JPH08329476A - 光ディスク原盤露光装置および光ディスク原盤露光装置の制御方法 - Google Patents

光ディスク原盤露光装置および光ディスク原盤露光装置の制御方法

Info

Publication number
JPH08329476A
JPH08329476A JP13247095A JP13247095A JPH08329476A JP H08329476 A JPH08329476 A JP H08329476A JP 13247095 A JP13247095 A JP 13247095A JP 13247095 A JP13247095 A JP 13247095A JP H08329476 A JPH08329476 A JP H08329476A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slider
fine movement
exposure
objective lens
moving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13247095A
Other languages
English (en)
Inventor
Jun Nishida
純 西田
Nobutaka Kikuiri
信孝 菊入
Yuichi Tachikawa
雄一 立川
Norio Uchida
憲男 内田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP13247095A priority Critical patent/JPH08329476A/ja
Publication of JPH08329476A publication Critical patent/JPH08329476A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】光ディスク原盤に露光を行う露光装置のスライ
ダの振動を抑制し、スライダ上の対物レンズを精度良く
定速で移動させることを目的とする。 【構成】スライダ1上に設けられた露光用光学系6によ
って、露光ビーム5が対物レンズ8で集光される。対物
レンズ8は、取り付けた第1微動テーブル10の位置を
微調整する圧電素子11が第2微動テーブル9に設けら
れる。対物レンズ8と対向する位置に光ディスク原盤4
が配置されている。光ディスク原盤4を回転させるター
ンテーブル2が配置されている。そして、スライダ1の
振動と同じ距離だけ、第1微動テーブル10を振動方向
と逆向きに移動させることにより、スライダ1の振動は
打ち消され、第1微動テーブル10上の対物レンズ8
は、スライダ1の目標とする定速移動を精度良く行うこ
とが可能となる。すると、トラックピッチの精度を劣化
させることもない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク原盤露光装
置およびその制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】光ディスクは、大量の情報を記録するこ
とができ、情報化社会を支える記憶媒体として近年世界
中に広まりつつある。現在、そのトラックピッチは1
[μm]以下とも言われ、光ディスクを用いた原盤露光
装置には、ナノメートルオーダの高精度位置決め技術が
要求される。
【0003】このような高精度な位置決めを必要とする
露光装置の従来例について、図面を参照しながら説明し
ていく。図4は、従来の露光装置の側面図で、図5は、
露光装置の制御方法を表す制御図である。
【0004】図4に示すように、一軸方向に移動可能な
スライダ101は、空気圧によってレール119に対し
て非接触に浮上している。スライダ101上には、複数
のレンズや鏡からなる露光用光学系106が設けられて
いる。また、スライダ101には、第2粗動テーブル1
09が接続され、第2粗動テーブル109に第2微動テ
ーブル121が接続されている。第2微動テーブル12
1には、対物レンズ108が固定されている。ここで第
2粗動テーブル109と第2微動テーブル121は、ス
ライダ101の移動方向に対して直交する方向、すなわ
ち鉛直方向に移動が可能である。対物レンズ108と非
接触に対向する位置に光ディスクなどの原盤104が配
置され、原盤104は、エアチャック装置103によっ
て固定されている。エアチャック装置103は、ターン
テーブル102上に配置され、図示されないエアスピン
ドルによって回転自在となっている。さらに、第2微動
テーブル121の固定部には、対物レンズ位置計測用ミ
ラー114が設けられている。
【0005】一方、レーザ光発生装置120から発生し
原盤104に露光を行う露光ビーム105は、スライダ
101上の露光用光学系106に導かれ、折り返しミラ
ー107を経て、対物レンズ108で集光され、原盤1
04上に結像する。
【0006】そして露光中は、対物レンズ108で集光
した露光ビーム105が正確に原盤104上で結像する
ように、第2微動テーブル121を微調整しながら露光
動作を行っていく。
【0007】光ディスク原盤は、原盤毎に必ずしも厚さ
が一定ではないため、第2微動テーブル121の調整範
囲に入るように、あらかじめ露光前に第2粗動テーブル
109で対物レンズ108と原盤104の距離を粗調整
しておく。
【0008】そして、スライダ101をレール119に
沿って所定の位置より所定の速度パターンで逐次移動さ
せる。そして、同時に第2微動テーブル109を駆動す
ることによって露光軸の焦点位置を微調整させ結像し、
露光を行っていく。
【0009】ここで、対物レンズ108の位置検出は、
ヘリウムネオンレーザ112を、対物レンズ位置計測用
ミラー114に当てることによって行っている。また、
図5に示されるように、対物レンズ位置計測用ミラー1
14からの位置信号は、スライダ制御系116に入力さ
れ、CPU(Central Processing Unit)118からの位
置信号と比較処理され、モータ115に駆動力を与え
る。
【0010】そして、駆動力が与えられたモータ115
は、スライダ101に設けられるロッド121を摩擦駆
動させてスライダ101を所定の位置より所定の速度パ
ターンで移動させていく。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上記のような露光装置
およびその制御方法では、スライダは空気圧によって案
内され、スライダの後に設けられているロッドを摩擦駆
動することによって移動する仕組みになっている。そし
て、スライダの位置は、ヘリウムネオンレーザなどを用
いたレーザ測長計によって計測され、フィードバック制
御されて低速送りを実現している。
【0012】しかしながら、このスライダには、ローリ
ング、ピッチング、ヨーイングなどが少なく、さらに真
直度が良く、高精度が要求されるが、従来ロッドを摩擦
駆動する場合の機械的接触の不均一さや磨耗、経年変化
によって、また外乱によって、スライダの移動方向に微
小な振動が発生するといった問題があった。
【0013】また、スライダの高精度の低速送りにはサ
ーボを用いるが、精度を上げるためにサーボゲインをな
るべく高く設定する必要がある。しかしながら、スライ
ダの機械的共振周波数があまり高くないためにサーボゲ
インを高く取れず、移動方向の微小な振動が残るといっ
た問題があった。
【0014】以上のような振動がスライダに搭載された
集光手段である対物レンズに伝わり、対物レンズによる
結像位置はスライダの移動方向に振動してしまう。する
と露光ビームは、光ディスクなどの原盤上の本来の位置
には露光せず、トラックピッチ精度の劣化が生じるとい
った問題が起こってくる。
【0015】本発明は上記のような従来の技術の問題点
に鑑みてなされたもので、スライダの振動や送り誤差を
減少させることで、対物レンズが振動したり送り誤差が
生じても、トラックピッチ精度を劣化させることのない
露光装置および制御方法を提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに本発明の光ディスク原盤露光装置は、露光用光学系
と、前記露光用光学系によって導かれる露光ビームを集
光させる集光手段と、前記集光手段を接続する移動可能
なスライダと、前記スライダに接続され、前記スライダ
の移動方向とは異なる方向に移動可能な粗動装置と、前
記集光手段による露光ビームの集光位置に光ディスク原
盤を保持可能とする、回転可能なターンテーブルと、前
記スライダの位置を測定するスライダ位置測定用手段
と、前記集光手段の位置を測定する集光手段位置計測用
手段と、前記粗動装置に接続され、前記スライダの移動
方向とは異なる方向に移動可能な第2微動装置と、前記
第2微動装置に接続され、前記集光手段位置計測用手段
から検出される結果に基づいて、前記集光手段を前記ス
ライダの移動方向と同一方向に微動させる第1微動装置
とから構成される。
【0017】また、本発明の光ディスク露光装置は、露
光用光学系と、前記露光用光学系によって導かれる露光
ビームを集光させる集光手段と、前記集光手段を接続す
る移動可能なスライダと、前記集光手段による露光ビー
ムの集光位置に光ディスク原盤を保持可能とする、回転
可能なターンテーブルと、前記ターンテーブルを前記ス
ライダの移動方向とは異なる方向に移動可能なターンテ
ーブル移動装置と、前記スライダの位置を測定するスラ
イダ位置測定用手段と、前記集光手段の位置を測定する
集光手段位置計測用手段と、前記スライダに接続され、
前記スライダの移動方向とは異なる方向に移動可能な第
2微動装置と、前記第2微動装置に接続され、前記集光
手段位置計測用手段から検出される結果に基づいて、前
記集光手段を前記スライダの移動方向と同一方向に微動
させる第1微動装置とから構成される。
【0018】また、本発明の光ディスク原盤露光装置の
制御方法は、スライダの位置を測定するスライダ位置測
定用手段から得られる位置信号が入力され、前記スライ
ダの位置決め制御を行うスライダ制御系と、前記スライ
ダの移動方向と同一方向に微動する集光手段の位置を測
定する集光手段位置計測用手段から得られる位置信号が
入力され、前記集光手段の位置決め制御を行う微動装置
制御系とから構成され、前記スライダ制御系に出力され
るスライダの位置情報の目標値と、前記微動装置制御系
に出力される前記集光手段の位置情報の目標値とが、同
一かつ同期した信号となるように制御される構成とし
た。
【0019】
【作用】以上述べたように本発明の構成によれば、微動
装置には、スライダが定速移動時に生じさせる振動や送
り誤差の量と同じ大きさで、振動や送り誤差を打ち消す
方向(反対の方向)に移動を行わせることができる。
【0020】そして、微動装置に設けられる集光手段
は、スライダの目標とする定速移動と同じ定速移動が可
能となる。その結果、スライダの振動や送り誤差を減少
させ、スライダが振動したり送り誤差が生じても、トラ
ックピッチ精度を劣化させることのない露光装置および
その制御方法を実現している。
【0021】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しながら
説明していく。図1は、露光装置の第1実施例の側面図
を示している。図1に示すように、露光装置の第1実施
例の構成図を示している。
【0022】図1に示すように、一軸方向に移動可能な
スライダ1は、空気圧によってレール20に対して非接
触に浮上している。スライダ1上には、複数のレンズや
鏡からなる露光用光学系6が設けられている。また、ス
ライダ1には、粗動テーブル23(粗動装置)が接続さ
れている。そして、粗動テーブル23には、第1微動テ
ーブル10(第1微動装置)が接続され、第1微動テー
ブル10に、第2微動テーブル9(第2微動装置)が接
続されている。第2微動テーブル9には、対物レンズ8
(集光手段)が固定されている。
【0023】ここで、第1微動テーブル10は、スライ
ダ1の移動方向と同一方向に移動が可能であり、第2微
動テーブル9と粗動テーブル23は、スライダ1の移動
方向に対して直交方向、すなわち鉛直方向に例えばボイ
スコイルモータや直流モータによって移動可能である。
【0024】また、第1微動テーブル10には、圧電素
子11が接続され、第1微動テーブル10が移動可能と
なる。そして、対物レンズ8と非接触に対向する位置に
光ディスク原盤4があり、光ディスク原盤4は、エアチ
ャック装置3によって固定されている。エアチャック装
置3は、ターンテーブル2上に配置され、図示されない
エアスピンドルによって回転自在となっている。
【0025】さらに、第2微動テーブル9の固定部に
は、対物レンズ位置計測用ミラー14(集光手段位置計
測用手段)が設けられている。また、スライダ1には、
スライダ位置計測用ミラー13(スライダ位置計測用手
段)が設けられている。
【0026】ここで、スライダ1の位置検出には、ヘリ
ウムネオンレーザ12aを、スライダ位置計測用ミラー
13に当てることによって行っている。また、対物レン
ズ8の位置検出には、ヘリウムネオンレーザ12bを、
対物レンズ位置計測用ミラー14に当てることによって
行っている。そして、レーザ発生装置21から発生し光
ディスク原盤4に露光を行う露光ビーム5は、スライダ
1上の露光用光学系6に導かれ、折り返しミラー7を経
て、対物レンズ8で集光され、ほぼ光ディスク原盤4上
に結像し、露光を行っていく。
【0027】ここで、スライダ1を初期位置に移動させ
る。そして、粗動テーブル23により、厚さの異なる種
々の光ディスク原盤4に対して、大雑把に焦点を合わせ
る。そして、第2微動テーブル9で焦点を合わせなが
ら、スライダ1を対物レンズ8の位置測定結果から得た
位置情報を、対物レンズ8の位置目標値に近付けるよう
に、スライダ1をレール20に沿って一軸方向に所定の
速度パターンで移動させると共に、第1微動テーブル1
0によって、対物レンズ8は、スライダ1の移動方向に
同一方向に、スライダ1の振動や対物レンズ8の振動に
よる送り誤差を打ち消すような方向に駆動することによ
って、スライダ1や対物レンズ8の送り誤差の微調整を
行いながら光ディスク原盤4に露光していく。
【0028】ここで、圧電素子11が伸びれば、伸縮自
在な接続部23aが縮み、接続部23bが伸びて露光軸
を微調整していく。逆に、圧電素子11が縮めば、接続
部23aが伸び、接続部23bが縮む。
【0029】以上、述べたような構成によれば、本実施
例では、露光面のブレの際に生ずる結像位置の誤差も第
1微動テーブル10によってスライダ1の鉛直方向に対
物レンズ8を微動することで調整が可能である。
【0030】また、光ディスク原盤4に露光を行う際に
は、スライダ1の鉛直方向の精度以上に、スライダ1の
移動方向の精度が特に重要である。そのため、本構成に
よれば、対物レンズ8を微動させる圧電素子11がより
対物レンズ8の近くにあることによって、粗動テーブル
23の移動に伴うスライダ1ん移動方向に対して同一方
向の移動誤差も第1微動テーブル10で補償でき、露光
に必要な高精度な位置決めが可能となり、スライダ1が
振動したり、また、送り誤差が生じても、トラックピッ
チの精度を劣化させることのない露光装置を実現してい
る。
【0031】次に、図2は、露光装置の第2実施例の側
面図を示している。この実施例の特徴は、スライダ1側
には、スライダ1の移動方向に対して直交する方向に粗
動させる装置を設けずに、ターンテーブル4側に設けて
いることにある。
【0032】図2に示すように、一軸方向に移動可能な
スライダ1は、空気圧によってレール20に対して非接
触に浮上している。スライダ1上には、複数のレンズや
鏡からなる露光用光学系6が設けられている。また、ス
ライダ1には、テーブル29が接続されている。そし
て、テーブル29には第1微動テーブル(第1微動装
置)10が接続され、第1微動テーブル10に第2微動
テーブル(第2微動装置)9が接続されている。第2テ
ーブル9には、対物レンズ(集光手段)8が固定されて
いる。第1微動テーブル10には、圧電素子11が接続
され、第1微動テーブル10が移動可能となる。
【0033】そして、対物レンズ8と非接触に対向する
位置に光ディスク原盤4が配置されている。光ディスク
原盤4は、エアチャック装置3によって固定されてい
る。エアチャック装置3は、ターンテーブル2上に配置
されている。エアチャック装置3は、エアスピンドルを
設けた移動可能なターンテーブル移動装置19上に配置
してある。
【0034】ここで、第1微動テーブル10は、スライ
ダ1の移動方向と同一方向に移動が可能である。また、
ターンテーブル移動装置19と第2微動テーブル9は、
スライダ1の移動方向に対して直交する方向、すなわち
鉛直方向に移動が可能である。 そして、対物レンズ8
には、対物レンズ位置計測用ミラー14a(集光手段位
置計測用手段)が設けられている。また、スライダ1に
は、スライダ位置計測用ミラー13(スライダ位置計測
用手段)が設けられている。
【0035】そして、レーザ発生装置21から発生する
光ディスク原盤4に露光を行う露光ビーム5は、スライ
ダ1上の露光用光学系6に導かれ、折り返しミラー7を
経て、対物レンズ8で集光され、ほぼ光ディスク原盤4
上に結像し、露光を行っていく。 ここで、スライダ1
を初期位置に移動させる。そして、ターンテーブル移動
装置19により、厚さの異なる種々の光ディスク原盤4
に対して、焦点距離の誤差範囲内に大雑把に焦点を合わ
せる。そして、第2微動テーブル9で焦点を合わせなが
ら、スライダ1を対物レンズ8の位置測定結果から得た
位置情報を、対物レンズ8の位置目標値に近付けるよう
に、スライダ1をレール20に沿って所定の速度パター
ンで移動させる。それと同時に、第1微動テーブル10
によって、対物レンズ8は、スライダ1の移動方向と同
一方向に、スライダ1の振動や対物レンズ8の振動によ
る送り誤差を打ち消すような方向に駆動することによっ
て、スライダ1や対物レンズ8の送り誤差の微調整を行
いながら光ディスク原盤4に露光していく。
【0036】ここで、圧電素子11が伸びれば、伸縮自
在な接続部23aが縮み、接続部23bが伸びて露光軸
を微調整していく。逆に、圧電素子11が縮めば、接続
部23aが伸び、接続部23bが縮む。この様にして、
対物レンズ8の焦点位置をスライダ1の移動方向に微調
整する。
【0037】以上、述べたような構成によれば、本実施
例では第1実施例の機能を発揮することはいうまでもな
く、ターンテーブル移動装置19を設けることにより、
光ディスク原盤4の交換時に光ディスク原盤4の厚みの
変動に応じて、スライダ1の移動方向に対して直交方向
の高さを調整することが可能となる。
【0038】また、スライダ1に搭載される微動装置が
1つであるため軽量化が実現されるとともに、重量に起
因するたわみも低減できる。また、光ディスク原盤露光
装置のスライダ1の移動方向の剛性の低さによって、装
置全体の共振周波数が低下することも回避可能である。
【0039】そのため、対物レンズ8の集光位置に関し
て高精度な位置決めが可能となる。そして、スライダ1
の振動や送り誤差を減少させ、スライダ1が振動した
り、また、送り誤差が生じても、トラックピッチの精度
を劣化させることのない露光装置を実現している。
【0040】次に、図3は、露光装置の制御方法の実施
例を表す制御図である。対物レンズ8(集光手段)に対
物レンズ位置計測用ミラー14(集光手段位置計測用手
段)が設けられており、また、スライダ1にスライダ位
置計測用ミラー13(集光手段位置計測用手段)が設け
られている。
【0041】対物レンズ8の位置検出は、図示されない
ヘリウムネオンレーザを対物レンズ位置計測用ミラー1
4に当てることによって行っている。また、スライダ1
の位置検出は、ヘリウムネオンレーザをスライダ位置計
測用ミラー13に当てることによって行っている。そし
て、対物レンズ8の位置信号は、第1微動装置制御系1
7に送られる。また、スライダ1の位置信号は、スライ
ダ制御系16に送られる。
【0042】スライダ制御系16は、スライダ1を駆動
させるモータ15にPID(Proportional Integrationa
l and Differential) 制御によって処理された位置信号
を送っており、また、第1微動装置制御系17は、対物
レンズ8を微調整する圧電素子11に例えばPID制御
やFF(Feed Forward)制御などによって処理された位置
信号を送っている。
【0043】また、スライダ制御系16と第1微動装置
制御系17にCPU(Central Processing Unit) 18が
接続されてある。このような構成の露光装置の制御方法
について以下、説明していく。
【0044】まず、スライダ1が図7中の鎖線で書かれ
た矢印の方向に定速で移動している場合を考える。ここ
で、スライダ1を定速で送る場合、CPU18よりスラ
イダ制御系16と第1微動装置制御系17に定速移動の
同一の位置情報が送られる。そして、スライダ制御系1
6と第1微動装置制御系17は、出力タイミングが同期
され、常に同一の位置目標値がそれぞれの制御系に出力
されるようになっている。そこで、スライダ1の位置の
実測値から定速移動の目標値を差し引くと、図6(b)
に示すようなスライダ1の振動成分が残る。この振動成
分の影響をなくすために以下の制御を行っていく。
【0045】スライダ位置計測用ミラー13にヘリウム
ネオンレーザを照射することによって計測されるスライ
ダ1の位置の実測値は、スライダ制御系16にフィード
バックされてPID制御に利用される。
【0046】また、対物レンズ8の位置は、対物レンズ
位置計測用ミラー14にヘリウムネオンレーザを照射す
ることによって計測される対物レンズ8の位置の実測値
は、第1微動装置制御系17にフィードバックされてP
ID制御に利用される。
【0047】このような構成においては、スライダ1が
目標値とほぼ同じ定速移動が実現されるが、微小な振動
が発生する場合がある。しかし、第1微動テーブル10
は、位置情報が定速送りとなっているため、第1微動装
置制御系17のサーボ機能によって、スライダ1の振動
によって生じる送り誤差分ほど、送り誤差を打ち消す方
向に移動する。すなわち、スライダ1の振動成分は、圧
電素子11によって第1微動テーブル10を移動させる
ことによって、結果的に打ち消される。
【0048】したがって、第1微動テーブル10の上の
対物レンズ8には、スライダ1の目標とする定速移動信
号が実現される。以上のような構成において、対物レン
ズ8には振動のない定速送りが実現され、一定のトラッ
クピッチで露光することが可能となる。また、スライダ
1に定常的な送り誤差があっても振動の場合と同じよう
に動作して、結果的に定常的な送り誤差が打ち消され
る。
【0049】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ス
ライダの移動方向の振動や送り誤差を打ち消すことがで
きるため、スライダ上の集光手段に振動や送り誤差が伝
わらず、精度のよい定速送りが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の露光装置の第1実施例の側面図。
【図2】 本発明の露光装置の第2実施例の側面図。
【図3】 本発明の露光装置の制御方法を表す制御図。
【図4】 従来の露光装置の側面図。
【図5】 従来の露光装置の制御方法を表す制御図。
【符号の説明】
1 スライダ 2 ターンテーブル 3 エアチャック装置 4 光ディスク原盤 5 露光ビーム 6 露光用光学系 7 折り返しミラー 8 対物レンズ(集光手段) 9 第2微動テーブル(第2微動装置) 10 第1微動テーブル(第1微動装置) 11 圧電素子(第1微動装置) 12a、12b ヘリウムネオンレーザ 13 スライダ位置計測用ミラー(スライダ位置計測用
手段) 14、14a 対物レンズ位置計測用ミラー(集光手段
位置計測用手段) 15 モータ 16 スライダ制御系 17 第1微動装置制御系 18 CPU 19 ターンテーブル移動装置 20 レール 21 レーザ発生装置 22 アンプ(第1微動装置制御系) 23 粗動テーブル(粗動装置) 23a、23b 接続部
フロントページの続き (72)発明者 内田 憲男 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】露光用光学系と、前記露光用光学系によっ
    て導かれる露光ビームを集光させる集光手段と、前記集
    光手段を接続する移動可能なスライダと、前記スライダ
    に接続され、前記スライダの移動方向とは異なる方向に
    移動可能な粗動装置と、前記集光手段による露光ビーム
    の集光位置に光ディスク原盤を保持可能とする、回転可
    能なターンテーブルと、前記スライダの位置を測定する
    スライダ位置測定用手段と、前記集光手段の位置を測定
    する集光手段位置計測用手段と、前記粗動装置に接続さ
    れ、前記スライダの移動方向とは異なる方向に移動可能
    な第2微動装置と、前記第2微動装置に接続され、前記
    集光手段位置計測用手段から検出される結果に基づい
    て、前記集光手段を前記スライダの移動方向と同一方向
    に微動させる第1微動装置とから構成されることを特徴
    とする光ディスク原盤露光装置。
  2. 【請求項2】露光用光学系と、前記露光用光学系によっ
    て導かれる露光ビームを集光させる集光手段と、前記集
    光手段を接続する移動可能なスライダと、前記集光手段
    による露光ビームの集光位置に光ディスク原盤を保持可
    能とする、回転可能なターンテーブルと、前記ターンテ
    ーブルを前記スライダの移動方向とは異なる方向に移動
    可能なターンテーブル移動装置と、前記スライダの位置
    を測定するスライダ位置測定用手段と、前記集光手段の
    位置を測定する集光手段位置計測用手段と、前記スライ
    ダに接続され、前記スライダの移動方向とは異なる方向
    に移動可能な第2微動装置と、前記第2微動装置に接続
    され、前記集光手段位置計測用手段から検出される結果
    に基づいて、前記集光手段を前記スライダの移動方向と
    同一方向に微動させる第1微動装置とから構成されるこ
    とを特徴とする光ディスク原盤露光装置。
  3. 【請求項3】スライダの位置を測定するスライダ位置測
    定用手段から得られる位置信号が入力され、前記スライ
    ダの位置決め制御を行うスライダ制御系と、前記スライ
    ダの移動方向と同一方向に微動する集光手段の位置を測
    定する集光手段位置計測用手段から得られる位置信号が
    入力され、前記集光手段の位置決め制御を行う微動装置
    制御系とから構成され、前記スライダ制御系に出力され
    るスライダの位置情報の目標値と、前記微動装置制御系
    に出力される前記集光手段の位置情報の目標値とが、同
    一かつ同期した信号となるように制御されることを特徴
    とする光ディスク原盤露光装置の制御方法。
JP13247095A 1995-05-31 1995-05-31 光ディスク原盤露光装置および光ディスク原盤露光装置の制御方法 Pending JPH08329476A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13247095A JPH08329476A (ja) 1995-05-31 1995-05-31 光ディスク原盤露光装置および光ディスク原盤露光装置の制御方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13247095A JPH08329476A (ja) 1995-05-31 1995-05-31 光ディスク原盤露光装置および光ディスク原盤露光装置の制御方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08329476A true JPH08329476A (ja) 1996-12-13

Family

ID=15082135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13247095A Pending JPH08329476A (ja) 1995-05-31 1995-05-31 光ディスク原盤露光装置および光ディスク原盤露光装置の制御方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08329476A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6754153B2 (en) 2000-07-11 2004-06-22 Ricoh Company, Ltd. Exposure apparatus for optical disc
JP2013210218A (ja) * 2012-03-30 2013-10-10 Ministry Of National Defense Chung Shan Inst Of Science & Technology レーザ光斑絶対位置付け駆動装置と駆動システム及びその方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6754153B2 (en) 2000-07-11 2004-06-22 Ricoh Company, Ltd. Exposure apparatus for optical disc
US7057992B2 (en) 2000-07-11 2006-06-06 Ricoh Company, Ltd. Exposure apparatus for optical disc
JP2013210218A (ja) * 2012-03-30 2013-10-10 Ministry Of National Defense Chung Shan Inst Of Science & Technology レーザ光斑絶対位置付け駆動装置と駆動システム及びその方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5144150A (en) Configuration measuring apparatus
US4464030A (en) Dynamic accuracy X-Y positioning table for use in a high precision light-spot writing system
JP2749466B2 (ja) 光ディスクドライブのトラック偏差補正方法及びその装置
US5223970A (en) Optical axis adjusting mechanism and method for optical information recording and reproducing device, and jig therefor
US5315374A (en) Three-dimensional measuring apparatus
JPH08329476A (ja) 光ディスク原盤露光装置および光ディスク原盤露光装置の制御方法
CN114544498B (zh) 一种光刻样品及微纳结构跟踪装置及方法
JP3642947B2 (ja) 光ディスク原盤記録装置
CN101393328A (zh) 光学探测装置及包含所述光学探测装置的测量系统
JP2513593B2 (ja) 光学ヘツドアクチユエ−タ
US7057992B2 (en) Exposure apparatus for optical disc
JP2767138B2 (ja) 光学式情報記録再生装置用光学系の光軸調整方法及び治具
CN101726250A (zh) 光学探测装置及包含所述光学探测装置的测量系统
JP2757539B2 (ja) 浮上型光ヘッド
US6735005B2 (en) Cartesian scanning system
JPH03178043A (ja) 焦点制御装置
JPH11213404A (ja) 原盤記録装置及びその方法
JP3287668B2 (ja) 光ピックアップ装置の初期合焦位置設定装置
JP2715689B2 (ja) 光ディスク原盤記録装置
JP2748900B2 (ja) 露光装置
JPH03150740A (ja) 光ディスク原盤記録装置
JPH07220287A (ja) 露光装置の光路位置調整方法
JPS60210733A (ja) レンズ光軸検査装置
JP2001195758A (ja) 原盤露光装置及び方法
JPS6398843A (ja) 面振れ測定装置