JPH08339901A - Chip-type electronic component - Google Patents

Chip-type electronic component

Info

Publication number
JPH08339901A
JPH08339901A JP8155706A JP15570696A JPH08339901A JP H08339901 A JPH08339901 A JP H08339901A JP 8155706 A JP8155706 A JP 8155706A JP 15570696 A JP15570696 A JP 15570696A JP H08339901 A JPH08339901 A JP H08339901A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
coat layer
coating
chip
protective coating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8155706A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2887581B2 (en
Inventor
Masato Doi
眞人 土井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP8155706A priority Critical patent/JP2887581B2/en
Publication of JPH08339901A publication Critical patent/JPH08339901A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2887581B2 publication Critical patent/JP2887581B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE: To facilitate the control of precision in the direction of the thickness of a component with the protection stability by protective coating maintained in a high degree and to solve the problem of sucking errors by a vacuum chuck by making the surface of the protecting coating smoother. CONSTITUTION: In a chip type resistor having electrode films 2, which are formed at both-end parts in one direction on a substrate 1 having a plane-view rectangle shape, and a resistor film 3, which conducts the electrode films and a resistor film 3, which conducts the electrode films and is formed so that both end parts of the substrate in the other direction retreat inside of both side edges of the substrate in the other direction, protective coating is applied on the resistor film 3. The protective coating includes a first coat layer 4, which is formed before trimming and formed so as to covet the resistor film 3 and so that both end parts of the substrate in the other direction retreat inside of both side edges of the substrate in the other direction, a second coat layer 5, which is formed so that both end parts of the substrate in the other direction extended to both side edges of the substrate in the other direction, and a third coat layer 6, which is formed on the second coat layer.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、保護コーティング層
による抵抗被膜表面の保護安定性を飛躍的に高めるとと
もに、コーティング面の平滑性を担保して実装操作時で
の吸着ミスを低減できるように改良したチップ型抵抗器
およびその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention dramatically enhances the protection stability of the resistance coating surface by the protective coating layer, and secures the smoothness of the coating surface to reduce adsorption mistakes during mounting operation. The present invention relates to an improved chip resistor and its manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】回路基板への実装密度の向上および電気
的特性の向上を目的として、種々の電子部品がチップ型
に置き換えられつつある。このようなチップ型電子部品
の代表的なものとしてのチップ型抵抗器は、次のような
製造工程を経て作製される。
2. Description of the Related Art Various electronic parts are being replaced with chip type for the purpose of improving the mounting density on a circuit board and improving the electrical characteristics. A chip resistor as a typical one of such chip electronic components is manufactured through the following manufacturing steps.

【0003】まず、割り溝(スリット)を格子状に形成
しながら焼成したセラミック基板の上面における、上記
スリットで囲まれる複数行複数列の各矩形の領域の両端
部に、電極被膜を一括印刷形成した後、各矩形の単位領
域に所定形状の抵抗被膜を一括印刷形成する。これによ
り、各矩形の領域に、その両端に配された電極被膜と、
これらの電極被膜間に導通されるように形成された抵抗
被膜とからなる各単位チップ抵抗器の基本部分が形成さ
れる。この後、各矩形の単位領域における抵抗被膜の表
面にアンダーコートガラスをコーティングする。次に、
電極間の抵抗を測定しつつ抵抗被膜にトリミング溝を入
れて目標抵抗値をうるためのトリミング工程が行なわれ
る。
First, electrode coatings are collectively printed on both ends of each rectangular region of a plurality of rows and a plurality of columns surrounded by the slits on the upper surface of a ceramic substrate which is fired while forming slits (slits) in a grid pattern. After that, a resistive coating of a predetermined shape is collectively printed on each rectangular unit area. By this, in each rectangular area, the electrode coatings arranged at both ends thereof,
A basic portion of each unit chip resistor is formed which is composed of a resistance coating formed so as to be electrically connected between these electrode coatings. Then, the surface of the resistance coating in each rectangular unit area is coated with undercoat glass. next,
A trimming process is performed to obtain a target resistance value by forming a trimming groove in the resistance film while measuring the resistance between the electrodes.

【0004】この種の小型のチップ抵抗器における抵抗
被膜のトリミングは、レーザ光によって抵抗被膜を加熱
・蒸発させて溝を形成するレーザトリミングが一般的で
あり、このレーザトリミングは、上記のようにアンダー
コートガラスでコーティングされた抵抗被膜に対して行
なわれる。このようにすると、レーザによる熱で飛散す
る抵抗被膜材料が印刷被膜上あるいはすでに形成された
溝上に再付着することが少なくなるので、不具合品の発
生が少なくなり、かつより正確に目標抵抗値とすること
ができる。
The trimming of the resistance coating in this type of small chip resistor is generally laser trimming in which the resistance coating is heated and evaporated by a laser beam to form a groove. This laser trimming is as described above. This is performed on a resistance film coated with undercoat glass. By doing so, the resistance coating material that is scattered by the heat from the laser is less likely to redeposit on the printed coating or on the already formed groove, so that the number of defective products is reduced, and more accurately the target resistance value and can do.

【0005】そうして、上記トリミングによって溝内に
露出する抵抗被膜を保護するために、上記アンダーコー
トガラスの表面をオーバーコートガラスでコーティング
する。なお、上記アンダーコートガラスによるコーティ
ング、および、オーバーコートガラスによるコーティン
グは、基板上の各矩形の領域に対して、上記電極被膜お
よび抵抗被膜の形成と同様の手法で、一括印刷により行
なわれる。すわなち、コーティング材料として低融点鉛
ガラスなどを使用し、ペースト状に溶融したガラスを印
刷材料として印刷することにより行なう。
Then, the surface of the undercoat glass is coated with overcoat glass in order to protect the resistance coating exposed in the groove by the trimming. The coating with the undercoat glass and the coating with the overcoat glass are performed on each rectangular area on the substrate by batch printing in the same manner as in the formation of the electrode coating and the resistance coating. That is, low melting point lead glass or the like is used as a coating material, and the glass melted in a paste form is printed as a printing material.

【0006】こうして、オーバーコーティング工程まで
終了した基板は、列方向に延びるスリットに沿って分割
して一列棒状の基板片を得、その側縁面ないし側縁に近
い裏面に電極被膜を塗布焼成して形成した後、行方向に
延びるスリットに沿って各単位チップ抵抗器毎に分割さ
れ、最後に、各分割されたチップ抵抗器の電極部にメッ
キが施される。
In this way, the substrate that has undergone the overcoating process is divided along the slits extending in the row direction to obtain a row of bar-shaped substrate pieces, and the electrode coating is applied and baked on the side edge surface or the back surface near the side edge. After the formation, the unit chip resistors are divided along the slits extending in the row direction, and finally the electrode portions of the divided chip resistors are plated.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
なチップ型抵抗器は、そのガラスコートによる保護安定
性が厳しく要求されることから、図9に厚さ方向の寸法
を強調して断面を示すように、オーバーコートの厚みを
比較的厚くせざるをえない事情がある。そうすると、比
較的小さい(1mm角あるいはそれ以下)領域に一度に比
較的量の多いガラスを塗布することとなり、塗布後の表
面張力の作用により、オーバーコートの表面は図9に示
すように凸曲面状となってしまう。
By the way, since the chip type resistor as described above is strictly required to have protection stability due to its glass coat, FIG. 9 emphasizes the dimension in the thickness direction to show a cross section thereof. As shown, there are circumstances in which the thickness of the overcoat must be relatively large. Then, a relatively large amount of glass is applied at once to a relatively small area (1 mm square or less), and the surface tension after application causes the surface of the overcoat to have a convex curved surface as shown in FIG. Will be in a state.

【0008】一方、基板に対してこの種の小型の電子装
置を実装するにあたり、部品ストッカから基板までの電
子装置の搬送を図10に示すような真空チャックで吸着
することにより行なうことが多いのであるが、上記のよ
うに表面が凸曲面状となった電子部品を正しく吸着し、
かつ基板上の正確な位置に搬送することが困難であり、
実装不良を来たす確率が高いという問題があった。
On the other hand, when a small electronic device of this type is mounted on a substrate, the electronic device is often transported from the component stocker to the substrate by suction with a vacuum chuck as shown in FIG. However, as described above, it correctly adsorbs electronic parts whose surface is a convex curved surface,
And it is difficult to convey to the correct position on the substrate,
There is a problem that there is a high probability that mounting defects will occur.

【0009】さらには、上記のようなチップ型抵抗器
は、積層状として実装装置の供給機構に装填されること
と関連して、その厚み方向の寸法にも厳しい精度が要求
されるが、上記のように一度に比較的量の多いガラスを
塗布することによって形成されるオーバコートの厚みH
を厳しく管理することが困難であるという問題もあっ
た。
Furthermore, the chip-type resistor as described above is required to have strict accuracy in the dimension in the thickness direction in connection with being mounted in the supply mechanism of the mounting apparatus in a laminated form. Thickness H of the overcoat formed by applying a relatively large amount of glass at once
There was also a problem that it was difficult to strictly manage.

【0010】この発明は、以上のような従来の問題を解
決し、保護コーティングによる保護安定性を高度に維持
しつつ、部品の厚み方向の精度の管理が容易であり、し
かも保護コーティングの表面をより平滑にして真空チャ
ックによる吸着ミスの問題をも解決しうる構造をもった
チップ型抵抗器およびその製造方法を提供することをそ
の課題とする。
The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and while maintaining a high degree of protection stability by the protective coating, it is easy to control the accuracy in the thickness direction of the component, and the surface of the protective coating is It is an object of the present invention to provide a chip-type resistor having a structure that can be made smoother and can solve the problem of a suction error due to a vacuum chuck, and a method for manufacturing the same.

【0011】[0011]

【問題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、この発明では、次の技術的手段を講じている。
In order to solve the above problems, the present invention takes the following technical means.

【0012】すなわち、本発明に係るチップ型抵抗器
は、平面視矩形状をした基板上に、その一方方向両端部
に形成された電極被膜と、これらの電極被膜間を導通さ
せ、かつ基板他方方向両端部が基板の他方方向両側縁よ
りも内側に退避するように形成した抵抗被膜とを備える
チップ型抵抗器において、上記抵抗被膜上には、保護コ
ーティングが施されており、この保護コーティングは、
トリミング前に形成され、かつ上記抵抗被膜を覆うとと
もに基板他方方向両端部が基板の他方方向両側縁よりも
内側に退避するように形成された第1のコート層と、ト
リミング後に形成され、かつ基板他方方向両端部が基板
の他方方向両側縁までのびるように形成された第2のコ
ート層と、この第2のコート層の上層に形成される第3
のコート層を含んでいることを特徴としている。
That is, the chip-type resistor according to the present invention is such that an electrode coating film formed on both ends in one direction of the substrate is rectangular on a substrate, and the electrode coating films are electrically connected to each other, and In a chip-type resistor having a resistance coating formed so that both ends in the direction of the substrate are retracted inward from both side edges of the substrate in the other direction, a protective coating is applied on the resistance coating. ,
A first coat layer formed before trimming, which covers the resistance film and is formed so that both ends of the substrate in the other direction of the substrate are retracted inward from both side edges of the substrate in the other direction, and the first coat layer formed after trimming, and the substrate A second coat layer formed so that both ends in the other direction extend to both edges of the substrate in the other direction, and a third coat layer formed on the second coat layer.
It is characterized by including a coat layer of.

【0013】なお、上記において、基板一方方向とは、
矩形状の基板における、二辺が対向する方向をいい、基
板他方方向とは、残りの二辺が対向する方向をいう。
In the above description, one direction of the substrate means
In a rectangular substrate, the two sides are opposed to each other, and the other direction of the substrate is a direction in which the remaining two sides are opposed to each other.

【0014】[0014]

【作用および効果】本発明では、従来のこの種のチップ
型電子部品においてトリミング後に形成されるコート層
が、第2のコート層と第3のコート層の二層に分けられ
ている。したがって、第2のコート層と第3のコート層
を各薄状に形成しつつ、最終的に十分な厚みの保護コー
ティングを形成し、この保護コーティングによる高い保
護安定性を達成することができる。
According to the present invention, the coat layer formed after trimming in the conventional chip type electronic component of this type is divided into the second coat layer and the third coat layer. Therefore, it is possible to finally form a protective coating having a sufficient thickness while forming each of the second coat layer and the third coat layer in a thin shape, and to achieve high protection stability by this protective coating.

【0015】そうして、第2のコート層および第3のコ
ート層をそれぞれ薄状に形成することができるから、各
コート層の塗布時においてその表面が凸曲面状となるこ
とがなく、したがって比較的厚いコーティング層を一度
に形成する必要のあった従来例のように保護コーティン
グの表面が凸曲面状となることがなく、平滑面状とな
る。したがって、真空チャックによる吸着も正しく行な
われ、従来のように実装不良が起こる確率も著しく低減
される。
In this way, the second coat layer and the third coat layer can be formed thinly, so that the surface of each coat layer does not become a convex curved surface at the time of application, and The surface of the protective coating does not have a convex curved surface unlike the conventional example in which it was necessary to form a relatively thick coating layer at once, but the surface has a smooth surface. Therefore, the suction by the vacuum chuck is correctly performed, and the probability of mounting failure as in the conventional case is significantly reduced.

【0016】そうして、各コート層を薄くできることか
ら、塗布時での表面張力の影響も少なく、したがって、
各コート層の厚みの管理を正確に行なうことができる。
このことは、最終的な電子部品の厚み寸法の精度の著し
い向上につながる。
Since each coating layer can be made thin, the influence of surface tension during coating is small, and therefore,
The thickness of each coat layer can be accurately controlled.
This leads to a remarkable improvement in accuracy of the thickness dimension of the final electronic component.

【0017】また、抵抗被膜が、その基板他方方向両端
部が基板の他方方向両側縁よりも内側に退避するように
形成されるとともに、第1のコート層が上記抵抗被膜を
覆うとともに、基板他方方向両端部が基板の他方方向両
側縁よりも内側に退避するように形成され、しかも、第
2のコート層がその基板他方方向両端部が基板の他方方
向両側縁までのびるように形成されているので、第2の
コート層の形成を厳しい位置決めをすることなく行うこ
とができ、しかも、抵抗体被膜およびその上層の第1の
コート層全体を第2のコート層によって確実に覆うこと
ができ、このことによっても、保護コーティングによる
保護安定性を高度に維持できる。
Further, the resistance film is formed such that both ends of the substrate in the other direction of the substrate are retracted inward from both side edges of the substrate in the other direction, and the first coat layer covers the resistance film and the other side of the substrate. Both end portions in the direction of the substrate are formed so as to be retracted inward from both side edges of the substrate in the other direction, and the second coat layer is formed so that both end portions in the other direction of the substrate extend to both side edges of the substrate in the other direction. Therefore, the second coat layer can be formed without strict positioning, and moreover, the resistor coat and the entire first coat layer thereabove can be surely covered with the second coat layer. This also makes it possible to maintain a high degree of protection stability by the protective coating.

【0018】[0018]

【実施例の説明】以下、本発明の実施例を図面を参照し
つつ具体的に説明する。なお、実施例は、チップ型抵抗
器に本発明を適用したものである。チップ型抵抗器は次
のような手順で作製され、かつその途中の工程である保
護コーティング形成工程において本発明構造が採用され
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be specifically described below with reference to the drawings. In the embodiment, the present invention is applied to a chip type resistor. The chip resistor is manufactured by the following procedure, and the structure of the present invention is adopted in the protective coating forming step which is an intermediate step.

【0019】まず、図6および図1に示すように、等間
隔複数本の横スリット1a…と等間隔複数本の縦スリッ
ト1b…とからなる格子状の割り溝が表面に形成された
セラミック基板1における、上記各スリット1a…,1
b…で囲まれた矩形の各単位領域A…に、図1に詳示す
るようにしてその両端部の電極被膜2…および抵抗被膜
3…が、つづいて一括印刷形成される。これにより、一
対の電極被膜2,2と、これらの間に導通配置される抵
抗被膜3とを備える単位チップ抵抗器Cの基本形が、単
一のセラミック基板上に複数行複数列に一括形成される
こととなる。上記電極被膜2…および抵抗被膜3は、そ
れぞれペースト状とした電極材料および抵抗材料を印刷
によってセラミック基板上に所定形状に塗布し、そうし
て焼成・固化するなどして形成される。
First, as shown in FIGS. 6 and 1, a ceramic substrate having a lattice-shaped split groove formed on the surface thereof, which is composed of a plurality of horizontal slits 1a at equal intervals and a plurality of vertical slits 1b at equal intervals. 1, each of the slits 1a ...
In the rectangular unit areas A ... Enclosed by b ... As shown in FIG. 1, the electrode coatings 2 ... And the resistance coatings 3 ... As a result, the basic shape of the unit chip resistor C including the pair of electrode coatings 2 and 2 and the resistance coating 3 electrically connected between them is collectively formed in a plurality of rows and a plurality of columns on a single ceramic substrate. The Rukoto. The electrode coating 2 and the resistance coating 3 are formed by printing a paste-like electrode material and a resistance material on a ceramic substrate in a predetermined shape by printing, and then firing and solidifying.

【0020】こうして得られたセラミック基板上に、ま
ず、図2に示すように、第1のコート層であるアンダー
コート層4を形成する。このアンダーコート層4は、平
面視において上記抵抗被膜3を各別に覆う独立した平面
視矩形状に塗布・形成される。このアンダーコート層4
の形成も、上記電極被膜および抵抗被膜の形成と同様、
印刷手法によって行なわれる。すなわち、低融点ガラス
をペースト状に溶融したものなどを印刷手法によって各
領域A…に一括塗布し、かつ焼成・固化させる。
On the ceramic substrate thus obtained, first, as shown in FIG. 2, an undercoat layer 4 which is a first coat layer is formed. The undercoat layer 4 is applied and formed in an independent rectangular shape in plan view that covers the resistive coatings 3 in plan view. This undercoat layer 4
The formation of is similar to the formation of the electrode coating and the resistance coating,
It is performed by a printing method. That is, a material obtained by melting a low-melting glass in a paste form or the like is collectively applied to each area A by a printing method, and is baked and solidified.

【0021】このようにアンダーコート層4が形成され
た状態において、各電極被膜2に測定プローブをあてて
抵抗値を計測しつつ、レーザ光によって抵抗被膜3…に
図示しない溝を入れて所望の抵抗値をうるレーザ・トリ
ミングが行なわれる。
With the undercoat layer 4 thus formed, a measuring probe is applied to each electrode coating 2 to measure a resistance value, and a groove (not shown) is formed in the resistive coating 3 by laser light to obtain a desired resistance. Laser trimming is performed to obtain a resistance value.

【0022】続いて、図3に示すように、各抵抗被膜3
およびアンダーコート層4の上に、第2のコート層であ
るミディアムコート層5が形成される。本例ではこれ
を、列方向(各図において縦方向)に並ぶ単位チップ抵
抗器群に対して列方向に連続する帯状に形成している。
もちろん、帯の幅は、アンダーコート層4を十分覆うこ
とができる寸法とされる。この結果、各単位チップ抵抗
器Cにおいてミディアムコート層5は、列方向に対向す
る、図3の上下両側縁間いっぱいに形成される。なお、
このミディアムコート層5の形成手法も上記と同様であ
る。
Then, as shown in FIG.
A medium coat layer 5, which is a second coat layer, is formed on the undercoat layer 4. In this example, this is formed in a strip shape continuous in the column direction with respect to the unit chip resistor group arranged in the column direction (vertical direction in each drawing).
Of course, the width of the band is set to a size that can sufficiently cover the undercoat layer 4. As a result, in each unit chip resistor C, the medium coat layer 5 is formed so as to fill the space between the upper and lower edges of FIG. In addition,
The method for forming the medium coat layer 5 is also the same as above.

【0023】さらに続いて、図4に示すように、上記ミ
ディアムコート層5の上に、第3のコート層であるオー
バーコート層6…が形成される。本例では、各オーバー
コート層6…は、上記平面視矩形のアンダーコート層4
を覆う大きさの独立した矩形平面視形状としている。上
述のように列方向に帯状に形成したミディアムコート層
5の上に各矩形形状をしたオーバーコート層6を形成す
る結果、各単位チップ抵抗器毎に見れば、列方向の縁に
おいて、オーバーコート層6の下からミディアムコート
層5がチップの側端縁まで露出することとなる。
Subsequently, as shown in FIG. 4, an overcoat layer 6 ... As a third coat layer is formed on the medium coat layer 5. In this example, each of the overcoat layers 6 ...
Independent rectangular plan view shape of the size that covers the. As a result of forming the rectangular overcoat layer 6 on the medium coat layer 5 formed in the strip shape in the column direction as described above, as a result of looking at each unit chip resistor, the overcoat is formed at the edge in the column direction. The medium coat layer 5 is exposed from below the layer 6 to the side edge of the chip.

【0024】そうして、上記各コート層の形成工程によ
る保護コーティングの形成を終えた後、セラミック基板
1を、縦スリット1b…にそって分割して図示しない基
板棒状片を得て、その側縁面ないし側縁面近傍の裏面に
電極被膜を塗布焼成して電極部7を形成する。そして、
最後に、上記基板棒状片を、横スリット1a…で分離し
て各単位領域A…ごとの基板片1cに分割し、図5に示
すような単位チップ毎に分割されたチップ抵抗器Cを得
る。電極部7には通常、ハンダメッキが施される。
After the protective coating has been formed by the above-mentioned steps of forming the coating layers, the ceramic substrate 1 is divided along the vertical slits 1b ... The electrode coating is applied and baked on the back surface near the edge surface or the side edge surface to form the electrode portion 7. And
Finally, the substrate rod-shaped pieces are separated by the lateral slits 1a ... And divided into the substrate pieces 1c for each unit area A ..., to obtain the chip resistors C divided for each unit chip as shown in FIG. . The electrode portion 7 is usually plated with solder.

【0025】上述の工程を経て得られる本発明のチップ
型電子装置は、図7および図8にその厚み方向の寸法を
強調して示す断面図から明らかなように、抵抗被膜3上
の保護コーティングが、アンダーコート層4、ミディア
ムコート層5、および、オーバーコート層6の三層構造
となっている。したがって、保護コーティング高い安定
性を得るために比較的厚い合計コーティング厚みを必要
としても、各コート層を薄く形成することができ、した
がって全体としての保護コーティングの厚みの管理が容
易となって、とくに厚み方向の寸法精度が従来に比して
飛躍的に向上するとともに、一度に分量の多い溶融ガラ
スを塗布して所定の厚みを得る従来例のように表面張力
の影響による表面の凸曲面化傾向がなくなり、コーティ
ング表面を平滑面とすることができる。その結果、真空
チャックによる吸着ミスが少なく、かつ寸法精度がよ
く、しかも保護コーティングの信頼性のすぐれたチップ
型電子装置が達成される。
The chip-type electronic device of the present invention obtained through the above-described steps has a protective coating on the resistance coating 3 as is apparent from the sectional views shown in FIGS. 7 and 8 in which the dimension in the thickness direction is emphasized. Has a three-layer structure including an undercoat layer 4, a medium coat layer 5, and an overcoat layer 6. Therefore, even if a relatively thick total coating thickness is required to obtain high stability of the protective coating, each coating layer can be formed thinly, and therefore, it becomes easy to control the thickness of the protective coating as a whole. The dimensional accuracy in the thickness direction is dramatically improved compared to the conventional method, and a large amount of molten glass is applied at one time to obtain a predetermined thickness. Is eliminated, and the coating surface can be made smooth. As a result, it is possible to achieve a chip-type electronic device with few suction errors due to a vacuum chuck, good dimensional accuracy, and a highly reliable protective coating.

【0026】しかも、本発明においては、ミディアムコ
ート層5を列方向の帯状に形成していることから、その
下層の抵抗被膜3…およびアンダーコート層4全体を確
実に覆うことができるので、このことも保護コーティン
グによる保護安定性の向上に寄与する。また、ミディア
ムコート層の印刷の列方向の位置決めがラフで良くて印
刷効率が向上するとともに、オーバーコート層5を粘り
のある性質のガラス等によって各チップにおいて独立し
た矩形状とすると、かりにチップの側縁に外物が当たっ
てミディアムコート層5に欠けが生じてもこの欠けがオ
ーバーコート層5の領域内まで進行することがなく、保
護コートの信頼性が依然として維持されるという効果も
期待できる。
Moreover, in the present invention, since the medium coat layer 5 is formed in a strip shape in the column direction, it is possible to surely cover the underlying resistance coatings 3 ... And the undercoat layer 4, so that This also contributes to the improvement of protection stability by the protective coating. Further, the positioning of the medium coat layer in the printing column direction is rough and the printing efficiency is improved, and when the overcoat layer 5 is formed into an independent rectangular shape in each chip by viscous glass etc. Even if an external matter hits the side edge to cause a chip in the medium coat layer 5, the chip does not progress into the region of the overcoat layer 5, and the effect that the reliability of the protective coat is still maintained can be expected. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、電極被膜および抵抗被膜の形成を終え
た時点でのセラミック基板の部分平面図。
FIG. 1 is a partial plan view of a ceramic substrate at the time when the formation of an electrode coating and a resistance coating is completed.

【図2】図2はアンダーコート層(第1のコート層)の
形成を終えた時点でのセラミック基板の拡大部分平面
図。
FIG. 2 is an enlarged partial plan view of the ceramic substrate at the time when the formation of the undercoat layer (first coat layer) is completed.

【図3】図3はミディアムコート層(第2のコート層)
の形成を終えた時点でのセラミック基板の拡大部分平面
図。
FIG. 3 is a medium coat layer (second coat layer).
FIG. 3 is an enlarged partial plan view of the ceramic substrate at the time when the formation of the is finished.

【図4】図4はオーバーコート層(第3のコート層)の
形成を終えた時点でのセラミック基板の拡大部分平面
図。
FIG. 4 is an enlarged partial plan view of the ceramic substrate at the time when the formation of the overcoat layer (third coat layer) is completed.

【図5】図5はチップ型抵抗器の完成品の平面図。FIG. 5 is a plan view of a completed chip resistor.

【図6】図6はセラミック基板それ自体の平面図。FIG. 6 is a plan view of the ceramic substrate itself.

【図7】図7は図5のVII −VII 線拡大断面図。FIG. 7 is an enlarged sectional view taken along line VII-VII of FIG.

【図8】図8は図5のVIII−VIII線拡大断面図。8 is an enlarged cross-sectional view taken along line VIII-VIII of FIG.

【図9】図9は従来例を示す拡大断面図。FIG. 9 is an enlarged cross-sectional view showing a conventional example.

【図10】図10は従来例の説明図。FIG. 10 is an explanatory diagram of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 セラミック基板 2 電極基板 3 抵抗被膜 4 (第1のコート層)アンダーコート層 5 (第2のコート層)ミディアムコート層 6 (第3のコート層)オーバーコート層 1 Ceramic Substrate 2 Electrode Substrate 3 Resistive Film 4 (First Coat Layer) Undercoat Layer 5 (Second Coat Layer) Medium Coat Layer 6 (Third Coat Layer) Overcoat Layer

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 平面視矩形状をした基板上に、その一方
方向両端部に形成された電極被膜と、これらの電極被膜
間を導通させ、かつ基板他方方向両端部が基板の他方方
向両側縁よりも内側に退避するように形成した抵抗被膜
とを備えるチップ型抵抗器において、 上記抵抗被膜上には、保護コーティングが施されてお
り、この保護コーティングは、トリミング前に形成さ
れ、かつ上記抵抗被膜を覆うとともに基板他方方向両端
部が基板の他方方向両側縁よりも内側に退避するように
形成された第1のコート層と、トリミング後に形成さ
れ、かつ基板他方方向両端部が基板の他方方向両側縁ま
でのびるように形成された第2のコート層と、この第2
のコート層の上層に形成される第3のコート層を含んで
いることを特徴とする、チップ型抵抗器。
1. An electrode coating formed on both ends in one direction of the substrate having a rectangular shape in plan view and electrical continuity between these electrode coatings, and both ends in the other direction of the substrate are opposite side edges of the substrate in the other direction. In a chip-type resistor including a resistance film formed so as to be retracted inward, a protective coating is applied on the resistance film, and the protective coating is formed before trimming and A first coat layer that covers the coating and is formed so that both ends of the substrate in the other direction of the substrate are retracted inward from both side edges of the other direction of the substrate; A second coat layer formed to extend to both side edges and the second coat layer.
A chip-type resistor including a third coat layer formed on the coat layer of 1.
JP8155706A 1996-06-17 1996-06-17 Chip type electronic components Expired - Lifetime JP2887581B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8155706A JP2887581B2 (en) 1996-06-17 1996-06-17 Chip type electronic components

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8155706A JP2887581B2 (en) 1996-06-17 1996-06-17 Chip type electronic components

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62313248A Division JPH0770365B2 (en) 1987-12-10 1987-12-10 Chip type electronic parts

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08339901A true JPH08339901A (en) 1996-12-24
JP2887581B2 JP2887581B2 (en) 1999-04-26

Family

ID=15611742

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8155706A Expired - Lifetime JP2887581B2 (en) 1996-06-17 1996-06-17 Chip type electronic components

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2887581B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001345628A (en) * 2000-06-02 2001-12-14 Mitsumi Electric Co Ltd Helical antenna and its manufacturing method, resonance frequency adjustment method
JP2007103504A (en) * 2005-09-30 2007-04-19 Rohm Co Ltd Chip type resistor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001345628A (en) * 2000-06-02 2001-12-14 Mitsumi Electric Co Ltd Helical antenna and its manufacturing method, resonance frequency adjustment method
JP2007103504A (en) * 2005-09-30 2007-04-19 Rohm Co Ltd Chip type resistor

Also Published As

Publication number Publication date
JP2887581B2 (en) 1999-04-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3637124B2 (en) Structure of chip resistor and manufacturing method thereof
JPH08306503A (en) Chip-like electronic part
US20090322468A1 (en) Chip Resistor and Manufacturing Method Thereof
JP2002270409A (en) Chip resistor and its manufacturing method
JP3869273B2 (en) Manufacturing method of chip resistor
JP2887581B2 (en) Chip type electronic components
JP2000306711A (en) Multiple chip resistor and production thereof
JPH01152701A (en) Chip-type electronic component
JP2979290B2 (en) Chip type resistor and manufacturing method thereof
JP5042420B2 (en) Manufacturing method of chip resistor
TWI817476B (en) Chip resistor and method of manufacturing chip resistor
JP3297642B2 (en) Chip resistor
JPH0543441Y2 (en)
JPH0521204A (en) Square-shaped chip resistor and manufacture thereof
JP2000030902A (en) Chip type resistor and its manufacture
JP4504577B2 (en) Manufacturing method of chip resistor
JP3447728B2 (en) Chip resistor
JP2806802B2 (en) Chip resistor
JP2003282303A (en) Chip resistor
JPH05135902A (en) Rectangular type chip resistor and manufacture thereof
JP4730805B2 (en) Thick film chip capacitor and manufacturing method thereof
US20220399140A1 (en) Chip component
JP3772270B2 (en) Small electronic component manufacturing method and chip resistor
JPH0774007A (en) Manufacture of fixed resistor
JP4350935B2 (en) Manufacturing method of electrical parts

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term