JPH08306890A - 予め画定された接続パターンを備えたゲートアレイセル - Google Patents

予め画定された接続パターンを備えたゲートアレイセル

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JPH08306890A
JPH08306890A JP8003410A JP341096A JPH08306890A JP H08306890 A JPH08306890 A JP H08306890A JP 8003410 A JP8003410 A JP 8003410A JP 341096 A JP341096 A JP 341096A JP H08306890 A JPH08306890 A JP H08306890A
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transistor
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channel transistors
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JP8003410A
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Robert J Landers
ジェイ.ランダーズ ロバート
Shivaling S Mahant-Shetti
エス.マハント − シェッティ シバリング
R Krishman
アール.クリシュナン
C Mutukrishnan
シー.ムタクリシュナン
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Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/356104Bistable circuits using complementary field-effect transistors
    • HELECTRICITY
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    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/10Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
    • H01L27/118Masterslice integrated circuits
    • H01L27/11803Masterslice integrated circuits using field effect technology
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    • HELECTRICITY
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    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/173Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components
    • H03K19/1733Controllable logic circuits
    • H03K19/1735Controllable logic circuits by wiring, e.g. uncommitted logic arrays

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ゲートアレイセルの配線の不効率の問題を解
決する。 【解決手段】 CMOSゲートアレイ用ベースセルは全
て直列に接続された複数個のN−チャンネルトランジス
タ10、12、14を備えている。複数個のP−チャン
ネルトランジスタ16、18が直列に接続される。これ
らのトランジスタは一部接続済みの回路を形成するため
にトランジスタレベルで相互接続される。特に、2つの
N−チャンネルトランジスタ12、14のゲートがポリ
シリコンリード線28によってトランジスタ16のゲー
トに接続される。この形状により、プログラム可能なア
レイ素子中のベースセルとして使用するに良く適した回
路原理を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は広くはゲートアレイ
分野に関し、特にマルチプレクサ機能を有する単一また
は複合論理回路の双方を作り出すための主要建築ブロッ
クとしての複数個の一部配線済み回路を有するセルの使
用に基づくアーキテクチャを持ったゲートアレイに関す
る。
【0002】
【従来の技術】伝統的なゲートアレイベースセルはトラ
ンジスタアレイの効率的レイアウトと共に発展してき
た。これは、一部にアレイ中に形成されるゲートの数に
起因し、そして一部にはアレイの有する入出力ピンの数
に起因している。回路が小形化して単一チップ上により
多くのゲートを収められることになると、プログラム可
能な金属層を使用した機能の開発要求が重要となった。
この方法は、記憶回路、デジタル信号処理回路、加算器
等の論理回路の開発に使用され、そしてNANDゲー
ト、AOIセル、インバータ、メモリセル等を形成する
ことの可能なトランジスタを有することに基づいてい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】所望の機能を得るため
に使用されるプログラム可能な金属は、かなりのスペー
スを必要とし、特に非常に高密度のチップにおいて、得
られた機能の密度の減少を発生させる。結果として、所
定のアレイの典型的配線不効率により、チップ上40%
のベースセルが最終的な回路形状中で使用できないこと
となる。単一ゲートアレイ中に所望の機能を作り上げる
ことができないため、その機能を得るために必要な範囲
を増加させることとなり、この技術を利用するためのコ
ストが増加し、配線できるはずのコンポーネントを捨て
ることとなる。
【0004】ゲートアレイセルの配線を不効率にするも
う1つの因子は、セル自身が、しばしば、きわめて自由
度のあると従来考えられていた2入力NAND回路を形
成することのできるトランジスタを有することに基づい
ているという事実である。しかしながら、逐次論理機能
およびデータ信号処理機能の調査により、そのような論
理においては高周波マルチプレクサ回路が存在し、そし
て配線経路チャンネルがすぐに使用され尽くしてしまう
ために、そのマルチプレクサは設計者の望む数だけ作る
ことがいくらか困難である事が分かっている。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の問題お
よび先行技術のベースセルに係わる他の問題を解決し、
そして複数のN−型およびP−型トランジスタを使用す
るCMOSアレイベースセルである。少なくとも2つの
P−型トランジスタが、プログラム可能な配線による接
続に対してアクセス可能な接続点に相互に直列接続され
る。さらに、少なくとも3つのN−型トランジスタが、
プログラム可能な配線による接続に対してアクセス可能
な第2および第3のN−型トランジスタ間の接続点に相
互に直列接続される。1つのP−型トランジスタのゲー
トがポリシリコン中で第2および第3のN−型トランジ
スタのゲートに配線される。これらの相互接続トランジ
スタは、本発明のアレイセルを用いて形成できる論理機
能用の基本建築ブロックを形成する。トランジスタおよ
びそれらの相互接続の総数により、フリップフロップ回
路を含む種々の機能を作るために非常に有用な本発明の
ベースセルが形成される。
【0006】
【発明の実施の形態】図1を参照すると、本発明のベー
スセルの回路図が示されている。図1の回路は、複数個
の直列接続N−チャンネルトランジスタ10、12、1
4を含んでいる。図1の回路はまた、複数個の直列接続
P−チャンネルトランジスタ16、18を含んでいる。
トランジスタ10、12、14は20、22、24で示
すようにシリコン中で直列に接続されている。トランジ
スタ16、18は25、26で示すようにシリコン中で
直列に接続されている。25、26間の接続点は、代表
的にVCCとして示される外部電源に接続される回路位置
を構成する。また22、24間の接続点は、代表的にV
SSとして示される外部電源に接続される。さらに、図1
のベースセルはトランジスタのゲート16、14、12
を接続するポリシリコンリード線28を含んでいる。
【0007】図2を参照すると、2つのベースセルが並
んで示されており、1つのベースセルは線A−Aの左側
に配置され、第2のセルはその線の右側に配置されてい
る。これらのセルは非常に形状が似ており、多くの態様
において対称形となっている。これら2つのベースセル
は第1レベルの配線を用いてフリップフロップ形状に配
線される。第1レベルの配線は、トランジスタT5のゲ
ートをトランジスタT4のゲートに接続する線100の
シェーディングを有する。さらに、第1レベルの配線1
02はトランジスタT4aのゲートをトランジスタT5
aのゲートに接続するために設けられている。第1レベ
ルの配線104は、トランジスタT4とT5間の接合点
をトランジスタT4aとT5a間の接合点に接続するた
めに設けられる。この線104はトランジスタT4、T
5、T4aおよびT5aを供給電源VCCに接続する機構
を提供する。別の第1レベルの配線106はトランジス
タT2、T3、T2aおよびT3aを供給電源VSSに接
続する。
【0008】第1レベルの配線108はトランジスタT
5のソース/ドレーンをポリシリコンリード線110に
結合するために設けられている。このリード線110は
第1レベルの配線112によってトランジスタT1とT
2間の接合点に接続される。類似の形状の第1レベルの
配線114はトランジスタT5aのソース/ドレーンを
ポリシリコンリード線116に結合するために設けられ
ている。このリード線116は第1レベルの配線118
によってトランジスタT1aとT2a間の接合点に接続
される。
【0009】もう1つの第1レベルの配線120はトラ
ンジスタT5とT4間の接合点とトランジスタT1のソ
ース/ドレーン間の接続を提供する。類似の形状の第1
レベルの配線122はトランジスタT5aとT4a間の
接合点とトランジスタT1aのソース/ドレーン間の接
続を提供する。第1レベルの配線124は、トランジス
タT4のソース/ドレーン、トランジスタT3のソース
/ドレーン、トランジスタT1のゲート、およびトラン
ジスタT2a,T3a,T4aのゲートを共に接続する
ポリシリコンリード線126の接続を提供する。第1レ
ベルの配線128は、トランジスタT4aのソース/ド
レーン、トランジスタT3aのソース/ドレーン、トラ
ンジスタT1aのゲート、およびトランジスタT2,T
3,T4のゲートを共に接続するポリシリコンリード線
130の接続を提供する。
【0010】図2に示すベースセルの形状は、ポリシリ
コンリード線が線幅約0.6乃至0.8ミクロンの範囲
である実際のサイズに比べて何倍も大きく拡大されてい
る。この大きさの形から、P−型トランジスタT4,T
5の幅が大体N−型トランジスタT1の幅に等しいと決
定できる。P−型トランジスタはN−型トランジスタと
同様に機能しないが、トランジスタT4,T5の電流ス
イッチング容量がそれぞれトランジスタT1の電流スイ
ッチング容量の約1/2であることが理解できよう。さ
らに、トランジスタT2は、最も高い電流搬送能力を有
するH−チャンネルトランジスタT1の約60%の電流
搬送容量を有することに注目できる。T3はさらにT2
よりも幅が小さく、T1の幅の約20%とT2の幅の約
35%である。したがって、T3はトランジスタT1の
約20%の電流搬送容量を有する。上に述べたトランジ
スタ間の特別なサイズ関係は図2の特定の設計のための
ものであって、設計の自由度は十分にある。当業者はト
ランジスタ間の他のサイズ関係も利用できることを認識
できるであろう。実際、全てのトランジスタの電流搬送
容量が同一であったらどうであろうか。しかしそれは、
トランジスタの電流搬送容量が上述の説明から変化する
とセルの物理的レイアウトが変更されねばならず、セル
の有用性に影響し、本発明のセルが配線される所望の形
状の数の中にセルを配線することが困難になる。
【0011】図3は2つのベースセルと図2の第1レベ
ルの配線によって形成される回路図を示す。
【0012】図4は図2のフリップフロップ用回路図を
構成する。第1レベルの配線が第1レベルの配線100
の幅を有する線で示されている。ポリシリコン配線が、
ポリシリコンリード線130の幅を有する線で示されて
いる。図4および図2の対応する数のリード線は、物理
的位置を示す図2および回路図中の位置を示す図4中の
リード線と同一である。
【0013】図5は図4の回路の代替回路図を示す。本
発明のベースセルのいくつかの利点が図5の動作を述べ
ることで容易に理解できる。特に、入力における入力電
圧が低いと仮定する。これにより、点200と202の
電圧がそれぞれ高および低となる。この状態はトランジ
スタT1a,T5aがオフであり、トランジスタT2a
がオンとなる。この状態で、出力電圧は低い。入力電圧
が低から高に変わると、点200の電圧は高くなり、そ
の後にいくらか202の電圧が低下する。これにより、
トランジスタT1a,T5aがオンとなり、トランジス
タT2aがオフとなる。トランジスタT1aがN−チャ
ンネル素子であり、P−チャンネルトランジスタT5a
とおおよそ等しい物理的サイズであるので、それは出力
における電圧をVCCすなわちVCC−1ボルトに近いレベ
ルまで急激に上げることを可能とする。それ故、トラン
ジスタT5aは出力電圧をVCCに上げる。N−チャンネ
ルおよびP−チャンネルトランジスタ双方とも並列に動
作するので、出力電圧は、N−チャンネルトランジスタ
によって、急激に低レベルからその高レベル近くまで上
げられ、そしてP−チャンネルがより遅い速度で最終の
高レベルへの遷移を完了させる。この性能は、低から高
レベル電圧に遷移するときに出力における電圧を引き上
げるためにP−チャンネルトランジスタのみを使用する
よりもはるかに良い。
【0014】図5の回路は、入力が高から低電圧に遷移
する時以下のように動作する。これが起こると、点20
0の電圧は高から低に行き、その後、点202の電圧が
幾分低から高に行く。これにより、トランジスタT1
a,T5aがオフとなり、トランジスタT2aがオンと
なる。これが起こると、トランジスタTa2は出力電圧
をほぼゼロボルトに落とす。トランジスタT2aがN−
チャンネル素子であり、N−チャンネル素子がこの仕事
に非常に適しているので、この電圧低下は急激であろ
う。
【0015】本発明は、2つのベースセルがともに結合
されフリップフロップを形成する作用について特別に説
明されたが、図1のベースセルの形状ははるかに自由度
を持っており、例えばNAND,NOR,AND,ミキ
サおよびバッファを含むいくつかの他のタイプの回路を
作るために利用できる。実際、図1の示すベースセル形
状が非常に大きな数の論理機能を達成するために容易に
形成でき、ベースセルを非常に有用なものにしているこ
とが示唆される。
【0016】上記の説明が図に示す本発明の実施例につ
いて特になされたが、当業者は、以上の実施例に加えて
本発明の精神から離れる事なく多くの変更が可能である
ことを容易に理解するであろう。
【0017】以上の説明に関して以下の項を開示する。 (1)ゲートアレイ中で使用される複数個の一部配線さ
れたトランジスタを含むCMOSベースセルにおいて、
第1のノードが第1および第2のN−チャンネルトラン
ジスタ間に形成され、第2のノードが第2および第3の
N−チャンネルトランジスタ間に形成されている3つの
直列接続N−チャンネルトランジスタから成る第1の複
数個のN−チャンネルトランジスタ、第3のノードが第
1および第2のP−チャンネルトランジスタ間に形成さ
れた、2つの直列接続P−チャンネルトランジスタから
成る第1の複数個のP−チャンネルトランジスタ、およ
び1つの前記直列接続P−チャンネルトランジスタのゲ
ートを前記第2および第3のP−チャンネルトランジス
タのゲートに接続する第1の接続装置を有するCMOS
ベースセル。 (2)各々の前記N−チャンネルトランジスタが、セル
中の各々の他のN−チャンネルトランジスタの電流搬送
容量と異なる電流搬送容量を有する1項記載のCMOS
セル。 (3)前記P−チャンネルトランジスタが、最も大きい
電流搬送容量を有するN−チャンネルトランジスタの約
1/3の電流搬送容量を有する2項記載のCMOSセ
ル。
【0018】(4)1つの前記直列接続N−チャンネル
トランジスタが、前記N−チャンネルトランジスタの最
も大きいものの電流搬送容量の約60%の電流搬送容量
を有する2項記載のCMOSセル。 (5)1つの前記直列接続N−チャンネルトランジスタ
が、前記N−チャンネルトランジスタの最も大きいもの
の電流搬送容量の約20%の電流搬送容量を有する2項
記載のCMOSセル。 (6)ゲートアレイ中で使用される複数個の一部配線さ
れたトランジスタを含むCMOSベースセルにおいて、
第1のノードが第1および第2のN−チャンネルトラン
ジスタ間に形成され、第2のノードが第2および第3の
N−チャンネルトランジスタ間に形成され、各々の前記
N−チャンネルトランジスタの電流搬送容量が各々の他
のN−チャンネルトランジスタの電流搬送容量と異なっ
ている、3つの直列接続N−チャンネルトランジスタか
ら成る第1の複数個のN−チャンネルトランジスタ、第
3のノードが第1および第2のP−チャンネルトランジ
スタ間に形成され、前記P−チャンネルトランジスタの
電流搬送容量が実質的に等しい、2つの直列接続P−チ
ャンネルトランジスタから成る第1の複数個のP−チャ
ンネルトランジスタ、および1つの前記直列接続P−チ
ャンネルトランジスタのゲートを前記第2および第3の
P−チャンネルトランジスタのゲートに接続する第1の
接続装置を有するCMOSベースセル。
【0019】(7)1つの前記N−チャンネルトランジ
スタの電流搬送容量が、最も高い電流搬送容量を備えた
前記N−チャンネルトランジスタの電流搬送容量の約2
0%である6項記載のCMOSセル。 (8)1つの前記N−チャンネルトランジスタの電流搬
送容量が、最も高い電流搬送容量を備えた前記N−チャ
ンネルトランジスタの電流搬送容量の約60%である6
項記載のCMOSセル。 (9)前記P−チャンネルトランジスタの電流搬送容量
が、最も高い電流搬送容量を有する前記N−チャンネル
トランジスタの電流搬送容量の約1/3である6項記載
のCMOSセル。
【0020】(10)フリップフロップを形成するため
に第2の1項記載のCMOSセルと、前記第1および第
2のCMOSセルを相互接続する複数個の配線をさらに
有する1項記載のCMOSセル。 (11)CMOSゲートアレイ用ベースセルは全て直列
に接続された複数個のN−チャンネルトランジスタ1
0、12、14を備えている。複数個のP−チャンネル
トランジスタ16、18が直列に接続される。これらの
トランジスタは一部接続済みの回路を形成するためにト
ランジスタレベルで相互接続される。特に、2つのN−
チャンネルトランジスタ12、14のゲートがポリシリ
コンリード線28によってトランジスタ16のゲートに
接続される。この形状により、プログラム可能なアレイ
素子中のベースセルとして使用するに良く適した回路原
理を形成する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一部配線済みベースセルの概略図。
【図2】フリップフロップを形成するために2つのベー
スセルが共にどのように第1レベルの配線に接続される
かを示す図。
【図3】どこにプログラム可能な(第1レベル)配線が
位置するかを象徴的に示すとともに図2のフリップフロ
ップ用回路図を示す図。
【図4】図2に示す構造の完全な回路図。
【図5】図2に示す構造の他の回路図。
【符号の説明】
10、12、14 N−チャンネルトランジスタ 16、18 P−チャンネルトランジスタ 28 ポリシリコンリード線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 シバリング エス.マハント − シェッ ティ アメリカ合衆国テキサス州ダラス,オウデ リア ロード 13302,アパートメント ナンバー 221 (72)発明者 アール.クリシュナン インド国バンガロアー,ガンガナガー,フ ィフス メイン,ナンバー 7 (72)発明者 シー.ムタクリシュナン インド国バンガロアー,ガンガナガー,フ ォース メイン,ナンバー 15

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ゲートアレイ中で使用される複数個の一
    部配線されたトランジスタを含むCMOSベースセルに
    おいて、 第1のノードが第1および第2のN−チャンネルトラン
    ジスタ間に形成され、第2のノードが第2および第3の
    N−チャンネルトランジスタ間に形成されている3つの
    直列接続N−チャンネルトランジスタから成る第1の複
    数個のN−チャンネルトランジスタ、 第3のノードが第1および第2のP−チャンネルトラン
    ジスタ間に形成された、2つの直列接続P−チャンネル
    トランジスタから成る第1の複数個のP−チャンネルト
    ランジスタ、および1つの前記直列接続P−チャンネル
    トランジスタのゲートを前記第2および第3のP−チャ
    ンネルトランジスタのゲートに接続する第1の接続装置
    を有するCMOSベースセル。
JP8003410A 1995-04-28 1996-01-11 予め画定された接続パターンを備えたゲートアレイセル Pending JPH08306890A (ja)

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US08/431,233 US5502404A (en) 1995-04-28 1995-04-28 Gate array cell with predefined connection patterns

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