JPH0830488A - プログラムのテスト方法およびテストカバレージ分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 Ｃ０メジャやＣ１メジャ以外のテスト網ら基
準に対してもテストの網ら度を計測できるプログラムの
テスト方法および装置を提供する。 【構成】 制御フローグラフで表示された被テストプロ
グラム（３０１）に対して領域（３１２，３１３，３１
４）を設定し、各領域（３１２，３１３，３１４）に対
してテスト網ら基準（３０２，３０３，３０４）を設定
する。また、領域（３１２，３１３，３１４）中のルー
プ繰返し部分に対して許容最大繰返し数を設定する（３
０８）。許容最大繰返し数をループ繰返し条件として被
テストプログラムをテスト実行し、その結果により前記
領域ごとに設定されたテスト網ら基準に対するテストの
網ら度を計測する。 【効果】 テスト作業を効率化でき、プログラムの信頼
性を向上できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プログラムのテスト方
法およびテストカバレージ分析装置に関し、さらに詳し
くは、全文網ら基準（Ｃ０メジャ）や全分岐網ら基準
（Ｃ１メジャ）だけでなく，他のテスト網ら基準に対し
てもテストの網ら度（カバレージ）を計測することが出
来るプログラムのテスト方法およびテストカバレージ分
析装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】「ソフトウェアのテスト技法５ テステ
ィング・ツール（2）;ｂｉｔ,Vol.18，Ｎo.10」におい
て、テスト網ら基準がどの程度達成されたかを示す指標
であるテストの網ら度（テストカバレージ）を計測する
テストカバレージ分析ツールおよびその計測結果を出力
するテストカバレージレポータが記載されている。上記
テストカバレージ分析ツールは、特別な命令コードを被
テストプログラムに挿入し、いくつかのテストデータを
用いて被テストプログラムをテスト実行し、例えば各ス
テートメントの実行回数をカウントし、被テストプログ
ラムの全ステートメントの何％が実行されたかを計測す
る（これは、テスト網ら基準として知られている全文網
ら基準（Ｃ０メジャ）がどの程度達成されたかを示す指
標であるため、Ｃ０カバレージと言われる）。また、例
えば各パスの実行回数をカウントし、被テストプログラ
ムの全パスの何％が実行されたかを計測する（これは、
テスト網ら基準として知られている全分岐網ら基準（Ｃ
１メジャ）がどの程度達成されたかを示す指標であるた
め、Ｃ１カバレージと言われる）。上記テストカバレー
ジレポータは、各テストデータに対する計測結果を集計
し、テストカバレージのレポートを編集して出力する。
また、テストの網ら度（カバレージ）が低すぎる場合に
は、テストデータを作成し直すのを支援するレポートを
出力する。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】テスト網ら基準につい
ては、例えば「ソフトウェアのテスト技法；情報処理，
Vol.24，No.7（pp.842-852）」に記載されており、上記
全文網ら基準（Ｃ０メジャ）や全分岐網ら基準（Ｃ１メ
ジャ）の外に、ループ繰返し数を含む基準などのテスト
網ら基準が知られている。しかし、前記「ソフトウェア
のテスト技法５ テスティング・ツール（2）；ｂｉｔ,V
ol.18，No.10」にも記載されているが、従来、実用化さ
れているテストカバレージ分析ツールは、全文網ら基準
（Ｃ０メジャ）に対応するＣ０カバレージおよび全分岐
網ら基準（Ｃ１メジャ）に対応するＣ１カバレージを計
測するだけであり、他のテスト網ら基準に対応するテス
トの網ら度（カバレージ）は計測できない問題点があ
る。また、被テストプログラムがループ繰返しを含む場
合は、実行可能なパスが膨大になり、テスト網ら基準に
よっては、合理的な時間内でテスト実行できない問題点
がある。そこで、本発明の第１の目的は、全文網ら基準
（Ｃ０メジャ）や全分岐網ら基準（Ｃ１メジャ）だけで
なく、他のテスト網ら基準に対してもテストの網ら度
（カバレージ）を計測できるプログラムのテスト方法お
よびテストカバレージ分析装置を提供することにある。
また、本発明の第２の目的は、被テストプログラムがル
ープ繰返しを含む場合でも、合理的な時間内で被テスト
プログラムをテスト実行できるプログラムのテスト方法
およびテストカバレージ分析装置を提供することにあ
る。

【０００４】

【課題を解決するための手段】第１の観点では、本発明
は、選定されたテスト網ら基準がどの程度達成されたか
を示す指標であるテストの網ら度（テストカバレージ）
を計測するプログラムのテスト方法において、被テスト
プログラムの部分または全体からなる１つ又は複数の領
域および各領域に対するテスト網ら基準を設定するテス
ト網ら基準設定ステップと、所定のテストデータを用い
て被テストプログラムをテスト実行するテスト実行ステ
ップと、前記テスト実行の結果により前記領域ごとに設
定されたテスト網ら基準に対するテストの網ら度を計測
する計測ステップとを有することを特徴とするプログラ
ムのテスト方法を提供する。

【０００５】第２の観点では、本発明は、上記構成のプ
ログラムのテスト方法において、前記テスト網ら基準設
定ステップが、被テストプログラムを図形式で表示し、
その図形式の表示上で領域を利用者が指定するのを受け
付け、利用者の指定に基づいて領域を設定することを特
徴とするプログラムのテスト方法を提供する。

【０００６】第３の観点では、本発明は、上記構成のプ
ログラムのテスト方法において、前記テスト網ら基準設
定ステップが、領域中のループ繰返し部分を抽出し、抽
出したループ繰返し部分に対して一律の又は個別の許容
最大繰返し数を利用者が指定するのを受け付けて登録
し、前記テスト実行ステップが、登録した許容最大繰返
し数をループ繰返し条件として被テストプログラムをテ
スト実行することを特徴とするプログラムのテスト方法
を提供する。

【０００７】第４の観点では、本発明は、選定されたテ
スト網ら基準がどの程度達成されたかを示す指標である
テストの網ら度（テストカバレージ）を計測するテスト
カバレージ分析装置において、被テストプログラムの部
分または全体からなる１つ又は複数の領域および各領域
に対するテスト網ら基準を設定するテスト網ら基準設定
手段と、所定のテストデータを用いて被テストプログラ
ムをテスト実行するテスト実行手段と、前記テスト実行
の結果により前記領域ごとに設定されたテスト網ら基準
に対するテストの網ら度を計測する計測手段とを有する
ことを特徴とするテストカバレージ分析装置を提供す
る。

【０００８】第５の観点では、本発明は、上記構成のテ
ストカバレージ分析装置において、前記テスト網ら基準
設定手段は、被テストプログラムを図形式で表示し、そ
の図形式の表示上で領域を利用者が指定するのを受け付
け、利用者の指定に基づいて領域を設定することを特徴
とするテストカバレージ分析装置を提供する。

【０００９】第６の観点では、本発明は、上記構成のテ
ストカバレージ分析装置において、前記テスト網ら基準
設定手段が、領域中のループ繰返し部分を抽出し、抽出
したループ繰返し部分に対して一律の又は個別の許容最
大繰返し数を利用者が指定するのを受け付けて登録し、
前記テスト実行手段は、登録した許容最大繰返し数をル
ープ繰返し条件として被テストプログラムをテスト実行
することを特徴とするテストカバレージ分析装置を提供
する。

【００１０】

【作用】上記第１の観点によるプログラムのテスト方法
および上記第４の観点によるテストカバレージ分析装置
では、被テストプログラムの所望の部分に領域を設定
し、その限られた領域においてテストの網ら度を計測す
る。このため、計測と網ら度の計算量が軽減され、全文
網ら基準（Ｃ０メジャ）や全分岐網ら基準（Ｃ１メジ
ャ）以外の複雑で厳密なテスト網ら基準を採用できるよ
うになる。

【００１１】上記第２の観点によるプログラムのテスト
方法および上記第５の観点によるテストカバレージ分析
装置では、被テストプログラムを図形式で表示し、その
図形式の表示上で領域を利用者が指定するのを受け付け
る。このため、利用者は、被テストプログラムの構造を
容易に視認でき、的確に領域を指定できるようになる。
なお、上記図形式として、被テストプログラムの制御構
造を示す有向グラフである制御フローグラフの図形式で
被テストプログラムを表現すると、被テストプログラム
の制御構造を容易に視認できるので、好ましい。また、
上記図形式として、被テストプログラムの階層構造を示
すツリーの図形式で被テストプログラムを表現すると、
被テストプログラムの階層構造を容易に視認できるの
で、好ましい。

【００１２】上記第３の観点によるプログラムのテスト
方法および上記第６の観点によるテストカバレージ分析
装置では、ループ繰返し部分に対して許容最大繰返し数
を利用者が指定するのを受け付け、その許容最大繰返し
数をループ繰返し条件として被テストプログラムをテス
ト実行する。このため、被テストプログラムがループ繰
返しを含む場合でも、合理的な時間内で被テストプログ
ラムをテスト実行できるようになる。

【００１３】

【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例により詳細
に説明する。なお、これにより本発明が限定されるもの
ではない。図１は、本発明の一実施例のテストカバレー
ジ分析装置の構成図である。このテストカバレージ分析
装置１００は、処理装置１０１と、入出力装置１０２
と、被テストプログラムを記憶する被テストプログラム
記憶装置１０３と、テストデータを記憶するテストデー
タ記憶装置１０４と、計測したテストの網ら度などを記
憶する計測結果記憶装置１０５とを具備している。処理
装置１０１は、テスト網ら基準設定部１０７と、テスト
実行部１０８と、計測部１０９と、計測結果表示部１１
０と、これら各部および前記入出力装置１０２および前
記記憶装置１０３，１０４，１０５を統合管理する全体
制御部１０６とを有している。

【００１４】図２は、上記テストカバレージ分析装置１
００の動作の流れを示す概念図である。テスト網ら基準
設定部１０７は、被テストプログラム記憶装置１０３か
ら被テストプログラムを読み込み、その被テストプログ
ラムの制御構造を示す有向グラフである制御フローグラ
フの図形式で被テストプログラムを表現し、入出力装置
１０２に表示する。図３に、制御フローグラフの図形式
で表示された被テストプログラム３０１を示す。

【００１５】利用者は、入出力装置１０２を用いて、表
示された図形式上で、被テストプログラムの所望部分に
領域を指定し、その領域に対してテスト網ら基準を指定
する。例えば、 (１)Ｃ０メジャ (２)Ｃ１メジャ (３)ループ条件ｎ回 (４)ループ条件ｎ回の全パス (５)個別ループ条件 (６)個別ループ条件付きの全パス などを指定する。上記(３)(４)の場合、利用者は、入出
力装置１０２を用いて、領域に含まれる全ループに対し
て一律の許容最大繰返し数ｎを指定する。上記(５)(６)
の場合、利用者は、入出力装置１０２を用いて、領域に
含まれる各ループに対して個々に許容最大繰返し数を指
定する。利用者は、同一の部分に複数の領域を重複指定
してもよいし、一つの領域に複数のテスト網ら基準を指
定してもよい。

【００１６】図４に、被テストプログラム３０１に対し
て設定された領域Ａ３１２，領域Ｂ３１３，領域Ｃ３１
４を例示する。また、各領域３１２，３１３，３１４に
対して設定されたテスト網ら基準３０２，３０３，３０
４を例示する。領域Ｂ３１３では、“ループ条件２回の
全パス”および“個別ループ条件”が指定されているの
で、一律の許容最大繰返し数ｎ＝２および個々のループ
（loop#1，loop#2，loop#3）のそれぞれの許容最大繰返
し数（ウインドウ３０８）が指定されている。なお、許
容最大繰返し数“０”は、全くループしないことを意味
する。

【００１７】テスト網ら基準設定部１０７は、利用者の
指定を受け付け、それに応じて領域とテスト網ら基準と
を設定すると共に、ループ条件に関連するテスト網ら基
準についてはループと許容最大繰返し数とを登録する。

【００１８】上記テスト網ら基準に対するテストの網ら
度（テストカバレージ）は次のものである。 ［１］“Ｃ０メジャ”に対するテストの網ら度 被テストプログラムの全ステートメントの何％が実行さ
れたか（Ｃ０カバレージ）。 ［２］“Ｃ１メジャ”に対するテストの網ら度 被テストプログラムの全パスの何％が実行されたか（Ｃ
１カバレージ）。 ［３］“ループ条件ｎ回”に対するテストの網ら度 被テストプログラムのループ繰返し部分において０回か
らｎ回までの繰返しを許す場合に、実行可能なループ繰
返しのうち何％が実行されたか。 ［４］“ループ条件ｎ回の全パス”に対するテストの網
ら度 被テストプログラムのループ繰返し部分において０回か
らｎ回までの繰返しを許す場合に、実行可能なパスのう
ち何％が実行されたか。 ［５］“個別ループ条件”に対するテストの網ら度 被テストプログラムの各ループ繰返し部分において０回
からそれぞれに指定された繰返し数までの繰返しを許す
場合に、実行可能なループ繰返しのうち何％が実行され
たか。 ［６］“個別ループ条件付きの全パス”に対するテスト
の網ら度 被テストプログラムの各ループ繰返し部分において０回
からそれぞれに指定された繰返し数までの繰返しを許す
場合に、実行可能なパスのうち何％が実行されたか。

【００１９】上記［３］と［４］とを具体的に説明す
る。例えば、図５に示すような被テストプログラムに対
しテスト実行を行なった結果、 ａ→ｂ→ｄ→ｅ→ｇ ａ→ｂ→ｃ→ｂ→ｄ→ｅ→ｆ→ｅ→ｇ の２つのパスが実行されたとする。また、ループ繰返し
部分において０回から１回までの繰返しを許すとする
（ｎ＝１）。上記［３］のテストの網ら度は、loop#1
（４０１）とloop#2（４０２）でそれぞれ実行可能な０
回と１回のループ繰返しを全て実行している（のパス
で０回のループ繰返し，のパスで１回のループ繰返
し）から、１００％となる。上記［４］のテストの網ら
度は、のパスの外に、 ａ→ｂ→ｃ→ｂ→ｄ→ｅ→ｇ ａ→ｂ→ｄ→ｅ→ｆ→ｅ→ｇ の２つのパスがあり、これらは実行されていないから、
５０％となる。上記［５］と［６］とのテストの網ら度
も同様である。

【００２０】図２に戻り、テスト網ら基準設定部１０７
により、領域とテスト網ら基準が設定され、ループと許
容最大繰返し数が登録され終わると、テスト実行部１０
８および計測部１０９が起動される。図６は、テスト実
行部１０８および計測部１０９によるテスト実行および
計測処理を示すフローチャートである。ステップ５０１
では、被テストプログラムに設定された領域およびそれ
ら領域に設定されたテスト網ら基準を読み込む。また、
各テスト網ら基準に従ったカウンタの設定などを行う。
ステップ５０２では、実行可能な全パスを知る必要があ
るテスト網ら基準の場合（例えば、上記［３］〜［６］
の場合）、それを計算する。なお、上限パス数を予め設
定しておき、その上限パス数を超えたら計算を止めて、
その旨を利用者に通知する。これは、全てのループ繰返
しを有限回に限定しても合理的な時間内で全パスの計算
が終わらない場合があるので、これに対処するためであ
る。

【００２１】ステップ５０３では、テストデータ記憶装
置１０４から１組のテストデータ２０４を読み込む。ス
テップ５０４では、テストデータ記憶装置１０４からテ
ストデータを読み込んで、通常のデバッガやシミュレー
タにより、被テストプログラムをテスト実行する。そし
て、テスト実行パスを計測する。ステップ５０５では、
計測したテスト実行パスを基に、設定されたテスト網ら
基準に応じた分析データを取得する。分析データは次の
ものである。 ｛１｝“Ｃ０メジャ”の場合の分析データ 領域中のステートメントごとの実行回数。 ｛２｝“Ｃ１メジャ”の場合の分析データ 領域中のパスごとの実行回数。 ｛３｝“ループ条件ｎ回”の場合の分析データ 領域中の各ループ繰返しの実行回数（０回からｎ回まで
に限る）。 ｛４｝“ループ条件ｎ回の全パス”の場合の分析データ 領域中の各ループ繰返しの実行回数を０回からｎ回まで
に限定したときの実行可能なパスごとの実行回数。 ｛５｝“個別ループ条件”の場合の分析データ 領域中の各ループ繰返しの実行回数（０回から登録され
た最大許容繰返し数回までに限る）。 ｛６｝“個別ループ条件付きの全パス”の場合の分析デ
ータ 領域中の各ループ繰返しの実行回数を０回から登録され
た最大許容繰返し数回までに限定したときの実行可能な
パスごとの実行回数。ステップ５０６では、テストデー
タが無くなるまで、上記ステップ５０３〜ステップ５０
５を繰り返す。

【００２２】ステップ５０７では、各テストデータごと
に取得した分析データを基に、次のようにテストの網ら
度（カバレージ）を算出する。 〔１〕“Ｃ０メジャ”に対するテストの網ら度 （領域中のステートメントで実行回数が“０”でないも
のの数）×１００÷（領域中の全ステートメント数） 〔２〕“Ｃ１メジャ”に対するテストの網ら度 （領域中のパスで実行回数が“０”でないものの数）×
１００÷(領域中の全パス数) 〔３〕“ループ条件ｎ回”に対するテストの網ら度 （領域中の一つのループ繰返しの実行回数が“０”から
“ｎ”まで全て揃っていれば（ｎ＋１）とし，そのうち
ｍ個欠けていれば（ｎ−ｍ）とし、これを領域中の全ル
ープ繰返しについて計算し、それらを合計した数）×１
００÷｛（ｎ＋１）×領域中の全ループ繰返しの数｝ 〔４〕“ループ条件ｎ回の全パス”に対するテストの網
ら度 （領域中の実行可能なパスで実行回数が“０”でないも
のの数）×１００÷（領域中の実行可能な全パス数） 〔５〕“個別ループ条件”に対するテストの網ら度 （領域中のあるループ繰返しの実行回数が“０”から
“登録された許容最大繰返し数”まで全て揃っていれば
（“登録された許容最大繰返し数”＋１）とし，そのう
ちｍ個欠けていれば（“登録された許容最大繰返し数”
−ｍ）とし、これを領域中の全ループ繰返しについて計
算し、それらを合計した数）×１００÷｛領域中の全ル
ープ繰返しについての（“登録された許容最大繰返し
数”＋１）を総和した値｝ 〔６〕“個別ループ条件付きの全パス”に対するテスト
の網ら度 （領域中の実行可能なパスで実行回数が“０”でないも
のの数）×１００÷（領域中の実行可能な全パス数） 前記分析データおよび前記テストの網ら度（カバレー
ジ）は、計測結果記憶装置１０５に記憶する。

【００２３】図７に、計測結果を例示する。テストの網
ら度６１０は、領域欄６１１と，テスト網ら基準欄６１
２と，網ら度（カバレージ）欄６１３とからなる。ルー
プ繰返しに関係したテスト網ら基準に対しては、ループ
繰返し情報６２０が作成される。ループ繰返し情報６２
０は、ループ繰返し欄６２１と，テストデータ番号欄６
１３とからなる。例えば、“loop#1の１回繰返し”は、
テストデータ番号“１”，“６”，“９”のテストデー
タから生じたことが判る。

【００２４】図２に戻り、テスト実行部１０８および計
測部１０９により、テスト実行とテストの網ら度の計測
が終わると、計測結果表示部１１０が起動される。計測
結果表示部１１０は、上述の図７のような計測結果を入
出力装置１０２で表示する。

【００２５】図８は、領域およびテスト網ら基準の別の
指定方法を示す説明図である。テスト網ら基準設定部１
０７は、被テストプログラムをソースリスト形式で表示
する。そこで、利用者は、ソースリストの行番号により
領域を指定し、その領域に対してテスト網ら基準を指定
する。テスト実行部１０８および計測部１０９の処理は
変わらない。計測結果表示部１１０は、図９のような形
態でテストの網ら度９１０を表示する。このテストの網
ら度９１０は、行番号欄９１１と，テスト網ら基準欄９
１２と，網ら度（カバレージ）欄９１３からなってい
る。ループ繰返しに関係したテスト網ら基準に対して
は、ループ繰返し情報（図示省略）が作成される。

【００２６】図１０は、領域およびテスト網ら基準のさ
らに別の指定方法を示す説明図である。テスト網ら基準
設定部１０７は、被テストプログラムをツリーの図形式
で表示する。このツリーは、プログラムモジュールまた
は機能ブロックまたは関数（手続き）などを表わす矩形
を階層的に接続した構造図である。そこで、利用者は、
各矩形ごとに領域を指定し、その領域に対してテスト網
ら基準を指定する。テスト実行部１０８および計測部１
０９の処理は変わらない。計測結果表示部１１０は、図
１１のような形態でテストの網ら度１１１０を表示す
る。このテストの網ら度１１１０は、プログラムモジュ
ール欄１１１１と，テスト網ら基準欄１１１２と，網ら
度（カバレージ）欄１１１３からなっている。ループ繰
返しに関係したテスト網ら基準に対しては、ループ繰返
し情報（図示省略）が作成される。

【００２７】以上のテストカバレージ分析装置１００に
よれば、限定された領域においてテスト網ら基準に対応
したテストの網ら度を計測するから、計算量が軽減さ
れ、多様なテスト網ら基準に従ったテストを実施できる
ようになる。また、制御フローグラフなどの図形式を使
って被テストプログラムを表示した上で利用者に領域と
テスト基準とを指定させるから、利用者は被テストプロ
グラムの構造を容易に視認でき、的確に領域とテスト網
ら基準とを設定できるようになる。さらに、ループ繰返
し部分に対して許容最大繰返し数を限定できるから、合
理的な時間内で被テストプログラムをテスト実行できる
ようになる。

【００２８】

【発明の効果】本発明のプログラムのテスト方法および
テストカバレージ分析装置によれば、限られた領域にお
いてテストの網ら度を計測するため、計算量が軽減さ
れ、全文網ら基準（Ｃ０メジャ）や全分岐網ら基準（Ｃ
１メジャ）以外の複雑で厳密なテスト網ら基準を採用で
きるようになる。これにより、テスト作業を効率化でき
ると共に、プログラムの信頼性を向上することが出来
る。また、被テストプログラムを図形式で表示して、そ
の図形式の表示上で領域を利用者が指定するのを受け付
けるため、利用者は、被テストプログラムの構造を容易
に視認でき、的確に領域を指定することが出来る。さら
に、ループ繰返し部分に対して許容最大繰返し数を利用
者が指定するのを受け付け、その許容最大繰返し数をル
ープ繰返し条件として被テストプログラムをテスト実行
するため、被テストプログラムがループ繰返しを含む場
合でも、合理的な時間内で被テストプログラムをテスト
実行できるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例のテストカバレージ分析装置
の構成図である。

【図２】図１のテストカバレージ分析装置の動作の流れ
を示す概念図である。

【図３】被テストプログラムの制御フローグラフによる
図形式表示の例示図である。

【図４】制御フローグラフによる図形式表示上での領域
およびテスト網ら基準の指定の説明図である。

【図５】“ループ条件ｎ回”および“ループ条件ｎ回の
全パス”の具体例の説明図である。

【図６】テスト実行および計測処理のフローチャートで
ある。

【図７】図４の被テストプログラムに対する計測結果の
例示図である。

【図８】ソースリスト表示上での領域およびテスト網ら
基準の指定の説明図である。

【図９】図８の被テストプログラムに対する計測結果の
例示図である。

【図１０】ツリーによる図形式表示上での領域およびテ
スト網ら基準の指定の説明図である。

【図１１】図１０の被テストプログラムに対する計測結
果の例示図である。

【符号の説明】

１００ テストカバレージ分析装置 １０１ 処理装置 １０２ 入出力装置 １０３ 被テストプログラム記憶装置 １０４ テストデータ記憶装置 １０５ 計測結果記憶装置 １０６ 全体制御部 １０７ テスト網ら基準設定部 １０８ テスト実行部 １０９ 計測部 １１０ 計測結果表示部

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【手続補正書】

【提出日】平成６年７月１３日

【手続補正１】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図１０

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１０】

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 選定されたテスト網ら基準がどの程度達
   成されたかを示す指標であるテストの網ら度（テストカ
   バレージ）を計測するプログラムのテスト方法におい
   て、 被テストプログラムの部分または全体からなる１つ又は
   複数の領域および各領域に対するテスト網ら基準を設定
   するテスト網ら基準設定ステップと、 所定のテストデータを用いて被テストプログラムをテス
   ト実行するテスト実行ステップと、 前記テスト実行の結果により前記領域ごとに設定された
   テスト網ら基準に対するテストの網ら度を計測する計測
   ステップとを有することを特徴とするプログラムのテス
   ト方法。
2. 【請求項２】 請求項１に記載のプログラムのテスト方
   法において、前記テスト網ら基準設定ステップは、被テ
   ストプログラムを図形式で表示し、その図形式の表示上
   で領域を利用者が指定するのを受け付け、利用者の指定
   に基づいて領域を設定することを特徴とするプログラム
   のテスト方法。
3. 【請求項３】 請求項２に記載のプログラムのテスト方
   法において、被テストプログラムの制御構造を示す有向
   グラフである制御フローグラフの図形式で被テストプロ
   グラムを表現することを特徴とするプログラムのテスト
   方法。
4. 【請求項４】 請求項２に記載のプログラムのテスト方
   法において、被テストプログラムの階層構造を示すツリ
   ーの図形式で被テストプログラムを表現することを特徴
   とするプログラムのテスト方法。
5. 【請求項５】 請求項１から請求項４のいずれかに記載
   のプログラムのテスト方法において、前記テスト網ら基
   準設定ステップは、領域中のループ繰返し部分を抽出
   し、抽出したループ繰返し部分に対して一律の又は個別
   の許容最大繰返し数を利用者が指定するのを受け付けて
   登録し、前記テスト実行ステップは、登録した許容最大
   繰返し数をループ繰返し条件として被テストプログラム
   をテスト実行することを特徴とするプログラムのテスト
   方法。
6. 【請求項６】 選定されたテスト網ら基準がどの程度達
   成されたかを示す指標であるテストの網ら度（テストカ
   バレージ）を計測するテストカバレージ分析装置におい
   て、 被テストプログラムの部分または全体からなる１つ又は
   複数の領域および各領域に対するテスト網ら基準を設定
   するテスト網ら基準設定手段と、 所定のテストデータを用いて被テストプログラムをテス
   ト実行するテスト実行手段と、 前記テスト実行の結果により前記領域ごとに設定された
   テスト網ら基準に対するテストの網ら度を計測する計測
   手段とを有することを特徴とするテストカバレージ分析
   装置。
7. 【請求項７】 請求項６に記載のテストカバレージ分析
   装置において、前記テスト網ら基準設定手段は、被テス
   トプログラムを図形式で表示し、その図形式の表示上で
   領域を利用者が指定するのを受け付け、利用者の指定に
   基づいて領域を設定することを特徴とするテストカバレ
   ージ分析装置。
8. 【請求項８】 請求項７に記載のテストカバレージ分析
   装置において、被テストプログラムの制御構造を示す有
   向グラフである制御フローグラフの図形式で被テストプ
   ログラムを表現することを特徴とするテストカバレージ
   分析装置。
9. 【請求項９】 請求項７に記載のテストカバレージ分析
   装置において、被テストプログラムの階層構造を示すツ
   リーの図形式で被テストプログラムを表現することを特
   徴とするテストカバレージ分析装置。
10. 【請求項１０】 請求項６から請求項９のいずれかに記
    載のテストカバレージ分析装置において、前記テスト網
    ら基準設定手段は、領域中のループ繰返し部分を抽出
    し、抽出したループ繰返し部分に対して一律の又は個別
    の許容最大繰返し数を利用者が指定するのを受け付けて
    登録し、前記テスト実行手段は、登録した許容最大繰返
    し数をループ繰返し条件として被テストプログラムをテ
    スト実行することを特徴とするテストカバレージ分析装
    置。