JPH08204217A - Manufacture of solar cell module - Google Patents

Manufacture of solar cell module

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Publication number
JPH08204217A
JPH08204217A JP7010778A JP1077895A JPH08204217A JP H08204217 A JPH08204217 A JP H08204217A JP 7010778 A JP7010778 A JP 7010778A JP 1077895 A JP1077895 A JP 1077895A JP H08204217 A JPH08204217 A JP H08204217A
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JP
Japan
Prior art keywords
transparent conductive
conductive film
laser
amorphous silicon
solar cell
Prior art date
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Pending
Application number
JP7010778A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mitsuru Sadamoto
満 貞本
Yoshinori Ashida
芳徳 芦田
Nobuhiro Fukuda
信弘 福田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsui Toatsu Chemicals Inc
Original Assignee
Mitsui Toatsu Chemicals Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsui Toatsu Chemicals Inc filed Critical Mitsui Toatsu Chemicals Inc
Priority to JP7010778A priority Critical patent/JPH08204217A/en
Publication of JPH08204217A publication Critical patent/JPH08204217A/en
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/548Amorphous silicon PV cells

Abstract

PURPOSE: To generate laser abrasion phenomenon in patterning a rear electrode through laser irradiation by employing an irregular transparent conductive film having a specified haze rate as a transparent conductive film. CONSTITUTION: An irregular transparent conductive film, having haze rate in the range of 5-30%, is employed. Since the number of times of passing through an amorphous silicon layer is increased, the quantity of laser energy to be absorbed is also increased to cause abrasion easily. In the patterning of a thin film using pulse laser light having high energy density, a part 62 of the laser light 61 is absorbed by the thin film at the time of irradiation thus generating the abrasion phenomenon for imparting energy high enough to crack the molecular bond in the thin film and unbind the molecules thus scattering the film at a breath.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、太陽電池モジュールの
製造方法に関する。さらに詳しくは、パターニング加工
を容易たらしめるヘイズ率の高い透明導電膜上に太陽電
池を形成することにより、該太陽電池のパターニング加
工の適用性を広げるとともに、パターニングの高速化を
図ることを目的とした太陽電池モジュールの製造方法に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a solar cell module. More specifically, by forming a solar cell on a transparent conductive film having a high haze ratio that facilitates the patterning process, the applicability of the patterning process of the solar cell is broadened and the patterning speed is increased. The present invention relates to a method for manufacturing the solar cell module.

【0002】[0002]

【従来の技術】非晶質シリコンの光電変換特性を利用し
た非晶質シリコン太陽電池は、発電に必要な非晶質シリ
コン層の厚みが1μm以下と極めて薄く、また非晶質シ
リコン層を挟む2層の電極も夫々1μm以下である上、
基板として安価なガラスを用いることにより原料コスト
の占める割合が小さく、量産効果により大幅なコストダ
ウンが期待される。また、プラズマを利用した化学気相
蒸着法やスパッタリング等を利用した膜形成方法によっ
て形成されるため、大面積の基板上に形成することも容
易である。さらに、基板材料の選択により、自由な形状
を持つ太陽電池モジュールを形成することもできる。し
かして、地球環境問題が大きな関心を集める中で、安価
なガラス基板を用いた非晶質シリコン太陽電池モジュー
ルは低コストでの量産が可能であることから、大電力用
途へ需要が期待されている。
2. Description of the Related Art An amorphous silicon solar cell utilizing the photoelectric conversion characteristics of amorphous silicon has an extremely thin amorphous silicon layer required for power generation, which is 1 μm or less, and also sandwiches the amorphous silicon layer. The two-layer electrodes are each 1 μm or less, and
By using inexpensive glass as the substrate, the ratio of the raw material cost is small, and a large cost reduction is expected due to mass production effects. Further, since it is formed by a chemical vapor deposition method using plasma or a film forming method using sputtering or the like, it can be easily formed on a large-area substrate. Furthermore, a solar cell module having a free shape can be formed by selecting the substrate material. However, as global environmental issues have attracted a great deal of attention, amorphous silicon solar cell modules using inexpensive glass substrates can be mass-produced at low cost, so demand for high-power applications is expected. There is.

【0003】ガラス基板を用いた非晶質シリコン太陽電
池のモジュールは、ガラス基板上に形成した透明導電
膜、非晶質シリコン層、裏面電極の3層からなる構成が
通常の構成方法である。しかしながら、ガラス基板の面
積が大きくなるにつれて、透明導電膜の導電性の低さが
問題となり、透明導電膜中に流れる電流の損失が無視で
きなくなってしまう。そこで、この問題に対処するため
に、透明導電膜、非晶質シリコン層、裏面電極の3層が
直列に接続するようにパターニング形成する手法が通常
取られている。この方法は〔図1〕に示すように、透明
導電膜21〜24、非晶質シリコン層31〜34および裏面電極
41〜44の各層に溝を形成することにより成される。これ
らのパターニングには、マスク蒸着やスクリーン印刷と
エッチング除去を組み合わせた方法や、高密度レーザー
照射による加工等の手法が取られてきた。しかしなが
ら、マスク蒸着法は、ユニットセル分割のために要する
パターニング幅が大きくなるために、発電面積が縮小
し、結果的に発生電流の低下を招いてしまう。
A module of an amorphous silicon solar cell using a glass substrate is usually constituted by a transparent conductive film formed on a glass substrate, an amorphous silicon layer, and a back electrode. However, as the area of the glass substrate increases, the low conductivity of the transparent conductive film becomes a problem, and the loss of the current flowing in the transparent conductive film cannot be ignored. Therefore, in order to deal with this problem, a method of patterning so that three layers of a transparent conductive film, an amorphous silicon layer, and a back electrode are connected in series is usually taken. As shown in FIG. 1, this method includes transparent conductive films 21 to 24, amorphous silicon layers 31 to 34, and back surface electrodes.
It is formed by forming a groove in each of the layers 41 to 44. For such patterning, methods such as mask evaporation, screen printing and etching removal, and processing by high-density laser irradiation have been used. However, in the mask vapor deposition method, the patterning width required for dividing the unit cell becomes large, so that the power generation area is reduced, resulting in a decrease in generated current.

【0004】またスクリーン印刷による方法では、同じ
く発電面積が縮小する上、エッチング工程等が加わるた
めに工程が多くなってしまうという欠点がある。そこ
で、高密度エネルギーレーザーの連続照射によるパター
ニング加工方法が提案され、太陽電池製造のために開発
されてきた。
In addition, the method using screen printing has the drawback that the power generation area is reduced and the number of steps is increased due to the addition of an etching step and the like. Therefore, a patterning method by continuous irradiation with a high-density energy laser has been proposed and developed for manufacturing a solar cell.

【0005】太陽電池の製造において、ガラス基板の上
に、まず透明導電膜を形成し、集光レンズ等により高エ
ネルギー密度状態に加工したパルスレーザー光を連続的
に照射することにより、基板上の透明導電膜を幾つかの
ユニットに分割形成する。この工程を、透明導電膜のパ
ターニングと称する。さらにこの上に、非晶質シリコン
層を形成し、再び集光レンズ等により高エネルギー密度
状態に加工したパルスレーザー光を、透明導電膜のパタ
ーニング工程の際に形成した溝に沿って照射することに
より、非晶質シリコン層の選択的な除去を行う。この工
程は、非晶質シリコン層のパターニングと称される。
In the production of solar cells, a transparent conductive film is first formed on a glass substrate, and a pulsed laser beam processed into a high energy density state by a condenser lens or the like is continuously applied to the substrate to form a transparent laser beam on the substrate. The transparent conductive film is divided into several units. This step is called patterning of the transparent conductive film. Further, an amorphous silicon layer is formed on this, and the pulsed laser light processed into a high energy density state again by a condenser lens is irradiated along the groove formed during the patterning process of the transparent conductive film. Thus, the amorphous silicon layer is selectively removed. This step is called patterning of the amorphous silicon layer.

【0006】続いて、裏面電極を形成する。形成された
裏面電極により、非晶質シリコン層上に形成された溝を
介して裏面電極と透明導電膜が接触し、電機的な導通状
態を形成する。ここで、同じく高エネルギー密度状態に
保たれたパルスレーザー光を照射することによって裏面
電極の選択切断を実行するのである。このことにより全
てのパターニングが完結する。かくして隣接のユニット
セル同士が電流が一方向にのみ流れる状態を形成させる
ことによって、所望の太陽電池モジュールを完成するに
至るのである。
Then, a back electrode is formed. The formed back electrode makes contact with the back electrode and the transparent conductive film through the groove formed on the amorphous silicon layer to form an electrical conduction state. Here, the rear surface electrode is selectively cut by irradiating the pulsed laser light which is also kept in the high energy density state. This completes all patterning. Thus, a desired solar cell module is completed by forming a state in which current flows only in one direction between adjacent unit cells.

【0007】このように、裏面電極のパターニングを含
めて全てのパターニング工程を高密度パルスレーザー光
の連続照射による行うことにより、太陽電池モジュール
を高速に製造することができる。しかしながら、裏面電
極のパルスレーザー光の連続照射によるパターニングに
よって太陽電池モジュールの製造を再現良く行うことは
従来困難とされてきた。その理由は、高エネルギー密度
を有したパルスレーザー光が薄膜にレーザーが照射され
ることによって生じる物理現象のメカニズムが充分解明
されていないために、裏面電極の良好なパターニングを
行わせるための方法が見いだせなかったためである。
As described above, the solar cell module can be manufactured at high speed by performing all the patterning steps including the patterning of the back surface electrode by the continuous irradiation of the high density pulsed laser light. However, it has been conventionally difficult to reproducibly manufacture a solar cell module by patterning the back electrode with continuous irradiation of pulsed laser light. The reason is that the mechanism of the physical phenomenon that occurs when the thin film is irradiated with a pulsed laser beam having a high energy density is not sufficiently understood, and therefore a method for performing good patterning of the back electrode is not available. Because I couldn't find it.

【0008】レーザーによる裏面電極のパターニング加
工においては、下地層となる透明導電膜に損傷を与えず
に、レーザー照射面において少なくとも裏面電極を除去
することが必要となる。この場合において照射されるパ
ルスレーザー光はわずか数十nsの寿命をもち、かつ集
光レンズ通過後焦点付近において1×107 J/cm2
上のエネルギー量を持つ。この結果、照射面上の薄膜に
急激な温度上昇をもたらす。この温度上昇が極めて急速
で、沸点もしくは昇華点を越えるような状態に至ると、
固体薄膜の内面において沸騰によく似た状態が生じ、分
子及びクラスター状物質の瞬時的な飛散現象が生じる。
これが、レーザーアブレーションと言われる現象であ
り、照射面における薄膜の除去がこの現象を有効に利用
することによって成されるのである。
In the patterning process of the back surface electrode by the laser, it is necessary to remove at least the back surface electrode on the laser irradiation surface without damaging the transparent conductive film as the underlayer. In this case, the pulsed laser light emitted has a life of only a few tens of ns, and has an energy amount of 1 × 10 7 J / cm 2 or more near the focal point after passing through the condenser lens. As a result, the temperature of the thin film on the irradiated surface rises rapidly. When this temperature rise is extremely rapid and reaches a state of exceeding the boiling point or sublimation point,
A state similar to boiling occurs on the inner surface of the solid thin film, and an instantaneous scattering phenomenon of molecules and cluster-like substances occurs.
This is a phenomenon called laser ablation, and removal of the thin film on the irradiation surface is achieved by effectively utilizing this phenomenon.

【0009】しかしながら、照射レーザー光のエネルギ
ーが弱すぎる場合には、レーザーアブレーションによる
裏面電極の除去が不完全のために、裏面電極が残存する
ことになる。このような場合には、切断されるべき隣接
セル間の電気的導通性は高いままに維持され、電気的な
短絡状態にあることになる。このようにセル間が電気的
な短絡状態にあると、太陽電池の並列抵抗の低下とな
り、開放端電圧の低下及び曲線因子の低下を生じさせて
しまい、高効率の太陽電池モジュールを製造することが
出来なくなってしまう。
However, when the energy of the irradiation laser beam is too weak, the back electrode remains because the removal of the back electrode by laser ablation is incomplete. In such a case, the electrical continuity between the adjacent cells to be disconnected is kept high, and the electrical short circuit state occurs. When the cells are electrically short-circuited in this way, the parallel resistance of the solar cells decreases, causing a decrease in the open-circuit voltage and a decrease in the fill factor, and manufacturing a highly efficient solar cell module. Will not be possible.

【0010】一方、逆に、照射レーザー光のエネルギー
が強すぎる場合には、下地層となる透明導電膜にまで損
傷等の影響を及ぼし、さらには切断にまで到ることにな
ってしまう。このようにして形成された太陽電池モジュ
ールは、損傷を受けた透明導電膜の部分において電流の
流れを阻害する直列抵抗となり、短絡光電流の低下及び
曲線因子の低下を招いてしまう。
On the other hand, when the energy of the irradiation laser beam is too strong, the transparent conductive film as the underlayer is also damaged and the cutting is further effected. The solar cell module thus formed has a series resistance that obstructs the flow of current in the damaged portion of the transparent conductive film, resulting in a decrease in short circuit photocurrent and a decrease in fill factor.

【0011】さらに事態を複雑にしているのは、本発明
者らの検討によると、このようなパターニング加工にお
ける不充分な分離形成は、照射されるレーザーエネルギ
ーの強弱によってのみ発生するものでは無く、照射され
る積層薄膜の構造及び物性によっても左右されるという
ことである。たとえば、中間に位置する非晶質シリコン
層が、レーザー照射により急激な温度上昇を伴う結果、
結晶化することによってその抵抗率を著しく低下させて
しまい、電気的な短絡状態を発生させうる。これは、レ
ーザーアブレーションによる薄膜の除去がレーザー照射
面に渡って一様に行われないため、結晶化し導通性を持
つに至った残存シリコン層が電気的な短絡状態を生じさ
せるためであると考えられる。
Further complicating the situation is that, according to the study by the present inventors, such insufficient separation and formation in the patterning process does not occur only by the intensity of the laser energy applied. It also depends on the structure and physical properties of the laminated thin film to be irradiated. For example, as a result of the amorphous silicon layer located in the middle being accompanied by a rapid temperature rise due to laser irradiation,
The crystallization causes the resistivity to be remarkably reduced, and an electrical short circuit state may occur. This is because the removal of the thin film by laser ablation is not performed uniformly over the laser-irradiated surface, and the residual silicon layer that has crystallized and becomes conductive causes an electrical short-circuit state. To be

【0012】従って、本発明者らの知見によれば、良好
なパターニングを行うためには、パルスレーザーの照射
面において、有効なアブレーションを生じさせるともも
に、並列抵抗を下げる原因となる非晶質シリコン層の結
晶化を極力押さえることが必要であると考えられる。し
かしながら、高エネルギー密度を有したパルスレーザー
光が薄膜に照射されることによって生じる物理現象の理
解が充分でなかったために、裏面電極の良好なパターニ
ングを行わせるための方法が見いだせなかったのであ
る。
Therefore, according to the knowledge of the present inventors, in order to perform good patterning, the amorphous surface which causes the parallel resistance while causing effective ablation on the irradiation surface of the pulse laser. It is considered necessary to suppress the crystallization of the high-quality silicon layer as much as possible. However, since the physical phenomenon caused by irradiating the thin film with the pulsed laser light having a high energy density was not fully understood, a method for performing good patterning of the back electrode could not be found.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、かかる問題
に鑑み、ヘイズ率の高い透明導電膜を用いることによ
り、裏面電極のレーザー照射によるパターニングにおけ
るレーザーアブレーション現象を有効に生じさせること
により、良好な選択切断を行わせることを目的とし、か
つパターニング操作を再現良く行わせることを可能にす
ることを目的とするものである。即ち、本発明者らは、
太陽電池モジュールの製造の安定化を図りかつ高速化を
達成するための方法を提供するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above problems, the present invention is excellent in that a transparent conductive film having a high haze ratio is used to effectively cause a laser ablation phenomenon in patterning by laser irradiation of a back electrode. The present invention is intended to perform selective cutting, and to enable the patterning operation to be performed with good reproducibility. That is, the present inventors
It is intended to provide a method for stabilizing the production of a solar cell module and achieving high speed.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】すなわち、本発明は、透
明絶縁基板上に、透明導電膜、非晶質シリコン層、裏面
電極を形成してなる太陽電池モジュールの該裏面電極の
パターニングをレーザー光により行う太陽電池モジュー
ルの製造方法において、該透明導電膜として5%以上3
0%未満のヘイズ率を有する凹凸型の透明導電膜を用い
ることを特徴とする方法であり、また、該方法におい
て、透明導電膜がZnO,SnO2 およびITOの内の
1つあるいは複数の組み合わせの中から選ばれた薄膜で
ある太陽電池モジュールの製造方法である。
That is, according to the present invention, patterning of the back electrode of a solar cell module, which comprises a transparent conductive film, an amorphous silicon layer, and a back electrode formed on a transparent insulating substrate, is performed by laser light. In the method for manufacturing a solar cell module according to, the transparent conductive film is 5% or more 3
The method is characterized by using a concave-convex transparent conductive film having a haze ratio of less than 0%, and in the method, the transparent conductive film is one or a combination of ZnO, SnO 2 and ITO. A method for manufacturing a solar cell module, which is a thin film selected from among the above.

【0015】本発明における透明導電膜とは、可視光領
域において、70%以上の光線透過率を持ち、その導電
率が103 S/cm以上の金属酸化物をいう。さらには、ガ
ラスに代表される透光性基板( 透明絶縁基板 )上に形成
された100nm以上2000nm以下の厚みを有する
薄膜構造のものであり、酸化亜鉛(ZnO)、酸化錫
(SnO2 )、あるいは、酸化インジウムと酸化錫の化
合物である酸化インジウム錫(ITO)であり、以下に
定義されるヘイズ率が5%以上30%未満のものをい
う。
The transparent conductive film in the present invention means a metal oxide having a light transmittance of 70% or more in the visible light region and a conductivity of 10 3 S / cm or more. Furthermore, it has a thin film structure having a thickness of 100 nm or more and 2000 nm or less formed on a transparent substrate (transparent insulating substrate) typified by glass, and includes zinc oxide (ZnO), tin oxide (SnO 2 ), Alternatively, it means indium tin oxide (ITO) which is a compound of indium oxide and tin oxide, and has a haze ratio defined below of 5% or more and less than 30%.

【0016】ヘイズ率(Hz )は以下のように定義され
る。即ち、A光源を用いて測定した被測定体において、
光源の光線と平行に被測定体を透過する光の透過率を平
行透過率をTp とし、被測定体において散乱され光源光
線の直進方向と異なる角度をもって透過する光の透過率
を拡散透過率をTd とすると、全透過率をTt は次のよ
うに表される。 Tt =Tp +Td このときヘイズ率Hz は、拡散透過率Td を,全透過率
Tt で除した値、すなわち、 Hz =Td /Tt にて表される。従って、ヘイズ率が高い程、拡散透過率
が増大し、かつ平行透過率が減少していくことになる。
これは、透明導電膜の凹凸部の基板に対する角度が大き
くなること、または、凹凸部の密度が高くなることによ
り、透明導電膜を通過する際に散乱されることを示唆し
ているものである。そのため、ヘイズ率が高い程、照射
されたレーザー光は、散乱によって直進光の比率が減少
し、非晶質シリコン層および裏面電極における通過距離
および通過回数が多くなり、照射されたパルスレーザー
のエネルギーがより多く吸収されることになる。このこ
とによって、より良好なパターニングが達成できるよう
になるのである。
The haze ratio (Hz) is defined as follows. That is, in the measured object measured using the A light source,
Let Tp be the transmissivity of light that passes through the object to be measured parallel to the rays of the light source, and let Tp be the transmissivity of the light that is scattered in the object and that is transmitted at an angle different from the straight direction of the light source rays. Assuming Td, the total transmittance Tt is expressed as follows. Tt = Tp + Td At this time, the haze ratio Hz is represented by a value obtained by dividing the diffuse transmittance Td by the total transmittance Tt, that is, Hz = Td / Tt. Therefore, the higher the haze ratio, the higher the diffuse transmittance and the smaller the parallel transmittance.
This suggests that the angle of the concavo-convex portion of the transparent conductive film with respect to the substrate becomes large, or the density of the concavo-convex portion becomes high, so that scattering occurs when passing through the transparent conductive film. . Therefore, as the haze ratio is higher, the irradiated laser light has a reduced proportion of rectilinear light due to scattering, and the passing distance and the number of times of passing through the amorphous silicon layer and the back electrode are increased, and the energy of the irradiated pulse laser is increased. Will be absorbed more. This allows better patterning to be achieved.

【0017】なお、ヘイズ率が5%以上30%未満、よ
り好ましくは10%以上30%未満の透明導電膜は、減
圧プラズマ気相蒸着法により比較的高温で成膜すれば容
易に得ることができるし、また、市販品のなかから、選
択することもできる。通常、ヘイズ率がこの範囲のもの
は、他の分野に使用されるものであり、太陽電池モジュ
ールには使用しないものであるが、本発明においては、
これを敢えて該モジュールに使用する点に特徴を有する
のである。
A transparent conductive film having a haze ratio of 5% or more and less than 30%, more preferably 10% or more and less than 30% can be easily obtained by forming a film at a relatively high temperature by a low pressure plasma vapor deposition method. It is also possible to select from commercially available products. Usually, those having a haze ratio in this range are used in other fields and are not used in solar cell modules, but in the present invention,
The feature is that this is used for the module.

【0018】以下、この効果について説明する。高エネ
ルギー密度を有するパルスレーザー光を利用した薄膜の
パターニング加工において、照射されるレーザー光は該
薄膜に照射される際に、レーザー光の持つエネルギーの
一部が薄膜に吸収され、薄膜内部の分子結合を亀裂させ
るとともに、分子同士を引き離すに充分なエネルギーが
与えられ、一気に飛散させてしまうレーザーアブレーシ
ョン現象が発生する。このレーザーアブレーションによ
って、薄膜中の分子およびクラスターが飛び出す過程に
おいて、周囲の物質をも巻き込んで飛散する。
This effect will be described below. In patterning processing of a thin film using pulsed laser light having a high energy density, when the irradiated laser light is irradiated to the thin film, a part of the energy of the laser light is absorbed by the thin film, and molecules inside the thin film are absorbed. A laser ablation phenomenon occurs in which the bonds are cracked and sufficient energy is given to separate the molecules from each other, causing them to be scattered at once. By the laser ablation, in the process of molecules and clusters in the thin film jumping out, surrounding substances are also involved and scattered.

【0019】さて、透明絶縁基板上に積まれた透明導電
膜の上に、非晶質シリコン層が形成され、さらに裏面電
極が形成された構造を有したアモルファスシリコン太陽
電池の場合、裏面電極のパターニングにおいては、裏面
電極側から高密度エネルギーを有したパルスレーザーを
照射する方法により行うことが一般的である。この裏面
電極のパターニングにおいては、主に可視光および近赤
外の波長域にあるレーザー光を用いるが、これらの波長
域におけるレーザー光において高い吸収係数を持つ非晶
質シリコン層が、照射されたパルスレーザーのエネルギ
ー吸収の大部分をしめる。その結果、薄膜内部の分子結
合を亀裂させるとともに、分子同士を引き離すに充分な
エネルギーを与えられ、一気に飛散させてしまうレーザ
ーアブレーション現象が発生する。このアブレーション
の結果、非晶質シリコン層の上に形成された裏面電極
が、ともに飛散され、除去されるのである。従って、良
好なパターニングを行うように、レーザーアブレーショ
ンを有効に生じさせるためには、非晶質シリコン層にお
いてそのパルスレーザーのエネルギーが充分に吸収され
る構造を有していることが望ましい。
Now, in the case of an amorphous silicon solar cell having a structure in which an amorphous silicon layer is formed on a transparent conductive film stacked on a transparent insulating substrate and a back electrode is formed, The patterning is generally performed by a method of irradiating a pulsed laser having high density energy from the back electrode side. Laser light in the visible and near-infrared wavelength ranges is mainly used for patterning the back electrode, but an amorphous silicon layer having a high absorption coefficient in the laser range is irradiated. Most of the energy absorption of pulsed lasers. As a result, a laser ablation phenomenon occurs in which molecular bonds inside the thin film are cracked and sufficient energy is given to separate the molecules from each other, causing them to scatter at once. As a result of this ablation, the back surface electrode formed on the amorphous silicon layer is scattered and removed. Therefore, in order to effectively generate laser ablation so as to perform good patterning, it is desirable that the amorphous silicon layer has a structure in which the energy of the pulse laser is sufficiently absorbed.

【0020】一般に薄膜を通過する光の強度I0 は、波
長λに対してα(λ)の吸収係数を持つとき、厚みxの
膜厚に対して、 I=I0 exp( -α(λ)*x) (1) の式に従って減衰し、減衰後の光の強度はIになる。従
って、よりレーザー光を吸収するためには、レーザー光
が通過する距離が長い程よいということになるのであ
る。
In general, the intensity I 0 of light passing through a thin film has an absorption coefficient α (λ) with respect to a wavelength λ, and I = I 0 exp (-α (λ ) * X) The light is attenuated according to the equation (1), and the light intensity after the attenuation becomes I. Therefore, in order to absorb more laser light, the longer the distance the laser light passes, the better.

【0021】ここで透明導電膜が平坦な構造を有してい
る場合と凹凸形状を有している場合について比較してみ
ると、垂直方向にレーザーを照射した場合の非晶質シリ
コン層の通過距離は、凹凸形状を有した透明導電膜上に
照射されたもののの方が長くなる。その理由を図を用い
て説明する。まず、平坦な構造をもつ透明導電膜上に形
成された非晶質シリコン層に、レーザー光を照射した場
合を考える。これは〔図2〕に示した構造をもつ系であ
る。この場合、照射されたレーザー光62は、非晶質シリ
コン層3を通過、吸収される。さらに、非晶質シリコン
層3と透明導電膜2の界面に到達したレーザー光は、そ
の一部が反射される( 点線で表示 )。また、さらにこの
界面を通過したレーザー光は、透光性基板( 透明絶縁基
板 )1との界面に到達し、この段階においても、その大
部分が透過するとともに、一部は反射される。ガラス等
の透光性基板内を走行したレーザー光は、この部分にお
いて反射され、再び薄膜側に帰ってくる。この場合、非
晶質シリコン層を通過するレーザー光は、各界面層にお
いて10%程度のレーザー光が反射されるが、反射光
も、入射光と同じ光路を通って通過し、非晶質シリコン
層において、2パスのみによるレーザー光の透過が考え
られる。そのため、非晶質シリコン層において吸収され
るレーザー光の割合も限定されてしまう。
A comparison between the case where the transparent conductive film has a flat structure and the case where the transparent conductive film has a concavo-convex shape will be described below. The distance becomes longer when the transparent conductive film having an uneven shape is irradiated. The reason will be described with reference to the drawings. First, consider a case where an amorphous silicon layer formed on a transparent conductive film having a flat structure is irradiated with laser light. This is a system having the structure shown in FIG. In this case, the irradiated laser light 62 passes through the amorphous silicon layer 3 and is absorbed. Further, a part of the laser light reaching the interface between the amorphous silicon layer 3 and the transparent conductive film 2 is reflected (shown by a dotted line). Further, the laser light that has passed through this interface reaches the interface with the transparent substrate (transparent insulating substrate) 1, and even at this stage, most of it is transmitted and part of it is reflected. The laser light traveling through the transparent substrate such as glass is reflected at this portion and returns to the thin film side again. In this case, about 10% of the laser light passing through the amorphous silicon layer is reflected at each interface layer, but the reflected light also passes through the same optical path as the incident light, and In the layer, transmission of laser light by only two passes is considered. Therefore, the ratio of laser light absorbed in the amorphous silicon layer is also limited.

【0022】これに対して、表面が凹凸形状を有してい
る透明導電膜上に形成された非晶質シリコン層に、基板
に垂直にレーザー光が入射した様子を、モデル的に示し
たのが〔図3〕である。非晶質シリコン層の入射面にお
いて、レーザー光の光路が大きく変化し、非晶質シリコ
ン層にほぼ垂直にレーザーが照射される。これは、非晶
質シリコンの屈折率は約3.5と高いためである。さら
に、非晶質シリコン層3を通過したレーザー光は、非晶
質シリコン層と透明導電膜2の界面において反射され(
点線で表示 )、再び非晶質シリコン層を通過する。さら
に、非晶質シリコン層3と裏面電極4との界面において
屈折したレーザー光は、〔図3〕に示すように隣接の凸
部に入射する。一方、透明導電膜を通過した光は、さら
に透光性基板との界面においてその一部が反射され、同
じく〔図3〕に示す別の光路を通過して、非晶質シリコ
ン層に入射する。その結果、その面における屈折や反射
等の影響により、より長く非晶質シリコン層を通過し、
より多く吸収されることになる。
On the other hand, a model showing a state in which laser light is vertically incident on the substrate is formed on an amorphous silicon layer formed on a transparent conductive film having an uneven surface. Is [Fig. 3]. At the incident surface of the amorphous silicon layer, the optical path of the laser light is largely changed, and the amorphous silicon layer is irradiated with the laser beam almost vertically. This is because the refractive index of amorphous silicon is as high as about 3.5. Further, the laser light passing through the amorphous silicon layer 3 is reflected at the interface between the amorphous silicon layer and the transparent conductive film 2 (
(Indicated by a dotted line), and again passes through the amorphous silicon layer. Further, the laser light refracted at the interface between the amorphous silicon layer 3 and the back surface electrode 4 is incident on the adjacent convex portion as shown in FIG. On the other hand, the light passing through the transparent conductive film is further partially reflected at the interface with the transparent substrate, passes through another optical path shown in FIG. 3 and enters the amorphous silicon layer. . As a result, due to the influence of refraction and reflection on that surface, it passes through the amorphous silicon layer for a longer time,
It will be absorbed more.

【0023】従って式に示すようにその通過距離L
は、凹凸型を有した透明導電膜を用いた場合の方が、平
坦な構造をもつ透明導電膜を用いた場合よりも、非晶質
シリコン層を通過する回数が長くなることによって、そ
の光路長は長くなり、吸収されるレーザーのエネルギー
量も大きくなるため、よりアブレーションを生じやすく
なるものと考えられる。
Therefore, as shown in the equation, the passing distance L
Is more likely to pass through the amorphous silicon layer when a transparent conductive film having a concavo-convex structure is used than when a transparent conductive film having a flat structure is used. Since the length becomes longer and the amount of energy of the absorbed laser also becomes larger, it is considered that ablation is more likely to occur.

【0024】また、〔図3〕において、透明絶縁基板裏
面や各界面層において反射されたレーザー光は、裏面電
極の裏側に到達した段階において反射され、薄膜内部に
閉じ込められる効果もある。この場合においても、凹凸
型の透明導電膜を用いた場合の方がより高い割合で、光
閉じ込め効果が発現できる。従って、拡散光の割合が多
くなる高いヘイズ率をもつ透明導電膜を用いることによ
り、良好なスクライブ特性が行えるようになり、その結
果、より高い太陽電池モジュールの並列抵抗を得ること
ができるようになるのである。これすなわち、照射され
たレーザー光をヘイズ率の高い透明導電膜を用いること
により、より容易にアブレーションを生じせしめること
ができるようになったためである。従って、高密度のパ
ルスレーザーを用いたパターニングにおいて、透明導電
膜の凹凸形状は良好なパターニングを行う上で重要な要
素であり、その凹凸形状を光学特性によって評価するヘ
イズ率は、そのパターニング特性を決定づける因子にな
るのである。
Further, in FIG. 3, the laser light reflected on the back surface of the transparent insulating substrate and each interface layer is also reflected when it reaches the back side of the back electrode, and has the effect of being confined inside the thin film. Also in this case, the light confinement effect can be exhibited at a higher rate when the uneven transparent conductive film is used. Therefore, by using a transparent conductive film having a high haze ratio that increases the proportion of diffused light, good scribe characteristics can be achieved, and as a result, a higher parallel resistance of the solar cell module can be obtained. It will be. This is because it becomes possible to more easily cause ablation of the irradiated laser light by using a transparent conductive film having a high haze ratio. Therefore, in patterning using a high-density pulsed laser, the concavo-convex shape of the transparent conductive film is an important factor for performing good patterning. It will be the determining factor.

【0025】しかしながら、可視光領域において、80
%以上の高い透過率を保ちながら、ヘイズ率には高くす
ることには限界があり、透明導電膜においては、大体3
0%が限界である。従って、良好な裏面電極のスクライ
ブを行うためには、ヘイズ率は5%以上30%未満であ
ることが望ましい。さらに、より良い裏面電極のスクラ
イブを行うためには、そのヘイズ率が10%以上30%
未満であることが望ましい。
However, in the visible light region, 80
%, There is a limit to increase the haze ratio while maintaining a high transmittance of at least%.
0% is the limit. Therefore, in order to scribe the back electrode satisfactorily, the haze ratio is preferably 5% or more and less than 30%. Furthermore, in order to perform better backside electrode scribing, the haze ratio is 10% or more and 30% or more.
It is desirable to be less than.

【0026】しかして、ヘイズ率が5%に満たないもの
については、光線の平行透過率が高く、充分に照射され
たレーザー光を散乱及び反射させる等の有効な活用を行
うことができない。この結果、良好なスクライブ特性を
得るための、レーザーアブレーションを生じさせること
が難しくなり、従って、裏面電極のスクライブを良好に
行うことが出来なくなってしまう。そのため得られる太
陽電池モジュールの並列抵抗は低く、高効率の太陽電池
を製造することができなくなってしまう。
However, if the haze ratio is less than 5%, the parallel transmittance of light rays is high, and it is not possible to effectively utilize such as scattering and reflecting sufficiently irradiated laser light. As a result, it becomes difficult to cause laser ablation to obtain good scribe characteristics, and thus it becomes impossible to scribe the back electrode satisfactorily. Therefore, the parallel resistance of the obtained solar cell module is low, and it becomes impossible to manufacture a highly efficient solar cell.

【0027】[0027]

【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて説明する。
なお、実施例においては、透明絶縁基板であるガラス基
板を用いた例を〔図1〕に基づいて説明する。ガラス基
板1上に酸化錫からなる透明導電膜2を減圧プラズマ化
学気相蒸着法により厚み1μmの膜を形成したものを1
0cm×10cmのサイズに切り出し、基板表面をブラシ洗
浄により洗浄し付着の異物を除去する。本実施例におけ
る透明導電膜は、そのヘイズ率が1%、5%、10%、
15%のものを用いた。この後、洗浄した透明導電膜付
きのガラス基板を水平XY軸方向に可動なステージにの
せる。高エネルギー密度を有したパルスレーザーを発振
させると同時に、可動ステージを直線的に移動させなが
らレーザーを連続照射させ、透明導電膜を分離分割させ
ることにより、透明導電膜ユニット21、22、23、24を形
成した。この時に用いるレーザーは基板1に対して殆ど
吸収のない波長をもつものを選択する。選択される波長
の範囲としては、350nmから2000nmであるこ
とが望ましい。実施例にあたっては、波長1064nm
のQスイッチ付きNd:YAGレーザーを用いた。照射
レーザーのパルス当たりのエネルギーは約3×108
/cm 2 とし、長焦点レンズにより透明導電膜上に結像す
るように位置合わせを行い、基板表面に照射幅は40か
ら50μmになるように設定した。Qスイッチ周波数は
5kHzとし、可動ステージの移動速度は100mm/sと
したが、何もこの条件に限定されるものではない。
EXAMPLES The present invention will be described below based on examples.
In the examples, a glass substrate that is a transparent insulating substrate is used.
An example using a plate will be described with reference to FIG. Glass base
A transparent conductive film 2 made of tin oxide is formed on the plate 1 under reduced pressure plasma.
1 having a film thickness of 1 μm formed by the vapor deposition method
Cut out to a size of 0 cm x 10 cm and wash the substrate surface with a brush.
Clean by cleaning to remove foreign matter attached. In this example
The transparent conductive film has a haze ratio of 1%, 5%, 10%,
The thing of 15% was used. After this, with a cleaned transparent conductive film
Use a glass substrate on a stage that can move in the horizontal XY axes.
Let Oscillation of pulsed laser with high energy density
At the same time, do not move the movable stage linearly.
Laser is continuously irradiated to separate and divide the transparent conductive film.
Form transparent conductive film units 21, 22, 23, 24 by
I made it. Most of the lasers used at this time are for the substrate 1.
Select one with a wavelength that does not absorb. Selected wavelength
The range should be 350 nm to 2000 nm.
Is desirable. In the example, the wavelength is 1064 nm
Nd: YAG laser with Q switch was used. Irradiation
Energy per laser pulse is about 3 × 108J
/cm 2And form an image on the transparent conductive film with the long focus lens.
Position, and the irradiation width is 40 on the substrate surface.
Was set to 50 μm. Q switch frequency is
5 kHz, the moving speed of the movable stage is 100 mm / s
However, nothing is limited to this condition.

【0028】さらに、このようにして透明導電膜の分割
形成を行ったガラス基板を、プラズマ化学気相蒸着法に
より、真空中においてシラン等の水素化珪素系ガスを用
いて非晶質シリコン層を200〜1000nmの厚みに
なるように形成した。形成後、透明導電膜の分割形成を
行ったのと同様のレーザー装置を用い可動ステージに載
せ、同じく高エネルギー密度を有したパルスレーザー
を、透明導電膜の分割形成溝の僅かにずらした位置に連
続的に照射させ、31a 、32a 、33a に示す新たな分割溝
を形成することにより、31,32,33,34のようにユニッ
トに分離分割する。この時、用いるレーザー波長は非晶
質シリコン層における吸収が大きくかつ透明導電膜及び
ガラス基板に吸収の小さい波長である532nmのもの
を選択した。本実施例においては、Qスイッチ周波数を
3kHzとし、可動ステージの移動速度は60mm/sとし
たが、何もこの条件に限定されるものではない。続いて
ターゲットにAgを用いたスパッタ蒸着法にて、Ag薄
膜を3000A形成し、さらに同じくスパッタ蒸着法に
てAlを1000A形成することにより、裏面電極を形
成した。
Further, the glass substrate on which the transparent conductive film is divided and formed in this manner is subjected to plasma chemical vapor deposition to form an amorphous silicon layer in a vacuum using a silicon hydride-based gas such as silane. It was formed to have a thickness of 200 to 1000 nm. After formation, the transparent conductive film was placed on a movable stage using a laser device similar to that used for divisional formation, and a pulse laser also having a high energy density was placed at a position slightly shifted in the divisional formation groove of the transparent conductive film. By continuously irradiating and forming new dividing grooves 31a, 32a, and 33a, the units are separated and divided into units like 31, 32, 33, and 34. At this time, the laser wavelength used was 532 nm, which has a large absorption in the amorphous silicon layer and a small absorption in the transparent conductive film and the glass substrate. In this embodiment, the Q switch frequency is 3 kHz and the moving speed of the movable stage is 60 mm / s, but the present invention is not limited to this condition. Then, a Ag thin film of 3000 A was formed by a sputter deposition method using Ag as a target, and further 1000 A of Al was similarly formed by a sputter deposition method to form a back electrode.

【0029】裏面電極の形成後、高密度エネルギーを有
したパルスレーザー光の照射によりパターニング加工を
行った。パルスレーザーは、透明導電膜の切断の時と同
様に直線的に照射パルスが繋がるようにすることによ
り、隣接ユニットセルとの電気的断絶状態を生じせしめ
るために行う。このパルスレーザーの照射位置は、透明
導電膜の照射位置から100μm以上離れた位置で行っ
た。用いたレーザー波長は、非晶質シリコン層に吸収が
高くかつ透明導電膜及びガラス基板に吸収の低い波長で
ある532nmのものを選択した。本実施例において
は、Qスイッチ周波数を2kHzとし、可動ステージの
移動速度は60mm/sとしたが、何もこの条件に限定され
るものではない。このように、高エネルギー密度を有し
たパルスレーザーを連続的に照射することにより41a 、
42a ,43a に示す分割溝を形成できるのである。
After forming the back electrode, patterning was performed by irradiation with pulsed laser light having high density energy. The pulse laser is used to cause an electrical disconnection between adjacent unit cells by linearly connecting the irradiation pulses as in the case of cutting the transparent conductive film. The irradiation position of this pulse laser was 100 μm or more away from the irradiation position of the transparent conductive film. The laser wavelength used was 532 nm, which has a high absorption in the amorphous silicon layer and a low absorption in the transparent conductive film and the glass substrate. In this embodiment, the Q switch frequency is set to 2 kHz and the moving speed of the movable stage is set to 60 mm / s, but the present invention is not limited to this condition. Thus, by continuously irradiating a pulsed laser having a high energy density 41a,
The dividing grooves shown in 42a and 43a can be formed.

【0030】このようにして最終的に、41,42,43,44
のように分離分割されたユニットによって構成される集
積型太陽電池素子が形成できる。この時、この太陽電池
に光が照射された時に発生する電流は1つの部分に注目
して見れば、33→23→42a →42→32→22→41a →41とい
うように流れ、〔図1〕に示す集積型太陽電池素子に関
しては、電極41が陽極、電極44が負極に相当する端子に
電流電圧測定器を接続することにより、その電流電圧特
性を評価することができる。このようにして作製した1
0cm角サブモジュールの性能を、AM1.5のソーラー
シュミレーターにて評価した。
Thus, finally, 41, 42, 43, 44
It is possible to form an integrated solar cell element constituted by the units divided as described above. At this time, the current generated when the solar cell is irradiated with light flows in the order of 33 → 23 → 42a → 42 → 32 → 22 → 41a → 41 if one part is observed, and [Fig. 1 With respect to the integrated solar cell element shown in the above], the current-voltage characteristic can be evaluated by connecting a current-voltage measuring device to the terminals where the electrode 41 corresponds to the anode and the electrode 44 corresponds to the negative electrode. 1 produced in this way
The performance of the 0 cm square sub-module was evaluated with an AM1.5 solar simulator.

【0031】ヘイズ率1%を有する透明導電膜を用いた
場合、得られた10cm角太陽電池サブモジュールの変換
効率は5.2%であった。また、各ユニットセルの並列
抵抗を評価すると、10Ω以上200Ω未満の範囲にあ
った。
When a transparent conductive film having a haze ratio of 1% was used, the conversion efficiency of the obtained 10 cm square solar cell submodule was 5.2%. Moreover, when the parallel resistance of each unit cell was evaluated, it was in the range of 10Ω or more and less than 200Ω.

【0032】一方、ヘイズ率5%を有する透明導電膜を
用いた場合、得られた10cm角太陽電池サブモジュール
の変換効率は7.1%であった。また、各ユニットセル
の並列抵抗を評価すると、50Ω以上300Ω未満の範
囲にあった。さらに、ヘイズ率10%を有する透明導電
膜を用いた場合、得られた10cm角太陽電池サブモジュ
ールの変換効率は9.2%であった。また、各ユニット
セルの並列抵抗を評価すると、300Ω以上の範囲にあ
った。さらに、ヘイズ率15%を有する透明導電膜を用
いた場合、得られた10cm角太陽電池サブモジュールの
変換効率は9.7%であった。また、各ユニットセルの
並列抵抗を評価すると、400Ω以上の範囲にあった。
また、この太陽電池の電流電圧特性を〔図4〕に示し
た。すなわち、高効率の太陽電池モジュールの製造を行
うためには、ヘイズ率が5%、さらには10%以上の透
明導電膜を用いることがより好ましいことがわかる。
On the other hand, when a transparent conductive film having a haze ratio of 5% was used, the conversion efficiency of the obtained 10 cm square solar cell submodule was 7.1%. Further, when the parallel resistance of each unit cell was evaluated, it was in the range of 50Ω or more and less than 300Ω. Furthermore, when a transparent conductive film having a haze ratio of 10% was used, the conversion efficiency of the obtained 10 cm square solar cell submodule was 9.2%. Moreover, when the parallel resistance of each unit cell was evaluated, it was in the range of 300Ω or more. Furthermore, when a transparent conductive film having a haze ratio of 15% was used, the conversion efficiency of the obtained 10 cm square solar cell submodule was 9.7%. Further, when the parallel resistance of each unit cell was evaluated, it was in the range of 400Ω or more.
The current-voltage characteristics of this solar cell are shown in FIG. That is, in order to manufacture a highly efficient solar cell module, it is more preferable to use a transparent conductive film having a haze ratio of 5%, and further 10% or more.

【0033】[0033]

【発明の効果】太陽電池モジュールの製造に際して、ヘ
イズ率の高い透明導電膜を有した基板を用いることによ
り、高エネルギー密度を有したパルスレーザーの照射に
よるパターニング方法を容易にするとともに、高効率太
陽電池の形成を可能にすることができる。
EFFECT OF THE INVENTION By using a substrate having a transparent conductive film having a high haze ratio in manufacturing a solar cell module, a patterning method by irradiation with a pulsed laser having a high energy density can be facilitated and a high efficiency solar cell can be obtained. Batteries can be formed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の方法により製造する太陽電池モジュー
ルの断面図
FIG. 1 is a cross-sectional view of a solar cell module manufactured by the method of the present invention.

【図2】平坦な構造をもつ透明導電膜上に形成した非晶
質シリコン層および裏面電極にレーザーを照射した場合
の光路を示す図
FIG. 2 is a diagram showing an optical path when an amorphous silicon layer formed on a transparent conductive film having a flat structure and a back electrode are irradiated with a laser.

【図3】凹凸型の透明導電膜上に形成した非晶質シリコ
ン層および裏面電極にレーザーを照射した場合の光路を
示す図
FIG. 3 is a diagram showing an optical path when an amorphous silicon layer formed on an uneven transparent conductive film and a back electrode are irradiated with a laser.

【図4】本発明の方法により製造した非晶質太陽電池モ
ジュールの光照射時の電流電圧特性を示す図
FIG. 4 is a diagram showing current-voltage characteristics of an amorphous solar cell module manufactured by the method of the present invention during light irradiation.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ガラス等の透明絶縁基板 2 透明導電膜 21 透明導電膜ユニットセル 22 透明導電膜ユニットセル 23 透明導電膜ユニットセル 24 透明導電膜ユニットセル 3 非晶質シリコン層 31 非晶質シリコン層ユニットセル 32 非晶質シリコン層ユニットセル 33 非晶質シリコン層ユニットセル 34 非晶質シリコン層ユニットセル 4 裏面金属電極 41 裏面金属電極ユニットセル 42 裏面金属電極ユニットセル 43 裏面金属電極ユニットセル 44 裏面金属電極ユニットセル 61 レーザー入射光 62 レーザー反射光 1 transparent insulating substrate such as glass 2 transparent conductive film 21 transparent conductive film unit cell 22 transparent conductive film unit cell 23 transparent conductive film unit cell 24 transparent conductive film unit cell 3 amorphous silicon layer 31 amorphous silicon layer unit cell 32 Amorphous silicon layer unit cell 33 Amorphous silicon layer unit cell 34 Amorphous silicon layer unit cell 4 Back metal electrode 41 Back metal electrode unit cell 42 Back metal electrode unit cell 43 Back metal electrode unit cell 44 Back metal electrode unit Cell 61 Laser incident light 62 Laser reflected light

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 透明絶縁基板上に、透明導電膜、非晶質
シリコン層、裏面電極を形成してなる太陽電池モジュー
ルの該裏面電極のパターニングをレーザー光により行う
太陽電池モジュールの製造方法において、該透明導電膜
として5%以上30%未満のヘイズ率を有する凹凸型の
透明導電膜を用いることを特徴とする前記方法。
1. A method of manufacturing a solar cell module, wherein a transparent conductive film, an amorphous silicon layer, and a back electrode are formed on a transparent insulating substrate by patterning the back electrode with a laser beam. The method as described above, wherein an uneven transparent conductive film having a haze ratio of 5% or more and less than 30% is used as the transparent conductive film.
【請求項2】 透明導電膜がZnO,SnO2 およびI
TOの内の1つあるいは複数の組み合わせの中から選ば
れた薄膜である請求項1記載の太陽電池モジュールの製
造方法。
2. The transparent conductive film is ZnO, SnO 2 and I.
The method of manufacturing a solar cell module according to claim 1, wherein the thin film is a thin film selected from one or a combination of TOs.
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Cited By (3)

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