JPH083959Y2 - アーク放電デバイス - Google Patents
アーク放電デバイスInfo
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- JPH083959Y2 JPH083959Y2 JP1992062734U JP6273492U JPH083959Y2 JP H083959 Y2 JPH083959 Y2 JP H083959Y2 JP 1992062734 U JP1992062734 U JP 1992062734U JP 6273492 U JP6273492 U JP 6273492U JP H083959 Y2 JPH083959 Y2 JP H083959Y2
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J61/00—Gas-discharge or vapour-discharge lamps
- H01J61/70—Lamps with low-pressure unconstricted discharge having a cold pressure < 400 Torr
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/02—Constructional details
- H01S3/03—Constructional details of gas laser discharge tubes
- H01S3/031—Metal vapour lasers, e.g. metal vapour generation
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/09—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping
- H01S3/097—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping by gas discharge of a gas laser
- H01S3/0977—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping by gas discharge of a gas laser having auxiliary ionisation means
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Description
【0001】考案の背景 本考案は、分割型のプラズマ励起再結合(SPER)デ
バイスのようなアーク放電デバイス、特にこのようなデ
バイスにおける隣接する電極間の低電圧アークの形成に
関する。
バイスのようなアーク放電デバイス、特にこのようなデ
バイスにおける隣接する電極間の低電圧アークの形成に
関する。
【0002】応用物理レター(Applied Physics Letter
s) 第36巻第8号、ページ615〜617(198
0)に、W.T.シルフバスト(Silfvast),L.H.ス
ジエト(Szeto) およびO.R.ウッド(Wood)IIが分割型
の励起および再結合(SPER)の原理により、いくつ
かの金属蒸気について原子スペクトル領域でレーザー作
用を行なわせるために開発した新型の放電デバイスにつ
いて記述している。このレーザーは、細長い帯状金属片
(レーザー作用物質となるもの)を多数有しているが、
これらは互いに隣接する帯状金属片の間に僅かのギャッ
プをつくるように端と端が近接した状態で絶縁板上に保
持されている。この金属片は緩衝ガス(好ましい場合)
中に置くかあるいは周囲が真空となっており、典型的な
場合、大きさは厚さ0.1〜1mm,幅2mmおよび長さ1
0mmである。このように配列した金属片の端に高電圧、
高電流パルスを印加すると、それぞれギャップに高密度
の金属蒸気イオンよりなるプラズマが形成される。この
ような(主として金属片が蒸発した物質からなる)プラ
ズマは、一旦形成されると、本質的にはレーザー共振器
内に半球状に拡散してゆき低圧の(例えばヘリウムのよ
うな)背景ガスがあると冷却して再結合する。
s) 第36巻第8号、ページ615〜617(198
0)に、W.T.シルフバスト(Silfvast),L.H.ス
ジエト(Szeto) およびO.R.ウッド(Wood)IIが分割型
の励起および再結合(SPER)の原理により、いくつ
かの金属蒸気について原子スペクトル領域でレーザー作
用を行なわせるために開発した新型の放電デバイスにつ
いて記述している。このレーザーは、細長い帯状金属片
(レーザー作用物質となるもの)を多数有しているが、
これらは互いに隣接する帯状金属片の間に僅かのギャッ
プをつくるように端と端が近接した状態で絶縁板上に保
持されている。この金属片は緩衝ガス(好ましい場合)
中に置くかあるいは周囲が真空となっており、典型的な
場合、大きさは厚さ0.1〜1mm,幅2mmおよび長さ1
0mmである。このように配列した金属片の端に高電圧、
高電流パルスを印加すると、それぞれギャップに高密度
の金属蒸気イオンよりなるプラズマが形成される。この
ような(主として金属片が蒸発した物質からなる)プラ
ズマは、一旦形成されると、本質的にはレーザー共振器
内に半球状に拡散してゆき低圧の(例えばヘリウムのよ
うな)背景ガスがあると冷却して再結合する。
【0003】SPERレーザーは、製作が簡単であり、
寸法的にも容積的にも難しくなく、長寿命であることも
実証されており、また潜在的に高い効率を有している。
これが1981年6月22日発行された米国特許4,3
36,506の要旨である。
寸法的にも容積的にも難しくなく、長寿命であることも
実証されており、また潜在的に高い効率を有している。
これが1981年6月22日発行された米国特許4,3
36,506の要旨である。
【0004】従来の分割型プラズマ・アーク放電に用い
られていた励起手段としては、並列接続された高圧電源
と低圧電源であるのが普通である。そして、それらの電
源から発生される高電圧および低電圧が順次デバイスに
印加されていた。高電圧(数キロボルト)は、隣接する
電極間のギャップを絶縁破壊するのに用いられ、また低
電圧(20ボルトDC、数アンペア)はアーク放電(す
なわちプラズマ)を維持するのに用いられる。
られていた励起手段としては、並列接続された高圧電源
と低圧電源であるのが普通である。そして、それらの電
源から発生される高電圧および低電圧が順次デバイスに
印加されていた。高電圧(数キロボルト)は、隣接する
電極間のギャップを絶縁破壊するのに用いられ、また低
電圧(20ボルトDC、数アンペア)はアーク放電(す
なわちプラズマ)を維持するのに用いられる。
【0005】考案の要約 我々は、ギャップを絶縁破壊するための高圧電源を必要
とせずにアーク放電デバイスを作動させることができる
ことを発見した。我々の考案を実施例で説明すると、隣
接する電極間のギャップを短絡するような薄膜が1枚で
もあれば、低圧電源のみでもプラズマを生成し、作動を
維持するのに十分であるということである。例えば、S
PERレーザーを作動させるのに20V〜30Vの電池
を用いたのみであった。
とせずにアーク放電デバイスを作動させることができる
ことを発見した。我々の考案を実施例で説明すると、隣
接する電極間のギャップを短絡するような薄膜が1枚で
もあれば、低圧電源のみでもプラズマを生成し、作動を
維持するのに十分であるということである。例えば、S
PERレーザーを作動させるのに20V〜30Vの電池
を用いたのみであった。
【0006】詳細な説明 金属蒸気中のSPERレーザーをCWまたはパルス作動
に用いた装置が図1に示されている。電気的に絶縁性の
ある基板120の上には多数の帯状電極101〜106
が、相隣接する電極の間にわずかのギャップができるよ
うに一列に配列されている。そして、この電極組立ては
縦ガラス間125および横ガラス間126より構成され
るパイレックス製の十字型ガスセルに納められる。従来
の使用法によれば、高圧電源130および低圧電源13
2がそれぞれスイッチ134および136を介して第1
(101)および最後(106)の電極の間に直列に接
続されることになる。高圧電源は、通常、ギャップの絶
縁を破壊するための高圧パルス(例えばKV)を発生す
るものであるが、これは以下述べるごとく、SPERデ
バイスの作動にはもはや不必要なものである。絶縁破壊
によって放電が始まった後は、低圧電源132が連続波
またはパルス作動に適した低電圧(例えば20VDC)
の信号を供給する。一般には数ミリ秒より長い信号は、
連続波作動に適している。約1秒以上の作動に対して
は、電極が過熱して溶融するのを防ぐため、いわゆる冷
却手段(示していない)を組込む必要がある。このよう
な励起によって、各ギャップの間には電極物質の蒸気に
よる強力なプラズマが形成される。図1の141〜14
5の領域は、ギャップから背景ガスの中へ本質的に半球
状に拡散した後のプラズマの形状を示したものである。
に用いた装置が図1に示されている。電気的に絶縁性の
ある基板120の上には多数の帯状電極101〜106
が、相隣接する電極の間にわずかのギャップができるよ
うに一列に配列されている。そして、この電極組立ては
縦ガラス間125および横ガラス間126より構成され
るパイレックス製の十字型ガスセルに納められる。従来
の使用法によれば、高圧電源130および低圧電源13
2がそれぞれスイッチ134および136を介して第1
(101)および最後(106)の電極の間に直列に接
続されることになる。高圧電源は、通常、ギャップの絶
縁を破壊するための高圧パルス(例えばKV)を発生す
るものであるが、これは以下述べるごとく、SPERデ
バイスの作動にはもはや不必要なものである。絶縁破壊
によって放電が始まった後は、低圧電源132が連続波
またはパルス作動に適した低電圧(例えば20VDC)
の信号を供給する。一般には数ミリ秒より長い信号は、
連続波作動に適している。約1秒以上の作動に対して
は、電極が過熱して溶融するのを防ぐため、いわゆる冷
却手段(示していない)を組込む必要がある。このよう
な励起によって、各ギャップの間には電極物質の蒸気に
よる強力なプラズマが形成される。図1の141〜14
5の領域は、ギャップから背景ガスの中へ本質的に半球
状に拡散した後のプラズマの形状を示したものである。
【0007】各金属片の組成は、プラズマとして蒸発す
る物質(例えば単一の金属)のみである必要はない。カ
ソードの端が、デバイスが作動するときに蒸発する物質
となっていさえすれば十分であり、アノードの端は非蒸
発性の物質であってもかまわない。さらに、多色性とす
るために同一のデバイス内に異なった蒸発物質よりなる
金属片を混在させることもできる。
る物質(例えば単一の金属)のみである必要はない。カ
ソードの端が、デバイスが作動するときに蒸発する物質
となっていさえすれば十分であり、アノードの端は非蒸
発性の物質であってもかまわない。さらに、多色性とす
るために同一のデバイス内に異なった蒸発物質よりなる
金属片を混在させることもできる。
【0008】2枚の誘電性球面鏡150および151
は、レーザー放射用の共振器を形成し、所要のレーザー
波長で最大の反射率を有するようにコーティング加工さ
れている。図では、これらのミラーは窓127および1
28のある縦管125の両端近くに取付けられる。この
共振器の光軸160は電極列に平行であり、かつ僅かに
上方を通っている。この共振器の出力は、矢印170で
示されているが、適当なフィルターによって適当な光電
検知器(示されていない)上に集光される。
は、レーザー放射用の共振器を形成し、所要のレーザー
波長で最大の反射率を有するようにコーティング加工さ
れている。図では、これらのミラーは窓127および1
28のある縦管125の両端近くに取付けられる。この
共振器の光軸160は電極列に平行であり、かつ僅かに
上方を通っている。この共振器の出力は、矢印170で
示されているが、適当なフィルターによって適当な光電
検知器(示されていない)上に集光される。
【0009】ガス注入口170およびガス排出口172
は、それぞれ横管126の両端にある端板129および
131に取り付けられている。連続波作動においては、
ヘリウル等の背景ガスは、ガス源(示されていない)か
ら注入口170を経て供給され、比較的速い速度で(5
00 l/min) ,電極101〜106を通過し、排出口1
72に至り、そしてガスポンプ(示されていない)に到
達する。パルス動作の場合は、ガスは電極を通過する必
要はない。連続波作動の場合は、ガスは電極を通過する
必要があるが、これはギャップ領域のアーク放電から離
れたところにあるプラズマ中のイオンを除去し、プラズ
マを冷却する作用を行なわせるためである。矢印174
は、ガス流の方向(共振器軸160に対し横方向)を示
しており、この流れによって電極が冷却され、そのため
連続波作動が可能となる。このため、ガス流はできるだ
けギャップ近傍を通す必要がある。
は、それぞれ横管126の両端にある端板129および
131に取り付けられている。連続波作動においては、
ヘリウル等の背景ガスは、ガス源(示されていない)か
ら注入口170を経て供給され、比較的速い速度で(5
00 l/min) ,電極101〜106を通過し、排出口1
72に至り、そしてガスポンプ(示されていない)に到
達する。パルス動作の場合は、ガスは電極を通過する必
要はない。連続波作動の場合は、ガスは電極を通過する
必要があるが、これはギャップ領域のアーク放電から離
れたところにあるプラズマ中のイオンを除去し、プラズ
マを冷却する作用を行なわせるためである。矢印174
は、ガス流の方向(共振器軸160に対し横方向)を示
しており、この流れによって電極が冷却され、そのため
連続波作動が可能となる。このため、ガス流はできるだ
けギャップ近傍を通す必要がある。
【0010】この効果をさらに高めるために、各電極の
間、つまりギャップ部分の基板120に開孔180(ス
ロット)を設けるのが望ましい。これによって、背景ガ
スは基板120の周辺を流れるのみならず、この開孔を
通過し、電極とガスの間の冷却作用を増大させることに
なる。
間、つまりギャップ部分の基板120に開孔180(ス
ロット)を設けるのが望ましい。これによって、背景ガ
スは基板120の周辺を流れるのみならず、この開孔を
通過し、電極とガスの間の冷却作用を増大させることに
なる。
【0011】我々の考案に基づき、隣接する電極間を短
絡する薄膜、例えば金属膜を少なくとも1枚設けること
によって、アーク放電デバイスのギャップを絶縁破壊す
るための高圧電源の必要性はなくなった。例えば、各膜
は厚さ数ミクロン(<10μm )であって、好適な場合
電気抵抗はおよそ5Ωから1000Ωの範囲にあるが、
これは隣接する電極間のアークのダイナミック・インピ
ーダンスよりも大きな値である。典型的な例では、ギャ
ップの幅は1〜3mmであり、背景ガスは5TorrのHeで
ある。図2に示されるごとく、薄膜200は基板220
上の隣接する電極201および202の間のギャップに
形成される。この場合は、各電極は基板に直接接触して
いる。一方、図3に示されるごとく、薄膜によって基板
を広範囲にわたっておおい、その上に電極201および
202を分割して形成することもできる。
絡する薄膜、例えば金属膜を少なくとも1枚設けること
によって、アーク放電デバイスのギャップを絶縁破壊す
るための高圧電源の必要性はなくなった。例えば、各膜
は厚さ数ミクロン(<10μm )であって、好適な場合
電気抵抗はおよそ5Ωから1000Ωの範囲にあるが、
これは隣接する電極間のアークのダイナミック・インピ
ーダンスよりも大きな値である。典型的な例では、ギャ
ップの幅は1〜3mmであり、背景ガスは5TorrのHeで
ある。図2に示されるごとく、薄膜200は基板220
上の隣接する電極201および202の間のギャップに
形成される。この場合は、各電極は基板に直接接触して
いる。一方、図3に示されるごとく、薄膜によって基板
を広範囲にわたっておおい、その上に電極201および
202を分割して形成することもできる。
【0012】薄膜200または204は、既存の各種処
理技術(すなわち蒸発,蒸着)のいずれかを用いて形成
することができる。さらに、図2の実施例として、我々
は電極201から材料を蒸発させるため、(図1の)高
圧電源130から得られる短時間の高電圧パルスを利用
した。蒸発した物質は、薄膜200として付着する。な
お、この高圧電源130は薄膜200を形成することの
みに用いられる点に注意する必要がある。その後は、低
圧電源132のみによってプラズマが形成され作動が維
持される。
理技術(すなわち蒸発,蒸着)のいずれかを用いて形成
することができる。さらに、図2の実施例として、我々
は電極201から材料を蒸発させるため、(図1の)高
圧電源130から得られる短時間の高電圧パルスを利用
した。蒸発した物質は、薄膜200として付着する。な
お、この高圧電源130は薄膜200を形成することの
みに用いられる点に注意する必要がある。その後は、低
圧電源132のみによってプラズマが形成され作動が維
持される。
【0013】以下の例は、説明のために示したものであ
り、デバイスの諸元および作動条件は、特にことわらな
いかぎり、本考案の適用範囲を制限することを意味する
ものではない。 例 I. 本例は、1対のCd電極間のアーク放電を低電圧(約3
0V)で開始するのに我々の発明を応用した場合を示し
ている。図2に示すごとく、これらの電極201および
202は、長さ8.2mmで、直径10mmの半球状の棒よ
りなり、また約1.5mmのギャップによって分離され、
Al2 O3 製の基板220の上に取り付けられたもので
ある。図には示されていないが、これら2つの電極の対
向する面はそれぞれとがっている。背景ガスは約5Torr
のHeであった。
り、デバイスの諸元および作動条件は、特にことわらな
いかぎり、本考案の適用範囲を制限することを意味する
ものではない。 例 I. 本例は、1対のCd電極間のアーク放電を低電圧(約3
0V)で開始するのに我々の発明を応用した場合を示し
ている。図2に示すごとく、これらの電極201および
202は、長さ8.2mmで、直径10mmの半球状の棒よ
りなり、また約1.5mmのギャップによって分離され、
Al2 O3 製の基板220の上に取り付けられたもので
ある。図には示されていないが、これら2つの電極の対
向する面はそれぞれとがっている。背景ガスは約5Torr
のHeであった。
【0014】電極201および202を短絡するような
薄膜200を作るため、電極間のアーク放電用として、
図1の高圧電源130が用いられた。例えば、高圧電源
は接地コンデンサー3.5μFおよび300Ωの抵抗を
経て電極201および202に並列接続のスパーク・ギ
ャップに10KVを供給した。電源130からの電流パ
ルスによって、電極201および202からCdが蒸発
された。蒸発したCdは、大部分が基板220の表面上
の電極201および202の間の薄膜として付着した。
このCd膜は、Cd電極201および202と電気的に
接触していた。
薄膜200を作るため、電極間のアーク放電用として、
図1の高圧電源130が用いられた。例えば、高圧電源
は接地コンデンサー3.5μFおよび300Ωの抵抗を
経て電極201および202に並列接続のスパーク・ギ
ャップに10KVを供給した。電源130からの電流パ
ルスによって、電極201および202からCdが蒸発
された。蒸発したCdは、大部分が基板220の表面上
の電極201および202の間の薄膜として付着した。
このCd膜は、Cd電極201および202と電気的に
接触していた。
【0015】典型的な場合として5〜20個の電流パル
スを加えた後、高圧電源130が取りはずされ(スイッ
チ134を開とした)、そして低圧直流電源132のみ
を用いて出力電圧約30Vを1m Sec印加するのみによ
ってアーク放電を形成することができた。
スを加えた後、高圧電源130が取りはずされ(スイッ
チ134を開とした)、そして低圧直流電源132のみ
を用いて出力電圧約30Vを1m Sec印加するのみによ
ってアーク放電を形成することができた。
【0016】これらは5torrのHeガス中で観測したも
のであるが、同様の低電圧での絶縁破壊が0.25〜8
0Torrの圧力範囲で発生した。電極201および202
間のギャップの低電圧絶縁破壊は、Cd膜200の特性
によって異なる。絶縁破壊は、電極間の抵抗が電源を断
としたとき、約5〜1000Ωとなるときに起ることが
観測された。
のであるが、同様の低電圧での絶縁破壊が0.25〜8
0Torrの圧力範囲で発生した。電極201および202
間のギャップの低電圧絶縁破壊は、Cd膜200の特性
によって異なる。絶縁破壊は、電極間の抵抗が電源を断
としたとき、約5〜1000Ωとなるときに起ることが
観測された。
【0017】電極201および202間のギャップにお
ける低電圧絶縁破壊は、理論的には次のような機構によ
って起ると考えられる。先ず、約30Vの低電圧パルス
を印加すると、電極間のCd膜200に電流が流れ、こ
れによって電極201および202間に電位差が生ず
る。Cd膜は比較的薄い(<10μm )ので、ジュール
熱によって急激にCd蒸気および電子が発生し、その結
果、電極間にCdイオンと電子が生ずることになる。こ
の種子が電極間の電流の増加分を導くフィラメントの役
目をする。この電流の増加分によって薄膜がさらに加熱
され、そのためフィラメントの導電率が上り、フィラメ
ントのインピーダンスがCd膜200よりも低い値とな
る。これによって大多数の電流がフィラメントによって
導かれることになり、そしてアーク放電として観測され
ることになる。
ける低電圧絶縁破壊は、理論的には次のような機構によ
って起ると考えられる。先ず、約30Vの低電圧パルス
を印加すると、電極間のCd膜200に電流が流れ、こ
れによって電極201および202間に電位差が生ず
る。Cd膜は比較的薄い(<10μm )ので、ジュール
熱によって急激にCd蒸気および電子が発生し、その結
果、電極間にCdイオンと電子が生ずることになる。こ
の種子が電極間の電流の増加分を導くフィラメントの役
目をする。この電流の増加分によって薄膜がさらに加熱
され、そのためフィラメントの導電率が上り、フィラメ
ントのインピーダンスがCd膜200よりも低い値とな
る。これによって大多数の電流がフィラメントによって
導かれることになり、そしてアーク放電として観測され
ることになる。
【0018】アーク放電が形成される最低の電圧は、ギ
ャップの幅および電極材料に依存すると考えられる。1
〜3mmのギャップおよびCd電極においては、最低電圧
として20〜25Vが必要であるが、これは実験値23
〜25Vとよく一致する。
ャップの幅および電極材料に依存すると考えられる。1
〜3mmのギャップおよびCd電極においては、最低電圧
として20〜25Vが必要であるが、これは実験値23
〜25Vとよく一致する。
【0019】例 II. 本例は、1.433μm で作動するパルス型Cd SP
ERレーザーに関するものである。アーク放電開始用と
して、例Iで説明したものと同じ30Vトランジスタ電
池が用いられた。Cdのプラズマが圧力約2〜5Torrの
背景ガス中に拡散し、再結合することによって、Cdプ
ラズマに反転分布が生じた。レーザー作用は入力電流パ
ルスの減衰期間中に発生した。
ERレーザーに関するものである。アーク放電開始用と
して、例Iで説明したものと同じ30Vトランジスタ電
池が用いられた。Cdのプラズマが圧力約2〜5Torrの
背景ガス中に拡散し、再結合することによって、Cdプ
ラズマに反転分布が生じた。レーザー作用は入力電流パ
ルスの減衰期間中に発生した。
【0020】このSPERレーザーは、形態としては、
図1のSPERデバイスの6つの電極の代りに(図2に
示される型の)2つの電極が用いられた。さらに、パル
ス作動のみが用いられたため、Heの縦方向の流れ17
4は不必要であった。この実験では、30Vトランジス
タ電池が1 kΩの抵抗を介して500μFのコンデンサ
ーを充電するのに用いられた。充電されたコンデンサー
は、前述のとおり、電極201および202の間のギャ
ップをとおして放電された。その結果、電極間には、ピ
ーク電流約25A、1/e 減衰約250μSec のアークが
形成された。レーザー作用は、この入力電流パルスの減
衰段階において、拡散するプラズマが十分に冷却した後
に発生した。レーザーパルスの持続時間は約200μse
c であった。
図1のSPERデバイスの6つの電極の代りに(図2に
示される型の)2つの電極が用いられた。さらに、パル
ス作動のみが用いられたため、Heの縦方向の流れ17
4は不必要であった。この実験では、30Vトランジス
タ電池が1 kΩの抵抗を介して500μFのコンデンサ
ーを充電するのに用いられた。充電されたコンデンサー
は、前述のとおり、電極201および202の間のギャ
ップをとおして放電された。その結果、電極間には、ピ
ーク電流約25A、1/e 減衰約250μSec のアークが
形成された。レーザー作用は、この入力電流パルスの減
衰段階において、拡散するプラズマが十分に冷却した後
に発生した。レーザーパルスの持続時間は約200μse
c であった。
【0021】レーザー作用はHeの圧力が1.5〜10
Torrの範囲において観測され、最適値は、共振器の軸1
60とアーク放電との距離によって異なった。ピーク出
力は1mW以下であるが、0.1mW以上はあるものと推測
された。出力を最大にするような手段はとられなかっ
た。
Torrの範囲において観測され、最適値は、共振器の軸1
60とアーク放電との距離によって異なった。ピーク出
力は1mW以下であるが、0.1mW以上はあるものと推測
された。出力を最大にするような手段はとられなかっ
た。
【0022】殆んど同じような実験において異なる作動
圧力、アークおよび共振器軸間の距離dのもとで入力電
圧は22.5Vまで低下された。例えばこの低電圧作動
はd=10mmで圧力2.5Torrで、またd=7.5mmで
圧力3.5Torrで実施された。
圧力、アークおよび共振器軸間の距離dのもとで入力電
圧は22.5Vまで低下された。例えばこの低電圧作動
はd=10mmで圧力2.5Torrで、またd=7.5mmで
圧力3.5Torrで実施された。
【0023】例 III . 本実験では、図2に示す型のSPERデバイスについて
接触抵抗および薄膜抵抗を測定した。例Iに示したごと
く、電極および薄膜のいずれもCdであった。我々はア
ノード電極202および薄膜200の間には接触抵抗を
認めなかったが、カソード電極201および薄膜200
の間には3.5Ωの接触抵抗のあることを認めた。
接触抵抗および薄膜抵抗を測定した。例Iに示したごと
く、電極および薄膜のいずれもCdであった。我々はア
ノード電極202および薄膜200の間には接触抵抗を
認めなかったが、カソード電極201および薄膜200
の間には3.5Ωの接触抵抗のあることを認めた。
【0024】例 IV. 本実験では、我々はガラス基板上に長さ0.75in、幅
3mm、厚さ1mmのCd電極3個を取付けたものを用い
た。これらの電極は1mmのギャップによって分離された
2つのギャップを形成していた。80V直流電源から
0.3秒の電流パルスが50発印加された後、ギャップ
内に良好な薄膜が形成された。すなわち、我々は45V
電池を用いてギャップ間にアーク放電を成生することが
できたのである。SPERデバイスの抵抗は第1および
第3の電極間で測定したところ2.5Ωであた。
3mm、厚さ1mmのCd電極3個を取付けたものを用い
た。これらの電極は1mmのギャップによって分離された
2つのギャップを形成していた。80V直流電源から
0.3秒の電流パルスが50発印加された後、ギャップ
内に良好な薄膜が形成された。すなわち、我々は45V
電池を用いてギャップ間にアーク放電を成生することが
できたのである。SPERデバイスの抵抗は第1および
第3の電極間で測定したところ2.5Ωであた。
【0025】第1および第3の電極に対するコンタクト
はこれらの電極と基板との間にあるアルミニウム箔によ
って作られていた。
はこれらの電極と基板との間にあるアルミニウム箔によ
って作られていた。
【0026】例 V. 本例では、我々は図3に示されるようなガラス基板22
0上にCd膜204を塗膜した。この膜204の上にC
d電極201および202を形成した。しかしながら、
実際の実験では薄膜204は両電極の下に完全に拡がる
ことはなかった。むしろ薄膜204は各電極の下面の一
部に拡がっており、カソード電極201の下の接触面が
アノード電極202の下の接触面よりも広くなってい
た。Cd膜204の薄膜抵抗は約10Ωであり、また厚
さは約1μm 以下であった。電源がオフのときの電極間
抵抗は約15Ωであった。このSPERデバイスは、前
述の30V電池からの単一パルスによって電極間にプラ
ズマ・アーク放電を発生することができた。
0上にCd膜204を塗膜した。この膜204の上にC
d電極201および202を形成した。しかしながら、
実際の実験では薄膜204は両電極の下に完全に拡がる
ことはなかった。むしろ薄膜204は各電極の下面の一
部に拡がっており、カソード電極201の下の接触面が
アノード電極202の下の接触面よりも広くなってい
た。Cd膜204の薄膜抵抗は約10Ωであり、また厚
さは約1μm 以下であった。電源がオフのときの電極間
抵抗は約15Ωであった。このSPERデバイスは、前
述の30V電池からの単一パルスによって電極間にプラ
ズマ・アーク放電を発生することができた。
【0027】例 VI. 本実験はカソード電極201がAl製であり、アノード
電極がCd製であること以外は、前述の例Vに同じであ
る。薄膜204はここでもCdとした。このSPERデ
バイスは、40V直流電源からの電圧パルスを印加する
ことによってプラズママークが生じた。このプラズマは
AlイオンおよびCdイオンの混合であった。
電極がCd製であること以外は、前述の例Vに同じであ
る。薄膜204はここでもCdとした。このSPERデ
バイスは、40V直流電源からの電圧パルスを印加する
ことによってプラズママークが生じた。このプラズマは
AlイオンおよびCdイオンの混合であった。
【0028】例 VII. 本実験はCd電極の間のギャップを1mmとする代りに1
cmとした以外は、例Vと同じであった。50V以上の直
流を印加することによって、各電極の近傍に1つずつ2
つのCdプラズマが成生した。
cmとした以外は、例Vと同じであった。50V以上の直
流を印加することによって、各電極の近傍に1つずつ2
つのCdプラズマが成生した。
【0029】例 VIII . 本実験は長さ25mm、幅3mm、厚さ1mmの2つのAl電
極が図2に示すごとくガラス基板上に1mmのギャップを
隔てて載せられている以外は例Iで説明したものと同じ
である。Alの薄膜200は、例Iで述べたごとく高圧
電源130(図1)からの1秒のパルスを約10個印加
することによって形成された。その後はこのSPERデ
バイスは75V直流電源によってアーク放電を開始する
ことができた。
極が図2に示すごとくガラス基板上に1mmのギャップを
隔てて載せられている以外は例Iで説明したものと同じ
である。Alの薄膜200は、例Iで述べたごとく高圧
電源130(図1)からの1秒のパルスを約10個印加
することによって形成された。その後はこのSPERデ
バイスは75V直流電源によってアーク放電を開始する
ことができた。
【0030】例 IX. 本実験はガラス基板上にCd−Hg複合カソードおよび
Cdアノードを載せたSPERデバイスによる低電圧ア
ーク放電の成生について説明するものである。図4およ
び図5に示すごとく、ガラス基板302の上にガラスブ
ロック322が載せられた。ブロック322はカソード
電極326をはめ込めるよう溝324が刻まれていた。
カソード電極326の一部にはステップ328が付いて
おり、これによってカソード326が溝324の中に取
付けられたときにステップ328が液体水銀の入る凹部
330を形成するようになっていた(液体をとじ込める
ための別の方法として、例えばカソード電極326の中
に井戸を掘ることも勿論可能である。)アノード電極3
32はガラスブロック322の上にカソード電極326
と軸を合せ、かつ凹部330と僅かに離して取付けられ
た。
Cdアノードを載せたSPERデバイスによる低電圧ア
ーク放電の成生について説明するものである。図4およ
び図5に示すごとく、ガラス基板302の上にガラスブ
ロック322が載せられた。ブロック322はカソード
電極326をはめ込めるよう溝324が刻まれていた。
カソード電極326の一部にはステップ328が付いて
おり、これによってカソード326が溝324の中に取
付けられたときにステップ328が液体水銀の入る凹部
330を形成するようになっていた(液体をとじ込める
ための別の方法として、例えばカソード電極326の中
に井戸を掘ることも勿論可能である。)アノード電極3
32はガラスブロック322の上にカソード電極326
と軸を合せ、かつ凹部330と僅かに離して取付けられ
た。
【0031】SPERデバイスは凹部330に水銀を入
れる前に、カソードおよびアノード間のガラスブロック
332の垂直面および水平面、すなわち溝324に最も
近いブロック332の角部にCdの薄膜334を付着さ
せるように例Iで述べたと同じように処理された。薄膜
334によって凹部に液体水銀を入れない状態でも低電
圧を電極間に印加してプラズマアーク放電を形成するこ
とができた。次に凹部330に液体水銀が溜められる
と、Cdカソード電極326とCd薄膜334が接触す
るが、Cdアノード電極332とは接触しない状態とな
る。この形態を3TorrのHeの背景ガス中で用いること
によって22.5V電池によってプラズマアーク放電が
開始され、維持することができた。このプラズマは主と
してHg蒸気によるものであり、主に波長2537 の
紫外線放射を発生した。この作用は僅か数パルスしか再
現しなかったが、直流電源(例えば1m Sec. 30Vパ
ルス)あるいは22.5V電池を2つ直列接続したもの
による再処理によって再現することができた。
れる前に、カソードおよびアノード間のガラスブロック
332の垂直面および水平面、すなわち溝324に最も
近いブロック332の角部にCdの薄膜334を付着さ
せるように例Iで述べたと同じように処理された。薄膜
334によって凹部に液体水銀を入れない状態でも低電
圧を電極間に印加してプラズマアーク放電を形成するこ
とができた。次に凹部330に液体水銀が溜められる
と、Cdカソード電極326とCd薄膜334が接触す
るが、Cdアノード電極332とは接触しない状態とな
る。この形態を3TorrのHeの背景ガス中で用いること
によって22.5V電池によってプラズマアーク放電が
開始され、維持することができた。このプラズマは主と
してHg蒸気によるものであり、主に波長2537 の
紫外線放射を発生した。この作用は僅か数パルスしか再
現しなかったが、直流電源(例えば1m Sec. 30Vパ
ルス)あるいは22.5V電池を2つ直列接続したもの
による再処理によって再現することができた。
【0032】この型の作動の後、我々はカソード電極3
26はHgで完全におおわれ容易にはぎ落せないように
なることを発見した。
26はHgで完全におおわれ容易にはぎ落せないように
なることを発見した。
【0033】例 X. 直径約10mmおよび長さ約4.5 in の密閉した石英管
の底部に水銀を満たし、またその他は約10Torrの水銀
蒸気によって満たされていた。値径1mmのタングステン
線が管底を通過して水銀だめに入り、これが負電極の役
目をはたした。管上部から延びた銅片が正電極となっ
た。帯状の石英片が底部の水銀だめにのびていた。高電
圧のアークによって石英片は水銀によってコーティング
され、このため我々の考案に基づく銅片および水銀だめ
の間のギャップを短絡するような水銀の薄膜が形成され
た。
の底部に水銀を満たし、またその他は約10Torrの水銀
蒸気によって満たされていた。値径1mmのタングステン
線が管底を通過して水銀だめに入り、これが負電極の役
目をはたした。管上部から延びた銅片が正電極となっ
た。帯状の石英片が底部の水銀だめにのびていた。高電
圧のアークによって石英片は水銀によってコーティング
され、このため我々の考案に基づく銅片および水銀だめ
の間のギャップを短絡するような水銀の薄膜が形成され
た。
【0034】アーク放電を成生、維持するため銅片およ
びタングステン線の間に12VDC.6Aが印加され、これ
によって、ギャップ中の水銀プラズマから2537 の
紫外線放射が生じた。高圧の水銀圧力のため、紫外線放
射は再結合よりもむしろ主として電子衝突励起によって
発生したものである。
びタングステン線の間に12VDC.6Aが印加され、これ
によって、ギャップ中の水銀プラズマから2537 の
紫外線放射が生じた。高圧の水銀圧力のため、紫外線放
射は再結合よりもむしろ主として電子衝突励起によって
発生したものである。
【図1】SPERデバイスの典型的な形態であるところ
の連続波型SPERレーザーの説明的な実施例を示す図
である。
の連続波型SPERレーザーの説明的な実施例を示す図
である。
【図2】我々の考案の1つの実施例に基づき1対の電極
間のギャップに薄膜がある場合のSPERデバイスを図
示した図である。
間のギャップに薄膜がある場合のSPERデバイスを図
示した図である。
【図3】我々の考案のもう1つの実施例を図示したもの
であって、1対の電極が薄膜の上部に配置され、この薄
膜が電極間のギャップを短絡する作用を行なうことを示
す図である。
であって、1対の電極が薄膜の上部に配置され、この薄
膜が電極間のギャップを短絡する作用を行なうことを示
す図である。
【図4】我々の考案のもう1つ別の実施例を等角投影図
法で示したものであるが、ここではカソード電極の一部
を液体金属としたものを表わす図である。
法で示したものであるが、ここではカソード電極の一部
を液体金属としたものを表わす図である。
【図5】図4の線5−5に沿った断面図である。
200 薄膜 201,202 電極 220 基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 ウッド,オバート リーヴス セカンド アメリカ合衆国 07739 ニュージャーシ ィ,リットル シルヴァー,フォックス ヒル ドライヴ 19
Claims (7)
- 【請求項1】 二つの分離した帯状片(201,20
2)からなり、それらの間のギャップが放電路を形成し
て放射を発生する励起手段と;前記帯状片の間に電気信
号を印加する手段とを含み; 前記電気信号印加の結果、前記帯状片の一部が前記放射
を生成するイオンのプラズマに変換される物質で製作さ
れているようなアーク放電デバイスにおいて、 薄膜(200)が前記ギャップを短絡し、これによって
前記プラズマを開始するに必要な前記信号の電圧を低減
することを特徴とするアーク放電デバイス。 - 【請求項2】 請求項1に記載のデバイスにおいて、 さらに前記帯状片を載せた電気的絶縁基板(220)を
有し、前記薄膜が前記基板上に形成され、前記二つの帯
状片の一部の下にあるアーク放電デバイス。 - 【請求項3】 請求項1に記載のデバイスにおいて、 さらに前記帯状片が載せられた電気的絶縁基板(22
0)を有し、前記薄膜が前記ギャップ内に形成され、前
記の各帯状片と接触するアーク放電デバイス。 - 【請求項4】 請求項1、2および3のいずれか一の請
求項に記載のデバイスにおいて、 前記薄膜が単一の金属層よりなるアーク放電デバイス。 - 【請求項5】 請求項4に記載のデバイスにおいて、 前記薄膜が厚さ<10μm であるアーク放電デバイス。
- 【請求項6】 請求項3に記載のデバイスにおいて、 前記帯状片(326)の1つが凹部(330)を有し、
前記凹部に液体金属が満され、前記プラズマが前記液体
金属のイオンからなるよう前記薄膜(334)が前記液
体金属および前記帯状片の他方(332)に接触してい
るアーク放電デバイス。 - 【請求項7】 請求項6に記載のデバイスにおいて、 前記基板(322)が内部壁のある溝を有し、前記の一
方の帯状片が前記溝に導入されるよう加工され、また一
端にステップ(328)を有し、前記の一方の帯状片が
前記溝に挿入されたとき内部壁とともに前記凹みを形成
し、 前記の他方の帯状片が前記凹部に隣接する前記基板上に
取付けられ、 前記薄膜が前記帯状片を接続し少なくとも前記内部壁の
上に形成されるアーク放電デバイス。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US408006 | 1982-08-13 | ||
US06/408,006 US4504955A (en) | 1982-08-13 | 1982-08-13 | Low voltage operation of arc discharge devices |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH079970U JPH079970U (ja) | 1995-02-10 |
JPH083959Y2 true JPH083959Y2 (ja) | 1996-01-31 |
Family
ID=23614457
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58502636A Pending JPS59501430A (ja) | 1982-08-13 | 1983-07-18 | ア−ク放電デバイスにおける低電圧作動 |
JP1992062734U Expired - Lifetime JPH083959Y2 (ja) | 1982-08-13 | 1992-09-07 | アーク放電デバイス |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58502636A Pending JPS59501430A (ja) | 1982-08-13 | 1983-07-18 | ア−ク放電デバイスにおける低電圧作動 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4504955A (ja) |
EP (1) | EP0118465B1 (ja) |
JP (2) | JPS59501430A (ja) |
CA (1) | CA1199716A (ja) |
DE (1) | DE3367705D1 (ja) |
IT (1) | IT1167572B (ja) |
SG (1) | SG15087G (ja) |
WO (1) | WO1984000855A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5043997A (en) * | 1985-05-03 | 1991-08-27 | Raytheon Company | Hybrid cathode |
US5769844A (en) * | 1991-06-26 | 1998-06-23 | Ghaffari; Shahriar | Conventional light-pumped high power system for medical applications |
US5317574A (en) * | 1992-12-31 | 1994-05-31 | Hui Wang | Method and apparatus for generating x-ray and/or extreme ultraviolet laser |
JP4180706B2 (ja) * | 1998-09-24 | 2008-11-12 | 和夫 寺嶋 | 物質・材料プロセッシング方法 |
US10276999B1 (en) * | 2018-01-17 | 2019-04-30 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Flowing gas, laser pumped, alkali metal laser with thermal confinement of alkali metal |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3274427A (en) * | 1965-03-15 | 1966-09-20 | Pek Labs Inc | Self-starting arc lamp |
US3531680A (en) * | 1967-02-24 | 1970-09-29 | Varo | Self-starting arc lamp |
US3465205A (en) * | 1968-02-12 | 1969-09-02 | Gen Electric | Vacuum gap devices with metal ionizable species evolving trigger assemblies |
JPS4856084A (ja) * | 1971-11-10 | 1973-08-07 | ||
US3863178A (en) * | 1973-06-21 | 1975-01-28 | United Aircraft Corp | Apparatus for the production of laser radiation from a metal vapor |
US3876060A (en) * | 1973-07-23 | 1975-04-08 | Ralph E Stease | Roll-up conveyor unit |
US3864643A (en) * | 1973-11-23 | 1975-02-04 | Us Navy | Traveling wave vacuum spark and a travelling wave flashlamp |
US3891941A (en) * | 1974-01-25 | 1975-06-24 | Us Army | Imploding cylinder metal vapor laser |
US3876960A (en) * | 1974-05-09 | 1975-04-08 | Atomic Energy Commission | Shocked plate metal atom oxidation laser |
US4295103A (en) * | 1978-03-23 | 1981-10-13 | Ariold Ljudmirsky | Metal vapor laser |
GB2053556B (en) * | 1978-10-20 | 1983-03-30 | Univ Essex | Pre-ionising arrangement for electrical discharge apparatus such as a gas laser |
US4336506A (en) * | 1979-10-05 | 1982-06-22 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Segmented plasma excitation-recombination laser |
US4395770A (en) * | 1979-10-05 | 1983-07-26 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Segmented plasma excitation-recombination light source |
US4388720A (en) * | 1981-04-06 | 1983-06-14 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | External control of recombination rate for electron-ion recombination lasers |
US4411733A (en) * | 1982-06-18 | 1983-10-25 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | SPER Device for material working |
JPH112484A (ja) * | 1997-06-12 | 1999-01-06 | Matsushita Refrig Co Ltd | 冷蔵庫の収納装置 |
-
1982
- 1982-08-13 US US06/408,006 patent/US4504955A/en not_active Expired - Lifetime
-
1983
- 1983-06-27 CA CA000431249A patent/CA1199716A/en not_active Expired
- 1983-07-18 EP EP83902558A patent/EP0118465B1/en not_active Expired
- 1983-07-18 DE DE8383902558T patent/DE3367705D1/de not_active Expired
- 1983-07-18 JP JP58502636A patent/JPS59501430A/ja active Pending
- 1983-07-18 WO PCT/US1983/001084 patent/WO1984000855A1/en active IP Right Grant
- 1983-08-09 IT IT22495/83A patent/IT1167572B/it active
-
1987
- 1987-02-18 SG SG150/87A patent/SG15087G/en unknown
-
1992
- 1992-09-07 JP JP1992062734U patent/JPH083959Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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EP0118465A1 (en) | 1984-09-19 |
JPS59501430A (ja) | 1984-08-09 |
DE3367705D1 (en) | 1987-01-02 |
EP0118465B1 (en) | 1986-11-12 |
IT8322495A0 (it) | 1983-08-09 |
IT1167572B (it) | 1987-05-13 |
JPH079970U (ja) | 1995-02-10 |
CA1199716A (en) | 1986-01-21 |
WO1984000855A1 (en) | 1984-03-01 |
EP0118465A4 (en) | 1985-02-18 |
SG15087G (en) | 1989-04-21 |
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---|---|---|---|
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