JPH08292225A - Structure of probe pin connector - Google Patents

Structure of probe pin connector

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Publication number
JPH08292225A
JPH08292225A JP7101144A JP10114495A JPH08292225A JP H08292225 A JPH08292225 A JP H08292225A JP 7101144 A JP7101144 A JP 7101144A JP 10114495 A JP10114495 A JP 10114495A JP H08292225 A JPH08292225 A JP H08292225A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base
probe pin
terminal
pin
connector
Prior art date
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Pending
Application number
JP7101144A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichi Kubota
弘一 久保田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujikura Ltd
Original Assignee
Fujikura Ltd
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Publication date
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Publication of JPH08292225A publication Critical patent/JPH08292225A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE: To provide a probe pin connector structure which can easily and surely realize an electric contact between a terminal of a printed circuit board and a probe pin without damaging the terminal of the printed circuit board. CONSTITUTION: The structure has a first base 1 where a probe pin 3 is projected from an upper face, a second base 9 having a terminal insertion part 13 to which a terminal 11A of a substrate 11 to be inspected is inserted and an outline positioning pin 15 for positioning the terminal 11A of the base 11 to the probe pin 3, and a lock clamp 17 for locking/unlocking the second base 9 to the first base 1.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、プリント配線基板検
査装置などにおいて、検査装置と、プリント配線板特に
FPC(フレキシブルプリント配線板)のエッジコネク
タである検査対象物間の電気的接触を容易かつ確実に実
現するようにプローブピン・コネクタの構造に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board inspecting apparatus or the like, which facilitates electrical contact between the inspecting apparatus and an object to be inspected which is an edge connector of a printed wiring board, especially an FPC (flexible printed wiring board). It relates to the structure of the probe pin connector so as to surely realize.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、コネクタ使用の接触構造は、図3
に示されているように、検査機の基板101に固定され
たコネクタ103に、検査対象のプリント配線基板10
5の端子105Aを挿入して電気的接触を確認するよう
になっている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a contact structure using a connector is shown in FIG.
, The connector 103 fixed to the board 101 of the inspection machine is connected to the printed wiring board 10 to be inspected.
The terminal 105A of No. 5 is inserted to check the electrical contact.

【0003】また、プローブピン使用の接触構造は、図
4に示されているように、プローブピン107をベース
板(基板)109に配置し、検査対象のプリント配線基
板105の端子105Aが前記プローブピン107に位
置合せされる。前記ベース板109上に設けられた固定
ブロック111にはピン113を支点として回動可能な
クランプ115が設けられている。
In the contact structure using probe pins, as shown in FIG. 4, the probe pins 107 are arranged on a base plate (substrate) 109, and the terminals 105A of the printed wiring board 105 to be inspected are the probes. Aligned with pin 107. A fixed block 111 provided on the base plate 109 is provided with a clamp 115 which is rotatable around a pin 113 as a fulcrum.

【0004】したがって、このクランプ115がピン1
13を支点として上から下へ回動されることにより、こ
のクランプ115でプリント配線基板105の端子10
5Aを押さえ、電気的接触を行うようになっている。
Therefore, the clamp 115 has the pin 1
When the clamp 115 is rotated from the top to the bottom, the terminals 10 of the printed wiring board 105 are
5A is pressed to make electrical contact.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の図3に示したコネクタ使用の接触構造では、プリン
ト配線基板105の端子105Aに傷がついてしまうと
いう欠点がある。このことはプリント配線基板105を
製品として出荷する前に行う検査においては大きな痛手
である。
By the way, the conventional contact structure using the connector shown in FIG. 3 has a drawback that the terminal 105A of the printed wiring board 105 is damaged. This is a great pain in the inspection performed before the printed wiring board 105 is shipped as a product.

【0006】また、従来の図4に示したプローブピン使
用の接触構造では、プリント配線基板105の端子10
5Aとプローブピン107との位置関係をベース板など
による別構造で定める構造となるので、正確な位置合せ
が困難であるという欠点がある。このことは特にフレキ
シブル・プリント配線基板(FMC)において顕著であ
る。さらに、押さえに使用するクランプ115のばね定
数、プローブピン107に使用されているスプリングの
定数およびプリント配線基板105の端子105Aの構
成によりその押える力が左右されてしまうという問題が
あった。
Further, in the conventional contact structure using the probe pin shown in FIG. 4, the terminal 10 of the printed wiring board 105 is used.
Since the positional relationship between the 5A and the probe pin 107 is determined by a separate structure such as a base plate, there is a drawback that accurate positioning is difficult. This is particularly remarkable in flexible printed wiring boards (FMC). Further, there is a problem that the pressing force is affected by the spring constant of the clamp 115 used for pressing, the spring constant used for the probe pin 107, and the configuration of the terminal 105A of the printed wiring board 105.

【0007】この発明の目的は、プリント配線基板の端
子に傷を付けることなく、プリント配線基板の端子とプ
ローブピンとの間の電気的接触を容易かつ確実に実現す
るようにしたプローブピン・コネクタ構造を提供するこ
とにある。
An object of the present invention is to provide a probe pin / connector structure for easily and surely achieving electrical contact between a terminal of a printed wiring board and a probe pin without damaging the terminal of the printed wiring board. To provide.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項1による発明のプローブピン・コネクタの構造
は、プローブピンを上面より突出せしめて設けられた第
1ベースと、検査対象の基板の端子を挿入せしめる端子
挿入部、前記基板の端子を前記プローブピンに位置決め
する外形位置決めピンを有する第2ベースと、この第2
ベースを前記第1ベースにロック,アンロックせしめる
ロッククランプと、を備えてなることを特徴とするもの
である。
In order to achieve the above object, the structure of a probe pin connector of the invention according to claim 1 is a first base provided with the probe pin protruding from the upper surface, and a substrate to be inspected. A second base having a terminal insertion part for inserting the terminal of the board, an outer shape positioning pin for positioning the terminal of the substrate to the probe pin, and the second base.
A lock clamp for locking and unlocking the base with respect to the first base is provided.

【0009】請求項2による発明のプローブピン・コネ
クタの構造は、前記第1ベース,第2ベースにそれぞれ
コネクタ位置決め用穴,ロック用穴を形成せしめてなる
ことを特徴とするものである。
The structure of the probe pin connector of the present invention according to claim 2 is characterized in that a connector positioning hole and a locking hole are formed in the first base and the second base, respectively.

【0010】[0010]

【作用】以上のような請求項1による発明のプローブピ
ン・コネクタの構造とすることにより、ロッククランプ
をアンロックせしめ、第2ベースを第1ベースに対して
上昇した状態でプリント配線基板の端子を端子挿入部に
挿入する。挿入された端子とプローブピンとは外形位置
決めピンにより容易かつ正確に位置決めされる。この状
態で第2ベースを下降せしめロッククランプでクランプ
することにより、プリント配線基板の端子とプローブピ
ンとの電気的接触が容易かつ確実に実現される。したが
って、プリント配線基板の端子に傷をつけることなくプ
ローブピンに接触抵抗を低くして接触される。
With the structure of the probe pin connector of the invention according to claim 1 as described above, the lock clamp is unlocked, and the terminal of the printed wiring board is in a state where the second base is raised with respect to the first base. Insert into the terminal insertion part. The inserted terminal and the probe pin are easily and accurately positioned by the outer shape positioning pin. In this state, the second base is lowered and clamped by the lock clamp, so that the electrical contact between the terminal of the printed wiring board and the probe pin is easily and surely realized. Therefore, the probe pins are brought into contact with each other with low contact resistance without damaging the terminals of the printed wiring board.

【0011】請求項2による発明のプローブピン・コネ
クタの構造では、第1ベース,第2ベースにそれぞれれ
コネクタ位置決め用穴,ロック用穴が形成されているか
ら、必要な検査機などのベースに位置決め固定されて使
用される。
In the structure of the probe pin connector according to the second aspect of the present invention, the connector positioning hole and the locking hole are formed in the first base and the second base, respectively. Positioned and fixed for use.

【0012】[0012]

【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基いて詳細
に説明する。
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0013】図1および図2を参照するに、検査機の基
板となる矩形状の第1ベース1を備えており、この第1
ベース1の図1において右側には複数の上下方向へ延伸
したプローブピン3が装着され、このプローブピン3の
先端が第1ベース1の上面よりわずか突出されている。
With reference to FIGS. 1 and 2, a rectangular first base 1 serving as a substrate of an inspection machine is provided.
A plurality of vertically extending probe pins 3 are mounted on the right side of the base 1 in FIG. 1, and the tips of the probe pins 3 slightly project from the upper surface of the first base 1.

【0014】前記第1ベース1の中央部分にはセンタボ
ルト5の下端が取付けられている。このセンタボルト5
にはスプリング7が介装され第2ベース9が設けられて
いる。したがって第2ベース9はスプリング7の付勢力
により常時上方へ付勢されている。
A lower end of a center bolt 5 is attached to the central portion of the first base 1. This center bolt 5
The second base 9 is provided with the spring 7 interposed therebetween. Therefore, the second base 9 is always urged upward by the urging force of the spring 7.

【0015】前記第2ベース9の図1において右側には
検査対象の複数のプリント配線基板11の端子11Aを
挿入せしめる端子挿入部13が設けられている。この端
子挿入部13の前後(図2において上下)には外形位置
決めピン15が設けられている。
On the right side of the second base 9 in FIG. 1, there is provided a terminal insertion portion 13 into which the terminals 11A of the plurality of printed wiring boards 11 to be inspected are inserted. External positioning pins 15 are provided in front of and behind the terminal insertion portion 13 (up and down in FIG. 2).

【0016】前記第1ベース1にはロッククランプ17
の下部がピン19で回動可能に設けられている。また、
第1ベース1の図2において左側上下部にはコネクタ位
置決め用穴21が形成されていると共に第1ベース1の
中央部分における前後(図2において上下)に張出され
た部分1Tには長孔からなるロック用穴23が形成され
ている。
A lock clamp 17 is attached to the first base 1.
The lower part of the pin is rotatably provided by a pin 19. Also,
A connector positioning hole 21 is formed in the upper and lower portions on the left side of the first base 1 in FIG. Is formed with a locking hole 23.

【0017】上記構成により、検査機などに使用する場
合には、検査機等のベースに設けられた図示省略の位置
決めピンに位置決め用穴21が挿入された後、ロック用
穴23にボルト25を通して第1ベース1が検査機など
のベースに固定されて使用されることになる。
When used in an inspection machine or the like with the above structure, the positioning hole 21 is inserted into a positioning pin (not shown) provided in the base of the inspection machine or the like, and then the bolt 25 is passed through the locking hole 23. The first base 1 is used by being fixed to a base such as an inspection machine.

【0018】ロッククランプ17を第2ベース9の上端
から外してアンクランプせしめると、第2ベース9がス
プリング7の付勢力で上昇される。この状態において、
検査対象のプリント配線基板11の端子11Aを端子挿
入部13に挿入せしめる。挿入された端子11Aは必要
な端子数、ピッチを満足するように配置されたプローブ
ピン3と外形位置決めピン15により、端子11Aとプ
ローブピン3の位置が容易かつ正確に定められる。
When the lock clamp 17 is removed from the upper end of the second base 9 and unclamped, the second base 9 is lifted by the urging force of the spring 7. In this state,
The terminal 11A of the printed wiring board 11 to be inspected is inserted into the terminal insertion portion 13. The positions of the inserted terminals 11A and the probe pins 3 can be easily and accurately determined by the probe pins 3 and the outer shape positioning pins 15 which are arranged so as to satisfy the required number of terminals and pitches.

【0019】この状態で第2ベース9を下降せしめロッ
ククランプ17でロックすると、プローブピン3と端子
11Aとが良好に接触するから、電気的接触が容易かつ
確実に実現されることになる。
When the second base 9 is lowered and locked by the lock clamp 17 in this state, the probe pin 3 and the terminal 11A are in good contact with each other, so that electrical contact is easily and surely realized.

【0020】したがって、端子11Aの接触にプローブ
ピン3を使用しているので、接触抵抗の低い良好な接触
が得られるから、端子11Aに傷がつくのを少なくする
ことができる。本実施例の構造では、ピンソケットは埋
め込みであるので、使用したソケットに形状が合う範囲
でプローブピン3の選択ができ、容易に交換可能であ
る。しかもプローブピン3を選択することにより、接触
力,端子数,ピッチを自由に選ぶことが可能である。前
記プローブピン3とロッククランプ17とが第1ベース
1に設けられているから、プローブピン3とロッククラ
ンプ17が一体化され、検査時などの振動に強い。
Therefore, since the probe pin 3 is used for contacting the terminal 11A, a good contact with low contact resistance can be obtained, so that damage to the terminal 11A can be reduced. In the structure of this embodiment, since the pin socket is embedded, the probe pin 3 can be selected within a range where the shape of the socket used matches the shape and the probe pin 3 can be easily replaced. Moreover, by selecting the probe pin 3, the contact force, the number of terminals, and the pitch can be freely selected. Since the probe pin 3 and the lock clamp 17 are provided on the first base 1, the probe pin 3 and the lock clamp 17 are integrated and strong against vibration during inspection or the like.

【0021】さらに、第1ベース1にはコネクタ位置決
め用穴21,ロック用穴23がそれぞれ形成されている
から、検査機などの必要なベースに取付け、取外しを容
易に行うことができ持ち運べるから、どこの場所でも使
用することができる。
Furthermore, since the connector positioning hole 21 and the locking hole 23 are formed in the first base 1, they can be easily attached to and detached from a required base such as an inspection machine and can be carried. Can be used anywhere.

【0022】なお、この発明は、前述した実施例に限定
されることなく、適宜な変更を行うことにより、その他
の態様で実施し得るものである。
The present invention is not limited to the above-described embodiments, but can be implemented in other modes by making appropriate changes.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上のごとき実施例の説明より理解され
るように、請求項1による発明によれば、プリント配線
基板の端子の接触にプローブピンを使用しているので、
接触抵抗の低い良好な接触が得られ、端子に傷が付くの
が少なくなると共に電気的接触を容易かつ確実に実現す
ることがきでる。第1ベースにプローブピンとロックク
ランプが設けられて一体化されて検査時などの振動に強
くなる。
As can be understood from the above description of the embodiments, according to the invention of claim 1, the probe pin is used for contact with the terminal of the printed wiring board.
Good contact with low contact resistance can be obtained, scratches on the terminals are reduced, and electrical contact can be easily and reliably realized. The first base is provided with a probe pin and a lock clamp, which are integrated with each other to be resistant to vibration during inspection.

【0024】請求項2による発明によれば、ベースにコ
ネクタ位置決め用穴、ロック用穴がそれぞれ形成されて
いるから、必要なとき必要な検査機などのベースに位置
決め固定して使用することができる。
According to the second aspect of the invention, since the connector positioning hole and the locking hole are formed in the base, the base can be positioned and fixed to a base such as a necessary inspection machine when needed. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明を実施する一実施例のプローブピン・
コネクタの構造を示す正面図である。
FIG. 1 is a probe pin of one embodiment for carrying out the present invention.
It is a front view which shows the structure of a connector.

【図2】図1における平面図である。FIG. 2 is a plan view of FIG.

【図3】従来のコネクタ使用の接触構造を示す正面図で
ある。
FIG. 3 is a front view showing a contact structure using a conventional connector.

【図4】従来のプローブピン使用の接触構造を示す正面
図である。
FIG. 4 is a front view showing a contact structure using a conventional probe pin.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 第1ベース 3 プローブピン 9 第2ベース 11 プリント配線基板 11A 端子 13 端子挿入部 15 外形位置決めピン 17 ロッククランプ 1 1st base 3 Probe pin 9 2nd base 11 Printed wiring board 11A terminal 13 Terminal insertion part 15 External positioning pin 17 Lock clamp

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プローブピンを上面より突出せしめて設
けられた第1ベースと、検査対象の基板の端子を挿入せ
しめる端子挿入部、前記基板の端子を前記プローブピン
に位置決めする外形位置決めピンを有する第2ベース
と、この第2ベースを前記第1ベースにロック、アンロ
ックせしめるロッククランプと、を備えてなることを特
徴とするプローブピン・コネクタの構造。
1. A first base provided with a probe pin protruding from an upper surface, a terminal insertion portion into which a terminal of a board to be inspected is inserted, and an outer shape positioning pin for positioning the terminal of the board to the probe pin. A structure of a probe pin connector, comprising: a second base; and a lock clamp for locking and unlocking the second base with respect to the first base.
【請求項2】 前記第1ベース、第2ベースにそれぞれ
コネクタ位置決め用穴、ロック用穴を形成せしめてなる
ことを特徴とする請求項1記載のプローブピン・コネク
タの構造。
2. The structure of a probe pin connector according to claim 1, wherein a connector positioning hole and a locking hole are formed in the first base and the second base, respectively.
JP7101144A 1995-04-25 1995-04-25 Structure of probe pin connector Pending JPH08292225A (en)

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JP7101144A JPH08292225A (en) 1995-04-25 1995-04-25 Structure of probe pin connector

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010031221A1 (en) * 2008-09-18 2010-03-25 上海电缆研究所 Cable testing device
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