JPH08327682A - 計測器制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 簡易な構成で操作性に優れ、測定作業の工数
低減が図れ、しかも省スペース化に寄与する計測器制御
装置を提供する。 【構成】 発振器２やマルチメータ３，４などの計測器
の測定条件や測定順序などのデータを入力するキーボー
ド６と、このキーボード６が入力したデータを演算処理
するＣＰＵ７と、このＣＰＵ７が演算処理したデータを
記憶するメモリ８と、このメモリ８が記憶する測定条件
や測定順序などのデータの設定を発振器２やマルチメー
タ３などの計測器に命令するＧＰ−ＩＢコントローラ９
を備えた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、複数の計測器の測定条
件を予めプログラムした順序で計測器に設定する計測器
制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、生産ラインを流れて生産される被
測定対象としての各種電子機器の電気的特性を測定する
ために、各種電子機器の電気的特性に対応すべく、生産
ラインに配置した発振器、マルチメータやアナライザな
どの計測器の測定条件（例えば、発振器の場合には周波
数を１ｋＨｚにすること、マルチメータの場合にはＤＣ
電圧にして４Ｖレンジにすることなど）は、手作業で設
定することが知られている。

【０００３】また、パーソナルコンピュータを使用し、
ＧＰ−ＩＢ（General Purpose Interface Bus）を介し
て生産ラインに配置した発振器、マルチメータやアナラ
イザなどの計測器の測定条件の設定及び測定順序等を予
めプログラムしておき、実際の測定作業においてプログ
ラムした通りに測定条件を各計測器に設定すると共に、
プログラムした順序で測定することが知られている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】多種類の電子機器を共
通のラインで生産する場合には、特に被測定対象となる
電子機器の生産切替えに応じて計測器の測定条件を設定
し直さなければならず、これを手作業で行うのは煩雑で
あり、しかも誤設定し易いという問題点を有していた。

【０００５】また、パーソナルコンピュータを使用して
計測器の測定条件を設定する場合においては、一般に計
測器を制御する装置は工場の生産ラインに設置されるた
め、ラインサイド等にそのための設置スペースを必要と
し、生産ラインの省スペース化が図れないという問題点
を有していた。また、パーソナルコンピュータは、本来
条件のよい雰囲気で使用するように製造されているた
め、耐環境性が弱く、雰囲気のよくない生産ラインに設
置して使用する場合には、防塵等の対策が必要になると
いう問題点を有していた。更に、パーソナルコンピュー
タを使用する場合には、パーソナルコンピュータが汎用
機器であるため、操作する作業者に所定の教育が必要と
なり、計測器の測定条件等を設定する目的で使用する者
にとって使い勝手がよくないという問題点を有してい
た。

【０００６】本発明は、従来の技術が有するこのような
問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とすると
ころは、簡易な構成で操作性に優れ、測定作業の工数低
減が図れ、しかも省スペース化に寄与する計測器制御装
置を提供しようとするものである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく本
発明は、計測器の測定条件や測定順序などのデータを入
力するデータ入力手段と、このデータ入力手段が入力し
た前記データを演算処理する制御手段と、この制御手段
が演算処理した前記データを記憶するメモリ手段と、こ
のメモリ手段が記憶する測定条件や測定順序などの前記
データの設定を前記計測器に命令するＧＰ−ＩＢ制御手
段を備えたものである。

【０００８】

【作用】被測定対象としての電子機器の電気的特性を測
定するため、予めデータ入力手段により各種計測器と、
これらの計測器の測定条件が命令データとしてメモリ手
段に登録される。プログラム入力作業においては、被測
定対象としての電子機器が特定され、この電子機器の電
気的特性を測定するために、測定順序を表す各測定ポイ
ント毎に対応する計測器の測定条件が予めメモリ手段に
登録しておいた各種命令データからデータ入力手段によ
り選択され、制御手段を介してメモリ手段に記憶され
る。測定作業においては、特定された電子機器について
各測定ポイント毎に対応する計測器の測定条件が命令デ
ータとして制御手段によりメモリ手段から読み出され、
ＧＰ−ＩＢ制御手段に入力される。すると、ＧＰ−ＩＢ
制御手段から対応する計測器にプログラムした測定条件
を設定するよう命令信号が送られる。更に、測定結果デ
ータがＧＰ−ＩＢ制御手段、制御手段を介してメモリ手
段に記憶される。

【０００９】

【実施例】以下に本発明の実施例を添付図面に基づいて
説明する。ここで、図１は本発明に係る計測器制御装置
のブロック図、図２は同じく作用説明図である。

【００１０】図１に示すように、計測器制御装置１は、
測定順序や発振器２、マルチメータ３，４などの各種計
測器や電源５などの測定条件のデータを入力するキーボ
ード６と、このキーボード６が入力したデータを演算処
理する中央演算処理装置（ＣＰＵ）７と、このＣＰＵ７
が演算処理したデータを記憶するメモリ８と、このメモ
リ８が記憶する測定条件や測定順序などのデータの設定
を各種計測器２，３，４や電源５に命令するＧＰ−ＩＢ
コントローラ９を備えている。なお、各種計測器２，
３，４と電源５にはＧＰ−ＩＢインタフェースが装備さ
れている。また、１０は表示器、１１は入出力インタフ
ェース、１２は外部キーボード、１３は外部コントロー
ルユニット、１４は被測定対象としての電子機器であ
る。

【００１１】キーボード６は、発振器２やマルチメータ
３，４など計測器及びこれらの計測器の測定条件を命令
データとして予め登録する。また、キーボード６は、プ
ログラムに際して電子機器１４の電気的特性を測定する
ために、電子機器１４を特定すると共に、測定順序や測
定順序を表す各測定ポイント毎に対応する発振器２やマ
ルチメータ３，４など計測器の測定条件を予め登録して
ある命令データから選択し、入出力インタフェース１
１、ＣＰＵ７を介してメモリ８に入力し設定する。

【００１２】測定順序とは、生産ラインを流れてくる電
子機器１４の電気的特性の測定順序であり、測定条件と
は、電子機器１４の電気的特性を測定するに際して、例
えば発振器２の場合には発振器２の周波数を１ｋＨｚに
すること、マルチメータ３，４の場合にはマルチメータ
３，４をＤＣ電圧にして４Ｖレンジにすること、電源５
の場合には電子機器１４に印加する電源電圧を１２Ｖに
することなどである。

【００１３】ＣＰＵ７は、命令データ登録時やプログラ
ム入力時などにキーボード６から入力される各種のデー
タをメモリ８に格納したり、測定時にメモリ８に記憶さ
れた測定プログラムに従ってＧＰ−ＩＢコントローラ９
に電子機器１４の電気的特性を測定するための測定条件
の命令データを出力する。

【００１４】ＧＰ−ＩＢコントローラ９は、被測定対象
としての電子機器１４の電気的特性を測定するに際し、
ＣＰＵ７から出力される測定プログラムに従って発振器
２やマルチメータ３，４などの計測器や電源５などに所
定の測定条件に設定するよう命令データを出力する。

【００１５】表示器１０は、キーボード６で入力するデ
ータ等を表示したり、符号化して予め登録してある命令
データや計測器などをキーボード６で選択する際に表示
したり、また計測器制御装置１の作動状態に関するメッ
セージを表示したりする。

【００１６】外部キーボード１２は、計測器制御装置１
のキーボード６で入力出来ない命令を入力する必要があ
る場合に使用するパーソナルコンピュータのキーボード
である。外部コントロールユニット１３は、計測器制御
装置１を外部からコントロールするもので、測定ポイン
トを任意に前進させたり、後退させたり、また任意の測
定ポイントのデータを出力させるものである。

【００１７】以上のように構成した計測器制御装置１の
測定プログラムの入力方法及び測定動作について説明す
る。測定プログラムの入力は、図２に示すように、被測
定対象としての電子機器１４をタイプＴ１（なお、タイ
プはＴ１〜Ｔ６７の６７タイプまで設定出来るものとす
る）を選択して、キーボード６で登録する。

【００１８】次いで、選択したタイプＴ１に対応する測
定ポイントＰ１〜Ｐ４（なお、測定ポイントはＰ１〜Ｐ
１０の１０ポイントまで設定出来るものとする）のう
ち、先ず測定ポイントＰ１を選択する。

【００１９】次いで、測定ポイントＰ１で設定する各種
計測器の測定条件をステップＳ１〜Ｓ４（なお、ステッ
プはＳ１〜Ｓ１０の１０ステップまで設定出来るものと
する）に設定する。先ず、ステップＳ１で計測器として
予め登録してある発振器２をキーボード６で選択し、発
振器２の周波数を１ｋＨｚにするよう設定する。ステッ
プＳ２で計測器として予め登録してあるマルチメータ３
をキーボード６で選択し、マルチメータ３をＤＣ電圧に
するよう設定する。更に、ステップＳ３でマルチメータ
３を４Ｖレンジにするよう設定する。また、ステップＳ
４で予め登録してある電源５をキーボード６で選択し、
電子機器１４に印加する電源電圧を１２Ｖにするよう設
定する。

【００２０】ここで、各種計測器の測定条件は、命令デ
ータとして符号化されて予め登録してあり、例えば発振
器２の周波数を１ｋＨｚにする命令はＨ１、マルチメー
タ３をＤＣ電圧にする命令はＦ０、マルチメータ３を４
Ｖレンジにする命令はＲ３、電源電圧を１２Ｖにする命
令はＶ２である。

【００２１】次に、キーボード６で測定ポイントをＰ１
からＰ２に進め、予め登録してあるマルチメータ４をキ
ーボード６で選択し、測定ポイントＰ１と同様にマルチ
メータ４の測定条件を測定ポイントＰ２のステップＳ１
〜Ｓ６に設定する。先ず、ステップＳ１でクリア命令
（Ｃ）をキーボード６で選択して設定し、ステップＳ２
でマルチメータ４をＤＣ電圧にする命令（Ｆ０）を選択
して設定し、ステップＳ３でマルチメータ４を４Ｖレン
ジにする命令（Ｒ３）を選択して設定する。更に、ステ
ップＳ４でサンプリングレートをＭＩＤ（中位）レベル
にする命令（Ｓ１）を選択して設定し、ステップＳ５で
アベレージを行う命令（ＰＡ１）を選択して設定し、ス
テップＳ６でアベレージ数を２０回にする命令（ＡＡ２
０）を選択して設定する。

【００２２】同様にして、測定ポイントＰ３では、測定
条件をステップＳ１〜Ｓ４に設定する。ステップＳ１で
計測器として予め登録してある発振器２をキーボード６
で選択し、発振器２の周波数を２０ｋＨｚにする命令
（Ｈ５）を選択して設定する。ステップＳ２で計測器と
して予め登録してあるマルチメータ３をキーボード６で
選択し、マルチメータ３をＤＣ電流にする命令（Ｆ２）
を選択して設定する。更に、ステップＳ３でマルチメー
タ３を４０ｍＡレンジにする命令（Ｒ４）を選択して設
定する。また、ステップＳ４で予め登録してある電源５
をキーボード６で選択し、電子機器１４に印加する電源
電圧を６Ｖにする命令（Ｖ１）を選択して設定する。

【００２３】更に、測定ポイントＰ４では、予め登録し
てあるマルチメータ４をキーボード６で選択し、測定ポ
イントＰ２と同様にマルチメータ４の測定条件を測定ポ
イントＰ４のステップＳ１〜Ｓ６に設定する。ステップ
Ｓ１でクリア命令（Ｃ）を選択して設定し、ステップＳ
２でマルチメータ４をＤＣ電圧にする命令（Ｆ０）を選
択して設定し、ステップＳ３でマルチメータ４を４０ｍ
Ｖレンジにする命令（Ｒ１）を選択して設定する。更
に、ステップＳ４でサンプリングレートをＦＡＳＴ（高
速）レベルにする命令（Ｓ２）を選択して設定し、ステ
ップＳ５でアベレージを行う命令（ＰＡ１）を選択して
設定し、ステップＳ６でアベレージ数を１０回にする命
令（ＡＡ１０）を選択して設定する。以上で、電子機器
１４に対する測定プログラム（測定ポイントＰ１〜Ｐ
４）の入力作業が終了する。

【００２４】測定プログラムの入力に際して、被測定対
象としての電子機器を設定するタイプをＴ１〜Ｔ６７の
６７タイプ設定することが出来、各タイプに対して夫々
測定ポイントをＰ１〜Ｐ１０の１０ポイント設定するこ
とが出来、更に各測定ポイントに対して夫々ステップを
Ｓ１〜Ｓ１０の１０ステップ設定することが出来る。

【００２５】タイプＴ１に登録された被測定対象として
の電子機器１４について、測定ポイントＰ１〜Ｐ４の各
ステップにデータが入力されたならば、キーボード６で
計測器制御装置１を測定動作待機状態にする。次いで、
キーボード６の操作で電子機器１４の電気的特性の測定
を開始すると、先ず測定ポイントＰ１が選択され、測定
ポイントＰ１の全ステップＳ１〜Ｓ４の命令データがＧ
Ｐ−ＩＢコントローラ９から発振器２、マルチメータ
３、電源５に出力される。すると、発振器２の周波数が
１ｋＨｚになり、マルチメータ３がＤＣ電圧になり、マ
ルチメータ３が４Ｖレンジになる。また、電源５の電源
電圧が１２Ｖになる。そして、測定データがＧＰ−ＩＢ
コントローラ９、ＣＰＵ７を介してメモリ８に記憶され
る。

【００２６】次いで、測定ポイントＰ１の測定結果が得
られたならば、キーボード６の操作で測定ポイントＰ２
が選択され、測定ポイントＰ２の全ステップＳ１〜Ｓ６
の命令データがＧＰ−ＩＢコントローラ９からマルチメ
ータ４に出力される。

【００２７】すると、マルチメータ４では、先ずステッ
プＳ１のクリア命令（Ｃ）でマルチメータ４のレジスタ
がクリアされ、ステップＳ２のマルチメータ４をＤＣ電
圧にする命令（Ｆ０）でマルチメータ４がＤＣ電圧にな
り、ステップＳ３のマルチメータ４を４Ｖレンジにする
命令（Ｒ３）でマルチメータ４が４Ｖレンジになる。更
に、ステップＳ４のサンプリングレートをＭＩＤ（中
位）レベルにする命令（Ｓ１）でサンプリングレートが
ＭＩＤ（中位）レベルになり、ステップＳ５のアベレー
ジを行う命令（ＰＡ１）とステップＳ６のアベレージ数
を２０回にする命令（ＡＡ２０）で２０回測定し、その
平均値を算出する。この平均値の測定データはＧＰ−Ｉ
Ｂコントローラ９、ＣＰＵ７を介してメモリ８に記憶さ
れる。

【００２８】同様にして、測定ポイントＰ２の測定結果
が得られたならば、キーボード６の操作で測定ポイント
Ｐ３が選択され、測定ポイントＰ３の全ステップＳ１〜
Ｓ４の命令データがＧＰ−ＩＢコントローラ９から発振
器２、マルチメータ３に出力される。すると、発振器２
の周波数が２０ｋＨｚになり、マルチメータ３がＤＣ電
流になり、マルチメータ３が４０ｍＡレンジになる。ま
た、電源５の電源電圧が６Ｖになる。そして、測定デー
タがＧＰ−ＩＢコントローラ９、ＣＰＵ７を介してメモ
リ８に記憶される。

【００２９】次いで、測定ポイントＰ３の測定結果が得
られたならば、キーボード６の操作で測定ポイントＰ４
が選択され、測定ポイントＰ４の全ステップＳ１〜Ｓ６
の命令データがＧＰ−ＩＢコントローラ９からマルチメ
ータ４に出力される。

【００３０】すると、マルチメータ４では、先ずステッ
プＳ１のクリア命令（Ｃ）でマルチメータ４のレジスタ
がクリアされ、ステップＳ２のマルチメータ４をＤＣ電
圧にする命令（Ｆ０）でマルチメータ４がＤＣ電圧にな
り、ステップＳ３のマルチメータ４を４０ｍＶレンジに
する命令（Ｒ１）でマルチメータ４が４０ｍＶレンジに
なる。更に、ステップＳ４のサンプリングレートをＦＡ
ＳＴ（高速）レベルにする命令（Ｓ２）でサンプリング
レートがＦＡＳＴ（高速）レベルになり、ステップＳ５
のアベレージを行う命令（ＰＡ１）とステップＳ６のア
ベレージ数を１０回にする命令（ＡＡ１０）で１０回測
定し、その平均値を算出する。この平均値の測定データ
はＧＰ−ＩＢコントローラ９、ＣＰＵ７を介してメモリ
８に記憶される。

【００３１】このようにして、測定ポイントＰ１から測
定ポイントＰ４について各測定ポイントＰ１，Ｐ２，Ｐ
３，Ｐ４における測定条件で電子機器１４の電気的特性
が得られる。

【００３２】なお、本実施例では測定ポイントをＰ１〜
Ｐ４の４ポイントにしたが、キーボード６の操作で測定
ポイントＰ１〜測定ポイントＰ４の間をループカウンタ
方式によりエンドレスで任意の測定ポイントを選択して
命令データを各種計測器に送出することが出来るし、ま
た所望の測定ポイントを直接指定して命令データを各種
計測器に送出することも出来る。従って、特定の測定ポ
イントについて再測定が容易に可能である。

【００３３】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、簡
易な構成で耐環境性に強く操作性に優れ、電子機器の電
気的特性の測定作業の工数低減が図れ、しかも省スペー
ス化が図れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る計測器制御装置のブロック図

【図２】本発明に係る計測器制御装置の作用説明図

【符号の説明】

１…計測器制御装置、２…発振器、３，４…マルチメー
タ、５…電源、６…キーボード、７…ＣＰＵ、８…メモ
リ、９…ＧＰ−ＩＢコントローラ、１０…表示器、１１
…入出力インタフェース、１２…外部キーボード、１３
…外部コントロールユニット、１４…電子機器。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 計測器の測定条件や測定順序などのデー
   タを入力するデータ入力手段と、このデータ入力手段が
   入力した前記データを演算処理する制御手段と、この制
   御手段が演算処理した前記データを記憶するメモリ手段
   と、このメモリ手段が記憶する測定条件や測定順序など
   の前記データの設定を前記計測器に指令するＧＰ−ＩＢ
   制御手段を備えたことを特徴とする計測器制御装置。