JPH08213887A - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

Info

Publication number
JPH08213887A
JPH08213887A JP7242797A JP24279795A JPH08213887A JP H08213887 A JPH08213887 A JP H08213887A JP 7242797 A JP7242797 A JP 7242797A JP 24279795 A JP24279795 A JP 24279795A JP H08213887 A JPH08213887 A JP H08213887A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
reset
semiconductor device
oscillation
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7242797A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2879845B2 (en
Inventor
Hirokazu Tagiri
宏和 田切
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP7242797A priority Critical patent/JP2879845B2/en
Publication of JPH08213887A publication Critical patent/JPH08213887A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2879845B2 publication Critical patent/JP2879845B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE: To provide a semiconductor device in which terminals for a CR oscillator and a reset circuit are used in common to reduce the number of the terminals, much more functions are accommodated and the umber of external components is reduced. CONSTITUTION: A capacitor C used to generate a CR oscillation signal and a reset signal is connected to a CR oscillation control circuit 2 and a reset control circuit 3 in the inside of the semiconductor device 1 via a terminal T and a wiring L1, an output of the CR oscillation control circuit 2 is a clock signal in the inside of the semiconductor device and an output of the reset control circuit 3 is an internal reset signal. The CR oscillation control circuit 2 and the reset control circuit 3 have respectively comparators 4, 6, and a feedback circuit generates hysteresis voltages where low level and high level voltages are respectively Vc1, Vch and Vr1, Vrh.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置に関し、
詳しくはCR発振回路及びリセット回路を有する半導体
装置の回路構成に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device,
Specifically, it relates to a circuit configuration of a semiconductor device having a CR oscillation circuit and a reset circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体装置の動作タイミングとな
るクロックの精度に高精度を要求しない場合には、安価
で簡易な発振回路として、コンデンサや抵抗を外付けす
るCR発振回路を使用することが多かった。また、電源
投入時の初期動作を確定するためのリセット信号発生回
路として、コンデンサや抵抗を外付けするリセット回路
を同時に使用することも多かった。
2. Description of the Related Art Conventionally, when high precision is not required for a clock that is an operation timing of a semiconductor device, a CR oscillator circuit to which a capacitor or a resistor is externally attached is used as an inexpensive and simple oscillator circuit. There were many. Further, as a reset signal generation circuit for determining the initial operation when the power is turned on, a reset circuit with an external capacitor or resistor is often used at the same time.

【0003】図4は従来の半導体装置の構成を示し、C
R発振のためのコンデンサC1及び抵抗R9と、リセッ
ト信号発生のためのコンデンサC2とを有する半導体装
置1を示している。CR発振回路は、基準電位(GN
D)及び電源電圧(VDD)間に接続されたコンデンサC
1及び抵抗R9の接続点が端子T1を介して半導体装置
1のCR発振制御回路2bに接続され、CR発振制御回
路2bの出力はバッファ回路5を介して、半導体装置1
を動作させるための内部クロック(以下CLK)信号と
なるように構成されている。CR発振制御回路2bによ
りコンデンサC1の放電制御を行う事により、CR発振
を行うように動作する。
FIG. 4 shows the structure of a conventional semiconductor device, which is C
1 shows a semiconductor device 1 having a capacitor C1 and a resistor R9 for R oscillation, and a capacitor C2 for generating a reset signal. The CR oscillator circuit has a reference potential (GN
D) and a capacitor C connected between the power supply voltage (V DD )
1 and the resistor R9 are connected to the CR oscillation control circuit 2b of the semiconductor device 1 through the terminal T1, and the output of the CR oscillation control circuit 2b is passed through the buffer circuit 5 and the semiconductor device 1
Is configured to be an internal clock (hereinafter CLK) signal for operating. By controlling the discharge of the capacitor C1 by the CR oscillation control circuit 2b, it operates so as to perform CR oscillation.

【0004】また、リセット回路は、一端を基準電位に
接続されたコンデンサC2の他端が端子T2を介して半
導体装置1のリセット制御回路3bに接続され、リセッ
ト制御回路3bの出力はバッファ回路7を介して、半導
体装置1の動作をリセット状態とするための内部リセッ
ト(以下RST)信号となるように構成されている。電
源電圧が印加されていない時、コンデンサC2の電荷は
放電されて端子T2の電圧は基準電圧になっており、電
源投入後は図示しないリセット制御回路のプルアップ抵
抗を介して流れる電流によりコンデンサC2が充電され
て端子T2の電圧は徐々に上昇し、端子T2の電圧がリ
セット制御回路3bで設定された電圧値以上に上昇する
と、リセット制御回路3bはRST信号を高レベルにし
て、半導体装置1のリセット状態を解除するように動作
する。
Further, in the reset circuit, the other end of the capacitor C2 having one end connected to the reference potential is connected to the reset control circuit 3b of the semiconductor device 1 via the terminal T2, and the output of the reset control circuit 3b is the buffer circuit 7. Via an internal reset (hereinafter referred to as RST) signal for resetting the operation of the semiconductor device 1. When the power supply voltage is not applied, the electric charge of the capacitor C2 is discharged and the voltage of the terminal T2 becomes the reference voltage. After the power is turned on, the capacitor C2 is caused by the current flowing through the pull-up resistor of the reset control circuit (not shown). Are charged and the voltage at the terminal T2 gradually rises, and when the voltage at the terminal T2 rises above the voltage value set by the reset control circuit 3b, the reset control circuit 3b raises the RST signal to a high level, and the semiconductor device 1 It operates to release the reset state of.

【0005】尚、CR発振回路及びリセット回路の回路
構成としては、文献等に示されている種々の回路を使用
することができるので詳述しない。また、発振周波数の
精度を必要とされない場合には、抵抗R9を半導体装置
1の内部に形成し、外付けをコンデンサC2のみした発
振回路も良く使用されている。
As the circuit configurations of the CR oscillation circuit and the reset circuit, various circuits described in literatures and the like can be used and will not be described in detail. Further, when the accuracy of the oscillation frequency is not required, an oscillation circuit in which the resistor R9 is formed inside the semiconductor device 1 and only the capacitor C2 is externally attached is often used.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】図4に示す半導体装置
1は、簡単な回路構成により実現できるが、CR発振の
ためのコンデンサC1及び抵抗R9を接続する端子T1
と、リセット信号発生のためのコンデンサC2を接続す
る端子T2とが各々必要になっている。従って、半導体
装置1の外付け部品が多くなると共に、半導体装置1の
端子数が多く必要になるので、端子数の多い多ピンのパ
ッケージを使用するか、他の機能のための端子を削除す
るかしなければならなかった。
The semiconductor device 1 shown in FIG. 4 can be realized by a simple circuit structure, but a terminal T1 connecting a capacitor C1 and a resistor R9 for CR oscillation is connected.
And a terminal T2 to which a capacitor C2 for generating a reset signal is connected. Therefore, the number of external parts of the semiconductor device 1 is increased and the number of terminals of the semiconductor device 1 is required to be increased. Therefore, a multi-pin package having a large number of terminals is used or terminals for other functions are deleted. I had to ask.

【0007】しかし、外付け部品が多いと外付けのため
の基板面積が大きくなるという問題と共に、その部品の
費用や管理費が必要になりコストアップするという問題
や、多ピンのパッケージを使用するのでコストアップす
る場合があるという問題や、他の機能のための端子を削
除する場合には要求機能を十分満たせなくなる場合がが
有った。また、リセット信号発生のタイミングと、発振
によるクロックのタイミングが独立に発生するので、別
途同期を考えなければならないという問題もある等、多
くの問題が有った。
However, if there are many external parts, the board area for external parts becomes large, and the cost of these parts and management costs increase, and a multi-pin package is used. Therefore, there is a problem that the cost may be increased, and when the terminals for other functions are deleted, the required functions may not be sufficiently satisfied. In addition, since the reset signal generation timing and the clock timing due to oscillation are generated independently, there are many problems such as the need to consider synchronization separately.

【0008】そこで本発明はこれらの問題を解決し、C
R発振器を構成するための端子と、リセット回路を構成
するための端子とを共通化することにより端子数を削減
し、同一ピン数のパッケージに、より多くの機能を取り
込めるようにする共に、外付け部品数を削減して部品の
費用や管理費を削減できる半導体装置を提供することを
目的とする。更には、電源電圧投入後の動作において、
リセット状態が解除されてから発振クロックが継続する
ように必ず動作するようにして、クロック信号のタイミ
ングとリセット信号のタイミングとの関係を気にしない
でも、確実な動作させることができる半導体装置を提供
することを目的とする。
Therefore, the present invention solves these problems, and
By making the terminals for configuring the R oscillator and the terminals for configuring the reset circuit in common, the number of terminals can be reduced, and more functions can be incorporated in the package with the same number of pins. An object of the present invention is to provide a semiconductor device capable of reducing the number of parts to be attached and the cost of parts and management costs. Furthermore, in the operation after turning on the power supply voltage,
Provided is a semiconductor device in which an oscillation clock is always operated after a reset state is released so that a reliable operation can be performed without worrying about a relation between a timing of a clock signal and a timing of a reset signal. The purpose is to do.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上述の問題を解決するた
めに、請求項1の記載に係わる半導体装置は、CR発振
回路とリセット回路を有する半導体装置において、CR
発振回路を構成するための端子と、リセット回路を構成
するための端子とを共通端子とすると共に、リセット状
態となる電圧レベルは発振波形の低レベル電圧よりも低
く、発振中はリセット状態にならないことを特徴とす
る。また、請求項2の記載に係わる半導体装置は、リセ
ット回路のリセット解除電圧となる電圧レベルは発振波
形の高レベル電圧よりも低く、リセット解除後に発振を
継続することを特徴とする。請求項3の記載に係わる半
導体装置は、CR発振回路とリセット回路を有する半導
体装置において、CR発振回路を構成するための端子
と、リセット回路を構成するための端子とを共通端子と
すると共に、リセット状態となる電圧レベルは発振波形
の高レベル電圧よりも高く、発振中はリセット状態にな
らないことを特徴とする。請求項4の記載に係わる半導
体装置は、請求項1乃至請求項3に記載の半導体装置に
おいて、CR発振回路及びリセット回路はCMOS構成
で形成されていることを特徴とする。
In order to solve the above problems, a semiconductor device according to a first aspect of the present invention is a semiconductor device having a CR oscillation circuit and a reset circuit.
The terminal for configuring the oscillator circuit and the terminal for configuring the reset circuit are used as a common terminal, and the voltage level that is in the reset state is lower than the low level voltage of the oscillation waveform, and the reset state is not established during oscillation. It is characterized by Further, the semiconductor device according to the second aspect is characterized in that the voltage level as the reset release voltage of the reset circuit is lower than the high level voltage of the oscillation waveform, and the oscillation is continued after the reset release. A semiconductor device according to claim 3 is a semiconductor device having a CR oscillation circuit and a reset circuit, wherein a terminal for configuring the CR oscillation circuit and a terminal for configuring the reset circuit are common terminals, and The voltage level in the reset state is higher than the high level voltage of the oscillation waveform, and the reset state is not maintained during oscillation. A semiconductor device according to a fourth aspect is the semiconductor device according to the first to third aspects, wherein the CR oscillation circuit and the reset circuit are formed in a CMOS configuration.

【0010】[0010]

【作用】本発明のような半導体装置の構成をとることに
より、請求項1または請求項3の記載に係わる半導体装
置は、CR発振回路を構成するための端子と、リセット
回路を構成するための端子とを共通端子とすることがで
きると共に、発振中はリセット状態にならなくなる。ま
た、請求項2の記載に係わる半導体装置は、リセット解
除後に発振を継続するように確実に動作するようにな
る。
According to the semiconductor device of the present invention, the semiconductor device according to claim 1 or 3 has a terminal for forming a CR oscillation circuit and a reset circuit. The pin and the pin can be used as a common pin, and the reset state will not occur during oscillation. In addition, the semiconductor device according to the second aspect of the present invention surely operates so as to continue oscillation after the reset is released.

【0011】[0011]

【実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図1、図2
及び図3を参照しながら詳細に説明する。尚、本明細書
では全図面を通して同一または同様の回路要素には同一
の符号を付して重複する説明を省略している。図1はC
MOS構成による本発明の半導体装置の構成例を示す。
CR発振及びリセット信号発生のための一端が基準電位
(GND)に接続されたコンデンサCの他端が、端子T
及び配線L1を介して半導体装置1内部のCR発振制御
回路2のコンパレータ4の非反転入力に接続されると共
に、リセット制御回路3のコンパレータ6の非反転入力
と、コンデンサCを充放電するための抵抗R1、R2及
びトランジスタQ1からなる充放電回路に接続されてい
る。コンパレータ4の出力はバッファ5を介して半導体
装置1の内部クロック(以下CLK)信号となると共
に、トランジスタQ1及びQ2のゲート入力となり、発
振波形の放電制御を行う。コンパレータ4の反転入力に
は、抵抗R3、R4、R5及びトランジスタQ2からな
る発振波形のヒステリシス電圧(高レベルの電圧をVc
h、低レベルの電圧をVclとする)を発生するための
ヒステリシス回路に配線L2により接続されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.
Also, a detailed description will be given with reference to FIG. Throughout the drawings, the same or similar circuit elements are denoted by the same reference numerals throughout the drawings, and duplicated description is omitted. Figure 1 is C
The structural example of the semiconductor device of this invention by MOS structure is shown.
The other end of the capacitor C, one end of which is connected to the reference potential (GND) for CR oscillation and generation of a reset signal, has a terminal T
And for connecting the non-inverting input of the comparator 4 of the CR oscillation control circuit 2 inside the semiconductor device 1 via the wiring L1 and the non-inverting input of the comparator 6 of the reset control circuit 3 and the capacitor C. It is connected to a charge / discharge circuit including resistors R1 and R2 and a transistor Q1. The output of the comparator 4 serves as an internal clock (hereinafter referred to as CLK) signal of the semiconductor device 1 via the buffer 5, and also serves as a gate input of the transistors Q1 and Q2 to control discharge of the oscillation waveform. The inverting input of the comparator 4 has a hysteresis voltage of an oscillating waveform composed of the resistors R3, R4, R5 and the transistor Q2 (a high level voltage is Vc
h, and a hysteresis circuit for generating a low-level voltage as Vcl) is connected by a wiring L2.

【0012】また、コンパレータ6の出力はバッファ7
を介して半導体装置1の内部回路を初期設定するための
リセット(以下RST)信号となると共に、トランジス
タQ3のゲート入力となっている。コンパレータ6の反
転入力は、抵抗R6、R7、R8及びトランジスタQ3
からなるリセット制御回路3のヒステリシス電圧(高レ
ベルの電圧をVrh、低レベルの電圧をVrlとする)
を発生するためのヒステリシス回路が配線L3により接
続されている。尚、各ヒステリシス電圧は抵抗R3乃至
R8の組み合わせにより、Vrl<Vcl<Vrh<V
chの関係になるように設定されている。
The output of the comparator 6 is the buffer 7
It becomes a reset (hereinafter referred to as RST) signal for initializing the internal circuit of the semiconductor device 1 via the gate and also serves as a gate input of the transistor Q3. The inverting input of the comparator 6 includes resistors R6, R7, R8 and a transistor Q3.
Of the reset control circuit 3 consisting of (a high level voltage is Vrh and a low level voltage is Vrl)
A hysteresis circuit for generating is connected by a wiring L3. Each hysteresis voltage is Vrl <Vcl <Vrh <V depending on the combination of the resistors R3 to R8.
It is set so as to have a relationship of ch.

【0013】図2は図1の実施の形態における各部の動
作波形を示す。図2に基づいて図1の回路の動作を説明
する。半導体装置に電源電圧VDDが印加される時間t1
までは、コンデンサCは放電されて基準電圧になってい
ると共に、各配線L1乃至L3の電圧及びCLK、RS
T信号の各電圧は基準電圧になっている。時間t1でV
DDが印加されると、半導体装置1の内部回路にもVDD
印加されて動作可能になると共に、コンパレータ4及び
6は反転入力の電圧が非反転入力の電圧よりも高くなる
ので、各コンパレータの出力は低レベルとなりトランジ
スタQ2及びQ3はOFF(遮断)状態となり、CR発
振制御回路2及びリセット制御回路3のヒステリシス電
圧は各々Vch及びVrhに設定される。その後、時間
経過と共に抵抗R1に流れる電流によりコンデンサCは
徐々に充電されて充電電圧が上昇していくが、各コンパ
レータの反転入力の電圧はVrh<Vchの関係なの
で、Vrhを越えた所で、まづRST信号が高レベルに
反転しリセット状態が解除されると共に、トランジスタ
Q3がON(導通)状態になり、リセット制御回路3の
ヒステリシス電圧はVrlになる。コンデンサCが引き
続き充電されて充電電圧がVchを越えると、CLK信
号が高レベルに反転してトランジスタQ1及びQ2がO
N状態になると共に、発振制御回路2のヒステリシス電
圧がVclになり、コンデンサCは抵抗R2を流れる電
流の内の抵抗R1から流れる電流を除く電流により放電
されるようになる。
FIG. 2 shows operation waveforms of each part in the embodiment of FIG. The operation of the circuit of FIG. 1 will be described with reference to FIG. Time t1 when the power supply voltage V DD is applied to the semiconductor device
Up to the point where the capacitor C has been discharged to the reference voltage, the voltage of each wiring L1 to L3 and CLK, RS
Each voltage of the T signal is a reference voltage. V at time t1
When DD is applied, V DD is also applied to the internal circuit of the semiconductor device 1 to enable operation, and the comparators 4 and 6 have inverting input voltages higher than non-inverting input voltages. Output becomes low level, the transistors Q2 and Q3 are turned off (cut off), and the hysteresis voltages of the CR oscillation control circuit 2 and the reset control circuit 3 are set to Vch and Vrh, respectively. After that, the capacitor C is gradually charged by the current flowing through the resistor R1 with the lapse of time, and the charging voltage rises. However, the voltage at the inverting input of each comparator has a relationship of Vrh <Vch. The RST signal is first inverted to a high level to release the reset state, the transistor Q3 is turned on (conducting), and the hysteresis voltage of the reset control circuit 3 becomes Vrl. When the capacitor C is continuously charged and the charging voltage exceeds Vch, the CLK signal is inverted to the high level and the transistors Q1 and Q2 are turned on.
With the N state, the hysteresis voltage of the oscillation control circuit 2 becomes Vcl, and the capacitor C is discharged by the current flowing through the resistor R2 except the current flowing through the resistor R1.

【0014】コンデンサCが引き続き放電され、端子T
の電圧が低下してVclの電圧まで下がると、CLK信
号が低レベルに反転すると共に、トランジスタQ1及び
Q2が再びOFF状態になって、CR発振制御回路2の
ヒステリシス電圧はVchになるので、コンデンサCは
抵抗R1を流れる電流により再び充電されるようにな
る。この充放電動作を繰り返すことにより、連続的なC
LK信号が出力されるようになる。尚、各コンパレータ
の反転入力のヒステリシス電圧はVrl<Vclの関係
なので、発振を継続している間はRST信号が再び低レ
ベルになって、リセット状態になることはない。
The capacitor C is continuously discharged and the terminal T
When the voltage of voltage V.sub.1 drops to the voltage of Vcl, the CLK signal is inverted to a low level, the transistors Q1 and Q2 are turned off again, and the hysteresis voltage of the CR oscillation control circuit 2 becomes Vch. C will be charged again by the current flowing through the resistor R1. By repeating this charging / discharging operation, continuous C
The LK signal comes to be output. Since the hysteresis voltage of the inverting input of each comparator has a relationship of Vrl <Vcl, the RST signal does not go to the low level again and the reset state does not occur while the oscillation is continued.

【0015】上述のように、電源電圧投入後の動作は、
リセット状態が解除されてから発振クロックが継続する
ように動作するので、クロック信号のタイミングとリセ
ット信号のタイミングとの関係を気にしないでも、確実
に動作させることができる。また、CMOS構成により
回路を形成しているので、バイポーラ構成で形成する場
合に比べて消費電流を低減することが可能になってい
る。
As described above, the operation after turning on the power supply voltage is
Since the oscillation clock operates so as to continue after the reset state is released, it is possible to surely operate without worrying about the relationship between the timing of the clock signal and the timing of the reset signal. Further, since the circuit is formed by the CMOS structure, it is possible to reduce current consumption as compared with the case where the circuit is formed by the bipolar structure.

【0016】尚、コンデンサC及び抵抗R1の値は充放
電の時定数が電源電圧の立ち上がり時間よりも十分長く
なるような値に設定する必要があり、R3乃至R8の抵
抗は素子ばらつきを考慮すればトランジスタによるアク
ティブ抵抗により形成しても構わない。また、発振波形
が電源電圧から始まるようなCR発振器を用いる場合に
は、各ヒステリシス電圧をVcl<Vrl<Vch<V
rhの関係になるように設定することにより、発振波形
の高レベルの電圧よりも高い電圧でリセット状態になる
ようにしても何等問題はなく、抵抗R1側にもトランジ
スタQ1と逆動作するスイッチ回路を設けて、消費電流
を減らすようにしても良い。
It is necessary to set the values of the capacitor C and the resistor R1 to values such that the time constant of charging / discharging is sufficiently longer than the rise time of the power supply voltage, and the resistors R3 to R8 should take element variations into consideration. For example, it may be formed by an active resistance of a transistor. When a CR oscillator whose oscillation waveform starts from the power supply voltage is used, each hysteresis voltage is set to Vcl <Vrl <Vch <V.
There is no problem even if the reset state is set at a voltage higher than the high level voltage of the oscillating waveform by setting so as to have the relation of rh. May be provided to reduce current consumption.

【0017】図3は本発明の他の実施の形態を示す。C
R発振及びリセット信号発生のためのコンデンサCは、
端子T及び配線L1を介して半導体装置1内部のCR発
振制御回路2aのシュミット回路4aの入力及びリセッ
ト制御回路3aのシュミット回路6aの入力に接続され
ると共に、コンデンサCを充放電するための抵抗R1、
R2及びトランジスタQ1からなる充放電回路に接続さ
れている。シュミット回路4aの出力はバッファ5を介
して半導体内部へのCLK信号となると共に、トランジ
スタQ1のゲート入力となり、発振波形の制御を行う。
また、シュミット回路6aの出力はバッファ7を介して
RST信号となっている。シュミット回路4aのヒステ
リシス電圧は入力スレッショルド電圧の異なるゲート回
路により、高レベルの電圧をVch、低レベルの電圧を
Vclとするように構成され、シュミット回路6aのヒ
ステリシス電圧は同様なゲート回路により高レベルの電
圧をVrh、低レベルの電圧をVrlとするように構成
されており、各ヒステリシス電圧はVrl<Vcl<V
rh<Vchの関係になるように設定されている。
FIG. 3 shows another embodiment of the present invention. C
The capacitor C for R oscillation and reset signal generation is
A resistor for charging and discharging the capacitor C while being connected to the input of the Schmitt circuit 4a of the CR oscillation control circuit 2a and the input of the Schmitt circuit 6a of the reset control circuit 3a in the semiconductor device 1 through the terminal T and the wiring L1. R1,
It is connected to a charge / discharge circuit composed of R2 and a transistor Q1. The output of the Schmitt circuit 4a becomes the CLK signal to the inside of the semiconductor through the buffer 5, and becomes the gate input of the transistor Q1 to control the oscillation waveform.
The output of the Schmitt circuit 6a becomes the RST signal via the buffer 7. The hysteresis voltage of the Schmitt circuit 4a is configured so that the high level voltage is Vch and the low level voltage is Vcl by the gate circuits having different input threshold voltages, and the hysteresis voltage of the Schmitt circuit 6a is high level by the same gate circuit. Is set to Vrh, and a low-level voltage is set to Vrl. Each hysteresis voltage is Vrl <Vcl <V.
It is set to have a relationship of rh <Vch.

【0018】図3の回路動作は図1の場合と類似してお
り、動作波形は図2と一部共通なので、図2の動作波形
に基づいて図3の回路動作を説明する。電源電圧VDD
印加される時間t1までは、コンデンサCの電荷は放電
されて基準電圧になっていると共に、各配線L1乃至L
3の電圧及びCLK、RST信号の各電圧は基準電圧に
なっている。
Since the circuit operation of FIG. 3 is similar to that of FIG. 1 and the operation waveform is partly common to that of FIG. 2, the circuit operation of FIG. 3 will be described based on the operation waveform of FIG. By the time t1 when the power supply voltage V DD is applied, the electric charge of the capacitor C is discharged to the reference voltage, and the wirings L1 to L
The voltage of 3 and the voltages of the CLK and RST signals are reference voltages.

【0019】時間t1で半導体装置1にVDDが印加され
ると、内部回路にもVDDが印加されて動作可能になると
共に、端子Tの電圧レベルは基準電圧なので、各シュミ
ット回路の出力は低レベルとなりトランジスタQ1はO
FF状態となる。その後、時間経過と共に抵抗R1に流
れる電流によりコンデンサCは徐々に充電されて充電電
圧が上昇していくが、各シュミット回路の入力スレショ
ルド電圧はVrh<Vchの関係なので、Vrhを越え
た所で、まづRST信号が高レベルに反転し、リセット
状態が解除され、リセット制御回路3aの入力スレッシ
ョルド電圧はVrlになる。コンデンサCが引き続き充
電されて充電電圧がVchを越えると、CLK信号が高
レベルに反転してトランジスタQ1がON状態になると
共に、CR発振制御回路2aの入力スレッショルド電圧
がVclになり、コンデンサCは抵抗R2を流れる電流
の内の抵抗R1から流れる電流を除く電流により放電さ
れるようになる。
[0019] V DD to the semiconductor device 1 at time t1 is applied, together with the V DD to internal circuit becomes operational is applied, the voltage level of the terminal T is a reference voltage, the output of each Schmitt circuits Low level and transistor Q1 is O
The state becomes the FF state. After that, with time, the capacitor C is gradually charged by the current flowing through the resistor R1 and the charging voltage rises. However, since the input threshold voltage of each Schmitt circuit has a relationship of Vrh <Vch, when Vrh is exceeded, First, the RST signal is inverted to the high level, the reset state is released, and the input threshold voltage of the reset control circuit 3a becomes Vrl. When the capacitor C is continuously charged and the charging voltage exceeds Vch, the CLK signal is inverted to the high level, the transistor Q1 is turned on, the input threshold voltage of the CR oscillation control circuit 2a becomes Vcl, and the capacitor C becomes Among the currents flowing through the resistor R2, the currents other than the current flowing through the resistor R1 are discharged.

【0020】コンデンサCが引き続き放電され、端子T
の電圧が低下してVclの電圧まで下がると、CLK信
号が低レベルに反転すると共に、トランジスタQ1が再
びOFF状態になって、CR発振制御回路2aの入力ス
レッショルド電圧がVchになるので、コンデンサCは
抵抗R1を流れる電流により再び充電されるようにな
る。この充放電動作を繰り返すことにより、連続的なC
LK信号が出力されるようになる。尚、各シュミット回
路の入力スレッショルド電圧はVrl<Vclの関係な
ので、発振を継続している間はRST信号が再び低レベ
ルになって、リセット状態になることはない。
The capacitor C is continuously discharged and the terminal T
When the voltage of the C voltage is lowered to the voltage of Vcl, the CLK signal is inverted to the low level, the transistor Q1 is turned off again, and the input threshold voltage of the CR oscillation control circuit 2a becomes Vch. Will be recharged by the current flowing through the resistor R1. By repeating this charging / discharging operation, continuous C
The LK signal comes to be output. Since the input threshold voltage of each Schmitt circuit is in the relation of Vrl <Vcl, the RST signal becomes low level again and does not enter the reset state while the oscillation is continued.

【0021】尚、図1及び図3の回路を組み合わせて、
発振回路及びリセット回路を形成しても構わないが、ヒ
ステリシス電圧の温度特性等を考慮すれば、同様な素子
構成によりヒステリシス電圧を発生するようにした方が
良い。また、発振周波数の精度を良くするために、抵抗
R1を外付けするようにしても良い。更に、本実施の形
態はCMOS回路により形成した場合のみついて説明し
ているが、バイポーラ回路でも同様な回路を構成するこ
とは可能である。
By combining the circuits shown in FIGS. 1 and 3,
Although the oscillation circuit and the reset circuit may be formed, it is better to generate the hysteresis voltage with a similar element configuration in consideration of the temperature characteristics of the hysteresis voltage and the like. Further, in order to improve the accuracy of the oscillation frequency, the resistor R1 may be externally attached. Furthermore, although the present embodiment has been described only with respect to the case where it is formed of a CMOS circuit, it is possible to form a similar circuit with a bipolar circuit.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、請求項1
または請求項3の記載に係わる半導体装置は、CR発振
回路を構成するための端子と、リセット回路を構成する
ための端子とを共通端子とすることができるので、半導
体装置の端子数を削減して同一ピン数のパッケージに、
より多くの機能を取り込めるようになるという効果と共
に、外付け部品数を削減して部品の費用や管理費を削減
できるようになるという効果がある。
As described above, according to the present invention, claim 1
Alternatively, in the semiconductor device according to the third aspect, the terminal for forming the CR oscillation circuit and the terminal for forming the reset circuit can be common terminals, so that the number of terminals of the semiconductor device can be reduced. Package with the same number of pins,
In addition to the effect that more functions can be incorporated, the number of external parts can be reduced and the cost of parts and management costs can be reduced.

【0023】また、請求項2の記載に係わる半導体装置
は、電源電圧投入後の動作は、リセット解除後にCR発
振を継続するように確実に動作するので、クロック信号
のタイミングとリセット信号のタイミングとの関係を気
にしないでも、確実な動作をさせることができるという
効果がある。請求項4の記載に係わる半導体装置は、C
MOS構成により形成されているので、消費電流の少な
い半導体装置を容易に使用できるようになるという効果
がある。
Further, in the semiconductor device according to the second aspect of the present invention, since the operation after the power supply voltage is applied is surely operated so as to continue the CR oscillation after the reset is released, the timing of the clock signal and the timing of the reset signal are There is an effect that a reliable operation can be performed without worrying about the relationship of. The semiconductor device according to claim 4 is C
Since it is formed by the MOS structure, there is an effect that a semiconductor device with low current consumption can be easily used.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例を示す回路図、FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of the present invention,

【図2】第一の実施例の動作波形を示す説明図、FIG. 2 is an explanatory diagram showing operation waveforms of the first embodiment,

【図3】本発明による他の実施例を示す回路図、FIG. 3 is a circuit diagram showing another embodiment according to the present invention,

【図4】従来の実施例を示す構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram showing a conventional embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4、6:コンパレータ回路 5、7:バッファ回路 Q1、Q2、Q3:MOSトランジスタ素子 L1、L2、L3:信号線 C :コンデンサ T :入力端子 CLK:内部クロック信号 RST:内部リセット信号 出願人 ローム株式会社 4, 6: Comparator circuit 5, 7: Buffer circuit Q1, Q2, Q3: MOS transistor element L1, L2, L3: Signal line C: Capacitor T: Input terminal CLK: Internal clock signal RST: Internal reset signal Applicant ROHM stock Company

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H03K 19/0948 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI Technical indication H03K 19/0948

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 CR発振回路とリセット回路を有する半
導体装置において、前記CR発振回路を構成するための
端子と、前記リセット回路を構成するための端子とを共
通端子とすると共に、リセット状態となる電圧レベルは
発振波形の低レベル電圧よりも低く、発振中はリセット
状態にならないことを特徴とする半導体装置。
1. A semiconductor device having a CR oscillation circuit and a reset circuit, wherein a terminal for configuring the CR oscillation circuit and a terminal for configuring the reset circuit are common terminals and are in a reset state. A semiconductor device characterized in that a voltage level is lower than a low level voltage of an oscillating waveform and a reset state does not occur during oscillation.
【請求項2】 前記リセット回路のリセット解除電圧と
なる電圧レベルは発振波形の高レベル電圧よりも低く、
リセット解除後に発振を継続することを特徴とする請求
項1に記載の半導体装置。
2. The voltage level as the reset release voltage of the reset circuit is lower than the high level voltage of the oscillation waveform,
The semiconductor device according to claim 1, wherein oscillation is continued after reset is released.
【請求項3】 CR発振回路とリセット回路を有する半
導体装置において、前記CR発振回路を構成するための
端子と、前記リセット回路を構成するための端子とを共
通端子とすると共に、リセット状態となる電圧レベルは
発振波形の高レベル電圧よりも高く、発振中はリセット
状態にならないことを特徴とする半導体装置。
3. A semiconductor device having a CR oscillating circuit and a reset circuit, wherein a terminal for forming the CR oscillating circuit and a terminal for forming the reset circuit are common terminals and are in a reset state. A semiconductor device characterized in that a voltage level is higher than a high level voltage of an oscillating waveform and a reset state does not occur during oscillation.
【請求項4】 前記CR発振回路及び前記リセット回路
は、CMOS構成で形成されていることを特徴とする請
求項1乃至請求項3に記載の半導体装置。
4. The semiconductor device according to claim 1, wherein the CR oscillation circuit and the reset circuit are formed in a CMOS structure.
JP7242797A 1994-11-30 1995-09-21 Semiconductor device Expired - Fee Related JP2879845B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7242797A JP2879845B2 (en) 1994-11-30 1995-09-21 Semiconductor device

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29765494 1994-11-30
JP6-297654 1994-11-30
JP7242797A JP2879845B2 (en) 1994-11-30 1995-09-21 Semiconductor device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08213887A true JPH08213887A (en) 1996-08-20
JP2879845B2 JP2879845B2 (en) 1999-04-05

Family

ID=26535927

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7242797A Expired - Fee Related JP2879845B2 (en) 1994-11-30 1995-09-21 Semiconductor device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2879845B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015525059A (en) * 2012-08-13 2015-08-27 ノースロップ グラマン システムズ コーポレイションNorthrop Grumman Systems Corporation Power supply system and method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015525059A (en) * 2012-08-13 2015-08-27 ノースロップ グラマン システムズ コーポレイションNorthrop Grumman Systems Corporation Power supply system and method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2879845B2 (en) 1999-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11245360B2 (en) Oscillator circuit, chip and electronic device
KR100662689B1 (en) Hysterisis comparator and reset signal generating circuit using the same
US5614872A (en) Semiconductor device having CR oscillation circuit and reset circuit
EP0381238B1 (en) Bi-MOS logic circuit having a switch circuit for discharging electrical charge accumulated in a parasitic capacitor
US5939902A (en) Integrating circuit internally included in semiconductor device
JPH08213887A (en) Semiconductor device
EP0403047A2 (en) A frequency divider circuit
JP2001189645A (en) System and method for controlled oscillation
JPH0585082B2 (en)
KR100340901B1 (en) Monostable multivibrator
JP2002259357A (en) Microcomputer
JPH0686458A (en) Power-supply selector circuit
KR950015048B1 (en) Power-on reset
KR100446276B1 (en) Pulse signal generator
JP2616573B2 (en) Voltage detection circuit
KR100230408B1 (en) Low power comparator and control method of comparator
JPH0556042B2 (en)
JP2603355B2 (en) Integrated circuit device
JPH0311821A (en) Input device
JP3198419B2 (en) Proximity switch
JP2000013193A (en) Constant current circuit and pulse width conversion circuit
JP2643548B2 (en) One-shot multivibrator circuit
JPH0735454Y2 (en) Pulse width expansion circuit
KR950006077Y1 (en) Voltage/frequency transducer
JPH0656879B2 (en) Semiconductor integrated circuit

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090129

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees