JPH08330659A - ガスレーザ装置 - Google Patents

ガスレーザ装置

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JPH08330659A
JPH08330659A JP13055195A JP13055195A JPH08330659A JP H08330659 A JPH08330659 A JP H08330659A JP 13055195 A JP13055195 A JP 13055195A JP 13055195 A JP13055195 A JP 13055195A JP H08330659 A JPH08330659 A JP H08330659A
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JP
Japan
Prior art keywords
laser light
output
laser
beam splitter
gas laser
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Pending
Application number
JP13055195A
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English (en)
Inventor
Tatsuo Enami
龍雄 榎波
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】励起手段に印加される電圧を制御することなく
レーザ光の出力を一定に保つことのできるガスレーザ装
置を提供する。 【構成】出力ミラー5から出射するレーザ光3の光路上
にビームスプリッタ6を配置し、このビームスプリッタ
6に入射するレーザ光3の入射角度をレーザ光3の出力
エネルギに応じて可変するようにしたことを特徴とす
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ガスレーザ装置に係
り、特にガスレーザ媒質としてKrFやArF等を用い
たガスレーザ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ガスレーザ媒質として例えばKr(クリ
プトン)とF(フッ素)との混合ガスを用いたガスレー
ザ装置は、気密容器内に封入されたガスレーザ媒質を励
起手段により励起してレーザ光を発生させ、このレーザ
光を気密容器の一端側と他端側に配置された高反射ミラ
ーと出力ミラーとで増幅して出力ミラーから出射する構
成となっている。
【0003】ところで、上記のように構成されるガスレ
ーザ装置を例えば半導体プロセスの加工用光源として用
いる場合、安定した加工精度を得るためにレーザ光の出
力を一定に保つ必要がある。しかしながら、上述したガ
スレーザ装置では、図5に示すように、運転時間が長く
なると、レーザ光の出力が低下する。これは、例えば気
密容器内がフッ素ガスで腐食されることにより気密容器
内に不純物が発生したりするためである。
【0004】そこで、出力ミラーから出射したレーザ光
の一部をフォトセンサでモニタし、このフォトセンサか
ら出力された信号が設定値を下回ったときに励起手段に
印加される電圧を増大してレーザ光の出力を一定に保つ
ようにした方法が考案されている(SPIE Vol.1264 Opt
ical/Laser Microlithography III (1990) p.496−50
4 参照)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、励起手
段に印加される電圧を制御してレーザ光の出力を一定に
保つようにすると、図6に示すように、レーザ光の発振
効率が低下し、ガスレーザ装置の寿命を早めるばかりで
なく、励起手段に印加される電圧が低いときにはレーザ
光の出力変動率が図7に示されるように大きくなり、加
工精度等に悪影響を及ぼすという難点があった。
【0006】この発明は上記のような問題点に鑑みてな
されたもので、その目的は励起手段に印加される電圧を
制御することなくレーザ光の出力を一定に保つことので
きるガスレーザ装置を提供しようとするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1に係る発明のガスレーザ装置は、出力ミラ
ーから出射したレーザ光の光路上に透過率が入射角度に
応じて変化する光学素子を配置し、この光学素子に入射
する前記レーザ光の入射角度をその出力エネルギに応じ
て可変するようにしたことを特徴とするものである。請
求項2に係る発明のガスレーザ装置は、前記光学素子と
してビームスプリッタを用いたことを特徴とするもので
ある。
【0008】
【作用】請求項1に係る発明では、光学素子に入射する
レーザ光の入射角度をレーザ光のエネルギに応じて可変
することにより、光学素子を透過するレーザ光の透過光
量がレーザ光の入射角度に応じて変化するので、励起手
段に印加される電圧を制御しなくてもレーザ光の出力を
一定に保つことができる。
【0009】請求項2に係る発明では、ビームスプリッ
タに入射するレーザ光の入射角度をレーザ光のエネルギ
に応じて可変することにより、ビームスプリッタを透過
するレーザ光の透過光量がレーザ光の入射角度に応じて
変化するので、励起手段に印加される電圧を制御しなく
てもレーザ光の出力を一定に保つことができる。
【0010】
【実施例】以下、この発明の第1の実施例を図1ないし
図3を参照して説明する。図1において、1は気密容器
であり、この気密容器1内には、KrF等のガスレーザ
媒質が封入されているとともに、ガスレーザ媒質を励起
する励起手段としての主電極2A,2Bが相対向して設
けられている。
【0011】これらの主電極2A,2Bは高圧電源(図
示せず)に接続しており、この高圧電源から主電極2
A,2Bにパルス電圧を印加すると、主電極2A,2B
間にパルス放電が発生し、このパルス放電によってガス
レーザ媒質が励起されてレーザ光3が発生するようにな
っている。そして、ガスレーザ媒質の励起によって発生
したレーザ光3は、気密容器1の一端側に配置された高
反射ミラー4と、この高反射ミラー4に対向して気密容
器1の他端側に配置された出力ミラー5との間で反射を
繰り返した後、出力ミラー5からパルスレーザ光として
出射するようになっている。
【0012】前記出力ミラー5から出射したレーザ光3
の光路上には、ビームスプリッタ6が配置されていると
ともに、ビームスプリッタ6を透過したレーザ光3の一
部をフォトセンサ10に導くビームスプリッタ9が配置
されている。
【0013】前記ビームスプリッタ6は出力ミラー5か
ら出射するレーザ光3の出力を一定に保つためのもので
あり、図中矢印方向に回動する回転テーブル7に取り付
けられている。この回転テーブル7はビームスプリッタ
6に入射するレーザ光3の入射角度を調整するものであ
り、モータ8により駆動されるようになっている。
【0014】前記フォトセンサ10は出力ミラー5から
出射するレーザ光3の出力を検出するためのものであ
り、このフォトセンサ10から出力された信号は、モー
タ8を駆動制御する制御装置11に供給されるようにな
っている。
【0015】図2は、ビームスプリッタ6に入射するレ
ーザ光3の入射角度とビームスプリッタ6を透過するレ
ーザ光3の透過率との関係を示す図である。同図に示す
ように、ビームスプリッタ6に入射するレーザ光3の入
射角度が小さくなると、ビームスプリッタ6を透過する
レーザ光3の透過率が増加する。
【0016】したがって、出力ミラー5から出射したレ
ーザ光3の出力をフォトセンサ10でモニタし、レーザ
光3の出力が予め設定した値を下回ったときに制御装置
11からモータ8に駆動信号を送出し、ビームスプリッ
タ6を透過するレーザ光4の透過光量が増大するように
回転テーブル6をモータ7で駆動し、ビームスプリッタ
6に入射するレーザ光3の入射角度を変えることによ
り、図3に示すように、主電極2A,2Bに印加される
電圧を制御しなくてもレーザ光3の出力を一定に保つこ
とができる。
【0017】次に、この発明の第2の実施例を図4を参
照して説明する。図4において、1は気密容器であり、
この気密容器1内には、KrF等のガスレーザ媒質が封
入されているとともに、ガスレーザ媒質を励起する励起
手段としての主電極2A,2Bが相対向して設けられて
いる。
【0018】これらの主電極2A,2Bは高圧電源(図
示せず)に接続しており、この高圧電源から主電極2
A,2Bにパルス電圧を印加すると、主電極2A,2B
間にパルス放電が発生し、このパルス放電によってガス
レーザ媒質が励起されてレーザ光3が発生するようにな
っている。そして、ガスレーザ媒質の励起によって発生
したレーザ光3は、気密容器1の一端側に配置された高
反射ミラー4と、この高反射ミラー4に対向して気密容
器1の他端側に配置された出力ミラー5との間で反射を
繰り返した後、出力ミラー5からパルスレーザ光として
出射するようになっている。
【0019】前記出力ミラー5から出射したレーザ光3
の光路上には、ビームスプリッタ6が配置されていると
ともに、ビームスプリッタ6を透過したレーザ光3の一
部をフォトセンサ10に導くビームスプリッタ9が配置
されている。そして、前記気密容器1、高反射ミラー
4、出力ミラー5およびビームスプリッタ9は、ビーム
スプリッタ9を中心として図中矢印方向に回動する回転
テーブル14上に設置されている。なお、図4において
15は回転テーブル14を駆動するモータ、11はフォ
トセンサ10からの信号出力に基づいてモータ15を駆
動制御する制御装置を示している。ここで、ビームスプ
リッタ6は回転テーブル14とは固定されておらず、従
って回転テーブル14と連動しないものとする。
【0020】上記のように構成されるガスレーザ装置で
は、出力ミラー5から出射したレーザ光3はビームスプ
リッタ6に入射する。ここで、回転テーブル14を駆動
してビームスプリッタ6に入射するレーザ光3の入射角
度を変化させると、ビームスプリッタ6を透過するレー
ザ光3の透過光量が入射角度によって変化する。
【0021】したがって、出力ミラー5から出射したレ
ーザ光3の出力をフォトセンサ10でモニタし、レーザ
光3の出力が予め設定した値を下回ったときに制御装置
11からモータ15に駆動信号を送出し、ビームスプリ
ッタ6を透過するレーザ光3の透過光量が増大するよう
に回転テーブル14を図中矢印方向に回動させることに
より、プリズム14に入射するレーザ光3の入射角度が
変化する。これによりビームスプリッタ6を透過するレ
ーザ光3の透過光量が入射角度によって変化するので、
主電極2A,2Bに印加される電圧を制御しなくてもレ
ーザ光3の出力を一定に保つことができる。
【0022】また、上述した第1及び第2の実施例で
は、出力ミラー5から出射したレーザ光3の光路上にビ
ームスプリッタ6を配置したが、例えば石英、フッ化マ
グネシウム、フッ化カルシウム等からなる板状の光学素
子をレーザ光3の光路上に配置し、この光学素子に入射
するレーザ光3の入射角度をそのエネルギに応じて可変
するようにしても第1及び第2の実施例と同様の効果を
得ることができる。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、励起手段に印加される電圧を制御することなくレー
ザ光の出力を一定に保つことのできるガスレーザ装置を
提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施例に係るガスレーザ装置
の概略構成図。
【図2】ビームスプリッタに入射するレーザ光の入射角
度とビームスプリッタを透過するレーザ光の透過率との
関係を示す線図。
【図3】ビームスプリッタを透過するレーザ光の透過光
量が徐々に増大するようにレーザ光の入射角度を可変し
たときのレーザ光の出力エネルギを示す線図。
【図4】この発明の第2の実施例に係るガスレーザ装置
の概略構成図。
【図5】ガスレーザ装置におけるレーザ光の出力変化を
示す線図。
【図6】ガスレーザ装置におけるレーザ光の発振効率と
入力エネルギとの関係を示す線図。
【図7】ガスレーザ装置におけるレーザ光の出力変動率
と入力エネルギとの関係を示す線図。
【符号の説明】
1…気密容器 2A,2B…主電極 3…レーザ光 4…高反射ミラー 5…出力ミラー 6…ビームスプリッタ 10…フォトセンサ 11…制御装置 14…プリズム

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 気密容器に封入されたガスレーザ媒質を
    励起手段により励起してレーザ光を発生させ、このレー
    ザ光を前記気密容器の一端側と他端側に配置された反射
    ミラーと出力ミラーとで増幅して前記出力ミラーから出
    射するガスレーザ装置において、前記出力ミラーから出
    射したレーザ光の光路上に透過率が入射角度に応じて変
    化する光学素子を配置し、この光学素子に入射する前記
    レーザ光の入射角度をそのエネルギに応じて可変するよ
    うにしたことを特徴とするガスレーザ装置。
  2. 【請求項2】 前記光学素子は、ビームスプリッタであ
    る請求項1記載のガスレーザ装置。
JP13055195A 1995-05-29 1995-05-29 ガスレーザ装置 Pending JPH08330659A (ja)

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JP13055195A JPH08330659A (ja) 1995-05-29 1995-05-29 ガスレーザ装置

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JP13055195A JPH08330659A (ja) 1995-05-29 1995-05-29 ガスレーザ装置

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JPH08330659A true JPH08330659A (ja) 1996-12-13

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ID=15036983

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013065903A (ja) * 2013-01-15 2013-04-11 Gigaphoton Inc ガスレーザ装置
JPWO2013054372A1 (ja) * 2011-10-11 2015-03-30 三菱電機株式会社 レーザ出力測定機構
JPWO2013098887A1 (ja) * 2011-12-27 2015-04-30 三菱電機株式会社 レーザ出力測定装置

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