JPH0831122B2 - Command processing method in IC card - Google Patents
Command processing method in IC cardInfo
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- JPH0831122B2 JPH0831122B2 JP63311898A JP31189888A JPH0831122B2 JP H0831122 B2 JPH0831122 B2 JP H0831122B2 JP 63311898 A JP63311898 A JP 63311898A JP 31189888 A JP31189888 A JP 31189888A JP H0831122 B2 JPH0831122 B2 JP H0831122B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明はICカードにおけるコマンド処理方法にかか
り、特にICカードの完成後にカードメーカがICカードの
全エリアのテストを実行でき、かつユーザがユーザにと
って不必要なエリアへのアクセスを防止するのに好適な
ICカードにおけるコマンド処理方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application] The present invention relates to a command processing method in an IC card, and in particular, a card maker can execute a test of all areas of an IC card after completion of the IC card, and a user can Suitable for preventing access to areas unnecessary for
The present invention relates to a command processing method in an IC card.
［従来の技術］ 従来のICカードのテストに関する先行技術としては、
特開昭59−121486号公報に開示されているように、ICカ
ード内のメモリのリード／ライトをICカードのパッケー
ジング完成後に行う場合、消去可能なＰ−ROMを使用し
て行うものが知られている。[Prior Art] As a prior art for testing a conventional IC card,
As disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 59-121486, when erasing / writing the memory in an IC card after the packaging of the IC card is completed, it is known to use an erasable P-ROM. Has been.
また、特開昭62−82489号公報に開示されているよう
に、ICカード内のメモリエリアをあらかじめ使用用途別
に分け、システム側とユーザ側でアクセス可能な範囲を
制限したものも知られている。Further, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 62-82489, there is also known one in which the memory area in the IC card is divided in advance according to the intended use and the accessible range is limited on the system side and the user side. .
［発明が解決しようとする課題］ 上記特開昭59−121486号公報に記載されているような
消去可能なＰ−ROMを使用したICカードは、プログラム
の書き込みが外部から行える場合に限って可能であり、
消去できないＰ−ROMを使用した場合には適用できない
という問題点がある。[Problems to be Solved by the Invention] An IC card using an erasable P-ROM as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 59-121486 is possible only when a program can be written externally. And
There is a problem that it cannot be applied when a P-ROM that cannot be erased is used.
消去できないＰ−ROMを使用した場合には、Ｐ−ROM自
体の書き込み内容のチェックは、パッケージング前に行
うことができる。しかし、この場合、データの記憶エリ
アとしてのEEPROMのテスト方法が問題になる。すなわ
ち、EEPROMエリアは、上位装置から直接リード／ライト
されるのではなく、Ｐ−ROMのプログラムを介して行わ
れる。したがって、カード完成後に上記EEPROMのテスト
を行う必要が生じる。この場合、カードメーカ側では、
全エリアについてリード／ライトのテストを行う必要が
あるのに対し、ユーザの手に渡った場合には、そのアク
セス範囲を制限する必要がある。この理由は、EEPROMエ
リアの中には、Ｐ−ROM内のプログラムが管理する情報
もあり、この情報をユーザがアクセスすることは、安全
面からこのましくない。When a P-ROM that cannot be erased is used, the write contents of the P-ROM itself can be checked before packaging. However, in this case, the method of testing the EEPROM as a data storage area becomes a problem. That is, the EEPROM area is not directly read / written by the host device but is executed via the program of the P-ROM. Therefore, it becomes necessary to test the EEPROM after the card is completed. In this case, on the card maker side,
Whereas it is necessary to perform read / write tests for all areas, if the user's hands are in hand, it is necessary to limit the access range. The reason is that there is information managed by the program in the P-ROM in the EEPROM area, and it is not safe for the user to access this information from the viewpoint of safety.
このように、カードメーカが行うテストではメモリの
全エリアを自由にアクセスすることができ、ユーザが行
うテストではアクセス範囲を制限する手段が必要にな
る。上記特開昭59−121486号公報に記載されている方法
では、この点の配慮が欠けているという問題点があっ
た。As described above, in the test performed by the card maker, all areas of the memory can be freely accessed, and in the test performed by the user, a means for limiting the access range is required. The method described in JP-A-59-121486 has a problem in that consideration for this point is lacking.
また、特開昭62−82489号公報に開示されているよう
に、メモリ領域を区別して利用制限を行う場合には、カ
ードメーカのテスト時と、ユーザ利用時とを、どのよう
に区別し、さらに上位装置による不正アクセスをいかに
して防止するかが問題となる。Further, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 62-82489, when the memory area is discriminated and the usage restriction is performed, how to distinguish between the card maker test time and the user use time, Another problem is how to prevent unauthorized access by the host device.
本発明の目的は、カードメーカ側でのICカードテスト
時とユーザ利用時とが完全に区別でき、また、ユーザに
とって不必要なエリアへのアクセスを防止することが可
能なICカードにおけるコマンド処理方法を提供すること
にある。An object of the present invention is to completely distinguish the IC card test on the card maker side from the user's use, and to prevent access to an unnecessary area for the user. To provide.
［課題を解決するための手段］ 本発明のICカードにおけるコマンド処理方法は、テス
トモードからユーザモードへの切り替えコマンドを含む
テストモードコマンド・リストをICカード内のＰ−ROM
部に格納し、ユーザモードからテストモードへの切り替
えコマンドを含まないユーザモードコマンド・リストを
ICカード内のＰ−ROM部に格納し、カードメーカ側の要
求するコマンドを実行するテストモード又はユーザ側の
要求するコマンドを実行するユーザモードに設定して、
このモード状態をICカード内のEEPROM部に格納し、上位
装置からのコマンドを受けた場合、上記EEPROM部を参照
して上記モード状態がテストモードかユーザモードかを
判定し、テストモードと判定された場合、Ｐ−ROM部の
テストモードコマンド・リストを参照して上記上位装置
からのコマンドがメーカ側が実行可能なコマンドか否か
を判定し、ユーザモードと判定された場合、ユーザモー
ドコマンド・リストを参照して上記上位装置からのコマ
ンドがユーザ側が実行可能なコマンドか否かを判定し、
メーカ側又はユーザ側が実行不可能なコマンドであると
判定された場合、上位装置に対してコマンド不正を通知
し、メーカ又はユーザ側が実行可能なコマンドであると
判定された場合には、当該コマンドを実行することを特
徴としている。[Means for Solving the Problems] In the command processing method for an IC card according to the present invention, a test mode command list including a command for switching from the test mode to the user mode is stored in the P-ROM in the IC card.
User mode command list that does not include a command to switch from user mode to test mode.
Store in the P-ROM section in the IC card and set to the test mode to execute the command requested by the card manufacturer or the user mode to execute the command requested by the user.
When this mode status is stored in the EEPROM section in the IC card and a command from the host device is received, it is determined whether the mode status is the test mode or the user mode by referring to the EEPROM section, and the mode is determined to be the test mode. If it is determined that the command from the host device is a command executable by the manufacturer by referring to the test mode command list in the P-ROM section, and if it is determined to be the user mode, the user mode command list Refer to to determine whether the command from the host device is a command that the user can execute,
If the maker or user side determines that the command cannot be executed, it notifies the upper-level device that the command is invalid, and if the maker or user side determines that the command is executable, the command is changed. It is characterized by executing.
［作用］ 本発明によれば、上位装置からのコマンドを受領した
ICカードはテストモードかユーザモードかを判定し、ユ
ーザモードの場合にはユーザモードコマンド・リストを
参照してユーザ側が実行可能なコマンドか否かを判定す
る。判定の結果、ユーザモードコマンド・リストにな
く、ユーザ側が実行できないコマンドと判定された場合
には、コマンド不正を上位装置に通知する。これによっ
て、ユーザ側にとって不必要なエリアへのアクセスが防
止される。[Operation] According to the present invention, a command from the host device is received.
The IC card determines whether the command mode is the test mode or the user mode. In the case of the user mode, the IC card refers to the user mode command list to determine whether the command can be executed by the user. If the result of determination is that the command is not in the user mode command list and cannot be executed by the user, a command error is notified to the higher-level device. This prevents access to areas that are unnecessary for the user.
また、メーカ側がテストを実行した後には、テストモ
ードからユーザモードへの切り替えコマンドにより、テ
ストモードからユーザモードに切り替えられる。しか
し、一度ユーザモードに切り替えられた後は、ユーザモ
ードからテストモードへの切り替えコマンドは上記ユー
ザモードコマンド・リストにないため、実行できない。
したがって、ユーザがユーザ側にとって不必要なエリア
へアクセスすることが確実に防止される。Further, after the manufacturer has executed the test, the test mode is switched to the user mode by a command for switching from the test mode to the user mode. However, once the user mode is switched to, the command for switching from the user mode to the test mode cannot be executed because it is not in the user mode command list.
Therefore, it is possible to reliably prevent the user from accessing an area unnecessary for the user.
［実施例］ 以下、添付の図面に示す実施例により、更に詳細に本
発明について説明する。EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the examples shown in the accompanying drawings.
第１図は、ICカードの構成を示すブロック図である。
図示するように、ICカード１は、上位装置11との間でコ
マンド及びデータの授受を行う入出力制御部２と、コマ
ンドの内容を解析して実行するコマンド処理部３と、メ
モリ制御部４と、データ記憶エリア５と、コマンドの可
否を判断するテストモードコマンド・リスト９と、ユー
ザモードコマンド・リスト10から構成されている。ま
た、データ記憶エリア５は、図示するように、モード情
報エリア６と、システムエリア７と、ユーザエリア８と
から構成されている。ここで、入出力制御部２とコマン
ド処理部３とメモリ制御部４とテストモードコマンド・
リスト９とユーザモードコマンド・リスト10は、Ｐ−RO
Mにより構成され、データ記憶エリア５は、EEPROMで構
成される。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an IC card.
As shown in the figure, the IC card 1 includes an input / output control unit 2 for exchanging commands and data with a higher-level device 11, a command processing unit 3 for analyzing and executing the contents of commands, and a memory control unit 4. And a data storage area 5, a test mode command list 9 for determining whether a command can be accepted, and a user mode command list 10. The data storage area 5 is composed of a mode information area 6, a system area 7 and a user area 8 as shown in the figure. Here, the input / output control unit 2, the command processing unit 3, the memory control unit 4, and the test mode command
List 9 and user mode command list 10 are P-RO
The data storage area 5 is composed of an EEPROM.
第２図（ａ）はテストモードコマンド・リスト９の一
例を示し、第２図（ｂ）はユーザモードコマンド・リス
ト10の一例を示し、第２図（ｃ）はデータ記憶エリア５
のアドレス付けの一例を示している。2A shows an example of the test mode command list 9, FIG. 2B shows an example of the user mode command list 10, and FIG. 2C shows the data storage area 5.
Shows an example of addressing of the.
第２図（ａ）に示すように、テストモードコマンド・
リスト９は、テストモードにおいて使用可能なコマンド
定義101と、データ記憶エリア５のアクセスを伴うコマ
ンドの場合のアクセス可能先頭ブロック番号102とアク
セス可能最終ブロック番号103から構成されている。ま
た、第２図（ｂ）に示すように、ユーザモードコマンド
・リスト10は、ユーザモードにおいて使用可能なコマン
ド定義201と、データ記憶エリア５のアクセスを伴うコ
マンドの場合のアクセス可能先頭ブロック番号202とア
クセス可能最終ブロック番号203から構成されている。
また、第２図（ｃ）に示すように、データ記憶エリア５
は、処理単位であるブロック毎に番号（アドレス）付け
されている。第２図（ａ），（ｂ），（ｃ）から明らか
なように、テストモードにおいてはブロック番号０から
500の全てがアクセス可能であるのに対し、ユーザモー
ドにおいてはブロック番号０から100へのアクセスが禁
止される構成となっている。As shown in FIG. 2 (a), the test mode command
The list 9 is composed of a command definition 101 that can be used in the test mode, an accessible first block number 102 and an accessible last block number 103 in the case of a command involving access to the data storage area 5. Further, as shown in FIG. 2B, the user mode command list 10 includes a command definition 201 usable in the user mode and an accessible head block number 202 in the case of a command involving access to the data storage area 5. And the last accessible block number 203.
Further, as shown in FIG. 2 (c), the data storage area 5
Are numbered (addresses) for each block which is a processing unit. As is apparent from FIGS. 2 (a), (b), and (c), in the test mode, from block number 0
While all 500 are accessible, access from block numbers 0 to 100 is prohibited in the user mode.
次に、上位装置11からコマンドを受領した場合のシー
ケンスを第２図と第３図を用いて説明する。第３図は、
以下に述べるステップが行われる過程を第１図と同じIC
カード構成図に示したものである。Next, a sequence when a command is received from the host device 11 will be described with reference to FIGS. 2 and 3. Figure 3 shows
The process in which the steps described below are performed is the same as that in FIG.
It is shown in the card configuration diagram.
第３図に示すように、ステップ101において、上位装
置11から出力されたREADコマンド20は、アクセス先頭ブ
ロック番号として30を有し、入出力制御部２を介してコ
マンド処理部３に渡される。ここで、第２図（ｃ）から
明らかなように、READコマンド20のアクセス先頭ブロッ
ク番号30はシステムエリア７内に存在し、テストモード
時に限ってアクセス可能なものである。次に、ステップ
102において、コマンド処理部３は、メモリ制御部４を
介してデータ記憶エリア５内のモード情報エリア６のデ
ータを取り込む。次に、ステップ103において、モード
情報エリア６の内容が“テストモード”を示していれば
テストモードコマンド・リスト９を選択し、“ユーザモ
ード”を示していればユーザモードコマンド・リスト10
を選択する。この場合には、READコマンド20の該当ブロ
ックは“30"であり、“テストモード”時は許可される
が、“ユーザモード”の場合許可の範囲外となる。従っ
て、モード情報エリア６の内容が“ユーザモード”であ
る場合には、コマンド処理部３は、ステップ104におい
て、上位装置11に対して“コマンド不正”を通知する。
また、図示していないが、モード情報エリア６の内容が
“テストモード”である場合には、コマンド処理部３
は、メモリ制御部４を介して、データ記憶エリア５のブ
ロック番号30に対するREADコマンド（20）を実行する。As shown in FIG. 3, in step 101, the READ command 20 output from the higher-level device 11 has 30 as the access start block number and is passed to the command processing unit 3 via the input / output control unit 2. Here, as is apparent from FIG. 2C, the access start block number 30 of the READ command 20 exists in the system area 7 and is accessible only in the test mode. Then step
At 102, the command processing unit 3 fetches the data of the mode information area 6 in the data storage area 5 via the memory control unit 4. Next, in step 103, if the content of the mode information area 6 indicates "test mode", the test mode command list 9 is selected, and if it indicates "user mode", the user mode command list 10 is selected.
Select In this case, the corresponding block of the READ command 20 is "30", which is permitted in the "test mode", but out of the permitted range in the "user mode". Therefore, when the content of the mode information area 6 is “user mode”, the command processing unit 3 notifies the upper level device 11 of “command invalid” in step 104.
Although not shown, if the content of the mode information area 6 is “test mode”, the command processing unit 3
Executes the READ command (20) for the block number 30 of the data storage area 5 via the memory control unit 4.
次に、第２図と第４図を用いて、ユーザモードとシス
テムモードの切り替えについて説明する。第４図は、以
下に述べるステップが行われる過程を第１図と同じICカ
ード構成図に示したものである。Next, switching between the user mode and the system mode will be described with reference to FIGS. 2 and 4. FIG. 4 shows the process in which the steps described below are performed in the same IC card configuration diagram as in FIG.
第４図に示す様に、上位装置11から出力されるCHANG
コマンド21は、ステップ300において入出力制御部２を
介してコマンド処理部３に渡される。コマンド処理部３
は、ステップ301においてメモリ制御部４を介してデー
タ記憶エリア５内のモード情報エリア６のデータを取り
込む。そして、ステップ302において、コマンド処理部
３は、モード情報エリア６の内容が“テストモード”を
示していればテストモードコマンド・リスト９を選択
し、“ユーザモード”を示していればユーザコマンド・
リスト10を選択する。コマンド処理部３が“テストモー
ド”を選択した場合、テストモードコマンド・リスト９
のコマンド定義101にCHANGコマンド21が定義されている
ため処理可能となり、コマンド処理部３が“ユーザモー
ド”を選択した場合、ユーザモードコマンド・リスト10
にCHANGコマンドは定義されておらず、処理不可能とな
る（ステップ303）。コマンド処理部３が処理不可能な
場合は、ステップ304において上位装置11に対して“コ
マンド不正”を通知する。コマンド処理部３が処理可能
な場合は、ステップ305においてメモリ制御部４を介し
て、モード情報エリア６に対して“ユーザモード”を示
すデータを書き込む。コマンド処理部３は処理が終る
と、ステップ306において、上位装置11に対して“モー
ド切り替え終了”を通知する。As shown in FIG. 4, the CHANG output from the host device 11
The command 21 is passed to the command processing unit 3 via the input / output control unit 2 in step 300. Command processing unit 3
In step 301, the data in the mode information area 6 in the data storage area 5 is loaded via the memory control unit 4. Then, in step 302, the command processing unit 3 selects the test mode command list 9 if the content of the mode information area 6 indicates "test mode", and if it indicates "user mode", the user command
Select Listing 10. When the command processing unit 3 selects “test mode”, the test mode command list 9
Since the CHANG command 21 is defined in the command definition 101 of the above, processing becomes possible, and when the command processing unit 3 selects “user mode”, the user mode command list 10
Since the CHANG command is not defined in, it cannot be processed (step 303). If the command processing unit 3 cannot process the command, in step 304, the higher-level device 11 is notified of “command invalid”. If the command processing unit 3 can process the data, the data indicating the "user mode" is written to the mode information area 6 via the memory control unit 4 in step 305. When the processing is completed, the command processing unit 3 notifies the upper-level device 11 of “mode switching end” in step 306.
上記した実施例によれば、あらかじめICカード内Ｐ−
ROM上プログラムにモード管理機能を保有させ、テスト
モードにおいては、アクセスエリアに制限がなく、EEPR
OM全エリアのアクセスが可能なため、効果的なメモリの
テストが行える。また、ユーザ利用の前にユーザモード
に切り替えた後は、再度テストモードに戻すことが不可
能な方式なので、上位装置よりの誤操作，不正なアクセ
スは完全に防止することが可能となる。According to the above-described embodiment, the P-
The program on ROM has a mode management function, and in test mode, there is no limit to the access area and EEPR
Since all OM areas can be accessed, effective memory testing can be performed. Further, since it is impossible to return to the test mode again after switching to the user mode before the user uses, it is possible to completely prevent erroneous operation and unauthorized access from the host device.
［発明の効果］ 本発明によれば、カードメーカ側でのICカードテスト
時とユーザ利用時とを完全に区別でき、ユーザにとって
不必要なエリアへのアクセスを防止することが可能なIC
カードにおけるコマンド処理方法を提供することが可能
になる効果を有する。[Advantages of the Invention] According to the present invention, it is possible to completely distinguish between an IC card test on the card maker side and a user use, and to prevent access to an area unnecessary for the user.
There is an effect that it becomes possible to provide a command processing method in a card.
第１図は本発明の一実施例を示すICカードのブロック
図、第２図（ａ）はテストモードコマンド・リストの詳
細を示す説明図、第２図（ｂ）はユーザモードコマンド
・リストの詳細を示す説明図、第２図（ｃ）はデータ記
憶エリアの詳細を示す説明図、第３図及び第４図は第１
図に示す実施例の動作を説明するためのステップを表示
したブロック図である。 １……ICカード、２……入出力制御部、３……コマンド
処理部、４……メモリ制御部、５……データ記憶エリ
ア、６……モード情報エリア、７……システムエリア、
８……ユーザエリア、９……テストモードコマンド・リ
スト、10……ユーザモードコマンド・リスト。FIG. 1 is a block diagram of an IC card showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 (a) is an explanatory view showing details of a test mode command list, and FIG. 2 (b) is a user mode command list. An explanatory view showing details, FIG. 2 (c) is an explanatory view showing details of the data storage area, and FIGS. 3 and 4 are first views.
It is a block diagram which displayed the step for explaining operation of the example shown in a figure. 1 ... IC card, 2 ... input / output control section, 3 ... command processing section, 4 ... memory control section, 5 ... data storage area, 6 ... mode information area, 7 ... system area,
8 ... User area, 9 ... Test mode command list, 10 ... User mode command list.
Claims (1)
えコマンドを含むテストモードコマンド・リストをICカ
ード内のＰ−ROM部に格納し、 ユーザモードからテストモードへの切り替えコマンドを
含まないユーザモードコマンド・リストをICカード内の
Ｐ−ROM部に格納し、 カードメーカ側の要求するコマンドを実行するテストモ
ード又はユーザ側の要求するコマンドを実行するユーザ
モードに設定して、このモード状態をICカード内のEEPR
OM部に格納し、 上位装置からのコマンドを受けた場合、上記EEPROM部を
参照して上記モード状態がテストモードかユーザモード
かを判定し、 テストモードと判定された場合、Ｐ−ROM部のテストモ
ードコマンド・リストを参照して上記上位装置からのコ
マンドがメーカ側が実行可能なコマンドか否かを判定
し、ユーザモードと判定された場合、Ｐ−ROM部のユー
ザモードコマンド・リストを参照して上記上位装置から
のコマンドがユーザ側が実行可能なコマンドか否かを判
定し、 メーカ側又はユーザ側が実行可能なコマンドであると判
定された場合、上位装置に対してコマンド不正を通知
し、メーカ又はユーザ側が実行可能なコマンドであると
判定された場合には、当該コマンドを実行するICカード
におけるコマンド処理方法。1. A user mode command, which stores a test mode command list including a command for switching from the test mode to the user mode in a P-ROM section in the IC card and does not include a command for switching from the user mode to the test mode. The list is stored in the P-ROM section of the IC card, and the test mode for executing the command requested by the card manufacturer or the user mode for executing the command requested by the user is set, and this mode status is set in the IC card. EEPR
When the command is stored in the OM section and a command is received from the host device, the EEPROM section is referenced to determine whether the mode state is test mode or user mode. If it is determined to be the test mode, the P-ROM section By referring to the test mode command list, it is determined whether or not the command from the higher-level device is a command executable by the manufacturer side, and when it is determined as the user mode, the user mode command list of the P-ROM section is referred to. It is determined whether the command from the host device is a command that can be executed by the user side, and if it is determined that the command can be executed by the manufacturer or the user side, the command error is notified to the host device, and the command is sent to the manufacturer. Alternatively, when it is determined that the command can be executed by the user, the command processing method in the IC card that executes the command.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63311898A JPH0831122B2 (en) | 1988-12-12 | 1988-12-12 | Command processing method in IC card |
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| JP63311898A JPH0831122B2 (en) | 1988-12-12 | 1988-12-12 | Command processing method in IC card |
Publications (2)
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| JPH02157988A JPH02157988A (en) | 1990-06-18 |
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