JPH08261954A - 光ファイバの被覆異常検出装置及び検出方法 - Google Patents
光ファイバの被覆異常検出装置及び検出方法Info
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- JPH08261954A JPH08261954A JP7063901A JP6390195A JPH08261954A JP H08261954 A JPH08261954 A JP H08261954A JP 7063901 A JP7063901 A JP 7063901A JP 6390195 A JP6390195 A JP 6390195A JP H08261954 A JPH08261954 A JP H08261954A
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- Optical Fibers, Optical Fiber Cores, And Optical Fiber Bundles (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ファイバ素線２にコーティング層３，４を被
覆した光ファイバ１にレーザ光Ｌ１を照射し、そのレー
ザ光Ｌ１が光ファイバ１での気泡により散乱した散乱光
Ｌ４を検出することで、光ファイバ１のコーティング層
３，４の界面等に発生する気泡を検出する場合、散乱光
Ｌ４を確実に検出して気泡を微細なレベルまで正確に検
出する。 【構成】 光ファイバ１に対し、その長さ方向と傾斜角
度４５°で傾斜する方向からレーザ光Ｌ１を照射する。
光ファイバ１側方に光強度検出器８を、レーザ光Ｌ１に
よる光ファイバ１の透過光Ｌ２と光ファイバ１表面での
反射光Ｌ３とを受光部８ａが受光しない位置に配置し、
光強度検出器８により散乱光Ｌ４のみを検出させる。検
出器８に透過光Ｌ２や反射光Ｌ３を入力させずに散乱光
Ｌ４のみを入射させ、弱いレベルの散乱光Ｌ４であって
も、透過光Ｌ２や反射光Ｌ３の影響を受けることなく明
確に識別して検出できる。
覆した光ファイバ１にレーザ光Ｌ１を照射し、そのレー
ザ光Ｌ１が光ファイバ１での気泡により散乱した散乱光
Ｌ４を検出することで、光ファイバ１のコーティング層
３，４の界面等に発生する気泡を検出する場合、散乱光
Ｌ４を確実に検出して気泡を微細なレベルまで正確に検
出する。 【構成】 光ファイバ１に対し、その長さ方向と傾斜角
度４５°で傾斜する方向からレーザ光Ｌ１を照射する。
光ファイバ１側方に光強度検出器８を、レーザ光Ｌ１に
よる光ファイバ１の透過光Ｌ２と光ファイバ１表面での
反射光Ｌ３とを受光部８ａが受光しない位置に配置し、
光強度検出器８により散乱光Ｌ４のみを検出させる。検
出器８に透過光Ｌ２や反射光Ｌ３を入力させずに散乱光
Ｌ４のみを入射させ、弱いレベルの散乱光Ｌ４であって
も、透過光Ｌ２や反射光Ｌ３の影響を受けることなく明
確に識別して検出できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバにおけるフ
ァイバ素線とコーティングとの界面等に発生する気泡等
の異物を検出する検出装置及び検出方法に関するもので
ある。
ァイバ素線とコーティングとの界面等に発生する気泡等
の異物を検出する検出装置及び検出方法に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】一般に、コアと、該コアの外周に被覆さ
れコアとは屈折率の小さいクラッドとからなるファイバ
素線は、そのままの状態では極めて脆いという性質を有
していることから、このファイバ素線の周りをシリコン
樹脂やＵＶ硬化樹脂（紫外線硬化樹脂）等のコーティン
グ層で１層又は複数層に被覆し、このコーティング層に
よりファイバ素線の強度を保護したり、外力を緩衝した
りすることが行われている。
れコアとは屈折率の小さいクラッドとからなるファイバ
素線は、そのままの状態では極めて脆いという性質を有
していることから、このファイバ素線の周りをシリコン
樹脂やＵＶ硬化樹脂（紫外線硬化樹脂）等のコーティン
グ層で１層又は複数層に被覆し、このコーティング層に
よりファイバ素線の強度を保護したり、外力を緩衝した
りすることが行われている。
【０００３】すなわち、光ファイバのガラス母材を加熱
溶融によりファイバ素線に線引きして巻き取る際、その
線引きされる途中のファイバ素線をダイスに通過させて
そこでファイバ素線にコーティング用樹脂が被覆され
る。
溶融によりファイバ素線に線引きして巻き取る際、その
線引きされる途中のファイバ素線をダイスに通過させて
そこでファイバ素線にコーティング用樹脂が被覆され
る。
【０００４】ところで、上記ファイバ素線を線引きした
後にダイスでコーティング層を被覆する場合、例えばそ
のコーティング樹脂のファイバ素線に対する粘性や速度
の違い等に起因して、樹脂中に空気が気泡となって巻き
込まれ、この気泡が光ファイバのコーティング層や素線
とコーティングとの界面に留まることがある。そして、
この気泡の混入により、樹脂被覆が不均一となっている
と、特に低温域におけるマイクロベンド損が増大する。
また、気泡によりコーティング層の緩衝機能が阻害さ
れ、ファイバ素線表面に対する側圧により、伝送される
光信号の伝送特性に悪影響が生じる。
後にダイスでコーティング層を被覆する場合、例えばそ
のコーティング樹脂のファイバ素線に対する粘性や速度
の違い等に起因して、樹脂中に空気が気泡となって巻き
込まれ、この気泡が光ファイバのコーティング層や素線
とコーティングとの界面に留まることがある。そして、
この気泡の混入により、樹脂被覆が不均一となっている
と、特に低温域におけるマイクロベンド損が増大する。
また、気泡によりコーティング層の緩衝機能が阻害さ
れ、ファイバ素線表面に対する側圧により、伝送される
光信号の伝送特性に悪影響が生じる。
【０００５】そこで、従来、このような気泡による不良
品の発生をなくすために、例えば特開平６―８２３９３
号や特開平６―８２３９４号等の各公報に示されるよう
に、光ファイバにその長さ方向と直交する方向からレー
ザ光を照射して、そのレーザ光が光ファイバを透過した
ときの気泡による散乱光を検出し、この散乱光に基づい
て気泡の有無を判定するようにすることが提案されてい
る。
品の発生をなくすために、例えば特開平６―８２３９３
号や特開平６―８２３９４号等の各公報に示されるよう
に、光ファイバにその長さ方向と直交する方向からレー
ザ光を照射して、そのレーザ光が光ファイバを透過した
ときの気泡による散乱光を検出し、この散乱光に基づい
て気泡の有無を判定するようにすることが提案されてい
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記提案のも
のでは、基本的に、光ファイバ内の気泡による散乱光
を、レーザ光が光ファイバを透過した透過光と光ファイ
バの表面で反射した反射光と共に受光するようになって
いる。このため、散乱光レベルの光強度の変動を判定し
て散乱光を正確に検出することは困難であり、検出精度
や信頼性の点で問題があった。
のでは、基本的に、光ファイバ内の気泡による散乱光
を、レーザ光が光ファイバを透過した透過光と光ファイ
バの表面で反射した反射光と共に受光するようになって
いる。このため、散乱光レベルの光強度の変動を判定し
て散乱光を正確に検出することは困難であり、検出精度
や信頼性の点で問題があった。
【０００７】本発明は斯かる点に鑑みてなされたもの
で、その目的は、上記した光ファイバに対するビーム光
の照射構造を改良することで、光ファイバに混入される
気泡等の異物を微細なレベルまで正確に検出できるよう
にすることにある。
で、その目的は、上記した光ファイバに対するビーム光
の照射構造を改良することで、光ファイバに混入される
気泡等の異物を微細なレベルまで正確に検出できるよう
にすることにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明では、光ファイバにその側方からレーザ
光等のビーム光を照射して光ファイバを透過させると
き、そのビーム光を光ファイバに対して斜め方向から照
射することとした。
めに、この発明では、光ファイバにその側方からレーザ
光等のビーム光を照射して光ファイバを透過させると
き、そのビーム光を光ファイバに対して斜め方向から照
射することとした。
【０００９】具体的には、請求項１の発明は、ファイバ
素線にコーティング層を被覆してなる光ファイバの上記
コーティング層、ないし素線とコーティングとの界面に
混入された異物を検出するようにした光ファイバの被覆
異常検出装置を前提としている。
素線にコーティング層を被覆してなる光ファイバの上記
コーティング層、ないし素線とコーティングとの界面に
混入された異物を検出するようにした光ファイバの被覆
異常検出装置を前提としている。
【００１０】そして、上記光ファイバにその長さ方向と
所定の傾斜角度で傾斜する方向からビーム光を照射する
光源と、光ファイバの側方に、光源からのビーム光が光
ファイバを透過した透過光及び光ファイバの表面で反射
した反射光を受光部が受光しないように配置され、光源
からのビーム光が光ファイバを透過したときの上記異物
による散乱光のみを受光部で検出する散乱光検出手段と
を設ける。
所定の傾斜角度で傾斜する方向からビーム光を照射する
光源と、光ファイバの側方に、光源からのビーム光が光
ファイバを透過した透過光及び光ファイバの表面で反射
した反射光を受光部が受光しないように配置され、光源
からのビーム光が光ファイバを透過したときの上記異物
による散乱光のみを受光部で検出する散乱光検出手段と
を設ける。
【００１１】請求項２の発明では、上記異物は気泡とす
る。
る。
【００１２】請求項３の発明では、上記光源と光ファイ
バとの傾斜角度は３０°〜６０°とし、とりわけ、請求
項４の発明では、同傾斜角度を４５°とする。
バとの傾斜角度は３０°〜６０°とし、とりわけ、請求
項４の発明では、同傾斜角度を４５°とする。
【００１３】請求項５の発明では、散乱光検出手段は、
光源からの光が光ファイバに入射される部分を通りかつ
光ファイバと直交する面内に、受光部を光ファイバに向
けて配置する。
光源からの光が光ファイバに入射される部分を通りかつ
光ファイバと直交する面内に、受光部を光ファイバに向
けて配置する。
【００１４】請求項６の発明では、光源はレーザ光を照
射するレーザ光発生装置とする。
射するレーザ光発生装置とする。
【００１５】請求項７の発明では、光ファイバのコーテ
ィング層は１層とし、請求項８の発明では、コーティン
グ層は、ファイバ素線の外周に被覆された１次コーティ
ング層と、該１次コーティング層の外周に被覆された２
次コーティング層との２層とする。
ィング層は１層とし、請求項８の発明では、コーティン
グ層は、ファイバ素線の外周に被覆された１次コーティ
ング層と、該１次コーティング層の外周に被覆された２
次コーティング層との２層とする。
【００１６】請求項９の発明では、コーティング層は紫
外線硬化樹脂又はシリコン樹脂とする。
外線硬化樹脂又はシリコン樹脂とする。
【００１７】請求項１０の発明は、ファイバ素線にコー
ティング層を被覆してなる光ファイバの上記コーティン
グ層、ないし素線とコーティングとの界面に混入した異
物を検出する光ファイバの被覆異常検出方法であり、上
記請求項１の発明と同様に、光ファイバにその長さ方向
と所定の傾斜角度で傾斜する方向からビーム光を照射し
て、そのビーム光が光ファイバを透過したときの上記異
物による散乱光のみを検出することを特徴とする。
ティング層を被覆してなる光ファイバの上記コーティン
グ層、ないし素線とコーティングとの界面に混入した異
物を検出する光ファイバの被覆異常検出方法であり、上
記請求項１の発明と同様に、光ファイバにその長さ方向
と所定の傾斜角度で傾斜する方向からビーム光を照射し
て、そのビーム光が光ファイバを透過したときの上記異
物による散乱光のみを検出することを特徴とする。
【００１８】請求項１１の発明では、請求項１０の光フ
ァイバの被覆異常検出方法において、上記請求項２の発
明と同様に異物を気泡とする。
ァイバの被覆異常検出方法において、上記請求項２の発
明と同様に異物を気泡とする。
【００１９】
【作用】上記の構成により、請求項１又は１０の発明で
は、光源から光ファイバにビーム光が照射されると、こ
のビーム光の大半は光ファイバを透過して透過光とな
り、一部が光ファイバの表面で反射して反射光となる。
光ファイバ内に気泡等の異物が混入されているとき、こ
の異物により上記透過光の一部が透過光本来の方向とは
異なる方向に散乱して散乱光となり、この散乱光は光フ
ァイバの側方に配設した散乱光検出手段により検出され
る。つまり、この散乱光の有無を検出することで、光フ
ァイバ内の異物を検出することができる。
は、光源から光ファイバにビーム光が照射されると、こ
のビーム光の大半は光ファイバを透過して透過光とな
り、一部が光ファイバの表面で反射して反射光となる。
光ファイバ内に気泡等の異物が混入されているとき、こ
の異物により上記透過光の一部が透過光本来の方向とは
異なる方向に散乱して散乱光となり、この散乱光は光フ
ァイバの側方に配設した散乱光検出手段により検出され
る。つまり、この散乱光の有無を検出することで、光フ
ァイバ内の異物を検出することができる。
【００２０】その場合、上記光源からのビーム光は光フ
ァイバに対しその長さ方向と所定の傾斜角度で傾斜する
方向から照射される一方、散乱光検出手段は、ビーム光
が光ファイバを透過した透過光及び光ファイバの表面で
反射した反射光を受光部が受光しないように配置されて
いるため、基本的に散乱光検出手段の受光部にはビーム
光による光ファイバの透過光や表面反射光が入力され
ず、異物による散乱光のみが入射されることとなる。そ
の結果、異物による弱いレベルの散乱光のみを、強度の
大きい透過光や表面反射光の影響を受けることなく明確
に識別して散乱光検出手段で検出でき、よって光ファイ
バの異物を微細レベルまで確実に検出することができ
る。
ァイバに対しその長さ方向と所定の傾斜角度で傾斜する
方向から照射される一方、散乱光検出手段は、ビーム光
が光ファイバを透過した透過光及び光ファイバの表面で
反射した反射光を受光部が受光しないように配置されて
いるため、基本的に散乱光検出手段の受光部にはビーム
光による光ファイバの透過光や表面反射光が入力され
ず、異物による散乱光のみが入射されることとなる。そ
の結果、異物による弱いレベルの散乱光のみを、強度の
大きい透過光や表面反射光の影響を受けることなく明確
に識別して散乱光検出手段で検出でき、よって光ファイ
バの異物を微細レベルまで確実に検出することができ
る。
【００２１】請求項２又は１１の発明では、光ファイバ
の異物としての気泡を高精度に検出することができる。
の異物としての気泡を高精度に検出することができる。
【００２２】請求項３の発明では、上記光源と光ファイ
バとの傾斜角度が３０°〜６０°であるので、この光源
と光ファイバとの傾斜角度の好ましい範囲が具体的に得
られる。つまり、傾斜角度が３０°未満であると、光源
が光ファイバと近接してその配置スペースが制約される
一方、傾斜角度が６０°を越えると、透過光や表面反射
光の角度範囲が大きくなり、その透過光や表面反射光の
入射を避けるべき散乱光検出手段の配置位置が制限され
るので、よって傾斜角度は３０°〜６０°とされる。特
に、請求項４の発明では、傾斜角度が４５°であるの
で、その最適値が得られる。
バとの傾斜角度が３０°〜６０°であるので、この光源
と光ファイバとの傾斜角度の好ましい範囲が具体的に得
られる。つまり、傾斜角度が３０°未満であると、光源
が光ファイバと近接してその配置スペースが制約される
一方、傾斜角度が６０°を越えると、透過光や表面反射
光の角度範囲が大きくなり、その透過光や表面反射光の
入射を避けるべき散乱光検出手段の配置位置が制限され
るので、よって傾斜角度は３０°〜６０°とされる。特
に、請求項４の発明では、傾斜角度が４５°であるの
で、その最適値が得られる。
【００２３】請求項５の発明では、光源からの光が光フ
ァイバに入射される部分を通りかつ光ファイバと直交す
る面内に、散乱光検出手段が受光部を光ファイバに向け
て配置されていることで、光ファイバの異物により散乱
される散乱光を散乱光検出手段にて最適レベルで受光す
ることができ、散乱光検出手段の好ましい配置位置が得
られる。
ァイバに入射される部分を通りかつ光ファイバと直交す
る面内に、散乱光検出手段が受光部を光ファイバに向け
て配置されていることで、光ファイバの異物により散乱
される散乱光を散乱光検出手段にて最適レベルで受光す
ることができ、散乱光検出手段の好ましい配置位置が得
られる。
【００２４】請求項６の発明では、ビーム光がレーザ光
であるので、上記散乱光の生成のために好ましいビーム
光が容易に得られる。
であるので、上記散乱光の生成のために好ましいビーム
光が容易に得られる。
【００２５】請求項７の発明では、コーティング層がフ
ァイバ素線の外周に被覆された１層のみである光ファイ
バにおける異物を精度良く確実に検出することができ
る。
ァイバ素線の外周に被覆された１層のみである光ファイ
バにおける異物を精度良く確実に検出することができ
る。
【００２６】請求項８の発明では、コーティング層がフ
ァイバ素線の外周に被覆された１次コーティング層と、
その外周に被覆された２次コーティング層とからなる２
層コーティングの光ファイバでの異物を精度良く確実に
検出できる。
ァイバ素線の外周に被覆された１次コーティング層と、
その外周に被覆された２次コーティング層とからなる２
層コーティングの光ファイバでの異物を精度良く確実に
検出できる。
【００２７】請求項９の発明では、コーティング層が紫
外線硬化樹脂又はシリコン樹脂のコーティング層である
と、異物による散乱光を容易に検出することができる。
外線硬化樹脂又はシリコン樹脂のコーティング層である
と、異物による散乱光を容易に検出することができる。
【００２８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１は本発明の実施例に係る被覆異常検出装置の
構成を概略的に示し、１は例えば線引工程中にある光フ
ァイバで、この光ファイバ１は、図２に示すように、加
熱溶融したガラス母材から線引きされコア２ａ及びその
周囲のクラッド２ｂからなるファイバ素線２をダイス
（図示せず）を通過させて、その外周に１次コーティン
グ層３を被覆するとともに、さらに該１次コーティング
層３の外周に２次コーティング層４を被覆して２層のコ
ーティング層３，４を形成したものである。各コーティ
ング層３，４は、溶融樹脂が紫外線の照射によって硬化
するＵＶ硬化樹脂からなる。
する。図１は本発明の実施例に係る被覆異常検出装置の
構成を概略的に示し、１は例えば線引工程中にある光フ
ァイバで、この光ファイバ１は、図２に示すように、加
熱溶融したガラス母材から線引きされコア２ａ及びその
周囲のクラッド２ｂからなるファイバ素線２をダイス
（図示せず）を通過させて、その外周に１次コーティン
グ層３を被覆するとともに、さらに該１次コーティング
層３の外周に２次コーティング層４を被覆して２層のコ
ーティング層３，４を形成したものである。各コーティ
ング層３，４は、溶融樹脂が紫外線の照射によって硬化
するＵＶ硬化樹脂からなる。
【００２９】上記被覆異常検出装置における光ファイバ
１の一側方には所定距離だけ離れた位置に光源としての
所定出力のＨｅ−Ｎｅレーザ光発生装置６が配置されて
いる。このレーザ光発生装置６は光ファイバ１の長さ方
向に対し所定の傾斜角度θで傾斜して配置されており、
レーザ光発生装置６によりビーム光としてのレーザ光Ｌ
１を光ファイバ１に向かってその長さ方向と所定の傾斜
角度θで傾斜する方向から照射する。
１の一側方には所定距離だけ離れた位置に光源としての
所定出力のＨｅ−Ｎｅレーザ光発生装置６が配置されて
いる。このレーザ光発生装置６は光ファイバ１の長さ方
向に対し所定の傾斜角度θで傾斜して配置されており、
レーザ光発生装置６によりビーム光としてのレーザ光Ｌ
１を光ファイバ１に向かってその長さ方向と所定の傾斜
角度θで傾斜する方向から照射する。
【００３０】上記傾斜角度θは、３０°≦θ≦６０°で
あるのが好ましく、そのうちの最適値はθ＝４５°であ
る。つまり、傾斜角度θがθ＜３０°であると、レーザ
光発生装置６が光ファイバ１と近接し過ぎ、その配置ス
ペースが制約される。一方、傾斜角度θがθ＞６０°で
あると、レーザ光Ｌ１による光ファイバ１の透過光Ｌ２
や表面反射光Ｌ３の角度範囲が大きくなり、その透過光
Ｌ２や表面反射光Ｌ３の入射を避ける必要のある後述の
光強度検出器８の配置位置が制限される。よって傾斜角
度θはθ＝３０°〜６０°とするのがよく、特にθ＝４
５°とすると、上記の如き問題が全く生じない最適値が
得られる。
あるのが好ましく、そのうちの最適値はθ＝４５°であ
る。つまり、傾斜角度θがθ＜３０°であると、レーザ
光発生装置６が光ファイバ１と近接し過ぎ、その配置ス
ペースが制約される。一方、傾斜角度θがθ＞６０°で
あると、レーザ光Ｌ１による光ファイバ１の透過光Ｌ２
や表面反射光Ｌ３の角度範囲が大きくなり、その透過光
Ｌ２や表面反射光Ｌ３の入射を避ける必要のある後述の
光強度検出器８の配置位置が制限される。よって傾斜角
度θはθ＝３０°〜６０°とするのがよく、特にθ＝４
５°とすると、上記の如き問題が全く生じない最適値が
得られる。
【００３１】一方、光ファイバ１に対し上記レーザ光発
生装置６と反対側の側方には散乱光検出手段としての光
強度検出器８が配置され、この検出器８は図外のパワー
メータに接続されている。光強度検出器８は、レーザ光
発生装置６からのレーザ光Ｌ１が光ファイバ１を透過し
たときにその内部の気泡により散乱される散乱光Ｌ４の
みを検出してその強度に応じた信号をパワーメータに出
力するもので、その散乱光Ｌ４を受光可能な受光部８ａ
を有している。そして、光強度検出器８は、該受光部８
ａがレーザ光発生装置６からのレーザ光Ｌ１が光ファイ
バ１に入射される点Ａを通りかつ光ファイバ１と直交す
る平面内に、上記受光部８ａを光ファイバ１に向けて配
置されており、この配置構造で光強度検出器８の受光部
８ａは、レーザ光発生装置６からのレーザ光Ｌ１が光フ
ァイバ１を透過した透過光Ｌ２と光ファイバ１の表面で
反射した反射光Ｌ３とについては受光しないようになっ
ている。
生装置６と反対側の側方には散乱光検出手段としての光
強度検出器８が配置され、この検出器８は図外のパワー
メータに接続されている。光強度検出器８は、レーザ光
発生装置６からのレーザ光Ｌ１が光ファイバ１を透過し
たときにその内部の気泡により散乱される散乱光Ｌ４の
みを検出してその強度に応じた信号をパワーメータに出
力するもので、その散乱光Ｌ４を受光可能な受光部８ａ
を有している。そして、光強度検出器８は、該受光部８
ａがレーザ光発生装置６からのレーザ光Ｌ１が光ファイ
バ１に入射される点Ａを通りかつ光ファイバ１と直交す
る平面内に、上記受光部８ａを光ファイバ１に向けて配
置されており、この配置構造で光強度検出器８の受光部
８ａは、レーザ光発生装置６からのレーザ光Ｌ１が光フ
ァイバ１を透過した透過光Ｌ２と光ファイバ１の表面で
反射した反射光Ｌ３とについては受光しないようになっ
ている。
【００３２】尚、光強度検出器８の受光部８ａは光ファ
イバ１の長さ方向に沿った幅Ｄが所定幅（例えばＤ＝１
ｍｍ）のスリット１０を有する遮蔽板１１で覆われてお
り、光ファイバ１に対しスリット１０の幅Ｄ以下の長さ
の部分について順に気泡による散乱光Ｌ４の有無を検出
するようになっている。
イバ１の長さ方向に沿った幅Ｄが所定幅（例えばＤ＝１
ｍｍ）のスリット１０を有する遮蔽板１１で覆われてお
り、光ファイバ１に対しスリット１０の幅Ｄ以下の長さ
の部分について順に気泡による散乱光Ｌ４の有無を検出
するようになっている。
【００３３】次に、上記実施例の作用について説明す
る。線引工程において、加熱溶融したガラス母材から線
引きされてファイバ素線２が形成され、このファイバ素
線２はダイスの通過によりその外周にＵＶ硬化樹脂から
なる１層（１次コート）及び２層（２次コート）のコー
ティング層３，４がそれぞれ順次形成され、しかる後に
被覆異常検出装置においてコーティング層３，４での気
泡４の有無が検査される。
る。線引工程において、加熱溶融したガラス母材から線
引きされてファイバ素線２が形成され、このファイバ素
線２はダイスの通過によりその外周にＵＶ硬化樹脂から
なる１層（１次コート）及び２層（２次コート）のコー
ティング層３，４がそれぞれ順次形成され、しかる後に
被覆異常検出装置においてコーティング層３，４での気
泡４の有無が検査される。
【００３４】すなわち、被覆異常検出装置では、光ファ
イバ１の長さ方向と傾斜角度θで傾斜する方向からレー
ザ光発生装置６によりビーム状のレーザ光Ｌ１が出力さ
れ、該レーザ光Ｌ１は、移動する光ファイバ１に照射さ
れる。このレーザ光Ｌ１の大半は光ファイバ１を屈折し
ながら透過してレーザ光発生装置６と反対側に進む透過
光Ｌ２となり、残りは光ファイバ１の表面で反射されて
上記傾斜角度θと同じ角度でレーザ光発生装置６側に戻
る反射光Ｌ３となる。これらの透過光Ｌ２及び反射光Ｌ
３は、基本的にレーザ光発生装置６からのレーザ光Ｌ１
が光ファイバ１に入射された点Ａを頂点として略円錐状
に拡がり（図１ではその底面部を破線にて示してい
る）、この範囲が透過光Ｌ２及び反射光Ｌ３の光路範囲
となる。
イバ１の長さ方向と傾斜角度θで傾斜する方向からレー
ザ光発生装置６によりビーム状のレーザ光Ｌ１が出力さ
れ、該レーザ光Ｌ１は、移動する光ファイバ１に照射さ
れる。このレーザ光Ｌ１の大半は光ファイバ１を屈折し
ながら透過してレーザ光発生装置６と反対側に進む透過
光Ｌ２となり、残りは光ファイバ１の表面で反射されて
上記傾斜角度θと同じ角度でレーザ光発生装置６側に戻
る反射光Ｌ３となる。これらの透過光Ｌ２及び反射光Ｌ
３は、基本的にレーザ光発生装置６からのレーザ光Ｌ１
が光ファイバ１に入射された点Ａを頂点として略円錐状
に拡がり（図１ではその底面部を破線にて示してい
る）、この範囲が透過光Ｌ２及び反射光Ｌ３の光路範囲
となる。
【００３５】そして、光ファイバ１に気泡が実質的に混
入されていないと見做される場合、上記透過光Ｌ２は気
泡により散乱されないので、散乱光Ｌ４は発生せず、こ
の散乱光Ｌ４を受光しない光強度検出器８からバックグ
ラウンドとしてのノイズレベルの信号が出力される。
入されていないと見做される場合、上記透過光Ｌ２は気
泡により散乱されないので、散乱光Ｌ４は発生せず、こ
の散乱光Ｌ４を受光しない光強度検出器８からバックグ
ラウンドとしてのノイズレベルの信号が出力される。
【００３６】これに対し、光ファイバ１に気泡が発生し
ていると、上記透過光Ｌ２の一部が気泡により散乱して
散乱光Ｌ４が生じ、この散乱光Ｌ４は気泡位置から全て
の方向に向かって散乱する。この散乱光Ｌ４の一部が、
スリット１０を通って光ファイバ１側方にある光強度検
出器８の受光部８ａに受光され、この受光された散乱光
Ｌ４により検出器８から上記ノイズレベルを越えた大き
さの信号が出力され、その大きさがパワーメータで測定
される。従って、上記散乱光Ｌ４の有無を光強度検出器
８により検出することで、光ファイバ１内の気泡を検出
することができる。
ていると、上記透過光Ｌ２の一部が気泡により散乱して
散乱光Ｌ４が生じ、この散乱光Ｌ４は気泡位置から全て
の方向に向かって散乱する。この散乱光Ｌ４の一部が、
スリット１０を通って光ファイバ１側方にある光強度検
出器８の受光部８ａに受光され、この受光された散乱光
Ｌ４により検出器８から上記ノイズレベルを越えた大き
さの信号が出力され、その大きさがパワーメータで測定
される。従って、上記散乱光Ｌ４の有無を光強度検出器
８により検出することで、光ファイバ１内の気泡を検出
することができる。
【００３７】そのとき、上記レーザ光発生装置６は光フ
ァイバ１の長さ方向に対し傾斜角度θで傾斜配置され
て、レーザ光発生装置６からのビーム状レーザ光Ｌ１
は、光ファイバ１にその長さ方向から傾斜角度θで傾斜
した方向から照射される。一方、光強度検出器８は、レ
ーザ光発生装置６からのレーザ光Ｌ１が光ファイバ１に
入射される点Ａを通りかつ光ファイバ１と直交する平面
内に受光部８ａを光ファイバ１に向けて配置され、上記
レーザ光Ｌ１が光ファイバ１を透過した透過光Ｌ２及び
光ファイバ１表面で反射した反射光Ｌ３を受光部８ａが
受光しないように配置されている。従って、光強度検出
器８の配置位置は上記透過光Ｌ２及び反射光Ｌ３の光路
範囲から外れた位置となり、その受光部８ａには透過光
Ｌ２や反射光Ｌ３が入力されず、上記気泡による散乱光
Ｌ４のみが入射されることとなる。その結果、気泡によ
る散乱光Ｌ４の強度が透過光Ｌ２や反射光Ｌ３に比べて
遥かに弱くても、その散乱光Ｌ４のみを、透過光Ｌ２や
表面反射光Ｌ３の影響を受けることなく明確に識別して
光強度検出器８で検出できるようになり、よって各々が
ＵＶ硬化樹脂からなる１次及び２次コーティング層３，
４を有する２層コーティングの光ファイバ１の気泡を微
細レベルまで確実かつ高精度に検出することができる。
ァイバ１の長さ方向に対し傾斜角度θで傾斜配置され
て、レーザ光発生装置６からのビーム状レーザ光Ｌ１
は、光ファイバ１にその長さ方向から傾斜角度θで傾斜
した方向から照射される。一方、光強度検出器８は、レ
ーザ光発生装置６からのレーザ光Ｌ１が光ファイバ１に
入射される点Ａを通りかつ光ファイバ１と直交する平面
内に受光部８ａを光ファイバ１に向けて配置され、上記
レーザ光Ｌ１が光ファイバ１を透過した透過光Ｌ２及び
光ファイバ１表面で反射した反射光Ｌ３を受光部８ａが
受光しないように配置されている。従って、光強度検出
器８の配置位置は上記透過光Ｌ２及び反射光Ｌ３の光路
範囲から外れた位置となり、その受光部８ａには透過光
Ｌ２や反射光Ｌ３が入力されず、上記気泡による散乱光
Ｌ４のみが入射されることとなる。その結果、気泡によ
る散乱光Ｌ４の強度が透過光Ｌ２や反射光Ｌ３に比べて
遥かに弱くても、その散乱光Ｌ４のみを、透過光Ｌ２や
表面反射光Ｌ３の影響を受けることなく明確に識別して
光強度検出器８で検出できるようになり、よって各々が
ＵＶ硬化樹脂からなる１次及び２次コーティング層３，
４を有する２層コーティングの光ファイバ１の気泡を微
細レベルまで確実かつ高精度に検出することができる。
【００３８】そして、この実施例では、上記の如く、光
強度検出器８は、レーザ光発生装置６からのレーザ光Ｌ
１が光ファイバ１に入射される点Ａを通りかつ光ファイ
バ１と直交する平面内に、光強度検出器８が受光部８ａ
を光ファイバ１に向けて配置されているので、光ファイ
バ１の気泡による散乱光Ｌ４の一部が好ましい状態で光
強度検出器８の受光部８ａに入力され、よって散乱光Ｌ
４を光強度検出器８にて最適レベルで受光することがで
きる。
強度検出器８は、レーザ光発生装置６からのレーザ光Ｌ
１が光ファイバ１に入射される点Ａを通りかつ光ファイ
バ１と直交する平面内に、光強度検出器８が受光部８ａ
を光ファイバ１に向けて配置されているので、光ファイ
バ１の気泡による散乱光Ｌ４の一部が好ましい状態で光
強度検出器８の受光部８ａに入力され、よって散乱光Ｌ
４を光強度検出器８にて最適レベルで受光することがで
きる。
【００３９】（具体例１）具体的に、上記実施例の構成
の検出装置（レーザ光発生装置６の出力は１ｍＷ）を使
用して、所定長さの光ファイバを長さ方向に移動させな
がらその気泡による散乱光Ｌ４の強度を光強度検出器８
により検出した。その後、同じ光ファイバを、反射抑制
用のマッチングオイル中にて顕微鏡にて観察して気泡の
数量及び径を測定し、この顕微鏡観察による気泡数と散
乱光Ｌ４の強度との関係を求めた。その結果を下記表１
に示す。尚、発生長とは、気泡により散乱光Ｌ４の強度
のピークが生じたときの光ファイバの移動距離である。
の検出装置（レーザ光発生装置６の出力は１ｍＷ）を使
用して、所定長さの光ファイバを長さ方向に移動させな
がらその気泡による散乱光Ｌ４の強度を光強度検出器８
により検出した。その後、同じ光ファイバを、反射抑制
用のマッチングオイル中にて顕微鏡にて観察して気泡の
数量及び径を測定し、この顕微鏡観察による気泡数と散
乱光Ｌ４の強度との関係を求めた。その結果を下記表１
に示す。尚、発生長とは、気泡により散乱光Ｌ４の強度
のピークが生じたときの光ファイバの移動距離である。
【００４０】
【表１】
【００４１】また、気泡の径と数量との関係を図３によ
り、また気泡の合計の表面積と散乱光Ｌ４の強度との関
係を図４によりそれぞれ示す。図３によると、気泡は６
μｍ以下のものが大半を占めることが判る。
り、また気泡の合計の表面積と散乱光Ｌ４の強度との関
係を図４によりそれぞれ示す。図３によると、気泡は６
μｍ以下のものが大半を占めることが判る。
【００４２】また、図４によれば、気泡表面積（気泡の
半径をｒとしたときに４πｒ2 ）の合計と散乱光Ｌ４の
強度とは明確な相関性を有し、気泡表面積が増大する、
つまり気泡が多くなるほど散乱光Ｌ４の強度が増大する
ことが判る。そして、この具体例では、気泡表面積／
（４π）の合計Σｒ2 がΣｒ2 ＜１００であると散乱光
Ｌ４の強度による気泡の検出を行うことができず、この
値Σｒ2 ＝１００が検出感度の限界であると考えられ
る。この気泡表面積がΣｒ2 ≧１００となるときの気泡
径と気泡数との関係を示すと、表２のようになる。
半径をｒとしたときに４πｒ2 ）の合計と散乱光Ｌ４の
強度とは明確な相関性を有し、気泡表面積が増大する、
つまり気泡が多くなるほど散乱光Ｌ４の強度が増大する
ことが判る。そして、この具体例では、気泡表面積／
（４π）の合計Σｒ2 がΣｒ2 ＜１００であると散乱光
Ｌ４の強度による気泡の検出を行うことができず、この
値Σｒ2 ＝１００が検出感度の限界であると考えられ
る。この気泡表面積がΣｒ2 ≧１００となるときの気泡
径と気泡数との関係を示すと、表２のようになる。
【００４３】
【表２】
【００４４】（具体例２）上記具体例１と同様にして、
別の２つのサンプルの光ファイバ（全長３０ｍｍ）を顕
微鏡観察して気泡混入数と発生長とを測定した。その結
果を表３に示す。
別の２つのサンプルの光ファイバ（全長３０ｍｍ）を顕
微鏡観察して気泡混入数と発生長とを測定した。その結
果を表３に示す。
【００４５】
【表３】
【００４６】この表３によると、気泡のうち単独で存在
する気泡や数量の少ないものについては検出が困難であ
るが、その他のものについては良好に検出でき、気泡検
出レベルを高くすることができることが判る。
する気泡や数量の少ないものについては検出が困難であ
るが、その他のものについては良好に検出でき、気泡検
出レベルを高くすることができることが判る。
【００４７】尚、上記実施例は、２層のコーティング層
３，４を有する光ファイバ１の場合であるが、本発明
は、ファイバ素線２に対し１層のコーティング層や３層
以上のコーティング層を被覆した光ファイバに対しても
適用することができる。
３，４を有する光ファイバ１の場合であるが、本発明
は、ファイバ素線２に対し１層のコーティング層や３層
以上のコーティング層を被覆した光ファイバに対しても
適用することができる。
【００４８】また、上記実施例では、ＵＶ硬化樹脂のコ
ーティング層３，４であるが、その他、シリコン樹脂の
コーティング層でも気泡を検出することができる。
ーティング層３，４であるが、その他、シリコン樹脂の
コーティング層でも気泡を検出することができる。
【００４９】さらに、上記実施例は、光ファイバ１にお
けるファイバ素線２とコーティング３との界面や２層の
コーティング層３，４間の界面等に混入された気泡を検
出するものであるが、気泡以外の異物であっても、上記
と同様にして検出することができる。また、光源として
は、レーザ光Ｌ１以外のビーム光を使用することもでき
る。
けるファイバ素線２とコーティング３との界面や２層の
コーティング層３，４間の界面等に混入された気泡を検
出するものであるが、気泡以外の異物であっても、上記
と同様にして検出することができる。また、光源として
は、レーザ光Ｌ１以外のビーム光を使用することもでき
る。
【００５０】また、レーザ光の強度や光強度検出器の感
度をそれぞれ大きくすることで、さらに検出精度を上げ
ることができ、上記具体例１に示すΣｒ2 ≦１００での
気泡検出を行うことが可能となる。
度をそれぞれ大きくすることで、さらに検出精度を上げ
ることができ、上記具体例１に示すΣｒ2 ≦１００での
気泡検出を行うことが可能となる。
【００５１】また、光強度検出器の受光部の前に波長フ
ィルタを設置したり、或いは光源に変調を加えたりする
ことで、ノイズレベルを低減でき、より一層の高精度化
が可能となる。
ィルタを設置したり、或いは光源に変調を加えたりする
ことで、ノイズレベルを低減でき、より一層の高精度化
が可能となる。
【００５２】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１又は１０
の発明によると、ファイバ素線にコーティング層を被覆
してなる光ファイバに対し、その長さ方向と所定の傾斜
角度で傾斜する方向からビーム光を照射する一方、光フ
ァイバの側方に散乱光検出手段を、ビーム光による光フ
ァイバの透過光と光ファイバ表面での反射光とを受光部
が受光しないように配置し、この散乱光検出手段によ
り、透過光が光ファイバの異物で散乱した散乱光のみを
検出するようにしたことにより、散乱光検出手段に透過
光や表面反射光を入射させずに、異物による散乱光のみ
を入射させることができ、弱いレベルの散乱光であって
も、大強度の透過光や表面反射光の影響を受けることな
く明確に識別して検出でき、光ファイバでの異物検出精
度の向上及びその確実化を図ることができる。
の発明によると、ファイバ素線にコーティング層を被覆
してなる光ファイバに対し、その長さ方向と所定の傾斜
角度で傾斜する方向からビーム光を照射する一方、光フ
ァイバの側方に散乱光検出手段を、ビーム光による光フ
ァイバの透過光と光ファイバ表面での反射光とを受光部
が受光しないように配置し、この散乱光検出手段によ
り、透過光が光ファイバの異物で散乱した散乱光のみを
検出するようにしたことにより、散乱光検出手段に透過
光や表面反射光を入射させずに、異物による散乱光のみ
を入射させることができ、弱いレベルの散乱光であって
も、大強度の透過光や表面反射光の影響を受けることな
く明確に識別して検出でき、光ファイバでの異物検出精
度の向上及びその確実化を図ることができる。
【００５３】請求項２又は１１の発明によると、光ファ
イバの異物は気泡としたことで、光ファイバのコーティ
ング層ないし素線とコーティングとの界面に発生する気
泡を精度良く確実に検出できる。
イバの異物は気泡としたことで、光ファイバのコーティ
ング層ないし素線とコーティングとの界面に発生する気
泡を精度良く確実に検出できる。
【００５４】請求項３の発明では、上記光源と光ファイ
バとの傾斜角度を３０°〜６０°とした。また、請求項
４の発明では、同傾斜角度を４５°とした。これら発明
によれば、光源と光ファイバとの傾斜角度の好ましい範
囲及びその中での最適値が具体的に得られる。
バとの傾斜角度を３０°〜６０°とした。また、請求項
４の発明では、同傾斜角度を４５°とした。これら発明
によれば、光源と光ファイバとの傾斜角度の好ましい範
囲及びその中での最適値が具体的に得られる。
【００５５】請求項５の発明によると、光源からの光が
光ファイバに入射される部分を通りかつ光ファイバと直
交する面内に散乱光検出手段をその受光部が光ファイバ
に向くように配置したことで、光ファイバの異物による
散乱光を散乱光検出手段にて最適レベルで受光でき、散
乱光検出手段の好ましい配置位置が得られる。
光ファイバに入射される部分を通りかつ光ファイバと直
交する面内に散乱光検出手段をその受光部が光ファイバ
に向くように配置したことで、光ファイバの異物による
散乱光を散乱光検出手段にて最適レベルで受光でき、散
乱光検出手段の好ましい配置位置が得られる。
【００５６】請求項６の発明によると、ビーム光をレー
ザ光として、散乱光の生成のために好ましいビーム光が
容易に得られる。
ザ光として、散乱光の生成のために好ましいビーム光が
容易に得られる。
【００５７】請求項７の発明では、ファイバ素線に被覆
されるコーティング層を１層とした。また、請求項８の
発明では、コーティング層は、ファイバ素線に被覆され
た１次コーティング層とその外周に被覆された２次コー
ティング層との２層とした。これら発明によると、１層
又は２層のコーティング層を持つ光ファイバでの異物を
精度良く確実に検出できる。
されるコーティング層を１層とした。また、請求項８の
発明では、コーティング層は、ファイバ素線に被覆され
た１次コーティング層とその外周に被覆された２次コー
ティング層との２層とした。これら発明によると、１層
又は２層のコーティング層を持つ光ファイバでの異物を
精度良く確実に検出できる。
【００５８】請求項９の発明によると、上記コーティン
グ層が紫外線硬化樹脂又はシリコン樹脂であるので、光
ファイバでの異物による散乱光の検出の容易化を図るこ
とができる。
グ層が紫外線硬化樹脂又はシリコン樹脂であるので、光
ファイバでの異物による散乱光の検出の容易化を図るこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例を概略的に示す斜視図である。
【図２】検査対象としての光ファイバの拡大断面図であ
る。
る。
【図３】光ファイバでの気泡の径及びその観察数を示す
ヒストグラムである。
ヒストグラムである。
【図４】光ファイバにおける気泡の表面積の合計とそれ
に応じた散乱光の強度の関係の実験結果を示す特性図で
ある。
に応じた散乱光の強度の関係の実験結果を示す特性図で
ある。
１ 光ファイバ ２ ファイバ素線 ３ １次コーティング層 ４ ２次コーティング層 ６ Ｈｅ−Ｎｅレーザ光発生装置（光源） ８ 光強度検出器（散乱光検出手段） ８ａ 受光部 Ｌ１ レーザ光 Ｌ２ 透過光 Ｌ３ 反射光 Ｌ４ 散乱光 θ 傾斜角度 Ａ 光ファイバへのレーザ光入射点
Claims (11)
- 【請求項１】 ファイバ素線にコーティング層を被覆し
てなる光ファイバの上記コーティング層、ないし素線と
コーティングとの界面に混入された異物を検出するよう
にした光ファイバの被覆異常検出装置であって、 上記光ファイバにその長さ方向と所定の傾斜角度で傾斜
する方向からビーム光を照射する光源と、 上記光ファイバの側方に、光源からのビーム光が光ファ
イバを透過した透過光と光ファイバの表面で反射した反
射光とを受光部が受光しないように配設され、光源から
のビーム光が光ファイバを透過したときの上記異物によ
る散乱光のみを受光部で検出する散乱光検出手段とを備
えたことを特徴とする光ファイバの被覆異常検出装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の光ファイバの被覆異常検
出装置において、 異物は、気泡であることを特徴とする光ファイバの被覆
異常検出装置。 - 【請求項３】 請求項１又は２記載の光ファイバの被覆
異常検出装置において、 光源と光ファイバとの傾斜角度が３０°〜６０°である
ことを特徴とする光ファイバの被覆異常検出装置。 - 【請求項４】 請求項３記載の光ファイバの被覆異常検
出装置において、 光源と光ファイバとの傾斜角度が４５°であることを特
徴とする光ファイバの被覆異常検出装置。 - 【請求項５】 請求項１又は２記載の光ファイバの被覆
異常検出装置において、 散乱光検出手段は、光源からの光が光ファイバに入射さ
れる部分を通りかつ光ファイバと直交する面内に、受光
部を光ファイバに向けて配置されていることを特徴とす
る光ファイバの被覆異常検出装置。 - 【請求項６】 請求項１又は２記載の光ファイバの被覆
異常検出装置において、 光源は、レーザ光を照射するレーザ光発生装置であるこ
とを特徴とする光ファイバの被覆異常検出装置。 - 【請求項７】 請求項１又は２記載の光ファイバの被覆
異常検出装置において、 コーティング層は、１層であることを特徴とする光ファ
イバの被覆異常検出装置。 - 【請求項８】 請求項１又は２記載の光ファイバの被覆
異常検出装置において、 コーティング層は、ファイバ素線の外周に被覆された１
次コーティング層と、該１次コーティング層の外周に被
覆された２次コーティング層とからなることを特徴とす
る光ファイバの被覆異常検出装置。 - 【請求項９】 請求項７又は８記載の光ファイバの被覆
異常検出装置において、 コーティング層は、紫外線硬化樹脂又はシリコン樹脂で
あることを特徴とする光ファイバの被覆異常検出装置。 - 【請求項１０】 ファイバ素線にコーティング層を被覆
してなる光ファイバの上記コーティング層、ないし素線
とコーティングとの界面に混入した異物を検出する光フ
ァイバの被覆異常検出方法であって、 上記光ファイバにその長さ方向と所定の傾斜角度で傾斜
する方向からビーム光を照射して、そのビーム光が光フ
ァイバを透過したときの上記異物による散乱光のみを検
出することを特徴とする光ファイバの被覆異常検出方
法。 - 【請求項１１】 請求項１０記載の光ファイバの被覆異
常検出方法において、 異物は、気泡であることを特徴とする光ファイバの被覆
異常検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7063901A JPH08261954A (ja) | 1995-03-23 | 1995-03-23 | 光ファイバの被覆異常検出装置及び検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7063901A JPH08261954A (ja) | 1995-03-23 | 1995-03-23 | 光ファイバの被覆異常検出装置及び検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08261954A true JPH08261954A (ja) | 1996-10-11 |
Family
ID=13242691
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7063901A Withdrawn JPH08261954A (ja) | 1995-03-23 | 1995-03-23 | 光ファイバの被覆異常検出装置及び検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08261954A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3435073A4 (en) * | 2016-03-24 | 2019-10-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Glass fiber tester, method for producing a glass fiber, test method for glass fiber and method for producing a glass fiber |
| CN115190872A (zh) * | 2020-02-26 | 2022-10-14 | 住友电气工业株式会社 | 光纤的制造方法和光纤的制造装置 |
-
1995
- 1995-03-23 JP JP7063901A patent/JPH08261954A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3435073A4 (en) * | 2016-03-24 | 2019-10-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Glass fiber tester, method for producing a glass fiber, test method for glass fiber and method for producing a glass fiber |
| US10551307B2 (en) | 2016-03-24 | 2020-02-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical fiber inspecting device, optical fiber manufacturing apparatus, method for inspecting optical fiber, and method for manufacturing optical fiber |
| US11022549B2 (en) | 2016-03-24 | 2021-06-01 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical fiber inspecting device, optical fiber manufacturing apparatus, method for inspecting optical fiber, and method for manufacturing optical fiber |
| CN115190872A (zh) * | 2020-02-26 | 2022-10-14 | 住友电气工业株式会社 | 光纤的制造方法和光纤的制造装置 |
| CN115190872B (zh) * | 2020-02-26 | 2024-03-15 | 住友电气工业株式会社 | 光纤的制造方法和光纤的制造装置 |
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| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020604 |