JPH08340131A - 窒化ガリウム系化合物半導体素子 - Google Patents
窒化ガリウム系化合物半導体素子Info
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- JPH08340131A JPH08340131A JP18159596A JP18159596A JPH08340131A JP H08340131 A JPH08340131 A JP H08340131A JP 18159596 A JP18159596 A JP 18159596A JP 18159596 A JP18159596 A JP 18159596A JP H08340131 A JPH08340131 A JP H08340131A
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Abstract
発光効率を高くでき、さらに、低い電圧で素子破壊する
のを有効に防止する。 【解決手段】 方形状の絶縁性基板1に、窒化ガリウム
系化合物半導体のn型層2およびp型層3を順番に設け
ている。p型層3は、外周縁とひとつの隅部が連続する
同一面にエッチング除去されて、下層のn型層2を表出
させる外周エッチング部7Bとコーナーエッチング部7
Aを設けている。コーナーエッチング部7Aの表面にn
型電極4を、p型層3の表面にp型電極5を接続して、
両電極を同一面側に設けてワイヤーボンドされて通電
し、p型層3の表面に積層して補助電極6を設け、この
補助電極6をp型電極5に電気接続して、p型電極5か
らp型層の表面に延長して設けている。
Description
ド、青色レーザーダイオード等の青色発光デバイスに使
用される窒化ガリウム系化合物半導体素子に係り、特
に、発光輝度、及び信頼性に優れた半導体素子の構造に
関するものである。
化合物半導体素子が提唱されているが、最近、その中で
も窒化ガリウム系化合物半導体素子を有する青色発光ダ
イオードが発表され、注目されている。
に厚さ数百μmのサファイア基板上にMOCVD法、M
BE法等を用いて、GaxAl1−xN(0≦X≦1)の
結晶をn型及びp型、あるいはn型及びi型に積層させ
た後、それぞれの層にAl、Au等の電極材料を蒸着し
て電極を取り出すことによって得られる。
ス等においてはGaAs、GaAlAs、GaP等の化
合物半導体素子を有することは知られている。これらG
aAs、GaAlAs等が積層された化合物半導体素子
より、p型およびn型の電極を取り出し発光デバイスと
する場合、基板が導電性を有するため、電極は上下から
取り出されるのが通常である。つまり、裏側基板とその
上に積層された半導体結晶層の最上層とから電極が設け
られている。
系化合物半導体素子においては、基板にサファイアとい
う絶縁性の材料を使用しているため、上下から電極を取
り出すことは不可能である。このため図3に示すような
構造として電極が取り出すことが提案されている(特開
昭55−9442号公報)。
構造を示す断面図であり、1’はサファイア基板、2’
はn型GaxAl1−XN(0≦X≦1)層、3’はi型
GaxAl1−xN(0≦X≦1)層、4’はn型電極、
5’はi型電極である。この図に示すようにn型電極
4’はn型層2’の側面に設けられ、i型電極5’はi
型層3’の最上層に設けられており、これらの電極にワ
イヤーボンドして通電することにより、素子より発する
光を取り出す構造としている。
のような問題点がある。 n型層2’の側面に電極を形成することは、非常に
細かい作業を必要とするため、生産技術上非常に困難で
あり、歩留が悪い。 i型層3’が高抵抗であるため、i型電極5’の電
流がi型層3’全面に拡散せず、電界の集中が起こり、
発光する部分がi型電極5’の下付近に限られてしま
う。 同じく電界の集中のため、比較的小さい印加電圧で
素子の破壊が発生する。 電界の集中のため、局部的な結晶の劣化が起こり寿
命が短い。
情を鑑み成されたものであり、その目的とするところは
サファイア基板等の絶縁性基板を有する窒化ガリウム系
化合物半導体素子において、能率よく高い歩留で多量生
産でき、p型層の発光効率を高くでき、さらに、低い電
圧で素子破壊するのを有効に防止できる窒化ガリウム系
化合物半導体素子を提供するものであり、また他の目的
として生産技術にも優れた素子の構造を提供するもので
もある。
化合物半導体素子は、方形状の絶縁性基板1に、窒化ガ
リウム系化合物半導体であるn型層2およびp型層3を
順番に設けている。n型層は、全体の形状を方形状とし
ている。p型層3は、外周縁とひとつの隅部が連続する
同一面にエッチング除去されて、方形状からひとつの隅
部を除いた形状に形成されている。p型層3のエッチン
グ除去部によって、下層のn型層2を表出させる外周エ
ッチング部7Bと周縁コーナーエッチング部7Aとを設
けている。外周エッチング部7Bとコーナーエッチング
部7Aで囲まれる内側に、p型層3を形成している。コ
ーナーエッチング部7Aは、表面にn型電極4を電気的
に接続している。さらに、p型層3は、表面にp型電極
5を電気的に接続して設けて、p型電極5とn型電極4
を、窒化ガリウム系化合物半導体素子の同一面側に設け
て、p型電極5とn型電極4はワイヤーボンドされて通
電するようにしている。さらにまた、p型電極5は、p
型層3の表面に積層して補助電極6を設けている。この
補助電極6は、p型電極5に電気接続されると共に、p
型電極5からp型層3の表面に延長して設けられてい
る。この補助電極6でもって、p型電極5に供給される
電流は、p型層3に拡散して通電される。この構造の窒
化ガリウム系化合物半導体素子は、p型電極5とn型電
極4とに電圧が印加されると、p型層3には、p型電極
5に供給される電流が、補助電極6でp型層3の広い面
積に拡散して供給される。
合物半導体素子の平面図を図1に表す。この窒化ガリウ
ム系化合物半導体素子はサファイア基板1上にn型層
2、およびp型層3を順に積層した後、エッチングによ
り、方形状からひとつの隅部を除いた形状のp型層3を
形成し、このp型層3は、ひとつの隅部と外周が同一面
に取り除かれて、n型層2を露出させて、その隅部にコ
ーナーエッチング部7Aを設け、その外周に外周エッチ
ング部7Bを設け、n型層2が表出するコーナーエッチ
ング部7Aと、p型層3の上面とに電極を蒸着により設
けたものである。しかもp型層3のひとつの隅部を円弧
状にエッチングすることにより、図1に示すように、p
型層3のコーナーエッチング部7Aとの境界縁8に、n
型電極4の外周に接触しないが、n型電極4外周形状に
近似する円弧状部分を設け、この円弧状部分をn型電極
4の外周に接近させている。さらにp型層3の表面にp
型層3と電気的に接触した線状電極6を設けることによ
り、電流がp型層3に均一に広がる様になっている。
は円に形成される。なぜなら、電極に金線をワイヤーボ
ンドする際、その金線の先端が熱により球状にカットさ
れるため、電極を不必要な形に形成すると、その部分の
発光が遮断されてしまうからである。そのため電極の大
きさも、金線の太さとほぼ同一か、またはそれよりやや
大きい程度の大きさで形成される。
ム系化合物半導体素子は、補助電極6を、放射状に配設
してなる線状としている。この形状の補助電極6は、p
型電極5と同一の材料で形成することができ、例えばA
u、Pt、Al又はそれらの合金を使用することができ
る。
の多くとも1/4以下、最も好ましくはn型電極4と接
触しない範囲でエッチングすることが好ましい。図1に
示すようにp型層3のコーナーエッチング部7Aとの境
界縁8を円弧状にエッチングすることにより、n型電極
4に接近する境界縁8の全長を長くすることができ、さ
らに、p型層3を最大限確保できるので、発光面積、と
くに効率よく発光する面積が大きくなる。
図2の断面図に示すように、絶縁性基板であるサファイ
ア基板1に、窒化ガリウム系化合物半導体のn型層2と
p型層3とを順番に備えている。p型層3は、外周縁と
ひとつの隅部が連続する同一面にエッチング除去され
て、方形状からひとつの隅部を除いた形状に形成され、
この形状のp型層3によって、p型層3の外側に、同一
面のコーナーエッチング部7Aと外周エッチング部7B
を設け、コーナーエッチング部7Aにはn型電極4を設
けている。電極を設けるために、p型層3の隅部をエッ
チングして除去するのと一緒に、p型層3の外周もエッ
チングして除去している。すなわち、窒化ガリウム系化
合物半導体素子の外周を、外周エッチング部7Bでカッ
トしやすいように加工している。とくに、p型層3の外
周をエッチング除去して、その外周に外周エッチング部
7Bを設け、p型層3の形状を、方形状からひとつの隅
部を除いた形状としているので、たとえば、ペレットチ
エックをウェハー状態で行った後、外周エッチング部7
Bに沿ってダイシングソー等で簡単に方形状にカットし
て製造できる。さらに、カットしやすくする外周エッチ
ング部7Bは、電極を設けるエッチングと一緒に、すな
わち、コーナーエッチング部7Aに連続してこれと同一
面に設けているので、外周エッチング部7Bを設けるた
めに特別な処理を必要としない。さらに、p型層3の外
側に外周エッチング部7Bを設けているので、この外周
エッチング部7Bに沿ってウェハーをチップに切断する
ときに、この外周エッチング部7Bにはp−n接合が存
在せず、n型層2のみとなる。したがって、発光領域
が、外周エッチング部7Bに存在しないため、カット時
の機械的な応力により発生する界面の結晶の傷み、クラ
ックがp−n接合面を有する発光領域に及ばず、信頼性
の高い素子を得ることができる。とくに、窒化ガリウム
系化合物半導体は結晶がサファイアと同じ程度に硬いの
で、カットした際にカット面にクラックが入り、そのク
ラックが発光面まで伝搬しやすい。p型層3の外側に外
周エッチング部7Bのある本発明の窒化ガリウム系化合
物半導体素子は、クラックが発光面まで入り難くできる
特長がある。さらに、図1と図2に示す本発明の窒化ガ
リウム系化合物半導体素子は、p型層3をより広い面積
で効率よく発光できる。それは、p型層3の表面に補助
電極6を設け、p型電極3から拡散するように設けられ
ている補助電極6を介して、高抵抗なp型層3に広い範
囲で効率よく電流を流すからである。n型層2は低抵抗
な層であるため、この層を流れる電流は均一に広がるこ
とができる。しかしp型層3は高抵抗な層であるため、
従来のような電極とすると電流を均一に広げることが困
難である。そのため発光部分がp型電極5の下付近にの
み限られてしまい、p型層3を有効に利用することがで
きない。本発明の窒化ガリウム系化合物半導体素子はp
型層3の上に、そのp型層3と電気的に接触した補助電
極6を設けることにより電流を均一に広げることができ
る。図1では補助電極6がp型電極6の中心より複数で
放射する線状に形成したが、この発明の窒化ガリウム系
化合物半導体素子は、補助電極をこの形状に特定しな
い。補助電極には、たとえば、図示しないが、一本の線
状電極を渦巻状に形成しても同様の効果が得られる。
ら本発明を詳説する。サファイア基板1上にTMG(ト
リメチルガリウム)−アンモニアを用いMOCVD法に
より、厚さ3μmのn型GaN層2、および厚さ0.5
μmのp型GaN層3を順に積層した。その断面図を図
4に示す。
い、保護膜としてSiO2膜を厚さ1μmで形成した。
その断面図を図5に示す。
ソグラフィーによりポジ型フォトレジストを形成し、露
光してバターニングを施した。その断面図を図6に示
す。
了したウエハーをフッ酸に浸潰し、SiO2層をフォト
レジストと同様のバターンにエッチングした。ウエハー
を水洗した後、アセトンで洗浄することによりフォトレ
ジストを剥離した。その断面図を図7に示す。
たウエハーのp型層3をドライエッチングした。その断
面図を図8に示す。
に浸漬することによって除去した後、蒸着およびリフト
オフ法により、P型電極5(補助電極6)とn型電極4
を付け、ペレットチエックをウエハー状態で行った後、
ダイシングソーでカットして本発明の青色発光素子を得
た。なお、p型電極5および補助電極6はフォトレジス
トをp型層上に形成した後、蒸着によって同時に形成し
た。
子は、優れた発光特性のものを能率よく高い歩留で多量
生産できる特長がある。それは、本発明の窒化ガリウム
系化合物半導体素子が、方形状の絶縁性基板の上に、窒
化ガリウム系化合物半導体のn型層とp型層を積層し、
p型層の隅部とその周縁を一緒にエッチング除去して、
同一面のコーナーエッチング部と外周エッチング部を設
け、p型層は、方形状からひとつの隅部を除いた形状と
して、コーナーエッチング部と外周エッチング部の内側
にp型層を配設し、コーナーエッチング部にn型電極
を、p型層の表面にp型電極を設ける独特の構造をして
いるからである。とくに、本発明の窒化ガリウム系化合
物半導体素子は、n型電極を設けるために、p型層のひ
とつの隅部をエッチングして除去するのと一緒に、p型
層の外周もエッチングして除去している、すなわち、窒
化ガリウム系化合物半導体素子の外周を外周エッチング
部でカットしやすいように加工している。この構造の窒
化ガリウム系化合物半導体素子は、大きなウェハーでペ
レットチェックをした後、外周エッチング部に沿ってダ
イシングソー等で簡単に方形状にカットしてチップに分
離して製造できる。さらに、カットしやすくする外周エ
ッチング部は、電極を設けるエッチングと一緒に、すな
わち、コーナーエッチング部に連続してこれと同一面に
設けているので、外周エッチング部を設けるために特別
な処理を必要としない。さらに、本発明の窒化ガリウム
系化合物半導体素子は、発光領域となるp型層を最大限
に大きくして、しかも、ウェハーをチップにカットする
ときに、外周に発生するクラックが発光領域を狭くする
のを有効に阻止して、発光領域を大きくして、全体とし
ての発光出力を大きくできる特長がある。それは、本発
明の窒化ガリウム系化合物半導体素子が、方形状からひ
とつの隅部を除いた形状に成形しているp型層の外周の
外周エッチング部に沿ってカットするときに、発光領域
であるp−n接合にクラックが侵入するのを阻止できる
からである。すなわち、本発明の窒化ガリウム系化合物
半導体素子は、p型層の外側に外周エッチング部を設け
ているので、ウェハーをチップに切断するための外周エ
ッチング部にはp−n接合が存在しない。外周エッチン
グ部にp型層が積層されない。発光領域は、外周エッチ
ング部にないので、カット時の機械的な応力により発生
する界面の結晶の傷み、クラックは、p−n接合面を有
する発光領域に及ばない。このため、信頼性の高い素子
が製造できる。窒化ガリウム系化合物半導体の結晶は、
極めて硬くて、カットした際にカット面にクラックが入
り、そのクラックが発光領域まで伝搬しやすい性質があ
るが、本発明の窒化ガリウム系化合物半導体素子は、方
形状からひとつの隅部を除いた形状とするp型層の外側
に、外周エッチング部を設けているので、クラックが発
光領域に侵入するのを有効に阻止できる特長がある。さ
らに、n型電極とp型電極を窒化ガリウム系化合物半導
体素子の同一面側に設けて、p型電極とn型電極にワイ
ヤーボンドして通電する構造とし、加えて、n型電極
を、p型層のひとつの隅部をエッチング除去して設けた
コーナーエッチング部に接続している。この構造の窒化
ガリウム系化合物半導体素子は、p型層の外周にコーナ
ーエッチング部と外周エッチング部を設けていると共
に、コーナーエッチング部の外側に外周エッチング部を
設け、この外周エッチング部とコーナーエッチング部と
を同一面としている。この構造の窒化ガリウム系化合物
半導体素子は、コーナーエッチング部に金線等をワイヤ
ーボンドで接続するとき、コーナーエッチング部の外側
が外周エッチング部で開放されるので、ワイヤーボンド
する位置が外側にずれても、p型層にショートすること
がなく、ワイヤーボンドも確実にできる特長がある。す
なわち、コーナーエッチング部の外側の面積が、外周エ
ッチング部で広げられるので、ワイヤーボンド不良に起
因する歩留の低下を防止できる。ワイヤーボンドで金線
等を確実に連結できることは、前記の窒化ガリウム系化
合物半導体素子を簡単にチップに分離できることと相乗
して、この発明の窒化ガリウム系化合物半導体素子は、
高い歩留で能率よく多量生産できる特長を実現する。さ
らにまた、本発明の半導体素子は、均一に電流を流すの
が難しい、高抵抗なp型層に、より広い面積に分散して
電流を流し、p型層をより広い面積で効率よく発光でき
る極めて優れた特長が実現できる。それは、高抵抗なp
型層の表面に、ワイヤーボンドするp型電極に電気接続
する補助電極を積層し、補助電極をp型層の表面に沿っ
て延長して設けることにより、補助電極を介しp型層に
より広い面積で電流を均一に分散して流すことができる
からである。窒化ガリウム系化合物半導体は、赤外、緑
の発光ダイオード等に使用されているGaAs、GaA
lAs、GaP等の半導体素子に比較すると、キャリア
濃度を高くすることが難しく、電気抵抗が高くなる性質
がある。とくに、窒化ガリウム系化合物半導体のp型層
は電気抵抗が大きくなる。n型層にp型層を積層する窒
化ガリウム系化合物半導体素子は、pn接合部で電子と
ホールとが再結合して発光する。p型層の一部に集中し
て電流が流れると、電流のよく流れる部分は強く発光す
るが、電流の流れ難い部分は発光出力が低くなる。すな
わち、pn接合部の電流密度の高い部分で発光出力が大
きく、電流密度の低い部分は発光出力が低くなる。p型
層の表面に、局部的にp型電極を設けた窒化ガリウム系
化合物半導体素子は、p型層の下面全面をn型層に積層
する構造としても、p型層の下面全面を均一に効率よく
発光させることはできない。電流密度の高い部分は強
く、電流密度の低い領域は発光が弱くなる。ところで、
窒化ガリウム系化合物半導体のp型層は、全体的には電
気抵抗が大きいが、部分的に観察すると、表面の電気抵
抗は内部よりも低くなる。表面の電気抵抗が小さくなる
のは、製造工程において、表面の水素が内部よりも除去
されやすいからである。本発明の窒化ガリウム系化合物
半導体素子は、p型層の表面に、ワイヤーボンドするた
めに局部的に設けられるp型電極に電気接続して、p型
層の表面に延長するように積層されてなる補助電極を設
けている。補助電極は、製造工程において電気抵抗が小
さくなる性質のある、p型層の表面に電気接続される。
この状態でp型層の表面に電気接続された補助電極は、
ワイヤーボンドされるp型層に供給される電流を、p型
層の全面に理想的な状態で均一に分散して流す。このた
め、この発明の窒化ガリウム系化合物半導体素子は、p
型層の全体を効率よく発光できる特長が実現される。さ
らに、電流を均一に分散できるこの発明の窒化ガリウム
系化合物半導体素子は、p型層の全体に流すトータルの
電流値を大きくして、素子全体としての発光出力を大き
くできる特長がある。半導体素子は、局部的に集中して
電流が流れると、最大電流が流れる部分の温度が異常に
上昇して、最大電流を制限する。この発明の窒化ガリウ
ム系化合物半導体素子は、補助電極でp型層の全体に均
一に分散して電流を流すことができるので、局部的な最
大電流を小さくして、p型層の全体に流れる電流を大き
くでき、これによって、最大発光出力を大きくできる特
長がある。さらにまた、半導体素子は、特定の電流密度
の領域においては、電流密度に比例して、ほぼ直線的に
発光出力も大きくなるが、電流密度が非常に大きくなる
と飽和して、電流密度を大きくしても、発光出力はほと
んど増加しなくなる。このため、局部的に集中して電流
が流れる従来の半導体素子は、大電流が流れる部分で飽
和して、電流に比例して発光出力が強くならず、電流に
対する発光効率が低下してしまう。この発明の窒化ガリ
ウム系化合物半導体素子は、p型層の電流密度を均一に
分散させて、発光出力を大きくするので、局部的に発生
する飽和現象を防止して、p型層の全面をより均一に、
しかもより強く発光できる極めて優れた特長を実現す
る。また、窒化ガリウム系化合物半導体素子は、高抵抗
な層であるp型層に、局部的に集中する電極を設ける
と、電界が集中して、比較的小さい電圧で素子が破壊し
やすい弊害がある。この発明の窒化ガリウム系化合物半
導体素子は、p型層の表面に延長して補助電極を設け、
この補助電極をp型電極に接続しているので、補助電極
で、電界が局部的に集中するのを有効に防止できる。し
たがって、局部的に電界が集中して、素子が破壊するの
も有効に防止できる。
導体素子の構造を示す平面図。
導体素子の構造を示す概略断面図。
造を示す機略断面図。
合物半導体素子の構造を示す概略断面図。
合物半導体素子の構造を示す概略断面図。
合物半導体素子の構造を示す概略断面図。
合物半導体素子の構造を示す概略断面図。
合物半導体素子の構造を示す概略断面図。
合物半導体素子の構造を示す概略断面図。
チング部 8・・・境界縁 1’・・サファイア基板 2’・・n型層 3’・・i型層 4’・・n型電極 5’・・i型電極
Claims (2)
- 【請求項1】 方形状の絶縁性基板(1)に、窒化ガリウ
ム系化合物半導体のn型層(2)およびp型層(3)が順番に
設けられており、n型層(2)は全体の形状を方形状と
し、 p型層(3)は、外周縁とひとつの隅部が連続する同一面
にエッチング除去されて、方形状からひとつの隅部を除
いた形状に形成され、このp型層(3)のエッチング除去
部によって、下層のn型層(2)を表出させる外周エッチ
ング部(7B)とコーナーエッチング部(7A)を設けており、
外周エッチング部(7B)とコーナーエッチング部(7A)で囲
まれる内側に、p型層(3)が設けられており、コーナー
エッチング部(7A)の表面にはn型電極(4)を電気的に接
続しており、 さらに、p型層(3)は、表面にp型電極(5)を電気的に接
続して設けて、p型電極(5)とn型電極(4)を、窒化ガリ
ウム系化合物半導体素子の同一面側に設けて、p型電極
(5)とn型電極(4)はワイヤーボンドされて通電されるよ
うに構成されており、 さらにまた、p型電極(5)に接続して、p型層(3)の表面
に積層して補助電極(6)が設けられており、この補助電
極(6)はp型電極(5)に電気接続されると共に、p型電極
(5)からp型層(3)の表面に延長して設けられており、こ
の補助電極(6)でもって、p型電極(5)に供給される電流
がp型層(3)に拡散して通電されるように構成されてお
り、 p型電極(5)とn型電極(4)とに電圧が印加されると、p
型層(3)には、p型電極(5)から供給される電流が、補助
電極(6)でp型層(3)の広い面積に拡散して供給されるよ
うに構成されてなる窒化ガリウム系化合物半導体素子。 - 【請求項2】 補助電極(6)が線状電極である請求項1
に記載される窒化ガリウム系化合物半導体素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18159596A JP2591521B2 (ja) | 1996-06-20 | 1996-06-20 | 窒化ガリウム系化合物半導体素子 |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP18159596A JP2591521B2 (ja) | 1996-06-20 | 1996-06-20 | 窒化ガリウム系化合物半導体素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH08340131A true JPH08340131A (ja) | 1996-12-24 |
JP2591521B2 JP2591521B2 (ja) | 1997-03-19 |
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Family Applications (1)
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JP18159596A Expired - Fee Related JP2591521B2 (ja) | 1996-06-20 | 1996-06-20 | 窒化ガリウム系化合物半導体素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2591521B2 (ja) |
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