JP2000030902A - Chip type resistor and its manufacture - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、低抵抗化及び抵抗
値の均一化が実現されたチップ型抵抗器とその製造方法
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip resistor realizing low resistance and uniform resistance, and a method of manufacturing the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、コンピュータ及びその周辺機器の
普及、並びにそれらの高性能化によって、回路基板に用
いられる抵抗器等の電子部品においても、その高精度化
が求められており、同時に、消費電力を小さくする為
に、抵抗器の低抵抗化も求められている。2. Description of the Related Art In recent years, with the spread of computers and their peripheral devices and their high performance, electronic components such as resistors used for circuit boards have also been required to have high precision. In order to reduce the power, it is also required to reduce the resistance of the resistor.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】現在のチップ型抵抗器
に採用されている厚膜抵抗体は、電極形成、抵抗体形
成、抵抗値の調整、ガラス膜形成といった工程を順次経
て製造されているのが一般的である。抵抗体の抵抗値の
実現範囲は、使用する抵抗体材料、抵抗体膜厚、電極間
距離、電極幅等に依存し、1.抵抗率の小さい素材を用
いる。2.抵抗体の膜厚を厚くする。3.電極間の距離
を小さくする。4.抵抗体及び電極の幅を広げる。など
の手段により低抵抗化が可能となるが、抵抗率の小さい
素材といっても限度がある他、チップサイズの小さい抵
抗器にあっては、電極配置を変更する際の制約が大きい
為に、低抵抗化が進みにくく、例えば、電極間の距離を
狭めるという手段にあっては、抵抗体への電極(銀)拡
散の影響によって、抵抗温度係数が大きくなるという不
具合が発生し、抵抗体及び電極の幅を広げればチップサ
イズが大きくなるのみならず、初期抵抗値のバラツキが
大きく成るという問題が生じる。又、抵抗体の膜厚を厚
くする手段を選択したとしても、例えばレーザートリミ
ングで抵抗値を調整する際に強いパワーが必要となり、
当該パワーによって抵抗体に掛かるストレスが原因で抵
抗値のバラツキが大きくなる他、トリミング幅が大きく
なってガラス膜にピンホールが発生し易くなる等、製品
の品質を確保する上で無視できないという問題が生じ
る。The thick-film resistor employed in the current chip-type resistor is manufactured through the steps of forming an electrode, forming a resistor, adjusting a resistance value, and forming a glass film sequentially. It is common. The realization range of the resistance value of the resistor depends on the resistor material used, the resistor film thickness, the distance between the electrodes, the electrode width, and the like. Use a material with low resistivity. 2. Increase the thickness of the resistor. 3. Reduce the distance between the electrodes. 4. Increase the width of the resistor and the electrode. Although it is possible to lower the resistance by such means as other materials, there is a limit even if the material has a small resistivity, and in the case of a resistor with a small chip size, there are great restrictions when changing the electrode arrangement However, in the means of reducing the resistance, it is difficult to reduce the distance between the electrodes. For example, the diffusion of the electrode (silver) into the resistor causes a problem that the temperature coefficient of resistance increases. In addition, if the width of the electrode is increased, not only the chip size is increased, but also the variation of the initial resistance value is increased. Also, even if a means for increasing the thickness of the resistor is selected, a strong power is required when adjusting the resistance value by, for example, laser trimming,
A problem that cannot be ignored in securing product quality, such as a variation in resistance value due to stress applied to the resistor due to the power, and a large trimming width, which easily causes pinholes in the glass film. Occurs.
【0004】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であって、チップサイズが小さく高精度なチップ型抵抗
器と、その製造方法の提供を目的とする。The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a highly accurate chip resistor having a small chip size and a method of manufacturing the same.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する為に
成された本発明によるチップ型抵抗器は、絶縁基板上
に、抵抗体及びその電極、並びに前記抵抗体を覆う保護
膜が形成されたチップ型抵抗器において、前記抵抗体
が、基準抵抗部と当該基準抵抗部より薄肉なトリミング
部とを並設して成ることを特徴とする。当該抵抗体は、
絶縁基板の少なくとも一方の面に形成されていれば良
く、場合によっては、他の面に当該抵抗体と並列に接続
した別の構造を持つ抵抗体を形成しても良い。In order to solve the above-mentioned problems, a chip-type resistor according to the present invention has a resistor, its electrodes, and a protective film covering the resistor on an insulating substrate. In the chip type resistor, the resistor is formed by arranging a reference resistance portion and a trimming portion thinner than the reference resistance portion in parallel. The resistor is
The resistor may be formed on at least one surface of the insulating substrate. In some cases, a resistor having another structure connected in parallel with the resistor may be formed on another surface.
【0006】ここで、基準抵抗部とは、当該抵抗器の抵
抗値を大まかに定めるべく固定化された部分を指し、ト
リミング部とは、トリミング時の便宜が図られた部分を
指す。一般的に、高い抵抗値を有する抵抗器は、抵抗体
を薄く設定するので、抵抗体のどの部分に対してレーザ
ートリミングを行っても問題はなく、当該トリミング部
を要する抵抗体のほとんどは、低い抵抗値を有する抵抗
器となる。したがって、前記トリミング部は、基準抵抗
部より薄肉となる場合が多く、当該基準抵抗部とトリミ
ング部の肉厚は、それらの構成層数の差異によって差が
つけられることが多い。又、並設とは、文字通り横並び
に設けるという意味であり、相互に離れていても良い
し、密着或いは一体化していても良い。Here, the reference resistance portion refers to a portion fixed so as to roughly determine the resistance value of the resistor, and the trimming portion refers to a portion provided for convenience during trimming. In general, a resistor having a high resistance value sets the resistor thin, so that there is no problem even if laser trimming is performed on any part of the resistor, and most of the resistors requiring the trimming portion are, This results in a resistor having a low resistance value. Therefore, the trimming portion is often thinner than the reference resistance portion, and the thickness of the reference resistance portion and the trimming portion are often different due to the difference in the number of constituent layers. Also, juxtaposition means that they are provided side by side literally, and may be separated from each other, or may be closely attached or integrated.
【0007】そして、上記チップ型抵抗器の製造方法
は、縦分割溝及び横分割溝を介して複数に区画された絶
縁基板に対し、抵抗体を各区画内にそれぞれ定着させる
抵抗体形成工程と、各区画内に形成された抵抗体の電極
となる導電素材を各区画の横分割溝に面した縁部に定着
させる電極形成工程と、各抵抗体の電極間に生じる抵抗
値を測定する検査工程と、各区画毎に分離させ複数のチ
ップ部品とする分割工程を経るチップ部品の製造方法に
おいて、前記抵抗体形成工程においては、絶縁基板上へ
トリミングに適した厚みの下位層を形成する第1工程
と、当該下位層の一部へ更に上位層たる抵抗素材を重合
して当該抵抗体に所定の抵抗値を与える第2工程を行う
ことを特徴とするものである。The method of manufacturing a chip-type resistor includes a resistor forming step of fixing a resistor in each of the plurality of insulating substrates divided through the vertical dividing grooves and the horizontal dividing grooves. An electrode forming step of fixing a conductive material serving as an electrode of a resistor formed in each section to an edge of each section facing the horizontal division groove, and an inspection for measuring a resistance value generated between the electrodes of each resistor. In the method of manufacturing a chip component, which includes a step and a dividing step of separating each section into a plurality of chip components, in the resistor forming step, a lower layer having a thickness suitable for trimming is formed on the insulating substrate. The method is characterized in that one step and a second step of superposing a resistance material as an upper layer on a part of the lower layer to give a predetermined resistance value to the resistor are performed.
【0008】その他の解決手段たるチップ型抵抗器とし
ては、絶縁基板上に、抵抗体及びその電極、並びに前記
抵抗体を覆う保護膜が形成されたチップ型抵抗器におい
て、絶縁基板の表面又は裏面のいずれか一方に、基準抵
抗体を具備すると共に、他方に当該基準抵抗体よりも薄
肉なトリミング抵抗体を具備し、両抵抗体の電極は、前
記基準抵抗体及びトリミング抵抗体を並列接続すべく、
絶縁基板の表裏に形成された電極が一対一で電気的に接
続されていることを特徴とするものが挙げられる。Another chip type resistor is a chip type resistor in which a resistor, its electrodes, and a protective film covering the resistor are formed on an insulating substrate. In one of the above, a reference resistor is provided, and in the other, a trimming resistor thinner than the reference resistor is provided, and the electrodes of both resistors connect the reference resistor and the trimming resistor in parallel. To
One example is that electrodes formed on the front and back of the insulating substrate are electrically connected one-to-one.
【0009】上記チップ型抵抗器の製造方法は、縦分割
溝及び横分割溝を介して複数に区画された絶縁基板に対
し、抵抗体を各区画内にそれぞれ定着させる抵抗体形成
工程と、各区画内に形成された抵抗体の電極となる導電
素材を各区画の横分割溝に面した縁部に定着させる電極
形成工程と、各抵抗体の電極間に生じる抵抗値を測定す
る検査工程と、各区画毎に分離させ複数のチップ部品と
する分割工程を経るチップ部品の製造方法において、前
記抵抗体形成工程においては、絶縁基板の表裏を異にし
て基準抵抗体並びにトリミング抵抗体を形成し、それら
の電極が形成される前記電極形成工程においては、一区
画分の横分割溝の中央部に当該絶縁基板の表裏を貫通す
るスルーホールを形成した後に、前記絶縁基板の表面及
び裏面のそれぞれについて、前記横分割溝を介して連続
する二区画の電極を一体的に形成することを特徴とす
る。The above-mentioned method of manufacturing a chip-type resistor includes a resistor forming step of fixing a resistor in each of the plurality of divided insulating substrates through the vertical dividing groove and the horizontal dividing groove. An electrode forming step of fixing a conductive material serving as an electrode of a resistor formed in the section to an edge of each section facing the horizontal division groove; and an inspection step of measuring a resistance value generated between the electrodes of each resistor. In the method of manufacturing a chip component through a dividing step of separating each of the sections into a plurality of chip components, in the resistor forming step, the reference resistor and the trimming resistor are formed by changing the front and back of the insulating substrate. In the electrode forming step in which the electrodes are formed, after forming a through hole that penetrates the front and back of the insulating substrate in the center of the horizontal dividing groove for one section, each of the front surface and the rear surface of the insulating substrate For it, characterized in that integrally formed two compartments electrodes continuous through the horizontal dividing groove.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】以下、本発明によるチップ型抵抗
器の実施の形態を、その製造方法と共に説明する。図1
及び図2に示す第1及び第2の実施の形態の製造方法
は、縦分割溝10及び横分割溝11で複数に区画された
アルミナ製の絶縁基板1に対し、基準抵抗部5又は基準
抵抗体7(以下、基準抵抗部等と記す。)と、当該基準
抵抗部等より薄肉なトリミング部6又はトリミング抵抗
体8(以下、トリミング部等と記す。)を具備する抵抗
体2を各区画12内にそれぞれ定着させる抵抗体形成工
程と、各区画12に形成された抵抗体2の電極3,9と
なる導電素材を各区画12の横分割溝11に面した縁部
に定着させる電極形成工程と、各抵抗体2の電極間に生
じる抵抗値を測定する検査工程と、各区画12毎に分離
させ複数のチップ部品とする分割工程を経たものである
(図5参照)。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of a chip resistor according to the present invention will be described together with a method of manufacturing the same. FIG.
The manufacturing method according to the first and second embodiments shown in FIGS. 2 and 3 applies the reference resistance portion 5 or the reference resistance to the insulating substrate 1 made of alumina divided into a plurality of sections by the vertical division grooves 10 and the horizontal division grooves 11. A resistor 7 having a body 7 (hereinafter, referred to as a reference resistance portion, etc.) and a trimming portion 6 or a trimming resistor 8 (hereinafter, referred to as a trimming portion, etc.) thinner than the reference resistance portion, etc. A resistor forming step of fixing the electrodes in the respective sections; and forming an electrode for fixing a conductive material to be the electrodes of the resistors formed in the sections to the edges of the sections facing the horizontal division grooves. The process includes a process, an inspection process of measuring a resistance value generated between the electrodes of each resistor 2, and a dividing process of separating each of the sections 12 into a plurality of chip components (see FIG. 5).
【0011】第1の実施の形態を製造する場合、先ず、
図3(イ)の如く、前記絶縁基板1上に、銀とガラスと
バインダ樹脂を混合してペースト化した導電素材を、ス
クリーン印刷法により印刷し、前記銀とガラスが融解す
る550℃以上の高温で絶縁基板1上に印刷焼成させ
る。ここでは、横分割溝(抵抗体2の両端部に形成され
る電極3,3が並ぶ方向に対して直角な方向に延びた分
割溝)11を隔てた前後のチップ抵抗器が直列に接続さ
れる様に、二つの電極3,3を連続した一体物として形
成している。その為、前記横分割溝11に前記導電素材
が流入し、毛細管現象により当該横分割溝11を通じて
横方向へ延びるという現象が生じる。When manufacturing the first embodiment, first,
As shown in FIG. 3A, a conductive material obtained by mixing silver, glass, and a binder resin to form a paste is printed on the insulating substrate 1 by a screen printing method. Printing and baking on the insulating substrate 1 at a high temperature. Here, the front and rear chip resistors separated by horizontal dividing grooves (divided grooves extending in the direction perpendicular to the direction in which the electrodes 3 and 3 formed at both ends of the resistor 2 are arranged) 11 are connected in series. Thus, the two electrodes 3, 3 are formed as a continuous integral body. Therefore, a phenomenon occurs in which the conductive material flows into the horizontal division groove 11 and extends in the horizontal direction through the horizontal division groove 11 due to a capillary phenomenon.
【0012】前記導電素材の横方向への延びは、横に隣
接する抵抗体2同士を並列に接続するという問題を引き
起こす原因となり、そうなると、レーザートリミングに
伴う前記検査工程ができなくなるという弊害が生じる。
従って、電極3となる導電素材を印刷する作業において
は、縦分割溝(抵抗体2の両端部に形成される電極3,
3が並ぶ方向に延びた分割溝)10を越えて、横に隣接
する区画12の電極3が接触しないように十分配慮する
必要がある。[0012] The lateral extension of the conductive material causes a problem of connecting the laterally adjacent resistors 2 in parallel, which causes a problem that the inspection step accompanying laser trimming cannot be performed. .
Therefore, in the operation of printing the conductive material to be the electrodes 3, the vertical division grooves (the electrodes 3 formed at both ends of the resistor 2) are used.
Care must be taken so that the electrodes 3 of the horizontally adjacent sections 12 do not come into contact with each other beyond the divided grooves 10 extending in the direction in which the rows 3 are arranged.
【0013】次に、図3(ロ)(ハ)の如く各区画12
の両端部に形成された一対の電極3,3を連結する形で
抵抗体2を形成するが、当該抵抗体形成工程は、レーザ
ートリミングに適した肉厚(例えば、15μm厚)を以
て帯状(例えば、L(長さ)/W(幅)比:2)の下位
層13を形成する第1工程と、当該第1工程で形成され
た下位層13の上へ更に、当該下位層13の半分の幅を
持った帯状(例えば、L/W比:4)の上位層15を重
ねて形成する第2工程とから成り、前記第1工程と第2
工程とが合わせて施された厚肉(例えば、30μm厚)
な部分が、当該抵抗体2の抵抗値を大まかに決定する基
準抵抗部5となり、第1工程のみが施された比較的薄肉
な部分が、トリミング部6となる。Next, as shown in FIGS.
The resistor 2 is formed in such a manner that a pair of electrodes 3 and 3 formed at both ends of the resistor 2 are connected. In the resistor forming step, a band shape (for example, 15 μm thickness) suitable for laser trimming is formed. , L (length) / W (width) ratio: 2) in the first step of forming the lower layer 13, and further on the lower layer 13 formed in the first step, a half of the lower layer 13 is formed. A second step of superposing and forming a band-shaped upper layer 15 having a width (for example, L / W ratio: 4).
Thickness (for example, 30 μm thickness) applied in accordance with the process
Is a reference resistance portion 5 which roughly determines the resistance value of the resistor 2, and a relatively thin portion subjected to only the first step is a trimming portion 6.
【0014】抵抗素材は、酸化ルテニウム等の無機成
分、ガラス粉、エチルセルロース等の有機樹脂から成る
バインダを混合してペースト化したものであり、約85
0℃もの高温による焼成工程を経て、バインダが焼失
し、同時にガラス粉が融解して再度固化することによっ
て抵抗成分の前記酸化ルテニウムがアルミナ製の絶縁基
板1に定着して定型化した0.1Ωの面積抵抗値を有す
る抵抗体2となる。The resistance material is made by mixing an inorganic component such as ruthenium oxide, a binder made of glass powder, and an organic resin such as ethylcellulose into a paste.
Through a firing process at a high temperature of 0 ° C., the binder is burned off, and at the same time, the glass powder is melted and solidified again, whereby the ruthenium oxide of the resistance component is fixed on the alumina insulating substrate 1 and is fixed to 0.1 Ω. Is obtained.
【0015】当該抵抗体形成工程においては、第1工程
で形成された下位層13の領域から第2工程で形成され
た上位層15がはみでることがないようにすることが好
ましく、第2工程においては、レーザートリミング工程
でレーザー光線が照射されない箇所に上位層15を形成
することが望ましい。尚、電極3となる導電素材の銀
が、抵抗体2の材料中に拡散することを抑制する為に、
前記抵抗体形成工程と電極形成工程の行う順序を逆にし
ても良い。ただし、その際には、抵抗体2と電極3とが
しっかり重なる様に、正確な位置合わせを行うことが重
要となる。In the resistor forming step, it is preferable that the upper layer 15 formed in the second step does not protrude from the region of the lower layer 13 formed in the first step. It is preferable that the upper layer 15 is formed in a place where the laser beam is not irradiated in the laser trimming step. In addition, in order to suppress that the silver of the conductive material that becomes the electrode 3 diffuses into the material of the resistor 2,
The order in which the resistor forming step and the electrode forming step are performed may be reversed. However, in that case, it is important to perform accurate positioning so that the resistor 2 and the electrode 3 are overlapped firmly.
【0016】この後、前記トリミング部6に対しレーザ
ー光線を照射し、図3(ニ)の如く所定の抵抗値となる
様に当該トリミング部6に適宜切り込み16を入れる。
その際、レーザー光線の照射によって生じるストレスか
ら、抵抗体2にクラックが入るのを防止する為の措置と
して、前記トリミング部6をL字状に切り込む手法を用
いるのが望ましい。トリミング工程を終えた抵抗体2の
表面には、更に、ガラスによる絶縁保護膜4が形成され
外気から遮断されることとなる。Thereafter, the trimming portion 6 is irradiated with a laser beam, and an appropriate cut 16 is made in the trimming portion 6 so as to have a predetermined resistance value as shown in FIG.
At this time, it is desirable to use a method of cutting the trimming portion 6 into an L-shape as a measure for preventing a crack from being generated in the resistor 2 due to stress caused by the irradiation of the laser beam. On the surface of the resistor 2 after the trimming step, an insulating protective film 4 made of glass is further formed to be shielded from the outside air.
【0017】この様に、抵抗体2及び電極3の形成、並
びに当該抵抗体2のトリミング及び保護膜4の形成を終
えたアルミナ製の絶縁基板1は、図5に示す様に、横分
割溝11に沿って分割され、横並びに連結された複数の
区画12に対して先に形成した電極3と一体化する端面
電極17が一括して形成される。最後に、縦分割溝10
で一区画毎に分割し、必要に応じて電極3,17の表面
にメッキを施すことによって、製品たるチップ型抵抗器
が完成する。As shown in FIG. 5, the insulating substrate 1 made of alumina after the formation of the resistor 2 and the electrode 3 and the trimming of the resistor 2 and the formation of the protective film 4 are completed, as shown in FIG. End electrodes 17 which are divided along 11 and are integrated with the previously formed electrode 3 are collectively formed for a plurality of sections 12 connected side by side. Finally, the vertical dividing groove 10
Then, the surfaces of the electrodes 3 and 17 are plated as necessary to complete the chip resistor as a product.
【0018】以上の如く形成されたチップ型抵抗器は、
第1工程と第2工程を経て厚肉に形成された抵抗体2の
基準抵抗部5を以て低い抵抗値が確保できると共に、ト
リミング部6が第1工程のみによって形成された比較的
薄肉な膜とされていることにより、比較的低いパワーの
レーザー光線でも十分な切り込み16を入れることが可
能となり、抵抗体2にかかるストレスを小さく抑えるこ
とができる。そして、当該チップ型抵抗器も約0.1Ω
という小さな抵抗値を得ることができた。The chip resistor formed as described above
A low resistance value can be secured by the reference resistance portion 5 of the resistor 2 formed thick through the first step and the second step, and the relatively thin film formed by the trimming portion 6 formed only by the first step is used. As a result, it is possible to make a sufficient cut 16 even with a laser beam having a relatively low power, and it is possible to reduce the stress applied to the resistor 2. And the chip resistor is also about 0.1Ω
I was able to obtain a small resistance value.
【0019】図2は、絶縁基板の表面及び裏面に、前記
基準抵抗体7及び当該基準抵抗体7より薄肉な前記トリ
ミング抵抗体8と、保護膜4とがそれぞれ積層形成さ
れ、前記絶縁基板1の表面及び裏面に形成された両抵抗
体7,8の両端部に、当該両抵抗体7,8に接続され且
つ当該両抵抗体7,8を並列接続する表裏一体の電極9
が形成されている第2の実施の形態である。FIG. 2 shows that the reference resistor 7, the trimming resistor 8 thinner than the reference resistor 7, and the protective film 4 are laminated on the front and back surfaces of the insulating substrate, respectively. A front-back integrated electrode 9 connected to the two resistors 7 and 8 and connecting the two resistors 7 and 8 in parallel is provided at both ends of the two resistors 7 and 8 formed on the front surface and the rear surface, respectively.
This is a second embodiment in which is formed.
【0020】第2の実施の形態の電極を形成する際に
は、一区画分の横分割溝11の中央部に当該絶縁基板1
の表裏を貫通するスルーホール14を形成し、前記絶縁
基板1の表面及び裏面のそれぞれについて、前記横分割
溝11を介して連続する二区画の電極9a及び電極9b
を一体的に形成するという手法を採る。前記スルーホー
ル14の直径は、前記横分割溝11の幅よりも大きいこ
とが望ましいが、電極9を形成しようとする領域からは
みでない大きさであることが必要である。In forming the electrode according to the second embodiment, the insulating substrate 1 is located at the center of the horizontal division groove 11 for one section.
Are formed through the front and back surfaces of the insulating substrate 1, and the front surface and the back surface of the insulating substrate 1 are connected to each other through the horizontal dividing groove 11 in two sections of the electrode 9 a and the electrode 9 b.
Is integrally formed. It is desirable that the diameter of the through hole 14 is larger than the width of the horizontal dividing groove 11, but it is necessary that the diameter of the through hole 14 does not deviate from the area where the electrode 9 is to be formed.
【0021】この様な条件で電極9を形成すれば、当該
電極9a又は電極9bとなる導電素材を印刷した際に、
当該スルーホール14の内部にまで導電素材が充填さ
れ、絶縁基板1の表裏双方から印刷することによって、
絶縁基板1の両側に形成した電極9a,9a間及び電極
9b,9b間がスルーホール14を介して接続され、当
該区画12に形成された表裏一対の抵抗体2が並列接続
されることとなる。電極9となる導電素材を印刷する際
は、第1の実施の形態で示した点を配慮する他、スルー
ホール14を通過した導電素材が裏面側において飛散し
付着したり、ひげが生じたりしないように配慮する。
尚、電極9となる導電素材に含有される銀の絶縁基板1
への拡散を抑える為に、又、工数を削減する為にも、両
面を同時に焼成することが望ましい。前記スルーホール
14の中心を前記横分割溝11の幅方向の中央に定めれ
ば、縦に隣接する区画12の双方に同じ大きさの切欠部
18が形成され、同じ厚さの導電素材から成る表裏導電
部19が両区画12の端面に形成される。When the electrodes 9 are formed under such conditions, when the conductive material to be the electrodes 9a or 9b is printed,
The inside of the through hole 14 is filled with a conductive material, and by printing from both the front and back of the insulating substrate 1,
The electrodes 9a, 9a and the electrodes 9b, 9b formed on both sides of the insulating substrate 1 are connected via through holes 14, and a pair of front and back resistors 2 formed in the section 12 are connected in parallel. . When printing the conductive material to be the electrode 9, in addition to the points described in the first embodiment, the conductive material that has passed through the through-hole 14 does not scatter and adhere on the back surface side, nor does whiskers occur. To be considered.
The silver insulating substrate 1 contained in the conductive material to be the electrode 9
It is desirable that both surfaces be fired at the same time in order to suppress diffusion to the surface and to reduce the number of steps. If the center of the through hole 14 is set at the center in the width direction of the horizontal dividing groove 11, the notch portions 18 of the same size are formed in both vertically adjacent sections 12, and are made of a conductive material of the same thickness. Front and back conductive portions 19 are formed on the end surfaces of both sections 12.
【0022】抵抗体2は、前記第1の実施の形態と同様
に、各面に形成された対を成す電極9,9を連結する帯
状(例えば、L/W比:2)を呈した形で形成される。
当該実施の形態においては、表面に形成されるトリミン
グ抵抗体8は、前記第1の実施の形態のトリミング部6
に相当する。よって、後のレーザートリミング工程を考
慮して、大きなパワーのレーザー光線を要しない程度の
比較的薄い肉厚(例えば、15μm厚)に設定する必要
がある。As in the first embodiment, the resistor 2 has a band shape (for example, L / W ratio: 2) connecting the pair of electrodes 9 formed on each surface. Is formed.
In the present embodiment, the trimming resistor 8 formed on the surface is the same as the trimming portion 6 of the first embodiment.
Is equivalent to Therefore, in consideration of the subsequent laser trimming process, it is necessary to set the thickness to a relatively small thickness (for example, a thickness of 15 μm) that does not require a laser beam having a large power.
【0023】一方、裏面に形成される基準抵抗体7は、
目的とする抵抗値と、前記トリミング抵抗体8による抵
抗値の調整量とを考慮して、当該チップ型抵抗器の抵抗
値が裏面に形成された基準抵抗体7の抵抗値によってほ
ぼ決まる様な肉厚に設定する。両面に印刷した抵抗素材
を同時に焼成しても良いが、表面に比較して裏面の肉厚
が厚くなるので、当該裏面に印刷された抵抗素材の焼成
不足に注意を払う必要がある。この実施の形態の場合
も、各抵抗体7,8の形成と電極9b,9aの形成の順
序を逆にしても良く、その際には、各抵抗体7,8の形
成と電極9b,9aとが確実に重なるように正確な位置
あわせが必要と成る。On the other hand, the reference resistor 7 formed on the back surface
In consideration of the target resistance value and the amount of adjustment of the resistance value by the trimming resistor 8, the resistance value of the chip resistor is substantially determined by the resistance value of the reference resistor 7 formed on the back surface. Set the wall thickness. The resistance material printed on both sides may be fired simultaneously, but the thickness of the back surface becomes thicker than the front surface, so it is necessary to pay attention to insufficient firing of the resistance material printed on the back surface. Also in this embodiment, the order of forming the resistors 7 and 8 and forming the electrodes 9b and 9a may be reversed. In this case, the forming of the resistors 7 and 8 and the electrodes 9b and 9a may be performed. And precise alignment is required to ensure that they overlap.
【0024】レーザートリミングは、前記の如く専ら絶
縁基板1の表面に形成したトリミング抵抗体8に対し、
レーザー光線により切り込み20を入れることによって
行われ、裏面に形成した基準抵抗体7に対してはレーザ
ー光線の照射は行われない。そして、当該レーザートリ
ミングを終えた後に、各面の抵抗体7,8を覆う形でガ
ラス等の絶縁保護膜4,4を形成する。当該保護膜4の
焼成は、片面ずつ行っても良いし、両面同時に行っても
良いが、保護膜4の焼成によってトリミング後の抵抗値
がドリフトする場合もあるので、予め、抵抗値のドリフ
ト量を考慮した上で、保護膜4の焼成を行う必要があ
る。後は、前記第1の実施の形態と同様に、分割或いは
メッキ処理を行えば完成となる。Laser trimming is performed on the trimming resistor 8 formed exclusively on the surface of the insulating substrate 1 as described above.
The cutting is performed by making a cut 20 with a laser beam, and the reference resistor 7 formed on the back surface is not irradiated with the laser beam. After the laser trimming is completed, insulating protection films 4 and 4 made of glass or the like are formed so as to cover the resistors 7 and 8 on each surface. The baking of the protective film 4 may be performed on one surface at a time or on both surfaces at the same time. However, the baking of the protective film 4 may cause a drift in the resistance value after trimming. In consideration of the above, it is necessary to bake the protective film 4. Thereafter, similar to the first embodiment, completion is achieved by performing division or plating.
【0025】上記第2の実施の形態によるチップ型抵抗
器は、裏面において比較的厚肉に形成された前記基準抵
抗体7を以て低い抵抗値が確保できると共に、表面にお
いては、薄肉に形成された前記トリミング抵抗体8に対
し、比較的低いパワーのレーザー光線でも十分な切り込
みを入れることが可能となり、表面に形成された抵抗体
にかかるストレスを小さく抑えるのみならず、裏面に形
成された抵抗体には何等ストレスをかけることなくトリ
ミング及び製造を行うことができる。そして、当該チッ
プ型抵抗器も約0.05Ωという小さな抵抗値を得るこ
とができた。In the chip type resistor according to the second embodiment, a low resistance value can be ensured by the reference resistor 7 formed relatively thick on the back surface, and the chip resistor is formed thin on the front surface. The trimming resistor 8 can be cut sufficiently by a laser beam having a relatively low power, not only to reduce the stress applied to the resistor formed on the front surface but also to reduce the stress applied to the resistor formed on the back surface. Can be trimmed and manufactured without applying any stress. And the chip type resistor was able to obtain a small resistance value of about 0.05Ω.
【0026】[0026]
【発明の効果】以上の如く本発明によるチップ型抵抗器
を使用すれば、抵抗体の膜厚を厚くする手段を選択した
としても、トリミング部等の存在によって、例えばレー
ザートリミングで抵抗値を調整する際に強いパワーが必
要となることもなく、その結果、レーザートリミング時
のストレスによって抵抗体の抵抗値のバラツキが大きく
なるということもなくなる他、トリミング幅が小さくな
ることによって、ガラス膜にピンホールが発生するとい
ったこともなくなる。しかも、電極間の距離を狭めると
いう手法が必要となる抵抗値が低くなることによって、
低抵抗化によって抵抗温度係数が大きく成ることもある
程度抑制され、チップサイズが小さく高精度な低抵抗の
チップ型抵抗器を提供できることとなる。As described above, if the chip type resistor according to the present invention is used, even if the means for increasing the thickness of the resistor is selected, the resistance value is adjusted by, for example, laser trimming due to the presence of the trimming portion. This eliminates the need for strong power when performing the process, and as a result, the stress during laser trimming does not increase the variation in the resistance value of the resistor. No holes are generated. Moreover, the resistance value, which requires the technique of reducing the distance between the electrodes, becomes lower,
An increase in the temperature coefficient of resistance due to the reduction in resistance is also suppressed to some extent, and a chip resistor with a small chip size and high accuracy and low resistance can be provided.
【図1】(イ)(ロ)(ハ)本発明によるチップ型抵抗
器の一例を示す平面図、側面図及び正面図である。FIGS. 1 (a), 1 (b) and 1 (c) are a plan view, a side view and a front view showing an example of a chip resistor according to the present invention.
【図2】本発明によるチップ型抵抗器の一例を示す斜視
図である。FIG. 2 is a perspective view showing an example of a chip resistor according to the present invention.
【図3】(イ)(ロ)(ハ)(ニ)(ホ)本発明による
チップ型抵抗器の製造方法の一例を示す要部工程図であ
る。3 (a), (b), (c), (d), and (e) are main part process diagrams showing an example of a method of manufacturing a chip resistor according to the present invention.
【図4】(イ)(ロ)(ハ)(ニ)(ホ)本発明による
チップ型抵抗器の製造方法の一例を示す要部工程図であ
る。4 (a), (b), (c), (d), and (e) are main part process diagrams showing an example of a method of manufacturing a chip resistor according to the present invention.
【図5】一般的なチップ型抵抗器の製造方法の一例を示
す工程図である。FIG. 5 is a process chart showing an example of a method for manufacturing a general chip-type resistor.
1 絶縁基板,2 抵抗体,3 電極,4 保護膜 5 基準抵抗部,6 トリミング部 7 基準抵抗体,8 トリミング抵抗体 9 電極,9a,9b 電極 10 縦分割溝 11 横分割溝 12 区画 13 下位層 14 スルーホール DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Insulating substrate, 2 resistor, 3 electrode, 4 protective film 5 Reference resistor part, 6 trimming part 7 Reference resistor, 8 trimming resistor 9 electrode, 9a, 9b electrode 10 Vertical division groove 11 Horizontal division groove 12 Section 13 Lower part Layer 14 Through hole
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 水島 昌徳 富山県上新川郡大山町下番30番地 立山科 学工業株式会社内 Fターム(参考) 5E032 BA04 BA07 CA02 CB03 CC03 CC14 CC16 TA14 TB02 5E033 AA18 AA27 BB02 BC01 BD03 BE01 BF05 BG02 BG03 BH02 BH03 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Masanori Mizushima 30th Oyama-cho, Kamishinkawa-gun, Toyama Fate term in Tateyama Kagaku Kogyo Co., Ltd. 5E032 BA04 BA07 CA02 CB03 CC03 CC14 CC16 TA14 TB02 5E033 AA18 AA27 BB02 BC01 BD03 BE01 BF05 BG02 BG03 BH02 BH03
Claims (5)
その電極(3)、並びに前記抵抗体(2)を覆う保護膜
(4)が形成されたチップ型抵抗器において、前記抵抗
体(2)が、基準抵抗部(5)と当該基準抵抗部(5)
より薄肉なトリミング部(6)とを並設して成ることを
特徴とするチップ型抵抗器。1. A chip type resistor in which a resistor (2), its electrode (3), and a protective film (4) covering the resistor (2) are formed on an insulating substrate (1). The resistor (2) includes a reference resistance section (5) and the reference resistance section (5).
A chip type resistor comprising a thinner trimming portion (6) arranged side by side.
よって肉厚に格差がつけられた基準抵抗部(5)とトリ
ミング部(6)との並設により構成されている請求項1
記載のチップ型抵抗器。2. The resistance body (2) is constituted by a juxtaposition of a reference resistance part (5) and a trimming part (6) whose wall thickness is varied by a difference in the number of constituent layers. 1
The described chip-type resistor.
その電極(3)、並びに前記抵抗体(2)を覆う保護膜
(4)が形成されたチップ型抵抗器において、絶縁基板
(1)の表面又は裏面のいずれか一方に、基準抵抗体
(7)を具備すると共に、他方に当該基準抵抗体(7)
よりも薄肉なトリミング抵抗体(8)を具備し、両抵抗
体(7,8)の電極(9)は、前記基準抵抗体(7)及
びトリミング抵抗体(8)を並列接続すべく、絶縁基板
(1)の表裏に形成された電極(9a,9b)が一対一
で電気的に接続されていることを特徴とするチップ型抵
抗器。3. A chip-type resistor in which a resistor (2), its electrode (3), and a protective film (4) covering the resistor (2) are formed on an insulating substrate (1). A reference resistor (7) is provided on one of the front surface and the back surface of the substrate (1), and the reference resistor (7) is provided on the other.
A thinner trimming resistor (8) is provided, and the electrodes (9) of both resistors (7, 8) are insulated to connect the reference resistor (7) and the trimming resistor (8) in parallel. A chip-type resistor, wherein electrodes (9a, 9b) formed on the front and back of a substrate (1) are electrically connected one to one.
を介して複数に区画された絶縁基板(1)に対し、抵抗
体(2)を各区画(12)内にそれぞれ定着させる抵抗
体形成工程と、各区画(12)内に形成された抵抗体
(2)の電極(3)となる導電素材を各区画(12)の
横分割溝(11)に面した縁部に定着させる電極形成工
程と、各抵抗体(2)の電極(3,3)間に生じる抵抗
値を測定する検査工程と、各区画(12)毎に分離させ
複数のチップ部品とする分割工程を経るチップ部品の製
造方法において、 前記抵抗体形成工程においては、絶縁基板(1)上へト
リミングに適した厚みの下位層(13)を形成する第1
工程と、当該下位層(13)の一部へ更に上位層(1
5)たる抵抗素材を重合して当該抵抗体(2)に所定の
抵抗値を与える第2工程を行うことを特徴とするチップ
型抵抗器の製造方法。4. A vertical dividing groove (10) and a horizontal dividing groove (11).
A resistor forming step of fixing the resistor (2) in each of the sections (12) with respect to the insulating substrate (1) partitioned into a plurality of sections through the step (a), and a resistor formed in each section (12). An electrode forming step of fixing a conductive material to be the electrode (3) of (2) to an edge of each section (12) facing the horizontal division groove (11); and an electrode (3, 3) of each resistor (2). In the method for manufacturing a chip component, which includes an inspection process of measuring a resistance value generated between the two components and a dividing process of separating each of the sections (12) into a plurality of chip components, the method includes the steps of: 1) forming a lower layer (13) having a thickness suitable for trimming on the first
Process and part of the lower layer (13) to the upper layer (1).
5) A method of manufacturing a chip-type resistor, comprising performing a second step of giving a predetermined resistance value to the resistor (2) by polymerizing a barrel resistance material.
を介して複数に区画された絶縁基板(1)に対し、抵抗
体(2)を各区画(12)内にそれぞれ定着させる抵抗
体形成工程と、各区画(12)内に形成された抵抗体
(2)の電極(3)となる導電素材を各区画(12)の
横分割溝(11)に面した縁部に定着させる電極形成工
程と、各抵抗体(2)の電極(9,9)間に生じる抵抗
値を測定する検査工程と、各区画(12)毎に分離させ
複数のチップ部品とする分割工程を経るチップ部品の製
造方法において、 前記抵抗体形成工程においては、絶縁基板(1)の表裏
を異にして基準抵抗体(7)並びにトリミング抵抗体
(8)を形成し、それらの電極(9a,9b)が形成さ
れる前記電極形成工程においては、一区画分の横分割溝
(11)の中央部に当該絶縁基板(1)の表裏を貫通す
るスルーホール(14)を形成した後に、前記絶縁基板
(1)の表面及び裏面のそれぞれについて、前記横分割
溝(11)を介して連続する二区画の電極(9a(9
b),9a(9b))を一体的に形成することを特徴と
するチップ型抵抗器の製造方法。5. A vertical dividing groove (10) and a horizontal dividing groove (11).
A resistor forming step of fixing the resistor (2) in each of the sections (12) with respect to the insulating substrate (1) partitioned into a plurality of sections through the step (a), and a resistor formed in each section (12). An electrode forming step of fixing a conductive material to be the electrode (3) of (2) to the edge of each section (12) facing the horizontal division groove (11); and an electrode (9, 9) of each resistor (2). In the method for manufacturing a chip component, which includes an inspection process of measuring a resistance value generated between the two components and a dividing process of separating each of the sections (12) into a plurality of chip components, the method includes the steps of: In the electrode forming step in which the reference resistor (7) and the trimming resistor (8) are formed with the front and back surfaces different from each other and the electrodes (9a, 9b) are formed, horizontal division of one section is performed. A slot penetrating the front and back of the insulating substrate (1) at the center of the groove (11). After the formation of the through holes (14), the electrodes (9a (9a) (9a (9)) are continuously formed on the front and back surfaces of the insulating substrate (1) through the horizontal division grooves (11).
b) and 9a (9b)) are integrally formed.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10194387A JP2000030902A (en) | 1998-07-09 | 1998-07-09 | Chip type resistor and its manufacture |
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002280205A (en) * | 2001-03-21 | 2002-09-27 | Kamaya Denki Kk | Chip-shaped resistor and its manufacturing method |
US8323374B2 (en) | 2004-02-18 | 2012-12-04 | Hitachi Metals, Ltd. | Fine composite metal particles and their production method, micro-bodies, and magnetic beads |
JP2013179212A (en) * | 2012-02-29 | 2013-09-09 | Panasonic Corp | Chip resistor |
CN104347208A (en) * | 2013-07-31 | 2015-02-11 | 中兴通讯股份有限公司 | A resistor manufacturing method, a resistor and an electric circuit |
JP2018026519A (en) * | 2016-08-11 | 2018-02-15 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | Chip resistor element and chip resistor element assembly |
-
1998
- 1998-07-09 JP JP10194387A patent/JP2000030902A/en active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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