各々のコントラストレベルの間に所定の 有限段差(ステップ)が必ず存在し、従って、コントラスト感度を規定する精度 が制限されるという固有の問題点を有している。 [発明の開示] 従って、本発明の一つの目的は、コントラスト感度をテストする改良された手 段を提供することにあり、即ち、この手段により基準背景に関するテストシンボ ルの相対感度が、デイスクリートというよりもむしろ連続的に実施者により変更 されるように改良すること を目的とする。 本発明のさらなる一目的は、特殊なコントラストレベル形チャートまたはスラ イドよりもむしろベクトグラフスライドまたはベクトグラフ近点カードを用いて コントラスト感度をテストする手段を提供することにある。 本発明の、さらに他の一目的は、実施者が、従来の屈折装置またはチャート投 影装置の簡単な変形によりコントラスト感度の改良されたテストを行うことを可 能にすることにある。 本発明のその他の目的、利点、および特徴は、添付した図面に関連してなされ る以下の説明から明らかになろう。 [発明の概要] 本発明は、ベクトグラフ的に偏光されたテストシンボルとこのシンボルを囲む 背景の間でコントラストを変化させる装置に関する。このコントラストの変化は 、ベクトグラフスライドまたはベクトグラフ近点カードを見る従来の独自の屈折 装置の各々の支脚部ないしバンク(bank)に回転自在なアナライザを設げること により実現でき、またはベクトグラフスライドを投影するために用いられるチャ ート投影装置に回転自在アナライザを設けることにより実現できる。 [図面の簡単な説明] 図1a,図1b,図1cは、水平偏光されたテストシンボルに関してアナライ ザの配向を変える効果を示すベクトグラフ的に偏光、投影されたイメージのグラ フである。 図1dは、図1a−図1cに示したシステムに対するアナライザの配向の関数 としての相対コントラストを示すグラフである。 図2は、本発明の一実施例によるチャート投影装置の光学的概略図である。 図3は、回転自在アナライザを有する調節(モディファイヤ)スライドの後面 図である。 図4は、アナライザの配向と相対コントラストを与えるインジケータスケール を示す図である。 図5は、回転自在アナライザを有する回転自在スライドデイスクの要部を示す 前面図である。 図6は、装着されたアナライザを回転させる外部手段を有する屈折装置の一バ ンクの一部断面図である。 [詳細な説明] 図1a乃至図1cには、ベクトグラフテストシンボルに対してコントラストを 連続的に変化させる原理が図示してある。最も簡単なコントラストの場合、二種 類の輝度レベル、すなわちより高いレベルL hとより低いレベルLlが問題にな る。これらの二種類の輝度レベルの間の相対コントラストCrelは、より高いレ ベルに対する二種類のレベルの間の差の比 Crel=(Lh−Ll)/Lh として表すことができる。ただし、LhはLlより大きいか等しい。 本発明によれば、より低い輝度レベルLlは、ソース光のパーセントとして表 され、投影されたテストシンボルに対応する光透過率であるが、より高い輝度レ ベルLhは、同様にソース光のパーセントとして表され、周囲の基準背景に対応 する光透過率である。従って、相対コントラストは次の関係により表される。 Crel=(B−S)/B ただし、Sは投影されたテストシンボルに対応する光透過率であり、またBは周 囲の基準背景に対応する光透過率である。かくして、相対コントラスト値零は、 投影されたテストシンボルと基準背景の間でのコントラストの欠如を示し、逆に 、相対コントラスト値1は、投影されたテストシンボルと基準背景の間の最大コ ントラストを示している。 図1aを参照すると、光路8’および8”により表された投影無偏光ソース光 は、入射光に対して直交配置されたベクトグラフスライド10に交差する。ベク トグラフスライド10は透明フィルム14上に印刷された偏光テストシンボル1 2を有している。大文字Aの形のテストシンボル12は、偏光方向ないし偏光軸 12’を有し、光路8’に交差する。図1a乃至図1cに説明のため水平をなす として示した偏光方向12’は任意に選択される。スライド10の透明部分は、 テストシンボル12の投影イメージに対する基準背景を形成するように作用し、 光路8”に交差する。光路8’に沿う無偏光ソース光は、半分が水平に偏光し、 半分が垂直に偏光すると考えることができ、偏光テストシンボル12は光の水平 偏光部分のみを透過し、したがって、テストシンボルを通しての透過率は50パ ーセントであり、光路8’に沿う透過光は水平方向に偏光されるようになる。ベ クトグラフスライド10の透明部分14は光路8”に沿って無偏光入射ソース光 の100パーセントを透過し、光は無偏光のままである。 次に、光は、入射光に関して直交配置された回転自在偏光アナライザ16に交 差する。図1aにおいて、アナライザ16は水平偏光方向ないし偏光軸線16’ を有し、したがって、テストシンボルの偏光軸線12’とアナライザの偏光軸線 16’の間の角度θは0度である。この回転角度でアナライザ16は光路8”に 沿う無偏光、即ち透明基準背景14を完全に透過した無偏光の50パーセントを 透過している。テストシンボル12により水平方向に偏光された光路8’に沿う 光は、図1aに示されるように、入射光の偏光方向にほぼ整合する偏光軸線16 ’を有するアナライザ16を 完全に透過する。したかって、アナライザ16を通過した光の全てはソース光の 50パーセントの透過率に対応する一様な強度をなしている。 次に、光はデイスプレイスクリーン20を照明する。テストシンボル12に対 する光の透過率は基準背景14に対する光の透過率に等しいので、相対コントラ ストはゼロになり、投影されたテストシンボルイメージ2aは投影された背景2 4から区別することはできない。 図1bは45度の回転角θを通しての回転アナライザ16の効果を図示したも のである。光路8”に沿う基準背景透過率は50パーセントのままであるが、光 路8’に沿うテストシンボルの透過率は、式S2=S1cos2θに従って回転角 θの関数として連続的に変化する。ただし、S2はアナライザ16を通してのテ ストシンボルの透過率であり、S1はベクトグラフスライド10を通してのテス トシンボルの透過率であり、これらは共にソース光のパーセントとして表される 。θか45度に等しい場合、テストシンボルの透過率S2は25%に逓減され、 この結果、デイスプレイスクリーン20における投影された基準背景24に対す るテストシンボルイメージ22bが暗くなり、かつ相対コントラストが0.5に なる。 図1cに示したように、アナライザ16がθが90 度に等しくなるようにさらに回転されると、最大相対コントラストの状態になる 。アナライザの偏光軸線16’がテストシンボルの偏光軸線12’に垂直のとき は、光路8’に沿うテストシンボルの透過が排除され、また基準背景24に対す るテストシンボルイメージ22cについて相対コントラスト値は1になる。 図1dのグラフは、角度θを0から90度まで変化させたときの相対コントラ ストの連続する変化を示すものである。 ここで、図2を参照すると、本発明の好適な実施例によるチャート投影システ ムの概略図が示してある。投影ランプのフィラメントなどの光源32、集光レン ズ34、およびフィルタシステム36が公知の方法で結合されて、投影軸線28 に沿う光路30を形成する。ベクトグラフスライド38がフィルム面40におい て光路30に交差するように直交して整合される。次に、ベクトグラフスライド 38を透過する光路30に沿う光が、選択的に配置され、光路に対して直交する ように配向されたモディファイヤ42に交差するようになされる。従来の投影レ ンズ44が設けられ、モディファイヤを透過したイメージをスクリーン46上に 投影する。 モディファイヤ42は図3にさらに詳細に示してあり、そこにはセル52内に 固定された回転自在な偏光 アナライザ54が示してある。この偏光アナライザは深座ぐり加工された受座5 0内に回転自在に装着してある。従来のラック・ピニオンアセンブリーが設けら れ、ユーザによるアナライザ54の回転を可能にしている。駆動ノブ58がモデ ィファイヤ42に回転自在に装着され、ラック62に係合し、同心をなして装着 されたピニオン歯車60を駆動し、セル52に対するラック62の直線運動をも たらし、ラック62の歯がセル52の外周ギヤ歯に歯合し、セルとアナライザを 回転させるように作用する。ラック62の直線運動は制限ストップ64a,64 bにより制限され、これによりアナライザ54の回転運動が対応して90度の角 度に制限されるようになされる。アナライザを回転させる他のシステム(図示し ないが)も考えられる。例えば、投影装置に内部的に装着され、モディファイヤ が適切に滑入されたとき二側面ラックの一側に係合し、ラックの他側がセルの歯 に係合するように構成された駆動ギヤや、あるいはノブ付き親ねじの歯がセルの 外周のウオームギヤ歯に直接歯合する親ねじ(lead screw)システム考案されて いる。ギヤ比および/またはピッチなどの特定の回転システムの因子を変えるこ とにより、アナライザサ54を回転させるための適切な速度と精度が実現される 。また、第一のセルとアナライザに近接して第二のセルとアナライザを付加し、 これにより両アナライザが同一の駆動機構により回転されるようにすることによ り、モディファイヤ42に縦続(tandem)接続の回転自在アナライザを設けるこ とも本発明の範囲内にある。 アナライザの配向は、スクリーン上に現れる投影イメージの一部として示され ると好適であり、これにより実施者は暗い部屋での検査を行う間に、患者のコン トラスト感度の定量的な測度を容易に視認することが可能になる。図4に示した 好適な配置を参照すると、アナライザの回転角度はスケールマーカ74により示 される。このスケールマーカは、アナライザ70に対して固定され、またアナラ イザが回転されるとき静止した半径方向の基準スケール72に対して移動し、こ れによりアナライザ70の角度回転に対応して基準スケール72上の(位置)点 をマークする。アナライザ70の回転は図4に約38度として示してある。基準 スケール72は、ベクトグラフチャートスライドに、あるいは代わりに別の透過 性媒体上に印刷されると好適である。スケールマーカ74の投影は、基準スケー ル72に対して適切に配置されたアナライザ70に成形切欠きを設け、これによ り比較的明るい領域が適切な基準スケールラインにおいてスクリーン上に投影さ れるようにして実現されると好適であり、あるいは小型の短焦点距離のレンズを 、アナライザ70の円形切 欠き中に挿入し、適切に接合して比較的明るいスポットをスクリーンイメージ上 に投影するようにしてもよい。あるいはまた、アナライザ上に成形不透明(opaq ue)オーバーレイ層を形成し、適切なスケールラインにおいて投影イメージ上に 影を生成するようにしてもよい。 検査する実施者が、度では表されない相対コントラストの測度を直接得ること を可能にするスケールを付加すると好適である。図4には、cos2θに従って 校正されたコントラストスケール76が示してあり、その指示値は0から10の 範囲に亘る。また、各々の単位が9回転角度単位あるいはコントラスト範囲の1 /10に等しい、0から10の範囲の線形スケール(図示略)などの他の適切な スケールも使用可能である。スケールマーカ74と同様に、校正されたコントラ ストスケール76がアナライザ70に対して固定され、アナライザが回転される につれて基準スケール72に対して移動するようにされると好適であり、このと き指示値は、基準スケール72上のゼロ設定78と半径方向で整合するようにコ ントラストスケール位置72を比較することにより得るようにしてもよい。ある いはこれに代わって、校正されたコントラストスケールを双眼視により、整合さ せて(in registry)、印刷し、これにより高い光学的密度を実現するようにし てもよ い。 本発明の他の実施例が、Wilkinsonに対して1972年4月11日付 けで与えられた従来の米国特許第3、655、276号を参照し、図5により示 してある。上記特許の明細書及び図面はここに取り込まれる。すなわち、この米 国特許第3、655、276号は眼科屈折チャート投影装置に関するもので、こ の装置においては、スライドがデイスクの周辺に装着され、これらのデイスクは 、オペレータが遠隔制御により光路中に所望のスライドを選択的に配置するよう に投影装置の光路に対して回転自在に配置される。この特許の明細書のコラム1 、73行からコラム2、3行に説明されているように、第一デイスクの周辺に配 置されたスライド開口は、所望通り、あるテストスライド、例えば放物線状のチ ャートスライドを保持する回転自在セルを装着するようにしてもよい。本発明の 形態は、第一デイスク上の回転自在セル内に偏光アナライザを配置し、投影装置 の光源と第一デイスクの間に配置された第二デイスク上にベクトグラフスライド を装着することにより実施される。ベクトグラフスライドとアナライザが投影装 置の光路に沿って整合されると、投影されたチャートイメージのコントラストを 変化させるようアナライザを回転できる。 ここで、図5は周囲開口82を有するデイスク80 の要部を示す図である。回転自在セル86が開口84内に設定され、また偏光ア ナライザ88かセル86内に確保され、これと共に回転する。セル86の回転は 、上記の特許のコラム2、8−26行および53−54行、ならびにコラム3、 21−23行に説明されるように、電動ギヤトレインにより行われる。 本発明のさらに他の一実施例は、従来の眼科屈折装置に偏光アナライザを回転 自在に支持することにより実施される。実施者は、アナライザを回転させ、被験 者(test subject)により見られるように、投影ベクトグラフスライドイメージ またはベクトグラフ近点カードの相対コントラストを変えるように操作する。 従来の一屈折装置がWilkinsonに対して1970年、3月3日に与え られた従来の米国特許第3、498、699号に開示されている。この特許の明 細書及び図面はここに取り込まれる。この屈折装置は、被験者の眼と観察チュー ブと視覚的に整合するように各種の補正レンズをテスト軸線上に配置することを 可能にする左右の支脚部ないしフレーム(battery)を備えており、各々の支脚 部は球状のレンズアセンブリーと円筒状レンズアセンブリーを有している。上記 明細書のコラム5、61−76行に開示されるように、実施者は、円筒軸の制御 ノブを回転させることにより円筒レンズの配向を制御するようにしてもよい。 ここで、図6は従来の屈折装置を示す断面図である。偏光アナライザは、いず れかのデイスク94aまたは94bに回転自在に装着され、ここで円筒レンズは 、それぞれセル92aまたは92bにより典型的には、いずれかの位置90aま たは90bに、位置される。回転自在制御ノブ96はギヤトレインを通して作用 し、円筒レンズの場合に対して上記に取り込んだ特許に開示されるように、アナ ライザを回転させる。引照した米国特許第3,498,699号のコラム6、2 9−42行に開示されたようにアナライザの配向の適切な可視表示が設けられる 。
【手続補正書】 【提出日】1995年5月25日 【補正内容】 [補正の内容] I 請求の範囲の補正 請求の範囲を別紙の通り補正する。 II 明細書翻訳文の補正 (1)明細書翻訳文第4頁19行の「支脚部」を「光路アレイ」にする。 (2)同4頁末行「[図面の簡単な説明]」を削除し、別添の第4a〜4c 頁を加入する。 (3)同14頁19行の「支脚部ないしフレーム」を「光路アレイ」にする 。 (4)同頁20行の「支脚部」を「光路アレイ」にする。 請求の範囲 1.視カチャート投影装置であって、投影軸線と、この軸線上に配置されたテス トスライドとを備え、前記スライドは、透明であると共に、偏光テストシンボル とこのテストシンボルを囲む無偏光基準背景とを有し、 さらに、前記テストスライドを前記軸線上に配置する手段と、前記軸線上に配 置され偏光方向を有する偏光アナライザとを備え、 さらに、このアナライザを前記軸線上に配置する手段と、このアナライザの偏 光方向を変更する手段とを備え、 これにより前記テストシンボルと前記基準背景の投影イメージの間のコントラ ストが偏光方向を変更することにより変化される視力チャート投影装置。 2.前記テストスライドはさらに基準スケールを有し、また前記アナライザはさ らに前記基準スケールと共同動作する基準スケールマーカを有し、前記基準スケ ルと基準スケールマーカは前記テストシンボルと共に投影され、これにより前記 偏光方向が表示される請求項1記載のチャート投影装置。 3.視力テストシステムであって、テスト軸線と、このテスト軸線上に配置され た補正レンズと、この補正 レンズを前記テスト軸線に配置する第一支持手段と、前記テスト軸線上に配置さ れ偏光方向を有する偏光アナライザとを備え、 さらに、前記アナライザを前記テスト軸線上に配置する第二支持手段と、前記 アナライザの偏光方向を変化させる手段と、前記テスト軸線上に周囲の無偏光基 準背景を有する偏光テストシンボルを与える手段とを備え、 これにより、前記偏光テストシンボルとこれに対する前記周囲基準背景との間 のコントラストが、前記アナライザの偏光方向を変えることにより偏光されて、 変化するコントラスト条件の下での視力をテストする視力テストシステム。 4.前記テストシンボルは投影イメージである請求項3記載の視力テストシステ ム。 5.前記偏光テストシンボルを与える手段はベクトグラフ近点カードを有する請 求項3記載の視力テストシステム。 6.一対の光路アレイを含む屈折装置であって、各々の前記光路アレイが、 テスト軸線と、 このテスト軸線上に整合された観察チューブと、 複数の補正レンズを有する球状レンズアセンブリーおよびこれらの補正レンズ の少なくとも一つを前記観 察チューブに選択的に整合させる手段と、 少なくとも一つのデイスクを有する円筒レンズアセンブリーであって、前記デ イスクが光学的要素をその中に装着する複数のセルを有する円筒レンズアセンブ リーと、 前記デイスクを回転させて、前記光学的要素のいづれか一つを前記観察チュー ブに選択的に整合させるディスク回転手段と、 前記セルの一つに装着され、偏光方向を有する偏光アナライザと、 このアナライザを回転させて、このアナライザが前記観察チューブに整合され たとき、偏光方向を変化させるアナライザ回転手段とを備え、 これにより、偏光テストシンボルとこれに対する無偏光基準背景の間のコント ラストが、前記アナライザの偏光方向を変えることにより変更されてなる屈折装 置。 即ち、本発明の目的は、以下に示す各視点によって達成される。 本発明の第1の視点における視力チャート投影装置は、投影軸線と、この軸線 上に配置されたテストスライドとを備え、前記スライドは、透明であると共に、 偏光テストシンボルとこのテストシンボルを囲む無偏光基準背景とを有し、 さらに、前記テストスライドを前記軸線上に配置する手段と、前記軸線上に配 置され偏光方向を有する偏光アナライザとを備え、 さらに、このアナライザを前記軸線上に配置する手段と、このアナライザの偏 光方向を変更する手段とを備え、 これにより前記テストシンボルと前記基準背景の投影イメージの間のコントラ ストが偏光方向を変更することにより変化されることを特徴とする。 上記第1の視点において、前記テストスライドはさらに基準スケールを有し、 また前記アナライザはさらに前記基準スケールと共同動作する基準スケールマー カを有し、前記基準スケールと基準スケールマーカは前記テストシンボルと共に 投影され、これにより前記偏光方向が表示されることが好ましい。 本発明の第2の視点において、下記の視力テストシステムが提供される。即ち 、視力テストシステムは、 テスト軸線と、このテスト軸線上に配置された補正レンズと、この補正レンズを 前記テスト軸線に配置する第一支持手段と、前記テスト軸線上に配置され偏光方 向を有する偏光アナライザとを備え、 さらに、前記アナライザを前記テスト軸線上に配置する第二支持手段と、前記 アナライザの偏光方向を変化させる手段と、前記テスト軸線上に周囲の無偏光基 準背景を有する偏光テストシンボルを与える手段とを備え、 これにより、前記偏光テストシンボルとこれに対する前記周囲基準背景との間 のコントラストが、前記アナライザの偏光方向を変えることにより偏光されて、 変化するコントラスト条件の下での視力をテストすることを特徴とする。 上記第2の視点において、前記テストシンボルは投影イメージとすることが好 ましく、また、前記偏光テストシンボルを与える手段はベクトグラフ近点カード とすることが好ましい。 さらに、本発明は、その第3の視点において、下記の屈折装置を与える。即ち 、一対の光路アレイを含む屈折装置であって、各々の前記光路アレイが、 テスト軸線と、 このテスト軸線上に整合された観察チューブと、 複数の補正レンズを有する球状レンズアセンブリー およびこれらの補正レンズの少なくとも一つを前記観察チューブに選択的に整合 させる手段と、 少なくとも一つのデイスクを有する円筒レンズアセンブリーであって、前記デ イスクが光学的要素をその中に装着する複数のセルを有する円筒レンズアセンブ リーと、 前記デイスクを回転させて、前記光学的要素のいづれか一つを前記観察チュー ブに選択的に整合させるディスク回転手段と、 前記セルの一つに装着され、偏光方向を有する偏光アナライザと、 このアナライザを回転させて、このアナライザが前記観察チューブに整合され たとき、偏光方向を変化させるアナライザ回転手段とを備え、 これにより、偏光テストシンボルとこれに対する無偏光基準背景の間のコント ラストが、前記アナライザの偏光方向を変えることにより変更されてなることを 特徴とする。 [図面の簡単な説明]

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.視力カチャート投影装置であって、投影軸線と、この軸線上に配置されたテ ストスライドとを備え、前記スライドは、透明であると共に、偏光テストシンボ ルとこのテストシンボルを囲む無偏光基準背景とを有し、 さらに、前記テストスライドを前記軸線上に配置する手段と、前記軸線上に配 置され偏光方向を有する偏光アナライザとを備え、 さらに、このアナライザを前記軸線上に配置する手段と、このアナライザの偏 光方向を変更する手段とを備え、 これにより前記テストシンボルと前記基準背景の投影イメージの間のコントラ ストが偏光方向を変更することにより変化される視力チャート投影装置。 2.前記テストスライドはさらに基準スケールを有し、また前記アナライザはさ らに前記基準スケールと共同動作する基準スケールマーカを有し、前記基準スケ ールと基準スケールマーカは前記テストシンボルと共に投影され、これにより前 記偏光方向が表示される請求項1記載のチャート投影装置。 3.視力テストシスチムであって、テスト軸線と、このテスト軸線上に配置され た補正レンズと、この補正 レンズを前記テスト軸線に配置する第一支持手段と、前記テスト軸線上に配置さ れ偏光方向を有する偏光アナライザとを備え、 さらに、前記アナライザを前記テスト軸線上に配置する第二支持手段と、前記 アナライザの偏光方向を変化させる手段と、前記テスト軸線上に周囲の無偏光基 準背景を有する偏光テストシンボルを与える手段とを備え、 これにより、前記偏光テストシンボルとこれに対する前記周囲基準背景との間 のコントラストが、前記アナライザの偏光方向を変えることにより偏光されて、 変化するコントラスト条件の下での視力をテストする視力テストシステム。 4.前記テストシンボルは投影イメージである請求項3記載の視力テストシステ ム。 5.前記偏光テストシンボルを与える手段はベクトグラフ近点カードを有する請 求項3記載の視力テストシステム。 6.一対の支脚部ないしフレームを含む屈折装置であって、各々の前記支脚部な いしフレームが、 テスト軸線と、 このテスト軸線上に整合された観察チユーブと、 複数の補正レンズを有する球状レンズアセンブリーおよびこれらの補正レンズ の少なくとも一つを前記観 察チューブに選択的に整合させる手段と、 少なくとも一つのデイスクを有する円筒レンズアセンブリーであって、前記デ イスクが光学的要素をその中に装着する複数のセルを有する円筒レンズアセンブ リーと、 前記デイスクを回転させて、前記光学的要素のいづれか一つを前記観察チュー ブに選択的に整合させるデイスク回転手段と、 前記セルの一つに装着され、偏光方向を有する偏光アナライザと、 このアナライザを回転させて、このアナライザが前記観察チューブに整合され たとき、偏光方向を変化させるアナライザ回転手段とを備え、 これにより、偏光テストシンボルとこれに対する無偏光基準背景の間のコント ラストが、前記アナライザの偏光方向を変えることにより変更されてなる屈折装 置。
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