JPH08220026A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH08220026A JPH08220026A JP7027972A JP2797295A JPH08220026A JP H08220026 A JPH08220026 A JP H08220026A JP 7027972 A JP7027972 A JP 7027972A JP 2797295 A JP2797295 A JP 2797295A JP H08220026 A JPH08220026 A JP H08220026A
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- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 28
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 2
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 abstract 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 9
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 2
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 スキャンエリアを小さく設定して、分解能を
向上させるとともに、アーティファクトのない断層像を
得ることができるＸ線ＣＴ装置を提供する。 【構成】 Ｘ線源１から発生するＸ線ファンビーム２を
被検体３が横切るように照射しながら、Ｘ線源１、Ｘ線
検出器４、および被検体運動手段により被検体３の全体
をスキャンして、被検体３の全体の断層像を得てから、
被検体を被検体シフト機構１４でシフトさせて、被検体
３の所望のスキャンエリアを画定し、このスキャンエリ
アを高分解能で部分スキャンし、このスキャンにおい
て、はみ出した部分におけるＸ線の減衰を全体スキャン
で得られた断層像に基づいて計算し、この計算されたデ
ータと部分スキャン手段で得られたデータに基づいて被
検体３の断層像の再構成計算を行う。
向上させるとともに、アーティファクトのない断層像を
得ることができるＸ線ＣＴ装置を提供する。 【構成】 Ｘ線源１から発生するＸ線ファンビーム２を
被検体３が横切るように照射しながら、Ｘ線源１、Ｘ線
検出器４、および被検体運動手段により被検体３の全体
をスキャンして、被検体３の全体の断層像を得てから、
被検体を被検体シフト機構１４でシフトさせて、被検体
３の所望のスキャンエリアを画定し、このスキャンエリ
アを高分解能で部分スキャンし、このスキャンにおい
て、はみ出した部分におけるＸ線の減衰を全体スキャン
で得られた断層像に基づいて計算し、この計算されたデ
ータと部分スキャン手段で得られたデータに基づいて被
検体３の断層像の再構成計算を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体に向けてＸ線を
照射し、被検体を透過したＸ線を検出し、この検出した
透過Ｘ線信号に基づいて被検体の断層像を再構成するＸ
線ＣＴ装置に関する。
照射し、被検体を透過したＸ線を検出し、この検出した
透過Ｘ線信号に基づいて被検体の断層像を再構成するＸ
線ＣＴ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図５は、一般的な第２世代方式のＸ線Ｃ
Ｔ装置の構成を示す図である。同図において、１はＸ線
源、２はＸ線源１から発生するＸ線ファンビーム、３は
被検体４を透過したＸ線を電気信号に変換するＸ線検出
器である。被検体４は、Ｘ線ファンビーム２を横切るよ
うにＸ線ファンビームの外側から外側まで直進運動を行
いながら、移動距離の一定のピッチ毎にＸ線透過データ
の収集を行う。この直進運動が終了した後、被検体４は
Ｘ線ファンビームの角度分回転運動を行う。そして、こ
の直進運動および回転運動を繰り返し行うことにより、
１８０°方向分のＸ線透過データを収集し、この収集し
たＸ線透過データを計算機に供給し、被検体の断層像の
計算を行う。
Ｔ装置の構成を示す図である。同図において、１はＸ線
源、２はＸ線源１から発生するＸ線ファンビーム、３は
被検体４を透過したＸ線を電気信号に変換するＸ線検出
器である。被検体４は、Ｘ線ファンビーム２を横切るよ
うにＸ線ファンビームの外側から外側まで直進運動を行
いながら、移動距離の一定のピッチ毎にＸ線透過データ
の収集を行う。この直進運動が終了した後、被検体４は
Ｘ線ファンビームの角度分回転運動を行う。そして、こ
の直進運動および回転運動を繰り返し行うことにより、
１８０°方向分のＸ線透過データを収集し、この収集し
たＸ線透過データを計算機に供給し、被検体の断層像の
計算を行う。
【０００３】このようなＸ線ＣＴ装置において、被検体
が小さい場合には、スキャンエリアを小さくして、デー
タ収集ピッチを小さくすることができるので、分解能を
向上させることができる。しかしながら、被検体が大き
い場合には、データ収集ピッチを小さくすると、計算機
の容量がオーバーしてしまうため、一定のピッチ以下に
することができない。
が小さい場合には、スキャンエリアを小さくして、デー
タ収集ピッチを小さくすることができるので、分解能を
向上させることができる。しかしながら、被検体が大き
い場合には、データ収集ピッチを小さくすると、計算機
の容量がオーバーしてしまうため、一定のピッチ以下に
することができない。
【０００４】また、図６は、一般的な第３世代方式のＸ
線ＣＴ装置の構成を示す図である。この第３世代のＸ線
ＣＴ装置では、被検体４を回転させるか、またはＸ線源
１とＸ線検出器３を回転させて、Ｘ線透過データの収集
が行われる。この第３世代方式のＸ線ＣＴ装置におい
て、分解能を向上させるためには、被検体４を４ａで示
す位置から４ｂで示す位置に移動して、被検体４をＸ線
源１に近づける必要がある。しかしながら、被検体が大
きい場合には、被検体はスキャンエリア５からはみ出し
てしまうため、分解能は被検体の大きさにより制限され
てしまう。
線ＣＴ装置の構成を示す図である。この第３世代のＸ線
ＣＴ装置では、被検体４を回転させるか、またはＸ線源
１とＸ線検出器３を回転させて、Ｘ線透過データの収集
が行われる。この第３世代方式のＸ線ＣＴ装置におい
て、分解能を向上させるためには、被検体４を４ａで示
す位置から４ｂで示す位置に移動して、被検体４をＸ線
源１に近づける必要がある。しかしながら、被検体が大
きい場合には、被検体はスキャンエリア５からはみ出し
てしまうため、分解能は被検体の大きさにより制限され
てしまう。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、スキ
ャンエリアを小さくして、分解能を向上させようとした
場合に、スキャンエリアが被検体よりも小さいと、Ｘ線
透過データに矛盾が生じて、断層像でアーティファクト
（偽像）となって現れてしまい、画質がかえって劣化す
るという問題がある。従って、分解能は被検体の大きさ
によって制限を受けるという問題がある。
ャンエリアを小さくして、分解能を向上させようとした
場合に、スキャンエリアが被検体よりも小さいと、Ｘ線
透過データに矛盾が生じて、断層像でアーティファクト
（偽像）となって現れてしまい、画質がかえって劣化す
るという問題がある。従って、分解能は被検体の大きさ
によって制限を受けるという問題がある。
【０００６】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、スキャンエリアを小さい設定
して、分解能を向上させるとともに、アーティファクト
のない断層像を得ることができるＸ線ＣＴ装置を提供す
ることにある。
その目的とするところは、スキャンエリアを小さい設定
して、分解能を向上させるとともに、アーティファクト
のない断層像を得ることができるＸ線ＣＴ装置を提供す
ることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線を発生するＸ線発生
手段、該Ｘ線発生手段からのＸ線を被検体に照射し、被
検体を透過したＸ線を電気信号に変換するＸ線検出手
段、前記Ｘ線発生手段からのＸ線を横切るように前記被
検体を直進運動および回転運動させる被検体運動手段、
および前記Ｘ線検出手段で得られた電気信号に基づいて
被検体の断層像を計算する断層像計算手段を有するＸ線
ＣＴ装置であって、前記Ｘ線発生手段、Ｘ線検出手段お
よび被検体運動手段により被検体の全体をスキャンし
て、被検体の全体の断層像を得る全体スキャン手段と、
被検体の所望のスキャンエリアを画定すべく被検体を前
記被検体運動手段上でシフトさせるシフト手段と、前記
所望のスキャンエリアのみを高分解能でスキャンする部
分スキャン手段と、該部分スキャン手段によるスキャン
において、はみ出した部分におけるＸ線の減衰を前記全
体スキャン手段で得られた断層像に基づいて計算するは
み出し部分計算手段と、該はみ出し部分計算手段で計算
されたデータと前記部分スキャン手段で得られたデータ
に基づいて被検体の断層像の再構成計算を行う再構成計
算手段とを有することを要旨とする。
め、本発明のＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線を発生するＸ線発生
手段、該Ｘ線発生手段からのＸ線を被検体に照射し、被
検体を透過したＸ線を電気信号に変換するＸ線検出手
段、前記Ｘ線発生手段からのＸ線を横切るように前記被
検体を直進運動および回転運動させる被検体運動手段、
および前記Ｘ線検出手段で得られた電気信号に基づいて
被検体の断層像を計算する断層像計算手段を有するＸ線
ＣＴ装置であって、前記Ｘ線発生手段、Ｘ線検出手段お
よび被検体運動手段により被検体の全体をスキャンし
て、被検体の全体の断層像を得る全体スキャン手段と、
被検体の所望のスキャンエリアを画定すべく被検体を前
記被検体運動手段上でシフトさせるシフト手段と、前記
所望のスキャンエリアのみを高分解能でスキャンする部
分スキャン手段と、該部分スキャン手段によるスキャン
において、はみ出した部分におけるＸ線の減衰を前記全
体スキャン手段で得られた断層像に基づいて計算するは
み出し部分計算手段と、該はみ出し部分計算手段で計算
されたデータと前記部分スキャン手段で得られたデータ
に基づいて被検体の断層像の再構成計算を行う再構成計
算手段とを有することを要旨とする。
【０００８】また、本発明のＸ線ＣＴ装置は、被検体に
向けてＸ線を照射し、被検体を透過したＸ線を検出する
動作を被検体の所定の範囲に対して繰り返し行うことに
より得られたＸ線検出信号に基づいて被検体の断層像を
再構成するＸ線ＣＴ装置であって、被検体の全体をスキ
ャンして、被検体の全体の断層像を得る全体スキャン手
段と、被検体の所望のスキャンエリアを画定すべく被検
体およびＸ線発生源のいずれかを移動させる移動手段
と、前記所望のスキャンエリアのみを高分解能でスキャ
ンする部分スキャン手段と、該部分スキャン手段による
スキャンにおいて、はみ出した部分におけるＸ線の減衰
を前記全体スキャン手段で得られた断層像に基づいて計
算するはみ出し部分計算手段と、該はみ出し部分計算手
段で計算されたデータと前記部分スキャン手段で得られ
たデータに基づいて被検体の断層像の再構成計算を行う
再構成計算手段とを有することを要旨とする。
向けてＸ線を照射し、被検体を透過したＸ線を検出する
動作を被検体の所定の範囲に対して繰り返し行うことに
より得られたＸ線検出信号に基づいて被検体の断層像を
再構成するＸ線ＣＴ装置であって、被検体の全体をスキ
ャンして、被検体の全体の断層像を得る全体スキャン手
段と、被検体の所望のスキャンエリアを画定すべく被検
体およびＸ線発生源のいずれかを移動させる移動手段
と、前記所望のスキャンエリアのみを高分解能でスキャ
ンする部分スキャン手段と、該部分スキャン手段による
スキャンにおいて、はみ出した部分におけるＸ線の減衰
を前記全体スキャン手段で得られた断層像に基づいて計
算するはみ出し部分計算手段と、該はみ出し部分計算手
段で計算されたデータと前記部分スキャン手段で得られ
たデータに基づいて被検体の断層像の再構成計算を行う
再構成計算手段とを有することを要旨とする。
【０００９】更に、本発明のＸ線ＣＴ装置は、前記スキ
ャンエリアを目視できるように明示するスキャンエリア
明示手段を有することを要旨とする。
ャンエリアを目視できるように明示するスキャンエリア
明示手段を有することを要旨とする。
【００１０】
【作用】本発明のＸ線ＣＴ装置では、被検体の全体をス
キャンして、被検体の全体の断層像を得てから、被検体
を被検体運動手段上でシフトさせて、被検体の所望のス
キャンエリアを画定して、所望のスキャンエリアのみを
高分解能で部分スキャンし、このスキャンにおいて、は
み出した部分におけるＸ線の減衰を全体スキャンで得ら
れた断層像に基づいて計算し、この計算されたデータと
部分スキャンで得られたデータに基づいて被検体の断層
像の再構成計算を行う。
キャンして、被検体の全体の断層像を得てから、被検体
を被検体運動手段上でシフトさせて、被検体の所望のス
キャンエリアを画定して、所望のスキャンエリアのみを
高分解能で部分スキャンし、このスキャンにおいて、は
み出した部分におけるＸ線の減衰を全体スキャンで得ら
れた断層像に基づいて計算し、この計算されたデータと
部分スキャンで得られたデータに基づいて被検体の断層
像の再構成計算を行う。
【００１１】また、本発明のＸ線ＣＴ装置では、被検体
の全体をスキャンして、被検体の全体の断層像を得てか
ら、被検体およびＸ線発生源のいずれかを移動させて、
被検体の所望のスキャンエリアを画定し、該所望のスキ
ャンエリアのみを高分解能で部分スキャンし、このスキ
ャンにおいて、はみ出した部分におけるＸ線の減衰を全
体スキャンで得られた断層像に基づいて計算し、この計
算されたデータと部分スキャンで得られたデータに基づ
いて被検体の断層像の再構成計算を行う。
の全体をスキャンして、被検体の全体の断層像を得てか
ら、被検体およびＸ線発生源のいずれかを移動させて、
被検体の所望のスキャンエリアを画定し、該所望のスキ
ャンエリアのみを高分解能で部分スキャンし、このスキ
ャンにおいて、はみ出した部分におけるＸ線の減衰を全
体スキャンで得られた断層像に基づいて計算し、この計
算されたデータと部分スキャンで得られたデータに基づ
いて被検体の断層像の再構成計算を行う。
【００１２】更に、本発明のＸ線ＣＴ装置では、スキャ
ンエリアを目視できるように明示している。
ンエリアを目視できるように明示している。
【００１３】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。
る。
【００１４】図１は、本発明の一実施例に係るＸ線ＣＴ
装置の構成を示す斜視図である。同図に示すＸ線ＣＴ装
置においては、Ｘ線源１から発生したＸ線ファンビーム
２は、検査テーブル５の上に載置された被検体３を透過
した後、Ｘ線検出器４で検出されて電気信号に変換され
るが、この場合、被検体３は検査テーブル５を介して図
示しない移動機構により直進運動および回転運動を繰り
返され、これにより被検体の周囲方向のＸ線透過データ
がＸ線検出器４を介して収集されて、ＣＰＵ６に供給さ
れる。ＣＰＵ６はこの収集されたＸ線透過データから被
検体の断層像を計算し、モニタ７に表示する。
装置の構成を示す斜視図である。同図に示すＸ線ＣＴ装
置においては、Ｘ線源１から発生したＸ線ファンビーム
２は、検査テーブル５の上に載置された被検体３を透過
した後、Ｘ線検出器４で検出されて電気信号に変換され
るが、この場合、被検体３は検査テーブル５を介して図
示しない移動機構により直進運動および回転運動を繰り
返され、これにより被検体の周囲方向のＸ線透過データ
がＸ線検出器４を介して収集されて、ＣＰＵ６に供給さ
れる。ＣＰＵ６はこの収集されたＸ線透過データから被
検体の断層像を計算し、モニタ７に表示する。
【００１５】被検体３がＸ線ファンビーム２の中を直進
運動している最中は、一定ピッチ毎にＸ線検出器４でＸ
線透過データが得られ、ＣＰＵ６で断層像の再構成計算
に使用される。そして、このデータ収集ピッチが小さい
方が再構成された断層像の分解能は向上する。従って、
本実施例では、分解能を向上させるために、スキャンエ
リアを小さな範囲に限定し、データ収集ピッチを小さく
してスキャンを行う。
運動している最中は、一定ピッチ毎にＸ線検出器４でＸ
線透過データが得られ、ＣＰＵ６で断層像の再構成計算
に使用される。そして、このデータ収集ピッチが小さい
方が再構成された断層像の分解能は向上する。従って、
本実施例では、分解能を向上させるために、スキャンエ
リアを小さな範囲に限定し、データ収集ピッチを小さく
してスキャンを行う。
【００１６】図２は、被検体３と該被検体内の小さなス
キャンエリアの関係を示しているが、被検体３に対して
小さく設定されたスキャンエリア９のように該スキャン
エリアの中心が被検体３の中心、具体的には検査テーブ
ル５の回転中心と同じである場合には、直進運動の移動
距離を小さくするだけでよいが、スキャンエリア１０で
示すように、スキャンエリア１０の中心がずれている場
合には、検査テーブル５上で被検体３をシフトさせて、
スキャンエリア１０の中心を検査テーブル５の回転中心
に一致させてから、スキャンを行う必要がある。このシ
フトを行うために、被検体シフト機構１４が設けられて
いる。
キャンエリアの関係を示しているが、被検体３に対して
小さく設定されたスキャンエリア９のように該スキャン
エリアの中心が被検体３の中心、具体的には検査テーブ
ル５の回転中心と同じである場合には、直進運動の移動
距離を小さくするだけでよいが、スキャンエリア１０で
示すように、スキャンエリア１０の中心がずれている場
合には、検査テーブル５上で被検体３をシフトさせて、
スキャンエリア１０の中心を検査テーブル５の回転中心
に一致させてから、スキャンを行う必要がある。このシ
フトを行うために、被検体シフト機構１４が設けられて
いる。
【００１７】また、スキャンエリアの位置および大きさ
が被検体３上で実際にどのように設定されているかがわ
かりにくいために、図１に示すように、被検体３の上方
に点光源１１、レンズ１２、および絞り１３を設け、点
光源１１からの光線をレンズ１２で平行光線にし、この
平行光線の径を絞り１３でスキャンエリアと同じ大きさ
に設定して、被検体３に当てている。なお、この光線の
方向は検査テーブル５の回転中心と一致するように設定
されている。また、この光線は被検体３の色によっては
フィルタを通して、色をつけることにより見やすくする
ことができる。そして、この光線を見ながら、前記被検
体シフト機構１４により被検体を図１において点線３′
で示す位置までシフトさせる。
が被検体３上で実際にどのように設定されているかがわ
かりにくいために、図１に示すように、被検体３の上方
に点光源１１、レンズ１２、および絞り１３を設け、点
光源１１からの光線をレンズ１２で平行光線にし、この
平行光線の径を絞り１３でスキャンエリアと同じ大きさ
に設定して、被検体３に当てている。なお、この光線の
方向は検査テーブル５の回転中心と一致するように設定
されている。また、この光線は被検体３の色によっては
フィルタを通して、色をつけることにより見やすくする
ことができる。そして、この光線を見ながら、前記被検
体シフト機構１４により被検体を図１において点線３′
で示す位置までシフトさせる。
【００１８】また、図３に示すように、被検体３に対し
てスキャンエリア９が小さい場合には、直進運動のスト
ロークを小さくする。ストロークを小さくできるので、
データ収集ピッチも小さくすることができ、分解能を向
上させることができる。
てスキャンエリア９が小さい場合には、直進運動のスト
ロークを小さくする。ストロークを小さくできるので、
データ収集ピッチも小さくすることができ、分解能を向
上させることができる。
【００１９】以上のようにしたまま、画像再構成計算を
行うと、透過データに矛盾が生じるため、スキャンエリ
アからはみ出した部分の補正計算を次のように行う。
行うと、透過データに矛盾が生じるため、スキャンエリ
アからはみ出した部分の補正計算を次のように行う。
【００２０】この補正計算について図４を参照して説明
する。なお、図４では、Ｘ線検出器４を構成する１つの
Ｘ線検出素子で得られる１方向のデータのみについての
計算方法を示している。図４に示すように、被検体３に
対してスキャンエリア１０を設定した場合において、Ｉ
0 は入射Ｘ線強度、Ｉ1 は被検体３の表面から距離ｔ1
でのＸ線強度、Ｉ2 は距離ｔ2 でのＸ線強度、Ｉ3 は距
離ｔ3 （被検体からＸ線が出る位置）でのＸ線強度を意
味している。そこで、各強度Ｉ0 ，Ｉ1 ，Ｉ2，Ｉ3 の
間には次の関係が成立する。
する。なお、図４では、Ｘ線検出器４を構成する１つの
Ｘ線検出素子で得られる１方向のデータのみについての
計算方法を示している。図４に示すように、被検体３に
対してスキャンエリア１０を設定した場合において、Ｉ
0 は入射Ｘ線強度、Ｉ1 は被検体３の表面から距離ｔ1
でのＸ線強度、Ｉ2 は距離ｔ2 でのＸ線強度、Ｉ3 は距
離ｔ3 （被検体からＸ線が出る位置）でのＸ線強度を意
味している。そこで、各強度Ｉ0 ，Ｉ1 ，Ｉ2，Ｉ3 の
間には次の関係が成立する。
【００２１】
【数１】 ここで、μは被検体内の距離ｔの位置での線吸収係数
（cm-1）である。
（cm-1）である。
【００２２】スキャンエリア１０内での画像再構成をデ
ータの矛盾が生じないように、すなわちアーティファク
トが生じないように行うためには、強度Ｉ1 およびＩ2
から次式を使用して、スキャンエリア１０内の真のＸ線
減衰量を求める。
ータの矛盾が生じないように、すなわちアーティファク
トが生じないように行うためには、強度Ｉ1 およびＩ2
から次式を使用して、スキャンエリア１０内の真のＸ線
減衰量を求める。
【００２３】
【数２】 ここで、強度Ｉ1 は、強度Ｉ0 （空気データ）を使用し
て、式（３）から計算することができる。なお、線吸収
係数μの分布は全体をスキャンした断層像のデータを使
用する。
て、式（３）から計算することができる。なお、線吸収
係数μの分布は全体をスキャンした断層像のデータを使
用する。
【００２４】また、強度Ｉ2 は式（１）を変形し、次式
（５）から求めることができる。
（５）から求めることができる。
【００２５】
【数３】 ここで、強度Ｉ3 はＸ線検出器４で得られたデータを使
用し、線吸収係数μの距離ｔ2 からｔ3 までの積分の負
の値は前記強度Ｉ1 の場合と同様に全体をスキャンした
断層像の線吸収係数μの分布から計算する。
用し、線吸収係数μの距離ｔ2 からｔ3 までの積分の負
の値は前記強度Ｉ1 の場合と同様に全体をスキャンした
断層像の線吸収係数μの分布から計算する。
【００２６】更に、スキャンエリアの位置は前記被検体
シフト機構１４の移動量から求める。このようにして、
スキャンエリアからはみ出した被検体でのＸ線の減衰を
予め撮影した線吸収係数μの分布を使用して求める。
シフト機構１４の移動量から求める。このようにして、
スキャンエリアからはみ出した被検体でのＸ線の減衰を
予め撮影した線吸収係数μの分布を使用して求める。
【００２７】上述した計算は、上述したように、Ｘ線検
出器４を構成する１つのＸ線検出素子で得られる１方向
のデータのみについての計算であるので、他のＸ線検出
素子および角度方向についてもすべて同様な減衰の計算
を行う。この結果、分解能を向上し、データに矛盾がな
く、アーティファクトのない良好な断層像を得ることが
できる。
出器４を構成する１つのＸ線検出素子で得られる１方向
のデータのみについての計算であるので、他のＸ線検出
素子および角度方向についてもすべて同様な減衰の計算
を行う。この結果、分解能を向上し、データに矛盾がな
く、アーティファクトのない良好な断層像を得ることが
できる。
【００２８】上述した実施例は第２世代方式のＸ線ＣＴ
装置について説明したが、本発明のＸ線ＣＴ装置はこれ
に限定されるものでなく、第３世代方式および第４世代
方式のＸ線ＣＴ装置の場合でも同様にはみ出した部分で
のＸ線の減衰を計算することにより適用可能である。
装置について説明したが、本発明のＸ線ＣＴ装置はこれ
に限定されるものでなく、第３世代方式および第４世代
方式のＸ線ＣＴ装置の場合でも同様にはみ出した部分で
のＸ線の減衰を計算することにより適用可能である。
【００２９】すなわち、被検体運動手段が回転運動のみ
を行う第３世代方式のＸ線ＣＴ装置では、被検体全体を
一旦スキャンした後、被検体回転運動手段ごと移動させ
ることができる被検体回転運動手段移動手段を設けるこ
とにより達成することができる。また、被検体は固定で
あり、Ｘ線検出手段が被検体の全周に配列されて、Ｘ線
源が被検体の周りを回転する第４世代方式のＸ線ＣＴ装
置では、被検体全体を一旦スキャンした後、Ｘ線源を被
検体方向に移動させ、距離を変えて回転させるＸ線源回
転手段を設けることにより達成することができる。
を行う第３世代方式のＸ線ＣＴ装置では、被検体全体を
一旦スキャンした後、被検体回転運動手段ごと移動させ
ることができる被検体回転運動手段移動手段を設けるこ
とにより達成することができる。また、被検体は固定で
あり、Ｘ線検出手段が被検体の全周に配列されて、Ｘ線
源が被検体の周りを回転する第４世代方式のＸ線ＣＴ装
置では、被検体全体を一旦スキャンした後、Ｘ線源を被
検体方向に移動させ、距離を変えて回転させるＸ線源回
転手段を設けることにより達成することができる。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検体の全体をスキャンして被検体の全体の断層像を得
てから、被検体を被検体運動手段上でシフトさせて、被
検体の所望のスキャンエリアを画定して、所望のスキャ
ンエリアのみを高分解能で部分スキャンし、このスキャ
ンにおいて、はみ出した部分におけるＸ線の減衰を全体
スキャンで得られた断層像に基づいて計算し、この計算
されたデータと部分スキャンで得られたデータに基づい
て被検体の断層像の再構成計算を行うので、分解能を向
上させながら、アーティファクトのない良好な断層像を
得ることができる。
被検体の全体をスキャンして被検体の全体の断層像を得
てから、被検体を被検体運動手段上でシフトさせて、被
検体の所望のスキャンエリアを画定して、所望のスキャ
ンエリアのみを高分解能で部分スキャンし、このスキャ
ンにおいて、はみ出した部分におけるＸ線の減衰を全体
スキャンで得られた断層像に基づいて計算し、この計算
されたデータと部分スキャンで得られたデータに基づい
て被検体の断層像の再構成計算を行うので、分解能を向
上させながら、アーティファクトのない良好な断層像を
得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例に係るＸ線ＣＴ装置の構成を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図２】被検体と該被検体内の小さいなスキャンエリア
との関係を示す説明図である。
との関係を示す説明図である。
【図３】スキャンエリアの大きさの違いによる直進運動
移動距離の違いを示す説明図である。
移動距離の違いを示す説明図である。
【図４】被検体内におけるＸ線の減衰を示す説明図であ
る。
る。
【図５】従来の第２世代方式のＸ線ＣＴ装置を示す図で
ある。
ある。
【図６】従来の第３世代方式のＸ線ＣＴ装置を示す図で
ある。
ある。
１ Ｘ線源 ２ Ｘ線ファンビーム ３ 被検体 ４ Ｘ線検出器 ５ 検査テーブル ６ ＣＰＵ ９，１０ スキャンエリア １１ 点光源 １２ レンズ １３ 絞り １４ 被検体シフト機構
Claims (3)
- 【請求項１】 Ｘ線を発生するＸ線発生手段と、該Ｘ線
発生手段からのＸ線を被検体に照射し、被検体を透過し
たＸ線を電気信号に変換するＸ線検出手段と、前記Ｘ線
発生手段からのＸ線を横切るように前記被検体を直進運
動および回転運動させる被検体運動手段と、前記Ｘ線検
出手段で得られた電気信号に基づいて被検体の断層像を
計算する断層像計算手段とを有するＸ線ＣＴ装置であっ
て、 前記Ｘ線発生手段、Ｘ線検出手段および被検体運動手段
により被検体の全体をスキャンして、被検体の全体の断
層像を得る全体スキャン手段と、 被検体の所望のスキャンエリアを画定すべく被検体を前
記被検体運動手段上でシフトさせるシフト手段と、 前記所望のスキャンエリアのみを高分解能でスキャンす
る部分スキャン手段と、 該部分スキャン手段によるスキャンにおいて、はみ出し
た部分におけるＸ線の減衰を前記全体スキャン手段で得
られた断層像に基づいて計算するはみ出し部分計算手段
と、 該はみ出し部分計算手段で計算されたデータと前記部分
スキャン手段で得られたデータに基づいて被検体の断層
像の再構成計算を行う再構成計算手段とを有することを
特徴とするＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項２】 被検体に向けてＸ線を照射し、被検体を
透過したＸ線を検出する動作を被検体の所定の範囲に対
して繰り返し行うことにより得られたＸ線検出信号に基
づいて被検体の断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置であっ
て、 被検体の全体をスキャンして、被検体の全体の断層像を
得る全体スキャン手段と、 被検体の所望のスキャンエリアを画定すべく被検体およ
びＸ線発生源のいずれかを移動させる移動手段と、 前記所望のスキャンエリアのみを高分解能でスキャンす
る部分スキャン手段と、 該部分スキャン手段によるスキャンにおいて、はみ出し
た部分におけるＸ線の減衰を前記全体スキャン手段で得
られた断層像に基づいて計算するはみ出し部分計算手段
と、 該はみ出し部分計算手段で計算されたデータと前記部分
スキャン手段で得られたデータに基づいて被検体の断層
像の再構成計算を行う再構成計算手段とを有することを
特徴とするＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項３】 前記スキャンエリアを目視できるように
明示するスキャンエリア明示手段を有することを特徴と
する請求項１または２記載のＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7027972A JPH08220026A (ja) | 1995-02-16 | 1995-02-16 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7027972A JPH08220026A (ja) | 1995-02-16 | 1995-02-16 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08220026A true JPH08220026A (ja) | 1996-08-30 |
Family
ID=12235799
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7027972A Pending JPH08220026A (ja) | 1995-02-16 | 1995-02-16 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08220026A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002310943A (ja) * | 2001-04-12 | 2002-10-23 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
| JP2008528096A (ja) * | 2005-01-21 | 2008-07-31 | ミン ヒョン チョ | Ｘ線断層映像再構成方法及び装置 |
-
1995
- 1995-02-16 JP JP7027972A patent/JPH08220026A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002310943A (ja) * | 2001-04-12 | 2002-10-23 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
| JP2008528096A (ja) * | 2005-01-21 | 2008-07-31 | ミン ヒョン チョ | Ｘ線断層映像再構成方法及び装置 |
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