JPH08306890A - 予め画定された接続パターンを備えたゲートアレイセル - Google Patents
予め画定された接続パターンを備えたゲートアレイセルInfo
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- H03K19/1735—Controllable logic circuits by wiring, e.g. uncommitted logic arrays
Abstract
決する。 【解決手段】 CMOSゲートアレイ用ベースセルは全
て直列に接続された複数個のN−チャンネルトランジス
タ10、12、14を備えている。複数個のP−チャン
ネルトランジスタ16、18が直列に接続される。これ
らのトランジスタは一部接続済みの回路を形成するため
にトランジスタレベルで相互接続される。特に、2つの
N−チャンネルトランジスタ12、14のゲートがポリ
シリコンリード線28によってトランジスタ16のゲー
トに接続される。この形状により、プログラム可能なア
レイ素子中のベースセルとして使用するに良く適した回
路原理を形成する。
Description
分野に関し、特にマルチプレクサ機能を有する単一また
は複合論理回路の双方を作り出すための主要建築ブロッ
クとしての複数個の一部配線済み回路を有するセルの使
用に基づくアーキテクチャを持ったゲートアレイに関す
る。
ンジスタアレイの効率的レイアウトと共に発展してき
た。これは、一部にアレイ中に形成されるゲートの数に
起因し、そして一部にはアレイの有する入出力ピンの数
に起因している。回路が小形化して単一チップ上により
多くのゲートを収められることになると、プログラム可
能な金属層を使用した機能の開発要求が重要となった。
この方法は、記憶回路、デジタル信号処理回路、加算器
等の論理回路の開発に使用され、そしてNANDゲー
ト、AOIセル、インバータ、メモリセル等を形成する
ことの可能なトランジスタを有することに基づいてい
る。
に使用されるプログラム可能な金属は、かなりのスペー
スを必要とし、特に非常に高密度のチップにおいて、得
られた機能の密度の減少を発生させる。結果として、所
定のアレイの典型的配線不効率により、チップ上40%
のベースセルが最終的な回路形状中で使用できないこと
となる。単一ゲートアレイ中に所望の機能を作り上げる
ことができないため、その機能を得るために必要な範囲
を増加させることとなり、この技術を利用するためのコ
ストが増加し、配線できるはずのコンポーネントを捨て
ることとなる。
う1つの因子は、セル自身が、しばしば、きわめて自由
度のあると従来考えられていた2入力NAND回路を形
成することのできるトランジスタを有することに基づい
ているという事実である。しかしながら、逐次論理機能
およびデータ信号処理機能の調査により、そのような論
理においては高周波マルチプレクサ回路が存在し、そし
て配線経路チャンネルがすぐに使用され尽くしてしまう
ために、そのマルチプレクサは設計者の望む数だけ作る
ことがいくらか困難である事が分かっている。
よび先行技術のベースセルに係わる他の問題を解決し、
そして複数のN−型およびP−型トランジスタを使用す
るCMOSアレイベースセルである。少なくとも2つの
P−型トランジスタが、プログラム可能な配線による接
続に対してアクセス可能な接続点に相互に直列接続され
る。さらに、少なくとも3つのN−型トランジスタが、
プログラム可能な配線による接続に対してアクセス可能
な第2および第3のN−型トランジスタ間の接続点に相
互に直列接続される。1つのP−型トランジスタのゲー
トがポリシリコン中で第2および第3のN−型トランジ
スタのゲートに配線される。これらの相互接続トランジ
スタは、本発明のアレイセルを用いて形成できる論理機
能用の基本建築ブロックを形成する。トランジスタおよ
びそれらの相互接続の総数により、フリップフロップ回
路を含む種々の機能を作るために非常に有用な本発明の
ベースセルが形成される。
スセルの回路図が示されている。図1の回路は、複数個
の直列接続N−チャンネルトランジスタ10、12、1
4を含んでいる。図1の回路はまた、複数個の直列接続
P−チャンネルトランジスタ16、18を含んでいる。
トランジスタ10、12、14は20、22、24で示
すようにシリコン中で直列に接続されている。トランジ
スタ16、18は25、26で示すようにシリコン中で
直列に接続されている。25、26間の接続点は、代表
的にVCCとして示される外部電源に接続される回路位置
を構成する。また22、24間の接続点は、代表的にV
SSとして示される外部電源に接続される。さらに、図1
のベースセルはトランジスタのゲート16、14、12
を接続するポリシリコンリード線28を含んでいる。
んで示されており、1つのベースセルは線A−Aの左側
に配置され、第2のセルはその線の右側に配置されてい
る。これらのセルは非常に形状が似ており、多くの態様
において対称形となっている。これら2つのベースセル
は第1レベルの配線を用いてフリップフロップ形状に配
線される。第1レベルの配線は、トランジスタT5のゲ
ートをトランジスタT4のゲートに接続する線100の
シェーディングを有する。さらに、第1レベルの配線1
02はトランジスタT4aのゲートをトランジスタT5
aのゲートに接続するために設けられている。第1レベ
ルの配線104は、トランジスタT4とT5間の接合点
をトランジスタT4aとT5a間の接合点に接続するた
めに設けられる。この線104はトランジスタT4、T
5、T4aおよびT5aを供給電源VCCに接続する機構
を提供する。別の第1レベルの配線106はトランジス
タT2、T3、T2aおよびT3aを供給電源VSSに接
続する。
5のソース/ドレーンをポリシリコンリード線110に
結合するために設けられている。このリード線110は
第1レベルの配線112によってトランジスタT1とT
2間の接合点に接続される。類似の形状の第1レベルの
配線114はトランジスタT5aのソース/ドレーンを
ポリシリコンリード線116に結合するために設けられ
ている。このリード線116は第1レベルの配線118
によってトランジスタT1aとT2a間の接合点に接続
される。
ンジスタT5とT4間の接合点とトランジスタT1のソ
ース/ドレーン間の接続を提供する。類似の形状の第1
レベルの配線122はトランジスタT5aとT4a間の
接合点とトランジスタT1aのソース/ドレーン間の接
続を提供する。第1レベルの配線124は、トランジス
タT4のソース/ドレーン、トランジスタT3のソース
/ドレーン、トランジスタT1のゲート、およびトラン
ジスタT2a,T3a,T4aのゲートを共に接続する
ポリシリコンリード線126の接続を提供する。第1レ
ベルの配線128は、トランジスタT4aのソース/ド
レーン、トランジスタT3aのソース/ドレーン、トラ
ンジスタT1aのゲート、およびトランジスタT2,T
3,T4のゲートを共に接続するポリシリコンリード線
130の接続を提供する。
コンリード線が線幅約0.6乃至0.8ミクロンの範囲
である実際のサイズに比べて何倍も大きく拡大されてい
る。この大きさの形から、P−型トランジスタT4,T
5の幅が大体N−型トランジスタT1の幅に等しいと決
定できる。P−型トランジスタはN−型トランジスタと
同様に機能しないが、トランジスタT4,T5の電流ス
イッチング容量がそれぞれトランジスタT1の電流スイ
ッチング容量の約1/2であることが理解できよう。さ
らに、トランジスタT2は、最も高い電流搬送能力を有
するH−チャンネルトランジスタT1の約60%の電流
搬送容量を有することに注目できる。T3はさらにT2
よりも幅が小さく、T1の幅の約20%とT2の幅の約
35%である。したがって、T3はトランジスタT1の
約20%の電流搬送容量を有する。上に述べたトランジ
スタ間の特別なサイズ関係は図2の特定の設計のための
ものであって、設計の自由度は十分にある。当業者はト
ランジスタ間の他のサイズ関係も利用できることを認識
できるであろう。実際、全てのトランジスタの電流搬送
容量が同一であったらどうであろうか。しかしそれは、
トランジスタの電流搬送容量が上述の説明から変化する
とセルの物理的レイアウトが変更されねばならず、セル
の有用性に影響し、本発明のセルが配線される所望の形
状の数の中にセルを配線することが困難になる。
ルの配線によって形成される回路図を示す。
構成する。第1レベルの配線が第1レベルの配線100
の幅を有する線で示されている。ポリシリコン配線が、
ポリシリコンリード線130の幅を有する線で示されて
いる。図4および図2の対応する数のリード線は、物理
的位置を示す図2および回路図中の位置を示す図4中の
リード線と同一である。
発明のベースセルのいくつかの利点が図5の動作を述べ
ることで容易に理解できる。特に、入力における入力電
圧が低いと仮定する。これにより、点200と202の
電圧がそれぞれ高および低となる。この状態はトランジ
スタT1a,T5aがオフであり、トランジスタT2a
がオンとなる。この状態で、出力電圧は低い。入力電圧
が低から高に変わると、点200の電圧は高くなり、そ
の後にいくらか202の電圧が低下する。これにより、
トランジスタT1a,T5aがオンとなり、トランジス
タT2aがオフとなる。トランジスタT1aがN−チャ
ンネル素子であり、P−チャンネルトランジスタT5a
とおおよそ等しい物理的サイズであるので、それは出力
における電圧をVCCすなわちVCC−1ボルトに近いレベ
ルまで急激に上げることを可能とする。それ故、トラン
ジスタT5aは出力電圧をVCCに上げる。N−チャンネ
ルおよびP−チャンネルトランジスタ双方とも並列に動
作するので、出力電圧は、N−チャンネルトランジスタ
によって、急激に低レベルからその高レベル近くまで上
げられ、そしてP−チャンネルがより遅い速度で最終の
高レベルへの遷移を完了させる。この性能は、低から高
レベル電圧に遷移するときに出力における電圧を引き上
げるためにP−チャンネルトランジスタのみを使用する
よりもはるかに良い。
する時以下のように動作する。これが起こると、点20
0の電圧は高から低に行き、その後、点202の電圧が
幾分低から高に行く。これにより、トランジスタT1
a,T5aがオフとなり、トランジスタT2aがオンと
なる。これが起こると、トランジスタTa2は出力電圧
をほぼゼロボルトに落とす。トランジスタT2aがN−
チャンネル素子であり、N−チャンネル素子がこの仕事
に非常に適しているので、この電圧低下は急激であろ
う。
されフリップフロップを形成する作用について特別に説
明されたが、図1のベースセルの形状ははるかに自由度
を持っており、例えばNAND,NOR,AND,ミキ
サおよびバッファを含むいくつかの他のタイプの回路を
作るために利用できる。実際、図1の示すベースセル形
状が非常に大きな数の論理機能を達成するために容易に
形成でき、ベースセルを非常に有用なものにしているこ
とが示唆される。
いて特になされたが、当業者は、以上の実施例に加えて
本発明の精神から離れる事なく多くの変更が可能である
ことを容易に理解するであろう。
れたトランジスタを含むCMOSベースセルにおいて、
第1のノードが第1および第2のN−チャンネルトラン
ジスタ間に形成され、第2のノードが第2および第3の
N−チャンネルトランジスタ間に形成されている3つの
直列接続N−チャンネルトランジスタから成る第1の複
数個のN−チャンネルトランジスタ、第3のノードが第
1および第2のP−チャンネルトランジスタ間に形成さ
れた、2つの直列接続P−チャンネルトランジスタから
成る第1の複数個のP−チャンネルトランジスタ、およ
び1つの前記直列接続P−チャンネルトランジスタのゲ
ートを前記第2および第3のP−チャンネルトランジス
タのゲートに接続する第1の接続装置を有するCMOS
ベースセル。 (2)各々の前記N−チャンネルトランジスタが、セル
中の各々の他のN−チャンネルトランジスタの電流搬送
容量と異なる電流搬送容量を有する1項記載のCMOS
セル。 (3)前記P−チャンネルトランジスタが、最も大きい
電流搬送容量を有するN−チャンネルトランジスタの約
1/3の電流搬送容量を有する2項記載のCMOSセ
ル。
トランジスタが、前記N−チャンネルトランジスタの最
も大きいものの電流搬送容量の約60%の電流搬送容量
を有する2項記載のCMOSセル。 (5)1つの前記直列接続N−チャンネルトランジスタ
が、前記N−チャンネルトランジスタの最も大きいもの
の電流搬送容量の約20%の電流搬送容量を有する2項
記載のCMOSセル。 (6)ゲートアレイ中で使用される複数個の一部配線さ
れたトランジスタを含むCMOSベースセルにおいて、
第1のノードが第1および第2のN−チャンネルトラン
ジスタ間に形成され、第2のノードが第2および第3の
N−チャンネルトランジスタ間に形成され、各々の前記
N−チャンネルトランジスタの電流搬送容量が各々の他
のN−チャンネルトランジスタの電流搬送容量と異なっ
ている、3つの直列接続N−チャンネルトランジスタか
ら成る第1の複数個のN−チャンネルトランジスタ、第
3のノードが第1および第2のP−チャンネルトランジ
スタ間に形成され、前記P−チャンネルトランジスタの
電流搬送容量が実質的に等しい、2つの直列接続P−チ
ャンネルトランジスタから成る第1の複数個のP−チャ
ンネルトランジスタ、および1つの前記直列接続P−チ
ャンネルトランジスタのゲートを前記第2および第3の
P−チャンネルトランジスタのゲートに接続する第1の
接続装置を有するCMOSベースセル。
スタの電流搬送容量が、最も高い電流搬送容量を備えた
前記N−チャンネルトランジスタの電流搬送容量の約2
0%である6項記載のCMOSセル。 (8)1つの前記N−チャンネルトランジスタの電流搬
送容量が、最も高い電流搬送容量を備えた前記N−チャ
ンネルトランジスタの電流搬送容量の約60%である6
項記載のCMOSセル。 (9)前記P−チャンネルトランジスタの電流搬送容量
が、最も高い電流搬送容量を有する前記N−チャンネル
トランジスタの電流搬送容量の約1/3である6項記載
のCMOSセル。
に第2の1項記載のCMOSセルと、前記第1および第
2のCMOSセルを相互接続する複数個の配線をさらに
有する1項記載のCMOSセル。 (11)CMOSゲートアレイ用ベースセルは全て直列
に接続された複数個のN−チャンネルトランジスタ1
0、12、14を備えている。複数個のP−チャンネル
トランジスタ16、18が直列に接続される。これらの
トランジスタは一部接続済みの回路を形成するためにト
ランジスタレベルで相互接続される。特に、2つのN−
チャンネルトランジスタ12、14のゲートがポリシリ
コンリード線28によってトランジスタ16のゲートに
接続される。この形状により、プログラム可能なアレイ
素子中のベースセルとして使用するに良く適した回路原
理を形成する。
スセルが共にどのように第1レベルの配線に接続される
かを示す図。
位置するかを象徴的に示すとともに図2のフリップフロ
ップ用回路図を示す図。
Claims (1)
- 【請求項1】 ゲートアレイ中で使用される複数個の一
部配線されたトランジスタを含むCMOSベースセルに
おいて、 第1のノードが第1および第2のN−チャンネルトラン
ジスタ間に形成され、第2のノードが第2および第3の
N−チャンネルトランジスタ間に形成されている3つの
直列接続N−チャンネルトランジスタから成る第1の複
数個のN−チャンネルトランジスタ、 第3のノードが第1および第2のP−チャンネルトラン
ジスタ間に形成された、2つの直列接続P−チャンネル
トランジスタから成る第1の複数個のP−チャンネルト
ランジスタ、および1つの前記直列接続P−チャンネル
トランジスタのゲートを前記第2および第3のP−チャ
ンネルトランジスタのゲートに接続する第1の接続装置
を有するCMOSベースセル。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JPH0831578B2 (ja) * | 1986-06-19 | 1996-03-27 | 日本電気株式会社 | マスタ−スライス方式のゲ−トアレ−半導体集積回路装置 |
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- 1996-01-11 JP JP8003410A patent/JPH08306890A/ja active Pending
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