JPH08306574A - 積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法 - Google Patents
積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法Info
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- JPH08306574A JPH08306574A JP7105494A JP10549495A JPH08306574A JP H08306574 A JPH08306574 A JP H08306574A JP 7105494 A JP7105494 A JP 7105494A JP 10549495 A JP10549495 A JP 10549495A JP H08306574 A JPH08306574 A JP H08306574A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 絶縁抵抗が信頼性試験後も劣化する事なく、
長寿命で高信頼性をもつ積層セラミックコンデンサを提
供することを目的とする。 【構成】 積層セラミックコンデンサに直流電圧を印加
した後、極性を反転させた直流電圧を前記積層セラミッ
クコンデンサに印加し、この時に流れる一定時間後の漏
洩電流または一定時間後の絶縁抵抗を規制し選別するこ
とにより、信頼性試験でも絶縁抵抗が劣化せず、長寿命
で高信頼性をもつ積層セラミックコンデンサを提供する
ことができる。
長寿命で高信頼性をもつ積層セラミックコンデンサを提
供することを目的とする。 【構成】 積層セラミックコンデンサに直流電圧を印加
した後、極性を反転させた直流電圧を前記積層セラミッ
クコンデンサに印加し、この時に流れる一定時間後の漏
洩電流または一定時間後の絶縁抵抗を規制し選別するこ
とにより、信頼性試験でも絶縁抵抗が劣化せず、長寿命
で高信頼性をもつ積層セラミックコンデンサを提供する
ことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は絶縁抵抗の信頼性を保証
する積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法に
関するものである。
する積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来積層セラミックコンデンサの絶縁抵
抗の信頼性を保証するためのスクリーニング方法として
は、定格電圧を超える直流電流を、電圧の極性を変える
事なく数回にわたって積層セラミックコンデンサに印加
し、誘電体の欠陥部分を破壊させ、絶縁抵抗が劣化した
ものを取り除く耐圧試験法や、直流電圧の極性を変える
事なく数回にわたって電圧を印加したのち、一定時間後
の絶縁抵抗を測定し基準値まで達しないものを取り除く
絶縁抵抗測定試験法などがあった。このようなスクリー
ニング方法で、積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗の
信頼性を保証していた。
抗の信頼性を保証するためのスクリーニング方法として
は、定格電圧を超える直流電流を、電圧の極性を変える
事なく数回にわたって積層セラミックコンデンサに印加
し、誘電体の欠陥部分を破壊させ、絶縁抵抗が劣化した
ものを取り除く耐圧試験法や、直流電圧の極性を変える
事なく数回にわたって電圧を印加したのち、一定時間後
の絶縁抵抗を測定し基準値まで達しないものを取り除く
絶縁抵抗測定試験法などがあった。このようなスクリー
ニング方法で、積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗の
信頼性を保証していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら電子部品
のよりいっそうの絶縁抵抗の信頼性向上が求められてい
る中、このような従来のスクリーニング方法で良品判定
した積層セラミックコンデンサに、高温多湿の環境下で
定格電圧を超える電圧を印加し、加速的信頼性試験を行
った場合、長時間経過後に絶縁抵抗が劣化するものが発
生するという問題点があった。本発明は上記従来の問題
点を解決するもので、絶縁抵抗が信頼性試験後も劣化す
る事なく、長寿命で高信頼性をもつ積層セラミックコン
デンサを提供することを目的とするものである。
のよりいっそうの絶縁抵抗の信頼性向上が求められてい
る中、このような従来のスクリーニング方法で良品判定
した積層セラミックコンデンサに、高温多湿の環境下で
定格電圧を超える電圧を印加し、加速的信頼性試験を行
った場合、長時間経過後に絶縁抵抗が劣化するものが発
生するという問題点があった。本発明は上記従来の問題
点を解決するもので、絶縁抵抗が信頼性試験後も劣化す
る事なく、長寿命で高信頼性をもつ積層セラミックコン
デンサを提供することを目的とするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の積層セラミックコンデンサのスクリーニング
方法は、積層セラミックコンデンサに一回目の直流電流
を印加し、次にこの積層セラミックコンデンサを熱処理
して分極状態を解消させ、次いで一回目とは極性を反転
させて２回目の直流電流を印加して一定時間後の漏洩電
流値を測定し、この漏洩電流値がある一定の値を超えた
ものを除去するものである。
に本発明の積層セラミックコンデンサのスクリーニング
方法は、積層セラミックコンデンサに一回目の直流電流
を印加し、次にこの積層セラミックコンデンサを熱処理
して分極状態を解消させ、次いで一回目とは極性を反転
させて２回目の直流電流を印加して一定時間後の漏洩電
流値を測定し、この漏洩電流値がある一定の値を超えた
ものを除去するものである。
【０００５】
【作用】上記方法によると、積層セラミックコンデンサ
の対向する電極間の誘電体に欠陥部が存在する場合、直
流電圧を印加するとその欠陥部が分極される。次に極性
のない状態に戻してから、前回とは極性を反転させた直
流電圧を前記積層セラミックコンデンサに印加すると、
分極された欠陥部により大きな漏洩電流が流れる。その
積層セラミックコンデンサを信頼性試験すると絶縁抵抗
が劣化する。このようなことから、上記方法によると絶
縁抵抗が劣化することなく、高寿命で高信頼性を有する
積層セラミックコンデンサを提供することができる。
の対向する電極間の誘電体に欠陥部が存在する場合、直
流電圧を印加するとその欠陥部が分極される。次に極性
のない状態に戻してから、前回とは極性を反転させた直
流電圧を前記積層セラミックコンデンサに印加すると、
分極された欠陥部により大きな漏洩電流が流れる。その
積層セラミックコンデンサを信頼性試験すると絶縁抵抗
が劣化する。このようなことから、上記方法によると絶
縁抵抗が劣化することなく、高寿命で高信頼性を有する
積層セラミックコンデンサを提供することができる。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して詳
述する。（表１）は積層セラミックコンデンサに定格の
直流電圧（５０Ｖ）を印加してから１分後の漏洩電流値
と絶縁抵抗値と、その絶縁抵抗値より判定した良否結果
と、８５℃、８５％で２００Ｖの電圧を印加して行った
信頼性試験結果を示す。
述する。（表１）は積層セラミックコンデンサに定格の
直流電圧（５０Ｖ）を印加してから１分後の漏洩電流値
と絶縁抵抗値と、その絶縁抵抗値より判定した良否結果
と、８５℃、８５％で２００Ｖの電圧を印加して行った
信頼性試験結果を示す。
【０００７】
【表１】
【０００８】電圧印加は同一の積層セラミックコンデン
サに対して２回行い、２回目に印加する直流電圧の極性
は、１回目に印加した直流電圧の極性を反転させてい
る。また２回目の電圧を印加する前に、放電させて、１
４０℃で６０分間熱処理して無極性状態にしている。
（表２）は積層セラミックコンデンサに定格の直流電圧
（５０Ｖ）を印加してから１分後の漏洩電流値と絶縁抵
抗値と、その絶縁抵抗値より判定した良否結果と、前と
同様の信頼性試験を行った結果を示す。
サに対して２回行い、２回目に印加する直流電圧の極性
は、１回目に印加した直流電圧の極性を反転させてい
る。また２回目の電圧を印加する前に、放電させて、１
４０℃で６０分間熱処理して無極性状態にしている。
（表２）は積層セラミックコンデンサに定格の直流電圧
（５０Ｖ）を印加してから１分後の漏洩電流値と絶縁抵
抗値と、その絶縁抵抗値より判定した良否結果と、前と
同様の信頼性試験を行った結果を示す。
【０００９】
【表２】
【００１０】電圧印加は同一の積層セラミックコンデン
サに対して２回行い１回目と２回目の印加電圧の極性は
同一方向である。
サに対して２回行い１回目と２回目の印加電圧の極性は
同一方向である。
【００１１】尚絶縁抵抗の良否判定は１０10Ωをもって
行い、不良品＜１０10Ω≦良品とする。また漏洩電流に
よる良否判定は、印加電圧が５０Ｖであるのでオームの
法則より、良品≦５ｎＡ＜不良品とする。
行い、不良品＜１０10Ω≦良品とする。また漏洩電流に
よる良否判定は、印加電圧が５０Ｖであるのでオームの
法則より、良品≦５ｎＡ＜不良品とする。
【００１２】（表１）によると、１回目の直流電圧印加
後の漏洩電流値は、全て５．００ｎＡ以下で、絶縁抵抗
値は１×１０10Ω以上で良品と判定され、２回目の直流
電圧印加後の漏洩電流値と絶縁抵抗値を見ると、Ｎｏ７
の試料のみ不良品で、その他の９ケは良品と判定され
た。更に信頼性試験を実施したところ、１０００ｈｒ後
の絶縁抵抗は不良品Ｎｏ７の試料のみ劣化しその他の良
品９ケは劣化しなかった。
後の漏洩電流値は、全て５．００ｎＡ以下で、絶縁抵抗
値は１×１０10Ω以上で良品と判定され、２回目の直流
電圧印加後の漏洩電流値と絶縁抵抗値を見ると、Ｎｏ７
の試料のみ不良品で、その他の９ケは良品と判定され
た。更に信頼性試験を実施したところ、１０００ｈｒ後
の絶縁抵抗は不良品Ｎｏ７の試料のみ劣化しその他の良
品９ケは劣化しなかった。
【００１３】（表２）によると、１回目および２回目の
直流電圧印加後の漏洩電流値は、全て５．００ｎＡ以下
で、絶縁抵抗値が１×１０10Ω以上で良品と判定された
が、信頼性試験を実施したところ、１０００ｈｒ後の絶
縁抵抗はＮｏ５の試料のみ劣化しその他の９ケは劣化し
なかった。
直流電圧印加後の漏洩電流値は、全て５．００ｎＡ以下
で、絶縁抵抗値が１×１０10Ω以上で良品と判定された
が、信頼性試験を実施したところ、１０００ｈｒ後の絶
縁抵抗はＮｏ５の試料のみ劣化しその他の９ケは劣化し
なかった。
【００１４】従って本実施例においては、２回目に印加
する直流電圧の極性を、１回目に印加する直流電圧の極
性と反転させ選別した場合、積層セラミックコンデンサ
は信頼性試験１０００時間後でも絶縁抵抗が劣化するこ
とはない。
する直流電圧の極性を、１回目に印加する直流電圧の極
性と反転させ選別した場合、積層セラミックコンデンサ
は信頼性試験１０００時間後でも絶縁抵抗が劣化するこ
とはない。
【００１５】即ち長寿命で、高信頼性の絶縁抵抗を保証
することが可能である。また１回目の電圧印加を行う前
に、積層セラミックコンデンサを放電させ、エージング
して電荷のない状態にすることにより、さらにスクリー
ニングの精度が向上する。
することが可能である。また１回目の電圧印加を行う前
に、積層セラミックコンデンサを放電させ、エージング
して電荷のない状態にすることにより、さらにスクリー
ニングの精度が向上する。
【００１６】
【発明の効果】以上本発明によれば、信頼性試験でも絶
縁抵抗が劣化せず、長寿命で高信頼性をもつ積層セラミ
ックコンデンサを提供することができる。
縁抵抗が劣化せず、長寿命で高信頼性をもつ積層セラミ
ックコンデンサを提供することができる。
Claims (4)
- 【請求項１】 積層セラミックコンデンサに一回目の直
流電流を印加し、次にこの積層セラミックコンデンサを
熱処理して分極状態を解消させ、次いで一回目とは極性
を反転させて２回目の直流電流を印加して一定時間後の
漏洩電流値を測定し、この漏洩電流値がある一定の値を
超えたものを除去する積層セラミックコンデンサのスク
リーニング方法。 - 【請求項２】 放電させて、エージングした後に一回目
の直流電流を印加する請求項１に記載の積層セラミック
コンデンサのスクリーニング方法。 - 【請求項３】 積層セラミックコンデンサに一回目の直
流電流を印加し、次にこの積層セラミックコンデンサを
熱処理して分極状態を解消させ、次いで一回目とは極性
を反転させて２回目の直流電流を印加して一定時間後の
絶縁抵抗を測定し、この絶縁抵抗がある一定の値に達し
ないものを除去する積層セラミックコンデンサのスクリ
ーニング方法。 - 【請求項４】 放電させて、エージングした後に一回目
の直流電流を印加する請求項３に記載の積層セラミック
コンデンサのスクリーニング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10549495A JP3196565B2 (ja) | 1995-04-28 | 1995-04-28 | 積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10549495A JP3196565B2 (ja) | 1995-04-28 | 1995-04-28 | 積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08306574A true JPH08306574A (ja) | 1996-11-22 |
| JP3196565B2 JP3196565B2 (ja) | 2001-08-06 |
Family
ID=14409159
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10549495A Expired - Lifetime JP3196565B2 (ja) | 1995-04-28 | 1995-04-28 | 積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3196565B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000046820A1 (fr) * | 1999-02-04 | 2000-08-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Procede d'inspection de condensateurs ceramiques lamines |
| GB2382720A (en) * | 2001-08-22 | 2003-06-04 | Murata Manufacturing Co | Method of processing a ceramic capacitor |
-
1995
- 1995-04-28 JP JP10549495A patent/JP3196565B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000046820A1 (fr) * | 1999-02-04 | 2000-08-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Procede d'inspection de condensateurs ceramiques lamines |
| US6437579B1 (en) | 1999-02-04 | 2002-08-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Screening method for a multi-layered ceramic capacitor |
| GB2382720A (en) * | 2001-08-22 | 2003-06-04 | Murata Manufacturing Co | Method of processing a ceramic capacitor |
| GB2382720B (en) * | 2001-08-22 | 2004-04-21 | Murata Manufacturing Co | Method of processing a ceramic capicitor |
| KR100463583B1 (ko) * | 2001-08-22 | 2004-12-29 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 세라믹 커패시터의 처리 방법 |
| CN100414654C (zh) * | 2001-08-22 | 2008-08-27 | 株式会社村田制作所 | 处理陶瓷电容器的方法 |
| US7540885B2 (en) | 2001-08-22 | 2009-06-02 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method of processing a ceramic capacitor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3196565B2 (ja) | 2001-08-06 |
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