JPH08320213A - 被測定物の外形測定装置 - Google Patents
被測定物の外形測定装置Info
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- JPH08320213A JPH08320213A JP7125497A JP12549795A JPH08320213A JP H08320213 A JPH08320213 A JP H08320213A JP 7125497 A JP7125497 A JP 7125497A JP 12549795 A JP12549795 A JP 12549795A JP H08320213 A JPH08320213 A JP H08320213A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 被測定物の側定面が平面でなく丸みがあった
り、また、鋭角に尖っていても距離が測定でき、かつ、
同時に被測定物の断面形状の寸法も測定できる外形測定
装置を提供することを目的とする。 【構成】 被測定物１にシート光を照射する発光部２
と、この発光部２から照射したシート光によってできる
被測定物１の照射部４を撮影するＣＣＤカメラ装置５
と、このＣＣＤカメラ装置５における受光部での受光位
置を入力すると共に、この受光位置に基づき所定の基準
位置から被測定物の表面までの距離を演算する演算処理
部とから構成したことを特徴とする。
り、また、鋭角に尖っていても距離が測定でき、かつ、
同時に被測定物の断面形状の寸法も測定できる外形測定
装置を提供することを目的とする。 【構成】 被測定物１にシート光を照射する発光部２
と、この発光部２から照射したシート光によってできる
被測定物１の照射部４を撮影するＣＣＤカメラ装置５
と、このＣＣＤカメラ装置５における受光部での受光位
置を入力すると共に、この受光位置に基づき所定の基準
位置から被測定物の表面までの距離を演算する演算処理
部とから構成したことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、測定面が不定形な被測
定物の外形を測定する外形測定装置に関するものであ
る。
定物の外形を測定する外形測定装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、測定面が平面である被測定物の距
離や変位を非接触で測定する方法においては、発光部と
受光部が設置されている測定器内の発光部から被測定物
に向かって光を照射し、この光が反射して受光部に戻っ
てくる伝搬時間を計測する方法や、三角測量方式のよう
に受光部にライン状のセンサを用いて、センサ上に投影
された反射光の位置を計測する方法によって距離が求め
られている。
離や変位を非接触で測定する方法においては、発光部と
受光部が設置されている測定器内の発光部から被測定物
に向かって光を照射し、この光が反射して受光部に戻っ
てくる伝搬時間を計測する方法や、三角測量方式のよう
に受光部にライン状のセンサを用いて、センサ上に投影
された反射光の位置を計測する方法によって距離が求め
られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような測定器を使
用する測定方法では、測定面が平面なため、どこに測定
点を設定しても同一の測定結果が得られる。しかし、圧
延中間材やプラスチック成形途中等の、測定面が平面で
なく丸みがあったり鋭角に尖っている場合等は、測定点
を特定することが困難であるという問題があった。
用する測定方法では、測定面が平面なため、どこに測定
点を設定しても同一の測定結果が得られる。しかし、圧
延中間材やプラスチック成形途中等の、測定面が平面で
なく丸みがあったり鋭角に尖っている場合等は、測定点
を特定することが困難であるという問題があった。
【０００４】さらに、上記測定器を使用する測定方法で
は、被測定物の断面形状の寸法を測定できないという問
題があった。本発明では、被測定物の測定面が平面でな
く丸みがあったり、また、鋭角に尖っていても距離が測
定でき、かつ、同時に被測定物の断面形状の寸法も測定
できる外形測定装置を提供することを目的とする。
は、被測定物の断面形状の寸法を測定できないという問
題があった。本発明では、被測定物の測定面が平面でな
く丸みがあったり、また、鋭角に尖っていても距離が測
定でき、かつ、同時に被測定物の断面形状の寸法も測定
できる外形測定装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の被測定物
の外形測定装置は、被測定物にシート光を照射する発光
部と、この発光部から照射したシート光によってできる
被測定物の照射部を撮影するＣＣＤカメラ装置と、この
ＣＣＤカメラ装置における受光部での受光位置を入力す
ると共に、この受光位置に基づき所定の基準位置から被
測定物の表面までの距離を演算する演算処理部とから構
成したことを特徴とする。
の外形測定装置は、被測定物にシート光を照射する発光
部と、この発光部から照射したシート光によってできる
被測定物の照射部を撮影するＣＣＤカメラ装置と、この
ＣＣＤカメラ装置における受光部での受光位置を入力す
ると共に、この受光位置に基づき所定の基準位置から被
測定物の表面までの距離を演算する演算処理部とから構
成したことを特徴とする。
【０００６】請求項２記載の被測定物の外形測定装置
は、被測定物にシート光を照射する発光部と、この発光
部から照射したシート光によってできる被測定物の照射
部を撮影するＣＣＤカメラ装置とからなる装置本体を二
台設け、これら各装置本体における各ＣＣＤカメラ装置
の受光部での受光位置を入力すると共に、この受光位置
に基づき所定の基準位置から被測定物の各照射部におけ
る表面までの距離を演算し、かつこれら各照射部におけ
る表面までの距離に基づき被測定物の外形寸法を演算す
る演算処理部を具備したことを特徴とする。
は、被測定物にシート光を照射する発光部と、この発光
部から照射したシート光によってできる被測定物の照射
部を撮影するＣＣＤカメラ装置とからなる装置本体を二
台設け、これら各装置本体における各ＣＣＤカメラ装置
の受光部での受光位置を入力すると共に、この受光位置
に基づき所定の基準位置から被測定物の各照射部におけ
る表面までの距離を演算し、かつこれら各照射部におけ
る表面までの距離に基づき被測定物の外形寸法を演算す
る演算処理部を具備したことを特徴とする。
【０００７】請求項３記載の被測定物の外形測定装置
は、ＣＣＤカメラ装置側にシート光と同じ波長の光を透
過させる光学フィルタを設けたことを特徴とする。請求
項４記載の被測定物の外形測定装置は、非照射時に、受
光部にて受光された受光量を記憶すると共に、照射時
に、受光部にて実際に受光された受光量から上記非照射
時における受光量を減じる信号処理回路を具備したこと
を特徴とする。
は、ＣＣＤカメラ装置側にシート光と同じ波長の光を透
過させる光学フィルタを設けたことを特徴とする。請求
項４記載の被測定物の外形測定装置は、非照射時に、受
光部にて受光された受光量を記憶すると共に、照射時
に、受光部にて実際に受光された受光量から上記非照射
時における受光量を減じる信号処理回路を具備したこと
を特徴とする。
【０００８】
【作用】上記請求項１記載の外形測定装置の構成による
と、被測定物にシート光を照射すると共に、このシート
光による照射部をＣＣＤカメラ装置で撮影し、このＣＣ
Ｄカメラ装置の受光部での受光位置に基づき被測定物の
外形を測定するようにしたので、測定面が平面でない場
合でも、確実に測定することができ、しかも照射部が線
状になっているため、被測定物の外形も測定することが
できる。
と、被測定物にシート光を照射すると共に、このシート
光による照射部をＣＣＤカメラ装置で撮影し、このＣＣ
Ｄカメラ装置の受光部での受光位置に基づき被測定物の
外形を測定するようにしたので、測定面が平面でない場
合でも、確実に測定することができ、しかも照射部が線
状になっているため、被測定物の外形も測定することが
できる。
【０００９】また、上記請求項２記載の外形測定装置の
構成によると、請求項１における構成の内、少なくとも
発光部とＣＣＤカメラ装置については二台設けたので、
これらの機器を被測定物の両側に配置して、両側部にお
ける被測定物の表面までの距離を測定することにより、
被測定物の外形寸法をも測定することができる。
構成によると、請求項１における構成の内、少なくとも
発光部とＣＣＤカメラ装置については二台設けたので、
これらの機器を被測定物の両側に配置して、両側部にお
ける被測定物の表面までの距離を測定することにより、
被測定物の外形寸法をも測定することができる。
【００１０】また、上記請求項３記載の外形測定装置の
構成によると、請求項１または２の構成において、ＣＣ
Ｄカメラ装置側に、発光部から照射されるシート光と同
じ波長の光だけを透過させる光学フィルタを設けたの
で、測定時に、被測定物からの自発光または外乱光によ
る悪影響を防止することができる。
構成によると、請求項１または２の構成において、ＣＣ
Ｄカメラ装置側に、発光部から照射されるシート光と同
じ波長の光だけを透過させる光学フィルタを設けたの
で、測定時に、被測定物からの自発光または外乱光によ
る悪影響を防止することができる。
【００１１】さらに、上記請求項４記載の外形測定装置
の構成によると、請求項１または２の構成において、非
照射時に、受光部にて受光された受光量を記憶すると共
に、照射時に、受光部にて実際に受光された受光量から
上記非照射時における受光量を減じる信号処理回路を具
備したので、測定環境下における明るさなどに基づくノ
イズの悪影響を除去することができる。
の構成によると、請求項１または２の構成において、非
照射時に、受光部にて受光された受光量を記憶すると共
に、照射時に、受光部にて実際に受光された受光量から
上記非照射時における受光量を減じる信号処理回路を具
備したので、測定環境下における明るさなどに基づくノ
イズの悪影響を除去することができる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１〜図６に基づ
いて説明する。図１は、外形測定装置により被測定物ま
での距離の測定状態を示す斜視図であり、図２は、その
実施に使用する装置のブロック図である。また、図３
は、被測定物までの距離を測定する原理を説明する図で
あり、図４は測定時におけるＣＣＤカメラ装置の画面を
示す説明図である。
いて説明する。図１は、外形測定装置により被測定物ま
での距離の測定状態を示す斜視図であり、図２は、その
実施に使用する装置のブロック図である。また、図３
は、被測定物までの距離を測定する原理を説明する図で
あり、図４は測定時におけるＣＣＤカメラ装置の画面を
示す説明図である。
【００１３】第１の実施例を図１〜図４に基づいて説明
する。図１、図２に示すように、この外形測定装置は、
駆動制御部７の指令により被測定物１に対して、シート
状のレーザ光線を照射する発光部２と、このレーザ光線
が被測定物１に対して照射された線状の照射部４を、撮
影する２次元センサーのＣＣＤカメラ装置５と、このＣ
ＣＤカメラ装置５内に設けられた受光部１０と、撮影さ
れた照射部４の断面形状を演算する演算処理部６と、そ
の演算された値を表示する表示部８とから構成されてい
る。また、上記ＣＣＤカメラ装置５の受光部１０には、
発光部２から照射されるレーザ光線と同じ波長の光だけ
を透過させる光学式のバンドパスフィルタ（図示せず）
が設けられている。さらに、上記受光部１０と演算処理
部６との間には、照射部４を撮影した際の受光量に所定
の信号処理を施す信号処理回路が設けられている。具体
的には、非照射時に、受光部１０にて受光された受光量
を記憶しておき、そして照射時に、受光部１０にて実際
に受光された受光量から上記非照射時における受光量が
減じられる。この減じられた受光信号に基づく受光位置
が演算処理部６に入力される。なお、この処理は、発光
部２からのレーザ光線がパルス状に発射されることによ
り行われる。このような信号処理を施すことにより、外
的要因によるノイズの除去、すなわちＳ／Ｎ比を向上さ
せることができる。
する。図１、図２に示すように、この外形測定装置は、
駆動制御部７の指令により被測定物１に対して、シート
状のレーザ光線を照射する発光部２と、このレーザ光線
が被測定物１に対して照射された線状の照射部４を、撮
影する２次元センサーのＣＣＤカメラ装置５と、このＣ
ＣＤカメラ装置５内に設けられた受光部１０と、撮影さ
れた照射部４の断面形状を演算する演算処理部６と、そ
の演算された値を表示する表示部８とから構成されてい
る。また、上記ＣＣＤカメラ装置５の受光部１０には、
発光部２から照射されるレーザ光線と同じ波長の光だけ
を透過させる光学式のバンドパスフィルタ（図示せず）
が設けられている。さらに、上記受光部１０と演算処理
部６との間には、照射部４を撮影した際の受光量に所定
の信号処理を施す信号処理回路が設けられている。具体
的には、非照射時に、受光部１０にて受光された受光量
を記憶しておき、そして照射時に、受光部１０にて実際
に受光された受光量から上記非照射時における受光量が
減じられる。この減じられた受光信号に基づく受光位置
が演算処理部６に入力される。なお、この処理は、発光
部２からのレーザ光線がパルス状に発射されることによ
り行われる。このような信号処理を施すことにより、外
的要因によるノイズの除去、すなわちＳ／Ｎ比を向上さ
せることができる。
【００１４】上記構成において、本実施例における被測
定物の外形の測定方法は、駆動制御部７の指令により、
発光部２からシート状のレーザ光線を被測定物１に対し
て照射し、その照射部４の位置を、２次元ＣＣＤカメラ
装置５にて撮影し、このＣＣＤカメラ装置５の受光部１
０における被測定物（照射部）からの反射光の受光位置
を、ほぼ連続的（実際にはＣＣＤの受光素子ごと）に検
出し、この検出信号を演算処理部６に入力して、そし
て、この演算処理部６内で、所定の基準位置から被測定
物１の照射部４である表面までの距離を求めることによ
り、測定する方法である。
定物の外形の測定方法は、駆動制御部７の指令により、
発光部２からシート状のレーザ光線を被測定物１に対し
て照射し、その照射部４の位置を、２次元ＣＣＤカメラ
装置５にて撮影し、このＣＣＤカメラ装置５の受光部１
０における被測定物（照射部）からの反射光の受光位置
を、ほぼ連続的（実際にはＣＣＤの受光素子ごと）に検
出し、この検出信号を演算処理部６に入力して、そし
て、この演算処理部６内で、所定の基準位置から被測定
物１の照射部４である表面までの距離を求めることによ
り、測定する方法である。
【００１５】ここで、図３に基づき、被測定物のある位
置（以下、特定位置という）における所定の基準位置か
ら、被測定物表面までの距離を求める原理について説明
する。
置（以下、特定位置という）における所定の基準位置か
ら、被測定物表面までの距離を求める原理について説明
する。
【００１６】まず、発光部２から照射されるレーザ光線
の軸心１１と、受光部１０側に設けられたレンズ（正確
には、ＣＣＤカメラ装置５側に設けられている）９の光
軸１２とのなす角度がαとなるように、発光部２と受光
部１０とが装置本体３に配置されているものとする。
の軸心１１と、受光部１０側に設けられたレンズ（正確
には、ＣＣＤカメラ装置５側に設けられている）９の光
軸１２とのなす角度がαとなるように、発光部２と受光
部１０とが装置本体３に配置されているものとする。
【００１７】次に、レンズ９の光軸１２とレーザ光線の
軸心１１との交点（この点が基準位置となる）をａとす
ると、この交点ａから被測定物１までの距離Δｄと受光
部１０における光軸１２から受光位置までの距離Δｘと
は、一定の幾何学的関係を有しており、したがって受光
位置までの距離Δｘを検出することにより、交点ａすな
わち基準位置からの被測定物１の特定位置における表面
までの距離を求めることができる。
軸心１１との交点（この点が基準位置となる）をａとす
ると、この交点ａから被測定物１までの距離Δｄと受光
部１０における光軸１２から受光位置までの距離Δｘと
は、一定の幾何学的関係を有しており、したがって受光
位置までの距離Δｘを検出することにより、交点ａすな
わち基準位置からの被測定物１の特定位置における表面
までの距離を求めることができる。
【００１８】以下に、この距離Δｄを求めるための演算
式を示す。
式を示す。
【００１９】
【数１】
【００２０】なお、式中、ｆは、レンズの中心点から
発光部までの距離 Ｓは、レンズの中心点から基準位置ａまでの距離 Ｂは、光軸中心上のレンズからレーザ光線の軸心までの
最短距離 Ｌは、レーザ光線の軸心とレンズの中心点からレーザ光
線の軸心に対して垂直に下ろした点を交点とし、この交
点ｂから基準位置ａまでの距離 このように、被測定物１の照射部４における基準位置か
ら特定位置までの距離を上記式により求めることがで
きるため、図４に示すように、これら被測定物１の測定
幅方向（本実施例では高さ方向）にわたって複数箇所に
おける基準位置からの距離を求めれば、被測定物１の表
面形状、すなわち外形を知ることができる。
発光部までの距離 Ｓは、レンズの中心点から基準位置ａまでの距離 Ｂは、光軸中心上のレンズからレーザ光線の軸心までの
最短距離 Ｌは、レーザ光線の軸心とレンズの中心点からレーザ光
線の軸心に対して垂直に下ろした点を交点とし、この交
点ｂから基準位置ａまでの距離 このように、被測定物１の照射部４における基準位置か
ら特定位置までの距離を上記式により求めることがで
きるため、図４に示すように、これら被測定物１の測定
幅方向（本実施例では高さ方向）にわたって複数箇所に
おける基準位置からの距離を求めれば、被測定物１の表
面形状、すなわち外形を知ることができる。
【００２１】また、受光部１０に、発光部２から照射さ
れるレーザ光線と同じ波長の光だけを透過させる光学式
のバンドパスフィルタを設置したため、被測定物１から
の自発光や外乱光を低減することができる。
れるレーザ光線と同じ波長の光だけを透過させる光学式
のバンドパスフィルタを設置したため、被測定物１から
の自発光や外乱光を低減することができる。
【００２２】さらにまた、受光部１０と演算処理部６と
の間には、照射部４を撮影した際の受光量に所定の信号
処理を施す信号処理回路を設けたため、外的要因による
ノイズの除去、すなわちＳ／Ｎ比を向上させることがで
きる。
の間には、照射部４を撮影した際の受光量に所定の信号
処理を施す信号処理回路を設けたため、外的要因による
ノイズの除去、すなわちＳ／Ｎ比を向上させることがで
きる。
【００２３】ところで、上記外形測定装置において、測
定する前に、ある基準点について、あらかじめ距離補正
することによりその距離の測定精度を上げることができ
る。次に、第２の実施例を図５、図６に基づいて説明す
る。
定する前に、ある基準点について、あらかじめ距離補正
することによりその距離の測定精度を上げることができ
る。次に、第２の実施例を図５、図６に基づいて説明す
る。
【００２４】上記第１の実施例では、発光部２と受光部
１０およびレンズ９を備えた装置本体３で被測定物１の
外形形状を測定したが、第２の実施例では、同様の装置
本体３を二台使用して被測定物１の外形寸法を測定する
ものである。
１０およびレンズ９を備えた装置本体３で被測定物１の
外形形状を測定したが、第２の実施例では、同様の装置
本体３を二台使用して被測定物１の外形寸法を測定する
ものである。
【００２５】図５は、被測定物の外形寸法を測定する説
明図であり、図６は、その実施に使用する装置のブロッ
ク図である。図５、図６には、上記第１の実施例と同様
の発光部２と受光部１０およびレンズ９を有するＣＣＤ
カメラ装置５を備えた二台の装置本体３が被測定物１を
挟み込んで設置されている。この二台の装置本体３に
は、演算処理部６と駆動制御部７が接続されており、こ
の駆動制御部７は、各発光部２に対して、シート状のレ
ーザ光線を発射するよう指令する。さらに、この外形測
定装置には、ＣＣＤカメラ装置５により撮影された照射
部４の断面形状を演算する演算処理部６と、その演算さ
れた値を表示する表示部８から構成されている。
明図であり、図６は、その実施に使用する装置のブロッ
ク図である。図５、図６には、上記第１の実施例と同様
の発光部２と受光部１０およびレンズ９を有するＣＣＤ
カメラ装置５を備えた二台の装置本体３が被測定物１を
挟み込んで設置されている。この二台の装置本体３に
は、演算処理部６と駆動制御部７が接続されており、こ
の駆動制御部７は、各発光部２に対して、シート状のレ
ーザ光線を発射するよう指令する。さらに、この外形測
定装置には、ＣＣＤカメラ装置５により撮影された照射
部４の断面形状を演算する演算処理部６と、その演算さ
れた値を表示する表示部８から構成されている。
【００２６】上記構成において、第２の実施例における
被測定物１の外形寸法の測定方法は、上記第１の実施例
の所定の基準位置から被測定物１の表面までの距離を求
める方法と同様である。すなわち、駆動制御部７の指令
より、それぞれの外形計測装置の各発光部２から、シー
ト状のレーザ光線を被測定物１の両側部に照射し、その
両側照射部４の位置を、各ＣＣＤカメラ装置５にて撮影
し、そして各ＣＣＤカメラ装置５の受光部１０における
被測定物（照射部）からの反射光の受光位置を、ほぼ連
続的（実際にはＣＣＤの受光素子ごと）に検出し、この
検出信号を演算処理部６に入力する。そして、この演算
処理部６内で、所定の基準位置から被測定物１の各照射
部４である表面までの距離Ｘ1、Ｘ2をそれぞれ求め、そ
して、下記の演算式に基づき被測定物１の外形寸法Ｂ
L が求められる。
被測定物１の外形寸法の測定方法は、上記第１の実施例
の所定の基準位置から被測定物１の表面までの距離を求
める方法と同様である。すなわち、駆動制御部７の指令
より、それぞれの外形計測装置の各発光部２から、シー
ト状のレーザ光線を被測定物１の両側部に照射し、その
両側照射部４の位置を、各ＣＣＤカメラ装置５にて撮影
し、そして各ＣＣＤカメラ装置５の受光部１０における
被測定物（照射部）からの反射光の受光位置を、ほぼ連
続的（実際にはＣＣＤの受光素子ごと）に検出し、この
検出信号を演算処理部６に入力する。そして、この演算
処理部６内で、所定の基準位置から被測定物１の各照射
部４である表面までの距離Ｘ1、Ｘ2をそれぞれ求め、そ
して、下記の演算式に基づき被測定物１の外形寸法Ｂ
L が求められる。
【００２７】
【数２】ＢL ＝ＡL−（Ｘ1＋Ｘ2） ……… ただし、上記ＡLは、一方の装置本体３内の、レーザ光
線の軸心とレンズの中心点からレーザ光線の軸心に対し
て垂直に降ろした点である交点ｂから被測定物１を挟ん
で他方の装置本体３内の交点ｂまでの距離である。
線の軸心とレンズの中心点からレーザ光線の軸心に対し
て垂直に降ろした点である交点ｂから被測定物１を挟ん
で他方の装置本体３内の交点ｂまでの距離である。
【００２８】このように、二台の第１の実施例と同様の
装置本体３を被測定物１を挟み込むようにして設置し、
被測定物１の両側の照射部４における特定位置から基準
位置までの距離Ｘ1、Ｘ2を求め、さらに、一方の装置本
体３におけるレーザ光線の軸心とレンズの中心点からレ
ーザ光線の軸心に対して垂直に降ろした点である交点ｂ
から、被測定物１を挟んで他方の装置本体３における交
点ｂまでの距離ＡLを求め、この距離ＡLから前記距離Ｘ
1、Ｘ2 を減算することにより、被測定物の外形寸法を
測定することができる。
装置本体３を被測定物１を挟み込むようにして設置し、
被測定物１の両側の照射部４における特定位置から基準
位置までの距離Ｘ1、Ｘ2を求め、さらに、一方の装置本
体３におけるレーザ光線の軸心とレンズの中心点からレ
ーザ光線の軸心に対して垂直に降ろした点である交点ｂ
から、被測定物１を挟んで他方の装置本体３における交
点ｂまでの距離ＡLを求め、この距離ＡLから前記距離Ｘ
1、Ｘ2 を減算することにより、被測定物の外形寸法を
測定することができる。
【００２９】ところで、上記第２の実施例においては、
レーザ光線の発光部と、ＣＣＤカメラ装置とを設けた装
置本体を二台設けると共に、各受光部からの受光位置を
入力して所定の演算を行う演算処理部を１個設けるよう
に説明したが、例えば装置本体側にもそれぞれ演算処理
部を配置して、各側部における被測定物の表面までの距
離を演算し、そして別の演算処理部（または一方の装置
本体側の演算処理部）にて、これら両側部表面までの距
離から被測定物の外形寸法を求めるようにしてもよい。
レーザ光線の発光部と、ＣＣＤカメラ装置とを設けた装
置本体を二台設けると共に、各受光部からの受光位置を
入力して所定の演算を行う演算処理部を１個設けるよう
に説明したが、例えば装置本体側にもそれぞれ演算処理
部を配置して、各側部における被測定物の表面までの距
離を演算し、そして別の演算処理部（または一方の装置
本体側の演算処理部）にて、これら両側部表面までの距
離から被測定物の外形寸法を求めるようにしてもよい。
【００３０】また、上記第１の実施例および第２の実施
例では、被測定物の所定の特定位置までの水平方向の距
離を求めることにより、被測定物の外形寸法を測定して
いたが、例えば、被測定物に「十」などの目印を付けて
おき、第１または第２の実施例で示した上記外形測定装
置にて、目印までの水平方向の距離および目印の高さ方
向の位置を測定することによって、被測定物の外形を３
次元測定することができる。勿論、この場合も距離補正
をすることにより測定精度を上げることができる。
例では、被測定物の所定の特定位置までの水平方向の距
離を求めることにより、被測定物の外形寸法を測定して
いたが、例えば、被測定物に「十」などの目印を付けて
おき、第１または第２の実施例で示した上記外形測定装
置にて、目印までの水平方向の距離および目印の高さ方
向の位置を測定することによって、被測定物の外形を３
次元測定することができる。勿論、この場合も距離補正
をすることにより測定精度を上げることができる。
【００３１】
【発明の効果】上記請求項１記載の外形測定装置の構成
によると、被測定物にシート光を照射すると共に、この
シート光による照射部をＣＣＤカメラ装置で撮影し、こ
のＣＣＤカメラ装置の受光部での受光位置に基づき被測
定物の外形を測定するようにしたので、従来のように、
被測定物の一点に光を当てて、その反射時間から被測定
物までの距離を求める場合に比べて、測定面が平面でな
い場合でも、確実に測定することができ、また照射部が
線状になっているため、被測定物の外形も測定すること
ができる。
によると、被測定物にシート光を照射すると共に、この
シート光による照射部をＣＣＤカメラ装置で撮影し、こ
のＣＣＤカメラ装置の受光部での受光位置に基づき被測
定物の外形を測定するようにしたので、従来のように、
被測定物の一点に光を当てて、その反射時間から被測定
物までの距離を求める場合に比べて、測定面が平面でな
い場合でも、確実に測定することができ、また照射部が
線状になっているため、被測定物の外形も測定すること
ができる。
【００３２】また、上記請求項２記載の外形測定装置の
構成によると、請求項１における構成の内、少なくとも
発光部とＣＣＤカメラ装置については二台設けたので、
これらの機器を被測定物の両側に配置して、両側部にお
ける被測定物の表面までの距離を測定することにより、
被測定物の外形寸法をも測定することができる。
構成によると、請求項１における構成の内、少なくとも
発光部とＣＣＤカメラ装置については二台設けたので、
これらの機器を被測定物の両側に配置して、両側部にお
ける被測定物の表面までの距離を測定することにより、
被測定物の外形寸法をも測定することができる。
【００３３】また、上記請求項３記載の外形測定装置の
構成によると、請求項１または２の構成において、ＣＣ
Ｄカメラ装置側に、発光部から照射されるシート光と同
じ波長の光だけを透過させるフ光学フィルタを設けたの
で、測定時に、被測定物からの自発光または外乱光によ
る悪影響を防止することができる。
構成によると、請求項１または２の構成において、ＣＣ
Ｄカメラ装置側に、発光部から照射されるシート光と同
じ波長の光だけを透過させるフ光学フィルタを設けたの
で、測定時に、被測定物からの自発光または外乱光によ
る悪影響を防止することができる。
【００３４】さらに、上記請求項４記載の外形測定装置
の構成によると、請求項１または２の構成において、非
照射時に、受光部にて受光された受光量を記憶すると共
に、照射時に、受光部にて実際に受光された受光量から
上記非照射時における受光量を減じる信号処理回路を具
備したので、測定環境下における明るさなどに基づくノ
イズの悪影響を除去することができる。すなわち、Ｓ／
Ｎ比を向上させることができる。
の構成によると、請求項１または２の構成において、非
照射時に、受光部にて受光された受光量を記憶すると共
に、照射時に、受光部にて実際に受光された受光量から
上記非照射時における受光量を減じる信号処理回路を具
備したので、測定環境下における明るさなどに基づくノ
イズの悪影響を除去することができる。すなわち、Ｓ／
Ｎ比を向上させることができる。
【図１】本発明の第１の実施例の被測定物の外形計測装
置の斜視図である。
置の斜視図である。
【図２】同第１の実施例の被測定物の外形計測装置の構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図３】同第１の実施例の被測定物までの距離を測定す
る原理を説明する図である。
る原理を説明する図である。
【図４】同第１の実施例の測定時におけるＣＣＤカメラ
装置の画面を示す図である。
装置の画面を示す図である。
【図５】本発明の第２の実施例の被測定物の外形寸法を
測定する説明図である。
測定する説明図である。
【図６】同第２の実施例の被測定物の外形計測装置の構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
１ 被測定物 ２ 発光部 ３ 装置本体 ４ 照射部 ５ ＣＣＤカメラ装置 １０ 受光部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 遠藤 英樹 大阪府大阪市此花区西九条５丁目３番28号 日立造船株式会社内 (72)発明者 前田 誠一 大阪府大阪市此花区西九条５丁目３番28号 日立造船株式会社内 (72)発明者 吉田 晴彦 大阪府大阪市此花区西九条５丁目３番28号 日立造船株式会社内 (72)発明者 山本 吾朗 大阪府大阪市此花区西九条５丁目３番28号 日立造船株式会社内 (72)発明者 田中 健一 大阪府大阪市此花区西九条５丁目３番28号 日立造船株式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】被測定物にシート光を照射する発光部と、
この発光部から照射したシート光によってできる被測定
物の照射部を撮影するＣＣＤカメラ装置と、このＣＣＤ
カメラ装置における受光部での受光位置を入力すると共
に、この受光位置に基づき所定の基準位置から被測定物
の表面までの距離を演算する演算処理部とから構成した
ことを特徴とする被測定物の外形測定装置。 - 【請求項２】被測定物にシート光を照射する発光部と、
この発光部から照射したシート光によってできる被測定
物の照射部を撮影するＣＣＤカメラ装置とからなる装置
本体を二台設け、これら各装置本体における各ＣＣＤカ
メラ装置の受光部での受光位置を入力すると共に、この
受光位置に基づき所定の基準位置から被測定物の各照射
部における表面までの距離を演算し、かつこれら各照射
部における表面までの距離に基づき被測定物の外形寸法
を演算する演算処理部を具備したことを特徴とする被測
定物の外形測定装置。 - 【請求項３】ＣＣＤカメラ装置側にシート光と同じ波長
の光を透過させる光学フィルタを設けたことを特徴とす
る請求項１または２記載の被測定物の外形測定装置。 - 【請求項４】非照射時に、受光部にて受光された受光量
を記憶すると共に、照射時に、受光部にて実際に受光さ
れた受光量から上記非照射時における受光量を減じる信
号処理回路を具備したことを特徴とする請求項１または
２記載の被測定物の外形測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7125497A JPH08320213A (ja) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | 被測定物の外形測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7125497A JPH08320213A (ja) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | 被測定物の外形測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08320213A true JPH08320213A (ja) | 1996-12-03 |
Family
ID=14911575
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7125497A Pending JPH08320213A (ja) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | 被測定物の外形測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08320213A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10650756B2 (en) | 2006-06-21 | 2020-05-12 | Saturn Licensing Llc | Surface light source device and liquid crystal display unit |
-
1995
- 1995-05-25 JP JP7125497A patent/JPH08320213A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10650756B2 (en) | 2006-06-21 | 2020-05-12 | Saturn Licensing Llc | Surface light source device and liquid crystal display unit |
| US10923050B2 (en) | 2006-06-21 | 2021-02-16 | Saturn Licensing Llc | Surface light source device and liquid crystal display unit |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040217 |
|
| A762 | Written abandonment of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762 Effective date: 20060620 |