JPH08313441A - Inductively coupled plasma atomic emission spectrometer - Google Patents

Inductively coupled plasma atomic emission spectrometer

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JPH08313441A
JPH08313441A JP11811995A JP11811995A JPH08313441A JP H08313441 A JPH08313441 A JP H08313441A JP 11811995 A JP11811995 A JP 11811995A JP 11811995 A JP11811995 A JP 11811995A JP H08313441 A JPH08313441 A JP H08313441A
Authority
JP
Japan
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nebulizer
inductively coupled
high frequency
coupled plasma
sample solution
Prior art date
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Pending
Application number
JP11811995A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeru Matsui
松井  繁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE: To provide an inductively coupled plasma atomic emission spectrometer which enables a measuring person to perceive a drop in or stopping of the amount of a sample and a carrier gas introduced as caused by the generation of clogging by monitoring the condition of the clogging of a nebulizer and a plasma torch. CONSTITUTION: A sample solution 2 nebulized by a nebulizer 1 is introduced to a plasma torch 8 via a spray chamber 7. A gas flow rate sensor 6 is mounted on a carrier gas passage 22 between a gas control section 11 and the nebulizer 1 and a flow rate signal from the gas flow rate sensor 6 is fetched into a data processing section 19 to be collated with a reference value stored previously. When the intensity of the flow rate signal becomes smaller than the reference value in case of the clogging of the nebulizer 1 or an injector pipe 23, an indication to the effect, the occurrence of the clogging, is shown on a warning display section 21. In addition, outputs of the gas control section 11 and a high frequency power source 15 are stopped to extinguish a plasma automatically.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は高周波誘導結合プラズマ
発光分析装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の高周波誘導結合プラズマ発光分析
装置では、試料溶液を測定する場合、試料溶液を霧化し
てプラズマ中に導入するため一般にはニューマティック
形ネブライザが用いられる。
2. Description of the Related Art In a conventional high frequency inductively coupled plasma emission spectrometer, a pneumatic nebulizer is generally used for atomizing a sample solution and introducing it into plasma when measuring the sample solution.

【0003】ネブライザによる霧化の方式には種々のも
のがあるが、一例として、図3に示す方式について説明
する。
There are various nebulizer atomization methods, and the method shown in FIG. 3 will be described as an example.

【0004】図3は従来の高周波誘導結合プラズマ発光
分析装置におけるコンセントリック形ネブライザとスプ
レーチャンバを結合した構造の断面図である。
FIG. 3 is a sectional view of a structure in which a concentric nebulizer and a spray chamber are combined in a conventional high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer.

【0005】図3で、1はコンセントリク形ネブライ
ザ、2は試料溶液、3はドレイン、4はキャリアガス用
キャピラリ、5は試料溶液導入用キャピラリ、7はスプ
レーチャンバ、12はキャリアガスである。
In FIG. 3, 1 is a concentric nebulizer, 2 is a sample solution, 3 is a drain, 4 is a carrier gas capillary, 5 is a sample solution introducing capillary, 7 is a spray chamber, and 12 is a carrier gas.

【0006】ネブライザ1では、試料溶液導入用キャピ
ラリ5を介して供給される試料溶液2を、霧吹きの原理
を応用し、通常アルゴンガスを用いたキャリアガス12
によって吸引・霧化し、スプレーチャンバ7内に噴霧す
る。
In the nebulizer 1, the sample solution 2 supplied through the sample solution introducing capillary 5 is applied with the principle of atomization, and a carrier gas 12 which normally uses argon gas is used.
It is sucked and atomized by and sprayed in the spray chamber 7.

【0007】噴霧された試料溶液2はプラズマトーチへ
送入され、励起,発光し分光分析されるように構成され
ている。
The sprayed sample solution 2 is introduced into a plasma torch, excited, emits light, and is subjected to spectroscopic analysis.

【0008】スプレーチャンバ7からプラズマトーチに
送入される霧状の試料溶液2は、ネブライザ1からスプ
レーチャンバ7に導入される試料溶液の内、わずかであ
り、大部分はドレイン3として排出される。このとき、
スプレーチャンバ7はドレイン3により密封される構造
となっている。
The atomized sample solution 2 fed into the plasma torch from the spray chamber 7 is a small amount of the sample solution introduced into the spray chamber 7 from the nebulizer 1, and most of it is discharged as the drain 3. . At this time,
The spray chamber 7 has a structure sealed by the drain 3.

【0009】ネブライザ1から霧化された試料溶液2が
噴霧される先端開口部の径は小さく、粘性の高い試料溶
液や固形分を析出しやすい試料溶液では、詰まりを生じ
やすく、測定誤差を生じる要因となる。
The tip opening from which the atomized sample solution 2 is sprayed from the nebulizer 1 has a small diameter, and a sample solution having a high viscosity or a sample solution in which a solid content is likely to be deposited easily causes clogging and causes a measurement error. It becomes a factor.

【0010】一方、プラズマトーチは一般に3重管構造
になっている。図4は、従来の高周波誘導結合プラズマ
発光分析装置におけるプラズマトーチの断面図である。
最も外側をプラズマガス13,中間を補助ガス14,最
も内側を霧状または気体状の試料を含んだキャリアガス
12が流れるよう構成されている。最も内側のキャリア
ガスを流すインジェクタ管23は一般に先端開口部の径
が1mm以下であり、ネブライザ1と同様に、粘性の高い
試料溶液や固形分を析出しやすい試料溶液では、詰まり
を生じやすく、測定誤差を生じる要因となる。
On the other hand, the plasma torch generally has a triple tube structure. FIG. 4 is a sectional view of a plasma torch in a conventional high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer.
A plasma gas 13 flows in the outermost side, an auxiliary gas 14 in the middle, and a carrier gas 12 containing a mist-like or gaseous sample flows in the innermost side. The injector tube 23 for flowing the innermost carrier gas generally has a diameter of the tip opening of 1 mm or less, and like the nebulizer 1, a sample solution having a high viscosity or a sample solution in which a solid content is likely to be precipitated easily causes clogging, This will cause a measurement error.

【0011】従来、スプレーチャンバ内圧力の変動につ
いては、スプレーチャンバ内の圧力を検知する手段と、
検知されたチャンバ内の圧力を一定となる制御手段とを
設ける技術が提案されている。
Conventionally, for fluctuations in the pressure in the spray chamber, means for detecting the pressure in the spray chamber,
There has been proposed a technique of providing a control means for making the detected pressure in the chamber constant.

【0012】これに関するものには、特開平1−250045
号公報に記載の技術がある。
Regarding this, Japanese Patent Laid-Open No. 1-250045
There is a technique described in Japanese Patent Publication.

【0013】しかし、これはスプレーチャンバ内のドレ
イン水頭の変動によるチャンバ内の圧力変動を検知する
ものであり、プラズマトーチのインジェクタ管が詰まっ
た場合には検知することは可能であるが、ネブライザ先
端開口部が詰まった場合にはスプレーチャンバ内の圧力
はほとんど変化しないため、検知することができない。
However, this is for detecting the pressure fluctuation in the chamber due to the fluctuation of the drain head in the spray chamber, and it is possible to detect when the injector tube of the plasma torch is clogged, but it is possible to detect it. When the opening is clogged, the pressure in the spray chamber changes little and cannot be detected.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】従来の高周波誘導結合
プラズマ発光分析装置に用いられるネブライザおよびプ
ラズマトーチのインジェクタ管では、先端開口部の径が
小さいため、粘性の高い試料溶液や固形分を析出しやす
い試料溶液では、詰まりを生じやすい。ネブライザまた
はインジェクタ管の先端開口部に詰まりが生じると、プ
ラズマ中への試料溶液の導入が行われなくなるか、導入
量が低下する可能性がある。そのため、測定者が詰まり
に気付かずに測定を継続した場合、対象元素の発光強度
が変化し、測定誤差を生じる危険性がある。
In the injector tube of the nebulizer and the plasma torch used in the conventional high frequency inductively coupled plasma optical emission analyzer, since the diameter of the tip opening is small, a highly viscous sample solution or solid content is deposited. If the sample solution is easy, clogging is likely to occur. If the tip opening of the nebulizer or the injector tube is clogged, the sample solution may not be introduced into the plasma or the introduction amount may decrease. Therefore, if the measurer continues the measurement without noticing the clogging, the emission intensity of the target element may change, which may cause a measurement error.

【0015】また、詰まりに伴ってキャリアガスのプラ
ズマへの供給が停止することにより、プラズマ炎が下方
へ下がって、プラズマトーチを溶損する危険性がある。
Further, when the supply of the carrier gas to the plasma is stopped due to the clogging, there is a risk that the plasma flame may be lowered to melt the plasma torch.

【0016】本発明の目的は、測定者が、ネブライザお
よびインジェクタ管に詰まりがなく、試料溶液およびキ
ャリアガスが正常に高周波誘導結合プラズマに導かれて
いることを容易に確認できるようにすることにより、測
定誤差のない高周波誘導結合プラズマ発光分析装置を提
供することにある。
An object of the present invention is to enable a measurer to easily confirm that the nebulizer and the injector tube are not clogged and the sample solution and the carrier gas are normally guided to the high frequency inductively coupled plasma. The object is to provide a high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer which does not have a measurement error.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】目的を達成するために、
本発明の高周波誘導結合プラズマ発光分析装置の構成
は、ネブライザによって霧化した試料溶液を、キャリア
ガスによって高周波誘導結合プラズマ中に送り込み、試
料中に含有される元素の発光分析を行う高周波誘導結合
プラズマ発光分析装置で、試料によってネブライザまた
はプラズマトーチ管が詰まっているか否かを監視する手
段を設けたものである。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the purpose,
The configuration of the high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer according to the present invention is a high frequency inductively coupled plasma in which a sample solution atomized by a nebulizer is fed into a high frequency inductively coupled plasma by a carrier gas to perform an emission analysis of elements contained in the sample. The optical emission analyzer is provided with means for monitoring whether the nebulizer or the plasma torch tube is clogged with the sample.

【0018】試料によってネブライザまたはプラズマト
ーチ管が詰まっているか否かを監視する手段は、試料を
高周波誘導結合プラズマへ送り込むキャリアガスの流量
変化を検出するように構成したものである。
The means for monitoring whether or not the nebulizer or the plasma torch tube is clogged with the sample is configured to detect a change in the flow rate of the carrier gas that sends the sample to the high frequency inductively coupled plasma.

【0019】試料によってネブライザまたはプラズマト
ーチ管が詰まっているか否かを監視する手段は、試料を
高周波誘導結合プラズマへ送り込むキャリアガスの圧力
変化を検出するように構成したものである。
The means for monitoring whether the nebulizer or the plasma torch tube is clogged with the sample is configured to detect the pressure change of the carrier gas that sends the sample to the high frequency inductively coupled plasma.

【0020】[0020]

【作用】本発明によれば、試料によってネブライザまた
はプラズマトーチ管が詰まっているか否かを監視する手
段を設けたので、高周波誘導結合プラズマへの試料溶液
およびキャリアガスの導入の異常を測定者が容易に察知
することができ、誤った測定結果の採用を未然に防止す
ることができ、プラズマトーチを溶損してしまう危険性
も防止できる。
According to the present invention, the means for monitoring whether or not the nebulizer or the plasma torch tube is clogged with the sample is provided, so that the measurer can check the abnormality of the introduction of the sample solution and the carrier gas into the high frequency inductively coupled plasma. It is possible to easily detect, it is possible to prevent erroneous measurement results from being adopted, and it is possible to prevent the risk of melting the plasma torch.

【0021】[0021]

【実施例】以下、本発明の各実施例を図1ないし図4を
参照して説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS.

【0022】〔実施例1〕図1は、本発明の高周波誘導
結合プラズマ発光分析装置の一実施例の構成を示すブロ
ック図、図2は、図1の実施例の高周波誘導結合プラズ
マ発光分析装置におけるコンセントリック形ネブライザ
の断面図である。
[Embodiment 1] FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of a high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer of the present invention, and FIG. 2 is a high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer of the embodiment of FIG. 2 is a sectional view of the concentric nebulizer in FIG.

【0023】図1で、試料溶液導入用キャピラリチュー
ブ5は、その一端をコンセントリック形ネブライザ1と
他の一端を試料溶液2の液中とにある。
In FIG. 1, the sample solution introducing capillary tube 5 has a concentric nebulizer 1 at one end and a sample solution 2 at the other end.

【0024】また、このネブライザ1にはガス制御部1
1よりアルゴンガスがキャリアガス12として導かれて
いる。
The nebulizer 1 has a gas control unit 1
Argon gas is introduced as carrier gas 12 from 1.

【0025】コンセントリック形ネブライザ1は、ニュ
ーマティック形ネブライザの一方式であり、図2に示す
ように、キャリアガス用キャピラリ4の内部にキャピラ
リと同軸対称に試料導入用キャピラリ5が配置された構
造となっている。
The concentric nebulizer 1 is one type of pneumatic nebulizer, and as shown in FIG. 2, a structure for arranging a sample introduction capillary 5 inside a carrier gas capillary 4 coaxially with the capillary. Has become.

【0026】キャリアガス12の流れにより生じる負圧
により吸引された試料溶液2が、試料溶液導入用キャピ
ラリ5の先端から噴射し霧化される。霧化した試料溶液
2はスプレーチャンバ7を経由してプラズマトーチ8に
導かれる。
The sample solution 2 sucked by the negative pressure generated by the flow of the carrier gas 12 is sprayed from the tip of the sample solution introducing capillary 5 and atomized. The atomized sample solution 2 is guided to the plasma torch 8 via the spray chamber 7.

【0027】ガス制御部11とネブライザ1の間のキャ
リアガス流路22には、ガス流量センサ6が、キャリア
ガスの流量を検出できるように取り付けられている。
A gas flow sensor 6 is attached to the carrier gas flow path 22 between the gas control unit 11 and the nebulizer 1 so as to detect the flow rate of the carrier gas.

【0028】プラズマトーチ8の外周には高周波誘導コ
イル9が設置され、高周波誘導コイル9には、高周波電
源15より27MHzもしくは40MHz、出力1〜2
kW程度の高周波電力が印加される。
A high frequency induction coil 9 is installed on the outer periphery of the plasma torch 8. The high frequency induction coil 9 has a 27 MHz or 40 MHz output from a high frequency power supply 15 and outputs 1-2.
A high frequency power of about kW is applied.

【0029】また、プラズマトーチ8にはガス制御部1
1よりアルゴンガスがプラズマガス13および補助ガス
14として導かれ、高周波電力により誘導結合形プラズ
マ10が形成される。
The plasma torch 8 has a gas control unit 1
1, the argon gas is introduced as the plasma gas 13 and the auxiliary gas 14, and the inductively coupled plasma 10 is formed by the high frequency power.

【0030】キャリアガス12によりスプレーチャンバ
7を通過した霧化された試料溶液2はプラズマトーチ8
のプラズマ10中に導かれる。
The atomized sample solution 2 which has passed through the spray chamber 7 by the carrier gas 12 is a plasma torch 8.
Is introduced into the plasma 10.

【0031】プラズマ10中は高温になっており、この
中で試料溶液2は分解し、含まれている元素が各元素ご
との特有の波長を有する発光線を生じる。
The plasma 10 is at a high temperature, in which the sample solution 2 is decomposed, and the contained element produces an emission line having a wavelength peculiar to each element.

【0032】これらの発光は、分光器16により分光さ
れ、所定の元素に対応する特定波長の発光線の発光強度
が光電子増倍管17により電気信号として取り出され
る。この電気信号はアナログ−デジタル変換器18でデ
ジタル量に変換されて、データ処理部19に取り込まれ
る。
These emitted lights are dispersed by the spectroscope 16, and the emission intensity of the emission line of a specific wavelength corresponding to a predetermined element is taken out as an electric signal by the photomultiplier tube 17. This electric signal is converted into a digital amount by the analog-digital converter 18 and taken into the data processing unit 19.

【0033】データ処理部19は、あらかじめこの測定
対象元素について試料濃度と発光強度の間の関係式を記
憶しており、取り込まれた発光強度から関係式を用いて
試料溶液2中での元素の濃度を算出し、濃度表示部2に
表示する。
The data processing section 19 stores in advance the relational expression between the sample concentration and the emission intensity for this element to be measured, and the relational expression of the element in the sample solution 2 is used from the incorporated emission intensity. The density is calculated and displayed on the density display unit 2.

【0034】また、ガス流量センサ6からの流量信号も
データ処理部19に取り込まれ、あらかじめ記憶されて
いる基準値と照合される。ネブライザ1またはインジェ
クタ管23の詰まりにより、キャリアガスのプラズマへ
の流入量が低下または停止して、流量信号強度が基準値
よりも小さくなった場合には、警告表示部21にネブラ
イザ1またはインジェクタ管23に詰まりを生じた旨の
表示がなされ、測定者が察知することができる。
The flow rate signal from the gas flow rate sensor 6 is also taken into the data processing section 19 and collated with a reference value stored in advance. When the flow rate of the carrier gas into the plasma is reduced or stopped due to the clogging of the nebulizer 1 or the injector pipe 23 and the flow signal intensity becomes smaller than the reference value, the nebulizer 1 or the injector pipe is displayed on the warning display unit 21. A message indicating that the clog 23 has occurred is displayed and can be detected by the measurer.

【0035】また、このときデータ処理部19はガス制
御部11および高周波電源15の出力を停止してプラズ
マを自動的に消火する。
Further, at this time, the data processing section 19 stops the output of the gas control section 11 and the high frequency power supply 15 to automatically extinguish the plasma.

【0036】本実施例では、ネブライザ1またはインジ
ェクタ管23の詰まりにともなうキャリアガスの流量変
化をガス流量センサで検出することにより詰まりの状態
を監視するが、流量センサの代わりに圧力センサを用い
て、詰まりにともなうキャリアガス供給側での圧力変化
で詰まりを判定してもよい。この場合、ネブライザ1ま
たはインジェクタ管23に詰まりが生じると、ガス制御
部11とネブライザ1の間のキャリアガス流路22にお
ける圧力は上昇するので、データ処理部19では圧力セ
ンサからの圧力信号強度が、あらかじめ記憶されている
基準値よりも大きくなった場合に、警告表示部21にネ
ブライザ1またはインジェクタ管23に詰まりを生じた
旨の表示をし、ガス制御部11および高周波電源15の
出力を停止してプラズマを自動的に消火する。
In this embodiment, the gas flow rate sensor detects a change in the flow rate of the carrier gas due to the clogging of the nebulizer 1 or the injector pipe 23 to monitor the clogging state, but a pressure sensor is used instead of the flow rate sensor. The clogging may be determined by the pressure change on the carrier gas supply side due to the clogging. In this case, if the nebulizer 1 or the injector pipe 23 is clogged, the pressure in the carrier gas flow path 22 between the gas control unit 11 and the nebulizer 1 rises, so that the data processing unit 19 detects that the pressure signal strength from the pressure sensor is high. When the value becomes larger than the reference value stored in advance, the warning display section 21 displays that the nebulizer 1 or the injector pipe 23 is clogged, and the output of the gas control section 11 and the high frequency power supply 15 is stopped. Then the plasma is extinguished automatically.

【0037】本実施例では、ネブライザまたはインジェ
クタ管が詰まった場合に、詰まりを生じた旨の表示が警
告表示部に表示されるため、測定者が容易に異常現象を
察知することができ、誤った測定結果を採用する恐れを
防ぐことができるとともに、プラズマトーチの溶損を未
然に防ぐことができる。
In this embodiment, when the nebulizer or the injector pipe is clogged, an indication that clogging has occurred is displayed on the warning display portion, so that the operator can easily detect the abnormal phenomenon and It is possible to prevent the risk of adopting the measured result and to prevent melting damage of the plasma torch.

【0038】[0038]

【発明の効果】本発明によれば、測定者が、ネブライザ
またはインジェクタ管の詰まりの状況を容易に確認でき
るようにすることにより、測定誤差のない高周波誘導結
合プラズマ発光分析装置を提供することができる。
According to the present invention, it is possible to provide a high frequency inductively coupled plasma optical emission analyzer without a measurement error by allowing a measurer to easily confirm a clogging condition of a nebulizer or an injector pipe. it can.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の高周波誘導結合プラズマ発光分析装置
の一実施例の構成を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of a high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer according to the present invention.

【図2】図1の実施例の高周波誘導結合プラズマ発光分
析装置におけるコンセントリック形ネブライザの断面
図。
FIG. 2 is a sectional view of a concentric nebulizer in the high frequency inductively coupled plasma emission spectrometer of the embodiment of FIG.

【図3】従来の高周波誘導結合プラズマ発光分析装置に
おけるコンセントリック形ネブライザとスプレーチャン
バを結合した構造の断面図。
FIG. 3 is a cross-sectional view of a structure in which a concentric nebulizer and a spray chamber are combined in a conventional high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer.

【図4】従来の高周波誘導結合プラズマ発光分析装置に
おけるプラズマトーチの断面図。
FIG. 4 is a sectional view of a plasma torch in a conventional high frequency inductively coupled plasma emission spectrometer.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ネブライザ、2…試料溶液、3…ドレイン、4,5
…キャピラリ、6…ガス流量センサ、7…スプレーチャ
ンバ、8…プラズマトーチ、9…高周波誘導コイル、1
0…誘導結合形プラズマ、11…ガス制御部、12…キ
ャリアガス、13…プラズマガス、14…補助ガス、1
5…高周波電源、16…分光器、17…光電子増倍管、
18…アナログ−デジタル変換器、19…データ処理
部、20…濃度表示部、21…警告表示部、22…キャ
リアガス流路、23…インジェクタ管。
1 ... Nebulizer, 2 ... Sample solution, 3 ... Drain, 4,5
... capillary, 6 ... gas flow rate sensor, 7 ... spray chamber, 8 ... plasma torch, 9 ... high frequency induction coil, 1
0 ... Inductively coupled plasma, 11 ... Gas control part, 12 ... Carrier gas, 13 ... Plasma gas, 14 ... Auxiliary gas, 1
5 ... High frequency power source, 16 ... Spectrometer, 17 ... Photomultiplier tube,
18 ... Analog-digital converter, 19 ... Data processing part, 20 ... Concentration display part, 21 ... Warning display part, 22 ... Carrier gas flow path, 23 ... Injector tube.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ネブライザによって霧化した試料溶液を、
キャリアガスによって高周波誘導結合プラズマ中に送り
込み、前記試料溶液中に含有される元素の発光分析を行
う高周波誘導結合プラズマ発光分析装置において、 前記試料溶液によって前記ネブライザまたはプラズマト
ーチ管が詰まっているか否かを監視する手段を設けたこ
とを特徴とする高周波誘導結合プラズマ発光分析装置。
1. A sample solution atomized by a nebulizer,
In a high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer for performing an emission analysis of elements contained in the sample solution by feeding into the high frequency inductively coupled plasma by a carrier gas, whether the nebulizer or the plasma torch tube is clogged with the sample solution A high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer equipped with a means for monitoring.
【請求項2】前記監視手段は、前記試料溶液を高周波誘
導結合プラズマへ送り込むキャリアガスの流量変化を検
出するように構成した請求項1に記載の高周波誘導結合
プラズマ発光分析装置。
2. The high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer according to claim 1, wherein the monitoring means is configured to detect a flow rate change of a carrier gas which sends the sample solution to the high frequency inductively coupled plasma.
【請求項3】前記監視手段は、前記試料溶液を高周波誘
導結合プラズマへ送り込むキャリアガスの圧力変化を検
出するように構成した請求項1に記載の高周波誘導結合
プラズマ発光分析装置。
3. The high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer according to claim 1, wherein the monitoring means is configured to detect a pressure change of a carrier gas which sends the sample solution to the high frequency inductively coupled plasma.
【請求項4】ネブライザによって霧化した試料溶液を、
キャリアガスによって高周波誘導結合プラズマ中に送り
込み、前記試料中に含有される元素の発光分析を行う高
周波誘導結合プラズマ発光分析装置において、 前記試料溶液によって前記ネブライザまたはプラズマト
ーチ管が詰まっていることが検知されると、プラズマを
自動的に消火する手段を設けたことを特徴とする高周波
誘導結合プラズマ発光分析装置。
4. A sample solution atomized by a nebulizer,
In a high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer for performing emission analysis of an element contained in the sample by feeding into the high frequency inductively coupled plasma by a carrier gas, it is detected that the nebulizer or the plasma torch tube is clogged with the sample solution. A high-frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer equipped with a means for automatically extinguishing the plasma.
JP11811995A 1995-05-17 1995-05-17 Inductively coupled plasma atomic emission spectrometer Pending JPH08313441A (en)

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JP11811995A JPH08313441A (en) 1995-05-17 1995-05-17 Inductively coupled plasma atomic emission spectrometer

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004127709A (en) * 2002-10-02 2004-04-22 Hitachi High-Technologies Corp Plasma ion source mass spectroscope
CN108760958A (en) * 2018-07-02 2018-11-06 东华理工大学 The light-catalyzed reaction on-line detecting system of self-priming automatic sampling

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