JPH08237197A - 光装置を動作させ試験するための設備と方法 - Google Patents
光装置を動作させ試験するための設備と方法Info
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- JPH08237197A JPH08237197A JP7336144A JP33614495A JPH08237197A JP H08237197 A JPH08237197 A JP H08237197A JP 7336144 A JP7336144 A JP 7336144A JP 33614495 A JP33614495 A JP 33614495A JP H08237197 A JPH08237197 A JP H08237197A
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- H04B10/073—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an out-of-service signal
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- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
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- H04B10/291—Repeaters in which processing or amplification is carried out without conversion of the main signal from optical form
- H04B10/2912—Repeaters in which processing or amplification is carried out without conversion of the main signal from optical form characterised by the medium used for amplification or processing
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Abstract
(57)【要約】
【課題】異なる波長の信号が併存する状態で光装置を動
作させたり試験したりする。 【解決手段】対象光装置（２）への入力光信号の波長を
その回復時間内ですべて切りかえて、異なる波長の信号
が順次入力信号となる（８）ようにする。
作させたり試験したりする。 【解決手段】対象光装置（２）への入力光信号の波長を
その回復時間内ですべて切りかえて、異なる波長の信号
が順次入力信号となる（８）ようにする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光通信網の分野の操作
機器または試験機器、あるいはその両方に関し、詳細に
は、エルビウム・ドープ・ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）
などの光装置を動作させ試験するための設備と方法とに
関する。
機器または試験機器、あるいはその両方に関し、詳細に
は、エルビウム・ドープ・ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）
などの光装置を動作させ試験するための設備と方法とに
関する。
【０００２】
【従来の技術】光通信システムでは一般に、増幅器など
の、能動光装置および受動光装置の動作試験用の設備と
試験方法が使用される。実際、波長依存装置または波長
依存部品を波長依存性に関して試験する必要がある。こ
の場合、単一波長でいくつかの装置パラメータを試験
し、かつ複数の波長で試験する必要がある。単一波長で
の試験は、レーザ光源で容易に実施される。ある波長範
囲にわたる試験では一般に、チューナブルレーザまたは
その他の光源が使用される。実際には、複数の波長を同
時に印加して装置を試験する必要がある。そのような装
置にはたとえば、波長分割多重（ＷＤＭ）応用で使用さ
れるＥＤＦＡがある。このような応用ではすでに、いく
つかの単一波長レーザ光源または１組のチューナブルレ
ーザ光源を使用するものが知られている。前述の応用例
でこのような試験を実施するにはいくつかのレーザ光源
が必要なので、試験機器は非常に高価であり、取扱いが
難しい。
の、能動光装置および受動光装置の動作試験用の設備と
試験方法が使用される。実際、波長依存装置または波長
依存部品を波長依存性に関して試験する必要がある。こ
の場合、単一波長でいくつかの装置パラメータを試験
し、かつ複数の波長で試験する必要がある。単一波長で
の試験は、レーザ光源で容易に実施される。ある波長範
囲にわたる試験では一般に、チューナブルレーザまたは
その他の光源が使用される。実際には、複数の波長を同
時に印加して装置を試験する必要がある。そのような装
置にはたとえば、波長分割多重（ＷＤＭ）応用で使用さ
れるＥＤＦＡがある。このような応用ではすでに、いく
つかの単一波長レーザ光源または１組のチューナブルレ
ーザ光源を使用するものが知られている。前述の応用例
でこのような試験を実施するにはいくつかのレーザ光源
が必要なので、試験機器は非常に高価であり、取扱いが
難しい。
【０００３】したがって、被試験装置に複数の波長を同
時に印加して光装置を試験する設備および方法が必要で
ある。
時に印加して光装置を試験する設備および方法が必要で
ある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、光装置を動作
させ試験するために異なる波長の複数の信号を発生する
設備および方法に関する。
させ試験するために異なる波長の複数の信号を発生する
設備および方法に関する。
【０００５】基本的に、本発明による設備は、試験すべ
き前記光装置に順次印加される複数の光信号を発生する
光源と、前記光源の複数の光信号を順次、前記光装置に
印加する切換え手段と、前記試験すべき光装置の応答信
号を解析する解析手段とを備える。
き前記光装置に順次印加される複数の光信号を発生する
光源と、前記光源の複数の光信号を順次、前記光装置に
印加する切換え手段と、前記試験すべき光装置の応答信
号を解析する解析手段とを備える。
【０００６】本発明は、回復時間を有する被試験部品、
装置、またはシステムが、多数の単一レーザ光源が同時
に使用されたときと同様に反応するように、複数の波長
を発生する多重化レーザ光源を使用することを提案する
ものである。したがって、本発明の重要な特徴は、チュ
ーナブルレーザまたはその他の光源によって発生された
複数の波長を時間多重化し、回復時間を有する被試験部
品、装置、またはシステムが、異なる波長が順次印加さ
れていると認識できない高速で時間多重化を実行するこ
とにある。レーザ技術分野の光装置とは、前記の回復時
間を有する装置で、光通信網中の光装置、生物学的物質
および化学的物質、具体的には細胞およびＤＮＡ構造
体、レーザ・プリンタ中の光感応ドラムなどを意味する
ことが理解されよう。
装置、またはシステムが、多数の単一レーザ光源が同時
に使用されたときと同様に反応するように、複数の波長
を発生する多重化レーザ光源を使用することを提案する
ものである。したがって、本発明の重要な特徴は、チュ
ーナブルレーザまたはその他の光源によって発生された
複数の波長を時間多重化し、回復時間を有する被試験部
品、装置、またはシステムが、異なる波長が順次印加さ
れていると認識できない高速で時間多重化を実行するこ
とにある。レーザ技術分野の光装置とは、前記の回復時
間を有する装置で、光通信網中の光装置、生物学的物質
および化学的物質、具体的には細胞およびＤＮＡ構造
体、レーザ・プリンタ中の光感応ドラムなどを意味する
ことが理解されよう。
【０００７】本発明の一実施例によれば、被試験装置
は、光増幅器、具体的にはエルビウム・ドープ増幅器
（ＥＤＦＡ）またはプラセオジム・ドープ・ファイバ増
幅器（ＰＤＦＡ）である。測定すべき重要なパラメータ
は、この増幅器の利得および雑音指数である。将来の波
長分割多重システムではこの増幅器を使用すべきであ
る。現状では、このようなシステムは、４つの異なるチ
ャネル（波長）を使用して光信号を送信する。したがっ
て、増幅器の完全な動作試験では、異なる波長の４つの
光信号を、動作させ被試験増幅器に印加する必要があ
る。ＥＤＦＡの物理特性のために、増幅器に信号が印加
されたときの雑音レベルから信号がなくなったときの雑
音レベルまでの回復時間は長い（＝１０ｍｓ）。本発明
によれば、単一チューナブルレーザによって発生された
４つの異なる波長が、回復時間内に順次、被試験装置に
印加されるので、その結果、被試験装置は、一時に存在
する波長信号が１つだけであることを認識できない。
は、光増幅器、具体的にはエルビウム・ドープ増幅器
（ＥＤＦＡ）またはプラセオジム・ドープ・ファイバ増
幅器（ＰＤＦＡ）である。測定すべき重要なパラメータ
は、この増幅器の利得および雑音指数である。将来の波
長分割多重システムではこの増幅器を使用すべきであ
る。現状では、このようなシステムは、４つの異なるチ
ャネル（波長）を使用して光信号を送信する。したがっ
て、増幅器の完全な動作試験では、異なる波長の４つの
光信号を、動作させ被試験増幅器に印加する必要があ
る。ＥＤＦＡの物理特性のために、増幅器に信号が印加
されたときの雑音レベルから信号がなくなったときの雑
音レベルまでの回復時間は長い（＝１０ｍｓ）。本発明
によれば、単一チューナブルレーザによって発生された
４つの異なる波長が、回復時間内に順次、被試験装置に
印加されるので、その結果、被試験装置は、一時に存在
する波長信号が１つだけであることを認識できない。
【０００８】本発明の主要な利点は、いくつかのチャネ
ルを有する装置を動作させ、あるいは、それぞれ単一の
波長の信号を発生する１組のレーザ光源を用いると同じ
測定を実行するのに、１つの単一高速多重化チューナブ
ルレーザ光源で十分であることである。本発明による設
備を用いれば、複数の波長での動作または前述の試験を
安価に、かつ１組のレーザによるよりもずっと容易に実
施することができる。
ルを有する装置を動作させ、あるいは、それぞれ単一の
波長の信号を発生する１組のレーザ光源を用いると同じ
測定を実行するのに、１つの単一高速多重化チューナブ
ルレーザ光源で十分であることである。本発明による設
備を用いれば、複数の波長での動作または前述の試験を
安価に、かつ１組のレーザによるよりもずっと容易に実
施することができる。
【０００９】本発明の第１の実施例によれば、チューナ
ブルレーザは、複数の光信号を発生するために使用され
る。チューナブルレーザによって、異なる波長の光信号
を順次、発生することができる。
ブルレーザは、複数の光信号を発生するために使用され
る。チューナブルレーザによって、異なる波長の光信号
を順次、発生することができる。
【００１０】本発明の第２の実施例によれば、チューナ
ブルレーザの制御入力は、パターン・ジェネレータの出
力に接続される。パターン・ジェネレータは、チューナ
ブルレーザの異なる波長の複数の信号を多重化する。パ
ターン・ジェネレータによって、チューナブルレーザが
発生する信号のある波長から他の波長への切換時間間隔
を広い範囲で容易に調整することができる。被試験装置
の回復時間内で、チューナブルレーザをある波長から他
の波長に切り換える他の装置で、パターン・ジェネレー
タを代替できることは理解されよう。
ブルレーザの制御入力は、パターン・ジェネレータの出
力に接続される。パターン・ジェネレータは、チューナ
ブルレーザの異なる波長の複数の信号を多重化する。パ
ターン・ジェネレータによって、チューナブルレーザが
発生する信号のある波長から他の波長への切換時間間隔
を広い範囲で容易に調整することができる。被試験装置
の回復時間内で、チューナブルレーザをある波長から他
の波長に切り換える他の装置で、パターン・ジェネレー
タを代替できることは理解されよう。
【００１１】本発明の第３の実施例によれば、レーザと
は別の光源が使用される。そのような光源は、いくつか
の波長を同時に発生する。本発明によれば、装置が動作
する様々な波長に関して透過的な回転する１組のフィル
タを備え、それらのフィルタを、白色光源の出力と、試
験すべき光部品、光装置、または光学系の入力との間に
配設することが提案される。１組のフィルタの回転は、
光源によって発生された光の様々な波長が、被試験装置
の回復時間内に順次、試験中または動作中の装置に印加
されるように行われる。
は別の光源が使用される。そのような光源は、いくつか
の波長を同時に発生する。本発明によれば、装置が動作
する様々な波長に関して透過的な回転する１組のフィル
タを備え、それらのフィルタを、白色光源の出力と、試
験すべき光部品、光装置、または光学系の入力との間に
配設することが提案される。１組のフィルタの回転は、
光源によって発生された光の様々な波長が、被試験装置
の回復時間内に順次、試験中または動作中の装置に印加
されるように行われる。
【００１２】第４の実施例では、試験または動作すべき
光装置は、増幅器、具体的には、波長分割多重応用で使
用することができ、複数の波長の下で同時に動作するこ
とができる、エルビウム・ドープ・ファイバ増幅器（Ｅ
ＤＦＡ）である。
光装置は、増幅器、具体的には、波長分割多重応用で使
用することができ、複数の波長の下で同時に動作するこ
とができる、エルビウム・ドープ・ファイバ増幅器（Ｅ
ＤＦＡ）である。
【００１３】本発明が、単独であるか、それとも他の任
意の組合せであるかにかかわらず、上記で開示された特
徴の有用で新規な組合せ総てに関するものであることが
理解されよう。さらに、引用したすべての利点は、本発
明の全体によって解決される目標とみなすことができ
る。
意の組合せであるかにかかわらず、上記で開示された特
徴の有用で新規な組合せ総てに関するものであることが
理解されよう。さらに、引用したすべての利点は、本発
明の全体によって解決される目標とみなすことができ
る。
【００１４】
【実施例】図１は、エルビウム・ドープ・ファイバ増幅
器（ＥＤＦＡ）２の様々なパラメータを試験する既知の
設備を示す。チューナブルレーザ１の出力は、光ファイ
バ４を介してＥＤＦＡ２の入力に接続される。ＥＤＦＡ
の出力は、光ファイバ５を介して光信号アナライザ（Ｏ
ＳＡ）３の入力に接続される。様々な波長でのＥＤＦＡ
の特性を解析するために、チューナブルレーザ１を第１
の測定に関する第１の波長に切り換える。光信号アナラ
イザ３は、ＥＤＦＡの様々なパラメータ、具体的には利
得および雑音を解析してオペレータに表示する。オペレ
ータは、第２の波長を有する信号の下でのＥＤＦＡの特
性を解析するために、チューナブルレーザ光源１を第２
の波長に切り換える。以下同様である。
器（ＥＤＦＡ）２の様々なパラメータを試験する既知の
設備を示す。チューナブルレーザ１の出力は、光ファイ
バ４を介してＥＤＦＡ２の入力に接続される。ＥＤＦＡ
の出力は、光ファイバ５を介して光信号アナライザ（Ｏ
ＳＡ）３の入力に接続される。様々な波長でのＥＤＦＡ
の特性を解析するために、チューナブルレーザ１を第１
の測定に関する第１の波長に切り換える。光信号アナラ
イザ３は、ＥＤＦＡの様々なパラメータ、具体的には利
得および雑音を解析してオペレータに表示する。オペレ
ータは、第２の波長を有する信号の下でのＥＤＦＡの特
性を解析するために、チューナブルレーザ光源１を第２
の波長に切り換える。以下同様である。
【００１５】図２は、本発明によって光装置を試験する
設備のブロック図である。チューナブルレーザ１の出力
は、光ファイバ４を介してＥＤＦＡ２の入力に接続され
る。ＥＤＦＡ２の出力は、光ファイバ５を介して光信号
アナライザ（ＯＳＡ）３の入力に接続される。また、前
述の従来技術に対して、本発明の設備は、パターン・ジ
ェネレエータ６を備える。パターン・ジェネレータ６の
出力は、電気ケーブル７を介してチューナブルレーザ１
の制御入力に接続される。パターン・ジェネレータ６の
出力信号については後で図３を参照してさらに詳しく説
明するが、この出力信号は、異なる波長λ１、λ２、λ
３、λ４を有する複数の光信号を発生するチューナブル
レーザ１を制御する。レーザ光源１によって発生され、
光ファイバ４に印加されるこれらの複数の信号を図表８
に示す。図表８は、レーザ光源１によって発生される複
数の波長λ１ないしλ４の出現を時間ｔの関数として示
す。パターン・ジェネレータ６の助けで、レーザ光源１
は、時間ｔ１で、波長λ１の信号を発生する。次いで、
チューナブルレーザ１は、波長λ１の信号をオフにし
て、時間ｔ２で波長λ２の信号をオンにする。次のステ
ップで、レーザ光源１は波長λ２の信号をオフにして、
時間ｔ３で波長λ３の信号をオンにする。次いでレーザ
光源１は波長λ３の信号をオフにして、時間ｔ４で波長
λ４の信号をオンにする。パターン・ジェネレータの代
わりに、前述と同様にチューナブルレーザを制御する他
の装置を使用できることが理解されよう。さらに、被試
験装置が動作する波長に応じて、異なる波長を有するこ
れよりも多くの信号、あるいはこれよりも少ない信号を
１つまたは複数のチューナブルレーザによって発生でき
ることを理解されたい。波長λ１ないしλ４を有する異
なる信号間の時間間隔は、相互に異なる間隔となるよう
に修正することができる。さらに、第１の信号がオンに
なる時間間隔は、他の時間間隔より長くてよい。それぞ
れの異なる信号のパワーも異なる大きさに調整すること
もできる。それぞれの異なる信号の異なる特性とそれら
の時間相関を広範囲に変動させ、信号が実際に現れる様
々な条件の下で被試験装置を動作させることができる。
パターン・ジェネレータには多数の異なる試験パターン
を記憶することができる。
設備のブロック図である。チューナブルレーザ１の出力
は、光ファイバ４を介してＥＤＦＡ２の入力に接続され
る。ＥＤＦＡ２の出力は、光ファイバ５を介して光信号
アナライザ（ＯＳＡ）３の入力に接続される。また、前
述の従来技術に対して、本発明の設備は、パターン・ジ
ェネレエータ６を備える。パターン・ジェネレータ６の
出力は、電気ケーブル７を介してチューナブルレーザ１
の制御入力に接続される。パターン・ジェネレータ６の
出力信号については後で図３を参照してさらに詳しく説
明するが、この出力信号は、異なる波長λ１、λ２、λ
３、λ４を有する複数の光信号を発生するチューナブル
レーザ１を制御する。レーザ光源１によって発生され、
光ファイバ４に印加されるこれらの複数の信号を図表８
に示す。図表８は、レーザ光源１によって発生される複
数の波長λ１ないしλ４の出現を時間ｔの関数として示
す。パターン・ジェネレータ６の助けで、レーザ光源１
は、時間ｔ１で、波長λ１の信号を発生する。次いで、
チューナブルレーザ１は、波長λ１の信号をオフにし
て、時間ｔ２で波長λ２の信号をオンにする。次のステ
ップで、レーザ光源１は波長λ２の信号をオフにして、
時間ｔ３で波長λ３の信号をオンにする。次いでレーザ
光源１は波長λ３の信号をオフにして、時間ｔ４で波長
λ４の信号をオンにする。パターン・ジェネレータの代
わりに、前述と同様にチューナブルレーザを制御する他
の装置を使用できることが理解されよう。さらに、被試
験装置が動作する波長に応じて、異なる波長を有するこ
れよりも多くの信号、あるいはこれよりも少ない信号を
１つまたは複数のチューナブルレーザによって発生でき
ることを理解されたい。波長λ１ないしλ４を有する異
なる信号間の時間間隔は、相互に異なる間隔となるよう
に修正することができる。さらに、第１の信号がオンに
なる時間間隔は、他の時間間隔より長くてよい。それぞ
れの異なる信号のパワーも異なる大きさに調整すること
もできる。それぞれの異なる信号の異なる特性とそれら
の時間相関を広範囲に変動させ、信号が実際に現れる様
々な条件の下で被試験装置を動作させることができる。
パターン・ジェネレータには多数の異なる試験パターン
を記憶することができる。
【００１６】異なる波長λ１ないしλ４を有するすべて
の信号は、ｔ１ないしｔ４の時間間隔、すなわち、増幅
器２の（信号がオフにされたとき信号レベルから雑音レ
ベルまでの）回復時間の時間間隔内の時間間隔に現れ
る。特定の被試験装置の回復時間内に異なる波長を有す
る様々な信号を発生することが本発明に含まれることが
理解されよう。
の信号は、ｔ１ないしｔ４の時間間隔、すなわち、増幅
器２の（信号がオフにされたとき信号レベルから雑音レ
ベルまでの）回復時間の時間間隔内の時間間隔に現れ
る。特定の被試験装置の回復時間内に異なる波長を有す
る様々な信号を発生することが本発明に含まれることが
理解されよう。
【００１７】増幅器の物理特性のために、増幅器は、増
幅器の回復時間内での１組の試験信号の下で、異なる波
長を有する複数の信号が一度に存在する実際の条件の下
での動作と同じ動作を示す。エルビウム・ドープ・ファ
イバ増幅器２（ＥＤＦＡ）の回復時間は１０ｍｓの範囲
内にある。
幅器の回復時間内での１組の試験信号の下で、異なる波
長を有する複数の信号が一度に存在する実際の条件の下
での動作と同じ動作を示す。エルビウム・ドープ・ファ
イバ増幅器２（ＥＤＦＡ）の回復時間は１０ｍｓの範囲
内にある。
【００１８】図３は、図２のパターン・ジェネレータ６
によって発生される制御信号を時間の関数として示す。
レーザ光源１に印加される制御信号２０は、異なる信号
レベルの４つのステップ２１ないし２４を備える。時間
ｔ５で、パターン・ジェネレータ６は、制御信号の発生
を開始する。信号レベルがある値に達すると、制御され
たレーザ光源１は、図２に示したように短期間波長λ１
の信号を発生する。次いで、制御信号は、第１のステッ
プ２１で示されたように、エッジ９からエッジ１０まで
一定に維持される。エッジ１０で示された時間ｔ６で制
御信号が低下すると、チューナブルレーザ１は、短期間
波長λ２の信号を発生する。次いで、制御信号は、第２
のステップ２２で示される時間間隔ｔ６から時間間隔ｔ
７まで一定に維持される。制御信号２０がエッジ１１で
再び低下すると、レーザ光源１は、短期間波長λ３の信
号を発生する。制御信号は時間ｔ７から時間ｔ８まで、
第３のステップ２３で示されるように再び一定に維持さ
れる。エッジ１２で、制御信号２０が再び低下し、チュ
ーナブルレーザ１が、切り替わり、短期間波長λ４の信
号を発生する。ｔ８からｔ９まで、第４のステップ２４
で示されたように、制御信号２０が一定に維持され、時
間ｔ９で、エッジ１３で示されたように、パターン・ジ
ェネレータが、前述の制御信号の反復を開始する。
によって発生される制御信号を時間の関数として示す。
レーザ光源１に印加される制御信号２０は、異なる信号
レベルの４つのステップ２１ないし２４を備える。時間
ｔ５で、パターン・ジェネレータ６は、制御信号の発生
を開始する。信号レベルがある値に達すると、制御され
たレーザ光源１は、図２に示したように短期間波長λ１
の信号を発生する。次いで、制御信号は、第１のステッ
プ２１で示されたように、エッジ９からエッジ１０まで
一定に維持される。エッジ１０で示された時間ｔ６で制
御信号が低下すると、チューナブルレーザ１は、短期間
波長λ２の信号を発生する。次いで、制御信号は、第２
のステップ２２で示される時間間隔ｔ６から時間間隔ｔ
７まで一定に維持される。制御信号２０がエッジ１１で
再び低下すると、レーザ光源１は、短期間波長λ３の信
号を発生する。制御信号は時間ｔ７から時間ｔ８まで、
第３のステップ２３で示されるように再び一定に維持さ
れる。エッジ１２で、制御信号２０が再び低下し、チュ
ーナブルレーザ１が、切り替わり、短期間波長λ４の信
号を発生する。ｔ８からｔ９まで、第４のステップ２４
で示されたように、制御信号２０が一定に維持され、時
間ｔ９で、エッジ１３で示されたように、パターン・ジ
ェネレータが、前述の制御信号の反復を開始する。
【００１９】前述のものとは異なる制御信号を有するチ
ューナブルレーザを使用する場合、図の制御信号２０を
容易に修正できることが理解されよう。
ューナブルレーザを使用する場合、図の制御信号２０を
容易に修正できることが理解されよう。
【００２０】時間間隔ｔ５ないしｔ９は、回復時間＝１
０ｍｓのエルビウム・ドープ・ファイバ増幅器２を試験
するために１０ｍｓよりもずっと短い。したがって、ス
テップ２１ないし２４のシーケンスの周波数は、回復時
間の短い光装置を動作させるときは１００Ｈｚよりもず
っと高い。
０ｍｓのエルビウム・ドープ・ファイバ増幅器２を試験
するために１０ｍｓよりもずっと短い。したがって、ス
テップ２１ないし２４のシーケンスの周波数は、回復時
間の短い光装置を動作させるときは１００Ｈｚよりもず
っと高い。
【００２１】図４は、別個に調整することができ、図３
に関連するもうひとつのレーザ４０を備え、光装置２を
試験する第２の設備のブロック図である。図４は、図２
に追加して、レーザ４０と、光ファイバ４１と、光ファ
イバ４および光ファイバ４１を被試験装置すなわち光増
幅器２の入力に結合する光結合手段４２とを備える。図
表４８に示したように、チューナブルレーザ１は、波長
λ１、λ２、λ３の光信号を発生する。波長λ４の光信
号は、別個にチューナブルレーザ４０によって発生され
る。図４によるこの設備によって、実現すべき試験条件
に妥当な波長λ４の信号に修正できる波長λ４の光信号
を個別に発生することができる。したがって、光装置の
試験におけるさらなる自由度が達成される。他のレーザ
を使用して、時間多重化チューナブルレーザ１によって
発生される光信号を代替させ、試験条件を調整する自由
度を増大させることができることを理解されたい。
に関連するもうひとつのレーザ４０を備え、光装置２を
試験する第２の設備のブロック図である。図４は、図２
に追加して、レーザ４０と、光ファイバ４１と、光ファ
イバ４および光ファイバ４１を被試験装置すなわち光増
幅器２の入力に結合する光結合手段４２とを備える。図
表４８に示したように、チューナブルレーザ１は、波長
λ１、λ２、λ３の光信号を発生する。波長λ４の光信
号は、別個にチューナブルレーザ４０によって発生され
る。図４によるこの設備によって、実現すべき試験条件
に妥当な波長λ４の信号に修正できる波長λ４の光信号
を個別に発生することができる。したがって、光装置の
試験におけるさらなる自由度が達成される。他のレーザ
を使用して、時間多重化チューナブルレーザ１によって
発生される光信号を代替させ、試験条件を調整する自由
度を増大させることができることを理解されたい。
【００２２】さらに、エルビウム・ドープ・ファイバ増
幅器など光装置が、光学的に伝送される信号信号によっ
てトリガされる時間多重化チューナブルレーザ光源（図
示せず）を介して動作させうることを理解されたい。本
発明の他の実施例では、チューナブルレーザは、パター
ン・ジェネレータによってトリガされるが、他のレーザ
は、光学的に伝送される信号によってトリガされる。
幅器など光装置が、光学的に伝送される信号信号によっ
てトリガされる時間多重化チューナブルレーザ光源（図
示せず）を介して動作させうることを理解されたい。本
発明の他の実施例では、チューナブルレーザは、パター
ン・ジェネレータによってトリガされるが、他のレーザ
は、光学的に伝送される信号によってトリガされる。
【図１】エルビウム・ドープ・ファイバ増幅器（ＥＤＦ
Ａ）を試験するために複数の入力信号を発生する従来技
術による設備のブロック図である。
Ａ）を試験するために複数の入力信号を発生する従来技
術による設備のブロック図である。
【図２】チューナブルレーザによって発生される様々な
信号間の時間間隔を制御するパターン・ジェネレータを
備える、本発明によって光装置を試験する第１の実施例
の設備のブロック図である。
信号間の時間間隔を制御するパターン・ジェネレータを
備える、本発明によって光装置を試験する第１の実施例
の設備のブロック図である。
【図３】図２のパターン・ジェネレータによって発生さ
れる制御信号を時間の関数として示す図である。
れる制御信号を時間の関数として示す図である。
【図４】別個に調整することができる、図３に関するも
うひとつのレーザを備える、光装置を試験または動作さ
せるための第２の実施例の設備のブロック図である。
うひとつのレーザを備える、光装置を試験または動作さ
せるための第２の実施例の設備のブロック図である。
１、４０ 光源、チューナブルレーザ ２ 光装置、増幅器 ３ 解析手段 ４、５、７、１１、４１ 光ファイバ ４２ 光結合手段
Claims (9)
- 【請求項１】 光装置（２）を動作させるために異なる
波長（８、４８）の複数の光信号を発生する設備におい
て、 動作すべき前記光装置（２）に順次印加される前記複数
の光信号を発生する光源（１）と、 前記光源（１）の前記複数の光信号を順次、前記光装置
（２）に印加する切換え手段（６）とを備えることを特
徴とする設備。 - 【請求項２】 光装置（２）を試験するため異なる波長
（８、４８）の複数の光信号を発生する設備において、 前記試験すべき光装置（２）に順次印加される複数の光
信号を発生する光源（１）と、 前記光源（１）の前記複数の光信号を順次、前記光装置
（２）に印加する切換え手段（６）と、 前記試験すべき光装置（２）の応答信号を解析する解析
手段（３）とを備えることを特徴とする設備。 - 【請求項３】 前記光源が、前記複数の光信号を順次発
生するチューナブルレーザ（１）であることを特徴とす
る、請求項１または２に記載の設備。 - 【請求項４】 前記切換え手段が、前記複数の光信号
（８、４８）を順次発生するように前記チューナブルレ
ーザ（３）をトリガするパターン・ジェネレータ（６）
であることを特徴とする、請求項３に記載の設備。 - 【請求項５】 前記光源が、異なる波長の複数の信号を
同時に発生し、前記切換え手段が、様々な波長で透過的
であり、前記光源の出力と前記光部品の間に配設された
回転する１組のフィルタを備えることを特徴とする、請
求項１または２に記載の設備。 - 【請求項６】 前記光装置が、増幅器（２）、具体的に
はエルビウム・ドープ・ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）ま
たはプラセオジウム・ドープ・ファイバ増幅器（ＰＤＦ
Ａ）であることを特徴とする、請求項１または２に記載
の設備。 - 【請求項７】 前記複数の光信号（８、４８）の総て
が、前記切換え手段によって、前記信号が前記装置に印
加されたときの雑音レベルから信号がなくなったときの
雑音レベルまでの前記光装置の回復時間内で、順次前記
光装置（２）に印加されることを特徴とする、請求項１
または２に記載の設備。 - 【請求項８】 光装置（２）を動作させまたは試験する
方法において、 第１のステップで、第１の波長（λ１）の第１の光信号
が前記光装置に印加され、 第２のステップで、前記第１の光信号がオフにされ、 第３のステップで、第２の波長（λ２）の第２の光信号
が前記光装置に印加され、 前記第１ないし第３のステップが、信号が前記装置に印
加されたときの雑音レベルから信号がなくなったときの
雑音レベルまでの前記光装置の回復時間内に実行される
ことを特徴とする方法。 - 【請求項９】 前記第１および第２の光信号（λ１、λ
２）が、チューナブルレーザ（１）によって発生され、 前記第１ないし第３のステップが、前記チューナブルレ
ーザをトリガするパターン・ジェネレータ（６）の助け
で実行されることを特徴とする、請求項８に記載の方
法。
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|---|---|---|---|
| EP94119012A EP0716515B1 (en) | 1994-12-02 | 1994-12-02 | Arrangement for providing optical signals with different wavelengths and arrangement and method for operating and testing an optical device |
| DE94119012.6 | 1994-12-02 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08237197A true JPH08237197A (ja) | 1996-09-13 |
| JP3647113B2 JP3647113B2 (ja) | 2005-05-11 |
Family
ID=8216496
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33614495A Expired - Fee Related JP3647113B2 (ja) | 1994-12-02 | 1995-11-30 | 光信号発生設備、測定設備及び測定方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0716515B1 (ja) |
| JP (1) | JP3647113B2 (ja) |
| DE (1) | DE69419925T2 (ja) |
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| DE69612187T2 (de) * | 1996-06-01 | 2001-07-19 | Agilent Technologies Inc | Vorrichtung und Verfahren zum Betreiben und Prüfen einer optischen Vorrichtung |
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|---|---|---|---|---|
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-
1994
- 1994-12-02 DE DE1994619925 patent/DE69419925T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-12-02 EP EP94119012A patent/EP0716515B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-11-30 JP JP33614495A patent/JP3647113B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3647113B2 (ja) | 2005-05-11 |
| EP0716515B1 (en) | 1999-08-04 |
| DE69419925D1 (de) | 1999-09-09 |
| DE69419925T2 (de) | 1999-12-02 |
| EP0716515A1 (en) | 1996-06-12 |
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