JPH08242064A - Printed wiring board - Google Patents

Printed wiring board

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JPH08242064A
JPH08242064A JP6865695A JP6865695A JPH08242064A JP H08242064 A JPH08242064 A JP H08242064A JP 6865695 A JP6865695 A JP 6865695A JP 6865695 A JP6865695 A JP 6865695A JP H08242064 A JPH08242064 A JP H08242064A
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JP
Japan
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resin
wiring board
solder
roughened surface
resist
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JP6865695A
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Japanese (ja)
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Masanori Tamaki
昌徳 玉木
Motoo Asai
元雄 浅井
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH08242064A publication Critical patent/JPH08242064A/en
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    • H05K3/4644Manufacturing multilayer circuits by building the multilayer layer by layer, i.e. build-up multilayer circuits

Abstract

PURPOSE: To obtain a metallic pad which has low resistance and is excellent in adhesion property with solder resist by forming a roughened surface by using needle-like crystal, etc., of eutectic metal in a metallic pad surface of a printed circuit board wherein solder resist is formed, thus charging an opening part thereof with a metallic film wherein a solder body is provided on a surface. CONSTITUTION: A first layer conductor circuit 2 is prepared on a glass epoxy copper-clad lamination board 1, photosensitive adhesive solution is applied for exposure and development, an opening which becomes a via-hole is formed and a roughened surface 4 is formed by roughening a surface of a resin interlayer adhesive layer 3. Liquid resist is applied and a resist layer 5 is formed, a first conductive circuit 7, a via-hole 6 and a metallic pad 8 are formed by masking and exposure and an eutectic roughened surface 9 is obtained in a surface of a conductor pattern and a pad by performing electroless plating. An Sn layer 10 is provided on a surface of a roughened surface, exposed by using liquid solder resist in close contact with a mask of a pattern covering a part of a pad, an opening part 15 which exposes a roughened surface is formed and an electrolytic copper plating film is filled.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本願発明は、電子回路搭載用の金
属パッドを有するプリント配線板に関し、特に低抵抗
で、ソルダーレジストとの密着に優れた金属パッドのを
持つプリント配線板に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board having a metal pad for mounting an electronic circuit, and particularly to a printed wiring board having a metal pad having a low resistance and excellent adhesion to a solder resist.

【0002】[0002]

【従来の技術】プリント配線板上にLSIなどの電子部
品を実装するにあたり、電子部品搭載用の金属パッド部
を形成する。この金属パッド部は、導体回路の配線部よ
りも幅の広い部分であり、導体回路と電気的に接続して
いる。
2. Description of the Related Art In mounting an electronic component such as an LSI on a printed wiring board, a metal pad portion for mounting the electronic component is formed. The metal pad portion is a portion wider than the wiring portion of the conductor circuit, and is electrically connected to the conductor circuit.

【0003】プリント配線板の表面は、通常ソルダーレ
ジストと呼ばれる色素を持つ樹脂被覆膜をもち、配線の
保護、配線パターンの隠蔽の役割を持つ。このソルダー
レジストは、金属パッドを部分的に露出させるように形
成され、この露出部分にはんだ膜を形成するのである。
このようなはんだ膜の形成方法としては、国際公開番号
WO93/25060号に開示されるような無電解はん
だめっきが用いられるようになってきた。
The surface of the printed wiring board usually has a resin coating film having a dye called a solder resist, and has the role of protecting the wiring and concealing the wiring pattern. This solder resist is formed so as to partially expose the metal pad, and a solder film is formed on this exposed portion.
As a method for forming such a solder film, electroless solder plating as disclosed in International Publication No. WO93 / 25060 has come to be used.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな無電解はんだめっきのめっき浴は、強アルカリであ
り、ソルダーレジスト膜と金属パッドが剥離するという
問題が見られた。また、はんだ膜は電気抵抗が高いた
め、金属パッド部のはんだ量を少なくすることが求めら
れていた。
However, the plating bath for such electroless solder plating is a strong alkali, and there has been a problem that the solder resist film and the metal pad are separated from each other. Further, since the solder film has high electric resistance, it has been required to reduce the amount of solder in the metal pad portion.

【0005】このように、従来は低抵抗でソルダーレジ
ストとの密着性に優れた金属パッドの構造は提案されて
いない。本願発明の目的は、このような低抵抗でソルダ
ーレジストとの密着性に優れた金属パッドを持つプリン
ト配線板を提案する。
As described above, conventionally, no structure of a metal pad having a low resistance and an excellent adhesion to a solder resist has been proposed. An object of the present invention is to propose a printed wiring board having such a metal pad having low resistance and excellent adhesion to a solder resist.

【0006】[0006]

【課題を解決する手段】本願発明は、プリント配線板の
表層に電子回路搭載用の金属パッドが設けられ、その金
属パッド上にはその金属パッドが部分的に露出するよう
に開口部を設けてソルダーレジストが形成されてなるプ
リント配線板において、前記金属パッド表面には共晶金
属による針状結晶等による粗化面が形成されてなり、そ
の粗化面上の開口部には金属膜が充填され、その金属膜
上にはんだ体が設けられてなるプリント配線板である。
According to the present invention, a metal pad for mounting an electronic circuit is provided on the surface layer of a printed wiring board, and an opening is provided on the metal pad so that the metal pad is partially exposed. In a printed wiring board on which a solder resist is formed, a roughened surface such as needle crystals of eutectic metal is formed on the surface of the metal pad, and an opening on the roughened surface is filled with a metal film. And a solder body is provided on the metal film.

【0007】[0007]

【作用】本願発明では、金属パッドの表面に粗化面は形
成されていることが必要である。この理由は、ソルダー
レジストとの密着性を改善するためである。粗化面の凹
凸部分がソルダーレジストの中にアンカーのように食い
込み、金属パッドとソルダーレジストとの密着性を向上
させることができるからである。
In the present invention, it is necessary that a roughened surface is formed on the surface of the metal pad. The reason for this is to improve the adhesion with the solder resist. This is because the uneven portion of the roughened surface can penetrate into the solder resist like an anchor to improve the adhesion between the metal pad and the solder resist.

【0008】また、この粗化面上の開口部に金属を充填
して、その上にはんだ体を設けることが必要であるが、
この理由は、はんだの量をできるだけ減らしてはんだ接
続による抵抗値増加を防止するとともに、はんだ体を開
口部の上方に配置させるか、もしくは開口部からはんだ
体を突起させて電子回路部品の外部端子との接続を容易
にするためである。また、充填量を調整してはんだ体の
位置を調整できるのである。
Further, it is necessary to fill the opening on the roughened surface with metal and to provide a solder body on it.
The reason for this is to reduce the amount of solder as much as possible to prevent the resistance value from increasing due to solder connection, and to place the solder body above the opening, or to project the solder body from the opening to the external terminal of the electronic circuit component. This is to facilitate the connection with. Also, the position of the solder body can be adjusted by adjusting the filling amount.

【0009】前記粗化面は、針状結晶であることが望ま
しい。この理由は、ソルダーレジスト内に食い込みやす
いからである。前記針状結晶は、共晶金属であることが
望ましい。この理由は、共晶合金は、電気抵抗が比較的
小さい針状結晶を形成しやすいからである。前記針状結
晶はNi−P−Cuの共晶合金であることが望ましい。
この理由は、非常に複雑な形状の粗化面を容易に形成で
き、また抵抗値がCuのそれと大きくかわらないからで
ある。また、共晶化合物は、強度が高いため熱衝撃によ
る層間剥離が生じにくく、ヒートサイクル特性が向上す
るからである。また、酸や酸化剤で溶解されず、高い密
着力を確保できるからである。
The roughened surface is preferably acicular crystals. The reason for this is that it easily penetrates into the solder resist. The needle crystals are preferably eutectic metal. The reason for this is that the eutectic alloy is likely to form needle crystals having a relatively low electric resistance. The needle crystals are preferably a eutectic alloy of Ni-P-Cu.
The reason for this is that a roughened surface having a very complicated shape can be easily formed, and the resistance value is not largely different from that of Cu. Further, since the eutectic compound has high strength, delamination due to thermal shock is unlikely to occur, and heat cycle characteristics are improved. Further, it is because it is not dissolved by an acid or an oxidizing agent and a high adhesion can be secured.

【0010】前記共晶化合物の銅、ニッケル、リンの含
有量は、それぞれ、90〜96%、1〜3%、0.5〜
2wt%程度あることが望ましい。上記範囲では、析出
被膜の結晶が針状構造になるため、アンカー効果に優れ
るからである。
The contents of copper, nickel and phosphorus in the eutectic compound are 90 to 96%, 1 to 3% and 0.5 to respectively.
It is desirable to be about 2 wt%. This is because, in the above range, the crystals of the deposited film have a needle-like structure, and the anchor effect is excellent.

【0011】本発明においては、パッド上の粗化面のう
ち、開口部により露出している部分は、予め除去されて
いるか、粗化層を設けないことが抵抗値の低減の観点か
らより好適である。このためには、粗化層を設けための
無電解めっき浴に浸漬する前に、金属パッドの開口部に
より露出される部分をマスクしておく方法がよい。
In the present invention, of the roughened surface on the pad, the portion exposed by the opening is preferably removed in advance or it is more preferable not to provide the roughened layer from the viewpoint of reducing the resistance value. Is. For this purpose, it is preferable to mask the portion exposed by the opening of the metal pad before dipping it in the electroless plating bath for forming the roughening layer.

【0012】前記粗化面の厚さは、0.5〜5μmであ
ることが望ましい。この理由は、0.5μm未満ではア
ンカー効果が低すぎて密着強度が低下し、5μmを超え
ると表面粗度が大きくなりすぎて、密着強度が低下す
る。また、5μmを超えると、粗化面の上に充填される
金属膜との間に空隙ができてしまい、抵抗の増大につな
がる。
The thickness of the roughened surface is preferably 0.5 to 5 μm. The reason for this is that if it is less than 0.5 μm, the anchoring effect is too low and the adhesion strength decreases, and if it exceeds 5 μm, the surface roughness becomes too large and the adhesion strength decreases. On the other hand, when it exceeds 5 μm, a void is formed between the roughened surface and the metal film, which leads to an increase in resistance.

【0013】前記粗化面の形成方法としては、パッドが
設けられたプリント配線基板を、少なくとも銅化合物、
ニッケル化合物、次亜リン酸塩を含有するめっき浴中に
浸漬して無電解めっきを行う。無電解めっき浴は、上記
化合物の他、錯化剤等を適宜添加してもよい。前記めっ
き浴中の銅化合物、ニッケル化合物、次亜リン酸塩濃度
は、それぞれ、8〜12g/l、0.8〜1.2g/
l、18〜22g/lであることが望ましい。この理由
は、上記範囲内では、析出する結晶構造が、針状構造に
なるため、アンカー効果に優れるからである。
As a method of forming the roughened surface, a printed wiring board provided with a pad is formed of at least a copper compound,
Electroless plating is performed by immersing in a plating bath containing a nickel compound and hypophosphite. In the electroless plating bath, in addition to the above compounds, a complexing agent and the like may be appropriately added. The copper compound, nickel compound, and hypophosphite concentration in the plating bath are 8 to 12 g / l and 0.8 to 1.2 g / l, respectively.
1, 18 to 22 g / l is desirable. The reason for this is that within the above range, the precipitated crystal structure becomes a needle-like structure, and the anchor effect is excellent.

【0014】無電解めっき条件としては、浴温度が60
〜80℃、析出速度は、1〜1.5μm/10分、浴比
は0.5〜1.0dm2 /lであることが望ましい。め
っき時間は、5〜20分であることが望ましい。上記範
囲を外れた場合、析出する粗化面を構成するめっき被膜
が、緻密にならず、ヒートサイクル特性が著しく低下し
てしまうからである。
As electroless plating conditions, a bath temperature of 60
It is desirable that the temperature is -80 ° C, the deposition rate is 1 to 1.5 µm / 10 minutes, and the bath ratio is 0.5 to 1.0 dm 2 / l. The plating time is preferably 5 to 20 minutes. When it is out of the above range, the plating film forming the roughened surface to be deposited does not become dense and the heat cycle characteristics are significantly deteriorated.

【0015】前記粗化面の表面には、Snの層を有する
ことが望ましい。この理由は、酸や酸化剤などの薬品に
対して、Snが溶解したり、変色したすることがないた
め、共晶合金の粗化面を保護することができるからであ
る。前記Sn層は、Ni−P−Cuの共晶合金の表面の
金属と置換することにより形成することが望ましい。こ
の理由は、置換反応であるため、針状結晶の形状を損な
うことがないため、ソルダーレジストとの密着力が低下
しないからである。
It is desirable to have a Sn layer on the surface of the roughened surface. The reason for this is that Sn is not dissolved or discolored by a chemical such as an acid or an oxidizing agent, so that the roughened surface of the eutectic alloy can be protected. The Sn layer is preferably formed by substituting the metal on the surface of the eutectic alloy of Ni-P-Cu. The reason for this is that since it is a substitution reaction, the shape of the needle-like crystals is not impaired, and the adhesive force with the solder resist does not decrease.

【0016】本願発明においては、ソルダーレジストの
開口部に充填される金属膜は、Cuであることが望まし
い。この理由は、Cuはコストが安い上、金属パッドは
Cu製であることが一般的であり、金属パッドとの電気
抵抗、熱膨張率の整合をとりやすいからである。
In the present invention, the metal film filled in the opening of the solder resist is preferably Cu. The reason for this is that Cu is low in cost, and the metal pad is generally made of Cu, and it is easy to match the electric resistance and the coefficient of thermal expansion with the metal pad.

【0017】前記はんだ体は、膜状あるいは球状いずれ
も選択できるが、特に球状であることが望ましい。この
理由は、半導体部品を搭載しやすいからである。半導体
部品はフリップチップ実装が主流となりつつあり、球状
のはんだ体は、このようなフリップチップ実装には最適
である。前記充填される金属は、無電解めっき、電解め
っきいずれかのめっき方法で形成されることが望まし
い。
The solder body may be in the form of a film or a sphere, but is preferably sphere. The reason for this is that it is easy to mount semiconductor components. Flip-chip mounting is becoming the mainstream for semiconductor components, and a spherical solder body is most suitable for such flip-chip mounting. The metal to be filled is preferably formed by a plating method of either electroless plating or electrolytic plating.

【0018】また、前記はんだ体は、ソルダーレジスト
の表面から突起していることが望ましい。従来のQFP
のようなリードを外部端子として有するものは、セルフ
アライメント効果を期待できるため、パッド表面のはん
だ体はソルダーレジスト表面より低い位置に配置して、
パッド部分は窪みとなっていた方がよいのであるが、最
近主流になりつつあるはんだバンプ(はんだボール)に
より接続を行うフリップチップ実装では、逆にはんだ体
はソルダーレジスト表面よりも突起していた方がよいか
らである。
Further, it is preferable that the solder body is projected from the surface of the solder resist. Conventional QFP
For those having leads as external terminals like this, the self-alignment effect can be expected, so place the solder body on the pad surface at a position lower than the solder resist surface,
It is better to make the pad part a dent, but in flip chip mounting, which uses solder bumps (solder balls), which are becoming the mainstream these days, the solder body was protruding more than the solder resist surface. Because it is better.

【0019】前記はんだ体の形成方法としては、ソルダ
ーレジストの開口部にスクリーン印刷などではんだペー
ストを印刷してリフリローするか、あるいは無電解はん
だめっきを行う方法があるが、特に無電解はんだめっき
の方がファインピッチの表面実装を行う上で優れてい
る。
As a method for forming the solder body, there is a method in which a solder paste is printed on the opening of the solder resist by screen printing or the like to re-float, or electroless solder plating is carried out. It is better for fine pitch surface mounting.

【0020】無電解めっき方法としては、国際公開番号
WO93/25060号に開示されるような置換めっき
および不均化めっきを用いた方法がよい。本願発明は、
まさにこのような強アルカリ性の不均化めっき浴中でも
ソルダーレジストの剥離が起きない構造を提案している
のである。
The electroless plating method is preferably a method using displacement plating and disproportionation plating as disclosed in International Publication No. WO93 / 25060. The present invention is
It proposes a structure in which peeling of the solder resist does not occur even in such a strongly alkaline disproportionation plating bath.

【0021】この置換めっきおよび不均化めっきを用い
た方法について説明する。まず、銅などの金属パッドの
表面にチオ尿素の金属錯体形成に基づくCu−Sn置換
反応が起き、厚さ0.1〜2μmのSn薄膜層が形成さ
れる。ついで、選択的析出に基づく不均化反応がおきて
Sn結晶層が形成される。 2Sn(OH)3 - →Sn+Sn(OH)6 2- このようにして得られた析出した結晶が粗いため(1〜
100μm)、結晶粒子が凝集した状態となり、多孔質
体となる。
A method using the displacement plating and the disproportionation plating will be described. First, a Cu—Sn substitution reaction based on the formation of a metal complex of thiourea occurs on the surface of a metal pad such as copper to form a Sn thin film layer having a thickness of 0.1 to 2 μm. Then, a disproportionation reaction based on selective precipitation occurs to form a Sn crystal layer. 2Sn (OH) 3 - → Sn + Sn (OH) 6 2- this way because coarser resulting precipitated crystals (1
100 μm), the crystalline particles are in an agglomerated state and become a porous body.

【0022】さらに、このSn多孔質体をSn−Pb置
換で0.1〜5μmのPb層を設けるのである。このS
n−Pb複合体を必要に応じてリフローしてはんだ膜や
はんだボールに成形する。
Further, the Sn porous body is replaced with Sn-Pb to form a Pb layer of 0.1 to 5 μm. This S
The n-Pb composite is reflowed as necessary to form a solder film or a solder ball.

【0023】本願発明で使用されるソルダーレジスト
は、熱可塑性樹脂と感光化した熱硬化性樹脂の複合体で
あることが望ましい。
The solder resist used in the present invention is preferably a composite of a thermoplastic resin and a sensitized thermosetting resin.

【0024】前記熱硬化性樹脂は、フェノール樹脂、メ
ラミン樹脂や尿素樹脂などのアミノ樹脂、エポキシ樹
脂、フェノキシ樹脂、エポキシ変成ポリイミド樹脂、不
飽和ポリエステル樹脂、ポリイミド樹脂、ウレタン樹
脂、ジアリルフタレート樹脂であることが望ましい。
The thermosetting resin is phenol resin, amino resin such as melamine resin or urea resin, epoxy resin, phenoxy resin, epoxy modified polyimide resin, unsaturated polyester resin, polyimide resin, urethane resin, diallyl phthalate resin. Is desirable.

【0025】また、前記熱可塑性樹脂は、ポリエーテル
スルホン、ポリスルホン、ポリエーテルイミド、ポリス
チレン、ポリエチレン、ポリアリレート、ポリアミドイ
ミド、ポリフェニレンスルフィド、ポリエーテルエーテ
ルケトン、ポリオキシベンゾエート、ポリ塩化ビニル、
ポリ酢酸ビニル、ポリアセタール、ポリカーボネートで
あることが望ましい。
The thermoplastic resin may be polyethersulfone, polysulfone, polyetherimide, polystyrene, polyethylene, polyarylate, polyamideimide, polyphenylene sulfide, polyetheretherketone, polyoxybenzoate, polyvinyl chloride,
It is preferably polyvinyl acetate, polyacetal, or polycarbonate.

【0026】また、本発明においては前記熱硬化性樹脂
に代えて感光性樹脂を用いることができるが、感光性樹
脂としては、アクリロイル基、メタクリロイル基、アリ
ル基、ビニル基などの不飽和二重結合を分子内に1〜数
個持つものが使用でき、エポキシアクリレート、ポリエ
ステルアクリレート、ポリエーテルアクリレート、シル
コンアクリレート、ポリブタジエンアクリレート、ポリ
スチルエチルメタクリレート、ビニル/アクリルオリゴ
マー(分岐した酸、酸無水物、ヒドロキシ基、グリシジ
ル基を持ったモノマーとビニル又はアクリルポリマーと
共重合させ、次にアクリルモノマーと反応させたも
の)、ポリエチレン/チオール(オレフィンとメルカプ
タンの共重合物)などが好適に用いられる。
In the present invention, a photosensitive resin can be used in place of the thermosetting resin, and the photosensitive resin includes unsaturated double groups such as acryloyl group, methacryloyl group, allyl group and vinyl group. Those having one to several bonds in the molecule can be used, and epoxy acrylate, polyester acrylate, polyether acrylate, silcon acrylate, polybutadiene acrylate, polystyrylethyl methacrylate, vinyl / acrylic oligomer (branched acid, acid anhydride, A monomer having a hydroxy group or a glycidyl group, copolymerized with vinyl or an acrylic polymer, and then reacted with an acrylic monomer), polyethylene / thiol (a copolymer of olefin and mercaptan) and the like are preferably used.

【0027】ここで、この感光性樹脂の光硬化因子とし
て重要である光開始剤としては、ベンゾイソブチルエー
テル,ベンジルジメチルケタール,ジエトキシアセトフ
ェノン,アシロキシムエステル,塩素化アセトフェノ
ン,ヒドロキシアセトフェノン等の分子内結合開裂型、
ベンゾフェノン,ミヒラーケトン,ジベンゾスベロン,
2−エチルアンスラキノン,イソブチルチオキサンソン
等の分子内水素引抜型のいずれか1種以上が好適に用い
られる。
Here, as the photoinitiator which is important as a photocuring factor for the photosensitive resin, benzoisobutyl ether, benzyl dimethyl ketal, diethoxyacetophenone, acyloxime ester, chlorinated acetophenone, hydroxyacetophenone, etc. Bond cleavage type,
Benzophenone, Michler's ketone, dibenzosuberone,
Any one or more of intramolecular hydrogen abstraction type such as 2-ethylanthraquinone and isobutylthioxanthone are preferably used.

【0028】光開始助剤としては、トリエタノールアミ
ン,ミヒラーケトン,4,4-ジエチルアミノベンゾフェノ
ン,2−ジメチルアミノエチル安息香酸,4−ジメチル
アミノ安息香酸エチル,4−ジメチルアミノ安息香酸
(n-ブトキシ)エチル,4−ジメチルアミノ安息香酸イ
ソアミル,4−ジメチルアミノ安息香酸2−エチルヘキ
シル,重合性3級アミン等のいずれか1種以上が用いら
れる。増感剤としては、ミヒラーケトンやイルガキュア
651 ,イソプロピルチオキサンソンなどが好適であり、
上記光開始剤のなかには、増感剤として作用するものも
ある。なお、上記光開始剤と増感剤の組成比は、例え
ば、感光性樹脂100 重量部に対して、 ベンゾフェノン/ミヒラーケトン=5重量部/0.5 重量
部 イルガキュア184 /イルガキュア651 =5重量部/0.5
重量部 イルガキュア907 /イソプロピルチオキサンソン=5重
量部/0.5 重量部が好適である。
As the photoinitiator aid, triethanolamine, Michler's ketone, 4,4-diethylaminobenzophenone, 2-dimethylaminoethylbenzoic acid, ethyl 4-dimethylaminobenzoate, 4-dimethylaminobenzoic acid (n-butoxy) Any one or more of ethyl, isoamyl 4-dimethylaminobenzoate, 2-ethylhexyl 4-dimethylaminobenzoate, and a polymerizable tertiary amine are used. As a sensitizer, Michler's ketone or Irgacure
651, isopropyl thioxanthone and the like are preferable,
Some of the above photoinitiators act as a sensitizer. The composition ratio of the photoinitiator to the sensitizer is, for example, benzophenone / Michler's ketone = 5 parts by weight / 0.5 parts by weight Irgacure 184 / Irgacure 651 = 5 parts by weight / 100 parts by weight of the photosensitive resin.
Weight parts Irgacure 907 / isopropyl thioxanthone = 5 weight parts / 0.5 weight parts are preferred.

【0029】また、感光性樹脂を構成する感光性モノマ
ーあるいは感光性オリゴマーとしては、エポキシアクリ
レートやエポキシメタクリレート,ウレタンアクリレー
ト,ポリエステルアクリレート,ポリスチリルメタクリ
レートなどが好適に用いられる。前記ソルダーレジスト
は、ポリエーテルスルフォンとエポキシアクリレートの
複合体であることがさらに望ましい。
Epoxy acrylate, epoxy methacrylate, urethane acrylate, polyester acrylate, polystyryl methacrylate, etc. are preferably used as the photosensitive monomer or photosensitive oligomer constituting the photosensitive resin. More preferably, the solder resist is a composite of polyether sulfone and epoxy acrylate.

【0030】この組成物は、解像度や酸、酸化剤特性に
は優れるが、逆に言えばアルカリには弱いため、本願発
明のようにパッド部に粗化面を有する構造とすることに
より、アルカリによる剥離の問題が解消するからであ
る。前記エポキシアクリレートは、エポキシ樹脂の10〜
50%アクリル化物であることが望ましい。この範囲のア
クリル化率が解像度に優れ、耐酸、酸化剤特性に優れる
からである。
This composition is excellent in resolution, acid and oxidant characteristics, but conversely, it is weak in alkali. Therefore, by adopting a structure having a roughened surface in the pad portion as in the present invention, alkali This is because the problem of peeling due to is solved. The epoxy acrylate is 10 to 10% of epoxy resin.
A 50% acrylate is desirable. This is because an acrylation ratio in this range is excellent in resolution, acid resistance and oxidant characteristics.

【0031】前記レジストは、熱硬化性樹脂の熱硬化官
能基の一部が感光基で置換された感光性樹脂と熱可塑性
樹脂からなる樹脂複合体であって、それらは擬似均一相
溶構造を形成していることが望ましい。疑似均一相溶構
造とは、本願発明者らが全く新しく提案した樹脂複合体
の構造である。
The resist is a resin composite composed of a photosensitive resin and a thermoplastic resin in which a part of the thermosetting functional group of the thermosetting resin is replaced with a photosensitive group, and they have a pseudo-homogeneous compatible structure. It is desirable to be formed. The quasi-homogeneous compatible structure is a structure of the resin composite that the present inventors have newly proposed.

【0032】これは、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とか
らなる樹脂複合体、感光性樹脂と熱可塑性樹脂とからな
る樹脂複合体、もしくは熱硬化性樹脂の熱硬化官能基の
一部が感光基で置換された感光性樹脂と熱可塑性樹脂と
からなる樹脂複合体であり、且つ上記構成樹脂粒子の粒
径が透過型電子顕微鏡(以下、「TEM」で示す)観察
による測定値で 0.1μm以下であり、かつ動的粘弾性測
定による樹脂のガラス転移温度ピーク値が1つである樹
脂複合体を指す。ここに、本発明における動的粘弾性測
定の条件は、振動周波数6.28rad /sec、昇温速度5℃
/分である。
This is because a resin composite composed of a thermosetting resin and a thermoplastic resin, a resin composite composed of a photosensitive resin and a thermoplastic resin, or a part of the thermosetting functional group of the thermosetting resin is photosensitive. It is a resin composite consisting of a photosensitive resin substituted with a group and a thermoplastic resin, and the particle diameter of the constituent resin particles is 0.1 μm as measured by observation with a transmission electron microscope (hereinafter referred to as “TEM”). It is the following and refers to a resin composite having one glass transition temperature peak value of the resin measured by dynamic viscoelasticity. Here, the conditions for the dynamic viscoelasticity measurement in the present invention are: vibration frequency 6.28 rad / sec, temperature rising rate 5 ° C.
/ Min.

【0033】すなわち、擬似均一相溶構造は、エポキシ
樹脂などの熱硬化性樹脂が示す特有の物性もしくはアク
リル系樹脂などの感光性樹脂が示す特有の物性を具える
と共に、PESなどの熱可塑性樹脂本来の物性よりも高
い物性値を示す,より均質な構造をいい、動的粘弾性測
定によるガラス転移温度ピーク値が1つであり、熱硬化
性樹脂あるいは感光性樹脂と熱可塑性樹脂間との相互作
用が極めて強いものである。
That is, the quasi-homogeneous compatible structure has the unique physical properties of a thermosetting resin such as an epoxy resin or the photosensitive physical properties of an acrylic resin and a thermoplastic resin such as PES. Refers to a more homogeneous structure that exhibits higher physical properties than the original physical properties, and has a single glass transition temperature peak value measured by dynamic viscoelasticity, and is used for thermosetting resins or photosensitive resins and thermoplastic resins. The interaction is extremely strong.

【0034】また、擬似均一相溶構造をもつ複合体は、
破面を塩化メチレンなどの熱可塑製樹脂を溶解させる溶
媒でエッチングしても熱可塑性樹脂と熱硬化性樹脂(感
光化したものを含む)に相分離しないため、表面に熱可
塑性樹脂のエッチングによる凹凸が発生しない。これは
走査型電子顕微鏡(SEM)で観察できる。この擬似均
一相溶解構造は、次のようなモデルで表される。
The composite having a pseudo-homogeneous compatible structure is
Even if the fracture surface is etched with a solvent that dissolves thermoplastic resin such as methylene chloride, it does not phase-separate into thermoplastic resin and thermosetting resin (including photosensitized resin). No unevenness occurs. This can be observed with a scanning electron microscope (SEM). This pseudo-homogeneous phase dissolution structure is represented by the following model.

【0035】一般に熱硬化性樹脂は、ミクロゲルと呼ば
れる直径0.1μm以下の最小単位を有し、これが凝集
したものであると考えられている。ミクロゲル内は、モ
ノマーが化学結合して重合した分子鎖の塊である。ミク
ロゲル同士は化学結合していない。熱硬化性樹脂の破壊
は、このミクロゲル同士の界面で起こると考えられてい
る。このため現実の樹脂破壊強度が化学結合から計算さ
れる理論強度よりも低いと解されている。
Generally, the thermosetting resin has a minimum unit called a microgel having a diameter of 0.1 μm or less, and it is considered that this is an aggregate. The inside of the microgel is a mass of molecular chains in which monomers are chemically bonded and polymerized. The microgels are not chemically bound to each other. The destruction of the thermosetting resin is considered to occur at the interface between the microgels. Therefore, it is understood that the actual resin breaking strength is lower than the theoretical strength calculated from the chemical bond.

【0036】熱可塑性樹脂と熱硬化性樹脂(感光化した
ものも含む)の複合体はより複雑で、これらの樹脂を均
一に混合した後、硬化させても熱硬化性樹脂は、ミクロ
ゲル同士が凝集して熱可塑性樹脂を押出して、熱硬化性
樹脂の巨大な島と熱可塑性樹脂の海を形成してしまい、
相分離した状態になる。熱可塑性樹脂と熱硬化性樹脂の
完全な均一体を形成するためには、ミクロゲルの中に熱
可塑性樹脂を取り込まなければいなけないが、現在の硬
化技術では、それは不可能であるとされている。
A composite of a thermoplastic resin and a thermosetting resin (including a photosensitized resin) is more complicated, and even if these resins are uniformly mixed and then cured, the thermosetting resin will have microgels which are different from each other. Aggregate and extrude the thermoplastic resin to form huge islands of thermosetting resin and sea of thermoplastic resin,
The phase is separated. In order to form a perfect homogeneity of the thermoplastic resin and the thermosetting resin, it is necessary to incorporate the thermoplastic resin into the microgel, which is impossible with the current curing technology. .

【0037】そこで、本願発明者らは、このミクロゲル
の存在を一応容認し、このミクロゲルの間を熱可塑性樹
脂分子鎖で結んだ構造を提案し、これを「疑似均一構
造」と命名したのである。この樹脂複合体の構造による
効果は、前記複合体における熱可塑性樹脂(例えば、P
ES)の含有量が固形分で15〜50wt%である場合に特に
顕著となる。この理由は、熱可塑性樹脂の含有量が15wt
%未満では、樹脂成分の網目に絡み合う熱可塑性樹脂分
子が少ないため強靱化の効果が十分に発揮されず、一
方、熱可塑性樹脂の含有量が50wt%を超えると、架橋点
の減少によって熱硬化性樹脂あるいは感光性樹脂と熱可
塑性樹脂間との相互作用が小さくなるからである。
Therefore, the inventors of the present application accepted the existence of this microgel and proposed a structure in which the microgels were connected by a thermoplastic resin molecular chain, and named this "quasi-uniform structure". . The effect of the structure of the resin composite is that the thermoplastic resin (for example, P
It becomes particularly remarkable when the content of ES) is 15 to 50 wt% in terms of solid content. The reason is that the content of thermoplastic resin is 15 wt.
If it is less than%, the toughening effect is not sufficiently exerted because there are few thermoplastic resin molecules entangled in the resin component network, while if the content of the thermoplastic resin exceeds 50 wt%, it is thermoset due to a decrease in crosslinking points. This is because the interaction between the photosensitive resin or the photosensitive resin and the thermoplastic resin is reduced.

【0038】そして、上述したような樹脂複合体とする
ためのレジストの硬化方法は、第1に、熱硬化性樹脂を
用いる場合は、熱硬化性樹脂の硬化温度、硬化剤の種
類、および感光性付与の有無のうちから選ばれる1種ま
たは2種以上の因子によって決定される擬似均一相形成
点を超える硬化速度で、一方、感光性樹脂を用いる場合
は、感光性樹脂の光硬化因子,例えば開始剤や増感剤,
感光性モノマー,露光条件などによって決定される擬似
均一相形成点を超える硬化速度で硬化させる点に特徴が
ある。ここでの擬似均一相形成点とは、複合体を構成す
る樹脂粒子の粒径がTEM観察による測定値で 0.1μm
以下である擬似均一相溶構造を得ることができる,硬化
速度の下限値を意味する。
In the method of curing the resist for forming the resin composite as described above, firstly, when the thermosetting resin is used, the curing temperature of the thermosetting resin, the type of the curing agent, and the photosensitivity. With a curing rate exceeding a pseudo-homogeneous phase formation point determined by one or more factors selected from the presence or absence of imparting properties, on the other hand, when a photosensitive resin is used, a photocuring factor of the photosensitive resin, Such as initiators and sensitizers,
It is characterized in that it cures at a curing rate that exceeds the pseudo-homogeneous phase formation point determined by the photosensitive monomer and exposure conditions. The quasi-homogeneous phase formation point here means that the particle size of the resin particles forming the composite is 0.1 μm as measured by TEM observation.
It means the lower limit of the curing rate at which the following pseudo-homogeneous compatible structure can be obtained.

【0039】また、硬化方法としては、第2に、未硬化
熱硬化性樹脂あるいは未硬化感光性樹脂の架橋密度また
は分子量のいずれか1種以上の因子によって決定される
擬似均一相形成点を超えない相分離速度で硬化させる点
に特徴がある。ここでの擬似均一相形成点とは、複合体
を構成する樹脂粒子の粒径がTEM観察による測定値で
0.1μm以下である擬似均一相溶構造を得ることができ
る,相分離速度の上限値を意味する。
As the curing method, secondly, a quasi-homogeneous phase forming point which is determined by one or more factors of the crosslinking density or the molecular weight of the uncured thermosetting resin or the uncured photosensitive resin is exceeded. It is characterized in that it is cured at a non-phase separation rate. The quasi-homogeneous phase formation point here is a value measured by TEM observation of the particle size of the resin particles forming the composite.
It means the upper limit value of the phase separation rate at which a quasi-homogeneous compatible structure of 0.1 μm or less can be obtained.

【0040】さらに、硬化方法としては、第3に、上記
擬似均一相形成点を超える硬化速度で、かつ上記擬似均
一相形成点を超えない相分離速度で硬化させる点に特徴
がある。これは、硬化速度と相分離速度を決定する因子
が相互に影響する場合の方法を意味する。
Thirdly, the hardening method is characterized in that the hardening is carried out at a hardening speed exceeding the quasi-homogeneous phase forming point and at a phase separation speed not exceeding the quasi-homogeneous phase forming point. This means a method in which the factors that determine the curing rate and the phase separation rate influence each other.

【0041】次に、硬化速度または相分離速度を決定す
る上述した種々の因子の相互関係について説明する。ま
ず、硬化速度を決定する因子については、他の因子条件
を一定とすると、 熱硬化性樹脂の硬化温度が高いほど硬化速度は速くな
る。従って、擬似均一相形成点を超える硬化速度を得る
のに必要な硬化温度の下限値を超えて熱硬化性樹脂を硬
化すると、得られる樹脂複合体の構造は擬似均一相溶構
造となる。
Next, the interrelationship of the above-mentioned various factors that determine the curing rate or the phase separation rate will be described. First, regarding the factors that determine the curing rate, the curing rate increases as the curing temperature of the thermosetting resin increases, assuming that other factor conditions are constant. Therefore, when the thermosetting resin is cured below the lower limit of the curing temperature required to obtain a curing rate exceeding the pseudo-homogeneous phase formation point, the structure of the obtained resin composite becomes a pseudo-homogeneous compatible structure.

【0042】ゲル化時間が短い硬化剤ほど硬化速度は
速くなる。従って、擬似均一相形成点を超える硬化速度
を得るのに必要なゲル化時間の上限値を超えないような
硬化剤を用いて熱硬化性樹脂を硬化すると、得られる樹
脂複合体の構造は擬似均一相溶構造となる。
A curing agent having a shorter gel time has a higher curing rate. Therefore, when the thermosetting resin is cured with a curing agent that does not exceed the upper limit of the gelling time required to obtain a curing rate that exceeds the pseudo-homogeneous phase formation point, the structure of the resin composite obtained is pseudo. It has a uniform compatible structure.

【0043】感光性を付与するほど硬化速度は速くな
る。従って、他の因子条件が擬似均一相溶構造を形成す
る組み合わせにおいては、樹脂に感光性を付与すること
によって、得られる樹脂複合体はより均質な擬似均一相
溶構造となる。
The higher the photosensitivity, the faster the curing speed. Therefore, in a combination where other factor conditions form a quasi-homogeneous compatible structure, by imparting photosensitivity to the resin, the obtained resin composite has a more homogeneous quasi-homogeneous compatible structure.

【0044】なお、感光性を付与する方法としては、熱
硬化性樹脂あるいは熱可塑性樹脂に感光性基を導入する
方法、感光性モノマーを配合する方法があり、必要に応
じて光開始剤,光増感剤を配合してもよい。また、アク
リル系樹脂などの感光性樹脂を熱硬化性樹脂の代わりに
使用することができる。この場合は、感光性樹脂の,例
えば開始剤や増感剤,感光性モノマー,露光条件などの
光硬化因子によって決定される擬似均一相形成点を超え
る硬化速度で硬化させる必要がある。
As a method of imparting photosensitivity, there are a method of introducing a photosensitive group into a thermosetting resin or a thermoplastic resin, and a method of blending a photosensitive monomer. You may mix | blend a sensitizer. Further, a photosensitive resin such as an acrylic resin can be used instead of the thermosetting resin. In this case, it is necessary to cure the photosensitive resin at a curing rate exceeding a pseudo-homogeneous phase formation point determined by a photocuring factor such as an initiator, a sensitizer, a photosensitive monomer and exposure conditions.

【0045】このような事実を考慮すると、熱硬化性樹
脂あるいは感光性樹脂と熱可塑性樹脂の複合化に当たっ
て上記変動因子が1種の場合は、擬似均一相形成点に対
応するその因子の値が1点決まる。それ故に、上記変動
因子が2種以上の場合には、擬似均一相形成点に対応す
るその因子の値は種々の組み合わせが考えられる。すな
わち、構成樹脂粒子の粒径がTEM観察による測定値で
0.1μm以下となるような硬化速度を示す組み合わせを
選定することができる。
Considering these facts, when the thermosetting resin or the photosensitive resin and the thermoplastic resin are compounded, if the above-mentioned variation factor is one, the value of the factor corresponding to the pseudo-homogeneous phase formation point is One point is decided. Therefore, when the above-mentioned fluctuation factors are two or more, various combinations of the values of the factors corresponding to the pseudo-homogeneous phase formation point are conceivable. That is, the particle size of the constituent resin particles is a value measured by TEM observation.
It is possible to select a combination that exhibits a curing rate of 0.1 μm or less.

【0046】次に、相分離速度を決定する因子について
は、他の因子条件を一定とすると、 未硬化熱硬化性樹脂あるいは未硬化感光性樹脂の一分
子中の官能基数が多い程相分離は起きにくい(相分離速
度は遅くなる)。従って、擬似均一相形成点を超えない
相分離速度を得るのに必要な架橋密度の下限値を超える
架橋密度を有する未硬化熱硬化性樹脂あるいは未硬化感
光性樹脂を用いて硬化すると、得られる樹脂複合体の構
造は擬似均一相溶構造となる。
Regarding the factors that determine the phase separation rate, if the other factor conditions are constant, the more the number of functional groups in one molecule of the uncured thermosetting resin or the uncured photosensitive resin, the more the phase separation occurs. Difficult to occur (phase separation speed slows down). Therefore, it can be obtained by curing using an uncured thermosetting resin or an uncured photosensitive resin having a crosslink density exceeding the lower limit of the crosslink density required to obtain a phase separation rate not exceeding the pseudo-homogeneous phase formation point. The structure of the resin composite has a pseudo-homogeneous compatible structure.

【0047】未硬化熱硬化性樹脂あるいは未硬化感光
性樹脂の分子量が大きいほど相分離は起きにくい(相分
離速度は遅くなる)。従って、擬似均一相形成点を超え
ない相分離速度を得るのに必要な分子量の下限値を超え
る分子量を有する未硬化熱硬化性樹脂あるいは未硬化感
光性樹脂を用いて硬化すると、得られる樹脂複合体の構
造は擬似均一相溶構造となる。このような事実を考慮す
ると、熱硬化性樹脂あるいは感光性樹脂と熱可塑性樹脂
の複合化に当たって上記変動因子が1種の場合は、擬似
均一相形成点に対応するその因子の値が1点決まる。そ
れ故に、上記変動因子が2種の場合には、擬似均一相形
成点に対応するその因子の値は種々の組み合わせが考え
られる。すなわち、構成樹脂粒子の粒径がTEM観察に
よる測定値で 0.1μm以下となるような相分離速度を示
す組み合わせを選定することができる。
The larger the molecular weight of the uncured thermosetting resin or the uncured photosensitive resin, the less likely phase separation occurs (the phase separation speed becomes slower). Therefore, when the uncured thermosetting resin or the uncured photosensitive resin having a molecular weight exceeding the lower limit of the molecular weight required to obtain a phase separation rate not exceeding the quasi-homogeneous phase formation point is used for curing, the resulting resin composite is obtained. The body structure becomes a pseudo-homogeneous compatible structure. Considering these facts, when the thermosetting resin or the photosensitive resin is combined with the thermoplastic resin and the above-mentioned variation factor is one, the value of the factor corresponding to the pseudo-homogeneous phase formation point is determined by one point. . Therefore, when the above-mentioned variation factors are two types, various combinations of the values of the factors corresponding to the pseudo-homogeneous phase formation points are possible. That is, it is possible to select a combination showing a phase separation rate such that the particle size of the constituent resin particles is 0.1 μm or less as measured by TEM observation.

【0048】以上説明したような本発明方法により得ら
れる樹脂複合体は、エポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂が
示す特有の物性あるいはアクリル系樹脂などの感光性樹
脂が示す特有の物性を具えると共に、PESなどの熱可
塑性樹脂本来の物性よりもさらに高い物性値を示すこと
ができる。すなわち、本発明にかかるPES変性エポキ
シ樹脂やPES変成アクリル樹脂は、PES単独の樹脂
強度よりも高くなり、従来にはないエポキシ樹脂あるい
はアクリル樹脂の強靱化効果を有するものである。
The resin composite obtained by the method of the present invention as described above has the physical properties peculiar to thermosetting resins such as epoxy resin or the peculiar physical properties of photosensitive resin such as acrylic resin. It is possible to exhibit higher physical property values than the original physical properties of thermoplastic resins such as PES and PES. That is, the PES-modified epoxy resin and PES-modified acrylic resin according to the present invention have higher resin strength than that of PES alone, and have an unprecedented toughening effect on epoxy resin or acrylic resin.

【0049】熱硬化性樹脂(感光化した熱硬化性樹脂樹
脂)、感光性樹脂から選ばれる少なくとも1種の樹脂と
熱可塑性樹脂とを複合化するに先立って、熱硬化性樹脂
あるいは感光性樹脂と熱可塑性樹脂は、必要に応じて溶
剤に溶解することにより均一に混合される。このような
溶剤(相溶媒)としては、例えば、ジメチルホルムアミ
ド(DMF )や塩化メチレン、ジメチルスルホキシド(DM
SO)、ノルマルメチルピロリドン(NMP )、ジエチレン
グリコールジメチルエーテル(DMDG) などが使用でき
る。
Thermosetting resin (photosensitized thermosetting resin), thermosetting resin or photosensitive resin prior to compounding at least one resin selected from photosensitive resin and thermoplastic resin The thermoplastic resin and the thermoplastic resin are uniformly mixed by being dissolved in a solvent as needed. Examples of such a solvent (phase solvent) include dimethylformamide (DMF), methylene chloride, and dimethylsulfoxide (DM).
SO), normal methyl pyrrolidone (NMP), diethylene glycol dimethyl ether (DMDG), etc. can be used.

【0050】また、相分離開始温度未満で、かつ硬化開
始温度未満の温度にて、熱硬化性樹脂あるいは感光性樹
脂と熱可塑性樹脂とを加熱溶融させて混合させることも
可能である。これら溶剤に樹脂を溶解させることにより
粘度調整ができ、フィルム化しやすいので有利である。
It is also possible to heat-melt and mix the thermosetting resin or the photosensitive resin and the thermoplastic resin at a temperature lower than the phase separation start temperature and lower than the curing start temperature. Dissolving the resin in these solvents is advantageous because the viscosity can be adjusted and a film is easily formed.

【0051】本発明において、熱硬化性樹脂としてエポ
キシ樹脂を用いる場合の硬化剤としては、イミダゾール
系硬化剤やジアミン、ポリアミン、ポリアミド、無水有
機酸、ビニルフェノールなどが使用できる。一方、エポ
キシ樹脂以外の熱硬化性樹脂を使用する場合は、周知の
硬化剤を使用できる。
In the present invention, when an epoxy resin is used as the thermosetting resin, an imidazole-based curing agent, a diamine, a polyamine, a polyamide, an organic acid anhydride, vinylphenol or the like can be used. On the other hand, when a thermosetting resin other than the epoxy resin is used, a known curing agent can be used.

【0052】これら樹脂には、着色剤、レベリング剤、
消泡剤、紫外線吸収剤、難燃化剤などの添加剤、耐熱性
微粉末あるいはその他の充填剤を適宜配合してもよい。
着色剤としては、フタシアニングリーンなどがよい。
These resins include coloring agents, leveling agents,
An antifoaming agent, an ultraviolet absorber, an additive such as a flame retardant, heat-resistant fine powder or other fillers may be appropriately mixed.
As the colorant, phthalocyanine green or the like is preferable.

【0053】本発明のレジスト組成物は、ベースフィル
ム上にロールコーターやドクターバーなどで塗布した
後、60〜100℃に設定した乾燥炉で乾燥することに
より、所定量の溶剤を除去し、Bステージ状態とするこ
とによりフィルム化することが膜厚均一性、生産性の点
で好ましい。
The resist composition of the present invention is coated on a base film with a roll coater or a doctor bar, and then dried in a drying oven set at 60 to 100 ° C. to remove a predetermined amount of the solvent. It is preferable to form a film by setting it in a stage state in terms of film thickness uniformity and productivity.

【0054】乾燥は、相分離しない条件で行ない、乾燥
されBステージ状態となったものは、単一相の混合物で
ある。乾燥は、30℃以下の室温付近で真空乾燥するこ
とが望ましい。フィルム化した場合には、配合調整した
樹脂混合物の融点を、常温よりも高くなるようにし、ま
た硬化開始時間をこの融点よりも高く設定することが有
利である。
The drying was carried out under the condition that the phases were not separated, and the dried product in the B stage was a single-phase mixture. It is desirable that the drying be performed in vacuum around room temperature of 30 ° C. or less. In the case of forming a film, it is advantageous to set the melting point of the resin mixture whose composition has been adjusted to be higher than room temperature and set the curing start time higher than this melting point.

【0055】この理由は、樹脂複合体の融点が常温より
も低いと、フィルム状に加工した後の樹脂複合体を常温
以下で保存、使用しなければならず、その作業性が著し
く損なわれるからである。また硬化開始温度を融点以上
に設定する理由は、通常フィルムの使用に際しては、加
圧加熱ラミネートして用いることが一般的であり、この
加熱により樹脂を軟化させて基体に追従させるのである
が、この時、樹脂複合体が硬化してしまうことを防止す
るためである。
The reason for this is that if the melting point of the resin composite is lower than room temperature, the resin composite after being processed into a film must be stored and used at room temperature or below, and the workability thereof is significantly impaired. Is. The reason for setting the curing start temperature to the melting point or higher is that, when the film is usually used, it is generally used by laminating under pressure, and the resin is softened by this heating to follow the substrate. This is to prevent the resin composite from being cured at this time.

【0056】ラミネート時に熱硬化が進むと解像度が低
下するなどの不具合を生じやすくなる。もちろん、熱硬
化性樹脂と熱可塑性樹脂の組み合わせの場合について
は、この限りではない。
If heat curing proceeds during lamination, problems such as a decrease in resolution are likely to occur. Of course, this is not the case in the case of a combination of a thermosetting resin and a thermoplastic resin.

【0057】樹脂の融点は、骨格構造などによっても、
制御可能であるが、分子量の増減によって制御すること
が、硬化物の特性を大きく変化させないという意味で有
利である。また、硬化開始温度は、硬化剤の構造、種類
を選択することによって容易に制御できる。この際、ベ
ースフィルム上のレジストの厚さは、ドクターバーのギ
ャップにより、15〜150μmに調整される。そし
て、このレジストフィルムはロール状に巻き取られるた
め、レジスト上保護フィルム(カバーフィルム)を形成
させて未硬化状態のレジストを保護することが望まし
い。
The melting point of the resin depends on the skeleton structure, etc.
Although controllable, control by increasing or decreasing the molecular weight is advantageous in that the properties of the cured product are not significantly changed. Further, the curing start temperature can be easily controlled by selecting the structure and type of the curing agent. At this time, the thickness of the resist on the base film is adjusted to 15 to 150 μm by the doctor bar gap. Since this resist film is wound into a roll, it is desirable to form a protective film on the resist (cover film) to protect the uncured resist.

【0058】上記ベースフィルムとしては、ポリエチレ
ンテレフタレート、ポリプロピレンおよびポリエチレン
フロライド(テドラーフィルム)などのフィルムが好適
に使用される。このベースフィルムの厚さは、5〜10
0μmが望ましい。なお、ベースフィルムに対するめっ
きレジストの弾きを防止するために、ベースフィルムの
塗布面にはマッド処理(凹凸)をほどこしてもよい。
As the base film, polyethylene terephthalate, polypropylene and polyethylene fluoride (Tedlar film) films are preferably used. The thickness of this base film is 5-10.
0 μm is desirable. In order to prevent the plating resist from repelling the base film, the coated surface of the base film may be subjected to a mud treatment (unevenness).

【0059】また、レジストフィルム作成時のシート同
士の接触の際、レジスト層に異物による打痕、窪みが発
生するのを防止するために、反対面にもマッド処理して
もよい。
In addition, in order to prevent dents or dents due to foreign matter on the resist layer when the sheets are brought into contact with each other when the resist film is formed, mud treatment may be performed on the opposite surface.

【0060】本願発明の金属パッドを持つプリント配線
板は、どのようなものでもよいが、特に多層プリン配線
板となっているとが望ましい。また、表面に接着剤層を
有し、その表面が粗化され、その粗化面の上に金属パッ
ドが形成されていることが望ましい。
The printed wiring board having the metal pad of the present invention may be any printed wiring board, but is preferably a multilayer printed wiring board. Further, it is desirable that the surface has an adhesive layer, the surface is roughened, and the metal pad is formed on the roughened surface.

【0061】上記接着剤は、樹脂マトリックスに耐熱性
樹脂微粉末を分散した接着剤が望ましく、耐熱性樹脂粉
末は、粒子形状、中空形状、解砕片状などの各種形状の
ものを使用でき、特に粒子形状の場合は、1)平均粒径
10μm以下の粒子、2)平均粒径2μm以下の耐熱性樹
脂粉末を凝集させて平均粒径2〜10μmの大きさとした
凝集粒子、3)平均粒径2〜10μmの耐熱性樹脂粉末と
平均粒径2μm以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、4)
平均粒径2〜10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒径
2μm以下の耐熱性樹脂粉末もしくは平均粒径2μm以
下の無機粉末のいずれか少なくとも1種を付着させてな
る擬似粒子から選ばれることが望ましい。この理由は、
平均粒径10μmを超えると、アンカーが深くなり、100
μm以下の所謂ファインパターンを形成できなくなるか
らであり、一方、上記2)〜4)の疑似粒子が望ましい
理由は、複雑なアンカーを形成でき、ピール強度を向上
させることができからである。
The above-mentioned adhesive is preferably an adhesive in which a heat-resistant resin fine powder is dispersed in a resin matrix, and the heat-resistant resin powder can be used in various shapes such as particle shape, hollow shape and crushed piece shape. In the case of particle shape, 1) average particle size
Particles of 10 μm or less, 2) Aggregate particles obtained by aggregating heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less to have an average particle size of 2 to 10 μm, 3) Heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 to 10 μm and average particles Mixture with heat resistant resin powder with a diameter of 2 μm or less, 4)
It is selected from pseudo particles formed by adhering at least one of a heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less and an inorganic powder having an average particle size of 2 μm or less to the surface of the heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 to 10 μm. Is desirable. The reason for this is
If the average particle size exceeds 10 μm, the anchor becomes deeper and 100
This is because a so-called fine pattern of μm or less cannot be formed. On the other hand, the reason why the pseudo particles of 2) to 4) are desirable is that a complicated anchor can be formed and the peel strength can be improved.

【0062】この耐熱性樹脂粉末は、凝集を防止するた
めに、その表面にシリカゾルなどによるコーティングが
なされていることが望ましい。この耐熱性樹脂粉末の配
合量は、耐熱性樹脂マトリックスの樹脂固形分100 に対
して、重量比で5〜100 の割合であることが望ましい。
この理由は、重量比で5未満の場合は、アンカーを形成
することができず、100 を超える場合は、混練が難しく
なること、また相対的に耐熱性樹脂マトリックスの量が
減り、接着剤層の強度が低下してしまうためである。
It is desirable that the surface of the heat-resistant resin powder is coated with silica sol or the like in order to prevent agglomeration. The blending amount of the heat resistant resin powder is preferably 5 to 100 by weight with respect to 100 solid resin content of the heat resistant resin matrix.
The reason for this is that if the weight ratio is less than 5, the anchor cannot be formed, and if it exceeds 100, the kneading becomes difficult, and the amount of the heat resistant resin matrix is relatively reduced, and the adhesive layer This is because the strength of is reduced.

【0063】また、このような接着剤層に形成するアン
カー窪みは、それの平均深さが15μm以下であること
が望ましく、そうすることにより、導体パターンL/S
=50/50μm以下のファインパターンとすることが
できる。
Further, it is desirable that the anchor recesses formed in such an adhesive layer have an average depth of 15 μm or less, and by doing so, the conductor pattern L / S is formed.
= 50/50 μm or less.

【0064】ついで、本願発明のプリント配線板の製造
方法について説明する。本願発明のレジストを用いたプ
リント配線板の製造方法の一例を説明する。 1)ガラスエポキシ基板、ポリイミド基板、セラミック
基板、金属基板などの基材表面に常法により接着剤層を
形成し、次いで酸や酸化剤を用いて、常法に従って前記
接着剤層の表面を粗化し、その後触媒を付与して粗化し
た接着剤層の表面に固定化する。接着剤は、前述した樹
脂マトリックスに耐熱性樹脂微粉末を分散した接着剤が
望ましい。
Next, a method of manufacturing the printed wiring board of the present invention will be described. An example of a method for manufacturing a printed wiring board using the resist of the present invention will be described. 1) An adhesive layer is formed on the surface of a substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, and a metal substrate by an ordinary method, and then the surface of the adhesive layer is roughened by an ordinary method using an acid or an oxidizing agent. After that, a catalyst is applied and fixed on the surface of the roughened adhesive layer. The adhesive is preferably an adhesive obtained by dispersing the heat resistant resin fine powder in the resin matrix described above.

【0065】2)その後、露光、現像、UVキュアーを
行ない、ついで熱処理を施し、所定の パターンに印刷
しためっきレジストを形成する。ベースフィルム上に、
耐熱性微粉末を耐熱感光性樹脂マトリックス中に分散さ
せて得られる組成物を塗布した配線板用レジストを用い
た場合、その後、露光、現像、UVキュアーを行ない、
ついで熱処理を施し、所定のパターンに印刷しためっき
レジストを形成する。
2) After that, exposure, development and UV curing are performed, and then heat treatment is performed to form a plating resist printed in a predetermined pattern. On the base film,
When a resist for wiring board coated with a composition obtained by dispersing a heat-resistant fine powder in a heat-resistant photosensitive resin matrix is used, thereafter, exposure, development and UV curing are performed,
Then, heat treatment is performed to form a plating resist printed in a predetermined pattern.

【0066】3)必要に応じて酸処理等にて触媒を活性
化した後、無電解めっきを施して、必要な導体パターン
および金属パッドを形成する。 4)多層プリント配線板の場合は、1)〜3)の工程を
繰り返して多層化するのである。 5)金属パッドの表面に前述した共晶めっきにより共晶
合金からなる粗化面を形成する。 6)液状のソルダーレジストの未硬化樹脂組成物を塗布
するか、あるいは未硬化のソルダーレジストフィルムを
ラミネートしてソルダーレジスト層を形成する。さらに
露光硬化、現像して金属パッドの一部に開口を設ける。
なお、ソルダーレジストが前述の疑似均一相溶解構造の
複合体の場合は、硬化条件を調整する必要がある。
3) If necessary, the catalyst is activated by acid treatment or the like, and then electroless plating is performed to form the required conductor pattern and metal pad. 4) In the case of a multilayer printed wiring board, steps 1) to 3) are repeated to form a multilayer. 5) A roughened surface made of a eutectic alloy is formed on the surface of the metal pad by the eutectic plating described above. 6) A liquid solder resist uncured resin composition is applied, or an uncured solder resist film is laminated to form a solder resist layer. Further, it is exposed to light and cured and developed to form an opening in a part of the metal pad.
In addition, when the solder resist is the above-mentioned complex having the pseudo-homogeneous phase dissolution structure, it is necessary to adjust the curing conditions.

【0067】7)電解めっきにより共晶合金の粗化面上
に金属めっき膜を充填する。この時のめっき時間を調整
することにより、充填量を調整し、はんだ体をどの位置
に形成するかを決定する。例えば、充填量をソルダーレ
ジスト表面までとするとはんだ体は、その充填金属の上
に設けられるため、ソルダーレジスト表面から突起する
のである。また充填量を減らすと、はんだ体をソルダー
レジスト表面より低くでき、その結果金属パッド部はく
ぼんだ状態となるため、リードを外部端子として持つ半
導体部品の実装に有利なセルフアライメント効果を得る
ことが可能となるのである。
7) A metal plating film is filled on the roughened surface of the eutectic alloy by electrolytic plating. By adjusting the plating time at this time, the filling amount is adjusted and the position where the solder body is formed is determined. For example, when the filling amount is up to the surface of the solder resist, the solder body is provided on the filling metal, so that the solder body projects from the surface of the solder resist. Also, if the filling amount is reduced, the solder body can be made lower than the solder resist surface, and as a result, the metal pad part will be in a depressed state, so that a self-alignment effect advantageous for mounting a semiconductor component having leads as external terminals can be obtained. It will be possible.

【0068】8)金属めっき膜を充填した後、はんだ体
を形成する。はんだ体の形成方法は前述のようにはんだ
ペーストなどをスクリーン印刷するか、無電解はんだめ
っきを行う方法がある。このはんだ膜をリフローするこ
とにより、表面張力ではんだ体を球状とすることができ
る。 本願発明を実施例を用いてより詳細に説明する。なお実
施例中の番号は、図面の番号である。
8) After filling the metal plating film, a solder body is formed. As a method of forming the solder body, there is a method of screen-printing a solder paste or the like or performing electroless solder plating as described above. By reflowing this solder film, the solder body can be made spherical with surface tension. The present invention will be described in more detail with reference to examples. The numbers in the examples are the numbers in the drawings.

【0069】[0069]

【実施例】【Example】

(実施例1) (1)ガラスエポキシ銅張積層板1(東芝ケミカル製)
上に感光性ドライフィルム(デュポン製)をラミネート
し、所望の導体回路パターンが描画されたマスクフィル
ムを通して紫外線露光させ画像を焼き付いた。次いで、
1,1,1-トリクロロエタンで現像を行い、塩化第二銅エッ
チング液を用いて非導体部の銅を除去した後、メチレン
クロリドでドライフィルムを剥離した。これにより基板
上に複数の導体パターンからなる第1層導体回路2を有
する配線板を作成した(図1a)。
(Example 1) (1) Glass epoxy copper clad laminate 1 (manufactured by Toshiba Chemical)
A photosensitive dry film (manufactured by DuPont) was laminated on the above, exposed to ultraviolet light through a mask film on which a desired conductor circuit pattern was drawn, and an image was printed. Then
After development with 1,1,1-trichloroethane and removal of copper in the non-conductor portion using a cupric chloride etching solution, the dry film was peeled off with methylene chloride. As a result, a wiring board having the first-layer conductor circuit 2 composed of a plurality of conductor patterns on the substrate was prepared (FIG. 1a).

【0070】(2)エポキシ樹脂粒子(東レ製、平均粒
径3.9 μm)200gを、5lのアセトン中に分散させて得
たアルミナ粒子懸濁液中へ、ヘンシェルミキサー内で攪
拌しながら、アセトン1lに対してエポキシ樹脂(三井
石油化学製)を30gの割合で溶解させたアセトン溶液中
にエポキシ樹脂粉末(東レ製、平均粒径0.5μm)30
0gを分散させて得た懸濁液を滴下することにより、上記
エポキシ粒子表面にエポキシ粉末を付着せしめた後、上
記アセトンを除去し、その後、150 ℃に加熱して、疑似
粒子を作成した。この疑似粒子は、平均粒径が約4.3 μ
mであり、約75重量%が、平均粒径を中心として±2μ
mの範囲に存在していた。
(2) 200 g of epoxy resin particles (manufactured by Toray Co., Ltd., average particle size 3.9 μm) were dispersed in 5 l of acetone into an alumina particle suspension, which was stirred in a Henschel mixer to obtain 1 l of acetone. On the other hand, epoxy resin powder (manufactured by Toray, average particle size 0.5 μm) in an acetone solution in which 30 g of epoxy resin (manufactured by Mitsui Petrochemical) was dissolved
A suspension obtained by dispersing 0 g was added dropwise to attach the epoxy powder to the surface of the epoxy particles, the acetone was removed, and then the mixture was heated to 150 ° C. to prepare pseudo particles. This pseudo particle has an average particle size of about 4.3 μ.
m, and about 75% by weight is ± 2μ centered on the average particle size.
It existed in the range of m.

【0071】(3)DMDGに溶解したクレゾールノボ
ラック型エポキシ樹脂(日本化薬製分子量2500)の
25%アクリル化物を70重量部、ポリエーテルスルフォ
ン(PES)30重量部、イミダゾール硬化剤(四国化
成製、商品名:2E4MZ-CN)4重量部、、感光製モノマー
であるカプロラクトン変成トリス(アクロキシエチル)
イソシアヌレート(東亜合成製、商品名;アロニックス
M325)10重量部、光開始剤としてのベンゾフェノ
ン(関東化学製)5重量部、光増感剤ミヒラーケトン
(関東化学製)0.5重量部、さらにこの混合物に対し
て前記(2)で作成したエポキシ樹脂疑似粒子を40重
量部を混合した後、NMPを添加しながら混合し、ホモ
ディスパー攪拌機で粘度2000 CPSに調整し、続い
て、3本ロールで混練して接着剤溶液を得た。
(3) of a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in DMDG
70 parts by weight of 25% acrylate, 30 parts by weight of polyether sulfone (PES), 4 parts by weight of imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Kasei, product name: 2E4MZ-CN), and caprolactone modified tris (acryloxy) as a photosensitive monomer. ethyl)
Isocyanurate (manufactured by Toagosei, trade name; Aronix M325) 10 parts by weight, benzophenone as a photoinitiator (manufactured by Kanto Kagaku) 5 parts by weight, photosensitizer Michler ketone (manufactured by Kanto Kagaku) 0.5 parts by weight, and further After mixing 40 parts by weight of the epoxy resin pseudo particles prepared in (2) above with the mixture, the mixture was mixed while adding NMP, and the viscosity was adjusted to 2000 CPS with a homodisper stirrer, followed by three rolls. The mixture was kneaded to obtain an adhesive solution.

【0072】(4)この感光性接着剤溶液を、前記
(1)で作成した配線板上に、ロールコーターを用いて
塗布し、水平状態で20分間放置してから、60℃で乾燥
を行なった。 (5)前記(4)の処理を施した配線板に、100 μmφ
の黒円が印刷されたフォトマスクフィルムを密着させ、
超高圧水銀灯500mj /cm2 で露光した。これをDMDG
(ジエチレングリコールジメチルエーテル)溶液でスプ
レー現像することにより、配線板上に100 μmφのバイ
アホールとなる開口を形成した(図1b)。さらに、前
記配線板を超高圧水銀灯により約3000mj/cm2 で露光
し、100 ℃で1時間、その後150 ℃で5時間の加熱処理
することによりフォトマスクフィルムに相当する寸法精
度に優れた開口を有する厚さ50μmの樹脂層間接着剤
層3を形成した。
(4) This photosensitive adhesive solution was applied onto the wiring board prepared in (1) above using a roll coater, left standing for 20 minutes in a horizontal state, and then dried at 60 ° C. It was (5) 100 μmφ on the wiring board that has been treated in (4) above.
Adhere the photomask film with the black circles of
It was exposed with an ultra-high pressure mercury lamp of 500 mj / cm 2 . DMDG this
By spray developing with a (diethylene glycol dimethyl ether) solution, an opening to be a 100 μmφ via hole was formed on the wiring board (FIG. 1b). Furthermore, the wiring board was exposed to light of about 3000 mj / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp and heat-treated at 100 ° C. for 1 hour and then at 150 ° C. for 5 hours to form an opening having excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film. The resin interlayer adhesive layer 3 having a thickness of 50 μm was formed.

【0073】(6)前記(5)の処理を施した配線板
を、pH=13に調整した過マンガン酸カリウム(KMnO
4 、60 g/l )に70℃で15分間浸漬して層間樹脂絶縁層
の表面を粗化して粗化面4を形成し、次いで、中和溶液
(シプレイ製)に浸漬した後水洗した(図1c)。 (7)接着剤層の表面を粗化した基板にパラジウム触媒
(シプレイ製)を付与して接着剤層3の表面を活性化さ
せた。
(6) The wiring board treated in the above (5) was adjusted to pH = 13 with potassium permanganate (KMnO).
(4 , 60 g / l) at 70 ° C. for 15 minutes to roughen the surface of the interlayer resin insulation layer to form a roughened surface 4, and then soak in a neutralizing solution (made by Shipley) and then wash with water ( Figure 1c). (7) A palladium catalyst (manufactured by Shipley) was applied to the substrate having the roughened surface of the adhesive layer to activate the surface of the adhesive layer 3.

【0074】(8)DMDG(ジメチルグリコールジメ
チルエーテル)に溶解させたクレゾールノボラック型エ
ポキシ樹脂(日本化薬製 商品名 EOCN−103
S)のエポキシ基25%をアクリル化した感光性付与の
オリゴマー(分子量4000)、PES(分子量170
00)、イミダゾール系硬化剤(四国化成製 商品名
2PMHZ−PW)、感光性モノマーであるアクリル化
イソシアネート(東亜合成製 商品名 アロニックス
M215)、光開始剤としてベンゾフェノン(関東化学
製)、光増感剤ミヒラーケトン(関東化学製)を用い、
下記組成でNMPを用いて混合した後、ホモディスパー
攪拌機で粘度3000cpsに調整し、続いて3本ロー
ルで混練して、液状レジストを得た。 樹脂組成物:感光性エポキシ/PES/M325/BP
/MK/イミダゾール=70/30/10/5/0.5
/5
(8) Cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, trade name EOCN-103) dissolved in DMDG (dimethyl glycol dimethyl ether)
S) sensitized oligomer (molecular weight 4000) in which 25% of epoxy group is acrylated, PES (molecular weight 170)
00), imidazole-based curing agent (Shikoku Kasei product name
2 PMHZ-PW), acrylated isocyanate which is a photosensitive monomer (trade name Aronix manufactured by Toagosei)
M215), benzophenone (manufactured by Kanto Chemical Co., Inc.) as a photoinitiator, and Michler ketone (sensitized by Kanto Chemical Co., Inc.) as a photosensitizer,
After mixing with the following composition using NMP, the viscosity was adjusted to 3000 cps with a homodisper stirrer, followed by kneading with a triple roll to obtain a liquid resist. Resin composition: Photosensitive epoxy / PES / M325 / BP
/MK/imidazole=70/30/10/5/0.5
/ 5

【0075】(9)この液状レジストを前記(7)の樹
脂絶縁層上にロールコーターを用いて塗布し、60℃で
乾燥させて厚さ約30μmのレジスト層を形成した(図
1d)。 (10)前記(9)の処理を施した配線板に、L/S=
50/50の導体回路パターンが描画されたマスクフィ
ルムを密着させ、超高圧水銀灯1000mJ/cm2
露光した。これをトリエチレングリコールジメチルエー
テル(DMDG)でスプレー現像処理することにより、
配線板上に導体回路パターン部の抜けためっき用レジス
トを形成した。さらに超高圧水銀灯により、6000m
J/cm2 で露光し、1000℃で1時間、その後15
0℃で3時間の加熱処理を行った。このめっきレジスト
5は、パターン形成と金属パッド8形成のためのもので
ある。
(9) This liquid resist was applied onto the resin insulation layer of (7) above using a roll coater and dried at 60 ° C. to form a resist layer having a thickness of about 30 μm (FIG. 1d). (10) L / S = on the wiring board subjected to the treatment of (9) above.
A mask film having a conductor circuit pattern of 50/50 drawn thereon was brought into close contact with it and exposed with an ultrahigh pressure mercury lamp of 1000 mJ / cm 2 . By spray-developing this with triethylene glycol dimethyl ether (DMDG),
On the wiring board, a resist for plating from which the conductor circuit pattern portion was removed was formed. Furthermore, with an ultra-high pressure mercury lamp, 6000m
J / cm 2 exposure, 1000 ° C. for 1 hour, then 15
Heat treatment was performed at 0 ° C. for 3 hours. The plating resist 5 is for patterning and forming the metal pad 8.

【0076】(11)前記(10)の配線板を下記に示
す組成のアディティブ用無電解めっき液に11時間浸漬
し、めっき膜の厚さが25μmの無電解銅めっきを施
し、第2導体回路7、バイアホール6、金属パッド8を
形成した(図1e)。 硫酸銅 0.06mol/l ホルマリン 0.30mol/l 水酸化ナトリウム 0.35mol/l EDTA 0.35mol/l 添加剤 少々 温度 70〜72℃ pH 12.4
(11) The wiring board of (10) above is immersed in an electroless plating solution for additive having the composition shown below for 11 hours, and electroless copper plating having a plating film thickness of 25 μm is applied to the second conductor circuit. 7, via holes 6, and metal pads 8 were formed (FIG. 1e). Copper sulfate 0.06 mol / l formalin 0.30 mol / l sodium hydroxide 0.35 mol / l EDTA 0.35 mol / l additive a little temperature 70 to 72 ° C. pH 12.4

【0077】(12)その基板を酸性脱脂、ソフトエッ
チング硫酸活性触媒付与、活性化を行った後、次の無電
解めっき浴にてめっきを施し、導体パターンとパッドの
表面にNi−P−Cu共晶の厚さ1μmの粗化面9を得
た(図1f)。 無電解めっき浴 硫酸銅 :10.1g/l 硫酸ニッケル :1.0 g/l 次亜リン酸ナトリウム:20.2g/l 水酸化ナトリウム :適量 pH=9.0
(12) After acid degreasing the substrate, applying a soft etching sulfuric acid active catalyst and activating it, the substrate is plated in the following electroless plating bath to form Ni-P-Cu on the surface of the conductor pattern and the pad. A roughened surface 9 having a eutectic thickness of 1 μm was obtained (FIG. 1f). Electroless plating bath Copper sulfate: 10.1 g / l Nickel sulfate: 1.0 g / l Sodium hypophosphite: 20.2 g / l Sodium hydroxide: Appropriate amount pH = 9.0

【0078】(13)さらにこの基板をホウふっ化スズ
−チオ尿素液(あるいは塩化スズ−チオ尿素でも可能)
からなる無電解スズめっき浴に50〜60℃で1分間浸
漬して、粗化面の表面に厚さ0.05μmのSn層10
を設けた。 (14)DMDGに溶解させたクレゾールノボラック型
エポキシ樹脂日本化薬製商品名 EOCN−103S)
のエポキシ基の25%アクリル化した感光性オリゴマー
(分子量 4000)、PES(分子量 1700
0)、イミダゾール系硬化剤(四国化成製 商品名 2
P4MHZ−PW)、感光性モノマーであるアクリル化
イソシアネート(東亜合成製 商品名 アロニックス
M215)、光開始剤としてのベンゾフェノン、光増感
剤ミヒラー(関東化学)、着色剤(フタロシアニングリ
ーン)を用い、下記組成でNMPを用いて混合し、ホモ
ディスパー攪拌機で粘度2000cpsに調整し、続い
て3本ロールで混練し、液状ソルダーレジストを得た。 樹脂組成:感光性エポキシ/PES/M325/BP/
MK/イミダゾール=70/30/10/5/0.5/
(13) Furthermore, this substrate is tin borofluoride-thiourea liquid (or tin chloride-thiourea is also available).
Is immersed in an electroless tin plating bath consisting of 1 minute at 50 to 60 ° C. to form a Sn layer 10 having a thickness of 0.05 μm on the roughened surface.
Was provided. (14) Cresol novolac type epoxy resin dissolved in DMDG Nippon Kayaku product name EOCN-103S)
25% acrylated photo-sensitive oligomer of epoxy group (molecular weight 4000), PES (molecular weight 1700
0), imidazole-based curing agent (trade name 2 manufactured by Shikoku Kasei
P4MHZ-PW), acrylated isocyanate which is a photosensitive monomer (trade name Aronix manufactured by Toagosei)
M215), benzophenone as a photoinitiator, a photosensitizer Michler (Kanto Kagaku), and a colorant (phthalocyanine green) were mixed with NMP with the following composition, and the viscosity was adjusted to 2000 cps with a homodisper stirrer. And kneaded with three rolls to obtain a liquid solder resist. Resin composition: Photosensitive epoxy / PES / M325 / BP /
MK / imidazole = 70/30/10/5 / 0.5 /
5

【0079】(15)この液状ソルダーレジストを前記
(13)の配線板上にロールコーターを用いて、塗布し
て、60℃で乾燥させて、厚さ20μmのソルダーレジ
スト層を形成した。 (16)前記(15)の処理を施した配線板に、金属パ
ッドの一部が隠れるようなパターンが描画されたマスク
フィルムを密着させ、露光した。これをジエチレングリ
コールジエチルエーテル(DMDG)でスプレー現像処
理し、金属パッド上に形成した粗化面が露出するような
開口部15を形成した。さらに超高圧水銀灯により30
00mj/cm2 で露光し、100℃で1時間、その後
150℃で3時間の加熱処理を行ない、ソルダーレジス
ト11を得た(図1g)。このソルダーレジストをTE
M観察したところ、0.1μm以下であり、かつ動的粘
弾性測定による樹脂のガラス転移温度ピーク値が1つで
あることが分かった。ここに、本発明における動的粘弾
性測定の条件は、振動周波数6.28rad /sec、昇温速度
5℃/分である。
(15) This liquid solder resist was applied onto the wiring board of (13) using a roll coater and dried at 60 ° C. to form a solder resist layer having a thickness of 20 μm. (16) A mask film having a pattern in which a part of the metal pad was hidden was brought into close contact with the wiring board subjected to the treatment of (15), and exposed. This was spray-developed with diethylene glycol diethyl ether (DMDG) to form an opening 15 so that the roughened surface formed on the metal pad was exposed. Furthermore, it is 30 by the super high pressure mercury lamp.
Exposure was carried out at 00 mj / cm 2 and heat treatment was carried out at 100 ° C. for 1 hour and then at 150 ° C. for 3 hours to obtain a solder resist 11 (FIG. 1g). This solder resist is TE
When observed by M, it was found to be 0.1 μm or less, and the glass transition temperature peak value of the resin measured by dynamic viscoelasticity was one. Here, the conditions of the dynamic viscoelasticity measurement in the present invention are a vibration frequency of 6.28 rad / sec and a heating rate of 5 ° C./min.

【0080】(17)この基板にリード線を取付け、常
法の電解銅めっき液に浸漬して通電して、開口部15に
電解銅めっき膜15を充填した(図1h)。 (18)ついで、基板を脱脂液で70℃、5分間処理
し、水洗後、活性化液で常温、10秒間処理した。 (19)これを下記の組成のチオ尿素、ホウふっ化物溶
液を水に溶解して調整した無電解Sn置換めっき液に1
分間浸漬して充填銅めっき膜表面をSnで置換してSn
めっき膜の厚さ0.3μmの無電解Sn置換めっきを施
した。 ホウふっ化スズ 0.1mol/l チオ尿素 1.0mol/l 温度 80℃ pH 1.2
(17) A lead wire was attached to this substrate, immersed in a conventional electrolytic copper plating solution and energized to fill the opening 15 with the electrolytic copper plating film 15 (FIG. 1h). (18) Then, the substrate was treated with a degreasing solution at 70 ° C. for 5 minutes, washed with water, and then treated with an activating solution at room temperature for 10 seconds. (19) This was added to an electroless Sn displacement plating solution prepared by dissolving a thiourea or borofluoride solution having the following composition in water.
Immerse for minutes and replace the surface of the filled copper plating film with Sn to replace Sn
The electroless Sn displacement plating having a plating film thickness of 0.3 μm was applied. Tin borofluoride 0.1 mol / l Thiourea 1.0 mol / l Temperature 80 ° C. pH 1.2

【0081】(20)(19)の処理を行った基板を下
記に示す不均化めっき浴に3時間浸漬し、Sn結晶層を
形成し、その層の高さが100〜150μmとなる無電
解Snめっきを施した。Sn結晶層はSEM観察の結
果、平均粒径50μmの結晶の凝集体であった。 水酸化ナトリウム 5.2mol/l 塩化スズ 0.4mol/l ホルマリン 1.0mol/l 添加物 少々 温度 80℃ pH 14〜15
(20) The substrate treated in (19) was immersed in the disproportionation plating bath shown below for 3 hours to form a Sn crystal layer, and the height of the layer was 100 to 150 μm. Sn plating was applied. As a result of SEM observation, the Sn crystal layer was an aggregate of crystals having an average particle size of 50 μm. Sodium hydroxide 5.2 mol / l tin chloride 0.4 mol / l formalin 1.0 mol / l additive a little temperature 80 ° C. pH 14-15

【0082】(21)(20)の基板を水洗し、下記の
組成のPb置換めっき浴に6分間浸漬した。 テトラフルオロほう酸鉛 0.1mol/l ホウふっ化水素 1.0mol/l 温度 80℃ pH 3.5
The substrates (21) and (20) were washed with water and immersed in a Pb displacement plating bath having the following composition for 6 minutes. Lead tetrafluoroborate 0.1 mol / l hydrogen borofluoride 1.0 mol / l temperature 80 ° C. pH 3.5

【0083】(22)(21)の基板を水洗、乾燥し
た。この状態では、はんだ体13は膜状である。ついで
250℃で加熱してリフローして球状のはんだ体14を
形成した(図1i)。このようにして、ソルダーレジス
ト1の表面からはんだ体13、14が突起したプリント
配線板を得た。pH=14の無電解はんだめっきでもソ
ルダーレジスト11と金属パッド8との間で剥離は見ら
れなかった。
(22) The substrates of (21) were washed with water and dried. In this state, the solder body 13 is in the form of a film. Then, it was heated at 250 ° C. and reflowed to form a spherical solder body 14 (FIG. 1i). In this way, a printed wiring board having solder bodies 13 and 14 protruding from the surface of the solder resist 1 was obtained. No peeling was observed between the solder resist 11 and the metal pad 8 even with electroless solder plating at pH = 14.

【0084】(比較例1) (1)実施例の(1)〜(11)の工程により、プリン
ト配線板を形成した。 (2)市販の液状ソルダーレジストを配線板上にロール
コーターを用いて、塗布して、60℃で乾燥させて、厚
さ20μmのソルダーレジスト層を形成した。この処理
を施した配線板に、金属パッド8の一部が隠れるような
パターンが描画されたマスクフィルムを密着させ、露光
した。これをジエチレングリコールジエチルエーテル
(DMDG)でスプレー現像処理し、金属パッド8の一
部が露出するような開口部15を形成した。 (3)実施例の(18)〜(21)の工程により、無電
解はんだめっきを施した。しかしながら、金属パッド8
とソルダーレジスト11との間に剥離が見られた。
Comparative Example 1 (1) A printed wiring board was formed by the steps (1) to (11) of the example. (2) A commercially available liquid solder resist was applied on a wiring board using a roll coater and dried at 60 ° C. to form a solder resist layer having a thickness of 20 μm. A mask film having a pattern in which a part of the metal pad 8 was hidden was brought into close contact with the wiring board subjected to this treatment and exposed. This was spray-developed with diethylene glycol diethyl ether (DMDG) to form an opening 15 so that a part of the metal pad 8 was exposed. (3) Electroless solder plating was performed by the steps (18) to (21) of the example. However, the metal pad 8
Peeling was observed between the solder resist 11 and the solder resist 11.

【0085】(比較例2) (1)実施例の(1)〜(11)の工程により、プリン
ト配線板を形成した。 (2)市販の液状ソルダーレジストを配線板上にロール
コーターを用いて、塗布して、60℃で乾燥させて、厚
さ20μmのソルダーレジスト層を形成した。この処理
を施した配線板に、金属パッド8の一部が隠れるような
パターンが描画されたマスクフィルムを密着させ、露光
した。これをジエチレングリコールジエチルエーテル
(DMDG)でスプレー現像処理し、金属パッド8の一
部が露出するような開口部15を形成した。 (3)はんだクリームをスクリーン印刷により、開口部
15に印刷し、リフローを行った。
Comparative Example 2 (1) A printed wiring board was formed by the steps (1) to (11) of the example. (2) A commercially available liquid solder resist was applied on a wiring board using a roll coater and dried at 60 ° C. to form a solder resist layer having a thickness of 20 μm. A mask film having a pattern in which a part of the metal pad 8 was hidden was brought into close contact with the wiring board subjected to this treatment and exposed. This was spray-developed with diethylene glycol diethyl ether (DMDG) to form an opening 15 so that a part of the metal pad 8 was exposed. (3) Solder cream was printed on the opening 15 by screen printing and reflow was performed.

【0086】以上の説明のように本願発明の金属パッド
8の構造は、無電解はんだめっき浴中でも剥離しにく
く、ヒートサイクルにも耐えられ、また接続部分の抵抗
値も低減させることが可能である。さらに、充填金属膜
の高さを調整することにより、はんだ体を突起させた
り、逆に金属パッド部を窪みにすることができ、実装部
品に合わせた設計が可能になるのである。
As described above, the structure of the metal pad 8 of the present invention is less likely to peel even in an electroless solder plating bath, can withstand a heat cycle, and can also reduce the resistance value of the connection portion. . Furthermore, by adjusting the height of the filling metal film, the solder body can be made to project or, conversely, the metal pad portion can be made to be a dent, and it is possible to design according to the mounted component.

【0087】[0087]

【発明の効果】以上説明のように本願発明のプリント配
線板は、ソルダーレジストが無電解めっき中でも剥離す
ることなく、またはんだ量を少なくできるのではんだ接
続による抵抗値の増加を職制できる。また、はんだ体の
高さ調整が可能であるため、用途に合わせた設計ができ
る。
As described above, in the printed wiring board according to the present invention, the solder resist does not peel off even during electroless plating, and the amount of sag can be reduced, so that the increase in resistance value due to solder connection can be controlled. Further, since the height of the solder body can be adjusted, it is possible to design according to the application.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本願発明のプリント配線板の製造工程図FIG. 1 is a manufacturing process diagram of a printed wiring board of the present invention.

【図2】本願発明のプリント配線板の断面構造図(はん
だ体突起)
FIG. 2 is a cross-sectional structure diagram (solder body protrusion) of the printed wiring board of the present invention.

【図3】本願発明のプリント配線板の断面構造図(はん
だ体球状)
FIG. 3 is a cross-sectional structure diagram of the printed wiring board of the present invention (solder body spherical shape).

【図4】従来のプリント配線板の断面構造図FIG. 4 is a cross-sectional structure diagram of a conventional printed wiring board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ガラスエポキシ基板 2 第1導体回路 3 接着剤層 4 粗化面 5 めっきレジスト 6 バイアホール 7 第2導体回路 8 金属パッド 9 Cu−Ni−P共晶めっき粗化面 10 Sn層 11 ソルダーレジスト 12 充填金属膜 13 はんだ体 14 球状はんだ体 15 開口部 1 Glass Epoxy Substrate 2 First Conductor Circuit 3 Adhesive Layer 4 Roughening Surface 5 Plating Resist 6 Via Hole 7 Second Conductor Circuit 8 Metal Pad 9 Cu-Ni-P Eutectic Roughening Surface 10 Sn Layer 11 Solder Resist 12 Filled metal film 13 Solder body 14 Spherical solder body 15 Opening

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリント配線板の表層に電子回路搭載用
の金属パッドが設けられ、その金属パッド上にはその金
属パッドが部分的に露出するように開口部を設けてソル
ダーレジストが形成されてなるプリント配線板におい
て、 前記金属パッド表面には粗化面が形成されてなり、その
粗化面上の開口部には金属膜が充填され、その金属膜上
にはんだ体が設けられてなるプリント配線板。
1. A metal pad for mounting an electronic circuit is provided on a surface layer of a printed wiring board, and an opening is provided on the metal pad so that the metal pad is partially exposed and a solder resist is formed. In the printed wiring board according to the present invention, the metal pad surface is formed with a roughened surface, an opening on the roughened surface is filled with a metal film, and a solder body is provided on the metal film. Wiring board.
【請求項2】 前記粗化面は、共晶合金の針状結晶から
構成されてなる請求項1に記載のプリント配線板。
2. The printed wiring board according to claim 1, wherein the roughened surface is composed of needle crystals of a eutectic alloy.
【請求項3】 前記粗化面は、Ni−P−Cuの共晶合
金である請求項1に記載のプリント配線板。
3. The printed wiring board according to claim 1, wherein the roughened surface is a eutectic alloy of Ni—P—Cu.
【請求項4】 前記粗化面の厚さは0.5〜5μmであ
る請求項1に記載のプリント配線板。
4. The printed wiring board according to claim 1, wherein the roughened surface has a thickness of 0.5 to 5 μm.
【請求項5】 前記粗化面は、その表面にSnの層を有
する共晶合金の針状結晶から構成されてなる請求項1に
記載のプリント配線板。
5. The printed wiring board according to claim 1, wherein the roughened surface is composed of needle-like crystals of a eutectic alloy having a Sn layer on the surface thereof.
【請求項6】 前記開口部に充填される金属膜は、Cu
である請求項1に記載のプリント配線板。
6. The metal film filling the opening is made of Cu.
The printed wiring board according to claim 1, wherein
【請求項7】 前記はんだ体は、膜状あるいは球状であ
る請求項1に記載のプリント配線板。
7. The printed wiring board according to claim 1, wherein the solder body has a film shape or a spherical shape.
【請求項8】 前記はんだ体は、ソルダーレジストの表
面から突起してなる請求項1に記載のプリント配線板。
8. The printed wiring board according to claim 1, wherein the solder body is formed by protruding from a surface of a solder resist.
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