JPH08212910A - Formation method of hole into photosensitive resin layer - Google Patents

Formation method of hole into photosensitive resin layer

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JPH08212910A
JPH08212910A JP28239795A JP28239795A JPH08212910A JP H08212910 A JPH08212910 A JP H08212910A JP 28239795 A JP28239795 A JP 28239795A JP 28239795 A JP28239795 A JP 28239795A JP H08212910 A JPH08212910 A JP H08212910A
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JP
Japan
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resin layer
ball
layer
balls
photosensitive resin
Prior art date
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Application number
JP28239795A
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Japanese (ja)
Inventor
Michel Ida
イダ ミシェル
Brigitte Montmayeul
モンマヨーエル ブリジット
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Original Assignee
Commissariat a lEnergie Atomique CEA
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Filing date
Publication date
Application filed by Commissariat a lEnergie Atomique CEA filed Critical Commissariat a lEnergie Atomique CEA
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0015Production of aperture devices, microporous systems or stamps
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02Manufacture of electrodes or electrode systems
    • H01J9/022Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes
    • H01J9/025Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes of field emission cathodes

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To disclose a method for forming holes into a photosensitive resin layer employed in the manufacture of an electron source having a microchip in a emissive cathodes and of a flat display screen. SOLUTION: A resin layer 22 is exposed to exposure light 26 through transparent singlelayer balls 28, the light is focused on the resin layer by each ball, the region of the resin layer is thereby exposed, and the resin layer thus exposed is developed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は感光性樹脂層内へホ
ールを形成する方法に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method for forming holes in a photosensitive resin layer.

【0002】本発明はより詳細には放射陰極にマイクロ
チップを有する電子源の製造に対応でき、電界放出励起
陰極ルミネセンスによりディスプレイ手段を製造するこ
とに特に使用することができる。
The invention more particularly corresponds to the production of electron sources having microtips in the emitting cathode and can be used in particular for producing display means by field emission excited cathodoluminescence.

【0003】本発明により、特に例えば14インチ(ほ
ぼ35cm)より大きく、1m2 に近い表面積を有する
大きなマイクロチップのフラットスクリーンを製造する
ことが可能である。
The invention makes it possible in particular to produce large microtip flat screens, for example larger than 14 inches (approximately 35 cm) and having a surface area close to 1 m 2 .

【0004】本発明は更に、マイクロチップ用のエッチ
ングされた反射防止層、センサおよびレーダ波に対する
反射防止層を製造することに応用できる。
The invention is further applicable to the manufacture of etched antireflection layers for microchips, sensors and antireflection layers for radar waves.

【0005】[0005]

【従来の技術】放射陰極がマイクロチップを有する電子
源およびそれらの製造法は、参照した例えば次の文献に
記載されている: (1)FR−A−2593953(EP−A−2349
89およびUS−A−4857161も参照)、 (2)FR−A−2687839(EP−A−5583
93も参照)。
Electron sources whose emission cathodes have microtips and methods for their production are described, for example, in the following references: (1) FR-A-2593953 (EP-A-2349).
89 and US-A-4857161), (2) FR-A-2687839 (EP-A-5583).
See also 93).

【0006】本発明により解決される技術的な問題点の
理解を容易にするため、以下に放射陰極およびマイクロ
チップを有する電子源の製造法の周知の例を図1から図
3を参照して記載する。
In order to facilitate understanding of the technical problems solved by the present invention, a well-known example of a method of manufacturing an electron source having a radiation cathode and a microchip will be described below with reference to FIGS. 1 to 3. Enter.

【0007】図1は絶縁体4が載っている基板2の上
に、陰極導体6と、中間絶縁体10と交差した形で重ね
合わされたグリッド8と、マイクロチップの製造過程の
間マスクの役目をするため表面に堆積され例えばニッケ
ルで作られた層12と、を備え既に製造されている構造
を示している。
FIG. 1 shows a cathode conductor 6 on a substrate 2 on which an insulator 4 is mounted, a grid 8 superimposed on the intermediate insulator 10 in a crossed manner, and the role of a mask during the manufacturing process of the microchip. And a layer 12 deposited on the surface for the purpose of making, for example, nickel 12 and showing a structure already produced.

【0008】ニッケル層12、グリッド8、および絶縁
体10はホール(穴)14を有しており、該ホールのボ
タンの上には、陰極導体と電気的に連結された導電性の
金属により構成されたマイクロチップが次々に堆積され
ている。
The nickel layer 12, the grid 8 and the insulator 10 have holes 14 formed above the buttons of the holes by a conductive metal electrically connected to the cathode conductor. The formed microchips are deposited one after another.

【0009】次にマイクロチップの製造を図2を参照し
て説明する。一番目に、堆積により例えば構造体全体に
モリブデン層16が生ずる。該層16の厚さはほぼ1.
6μmである。該層16は構造体の表面に対し垂直に堆
積されている。
Next, manufacturing of the microchip will be described with reference to FIG. First, the deposition yields a molybdenum layer 16, for example, over the structure. The layer 16 has a thickness of approximately 1.
It is 6 μm. The layer 16 is deposited perpendicular to the surface of the structure.

【0010】この堆積が進行することにより、ホール1
4内に位置し高さが1.4μmから1.5μmのモリブ
デンの円錐18が得られる。これらの円錐は電子放射マ
イクロチップ18を構成している。
Due to the progress of this deposition, hole 1
A molybdenum cone 18 located within 4 and having a height of 1.4 μm to 1.5 μm is obtained. These cones constitute the electron emitting microchip 18.

【0011】この後には、図3に示すように、例えばニ
オブで作られ電子放射マイクロチップ18を出現させ穴
の開いたグリッド8をフリーにするため、電気化学法を
使用してニッケル層12を選択的に溶解することが行な
われる。
After this, as shown in FIG. 3, an electrochemical method is used to remove the nickel layer 12 in order to expose the electron-emissive microtips 18, for example made of niobium, and to free the perforated grid 8. Selective dissolution is performed.

【0012】幾つかの技術的な変形を別にすると、図
1、図2および図3に記載した方法は放射陰極にマイク
ロチップを有する電子源のマイクロチップを製造するた
め現在まで使用されている方法である。
Apart from some technical variants, the method described in FIGS. 1, 2 and 3 has been used up to now for producing a microtip of an electron source having a microtip in the emitting cathode. Is.

【0013】マイクロチップ18の大きさと位置決めを
正しくするため、グリッド8内および絶縁体10内に作
られたホールの大きさを正確に制御することは明らかに
必要である。
In order to properly size and position the microchip 18, it is clearly necessary to accurately control the size of the holes made in the grid 8 and in the insulator 10.

【0014】それ故次のような問題が生ずる。それは全
ての表面の上に平均の直径が例えば1.3μm以下のマ
イクロチップのホールを受けるように製造する問題であ
る。
Therefore, the following problems occur. It is a problem to fabricate on all surfaces to receive microtip holes with an average diameter of eg 1.3 μm or less.

【0015】これを行なうため現在使用されている方法
は、直接的な吹き付けを使用した写真凸版法、または全
ての表面の上に再現された基本パターンの写真を繰り返
すことである。14インチ(ほぼ35cm)を越える大
きな電子源の場合、これらの方法は大きな制約の特性を
非常に早く受ける。
The method currently used to do this is photolithography using direct spraying, or repeating photographs of the basic pattern reproduced on all surfaces. For large electron sources over 14 inches (nearly 35 cm), these methods are subject to large constraint characteristics very quickly.

【0016】直接的な吹き付けにはサブミクロンのパタ
ーンを有する大きな、大きさがlのマスクを製造する必
要がある。対角線が14インチを越える該マスクを製造
することは難しい。
Direct spraying requires the production of large, l-sized masks with submicron patterns. It is difficult to manufacture the mask with a diagonal of more than 14 inches.

【0017】写真繰り返しでは小さなマスクが使用さ
れ、前記の大きさは使用されるパターンの解像度により
決定される。1μmの解像度に対し例えば側面に大きさ
が20mmから50mmのマスクが使用されるため、非
常に多くの回数露出操作を繰り返す必要があり、電子源
の全表面をカバーする写真凸版を行なう必要がある。
A small mask is used in the photo-repetition, said size being determined by the resolution of the pattern used. Since a mask having a size of 20 mm to 50 mm is used on the side surface for a resolution of 1 μm, it is necessary to repeat the exposure operation a very large number of times, and it is necessary to perform photolithography to cover the entire surface of the electron source. .

【0018】これらの二つの方法(一方は直接的な吹き
付け法であり、他方は写真繰り返し法)は従って大きな
電子源を製造するため使用することが難しい。
These two methods (one being a direct spraying method and the other being a photo-repeat method) are therefore difficult to use for producing large electron sources.

【0019】[0019]

【発明が解決しようとする課題】本発明は前述の周知の
方法より非常に容易にホールを製造することができる。
The present invention makes it much easier to produce holes than the known methods described above.

【0020】本発明は感光性樹脂層内にホールを形成す
る非常に簡単な方法に関している。本発明により直径が
大きなまたは小さな表面の上でほぼ1μm以下であるホ
ールを形成することができる。
The present invention relates to a very simple method of forming holes in a photosensitive resin layer. The present invention allows the formation of holes that are approximately 1 μm or less on large or small diameter surfaces.

【0021】本発明により樹脂内に形成されるホールの
位置に対応した点で感光性樹脂層を露出することができ
る。
According to the present invention, the photosensitive resin layer can be exposed at points corresponding to the positions of the holes formed in the resin.

【0022】[0022]

【課題を解決するための手段】前記樹脂が現像されると
(すなわち、露出領域を溶解した後)、前記樹脂は樹脂
が位置する構造体内にマスクとしてホールを形成する役
目を果たす。例えば、図1から図3に関連し記載された
構造体を考慮すると、樹脂層は現像された後、グリッド
8および中間絶縁体10をエッチングする役目を果たし
ている。
When the resin is developed (ie, after the exposed areas have been melted), the resin serves to form holes as a mask in the structure in which the resin is located. Considering, for example, the structure described in connection with FIGS. 1-3, the resin layer serves to etch the grid 8 and the intermediate insulator 10 after being developed.

【0023】より詳細には、本発明は露出光により陽画
の感光性樹脂層内にホールを形成する方法に関してお
り、前記方法は次の段階を備えることを特徴としてい
る: −前記露出光に透明であり樹脂層に直接接触した単層の
ボールを形成すること、 −樹脂層は単層のボールを通し露出光により露出されて
おり、各ボールにより前記ボールとその上にある樹脂層
の接触点で前記光が集中され、前記樹脂層の領域の露出
が行なわれ、露出光はボールの単層全体にわたり一定の
光の強さで平行に視準されたビ−ムを形成している、 −このように露出された樹脂層が現像され露出された領
域に位置する前記の層内にホールが形成される。
More particularly, the present invention relates to a method of forming holes in a positive photosensitive resin layer by exposure light, said method comprising the following steps: -Transparent to said exposure light. And forming a single-layer ball that is in direct contact with the resin layer; -The resin layer is exposed by the exposure light through the single-layer ball, and each ball makes a contact point between the ball and the resin layer thereabove. , The light is concentrated to expose the region of the resin layer, and the exposed light forms a beam collimated in parallel with a constant light intensity over the entire monolayer of the ball. The exposed resin layer is developed and holes are formed in the exposed layer.

【0024】本発明による方法の一番目の利点は、従来
の写真凸版法に比べてこの方法が非常に簡単であること
である。本発明の方法では特別なマスクは使用しておら
ず、正確な配列段階を必要としていない。
The first advantage of the method according to the invention is that it is very simple compared to the conventional photolithography method. No special mask is used in the method of the present invention and no precise alignment step is required.

【0025】本発明の二番目の利点は、本発明により大
きな表面を取り扱うことができることであり、マイクロ
チップを有した大きな電子源を製造できることである。
A second advantage of the present invention is that it allows the handling of large surfaces and the production of large electron sources with microtips.

【0026】このように、本発明による表面を取り扱う
ため、感光性樹脂の上に広げることが必要であり、ボー
ルで表面を覆うため該樹脂を乾燥させた後は当該表面の
寸法は問題でない。
Thus, in order to handle the surface according to the present invention, it is necessary to spread it over a photosensitive resin, and the dimensions of the surface are not a problem after the resin has been dried in order to cover the surface with balls.

【0027】本発明の他の利点は以下のことから明らか
になる。
Other advantages of the present invention will be apparent from the following.

【0028】本発明を実現するため、例えば1μmから
10μmの直径のボールを使用することができる。
Balls with a diameter of, for example, 1 μm to 10 μm can be used to implement the invention.

【0029】本発明は更に次のことに基づき放射陰極が
マイクロチップを有する電子源を製造する方法にも関し
ている: −構造体は基板の上に陰極導体と、前記陰極導体の上に
電気的に絶縁された層と、更に前記の電気的に絶縁され
た層の上に陰極導体と角度を有するグリッドと、を備え
ることにより形成されている、 −グリッドが陰極導体と交差する領域において、ホール
はグリッドと絶縁層を通して形成されている、 −電子放射材料のマイクロチップは陰極導体の上のホー
ルの中に形成されている。 前記の方法はホールが構造体の表面に陽画の感光性樹脂
層を形成し、本発明によるホール形成法に基づき樹脂層
内にホールを形成し、更に樹脂層内に形成されたホール
を通しグリッドと絶縁層をエッチングすることにより得
られることを特徴としている。
The invention also relates to a method for producing an electron source in which the emitting cathode has a microtip on the basis of the following: the structure is a cathode conductor on a substrate and an electrical conductor on said cathode conductor. Electrically insulated layer, and further on said electrically insulated layer a grid angling with the cathode conductor, and-in the region where the grid intersects the cathode conductor, The holes are formed through the grid and the insulating layer, -microtips of the electron emitting material are formed in the holes above the cathode conductor. According to the above method, holes form a positive photosensitive resin layer on the surface of the structure, holes are formed in the resin layer based on the hole forming method of the present invention, and the holes formed in the resin layer are passed through the grid. And is obtained by etching the insulating layer.

【0030】このように、樹脂層はマイクロチップを入
れるため使用されるホールを下部構造内に形成するマス
クとして使用される。
Thus, the resin layer is used as a mask to form the holes used to insert the microchips in the substructure.

【0031】露出光に不透明な仕切りマスクにより、ホ
ールが形成されていない領域を別にしておくことができ
る利点がある。この仕切りは露出光源と単層のボールの
間に置かれている。
There is an advantage that a region where no hole is formed can be kept separate by the partition mask opaque to the exposure light. This partition is placed between the exposure light source and the single layer ball.

【0032】[0032]

【発明の実施の形態】図4は図1から図3の記載に関連
した構造を概略的および部分的に示しており、基板2、
絶縁体4、陰極導体6、グリッド8および中間絶縁体1
0を備えている。
FIG. 4 shows schematically and partly the structure associated with the description of FIGS. 1 to 3, the substrate 2,
Insulator 4, cathode conductor 6, grid 8 and intermediate insulator 1
It has 0.

【0033】本発明による方法によりグリッド8と中間
絶縁体10の中にホールを製造することが行なわれる。
Producing holes in the grid 8 and the intermediate insulator 10 is carried out by the method according to the invention.

【0034】側面のホールを形成するため、図4の構造
体20の側面には陽画の感光性樹脂層22が堆積されて
いる。該樹脂層の上には樹脂層を露出するため使用され
た光26に透明(トランスペアレント)なボールの単層
24が堆積されている。
A positive photosensitive resin layer 22 is deposited on the side surface of the structure 20 of FIG. 4 to form a side hole. On top of the resin layer is deposited a monolayer 24 of balls that are transparent to the light 26 used to expose the resin layer.

【0035】この樹脂はボールの層24を通し樹脂層2
2に直角な光26により露出されている。この光26は
単層のボールの全表面にわたり一定の光の強さを有し視
準された平行光ビームを形成し、前記ビームは図示して
いない光源から来ている。
This resin passes through the ball layer 24 and the resin layer 2
It is exposed by light 26 that is perpendicular to 2. This light 26 forms a collimated collimated light beam having a constant light intensity over the entire surface of the monolayer ball, said beam coming from a light source not shown.

【0036】図5で判るように、ボール28のそれぞれ
により前記ボールと樹脂層22との接触点で前記光が集
中され、ボールと樹脂層の間の接触点にある前記樹脂層
の領域30で露出されている。
As can be seen in FIG. 5, each of the balls 28 concentrates the light at the contact point between the ball and the resin layer 22, and in the region 30 of the resin layer at the contact point between the ball and the resin layer. Exposed.

【0037】次に構造体20の表面からボールを取り除
き、露出された樹脂層を現像する(言い換えれば露出さ
れた樹脂領域は溶解されている)ことが必要で、露出さ
れた領域30の位置で樹脂層内にホール31が形成され
ている。
Next, it is necessary to remove the balls from the surface of the structure 20 and develop the exposed resin layer (in other words, the exposed resin region is melted), and at the position of the exposed region 30. Holes 31 are formed in the resin layer.

【0038】更に樹脂層の上にボールを残し、露出され
た樹脂層を現像し、露出された領域を溶解するため使用
された溶剤をフィルタに通すことによりボールを取り出
すことができる。
Further, the ball can be taken out by leaving the ball on the resin layer, developing the exposed resin layer, and passing a solvent used for dissolving the exposed region through a filter.

【0039】樹脂の全ての厚さが領域30で露出される
ようにするため、前記の厚さは当該光のスポットと同じ
オーダーの大きさ、例えば1μmまで小さくする必要が
ある。
In order that the entire thickness of the resin is exposed in the region 30, said thickness should be reduced to the same order of magnitude as the spot of the light, for example 1 μm.

【0040】専門家によりボールに対し大きさと屈折率
が選ばれ適当な直径の光のスポットが加えられる。
An expert selects the size and refractive index for the ball and adds a spot of light of appropriate diameter.

【0041】例えば、紫外線に近い露出光に対してはシ
リカボールが使用される。
For example, silica balls are used for exposure light close to ultraviolet rays.

【0042】明らかに、前記樹脂が受ける露出光の関数
であるアタック(attack)率がボールの間を通る
寄生的な露出光により影響を受けないようにする樹脂が
使用される。
Clearly, a resin is used that ensures that the attack rate, which is a function of the exposure light it receives, is not affected by parasitic exposure light passing between the balls.

【0043】図5を検討すると、本発明による方法に対
し利点が追加される、すなわち各ボールにより生じたス
ポット光の直径Dはボールに対し適当な直径D1と露出
時間を選ぶことによりほぼ1μm以下の値に容易に調整
することができる。
Considering FIG. 5, an advantage is added to the method according to the invention: the diameter D of the spot light produced by each ball is approximately 1 μm or less by choosing an appropriate diameter D1 and exposure time for the ball. The value of can be easily adjusted.

【0044】露出光に透明なボールによりそれぞれガラ
スのボールと感光性の樹脂層との接触点で光ビームが集
中する。発生したスポット光の表面は均一に照射されて
いない。光の強さはスポットの中央で最大であり、端に
向かい動きが遅くなる。露出時間だけ動作させることに
より、感光性樹脂層の全体の厚さにわたり露出領域の直
径を調整し、ホールの直径を調整することが可能であ
る。
The balls transparent to the exposure light concentrate the light beams at the contact points between the glass balls and the photosensitive resin layer. The surface of the generated spot light is not uniformly irradiated. The intensity of light is maximum in the center of the spot and slows towards the edges. By operating only the exposure time, it is possible to adjust the diameter of the exposed region and the diameter of the hole over the entire thickness of the photosensitive resin layer.

【0045】樹脂層がボールを通し露出されることが少
なくなればなる程、露出され、それ故可溶性の樹脂層の
表面は小さくなり、更に樹脂内に形成されたホールの大
きさと、それ故グリッドと中間絶縁体内のホールを通し
て形成されたホールの大きさが小さくなる。
The less the resin layer is exposed through the ball, the smaller the surface of the resin layer that is exposed and therefore soluble, and also the size of the holes formed in the resin and hence the grid. And the size of the holes formed through the holes in the intermediate insulator becomes smaller.

【0046】グリッドと中間絶縁体内に形成されたホー
ルの大きさが小さくなることによりマイクロチップの制
御電圧を都合よく下げることができる。
Since the size of the holes formed in the grid and the intermediate insulator is small, the control voltage of the microchip can be conveniently lowered.

【0047】図4および図5の場合、構造体20の表面
に堆積したボールは接触している。
In the case of FIGS. 4 and 5, the balls deposited on the surface of the structure 20 are in contact with each other.

【0048】この場合、本発明による方法の追加された
各利点はボール28の直径D1により樹脂層内に形成さ
れており、中心の間の間隔Eが定まることである。それ
故、例えば校正用ボールが選択され、その直径は1μm
から10μmの間である。更にマイクロボールについて
述べる。
In this case, an additional advantage of the method according to the invention is that the diameter D1 of the balls 28 is formed in the resin layer and the spacing E between the centers is fixed. Therefore, for example, a calibration ball is selected and its diameter is 1 μm.
To 10 μm. Further, the microball will be described.

【0049】図6は非接触でランダムに分布された単層
のボールを樹脂層22の表面に堆積することができるこ
とを概略的に示している。
FIG. 6 schematically shows that non-contact, randomly distributed monolayer balls can be deposited on the surface of the resin layer 22.

【0050】非接触のボールの単層を得るため、例えば
前記ボールを感光性の層の表面の上に堆積させ:水−エ
タノール混合溶液内でボールにスプレーをかける方法を
使用することができる。非接触のボールを使用すること
ができることにより本発明に他の利点が生ずるが、これ
は露出量が非接触ボールの回り、例えば図6の領域32
内よりも集中点(露出領域30)で多いからである。
To obtain a non-contact monolayer of balls, it is possible to use, for example, the method of depositing said balls on the surface of the photosensitive layer: spraying the balls in a water-ethanol mixture solution. The ability to use non-contact balls provides another advantage of the present invention in that the amount of exposure is around the non-contact balls, such as area 32 in FIG.
This is because there are more concentrated points (exposed areas 30) than inside.

【0051】次に、本発明による方法を使用し、ホール
14が図1から図4に関連しグリッド8と中間絶縁体1
0内にどのように形成されるか説明する。
Next, using the method according to the invention, the holes 14 are associated with the grid 8 and the intermediate insulator 1 in connection with FIGS.
How it is formed in 0 will be described.

【0052】より詳細には、マイクロチップの放射陰極
源を形成することが望まれており、このため第一段階は
基板2の上に前述の絶縁体4と、陰極導体6と、中間絶
縁体10とグリッド8を形成することである。
More specifically, it is desired to form a microtip emitting cathode source, so that the first step is to provide the aforementioned insulator 4, cathode conductor 6, and intermediate insulator on the substrate 2. 10 to form the grid 8.

【0053】これが必要であることを示す必要があれ
ば、マスキングはホールが製造されない1以上の領域で
行なわれる。これを行なうためには、前述の文献(2)
を参照にされたい。
If it is necessary to show that this is necessary, masking is done in one or more areas where holes are not produced. To do this, reference (2) above.
Please refer to.

【0054】次に、本発明によれば、感光性樹脂層22
は得られた構造体20の全表面の上に広げられる。樹脂
層22の厚さは例えば1.2μmであり、屈折率は1.
7である。次にこの樹脂層は暖められ硬くされる。
Next, according to the present invention, the photosensitive resin layer 22
Are spread over the entire surface of the resulting structure 20. The resin layer 22 has a thickness of 1.2 μm and a refractive index of 1.
7 The resin layer is then warmed and hardened.

【0055】ガラスのボール24の単層は次に遠心分離
にかけられるかまたはスプレーを行なわれ樹脂層22の
表面で広げられる。ボールは例えば直径が4μmで屈折
率が1.5である。
The monolayer of glass balls 24 is then either centrifuged or sprayed and spread over the surface of the resin layer 22. The ball has, for example, a diameter of 4 μm and a refractive index of 1.5.

【0056】樹脂は次に500nmの波長の光により前
記単層のボールを通し露出される。ボールは次にこのよ
うに露出された樹脂層から取り除かれ、樹脂は現像され
る、すなわち樹脂は露出領域内で溶解される。このよう
に、ホールは露出された領域の位置で得られる。
The resin is then exposed through the single layer ball with light of a wavelength of 500 nm. The balls are then removed from the resin layer thus exposed and the resin is developed, ie the resin is dissolved in the exposed areas. In this way holes are obtained at the locations of the exposed areas.

【0057】ボールを樹脂層から取り除くためには、樹
脂層の上に注がれたボールを動かす液体を使用する必要
がある。
In order to remove the balls from the resin layer, it is necessary to use a liquid that moves the balls poured onto the resin layer.

【0058】超音波がボールの分離を促進するため使用
される。
Ultrasound is used to promote ball separation.

【0059】脱イオン水が例えば連行または動かす液体
として使用され、該液体はフィルタにかけられボールが
取り戻される。
Deionized water is used, for example, as a liquid to be carried or moved, which liquid is filtered and the balls retrieved.

【0060】現像を行なう前に樹脂層からボールを取り
除くことはできない。次にボールは露出領域内で樹脂が
溶解される間取り除かれ、現像するため使用された溶剤
がフィルタにかけることにより取り戻される。
It is not possible to remove the balls from the resin layer before developing. The balls are then removed while the resin dissolves in the exposed areas and the solvent used for development is recovered by filtering.

【0061】このようにホールを樹脂層内で得た後、放
射陰極がマイクロチップを有した電子源の製造法には次
のことが行なわれる。
After the holes are thus obtained in the resin layer, the following is performed in the method of manufacturing the electron source in which the emission cathode has the microchip.

【0062】樹脂層のエッチングで形成されたホールを
通し、グリッド8と中間絶縁体10が生じ、そこにホー
ル14が形成される(図1)。次に樹脂層が取り除かれ
る。
The grid 8 and the intermediate insulator 10 are formed through the holes formed by etching the resin layer, and the holes 14 are formed therein (FIG. 1). The resin layer is then removed.

【0063】接近した範囲の下には、得られた構造体の
上にニッケル層12が堆積される。モリブデン層16が
次に堆積され、マイクロチップ18が形成され、ニッケ
ル層12とモリブデン層16が取り除かれる。
Under the close proximity, a nickel layer 12 is deposited on the resulting structure. The molybdenum layer 16 is then deposited, the microchip 18 is formed, and the nickel layer 12 and the molybdenum layer 16 are removed.

【0064】本発明による他の方法は図7に示してあ
る。該他の方法によれば、ボールは感光性樹脂層22の
表面には直接堆積されていない。これらのボール28は
露出光に透明な平面支持体33の上に保持されている。
Another method according to the invention is shown in FIG. According to this other method, the balls are not directly deposited on the surface of the photosensitive resin layer 22. These balls 28 are held on a flat support 33 which is transparent to the exposing light.

【0065】このように、感光性樹脂層22に加えられ
る単層のボールが得られる。感光性樹脂層22は次に透
明な支持体33とボール28を通して照射される。
In this way, a single layer ball added to the photosensitive resin layer 22 is obtained. The photosensitive resin layer 22 is then irradiated through the transparent support 33 and the balls 28.

【0066】ボール28を支持体33の上に保持するた
め、例えばポリエチルメタクリル酸のような重合体、ま
たはコロイドケイ酸のようなゲルにより構成されたバイ
ンダ34が使用されている。
To hold the balls 28 on the support 33, a binder 34 made of a polymer such as polyethylmethacrylic acid or a gel such as colloidal silica is used.

【0067】バインダ34によりボールを支持体33の
上に保つため、例えばボールとバインダの混合体を支持
体33の表面で遠心分離することができる。
Since the balls are kept on the support 33 by the binder 34, for example, a mixture of the balls and the binder can be centrifuged on the surface of the support 33.

【0068】ボールを支持体33の上で保つ他の方法と
して、ボールは脱イオンとエタノールの混合体のような
液体または例えば純粋なエタノールのような液体と混合
される。
As an alternative to keeping the balls on the support 33, the balls are mixed with a liquid such as a mixture of deionized and ethanol or a liquid such as pure ethanol.

【0069】前記液体の層は支持体33と脱水された液
体の上に広げられる。この結果単層のボールは支持体3
3の上に得られる。この場合、ボールは静電気の力によ
り前記支持体33の上に保持されている。
The liquid layer is spread on the support 33 and the dehydrated liquid. As a result, the single-layer ball is the support 3
Obtained over 3. In this case, the ball is held on the support 33 by the force of static electricity.

【0070】紫外線に近い露出光に対し例えばシリカ支
持体33が使用されている。
For example, a silica support 33 is used for exposure light close to ultraviolet rays.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】放射陰極にマイクロチップを有する電子源を製
造する周知の方法の概略および部分図である。
FIG. 1 is a schematic and partial view of a known method of manufacturing an electron source having a microtip on the emitting cathode.

【図2】放射陰極にマイクロチップを有する電子源を製
造する周知の方法の概略および部分図である。
FIG. 2 is a schematic and partial view of a known method of manufacturing an electron source having a microtip on the emitting cathode.

【図3】放射陰極にマイクロチップを有する電子源を製
造する周知の方法の概略および部分図である。
FIG. 3 is a schematic and partial view of a known method of manufacturing an electron source having a microtip on the emitting cathode.

【図4】本発明による方法を実施する接触した単層のボ
ールの概略の部分図である。
FIG. 4 is a schematic partial view of a contacted single layer ball implementing a method according to the present invention.

【図5】本発明による方法の概略図である。FIG. 5 is a schematic diagram of a method according to the present invention.

【図6】単層の非接触ボールを使用した本発明による他
の方法の概略図である。
FIG. 6 is a schematic view of another method according to the present invention using a single layer non-contact ball.

【図7】支持体の上に形成された単層のボールを使用し
た本発明による他の方法の概略図である。
FIG. 7 is a schematic view of another method according to the present invention using a single layer ball formed on a support.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 基板 4 絶縁体 6 陰極導体 8 グリッド 10 中間絶縁体 12 ニッケル層 14 ホール 16 モリブデン層 18 電子放射マイクロチップ 20 構造体 22 樹脂層 24 ボールの単層 26 露出光 28 ボール 30 露出された領域 32 領域 34 バインダ 2 Substrate 4 Insulator 6 Cathode Conductor 8 Grid 10 Intermediate Insulator 12 Nickel Layer 14 Hole 16 Molybdenum Layer 18 Electron Emission Microchip 20 Structure 22 Resin Layer 24 Ball Single Layer 26 Exposed Light 28 Ball 30 Exposed Area 32 Area 34 binder

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 露出光(26)に透明であり樹脂層に直
接接触したボール(28)の単層(24)を形成する、 樹脂層は単層のボールを通し露出光により露出されてお
り、各ボールにより前記ボールとその上にある樹脂層の
接触点で前記光が集中され、前記樹脂層の領域(30)
の露出が行なわれ、露出光は単層のボール全体にわたり
一定の光の強さで平行に視準されたビームを形成する、 このように露出された樹脂層が現像され露出された領域
に位置する前記の層内にホールが形成される、各段階を
備えていることを特徴とする前記露出光(26)により
陽画の感光性樹脂層(22)内にホールを形成する方
法。
1. Forming a single layer (24) of balls (28) transparent to exposure light (26) and in direct contact with the resin layer, the resin layer being exposed by the exposure light through the single layer ball. The light is concentrated by each ball at the contact point between the ball and the resin layer on the ball, and the region of the resin layer (30)
Exposure is performed and the exposed light forms a collimated beam with constant light intensity across the monolayer ball, thus exposing the exposed resin layer located in the exposed area. A method of forming a hole in the positive photosensitive resin layer (22) by the exposure light (26), comprising the steps of forming a hole in the layer.
【請求項2】 ボール(28)が相互に接触しているこ
とを特徴とする請求項1に記載の方法。
2. Method according to claim 1, characterized in that the balls (28) are in contact with each other.
【請求項3】 ボール(28)が相互に非接触であるこ
とを特徴とする請求項1に記載の方法。
3. The method according to claim 1, characterized in that the balls (28) are not in contact with each other.
【請求項4】 非接触のボールがランダムに分布してい
ることを特徴とする請求項3に記載の方法。
4. The method according to claim 3, wherein the non-contact balls are randomly distributed.
【請求項5】 ボールの単層(24)が感光性樹脂層
(22)の表面の上に堆積により形成されることを特徴
とする請求項1に記載の方法。
5. Method according to claim 1, characterized in that a monolayer (24) of balls is formed by deposition on the surface of the photosensitive resin layer (22).
【請求項6】 ボール(28)が感光性樹脂層(22)
の表面の上で遠心分離により堆積されることを特徴とす
る請求項5に記載の方法。
6. The ball (28) is a photosensitive resin layer (22).
Method according to claim 5, characterized in that it is deposited by centrifugation on the surface of the.
【請求項7】 ボール(28)が感光性樹脂層(22)
の表面の上でスプレーを行なうことにより堆積されるこ
とを特徴とする請求項5に記載の方法。
7. The ball (28) is a photosensitive resin layer (22).
A method according to claim 5, characterized in that it is deposited by spraying on the surface of the.
【請求項8】 ボール(28)が感光性樹脂層(22)
を現像した後該感光性樹脂層の表面から取り除かれるこ
とを特徴とする請求項5に記載の方法。
8. The ball (28) is a photosensitive resin layer (22).
6. The method according to claim 5, characterized in that after being developed, it is removed from the surface of the photosensitive resin layer.
【請求項9】 ボール(28)が液体によりまたは超音
波作用を受ける浴槽内で連行により感光性樹脂層(2
2)から取り除かれることを特徴とする請求項8に記載
の方法。
9. The photosensitive resin layer (2) is provided by entraining a ball (28) by a liquid or in a bath subjected to ultrasonic action.
Method according to claim 8, characterized in that it is removed from 2).
【請求項10】 ボール(28)は樹脂層が現像される
まで樹脂層の上に置かれ、前記層の現像の浴槽内に連行
されることを特徴とする請求項5に記載の方法。
10. Method according to claim 5, characterized in that the ball (28) is placed on the resin layer until it has been developed and is entrained in a bath for the development of said layer.
【請求項11】 ボールの単層(24)が露出光(2
6)に透明な支持体(33)で保持され、このように保
持されたボールが感光性樹脂層(22)の表面に加える
ことにより形成されることを特徴とする請求項1に記載
の方法。
11. A single layer (24) of the ball is exposed to light (2).
Method according to claim 1, characterized in that the balls are held on a transparent support (33) in 6) and the balls thus held are added to the surface of the photosensitive resin layer (22). .
【請求項12】 ボール(28)がバインダまたは静電
気の力により支持体(33)の上に保持されていること
を特徴とする請求項11に記載の方法。
12. Method according to claim 11, characterized in that the ball (28) is held on the support (33) by the force of a binder or electrostatics.
【請求項13】 ボール(28)の直径がほぼ1μmか
ら10μmであることを特徴とする請求項1に記載の方
法。
13. Method according to claim 1, characterized in that the diameter of the balls (28) is approximately 1 μm to 10 μm.
【請求項14】 構造体(20)が基板(2)の上に陰
極導体(6)と、前記陰極導体の上に電気的に絶縁され
た層(10)と、更に前記の電気的に絶縁された層の上
に陰極導体と角度を有するグリッド(8)を備えること
により構成されており、 グリッドが陰極導体と交差する領域において、ホール
(14)がグリッドと絶縁層を通して形成されており、 電子放射材料のマイクロチップ(18)が陰極導体の上
のホールの中に形成されている、ことに基づいており、
更にホール(14)が構造体(20)の表面に陽画の感
光性樹脂層(22)を形成し、本発明によるホール形成
法に基づき樹脂層(22)内にホールを形成し、樹脂層
内に形成されたホールを通しグリッドと絶縁層をエッチ
ングすることにより得られる、ことを特徴とし、放射陰
極にマイクロチップを有する電子源を製造する方法。
14. A structure (20) comprising a cathode conductor (6) on a substrate (2), an electrically insulated layer (10) on said cathode conductor, and further said electrically isolated. A layer (8) that is angled to the cathode conductor on the layer formed by the formation of holes, and in the region where the grid intersects the cathode conductor, holes (14) are formed through the grid and the insulating layer. Based on that a microtip (18) of electron emitting material is formed in a hole above the cathode conductor,
Further, holes (14) form a positive photosensitive resin layer (22) on the surface of the structure (20), and holes are formed in the resin layer (22) based on the hole forming method according to the present invention. A method of manufacturing an electron source having a microtip as a radiation cathode, which is obtained by etching a grid and an insulating layer through the holes formed in the.
【請求項15】 請求項14に基づく方法により得られ
る電子源を使用したフラットスクリーン。
15. A flat screen using an electron source obtained by the method according to claim 14.
JP28239795A 1994-10-10 1995-10-05 Formation method of hole into photosensitive resin layer Pending JPH08212910A (en)

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