JPH08286727A - プロセス制御の操作量自動プリセット装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 モデル化が困難なプロセスにも適用可能な制
御を提供する。モデル化を不要にする。プリセット精度
を改善する。 【解決手段】 デ−タベ−ス２０上に過去の実績情報ｕ
(i)，ｙ(i)，ｘ１(i)，ｘ２(i)を蓄積しておき、算出対
象のストリップの状態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*を入力し、
それと類似性の高い実績情報のｕ(i)に基づいて炉温設
定値ｕ*を算出する。デ−タベ−スの更新は随時実施す
る。但し、新しい実績情報と類似性の高い実績情報が既
に登録されている場合には、登録を中止する。古い実績
情報を消去し、新しい実績情報をデ−タベ−スに残す。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プロセス制御の操
作量自動プリセット装置に関し、例えば鋼帯の連続焼鈍
設備の温度制御に利用しうる。

【０００２】

【従来の技術】例えば鋼帯の連続焼鈍設備の温度制御装
置においては、例えば炉出側の鋼帯の板温を制御量と
し、炉温設定値を操作量にする。フィ−ドフォワ−ド制
御系においては、この種の操作量として予め適切な値を
それぞれのタイミングでプリセットしなければならな
い。

【０００３】この種の制御系にプリセットされる操作量
は、従来より、予め定めた数式モデルに、その時の各種
条件の情報を入力し、数式モデルを計算して得るように
している。また、実プロセスの実績デ−タを利用して、
学習により数式モデルを自動的に更新する場合もある。

【０００４】しかしながら、プロセスは非線形である場
合が多いため、使用する数式モデルは近似モデルになら
ざるを得ない。従って、数式モデルの近似精度に応じ
て、求められる操作量の精度が定まる。近似精度の高い
数式モデルを用いる場合には、大量のデ−タの収集とそ
れの解析が必要であり、リアルタイムで数式モデルを計
算するのは困難である。近似精度の低い数式モデルを用
いると、プロセス制御の精度が悪化する。また、炉のプ
ロセスをモデル化するのは非常に難しく、炉については
精度の高いモデルが得られないのが実情である。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、モデル化が
困難なプロセスに対しても、比較的単純な計算処理によ
って、比較的精度の高い操作量を算出可能にすることを
課題とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項１のプロセス制御の操作量自動プリセット装
置は、実質的に同一タイミングの、操作量（ｕ），制御
量（ｙ）およびプロセスに影響を及ぼすその他の少なく
とも１つのパラメ−タ（ｘ１，ｘ２）を１組のデ−タと
して繰り返しサンプリングするサンプリング手段（１
０）；前記サンプリング手段がサンプリングしたデ−タ
を逐次蓄積して複数組保持する、デ−タ蓄積手段（２
０）；及び操作量をプリセットするタイミングにおけ
る、前記制御量および前記パラメ−タを現デ−タ（ｙ
*，ｘ１*，ｘ２*）として入力し、前記デ−タ蓄積手段
上の各組のデ−タを過去のデ−タ（ｙ(i)，ｘ１(i)，ｘ
２(i)）として入力し、前記現デ−タと前記過去のデ−
タとの類似性に応じた重み（ｆ(ｗｉ)）と、前記過去の
デ−タに含まれる操作量（ｕ(i)）とに基づいて、前記
現デ−タに対応する操作量（ｕ*）を計算する（Ｓ４
Ｂ）操作量計算手段（３０）；を備える。

【０００７】また請求項２のプロセス制御の操作量自動
プリセット装置は、実質的に同一タイミングの、操作量
（ｕ），制御量（ｙ）およびプロセスに影響を及ぼすそ
の他の少なくとも１つのパラメ−タ（ｘ１，ｘ２）を１
組のデ−タとして繰り返しサンプリングするサンプリン
グ手段（１０）；前記サンプリング手段がサンプリング
したデ−タを逐次蓄積して複数組保持する、デ−タ蓄積
手段（２０）；及び操作量をプリセットするタイミング
における、前記制御量および前記パラメ−タを現デ−タ
（ｙ*，ｘ１*，ｘ２*）として入力し、前記デ−タ蓄積
手段上の各組のデ−タを過去のデ−タ（ｙ(i)，ｘ１
(i)，ｘ２(i)）として入力し、前記現デ−タと前記過去
のデ−タとの類似性が最も高い前記過去のデ−タを類似
デ−タとして選択し（Ｓ７７，Ｓ７８，Ｓ７９，Ｓ７
Ａ，Ｓ７Ｂ）、前記類似デ−タに含まれる操作量（ｕ
(ｊ)），前記類似デ−タに含まれる前記制御量（ｙ
(i)）と前記現デ−タに含まれる前記制御量（ｙ*）との
偏差，および前記類似デ−タに含まれる前記パラメ−タ
（ｘ１(i)，ｘ２(i)）と前記現デ−タに含まれる前記パ
ラメ−タ（ｘ１*，ｘ２*）との偏差、に基づいて、前記
現デ−タに対応する操作量（ｕ*）を計算する（Ｓ７
Ｃ）操作量計算手段（３０）；を備える。

【０００８】また請求項３では、前記デ−タ蓄積手段
は、前記サンプリング手段がサンプリングしたデ−タと
ともに該デ−タの時刻の情報（ｘ３(i)）を蓄積し、前
記操作量計算手段は、前記過去のデ−タの各々に対応付
けられた時刻に基づいて、各々の過去のデ−タと前記現
デ−タとの類似性の程度を識別する（Ｓ７６）ように構
成される。

【０００９】請求項４のプロセス制御の操作量自動プリ
セット装置は、実質的に同一タイミングの、操作量
（ｕ），制御量（ｙ）およびプロセスに影響を及ぼすそ
の他の少なくとも１つのパラメ−タ（ｘ１，ｘ２）を１
組のデ−タとして繰り返しサンプリングするサンプリン
グ手段（１０）；前記サンプリング手段がサンプリング
したデ−タを逐次蓄積して複数組保持する、デ−タ蓄積
手段（２０）；及び操作量をプリセットするタイミング
における、前記制御量および前記パラメ−タを現デ−タ
（ｙ*，ｘ１*，ｘ２*）として入力し、前記デ−タ蓄積
手段上の各組のデ−タを過去のデ−タ（ｙ(i)，ｘ１
(i)，ｘ２(i)）として入力し、前記現デ−タと前記過去
のデ−タとの類似性が所定のしきい値（ε２）以上高い
（ｗ(i)≦ε２）もののうち、最も新しい前記過去のデ
−タを類似デ−タとして選択し（Ｓ８７，Ｓ８８，Ｓ８
９，Ｓ８Ａ，Ｓ８Ｂ）、前記類似デ−タに含まれる操作
量（ｕ(ｊ)），前記類似デ−タに含まれる前記制御量
（ｙ(i)）と前記現デ−タに含まれる前記制御量（ｙ*）
との偏差，および前記類似デ−タに含まれる前記パラメ
−タと前記現デ−タに含まれる前記パラメ−タ（ｘ１
(i)，ｘ２(i)）との偏差、に基づいて、前記現デ−タに
対応する操作量（ｕ*）を計算する（Ｓ８Ｃ）操作量計
算手段（３０）；を備える。

【００１０】また請求項５では、前記デ−タ蓄積手段
は、前記サンプリング手段がサンプリングしたデ−タ
と、デ−タ蓄積手段上に既に蓄積した全ての過去のデ−
タとの類似性をそれぞれ評価する評価手段（Ｓ３６）；
およびサンプリング手段がサンプリングしたデ−タとの
類似性が高いデ−タがデ−タ蓄積手段上に存在する場合
には、デ−タ蓄積手段のデ−タ更新を中止するデ−タ更
新中止手段（Ｓ３７）；を含む。

【００１１】また請求項６においては、前記デ−タ蓄積
手段は、サンプリング手段がサンプリングしたデ−タと
の類似性が高いデ−タがデ−タ蓄積手段上に存在しない
場合に、デ−タ蓄積手段上に空きメモリ領域が存在しな
いと、デ−タ蓄積手段上の古いデ−タを自動的に消去し
て空きメモリ領域を作成する、デ−タ消去手段（Ｓ３
８，Ｓ３９）；を含む。

【００１２】また請求項７においては、前記デ−タ蓄積
手段は、デ−タを蓄積する領域として、複数に区分され
た領域（２０Ｂ₁，２０Ｂ₂，２０Ｂ₃，２０Ｂ₄）を備
え、その時のプロセスの条件に応じて、デ−タを蓄積す
る領域を前記複数の領域の中から選択し（Ｓ６０）、前
記操作量計算手段は、その時のプロセスの条件に応じ
て、前記デ−タ蓄積手段の複数の領域の１つを選択し
（Ｓ７０）、選択した領域に蓄積されている過去のデ−
タに基づいて、前記現デ−タに対応する操作量を計算す
る、ように構成される。

【００１３】なお上記括弧内に示した記号は、後述する
実施例中の対応する要素又は処理ステップの番号を参考
までに示したものであるが、本発明の各構成要素は実施
例中の具体的な要素のみに限定されるものではない。

【００１４】本発明においては、いずれの請求項につい
ても、操作量（ｕ：例えば炉温），制御量（ｙ：例えば
板温）およびプロセスに影響を及ぼすその他の少なくと
も１つのパラメ−タ（ｘ１：例えば板速度，ｘ２：例え
ば板厚）の実績デ−タ（過去のデ−タ）を予めデ−タ蓄
積手段（２０）上に蓄積しておく。そして、これからプ
リセットすべき操作量を生成する際には、そのタイミン
グにおける前記制御量および前記パラメ−タを現デ−タ
（ｙ*，ｘ１*，ｘ２*）として入力し、デ−タ蓄積手段
上に蓄積された各組のデ−タを過去のデ−タ（ｙ(i)，
ｘ１(i)，ｘ２(i)）として入力し、前記現デ−タと前記
過去のデ−タとに基づいて、前記現デ−タに対応する操
作量（ｕ*）を計算する。即ち、現デ−タに対応する操
作量は、過去の実績のデ−タに基づいて決定される。

【００１５】請求項１の発明では、前記現デ−タと前記
過去のデ−タとの類似性に応じた重み（ｆ(ｗｉ)）と、
前記過去のデ−タに含まれる操作量（ｕ(i)）とに基づ
いて、前記現デ−タに対応する操作量（ｕ*）を計算す
る。例えば、現デ−タ（ｙ*，ｘ１*，ｘ２*）がデ−タ
蓄積手段（２０）上のｊ番目の過去のデ−タ（ｙ(j)，
ｘ１(j)，ｘ２(j)）と極めて類似性が高い場合には、ｊ
番目のデ−タに含まれる操作量ｕ(j)に近い値が、現デ
−タに対応する操作量（ｕ*）になる。操作量ｕ(j)は、
制御量がｙ(j)、第１のパラメ−タがｘ１(j)、第２のパ
ラメ−タがｘ２(j)の場合に実際に設定された過去の適
切な操作量であるので、現デ−タに対応する操作量（ｕ
*）としても適切である可能性が極めて高い。

【００１６】請求項２の発明では、前記過去のデ−タの
うち、前記現デ−タとの類似性が最も高い１組のものが
類似デ−タとして選択的に抽出され、前記１組の類似デ
−タに含まれる操作量（ｕ(ｉ)），前記類似デ−タに含
まれる前記制御量（ｙ(i)）と前記現デ−タに含まれる
前記制御量（ｙ*）との偏差，および前記類似デ−タに
含まれる前記パラメ−タ（ｘ１(i)，ｘ２(i)）と前記現
デ−タに含まれる前記パラメ−タ（ｘ１*，ｘ２*）との
偏差、に基づいて、前記現デ−タに対応する操作量（ｕ
*）が求められる。これによれば、比較的簡単な計算だ
けで適切な操作量（ｕ*）を求めることができる。

【００１７】請求項３の発明では、過去のデ−タととも
にそれに対応付けられた時刻の情報が蓄積されているの
で、この時刻の情報を利用することができる。プロセス
の状態は時間の経過に伴なって変化するので、時間以外
の条件が同一であれば、過去のデ−タの中で最も新しい
ものを利用すると、より適切な操作量が求められる。従
って、時間以外の条件が同一の過去のデ−タが複数存在
する場合には、時刻が現在に近い方のデ−タを、現デ−
タと類似性が高いものとみなす。

【００１８】請求項４の発明では、前記過去のデ−タの
うち、前記現デ−タとの類似性が所定のしきい値（ε
２）以上高い（ｗ(i)≦ε２）ものの中で、最も新しい
過去のデ−タを類似デ−タとして選択し、前記類似デ−
タに含まれる操作量（ｕ(ｉ)），前記類似デ−タに含ま
れる前記制御量（ｙ(i)）と前記現デ−タに含まれる前
記制御量（ｙ*）との偏差，および前記類似デ−タに含
まれる前記パラメ−タ（ｘ１(i)，ｘ２(i)）と前記現デ
−タに含まれる前記パラメ−タ（ｘ１*，ｘ２*）との偏
差に基づいて、前記現デ−タに対応する操作量（ｕ*）
を計算する。これによれば、比較的簡単な計算だけで適
切な操作量（ｕ*）を求めることができる。

【００１９】また請求項５においては、評価手段（Ｓ３
６）が、サンプリング手段のサンプリングしたデ−タ
と、デ−タ蓄積手段上に既に蓄積した全ての過去のデ−
タとの類似性をそれぞれ評価し、デ−タ更新中止手段
（Ｓ３７）は、サンプリング手段がサンプリングしたデ
−タとの類似性が高いデ−タがデ−タ蓄積手段上に存在
する場合には、デ−タ蓄積手段のデ−タ更新を中止す
る。これによって、互いに類似した多数のデ−タがデ−
タ蓄積手段上に蓄積されることがないので、デ−タ蓄積
手段の記憶容量が比較的小さい場合であっても、様々な
条件にそれぞれ適合する多数のデ−タをデ−タ蓄積手段
上に蓄積することができる。

【００２０】また請求項６においては、サンプリング手
段のサンプリングしたデ−タとの類似性が高いデ−タが
デ−タ蓄積手段上に存在しない場合には、デ−タ蓄積手
段上に空きメモリ領域が存在しないと、デ−タ消去手段
（Ｓ３８，Ｓ３９）が、デ−タ蓄積手段上の古いデ−タ
を自動的に消去して空きメモリ領域を作成するので、常
に比較的新しい実績デ−タをデ−タ蓄積手段上に保持す
ることができ、生成する操作量の信頼性をより高めるこ
とができる。

【００２１】また請求項７においては、デ−タを蓄積す
る際に、プロセスの条件、例えば処理対象鋼材の種別の
違いに応じて、デ−タが異なる領域に蓄積される。そし
て、操作量を計算する際には、その時のプロセスの条件
に対応付けられた１つの領域を選択し、選択した領域に
蓄積されている過去のデ−タに基づいて、操作量を求め
る。

【００２２】本発明によれば、いずれの請求項について
も、プロセスの特性に応じた数式モデルを必要としない
ので、モデル化が難しい焼鈍炉の温度制御などにも容易
に適用しうる。しかも、デ−タ蓄積手段上に充分な量の
デ−タを蓄積することによって、精度の高い操作量を簡
単に得ることができる。

【００２３】

【発明の実施の形態】実施例の装置の主要部の構成を図
１に示す。図１に示す装置は、ストリップ（鋼帯）１を
焼鈍するプロセスに関係するものである。ストリップ１
は、図中に矢印で示す方向に搬送され、その搬送路上に
設置された焼鈍炉２の内部空間を通り焼鈍処理される。
なお、ストリップ１の搬送経路は、焼鈍炉２の内部では
上下方向に蛇行する形になっている。焼鈍炉２の内部に
は、ストリップ１の搬送経路と隣接する位置に、ラジア
ントチュ−ブと呼ばれるヒ−タ（図示せず）が多数設置
されている。燃料であるコ−クス炉ガスなどをラジアン
トチュ−ブの内部に供給し、それを燃焼させることによ
ってラジアントチュ−ブが発熱する。そして、ラジアン
トチュ−ブからの放射熱によって、焼鈍炉２およびスト
リップ１が加熱される。

【００２４】制御器３は、ＰＩＤ（比例・積分・微分）
制御器であり、板温偏差Δｙおよび炉温偏差Δｕが小さ
くなるように、ラジアントチュ−ブに供給する燃料の流
量を制御する。炉温偏差Δｕは、プリセット装置４が出
力する炉温設定値ｕ* と、焼鈍炉２に設置された炉温計
（熱電対）５が検出した炉温との差分であり、板温偏差
Δｙは、ストリップ仕様設定装置６が出力する板温目標
値と、焼鈍炉２の出側に設置された板温計（放射温度
計）７が検出したストリップ１の板温との差分である。

【００２５】焼鈍炉２に通されるストリップ１の端部に
は、第２のストリップの一端が溶接により連結され、更
に第２のストリップの他端に第３のストリップの一端が
連結され、これらの操作の繰り返しによって連続的にス
トリップが通板される。互いに連結されるストリップは
種類が異なる場合が多い。焼鈍炉２を通るストリップの
種類や仕様が変化すると、板温制御の条件を変更する必
要がある。そこで、ストリップの種類や仕様が変化する
継ぎ目の位置を検出するために、継ぎ目検出器（図示せ
ず）が備わっている。ストリップトラッキング装置８
は、ストリップ１の搬送速度を検出する板速度計（パル
ス発生器）９の出力信号と前記継ぎ目検出器の出力信号
を監視して、ストリップの継ぎ目位置の現在位置を常時
把握している。なお、継ぎ目に対して下流側に位置する
ストリップを先行材と呼び、上流側に位置するストリッ
プを後行材と呼ぶ。

【００２６】ストリップ仕様設定装置６は、通板予定の
多数のストリップに関する情報を予め保持しており、ス
トリップトラッキング装置８からの信号（ストリップ間
の各継ぎ目が焼鈍炉２出側の板温計７を通過してから所
定距離（例えば１００ｍ）を搬送された時にそれぞれ発
生）を受けると、新しいストリップ仕様情報を出力す
る。ストリップ仕様情報としては、先行材の板厚，後行
材の板厚，先行材に対する焼鈍炉２出側の板温目標値，
および後行材に対する焼鈍炉２出側の板温目標値があ
る。

【００２７】ストリップ仕様設定装置６が出力する先行
材（焼鈍炉２を通過中のストリップ）の板厚情報は制御
器３の入力とデ−タ入力装置１０の入力に印加され、先
行材（焼鈍炉２を通過中のストリップ）に対する焼鈍炉
２出側の板温目標値は減算器１１を介して制御器３の入
力に印加される。また、ストリップ仕様設定装置６が出
力する後行材（次に焼鈍炉２を通過するストリップ）の
板厚情報と、後行材（次に焼鈍炉２を通過するストリッ
プ）に対する焼鈍炉２出側の板温目標値は、それぞれデ
−タ入力装置１０の入力に印加される。

【００２８】デ−タ入力装置１０の入力には、炉温計５
が検出した炉温，板温計７が検出したストリップの板
温，板速度計９が検出したストリップの搬送速度，先行
材の板厚，後行材の板厚，および後行材の板温目標値が
それぞれ印加される。デ−タ入力装置１０は、ストリッ
プトラッキング装置８が出力する信号に従って、所定の
タイミングで入力情報をサンプリングし、記憶装置２
０，操作量計算装置３０および登録制御装置４０に出力
する。具体的には、ストリップ間の各継ぎ目が焼鈍炉２
出側の板温計７を通過して更に所定距離（１００ｍ）を
搬送された時に、炉温計５が検出した炉温がｕとして、
板温計７が検出したストリップの板温がｙとして、板速
度計９が検出したストリップの搬送速度がｘ１として、
後行材の板厚がｘ２として、それぞれサンプリングさ
れ、記憶装置２０および登録制御装置４０の入力に印加
される。また、ストリップ間の各継ぎ目が焼鈍炉２出側
の板温計７の位置に到達する毎に、後行材（次に焼鈍炉
２を通過するストリップ）の板厚がｘ２*として、後行
材（次に焼鈍炉２を通過するストリップ）の板温目標値
がｙ*として、板速度計９が検出した最新の速度がｘ１*
として、それぞれサンプリングされ、操作量計算装置３
０の入力に印加される。

【００２９】記憶装置２０は、入力される炉温ｕ，板温
ｙ，速度ｘ１および板厚ｘ２の実績情報を蓄積できるデ
−タベ−スであり、記憶装置２０上には図２に示すよう
な行列形式で多数の情報が蓄積される。この実施例で
は、同じタイミングで得られた速度ｘ１，板厚ｘ２，板
温ｙおよび炉温ｕが、１組の情報として記憶装置２０上
に蓄積される。速度ｘ１，板厚ｘ２，板温ｙおよび炉温
ｕは、記憶装置２０上でそれぞれ列の１，２，３および
４に割り当てられる。また、速度ｘ１，板厚ｘ２，板温
ｙおよび炉温ｕは、それらの情報を登録した順番で行方
向に並べられる。即ち、ｎ組の情報が登録されている場
合、最も古い速度ｘ１，板厚ｘ２，板温ｙおよび炉温ｕ
の情報は、それぞれ記憶装置２０上のｎ行目のメモリｘ
１(ｎ)，ｘ２(ｎ)，ｙ(ｎ)およびｕ(ｎ)に保持され、最
新の速度ｘ１，板厚ｘ２，板温ｙおよび炉温ｕの情報
は、それぞれ記憶装置２０上の１行目のメモリｘ１
(1)，ｘ２(1)，ｙ(1)およびｕ(1)に保持される。

【００３０】記憶装置２０に対する情報の登録制御は、
登録制御装置４０によって実施される。登録制御装置４
０が実行する処理の内容を図３に示す。この処理は、デ
−タ入力装置１０を介して、炉温ｕ，板温ｙ，速度ｘ１
および板厚ｘ２の情報が入力される度に起動される。な
お、登録制御装置４０は実際にはプロセスコンピュ−タ
のソフトウェア処理によって実現される。図３を参照し
て登録制御装置４０の動作を説明する。

【００３１】ステップＳ３１では、予めオペレ−タによ
って設定される係数ｂ１，ｂ２，ｂ３及びｂ４を、重み
係数入力装置（ラッチ）５０を介して入力する。次のス
テップＳ３２では、デ−タ入力装置１０がサンプリング
した状態量ｕ，ｙ，ｘ１及びｘ２を入力する。続くステ
ップＳ３３では、ｉmax の値を入力する。ｉmax は、そ
の時に記憶装置２０に既に登録してある情報の組数（例
えば図２のｎの値）を保持するメモリであり、このメモ
リは登録制御装置４０上に存在する。次のステップＳ３
４では、行カウンタｉに初期値１をセットする。

【００３２】ｉ≦ｉmax である間は、ステップＳ３５の
次にＳ３６に進む。ステップＳ３６では、まず、記憶装
置２０上のｉ行目に存在する１組の情報ｕ(i)，ｙ(i)，
ｘ１(i)およびｘ２(i)を入力する。次に、ステップＳ３
１で入力した係数ｂ１，ｂ２，ｂ３及びｂ４と、ステッ
プＳ３２で入力した状態量ｕ，ｙ，ｘ１及びｘ２とを使
用して次の計算を実施する。また、行カウンタｉを更新
（＋１）する。

【００３３】

【数１】 ｄｉ＝ｂ１|ｕ−ｕ(i)|＋ｂ２|ｙ−ｙ(i)|＋ｂ３|ｘ１−ｘ１(i)| +b4|ｘ２−ｘ２(i)| ・・・・（１） 上記第(1)式によって計算される評価値ｄｉは、記憶装
置２０上のｉ行目の情報ｕ(i)，ｙ(i)，ｘ１(i)および
ｘ２(i)と、現在の状態量ｕ，ｙ，ｘ１及びｘ２との類
似性が高くなるに従って小さな値になる。次のステップ
Ｓ３７では、上記計算によって求めた評価値ｄｉを定数
ε（非常に小さな値）と比較する。そして、ｄｉ≦εの
場合には、処理を終了する。即ち、記憶装置２０上のｉ
行目の情報と現在の状態量ｕ，ｙ，ｘ１及びｘ２との類
似性が非常に高い場合には、記憶装置２０への情報の登
録（又は更新）を中止する。これによって、記憶装置２
０上の限られた記憶領域を有効に利用できる。

【００３４】この実施例においては、後述するように、
その時の条件に近い過去の実績情報に基づいて、操作量
を算出するので、様々な条件においてそれぞれ適切な操
作量を算出するためには、様々な条件における実績情報
が必要になる。互いに類似性の高い情報を記憶装置２０
上に多数登録すると、記憶容量の制約によって様々な条
件における実績情報を登録できなくなるため、算出され
る操作量の誤差が大きくなる場合が生じる。しかしこの
実施例では、評価値ｄｉが小さい場合には記憶装置２０
への情報の登録を中止するので、限られた記憶領域に、
様々な条件における実績情報を登録することができる。

【００３５】記憶装置２０上に登録されているｉmax 組
の情報のそれぞれに対して、順次に評価値ｄｉが算出さ
れ、評価値ｄｉと定数εとが比較される。現在の状態量
ｕ，ｙ，ｘ１及びｘ２との類似性が高い情報がまだ記憶
装置２０上に登録されていない場合には、ステップＳ３
５，Ｓ３６，Ｓ３７の処理をｉmax 回繰り返した後、ス
テップＳ３５からＳ３８に進む。

【００３６】ステップＳ３８では、ｉmax の値（情報の
登録組数）を定数Ｎmax と比較する。定数Ｎmax は、記
憶装置２０上に登録可能な最大情報組数（最大行数）で
あり、この実施例での場合には１０００である。記憶装
置２０上に既に登録してある情報組数（ｉmax）が最大
行数Ｎmax よりも小さい場合、即ち記憶装置２０上の記
憶領域に空きがある場合には、ステップＳ３８からＳ３
Ａに進み、記憶装置２０上に既に登録してある情報組数
（ｉmax）が最大行数Ｎmax と一致する場合、即ち記憶
装置２０上の記憶領域に空きがない場合には、ステップ
Ｓ３８からＳ３９に進む。ステップＳ３９では、ｉmax
−１の値をカウンタｊに初期値としてセットする。また
ステップＳ３Ａでは、ｉmax の値をカウンタｊに初期値
としてセットした後、ｉmax の値を更新（＋１）する。

【００３７】カウンタｊが１より大きい間は、ステップ
Ｓ３ＢからＳ３Ｃに進む。ステップＳ３Ｃでは、記憶装
置２０上に登録されているｊ行目のメモリｘ１(j)，ｘ
２(j)，ｙ(j)及びｕ(j)の内容を、それぞれｊ＋１行目
のメモリｘ１(j+1)，ｘ２(j+1)，ｙ(j+1)及びｕ(j+1)に
転送（位置を１行分シフト）する。また、カウンタｊの
値を更新（−１）する。ｊ＜１になるまで、この処理が
繰り返される。ｊ＜１になると、次にステップＳ３Ｄに
進む。ステップＳ３Ｄでは、現在の状態量ｘ１，ｘ２，
ｙ及びｕを、それぞれ１行目のメモリｘ１(1)，ｘ２
(1)，ｙ(1)及びｕ(1)に記憶する。

【００３８】即ち、記憶装置２０上の記憶領域に空きが
ある場合には、それまでに登録された全ての情報（ｊ＝
ｉmax〜１）を１行ずつずれたメモリ位置にそれぞれ転
送した後で、１行目のメモリに新しい１組の情報ｘ１，
ｘ２，ｙ及びｕを登録する。また、記憶装置２０上の記
憶領域に空きがない場合には、ｉmax 行目に存在する最
も古い情報は捨て、それ以外のそれまでに登録された全
ての情報（ｊ＝ｉmax−１〜１）を１行ずつずれたメモ
リ位置にそれぞれ転送した後で、１行目のメモリに新し
い１組の情報ｘ１，ｘ２，ｙ及びｕを登録する。従っ
て、記憶装置２０に登録可能なＮmax行の情報の登録が
終了した後は、ほぼ定期的に、情報が新しいものに逐次
更新される。

【００３９】操作量計算装置３０は、ストリップ間の継
ぎ目が焼鈍炉２出側の板温計７の位置に到達する毎に、
デ−タ入力装置１０を介して入力される状態量、即ち板
温目標値ｙ*（次に焼鈍炉２を通過するストリップに対
応する値），板速度計９が検出した最新の速度ｘ１*，
及び次に焼鈍炉２を通過するストリップの板厚ｘ２*
と、記憶装置２０上に登録された実績情報ｕ(i)，ｙ
(i)，ｘ１(i)，及びｘ２(i)と、重み係数入力装置（ラ
ッチ）６０を介して入力される重み係数ａ１，ａ２及び
ａ３に基づいて、次に焼鈍炉２を通過するストリップに
対する炉温設定値ｕ*を生成する。

【００４０】操作量計算装置３０が実行する処理の内容
を図４に示す。この処理は、ストリップ間の継ぎ目が焼
鈍炉２出側の板温計７の位置に到達する毎に起動され
る。なお、操作量計算装置３０は実際にはプロセスコン
ピュ−タのソフトウェア処理によっ実現される。図４を
参照して操作量計算装置３０の動作を説明する。

【００４１】最初のステップＳ４１では行カウンタｉに
初期値の１をセットし、次のステップＳ４２ではｉmax
の値（記憶装置２０上の情報の登録行数）を入力し、続
くステップＳ４３では重み係数ａ１，ａ２，ａ３を重み
係数入力装置６０を介して入力し、次のステップＳ４４
では、状態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*をデ−タ入力装置を介
して入力する。なお、重み係数ａ１，ａ２及びａ３の値
は、各々オペレ−タの入力操作により予め設定される。

【００４２】ステップＳ４５においてｉ≦ｉmax である
間、ステップＳ４６，Ｓ４７，Ｓ４８，Ｓ４９及びＳ４
Ａの各処理が繰り返し実行される。ステップＳ４６で
は、まず、記憶装置２０上から、行カウンタｉが示す行
位置のメモリの内容ｙ(i)，ｘ１(i)及びｘ２(i)の内容
を読み込む。そして、既に入力された重み係数ａ１，ａ
２，ａ３と、状態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*と、実績情報ｙ
(i)，ｘ１(i)及びｘ２(i)に基づいて、次の計算を実施
する。

【００４３】

【数２】 ｗｉ＝ａ１|ｙ*−ｙ(i)|＋ａ２|ｘ１*−ｘ１(i)|＋ａ３|ｘ２*−ｘ２(i)| ・・・(２) 上記第(2)式によって計算される評価値ｗｉは、記憶装
置２０上のｉ行目の実績情報ｙ(i)，ｘ１(i)，ｘ２(i)
と、炉温設定値を算出すべきストリップに対する状態量
ｙ*，ｘ１*，ｘ２*との類似性が高くなるに従って小さ
な値になる。なお、重み係数ａ１は、状態量ｙ*と実績
情報ｙ(i)との差分の炉温設定値ｕ*に対する影響度を考
慮して設定され、重み係数ａ２は、状態量ｘ１*と実績
情報ｘ１(i)との差分の炉温設定値ｕ*に対する影響度を
考慮して設定され、重み係数ａ３は、状態量ｘ２*と実
績情報ｘ２(i)との差分の炉温設定値ｕ*に対する影響度
を考慮して設定される。

【００４４】次のステップＳ４７では、ステップＳ４６
で求めた評価値ｗｉをパラメ−タとする関数ｆ(ｗｉ)を
計算する。関数ｆ(ｗｉ)の値は、評価値ｗｉが小さくな
るに従って大きくなる。即ち、関数ｆ(ｗｉ)の値は、記
憶装置２０上のｉ行目の実績情報ｙ(i)，ｘ１(i)，ｘ２
(i)と、炉温設定値を算出すべきストリップに対する状
態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*との類似性が高くなるに従って
大きな値になる。続くステップＳ４８では、１行目から
ｉ行目までの関数ｆ(ｗｉ)の値の総和を求める。また次
のステップＳ４９では、ｉ行目の実績情報ｕ(i)を記憶
装置から読み込み、１行目からｉ行目までについて、Σ
ｆ(ｗｉ)・ｕ(i)を計算する。続くステップＳ４Ａでは、
行カウンタｉを更新（＋１）する。

【００４５】上記ステップＳ４５〜Ｓ４Ａの処理をｉma
x 回繰り返すと、ステップＳ４５でｉ＞ｉmax になるの
で、Ｓ４５からＳ４Ｂに進む。ステップＳ４Ｂでは、次
の計算式により、炉温設定値ｕ*を算出し、この炉温設
定値ｕ*をプリセット出力装置７０及び減算器１２を介
して制御器３に印加する。

【００４６】

【数３】 ｕ* ＝Σｆ(ｗｉ)・ｕ(i)／Σｆ(ｗｉ) ・・・（３） 上記第(3)式によって求められる炉温設定値ｕ*は、記憶
装置２０上に登録された実績情報の炉温設定値ｕ(i)に
基づいて直接的に求められるものであり、炉温設定値ｕ
*を算出すべきストリップに対する状態量ｙ*，ｘ１*，
ｘ２*との類似性が高い過去の実績情報における炉温設
定値ｕ(i)の影響を強く受ける。従って、記憶装置２０
上に登録された実績情報の数が充分に多い場合には、そ
の中に炉温設定値ｕ*を算出すべきストリップに対する
状態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*との類似性が高い過去の実績
情報が存在する確率が高いので、適切な炉温設定値ｕ*
を算出することができる。

【００４７】プリセット出力装置７０は、算出された炉
温設定値ｕ*に対応する次のストリップが焼鈍炉２を通
過するタイミングで制御器３に印加する炉温設定値を更
新する（プリセットする）ためのラッチと、Ｄ／Ａコン
バ−タを備えている。

【００４８】なお上記実施例においては、焼鈍炉に設置
される加熱炉の温度制御の場合について説明したが、同
様の制御を冷却炉の温度制御にそのまま適用することが
できる。冷却炉においては、ク−リングチュ−ブと呼ば
れるチュ−ブが多数設置されており、各々のク−リング
チュ−ブの内部に冷却媒体（冷却ガス）を通すことによ
り、ク−リングチュ−ブが冷却される。そして、炉の雰
囲気温度（炉温）が低下し、またストリップからの放射
熱をチュ−ブが吸収することにより、ストリップが冷却
される。冷却ガスの流量を調整することによって、炉温
及びストリップの温度を調節できるので、前記実施例の
燃料流量を冷却ガスの流量に置き代えれば、前記実施例
の制御をそのまま適用しうる。

【００４９】次に２番目の実施例を説明する。装置の構
成は図１とほぼ同一である。但しこの実施例では、図１
の記憶装置２０の代わりに、図５に示す記憶装置２０Ｂ
を用いている。図５を参照すると、記憶装置２０Ｂにお
いては、４つの領域に区分されたデ−タベ−ス２０
Ｂ₁，２０Ｂ₂，２０Ｂ₃，２０Ｂ₄のそれぞれの記憶領域
を有している。この実施例では、デ−タベ−スの領域
は、処理対象の鋼種に対応付けて区分してある。具体的
には、デ−タベ−ス２０Ｂ₁は、普通鋼（ＣＱ）のデ−
タを蓄積する領域、デ−タベ−ス２０Ｂ₂は高張力鋼
（ＨＳ）のデ−タを蓄積する領域、デ−タベ−ス２０Ｂ
₃はしぼり鋼（ＤＱ）のデ−タを蓄積する領域、デ−タ
ベ−ス２０Ｂ₄は深しぼり鋼（ＤＤＱ）のデ−タを蓄積
する領域にそれぞれ割り当ててある。

【００５０】普通鋼のデ−タを蓄積するデ−タベ−ス２
０Ｂ₁の内部は、図５に示すように構成されている。図
２に示すデ−タベ−スと対比すると、列数が４から５に
増えて、ｘ３(1)〜ｘ３(n)の情報の領域が追加されてい
る。ｘ３(1)〜ｘ３(n)は、各行のデ−タに対応付けられ
た時刻の情報を保持するメモリである。他のデ−タベ−
ス２０Ｂ₂，２０Ｂ₃，２０Ｂ₄も同様の構成である。

【００５１】この実施例では、図１に示す登録制御装置
４０の動作が図６のように変更され、また図１に示す操
作量計算装置３０の動作が図７のように変更されてい
る。説明しない部分の構成及び動作は前記実施例と同一
である。なお、図６及び図７において、前記実施例と同
一の部分については同一のステップ番号を付して示して
ある。

【００５２】まず図６を参照して、登録制御装置４０の
変更又は追加された動作について説明する。最初のステ
ップＳ６０では、プロセスの条件として、処理対象の鋼
種の情報を、ストリップ仕様設定装置６から入力し、該
鋼種に応じて、記憶装置２０Ｂ上の１つのデ−タベ−ス
を選択する。即ち、処理対象の鋼種が普通鋼の場合には
デ−タベ−ス２０Ｂ₁を選択し、高張力鋼の場合にはデ
−タベ−ス２０Ｂ₂を選択し、しぼり鋼の場合にはデ−
タベ−ス２０Ｂ₃を選択し、深しぼり鋼の場合にはデ−
タベ−ス２０Ｂ₄を選択する。そして、これ以降の処理
で記憶装置２０Ｂをアクセスする場合には、ステップＳ
６０で選択した１つのデ−タベ−スのみに対して処理を
実行する。

【００５３】ステップＳ６２では、デ−タ入力装置１０
がサンプリングした状態量ｕ，ｙ，ｘ１，ｘ２の他に、
その時の時刻をｘ３として内蔵した時計から入力する。

【００５４】ステップＳ６Ｃでは、記憶装置２０Ｂ上の
選択されたデ−タベ−スに関し、ｊ行目のメモリｘ１
(j)，ｘ２(j)，ｘ３(j)，ｙ(j)，及びｕ(j)の内容を、
それぞれｊ＋１行目のメモリｘ１(j+1)，ｘ２(j+1)，ｘ
３(j+1)，ｙ(j+1)，及びｕ(j+1)に転送（位置を１行分
シフト）する。また、カウンタｊの値をを更新（−１）
する。

【００５５】ステップＳ６Ｄでは、現在の状態量ｘ１，
ｘ２，ｘ３，ｙ及びｕを、それぞれ、記憶装置２０Ｂ上
の選択されたデ−タベ−スの１行目のメモリｘ１(1)，
ｘ２(1)，ｘ３(1)，ｙ(1)及びｕ(1)に記憶する。

【００５６】次に図７を参照して、操作量計算装置３０
の変更又は追加された動作を説明する。最初のステップ
Ｓ７０では、プロセスの条件として、処理対象の鋼種の
情報を、ストリップ仕様設定装置６から入力し、該鋼種
に応じて、記憶装置２０Ｂ上の１つのデ−タベ−スを選
択する。即ち、処理対象の鋼種が普通鋼の場合にはデ−
タベ−ス２０Ｂ₁を選択し、高張力鋼の場合にはデ−タ
ベ−ス２０Ｂ₂を選択し、しぼり鋼の場合にはデ−タベ
−ス２０Ｂ₃を選択し、深しぼり鋼の場合にはデ−タベ
−ス２０Ｂ₄を選択する。そして、これ以降の処理で記
憶装置２０Ｂをアクセスする場合には、ステップＳ７０
で選択した１つのデ−タベ−スのみに対して処理を実行
する。

【００５７】ステップＳ７３では重み係数ａ１，ａ２，
ａ３，ａ４を重み係数入力装置６０を介して入力し、次
のステップＳ７４では、状態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*をデ
−タ入力装置を介して入力するとともに、現在の時刻の
情報ｘ３*をそれ自身の時計から入力する。なお、重み
係数ａ１，ａ２，ａ３及びａ４の値は、各々オペレ−タ
の入力操作により予め設定される。

【００５８】ステップＳ７６では、まず、記憶装置２０
上の選択されたデ−タベ−スから、行カウンタｉが示す
行位置のメモリｙ(i)，ｘ１(i)，ｘ２(i)及びｘ３(i)の
内容を読み込む。そして、既に入力された重み係数ａ
１，ａ２，ａ３，ａ４と、状態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*，
ｘ３*と、実績情報ｙ(i)，ｘ１(i)，ｘ２(i)及びｘ３
(i)に基づいて、次の計算を実施する。

【００５９】

【数４】 ｗ(i)＝ａ１|ｙ*−ｙ(i)|＋ａ２|ｘ１*−ｘ１(i)| ＋ａ３|ｘ２*−ｘ２(i)|＋ａ４|ｘ３*−ｘ３(i)| ・・・(４) 但し、ａ４＜ａ１，ａ２，ａ３ 行カウンタｉの値が１からｉmax の間、ステップＳ７６
の処理を繰り返し実行し、各行に割当てたメモリｗ(i)
に、計算の結果、即ち前記状態量と前記実績情報との類
似性に応じた値（小さい方が類似性が高い）を保存す
る。

【００６０】１からｉmax の各行について類似性を示す
値がメモリｗ(i)に保存された後、行カウンタｉの値が
ｉmax を越え、ステップＳ４５からＳ７７に進む。ステ
ップＳ７７では、行カウンタｉに１をプリセットし、メ
モリｗ(i)が保持するｉ番目の行の類似性を示す値をレ
ジスタｗにロ−ドする。

【００６１】ステップＳ７８では、メモリｗ(i)が保持
する値とレジスタｗの値とを比較し、ｗ(i)≦ｗである
と、次のステップＳ７９を実行する。ステップＳ７９で
は、行カウンタｉが示す現在の行の類似性を示す値（ｗ
(i)）をレジスタｗにロ−ドし、行カウンタｉの値をレ
ジスタｊにストアする。

【００６２】ステップＳ７Ａで行カウンタｉの値を更新
しながら、ｉ≦ｉmaxである間、ステップＳ７８，Ｓ７
９，Ｓ７Ａ，Ｓ７Ｂの処理を繰り返す。これらの処理に
よって、ｉ＝１〜ｉmax の範囲のｗ(i)の中で、最小の
値（類似性が最大）が保持されている行の値がレジスタ
ｊに保持される。

【００６３】ステップＳ７Ｃでは、状態量ｙ*，ｘ１*，
ｘ２*と、レジスタｊが示す行位置のメモリｙ(j)，ｕ
(j)，ｘ１(j)，ｘ２(j)に保持された実績情報と、重み
係数ｋ１，ｋ２，ｋ３とに基づいて、次の計算を実施す
る。

【００６４】

【数５】 ｕ* ＝ ｕ(j)＋ｋ１(ｙ*−ｙ(j))＋ｋ２(ｘ１*−ｘ１(j)) ＋ｋ３(ｘ２*−ｘ２(j)) ・・・（５） 上記第(5)式によって求められる炉温設定値ｕ*は、記憶
装置２０Ｂ上に登録された過去の実績情報のうち、現在
の状態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*との類似性が最も高く、し
かも時間的に比較的新しい１組の実績情報（ｙ(j)，ｕ
(j)，ｘ１(j)，ｘ２(j)の値）に基づいて直接的に求め
られるものである。記憶装置２０Ｂ上に登録された実績
情報の数が充分に多い場合には、それらの中に炉温設定
値ｕ*を算出すべきストリップに対する状態量ｙ*，ｘ１
*，ｘ２*との類似性が非常に高い過去の実績情報が存在
する確率が高いので、その１組の実績情報に基づいて、
適切な炉温設定値ｕ*を算出することができる。また、
第(5)式の計算は、前記第(3)式に比べて簡単であり、短
い時間で処理を実行しうる。

【００６５】なお、プロセスの経時変化が予測できる場
合には、現在の時刻と実績情報の時刻ｘ３(j)との差に
応じた補償量を計算する項を、前記第(5)式に加えるこ
とにより、より適切な炉温設定値を求めることが可能で
ある。

【００６６】次に３番目の実施例を説明する。装置の構
成は図１とほぼ同一である。前記２番目の実施例と同様
に図５に示す記憶装置２０Ｂを用いているが、４つに区
分されたデ−タベ−ス２０Ｂ₁，２０Ｂ₂，２０Ｂ₃，２
０Ｂ₄の各々の記憶領域は図２とそれぞれ同一の構成に
なっている。即ち、時間の実績情報ｘ３(１)〜ｘ３(ｎ)
を保持する領域は省略されている。

【００６７】この実施例では、図１に示す登録制御装置
４０の動作は、図６のステップＳ６０が追加された以外
は、図３と同一である。また図１に示す操作量計算装置
３０の動作は、図８のように変更されている。説明しな
い部分の構成及び動作は前記実施例と同一である。なお
図８において、前記実施例と同一の部分については同一
のステップ番号を付して示してある。

【００６８】次に図８を参照して、操作量計算装置３０
の動作を説明する。前記実施例と同様に、最初のステッ
プＳ７０では、プロセスの条件として、処理対象の鋼種
の情報を、ストリップ仕様設定装置６から入力し、該鋼
種に応じて、記憶装置２０Ｂ上の１つのデ−タベ−スを
選択する。

【００６９】ステップＳ４３では重み係数ａ１，ａ２，
ａ３を重み係数入力装置６０を介して入力し、次のステ
ップＳ４４では、状態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*をデ−タ入
力装置を介して入力する。

【００７０】ステップＳ８６では、まず、記憶装置２０
Ｂ上の選択されたデ−タベ−スから、行カウンタｉが示
す行位置のメモリｙ(i)，ｘ１(i)及びｘ２(i)の内容を
読み込む。そして、既に入力された重み係数ａ１，ａ
２，ａ３と、状態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*と、実績情報ｙ
(i)，ｘ１(i)およびｘ２(i)に基づいて、次の計算を実
施する。

【００７１】

【数６】 ｗ(i)＝ａ1|ｙ*−ｙ(i)|＋ａ2|ｘ１*−ｘ１(i)|＋ａ3|ｘ２*−ｘ２(i)| ・・・(６) 行カウンタｉの値が１からｉmax の間、ステップＳ８６
の処理を繰り返し実行し、各行に割当てたメモリｗ(i)
に、計算の結果、即ち前記状態量と前記実績情報との類
似性に応じた値（小さい方が類似性が高い）を保存す
る。

【００７２】１からｉmax の各行について類似性を示す
値がメモリｗ(i)に保存された後、行カウンタｉの値が
ｉmax を越え、ステップＳ４５からＳ８７に進む。ステ
ップＳ８７では、行カウンタｉにｉmax をプリセットす
る。

【００７３】ステップＳ８８では、メモリｗ(i)が保持
する値を予め定めたしきい値ε２と比較し、ｗ(i)≦ε
２であると、次のステップＳ８９を実行する。ステップ
Ｓ８９では、行カウンタｉの値をレジスタｊにストアす
る。しきい値ε２は非常に小さい値であり、ｗ(i)≦ε
２であることは、ｉ番目の行の１組の実績情報と現在の
状態量との類似性が極めて高いことを意味する。

【００７４】ステップＳ８Ａで行カウンタｉの値を更新
しながら、ｉ≧１である間、ステップＳ８８，Ｓ８９，
Ｓ８Ａ，Ｓ８Ｂの処理を繰り返す。この実施例では、記
憶装置上のデ−タベ−スにおいては、デ−タベ−ス更新
処理（図３参照）によって、各実績情報はそれが得られ
た時間が新しいほど、行番号の小さい位置になるよう
に、予め時間の順番で並べられている。そして、ステッ
プＳ８８，Ｓ８９，Ｓ８Ａ，Ｓ８Ｂの処理においては、
行番号の大きい位置から小さい位置に向かって、即ち時
間的に最も古いものから新しいものに向かって順番に、
実績情報ｗ(i)の参照を繰り返している。そして、ｗ(i)
≦ε２の条件を満たす実績情報が見つかると、ステップ
Ｓ８９で、現在の状態量との類似性が極めて高い１組の
実績情報が登録されている行番号が、レジスタｊにスト
アされる。ｗ(i)≦ε２の条件を満たす実績情報が複数
存在する場合には、参照順のより後方で検出された実績
情報の行番号が最終的にレジスタｊに残るので、時間的
により新しい実績情報が優先される。つまり、ｗ(i)≦
ε２の条件を満たす実績情報の中で最も新しい実績情報
の位置がレジスタｊに保持される。

【００７５】ステップＳ８Ｃでは、前記実施例のステッ
プＳ７Ｃと同様に、状態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*と、レジ
スタｊが示す行位置のメモリｙ(j)，ｕ(j)，ｘ１(j)，
ｘ２(j)に保持された実績情報と、重み係数ｋ１，ｋ
２，ｋ３とに基づいて、前記第(5)式の計算を実施して
炉温設定値ｕ*を求める。

【００７６】このようにして求められる炉温設定値ｕ*
は、記憶装置２０Ｂ上に登録された過去の実績情報のう
ち、現在の状態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*との類似性が非常
に高い１組、又は複数組の実績情報の中で時間が最も新
しい実績情報（ｙ(j)，ｕ(j)，ｘ１(j)，ｘ２(j)の値）
に基づいて直接的に求められるものである。記憶装置２
０Ｂ上に登録された実績情報の数が充分に多い場合に
は、それらの中に炉温設定値ｕ*を算出すべきストリッ
プに対する状態量ｙ*，ｘ１*，ｘ２*との類似性が非常
に高い過去の実績情報が存在する確率が高いので、その
実績情報に基づいて、適切な炉温設定値ｕ*を算出する
ことができる。また、現在の状態量との類似性が非常に
高い実績情報が複数存在する場合には、それらの実績情
報の中で最も新しい実績情報に基づいて炉温設定値ｕ*
を算出するので、プロセスの経時変化の影響を軽減し
て、より適切な炉温設定値を得ることができる。

【００７７】図８に示した実施例では、実績情報が予め
デ−タベ−ス上に時間順に並べられているので、時間の
古い順に実績情報を順番に参照して、最後に所定の条件
を満足した１組の実績情報を抽出している。しかし、デ
−タベ−ス上の実績情報の並びが時間順でない場合であ
っても、例えば図５に示した実施例と同様に、実績情報
の時間の情報をデ−タベ−ス上に登録しておけば、ｗ
(i)≦ε２の条件を満たした複数の実績情報の中から、
最も新しい１組の実績情報を抽出することができる。

【００７８】なお、上記実施例ではストリップの焼鈍プ
ロセスにおける板温制御の場合を説明したが、同様のプ
ロセス制御であれば、他の設備にも本発明は適用しう
る。

【００７９】

【発明の効果】以上のとおり本発明のいずれの請求項に
おいても、プロセスの特性に応じた数式モデルを必要と
しないので、モデル化が難しい焼鈍炉の温度制御などに
も容易に適用しうる。しかも、デ−タ蓄積手段上に充分
な量のデ−タを蓄積することによって、精度の高い操作
量を簡単に得ることができる。また、数式モデルを必要
としないので、モデルのパラメ−タを解析するために大
量の実績デ−タを用意する必要がなく、実績デ−タが少
ない状態でも実際の設備の制御に本発明を適用しうる。

【００８０】また請求項２及び請求項４によれば、請求
項１と比べてより簡単な計算で、操作量を算出すること
ができる。

【００８１】また、請求項３によれば、実績情報の時刻
を考慮するので、経時変化の生じるプロセスにおいて
も、より適切な操作量が得られる。

【００８２】また請求項５においては、互いに類似した
多数のデ−タがデ−タ蓄積手段上に蓄積されることがな
いので、デ−タ蓄積手段の記憶容量が比較的小さい場合
であっても、様々な条件にそれぞれ適合する多数のデ−
タをデ−タ蓄積手段上に蓄積することができる。

【００８３】また請求項６においては、常に比較的新し
い実績デ−タをデ−タ蓄積手段上に保持することがで
き、生成する操作量の信頼性をより高めることができ
る。

【００８４】また請求項７においては、プロセスの条件
に応じて選択したデ−タ蓄積手段上の領域のみから目的
とする実績情報を検索するので、参照すべき実績情報の
数が少なく、短い所要時間で適切な実績情報を抽出する
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 第１実施例の設備の主要部を示すブロック図
である。

【図２】 記憶装置上のデ−タ記憶領域の並びを示すマ
ップである。

【図３】 図１の登録制御装置の動作を示すフロ−チャ
−トである。

【図４】 図１の操作量計算装置の動作を示すフロ−チ
ャ−トである。

【図５】 第２実施例の記憶装置２０Ｂの構成を示すマ
ップである。

【図６】 第２実施例における登録制御装置の動作を示
すフロ−チャ−トである。

【図７】 第２実施例における操作量計算装置の動作を
示すフロ−チャ−トである。

【図８】 第３実施例における操作量計算装置の動作を
示すフロ−チャ−トである。

【符号の説明】

１：ストリップ ２：焼鈍炉 ３：制御器 ４：プリセット装置 ５：炉温計 ６：ストリップ仕様
設定装置 ７：板温計 ８：ストリップトラ
ッキング装置 ９：板速度計 １０：デ−タ入力装
置 １１，１２：減算器 ２０：記憶装置 ３０：操作量計算装置 ４０：登録制御装置 ５０，６０：重み係数入力装置 ７０：プリセット出
力装置

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 実質的に同一タイミングの、操作量，制
   御量およびプロセスに影響を及ぼすその他の少なくとも
   １つのパラメ−タを１組のデ−タとして繰り返しサンプ
   リングするサンプリング手段；前記サンプリング手段が
   サンプリングしたデ−タを逐次蓄積して複数組保持す
   る、デ−タ蓄積手段；及び操作量をプリセットするタイ
   ミングにおける、前記制御量および前記パラメ−タを現
   デ−タとして入力し、前記デ−タ蓄積手段上の各組のデ
   −タを過去のデ−タとして入力し、前記現デ−タと前記
   過去のデ−タとの類似性に応じた重みと、前記過去のデ
   −タに含まれる操作量とに基づいて、前記現デ−タに対
   応する操作量を計算する操作量計算手段；を備えるプロ
   セス制御の操作量自動プリセット装置。
2. 【請求項２】 実質的に同一タイミングの、操作量，制
   御量およびプロセスに影響を及ぼすその他の少なくとも
   １つのパラメ−タを１組のデ−タとして繰り返しサンプ
   リングするサンプリング手段；前記サンプリング手段が
   サンプリングしたデ−タを逐次蓄積して複数組保持す
   る、デ−タ蓄積手段；及び操作量をプリセットするタイ
   ミングにおける、前記制御量および前記パラメ−タを現
   デ−タとして入力し、前記デ−タ蓄積手段上の各組のデ
   −タを過去のデ−タとして入力し、前記現デ−タと前記
   過去のデ−タとの類似性が最も高い前記過去のデ−タを
   類似デ−タとして選択し、前記類似デ−タに含まれる操
   作量，前記類似デ−タに含まれる前記制御量と前記現デ
   −タに含まれる前記制御量との偏差，および前記類似デ
   −タに含まれる前記パラメ−タと前記現デ−タに含まれ
   る前記パラメ−タとの偏差、に基づいて、前記現デ−タ
   に対応する操作量を計算する操作量計算手段；を備える
   プロセス制御の操作量自動プリセット装置。
3. 【請求項３】 前記デ−タ蓄積手段は、前記サンプリン
   グ手段がサンプリングしたデ−タとともに該デ−タの時
   刻の情報を蓄積し、前記操作量計算手段は、前記過去の
   デ−タの各々に対応付けられた時刻に基づいて、各々の
   過去のデ−タと前記現デ−タとの類似性の程度を識別す
   る、前記請求項２記載のプロセス制御の操作量自動プリ
   セット装置。
4. 【請求項４】 実質的に同一タイミングの、操作量，制
   御量およびプロセスに影響を及ぼすその他の少なくとも
   １つのパラメ−タを１組のデ−タとして繰り返しサンプ
   リングするサンプリング手段；前記サンプリング手段が
   サンプリングしたデ−タを逐次蓄積して複数組保持す
   る、デ−タ蓄積手段；及び操作量をプリセットするタイ
   ミングにおける、前記制御量および前記パラメ−タを現
   デ−タとして入力し、前記デ−タ蓄積手段上の各組のデ
   −タを過去のデ−タとして入力し、前記現デ−タと前記
   過去のデ−タとの類似性が所定のしきい値以上高いもの
   のうち、最も新しい前記過去のデ−タを類似デ−タとし
   て選択し、前記類似デ−タに含まれる操作量，前記類似
   デ−タに含まれる前記制御量と前記現デ−タに含まれる
   前記制御量との偏差，および前記類似デ−タに含まれる
   前記パラメ−タと前記現デ−タに含まれる前記パラメ−
   タとの偏差、に基づいて、前記現デ−タに対応する操作
   量を計算する操作量計算手段；を備えるプロセス制御の
   操作量自動プリセット装置。
5. 【請求項５】 前記デ−タ蓄積手段は、前記サンプリン
   グ手段がサンプリングしたデ−タと、デ−タ蓄積手段上
   に既に蓄積した全ての過去のデ−タとの類似性をそれぞ
   れ評価する評価手段；およびサンプリング手段がサンプ
   リングしたデ−タとの類似性が高いデ−タがデ−タ蓄積
   手段上に存在する場合には、デ−タ蓄積手段のデ−タ更
   新を中止するデ−タ更新中止手段；を含む、前記請求項
   １，請求項２，又は請求項４記載のプロセス制御の操作
   量自動プリセット装置。
6. 【請求項６】 前記デ−タ蓄積手段は、サンプリング手
   段がサンプリングしたデ−タとの類似性が高いデ−タが
   デ−タ蓄積手段上に存在しない場合に、デ−タ蓄積手段
   上に空きメモリ領域が存在しないと、デ−タ蓄積手段上
   の古いデ−タを自動的に消去して空きメモリ領域を作成
   する、デ−タ消去手段；を含む、前記請求項５記載のプ
   ロセス制御の操作量自動プリセット装置。
7. 【請求項７】 前記デ−タ蓄積手段は、デ−タを蓄積す
   る領域として、複数に区分された領域を備え、その時の
   プロセスの条件に応じて、デ−タを蓄積する領域を前記
   複数の領域の中から選択し、前記操作量計算手段は、そ
   の時のプロセスの条件に応じて、前記デ−タ蓄積手段の
   複数の領域の１つを選択し、選択した領域に蓄積されて
   いる過去のデ−タに基づいて、前記現デ−タに対応する
   操作量を計算する、前記請求項１，請求項２，又は請求
   項４記載のプロセス制御の操作量自動プリセット装置。